JPH07225279A - 放射性表面汚染検出器 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 被測定物が凹凸を有する場合や被測定物と放
射性表面汚染検出器の検出部との距離を一定に保つこと
ができない場合でも一定の検出効率で放射線の測定を行
い汚染度を表示することのできる放射性表面汚染検出器
を提供する。 【構成】 プローブ１４によって被測定物の表面に付着
した放射性物質から放射される放射線を測定し、同時に
距離検出器２４によって被測定物とプローブ１４との距
離を検出する。そして、汚染度換算部２６はプローブ１
４によって測定された測定値を距離検出器２４によって
検出された距離に基づいて被測定物に対して所定距離か
ら測定した放射線汚染度に換算する。従って、プローブ
１４と被測定物との相対する距離が変動した場合でも一
定の検出効率で放射線の測定を行い汚染度を測定するこ
とができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、物体表面の放射性物質
による表面汚染を測定するための放射性表面汚染検出器
に関する。

【０００２】

【従来の技術】原子力発電所や放射性物質取扱施設等で
は、作業者等の表面に付着した放射性物質を検出するた
めに放射性表面汚染検出器が使用されている。

【０００３】例えば、従来の放射性表面汚染検出器は、
ＧＭ管やプラスチックシンチレータ等の検出部によって
α線やβ線等の放射線を検出することができる。検出部
にＧＭ管を使用した場合、前記検出部に入射される放射
線の線量に応じてパルスが出力され、このパルスをカウ
ントすることによって放射線の検出が行われる。また、
検出部にプラスチックシンチレータを使用した場合、前
記シンチレータに放射線が入射したとき生じる光を反射
板やライトガイド等で光電子増倍管に集めて光量を測定
することによって、放射線の検出が行われる。そして、
検出された測定値に基づいて放射線汚染度を定めて表示
している。

【０００４】このような放射性表面汚染検出器によって
表面汚染の測定を行う場合、放射性表面汚染検出器の検
出部を被測定物である作業者等の表面に近接させ、表面
に沿って順次走査することによって表面に付着した放射
性物質から放射される放射線を測定している。そして、
測定された測定値をメータ等に表示して放射線の汚染度
を表している。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、放射線
は放射性物質から放射された後の減衰率が放射線の種類
によって異なり、特にα線の減衰率は大きく、放射性物
質が付着している可能性のある被測定物と放射性表面汚
染検出器の検出部との相対する距離によって測定値が大
きく左右される。つまり、同じ汚染状態の被測定物を測
定しても被測定物に近接して測定した場合と、被測定物
からある程度離れて測定した場合で測定される測定値が
異なる。つまり、検出効率が異なるという問題があっ
た。

【０００６】特に、体表や衣類等のように表面に不規則
な凹凸を有する被測定物に対して測定者が放射性表面汚
染検出器（携帯用のものをサーベイメータという）を手
に持って被測定物の表面に沿って走査して放射性表面汚
染を測定する場合は、被測定面とサーベイメータとの距
離を一定に保つことは困難であり、測定者によって検出
効率が大きく異なるという問題があった。

【０００７】さらに、法律等で規定されている許容汚染
度は、被測定面から一定の距離で測定した値で表示され
ているため、測定された測定汚染度と許容汚染度との比
較を直接正確に行うことができないという問題があっ
た。

【０００８】本発明は、上記従来の問題に鑑みなされた
ものであり、その目的は、被測定物が凹凸を有する場合
や被測定物と放射性表面汚染検出器の検出部との距離を
一定に保つことができない場合、さらに測定者が変わっ
た場合でも一定の検出効率で放射線の測定を行い汚染度
を表示することのできる放射性表面汚染検出器を提供す
ることである。

【０００９】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、被測定物の表面に付着した放射性物質か
ら放射される放射線を測定する放射線測定器と、被測定
物と放射線測定器との距離を検出する距離検出器と、前
記放射線測定器で測定した測定結果を前記距離検出器で
検出された距離に基づいて被測定物に対する所定距離か
ら測定した放射線汚染度に換算する汚染度換算部と、を
有することを特徴とする。

【００１０】

【作用】上記構成によれば、放射線測定器によって被測
定物の表面に付着した放射性物質から放射される放射線
を測定し、距離検出器によって被測定物と放射線測定器
との距離を検出する。そして、汚染度換算部は放射線測
定器によって測定された測定値を距離検出器によって検
出された距離に基づいて被測定物に対して所定距離から
測定した放射線汚染度に換算する。従って、放射線測定
器と被測定物との相対する距離が変動した場合でも一定
の検出効率で放射線の測定を行い汚染度を測定すること
ができる。

【００１１】

【実施例】以下、本発明の好適な実施例を図面に基づい
て説明する。

【００１２】図１（ａ）は携帯用の放射性表面汚染検出
器（以下、サーベイメータという）１０の概略外観図で
ある。このサーベイメータ１０は測定者が本体部１２を
手で保持し、放射線検出面１４ａを有する放射線測定器
（以下、プローブという）１４を図示しない被測定物の
測定面に対面させて、前記測定面に沿ってプローブ１４
を走査して順次、放射線を測定して放射線汚染度を算出
していく。

【００１３】本実施例の特徴とするところは、プローブ
１４の放射線検出面１４ａから被測定物の測定面までの
距離を検出し、その距離に基づいてプローブ１４が検出
した放射線の測定値を換算して、前記測定値を被測定物
に対して一定の距離から測定した放射線汚染度として表
示するところである。

【００１４】サーベイメータ１０は図１（ａ）に示すよ
うに本体部１２にケーブル１３を介して接続された放射
線検出面１４ａが露出したプローブ１４を備えている。
このプローブ１４は、ＧＭ管やプラスチックシンチレー
タ等によって構成され、被検出物の表面に付着した放射
性物質から放射される放射線を測定する。また、前記本
体部１２の表面には放射線汚染度や各種データを表示す
るデータ表示部１６、サーベイメータの電源スイッチ、
データ表示部１６に表示されるデータに基づいてアラー
ム音等を発するスピーカ２０のほかに図示しないサーベ
イメータの電源スイッチ、必要に応じて前記スピーカ２
０の動作を停止させるアラーム停止スイッチ等が配置さ
れている。

【００１５】また、図１（ｂ）に示すように、プローブ
１４の放射線検出面１４ａの近傍には半導体位置検出素
子や赤外線、超音波を利用した距離検出器の距離検出部
２４ａが配置されている。

【００１６】以上のように構成されるサーベイメータ１
０の動作について、図１及び図２の構成ブロック図を用
いて説明する。

【００１７】放射線汚染度測定者はサーベイメータ１０
のプローブ１４を保持し、電源スイッチをＯＮする。そ
して、被測定物以外の物体や自然界にもともと存在する
放射線（バックグラウンド）の影響を排除するため、予
備測定として所定の手順に従ってプローブ１４によって
バックグラウンドの測定を行い、後述する汚染度換算部
２６内部のＣＰＵ２８に接続されているメモリ３０に測
定したバックグラウンドの測定値を記憶する。バックグ
ラウンドの測定後、被測定物に対する本測定のためにプ
ローブ１４を被測定物の測定面に近接させ、測定面に沿
って走査し順次放射線の測定を行い、測定値をメモリ３
０に記憶する。同時に、距離検出器２４はプローブ１４
の放射線検出面１４ａと被測定物との距離を測定し、測
定距離を順次メモリ３０に記憶する。

【００１８】汚染度換算部２６は入力されるデータに基
づいて、放射線の測定値を被測定物に対する所定距離か
ら測定した放射線汚染度に換算する等の演算を行った
り、サーベイメータ１０全体の制御を行うＣＰＵ２８
と、各種データを記憶するメモリ３０とを含んでいる。
このメモリ３０は測定されたデータを一時的に記憶した
り、測定距離を変化させて同じ汚染状態の被測定物を測
定したときの基準検出効率や許容汚染度等を予め記憶し
ている。

【００１９】ＣＰＵ２８ではプローブ１４で測定された
放射線の測定値を一定の距離から被測定面を測定した時
の放射線の汚染度に換算するために距離検出器２４で測
定された距離に基づいて換算を行う。汚染度の換算を行
うに当たってはメモリ３０に記憶されたバックグラウン
ド値及び予め記憶された基準検出効率等を利用して、被
測定物の有する真の放射線汚染状態を検出効率を一定に
した値、つまり一定の距離から被測定面を測定した時の
測定汚染度に換算して検出効率を一定にする。

【００２０】そして、汚染度換算部２６で換算された測
定汚染度をデータ表示部１６に表示する。また、同時
に、ＣＰＵ２８では測定汚染度と許容汚染度との比較が
行われ、測定汚染度が許容汚染度を上回る場合はスピー
カ２０からアラーム音を発し、測定者に注意を促す。な
お、データ表示部１６には、汚染度のほかに被測定物ま
での距離や放射線の測定値等のデータを表示してもよ
い。

【００２１】本実施例においては距離検出器２４の距離
検出部２４ａを図１（ｂ）に示すように放射線検出面１
４ａの一方側のみに配置した例を説明したが、放射線の
検出に当たっては被測定物の測定面と放射線検出面１４
ａとが平行であることが望ましい。従って、放射線検出
面１４ａの近傍に複数個、例えば、９０°間隔で４方向
に距離検出部２４ａを設けてプローブ１４の傾き状態も
測定汚染度に対する換算データに加えてもよい。

【００２２】また、プローブ１４の傾き状態や被測定物
に対する最適距離を容易に測定者に認識させるために、
図３に示すようなＬＥＤ等で構成される間隔表示部３２
をサーベイメータ１０の本体部１２に設けてもよい。こ
の間隔表示部３２は、例えば、中心を向いた４つの矢印
表示ＬＥＤ３２ａの点滅によってプローブ１４の傾き状
態がゼロに成るように修正を促し、中央のＬＥＤ３２ｂ
によってプローブ１４が測定最適距離範囲内にあるか否
かの表示、例えば、近すぎたり遠すぎる場合は赤色に点
灯させ、測定最適距離範囲内にあるときは緑色の点灯を
させることによって、プローブ１４が極端に掛離れた測
定値を検出してしまうことを排除することができる。

【００２３】さらに、本実施例では携帯用の放射性表面
汚染検出器を例にとって説明したが、これに限定される
ことなく、被測定物を覆ってしまう大型の放射性表面汚
染検出器、例えば人間が測定室に入って放射線汚染測定
を行う部屋型放射性表面汚染検出器に適用しても同様の
効果を得ることができる。

【００２４】

【発明の効果】以上説明したように、本発明の放射性表
面汚染検出器によれば、距離検出器によって測定された
プローブから被測定物までの距離に応じて、プローブで
測定した放射線の測定値を被測定物に対して所定距離か
ら測定した放射線汚染度に換算することができる。従っ
て、プローブと被測定物との相対する距離が変動した場
合でも一定の検出効率で放射線の測定を行い汚染度を測
定することが可能であり、被測定物の表面に不規則な凹
凸を有する場合や測定者が変わった場合でも一定の検出
効率で測定を行うことができる。

【００２５】また、測定された測定汚染度と許容汚染度
との比較を直接正確に行うことが可能であり、被測定物
の放射線汚染度の正しい認識を行うことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る放射性表面汚染検出器を説明する
説明図であり（ａ）は放射性表面汚染検出器の概略外観
図であり、（ｂ）は放射線検出面の平面図である。

【図２】本発明に係る放射性表面汚染検出器の構成ブロ
ック図である。

【図３】本発明に係る放射性表面汚染検出器の検出面の
傾き状態と接近状態を表示する表示例である。

【符号の説明】

１４ プローブ（放射線測定器） １６ データ表示部 ２４ 距離検出部 ２６ 汚染度換算部 ２８ ＣＰＵ ３０ メモリ

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 被測定物の表面に付着した放射性物質か
   ら放射される放射線を測定する放射線測定器と、 被測定物と放射線測定器との距離を検出する距離検出器
   と、 前記放射線測定器で測定した測定結果を前記距離検出器
   で検出された距離に基づいて被測定物に対する所定距離
   から測定した放射線汚染度に換算する汚染度換算部と、 を有することを特徴とする放射性表面汚染検出器。