JPH09297180A - 放射性表面汚染測定装置 - Google Patents

放射性表面汚染測定装置

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JPH09297180A
JPH09297180A JP11375296A JP11375296A JPH09297180A JP H09297180 A JPH09297180 A JP H09297180A JP 11375296 A JP11375296 A JP 11375296A JP 11375296 A JP11375296 A JP 11375296A JP H09297180 A JPH09297180 A JP H09297180A
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JP
Japan
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surface contamination
detection
unit
radiation detector
measuring device
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Pending
Application number
JP11375296A
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English (en)
Inventor
Naoki Tateishi
直樹 立石
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Aloka Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 測定者の作業負担が小さい放射性表面汚染測
定装置を提供する。 【解決手段】 プローブユニット10の取手部14に
は、表示ランプ部18が設けられている。表示ランプ部
18は、放射線検出器16からの検出信号、あるいは本
体ユニットからケーブル30を介して入力される測定結
果信号に応じて発光し、測定中の箇所の表面汚染の程度
に関する情報を表示する。このように、プローブユニッ
ト10に表示ランプ部18を設けたことにより、測定者
は、表示ランプ部18を見ていれば本体ユニットのメー
タを見なくても、汚染箇所を大まかに特定することがで
きる。従って、測定者は、検出面12aを傷付けないよ
うに注意を払いながらも汚染箇所を探すことができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、物体表面の放射能
汚染を測定する放射性表面汚染測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】放射性同位元素取扱施設などにおいて
は、器物や人間の放射性物質による表面汚染を検出する
ために放射性表面汚染測定装置が用いられる。
【0003】従来の放射性表面汚染測定装置について、
図3を参照して説明する。
【0004】図3に示すように、放射性表面汚染測定装
置は、放射線を検出するプローブユニット10と、電源
や信号処理回路などを備える本体ユニット20とから構
成される。
【0005】プローブユニット10は、放射線検出器を
含む検出部12と、測定者が手で持つための取手部14
とから構成される。検出部12の検出面12aには、放
射線検出器として板状の大面積シンチレータとその外側
に遮光用の極めて薄い遮光膜とが設けられている。一
方、取手部14には光電子増倍管が内蔵されており、シ
ンチレータの発光は検出部12内のライトガイドによっ
て、その光電子増倍管に導かれる。この光電子増倍管か
ら出力される検出信号は、ケーブル30を経て本体ユニ
ット20に入力される。
【0006】本体ユニット20は、電源を内蔵してお
り、この電源からの電力は本体ユニット20内の諸回路
のみならず、ケーブル30を介してプローブユニット1
0の光電子増倍管にも供給されている。プローブユニッ
ト10の光電子増倍管の検出信号は、本体ユニット20
内部の信号処理回路に入力される。信号処理回路は、そ
の検出信号に対し、波高弁別や計数などの処理を行い、
計数値や計数率などの測定値を求める。この測定値は、
表示部22にて表示される。また、本体ユニット20に
も、測定者が手で持つための取手部24が設けられてい
る。
【0007】測定者は、一方の手にプローブユニット1
0を、他方の手に本体ユニット20をそれぞれ持ち、検
出面12aを測定対象物に近づけ、表示部22を見なが
ら汚染の状況を測定していた。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】α線などの飛程の短い
放射線を検出するには、検出面12aを測定対象物のご
く近くまで近接させる必要があるが、検出面12aの遮
光膜は極めて破損しやすいので、測定者は、検出面12
aが測定対象物に接触してしまわないよう注意深くプロ
ーブユニット10を操作する必要があった。その一方
で、測定者は本体ユニット20の表示部22により測定
値を頻繁に確認する必要があり、このようにプローブユ
ニット10と本体ユニット20の両方に注意を向けつつ
測定を行うことは、測定者にとって負担となっていた。
【0009】本発明は、上記問題を解決するためになさ
れたものであり、測定者の作業負担が少なくて済む放射
性表面汚染測定装置を提供することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】前述の目的を達成するた
めに、本発明に係る放射性表面汚染測定装置は、放射線
検出器と把持部とを有するプローブユニットと、信号ケ
ーブルを介して前記プローブユニットに接続され、前記
放射線検出器の検出信号に基づき汚染測定値を求める信
号処理部を含む本体ユニットとを有し、測定者が前記プ
ローブユニットの把持部を持ち、前記放射線検出器の検
出面を測定対象面に近接させて表面汚染の測定を行う放
射性表面汚染測定装置において、前記プローブユニット
に汚染箇所サーチ用の情報の出力を行うサーチ情報出力
部を備える。
【0011】この構成によれば、プローブユニットにサ
ーチ情報出力部を設けたことにより、測定者はプローブ
ユニットを注視して動かしながらも汚染箇所サーチ用の
情報を得ることができる。プローブユニットを動かすの
は主として汚染箇所の大まかなサーチのときであり、本
発明の装置によれば、このようなサーチ時に、測定者
は、検出面を破損しないように注意しながらプローブユ
ニットを動かしつつも汚染箇所特定のための情報を得る
ことができる。
【0012】本発明の好適な態様の一つでは、サーチ情
報出力部は、放射線の検出に対応して発光する検出ラン
プを備える。検出ランプは、放射線検出器にて放射線が
検出される度に発光する。この構成によれば、検出ラン
プの発光間隔により汚染の強弱を知ることができ、汚染
箇所を特定することができる。なお、この構成では、検
出ランプは放射線検出器の検出信号に基づき駆動するこ
とができるので、検出ランプの駆動信号を本体ユニット
から供給する必要がなく、信号ケーブル中の信号線を増
やす必要がない。
【0013】また、別の態様では、サーチ情報出力部
は、信号処理部で求められた汚染測定値が所定のしきい
値を越えると発光するアラームランプを備える。この構
成によれば、アラームランプの発光により汚染箇所を特
定することができる。
【0014】
【発明の実施の形態】以下、本発明に係る放射性表面汚
染測定装置の好適な実施形態を図面に基づいて説明す
る。
【0015】図1は、本発明に係る放射性表面汚染測定
装置のプローブユニット10の外観を示す側面図であ
る。本実施形態の放射性表面汚染測定装置も、従来と同
様プローブユニット10と本体ユニットとから構成され
ているが、本体ユニットの構成及び機能は従来とほぼ同
様なので、以下ではプローブユニットを中心に説明す
る。
【0016】図1に示すように、プローブユニット10
の検出部12には、放射線検出器16が設けられてい
る。本実施形態では、放射線検出器16に半導体検出器
を用いる。放射線検出器16の検出信号は、検出部12
又は取手部14に設けられる増幅器(不図示)にて増幅
され、ケーブル30を介して本体ユニットに入力され
る。
【0017】取手部14には表示ランプ部18が設けら
れており、この表示ランプ部18にて表面汚染の程度に
関する情報を表示する。本実施形態では、表示ランプ部
18は2種類のランプを内蔵している。一つは放射線検
出器16で放射線を検出したときに発光する検出ランプ
であり、もう一つは汚染測定値(例えば計数率)がしき
い値を超えた時に発光するアラームランプである。各ラ
ンプとしては、例えば発光ダイオード(LED)を用い
ることができる。例えば、検出ランプは橙色LED、ア
ラームランプは赤色LEDといった具合に、各ランプは
色で区別できるようにする。このようなランプの発光に
より、測定者は、プローブユニット10を注意深く操作
しつつも、現在測定している場所の汚染の程度を知るこ
とができる。
【0018】図2に、本実施形態の放射性表面汚染測定
装置の回路構成の概略を示す。図2において、図1の構
成要素に対応する構成要素には同一の符号を付してい
る。
【0019】図2において、放射線の入射により放射線
検出器16から出力された検出信号は、増幅器15で増
幅をされた後、ケーブルを介して本体ユニット20の信
号処理回路26に入力されるとともに、表示ランプ部1
8の検出ランプ18aにも入力される。検出ランプ18
aは、検出信号が入力されると所定の色(例えば橙色)
で発光する。従って、検出ランプ18aは、放射線検出
器16が放射線を検出する度に発光する。測定者は、検
出ランプ18aの発光の頻度により測定箇所の汚染の程
度を知ることができる。
【0020】信号処理回路26は、入力された検出信号
に対して波高弁別や計数などの所定の信号処理を加え、
計数値や計数率などの汚染測定結果を求める。求められ
た測定結果は、表示回路22aを介して本体ユニット2
0付属の表示部に表示されるとともに、必要に応じて外
部出力端子28から外部のデータ処理装置などに出力さ
れる。
【0021】また、信号処理回路26では、求められた
計数率などの汚染測定値を、あらかじめ設定されたしき
い値と比較し、汚染測定値がしきい値を超えるとアラー
ム信号を発する。このアラーム信号は、プローブユニッ
ト10のアラームランプ18bに入力される。
【0022】アラームランプ18bは、信号処理回路2
6からアラーム信号を受け取ると、所定の色(例えば赤
色)で発光する。従って、測定者は、このアラームラン
プ18bが発光すれば、測定箇所の汚染がある程度以上
であることを知ることができる。
【0023】このように、本実施形態の放射性表面汚染
測定装置によれば、プローブユニット10の表示ランプ
部18に汚染箇所を特定するために有用な表示がなされ
るので、測定者は、汚染箇所を大まかにサーチする際な
どにはプローブユニットのみを注視していれば良く、測
定者の負担が軽減される。測定者は、サーチによって見
付けた汚染箇所の精密な汚染状況を調べたい場合になっ
て初めて、本体ユニットの表示部を見ればよい。
【0024】なお、上記実施形態では、放射線検出器に
半導体検出器を用いたが、本実施形態の手法は、他の放
射線検出器を用いる場合にも適用可能である。
【0025】また、上記実施形態では、プローブユニッ
ト10の表示機構としてランプを用いたが、これに限ら
ず、例えば液晶表示器を用いて測定値を表示することも
できる。
【0026】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
プローブユニットに汚染箇所サーチ用の情報を出力する
サーチ情報出力部を設けたことにより、測定者はプロー
ブユニットを注視して動かしながらも汚染箇所サーチ用
の情報を得ることができる。従って、本発明によれば、
測定者の作業負担が軽減される。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明に係る放射性表面汚染測定装置のプロ
ーブユニットの外観を示す側面図である。
【図2】 本発明に係る放射性表面汚染測定装置の回路
構成の概略を示す図である。
【図3】 従来の放射性表面汚染測定装置の構成を示す
斜視図である。
【符号の説明】
10 プローブユニット、12 検出部、12a 検出
面、14 取手部、16 放射線検出器、18 表示ラ
ンプ部、18a 検出ランプ、18b アラームラン
プ、20 本体ユニット、22 表示部、22a 表示
回路、24 取手部、26 信号処理回路。

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 放射線検出器と把持部とを有するプロー
    ブユニットと、 信号ケーブルを介して前記プローブユニットに接続さ
    れ、前記放射線検出器の検出信号に基づき汚染測定値を
    求める信号処理部を含む本体ユニットと、 を有し、測定者が前記プローブユニットの把持部を持
    ち、前記放射線検出器の検出面を測定対象面に近接させ
    て表面汚染の測定を行う放射性表面汚染測定装置におい
    て、 前記プローブユニットに、汚染箇所サーチ用の情報の出
    力を行うサーチ情報出力部を設けたことを特徴とする放
    射性表面汚染測定装置。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の放射性表面汚染測定装置
    において、 前記サーチ情報出力部は、前記放射線検出器の放射線検
    出に対応して発光する検出ランプを含むことを特徴とす
    る放射性表面汚染測定装置。
  3. 【請求項3】 請求項2記載の放射性表面汚染測定装置
    において、 前記検出ランプは、前記放射線検出器の検出信号を、前
    記本体ユニットの信号処理部を介さずに直接受け取り、
    前記検出信号に基づき駆動されることを特徴とする放射
    性表面汚染測定装置。
  4. 【請求項4】 請求項1記載の放射性表面汚染測定装置
    において、 前記サーチ情報出力部は、前記信号処理部で求められた
    汚染測定値が所定のしきい値を越えると発光するアラー
    ムランプを含むことを特徴とする放射性表面汚染測定装
    置。
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