JPH07218229A - 三次元形状入力装置 - Google Patents
三次元形状入力装置Info
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- JPH07218229A JPH07218229A JP6009264A JP926494A JPH07218229A JP H07218229 A JPH07218229 A JP H07218229A JP 6009264 A JP6009264 A JP 6009264A JP 926494 A JP926494 A JP 926494A JP H07218229 A JPH07218229 A JP H07218229A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 装置本体に回転機構を取り付ける際に生じる
取り付け誤差等の製造誤差がある場合であっても、測定
対象物の断面形状を正確に計測できる三次元形状入力装
置を提供することを目的とする。 【構成】 光源８からの測定用光線束を測定対象物２に
向けて照射し、表面で散乱した光線束を検出する光学機
構３を設け、回転機構４による測定対象物２の所定角度
の回転姿勢毎に検出された散乱光線束の検出データに基
づいて得られた表面形状データを、回転機構４の回転中
心周りに座標回転して断面形状データを演算導出する演
算機構５を設け、前記回転機構４の回転軸芯に重ならせ
て取り付けた半径Ｒの円筒に対して、前記演算機構５に
より得られた断面形状データと、任意の中心点から描い
た半径Ｒの円との重なり度合いが最も大きい円の中心点
を求め、その点を以後の座標回転演算を行うための回転
中心とする回転中心座標補正機構６を設けて構成する。
取り付け誤差等の製造誤差がある場合であっても、測定
対象物の断面形状を正確に計測できる三次元形状入力装
置を提供することを目的とする。 【構成】 光源８からの測定用光線束を測定対象物２に
向けて照射し、表面で散乱した光線束を検出する光学機
構３を設け、回転機構４による測定対象物２の所定角度
の回転姿勢毎に検出された散乱光線束の検出データに基
づいて得られた表面形状データを、回転機構４の回転中
心周りに座標回転して断面形状データを演算導出する演
算機構５を設け、前記回転機構４の回転軸芯に重ならせ
て取り付けた半径Ｒの円筒に対して、前記演算機構５に
より得られた断面形状データと、任意の中心点から描い
た半径Ｒの円との重なり度合いが最も大きい円の中心点
を求め、その点を以後の座標回転演算を行うための回転
中心とする回転中心座標補正機構６を設けて構成する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光源からの測定用光線
束を測定対象物に向けて照射し、前記測定対象物の表面
で散乱した光線束を検出する光学機構と、前記光学機構
から臨む前記測定対象物の測定面を変化させる回転機構
と、前記回転機構による所定角度の回転姿勢毎に前記光
学機構により検出された散乱光線束の検出データに基づ
いて、前記測定対象物の表面形状データを演算導出し、
且つ、演算導出された表面形状データを前記回転機構の
回転中心周りに座標回転して断面形状データを演算導出
する演算機構とを設けて構成してある三次元形状入力装
置に関する。
束を測定対象物に向けて照射し、前記測定対象物の表面
で散乱した光線束を検出する光学機構と、前記光学機構
から臨む前記測定対象物の測定面を変化させる回転機構
と、前記回転機構による所定角度の回転姿勢毎に前記光
学機構により検出された散乱光線束の検出データに基づ
いて、前記測定対象物の表面形状データを演算導出し、
且つ、演算導出された表面形状データを前記回転機構の
回転中心周りに座標回転して断面形状データを演算導出
する演算機構とを設けて構成してある三次元形状入力装
置に関する。
【０００２】
【従来の技術】この種の三次元形状入力装置としては、
測定対象物の断面形状を入力すべく、演算機構を、回転
機構による所定角度の回転姿勢毎に光学機構により検出
された散乱光線束の検出データに基づいて、前記測定対
象物の表面の座標を求める第一演算機構と、第一演算機
構による座標値を回転機構の回転中心周りに座標回転演
算して得られた値を合成して断面形状データを求める第
二演算機構とで構成していた。
測定対象物の断面形状を入力すべく、演算機構を、回転
機構による所定角度の回転姿勢毎に光学機構により検出
された散乱光線束の検出データに基づいて、前記測定対
象物の表面の座標を求める第一演算機構と、第一演算機
構による座標値を回転機構の回転中心周りに座標回転演
算して得られた値を合成して断面形状データを求める第
二演算機構とで構成していた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上述した従来
技術によれば、第二演算機構を、第一演算機構による値
を回転機構の回転中心周りに座標回転演算して得られた
値をそのまま合成して断面形状データを求めるものであ
ったために、測定対象物本来の断面形状とは異なったも
のになるおそれがあった。回転機構を装置本体に取り付
ける際の取り付け誤差等により、回転機構による測定対
象物の回転中心が設計された値と異なる場合があるため
である。本発明の目的は上述した従来欠点を解消し、装
置本体に回転機構を取り付ける際に生じる取り付け誤差
等の製造誤差がある場合であっても、測定対象物の断面
形状を正確に計測できる三次元形状入力装置を提供する
点にある。
技術によれば、第二演算機構を、第一演算機構による値
を回転機構の回転中心周りに座標回転演算して得られた
値をそのまま合成して断面形状データを求めるものであ
ったために、測定対象物本来の断面形状とは異なったも
のになるおそれがあった。回転機構を装置本体に取り付
ける際の取り付け誤差等により、回転機構による測定対
象物の回転中心が設計された値と異なる場合があるため
である。本発明の目的は上述した従来欠点を解消し、装
置本体に回転機構を取り付ける際に生じる取り付け誤差
等の製造誤差がある場合であっても、測定対象物の断面
形状を正確に計測できる三次元形状入力装置を提供する
点にある。
【０００４】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、本発明による三次元形状入力装置の特徴構成は、前
記回転機構の回転軸芯に重ならせて取り付けた基準測定
対象物としての半径Ｒの円筒に対して、前記演算機構に
より得られた断面形状データと、任意の中心点から描い
た半径Ｒの円との重なり度合いが最も大きい円の中心点
を演算導出して、その値を以後の座標回転演算を行うた
めの回転中心とする回転中心座標補正機構を設けてある
点にある。
め、本発明による三次元形状入力装置の特徴構成は、前
記回転機構の回転軸芯に重ならせて取り付けた基準測定
対象物としての半径Ｒの円筒に対して、前記演算機構に
より得られた断面形状データと、任意の中心点から描い
た半径Ｒの円との重なり度合いが最も大きい円の中心点
を演算導出して、その値を以後の座標回転演算を行うた
めの回転中心とする回転中心座標補正機構を設けてある
点にある。
【０００５】前記回転機構の回転軸芯に重ならせて取り
付けた基準測定対象物としての半径Ｒの円筒に対して、
前記演算機構により得られた断面形状データと、仮想回
転中心座標の周囲で分割された複数領域毎の代表点から
描いた半径Ｒの円との重なり度合いが最も大きい円の中
心点を演算導出して、その代表点を以後の座標回転演算
を行うための回転中心座標とする回転中心座標補正機構
を設けてある点にある。上述の構成において、前記回転
中心座標補正機構を、求められた代表点をさらに仮想回
転中心座標として補正演算を繰り返すように構成してあ
ることが好ましい。
付けた基準測定対象物としての半径Ｒの円筒に対して、
前記演算機構により得られた断面形状データと、仮想回
転中心座標の周囲で分割された複数領域毎の代表点から
描いた半径Ｒの円との重なり度合いが最も大きい円の中
心点を演算導出して、その代表点を以後の座標回転演算
を行うための回転中心座標とする回転中心座標補正機構
を設けてある点にある。上述の構成において、前記回転
中心座標補正機構を、求められた代表点をさらに仮想回
転中心座標として補正演算を繰り返すように構成してあ
ることが好ましい。
【０００６】
【作用】一般の測定対象物を計測する前に、基準測定対
象物としての半径Ｒの円筒をその軸芯を回転機構の回転
軸芯に重ならせて取り付けて、光学機構により散乱光線
束を検出する。次に、検出データに基づいて演算機構に
より断面形状データ（基準測定対象物が半径Ｒの円筒で
あるので半径Ｒの円弧となる）を演算導出する。回転中
心座標補正機構は、任意の中心点から描いた半径Ｒの円
との重なり度合いが最も大きい円の中心点を、例えば、
最小二乗法により演算導出して、その値を以後の座標回
転演算を行うための回転中心として設定し、以後、演算
機構は、一般の測定対象物を計測する際には、補正後の
値を中心座標として座標回転演算を行うのである。
象物としての半径Ｒの円筒をその軸芯を回転機構の回転
軸芯に重ならせて取り付けて、光学機構により散乱光線
束を検出する。次に、検出データに基づいて演算機構に
より断面形状データ（基準測定対象物が半径Ｒの円筒で
あるので半径Ｒの円弧となる）を演算導出する。回転中
心座標補正機構は、任意の中心点から描いた半径Ｒの円
との重なり度合いが最も大きい円の中心点を、例えば、
最小二乗法により演算導出して、その値を以後の座標回
転演算を行うための回転中心として設定し、以後、演算
機構は、一般の測定対象物を計測する際には、補正後の
値を中心座標として座標回転演算を行うのである。
【０００７】このとき、上述の任意の点として、回転座
標の設計値である仮想回転中心座標の周囲の領域を複数
に分割して、各領域毎の代表点を採用することにより、
仮想回転中心座標の近傍にあると想定される真の回転座
標に容易に近づけることができる。さらに、これを繰り
返すことにより、真の回転座標に限りなく近づけること
が可能になる。
標の設計値である仮想回転中心座標の周囲の領域を複数
に分割して、各領域毎の代表点を採用することにより、
仮想回転中心座標の近傍にあると想定される真の回転座
標に容易に近づけることができる。さらに、これを繰り
返すことにより、真の回転座標に限りなく近づけること
が可能になる。
【０００８】
【発明の効果】従って、本発明によれば、装置本体に回
転機構を取り付ける際に生じる取り付け誤差等の製造誤
差がある場合であっても、測定対象物の断面形状を正確
に計測できる三次元形状入力装置を提供することができ
るようになった。
転機構を取り付ける際に生じる取り付け誤差等の製造誤
差がある場合であっても、測定対象物の断面形状を正確
に計測できる三次元形状入力装置を提供することができ
るようになった。
【０００９】
【実施例】以下実施例を説明する。図１に示すように、
三次元形状入力装置は、光源８からの測定用光線束をＸ
−Ｙ参照面１上の測定対象物２に向けて照射し、前記測
定対象物２の表面で散乱した光線束を検出する光学機構
３と、前記光学機構３から臨む前記測定対象物２の測定
面を変化させる回転機構４と、前記回転機構４による所
定角度の回転姿勢毎に前記光学機構３により検出された
散乱光線束の検出データに基づいて、前記測定対象物２
の表面形状データを演算導出し、且つ、演算導出された
表面形状データを前記回転機構４の回転中心周りに座標
回転して前記測定対象物２の断面形状データを演算導出
する演算機構５とを設けて構成してある。
三次元形状入力装置は、光源８からの測定用光線束をＸ
−Ｙ参照面１上の測定対象物２に向けて照射し、前記測
定対象物２の表面で散乱した光線束を検出する光学機構
３と、前記光学機構３から臨む前記測定対象物２の測定
面を変化させる回転機構４と、前記回転機構４による所
定角度の回転姿勢毎に前記光学機構３により検出された
散乱光線束の検出データに基づいて、前記測定対象物２
の表面形状データを演算導出し、且つ、演算導出された
表面形状データを前記回転機構４の回転中心周りに座標
回転して前記測定対象物２の断面形状データを演算導出
する演算機構５とを設けて構成してある。
【００１０】前記光学機構３は、レーザを用いた光源８
とＣＣＤリニアセンサを用いた受光素子９とを、走査用
の両面ミラー７を挟んで対向配置して、光源８から出力
された光線束を走査用ミラー７及び固定ミラー１０を介
して測定用の光線束として測定対象物２に照射するとと
もに、測定対象物２の表面で散乱した光線束を固定ミラ
ー１０’、走査用ミラー７及び集光レンズ１１を介して
受光素子９に導くように構成してある。
とＣＣＤリニアセンサを用いた受光素子９とを、走査用
の両面ミラー７を挟んで対向配置して、光源８から出力
された光線束を走査用ミラー７及び固定ミラー１０を介
して測定用の光線束として測定対象物２に照射するとと
もに、測定対象物２の表面で散乱した光線束を固定ミラ
ー１０’、走査用ミラー７及び集光レンズ１１を介して
受光素子９に導くように構成してある。
【００１１】前記演算機構５は、前記光学機構３を駆動
制御するマイクロコンピュータ及びその周辺回路でなる
制御手段Ｃに組み込まれ、前記光学機構３の駆動に同期
して得られる受光素子９による検出データに基づいて、
測定対象物２の三次元形状を演算導出する。即ち、前記
制御手段Ｃは、前記光学機構３全休をＹ軸方向へ移動さ
せる機構（図示せず）を駆動制御してＹ軸方向に副走査
しながら、モータＭ１により走査用の両面ミラー７をＹ
軸に平行な軸心ｐ周りに回動させて測定用光線束をＸ軸
方向に主走査する操作制御機構Ｃ１と、図２に示すよう
に、受光素子９で検出される測定対象物２の表面からの
散乱光線束の位置Ｘ1 と参照面１の表面からの散乱光線
束の位置Ｘ0 （既知である）との距離Ｘ0 Ｘ1 が、測定
用の光線束の測定対象物２と参照面１との照射位置のＸ
方向への位置ずれΔＸ0 に比例すること、及び、参照面
１からの測定対象物２の表面までのＺ軸方向への距離Ｚ
0 がＺ0 ×θ＝ΔＸ0 なる関係を有することから、測定
用の光線束が照射された点のＸ，Ｙ，Ｚ座標を演算導出
する演算機構５とで構成してある。
制御するマイクロコンピュータ及びその周辺回路でなる
制御手段Ｃに組み込まれ、前記光学機構３の駆動に同期
して得られる受光素子９による検出データに基づいて、
測定対象物２の三次元形状を演算導出する。即ち、前記
制御手段Ｃは、前記光学機構３全休をＹ軸方向へ移動さ
せる機構（図示せず）を駆動制御してＹ軸方向に副走査
しながら、モータＭ１により走査用の両面ミラー７をＹ
軸に平行な軸心ｐ周りに回動させて測定用光線束をＸ軸
方向に主走査する操作制御機構Ｃ１と、図２に示すよう
に、受光素子９で検出される測定対象物２の表面からの
散乱光線束の位置Ｘ1 と参照面１の表面からの散乱光線
束の位置Ｘ0 （既知である）との距離Ｘ0 Ｘ1 が、測定
用の光線束の測定対象物２と参照面１との照射位置のＸ
方向への位置ずれΔＸ0 に比例すること、及び、参照面
１からの測定対象物２の表面までのＺ軸方向への距離Ｚ
0 がＺ0 ×θ＝ΔＸ0 なる関係を有することから、測定
用の光線束が照射された点のＸ，Ｙ，Ｚ座標を演算導出
する演算機構５とで構成してある。
【００１２】前記操作制御機構Ｃ１により、前記回転機
構４に取り付けられた測定対象物２をＹ軸に並行な軸心
ｑ周りに例えば９０°ずつ回転させて、一回転で測定対
象物２の表面形状データを四方向から計測し、前記演算
機構５により、四方向からのそれぞれの表面形状データ
を、前記回転機構４の回転軸心座標周りに適宜回転演算
して、前記測定対象物２の断面形状データを演算導出す
る。
構４に取り付けられた測定対象物２をＹ軸に並行な軸心
ｑ周りに例えば９０°ずつ回転させて、一回転で測定対
象物２の表面形状データを四方向から計測し、前記演算
機構５により、四方向からのそれぞれの表面形状データ
を、前記回転機構４の回転軸心座標周りに適宜回転演算
して、前記測定対象物２の断面形状データを演算導出す
る。
【００１３】上述の回転演算を行う場合に、前記回転機
構４の製造誤差や組み付け誤差を考慮すると、図３に示
すように、真の回転中心Ｃからずれた設計値の回転軸心
座標である点Ｃ0 を中心に回転演算すると演算誤差を生
じて、真の断面形状を再現できずに歪んだ断面形状とな
るので好ましくない。そこで、回転演算の基準となる真
の回転中心Ｃに補正する必要があり、そのために前記演
算機構５に回転中心位置補正機構６を設けてある。
構４の製造誤差や組み付け誤差を考慮すると、図３に示
すように、真の回転中心Ｃからずれた設計値の回転軸心
座標である点Ｃ0 を中心に回転演算すると演算誤差を生
じて、真の断面形状を再現できずに歪んだ断面形状とな
るので好ましくない。そこで、回転演算の基準となる真
の回転中心Ｃに補正する必要があり、そのために前記演
算機構５に回転中心位置補正機構６を設けてある。
【００１４】前記回転中心座標補正機構６は、初期に、
前記回転機構４の回転軸に基準測定対象物２としての半
径Ｒの円筒を互いの軸心を重ならせて取り付けて計測
し、前記演算機構５により得られた断面形状データと、
任意の中心点から描いた半径Ｒの円との重なり度合いが
最も大きい円の中心点を演算導出して、その値を以後の
座標回転演算を行うための回転中心とするのである。
前記回転機構４の回転軸に基準測定対象物２としての半
径Ｒの円筒を互いの軸心を重ならせて取り付けて計測
し、前記演算機構５により得られた断面形状データと、
任意の中心点から描いた半径Ｒの円との重なり度合いが
最も大きい円の中心点を演算導出して、その値を以後の
座標回転演算を行うための回転中心とするのである。
【００１５】以下に詳述する。図４及び図５に示すよう
に、真の回転中心点Ｃは設計値の近傍にあると想定され
るので、真の回転中心点Ｃの座標が設計値の回転中心点
Ｃ0 の座標（ｘ0 ，ｚ 0 ）から各座標軸方向に±Δ
ｘ1 ，±Δｚ1 で囲まれる方形の領域にあると考え、そ
の領域を中心点Ｃ0 の座標（ｘ0 ，ｚ0 ）の周りで四分
割し、各領域の中心座標（方形の対角線の交点）である
（ｘｔm , ｚｔn ），｛ｍ，ｎ＝１，２｝の四点を考え
る。それぞれの中心座標（ｘｔm ，ｚｔn ），｛ｍ，ｎ
＝１，２｝を数１の（ｘｔ，ｚｔ）に、且つ、一方向か
ら計測した表面形状のｋ個の有効な測定データ（回転軸
心と円筒の軸心とが一致するので、如何に回転しても同
一のデータが得られることになる）を（ｘｃi ，ｚ
ｃi ），｛ｉ＝１，２………ｋ｝に代入して、その二乗
誤差和の平均を求め、その値が最小になる領域の中心座
標（ｘｔm , ｚｔ n ）を演算の回転中心の基準座標とす
るのである。ここに、｜ｘｃi −ｘｔ｜＞Ｒの場合は、
無効データとなり採用しないことにする。
に、真の回転中心点Ｃは設計値の近傍にあると想定され
るので、真の回転中心点Ｃの座標が設計値の回転中心点
Ｃ0 の座標（ｘ0 ，ｚ 0 ）から各座標軸方向に±Δ
ｘ1 ，±Δｚ1 で囲まれる方形の領域にあると考え、そ
の領域を中心点Ｃ0 の座標（ｘ0 ，ｚ0 ）の周りで四分
割し、各領域の中心座標（方形の対角線の交点）である
（ｘｔm , ｚｔn ），｛ｍ，ｎ＝１，２｝の四点を考え
る。それぞれの中心座標（ｘｔm ，ｚｔn ），｛ｍ，ｎ
＝１，２｝を数１の（ｘｔ，ｚｔ）に、且つ、一方向か
ら計測した表面形状のｋ個の有効な測定データ（回転軸
心と円筒の軸心とが一致するので、如何に回転しても同
一のデータが得られることになる）を（ｘｃi ，ｚ
ｃi ），｛ｉ＝１，２………ｋ｝に代入して、その二乗
誤差和の平均を求め、その値が最小になる領域の中心座
標（ｘｔm , ｚｔ n ）を演算の回転中心の基準座標とす
るのである。ここに、｜ｘｃi −ｘｔ｜＞Ｒの場合は、
無効データとなり採用しないことにする。
【００１６】
【数１】
【００１７】好ましくは、図5 に示すように、上述の通
りに求められた基準座標Ｃ1（ｘｔm , ｚｔn ）を中心と
する各座標軸方向に±Δｘ2 ，±Δｚ2 （Δｘ1 ＞Δｙ
2，Δｘ1 ＞Δｚ2 ）の領域を考えて、上述と同様の演
算操作を繰り返すことにより求まる基準座標（Ｃ1，Ｃ2
………）をより真の回転中心座標Ｃに近づけることがで
きるのである。
りに求められた基準座標Ｃ1（ｘｔm , ｚｔn ）を中心と
する各座標軸方向に±Δｘ2 ，±Δｚ2 （Δｘ1 ＞Δｙ
2，Δｘ1 ＞Δｚ2 ）の領域を考えて、上述と同様の演
算操作を繰り返すことにより求まる基準座標（Ｃ1，Ｃ2
………）をより真の回転中心座標Ｃに近づけることがで
きるのである。
【００１８】上述の実施例では、真の回転中心点Ｃの座
標が設計値の回転中心点Ｒ0 の座標（ｘ0 ，ｚ0 ）から
各座標軸方向に±Δｘ1 ，±Δｚ1 で囲まれる方形の領
域にあると考え、その領域を中心点Ｃ0 の座標（ｘ0 ，
ｚ0 ）の周りで四分割し、各領域の中心座標（方形の対
角線の交点）である（ｘｔm , ｚｔn ），｛ｍ，ｎ＝
１，２｝の四点に対して数１の式を用いるものを説明し
たが、±Δｘ1 ，±Δｚ 1 の値は特に限定するものでは
なく、想定される誤差の最大値、或いは、若干大きな値
とすればよいし、四分割にこだわるものではなく、さら
に多くの領域に分割して、それぞれの領域の代表点に対
して数１の式を用いるものであってもよい。
標が設計値の回転中心点Ｒ0 の座標（ｘ0 ，ｚ0 ）から
各座標軸方向に±Δｘ1 ，±Δｚ1 で囲まれる方形の領
域にあると考え、その領域を中心点Ｃ0 の座標（ｘ0 ，
ｚ0 ）の周りで四分割し、各領域の中心座標（方形の対
角線の交点）である（ｘｔm , ｚｔn ），｛ｍ，ｎ＝
１，２｝の四点に対して数１の式を用いるものを説明し
たが、±Δｘ1 ，±Δｚ 1 の値は特に限定するものでは
なく、想定される誤差の最大値、或いは、若干大きな値
とすればよいし、四分割にこだわるものではなく、さら
に多くの領域に分割して、それぞれの領域の代表点に対
して数１の式を用いるものであってもよい。
【００１９】上述の実施例では、求められた回転中心座
標（ｘｔm , ｚｔn ）を中心とする各座標軸方向に±Δ
ｘ2 ，±Δｚ2 （Δｘ1 ＞Δｙ2 ，Δｘ1 ＞Δｚ2 ）の
領域を考えて、上述と同様の演算操作を繰り返すことに
より、基準座標をより真の回転中心座標に近づけること
ができる旨説明したが、繰り返し回数は特に限定するも
のではない。
標（ｘｔm , ｚｔn ）を中心とする各座標軸方向に±Δ
ｘ2 ，±Δｚ2 （Δｘ1 ＞Δｙ2 ，Δｘ1 ＞Δｚ2 ）の
領域を考えて、上述と同様の演算操作を繰り返すことに
より、基準座標をより真の回転中心座標に近づけること
ができる旨説明したが、繰り返し回数は特に限定するも
のではない。
【００２０】上述の実施例で用いた式、数１は、この表
現に限定されるものではない。例えば、数２に示すもの
であってもよい。
現に限定されるものではない。例えば、数２に示すもの
であってもよい。
【００２１】
【数２】
【００２２】先の実施例では、最小二乗法を用いたもの
を説明したが、円の一致度合いの判定はこの方法に限定
するものではなく、他の方法を用いてもよい。
を説明したが、円の一致度合いの判定はこの方法に限定
するものではなく、他の方法を用いてもよい。
【００２３】尚、特許請求の範囲の項に図面との対照を
便利にする為に符号を記すが、該記入により本発明は添
付図面の構成に限定されるものではない。
便利にする為に符号を記すが、該記入により本発明は添
付図面の構成に限定されるものではない。
【図１】三次元形状入力装置の全体構成図
【図２】原理を示す説明図
【図３】要部の説明図
【図４】要部の説明図
【図５】要部の説明図
２ 測定対象物 ３ 光学機構 ４ 回転機構 ５ 演算機構 ６ 回転中心座標補正機構 ８ 光源
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成６年６月１５日
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１６
【補正方法】変更
【補正内容】
【００１６】
【数１】
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１７
【補正方法】変更
【補正内容】
【００１７】好ましくは、図５に示すように、上述の通
りに求められた基準座標Ｃ1（ｘｔm , ｚｔn ）を中心と
する各座標軸方向に±Δｘ2 ，±Δｚ2 （Δｘ1 ＞Δｘ
2 ，Δｚ1 ＞Δｚ2 ）の領域を考えて、上述と同様の演
算操作を繰り返すことにより求まる基準座標（Ｃ1，Ｃ2
………）をより真の回転中心座標Ｃに近づけるこができ
るのである。
りに求められた基準座標Ｃ1（ｘｔm , ｚｔn ）を中心と
する各座標軸方向に±Δｘ2 ，±Δｚ2 （Δｘ1 ＞Δｘ
2 ，Δｚ1 ＞Δｚ2 ）の領域を考えて、上述と同様の演
算操作を繰り返すことにより求まる基準座標（Ｃ1，Ｃ2
………）をより真の回転中心座標Ｃに近づけるこができ
るのである。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１９
【補正方法】変更
【補正内容】
【００１９】上述の実施例では、求められた回転中心座
標（ｘｔm , ｚｔn ）を中心とする各座標軸方向に±Δ
ｘ2 ，±Δｚ2 （Δｘ1 ＞Δｘ2 ，Δｚ1 ＞Δｚ2 ）の
領域を考えて、上述と同様の演算操作を繰り返すことに
より、基準座標をより真の回転中心座標に近づけること
ができる旨説明したが、繰り返し回数は特に限定するも
のではない。
標（ｘｔm , ｚｔn ）を中心とする各座標軸方向に±Δ
ｘ2 ，±Δｚ2 （Δｘ1 ＞Δｘ2 ，Δｚ1 ＞Δｚ2 ）の
領域を考えて、上述と同様の演算操作を繰り返すことに
より、基準座標をより真の回転中心座標に近づけること
ができる旨説明したが、繰り返し回数は特に限定するも
のではない。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２１
【補正方法】変更
【補正内容】
【００２１】
【数２】
【手続補正５】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図４
【補正方法】変更
【補正内容】
【図４】
【手続補正６】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図５
【補正方法】変更
【補正内容】
【図５】
Claims (3)
- 【請求項１】 光源（８）からの測定用光線束を測定対
象物（２）に向けて照射し、前記測定対象物（２）の表
面で散乱した光線束を検出する光学機構（３）と、前記
光学機構（３）から臨む前記測定対象物（２）の測定面
を変化させる回転機構（４）と、前記回転機構（４）に
よる所定角度の回転姿勢毎に前記光学機構（３）により
検出された散乱光線束の検出データに基づいて、前記測
定対象物（２）の表面形状データを演算導出し、且つ、
演算導出された表面形状データを前記回転機構（４）の
回転中心周りに座標回転して断面形状データを演算導出
する演算機構（５）とを設けて構成してある三次元形状
入力装置であって、 前記回転機構（４）の回転軸芯に重ならせて取り付けた
基準測定対象物としての半径Ｒの円筒に対して、前記演
算機構（５）により得られた断面形状データと、任意の
中心点から描いた半径Ｒの円との重なり度合いが最も大
きい円の中心点を演算導出して、その値を以後の座標回
転演算を行うための回転中心とする回転中心座標補正機
構（６）を設けてある三次元形状入力装置。 - 【請求項２】 光源（８）からの測定用光線束を測定対
象物（２）に向けて照射し、前記測定対象物（２）の表
面で散乱した光線束を検出する光学機構（３）と、前記
光学機構（３）から臨む前記測定対象物（２）の測定面
を変化させる回転機構（４）と、前記回転機構（４）に
よる所定角度の回転姿勢毎に前記光学機構（３）により
検出された散乱光線束の検出データに基づいて、前記測
定対象物（２）の表面形状データを演算導出し、且つ、
演算導出された表面形状データを前記回転機構（４）の
回転中心周りに座標回転して断面形状データを演算導出
する演算機構（５）とを設けて構成してある三次元形状
入力装置であって、 前記回転機構（４）の回転軸芯に重ならせて取り付けた
基準測定対象物としての半径Ｒの円筒に対して、前記演
算機構（５）により得られた断面形状データと、仮想回
転中心座標の周囲で分割された複数領域毎の代表点から
描いた半径Ｒの円との重なり度合いが最も大きい円の中
心点を演算導出して、その代表点を以後の座標回転演算
を行うための回転中心座標とする回転中心座標補正機構
（６）を設けてある三次元形状入力装置。 - 【請求項３】 前記回転中心座標補正機構（６）を、求
められた代表点をさらに仮想回転中心座標として補正演
算を繰り返すように構成してある請求項２記載の三次元
形状入力装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6009264A JPH07218229A (ja) | 1994-01-31 | 1994-01-31 | 三次元形状入力装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6009264A JPH07218229A (ja) | 1994-01-31 | 1994-01-31 | 三次元形状入力装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07218229A true JPH07218229A (ja) | 1995-08-18 |
Family
ID=11715585
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6009264A Pending JPH07218229A (ja) | 1994-01-31 | 1994-01-31 | 三次元形状入力装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07218229A (ja) |
-
1994
- 1994-01-31 JP JP6009264A patent/JPH07218229A/ja active Pending
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