JPH07207436A - スパッタリング装置 - Google Patents

スパッタリング装置

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Publication number
JPH07207436A
JPH07207436A JP572094A JP572094A JPH07207436A JP H07207436 A JPH07207436 A JP H07207436A JP 572094 A JP572094 A JP 572094A JP 572094 A JP572094 A JP 572094A JP H07207436 A JPH07207436 A JP H07207436A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sputtering
target
film
vacuum chamber
composite film
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP572094A
Other languages
English (en)
Inventor
Makoto Kitamura
真 北村
Tomoshige Tsutao
友重 蔦尾
Takeshi Uehara
剛 上原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sekisui Chemical Co Ltd
Original Assignee
Sekisui Chemical Co Ltd
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Publication date
Application filed by Sekisui Chemical Co Ltd filed Critical Sekisui Chemical Co Ltd
Priority to JP572094A priority Critical patent/JPH07207436A/ja
Publication of JPH07207436A publication Critical patent/JPH07207436A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】基材上に、透明性を有し、優れた撥水性と耐擦
傷性とが同時に付与された複合膜を形成することが可能
なスパッタリング装置を提供する。 【構成】真空槽1内上部には回転可能なスパッターテー
ブル5が設けられて基材Cが取り付け可能とされ、真空
槽1内下部には二つ以上のターゲット取付具13,14
がスパッターテーブル5と対向するように配置され、各
ターゲットに電力を投入してスパッタリングを行う装置
であって、各ターゲット取付具の間には、真空槽内底面
12より上方に向けて拡散防止具11が形成され、拡散
防止具11の上端部がスパッターテーブル5よりも低く
なるように配置されている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、基材上に撥水性や耐擦
傷性に優れた複合膜を形成するために使用されるスパッ
タリング装置に関する。
【0002】
【従来の技術】プラスチックやガラス等の基材上に、撥
水性の高い被膜を形成する方法としては、例えば、ポリ
テトラフルオロエチレン樹脂(以下PTFEという)を
はじめとする含フッ素系樹脂をターゲット材として真空
蒸着やスパッタリングを行う方法が開示されている(特
開昭56−98475号公報、特開昭56−98469
号公報)。しかしながら、PTFE等のフッ素系樹脂は
撥水性に優れる反面、耐擦傷性に問題があるため、耐擦
傷性(ハードコート)の被膜として使用することは困難
であった。
【0003】この問題点を解決するために、フッ素系樹
脂と金属酸化物の複合膜をプラスチック基材上に設ける
方法が開示されている(特開平3−153859号公
報)。この方法は、SiO2 ターゲットをPTFEで部
分的に被覆した複合ターゲットを用い、高周波出力50
Wで10分間、高周波スパッタリングを行うことによ
り、膜厚500ÅのSiO2 −PTFE系の複合膜をプ
ラスチック基材上に形成する方法である。
【0004】しかしながら、上記SiO2 −PTFE系
の複合膜は耐擦傷性が向上する反面、フッ素系樹脂に比
べて撥水性の低下が著しく、優れた撥水性と耐擦傷性を
同時に付与することは困難であった。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記欠点に
鑑みてなされたものであり、その目的は、基材上に、透
明性を有し、優れた撥水性と耐擦傷性とが同時に付与さ
れた複合膜を形成することが可能なスパッタリング装置
を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明のスパッタリング
装置は、真空槽上部にスパッターテーブルが取付けら
れ、真空槽内下部には二つ以上のターゲット取付具がス
パッターテーブルと対向するように配置され、各ターゲ
ット取付具の間には、真空槽内底面より上方に向けて拡
散防止具が形成されている。
【0007】上記金属酸化物としては、例えば、SiO
2 、SiO、Al2 3 、ZrO2、Y2 3 、Mg
O、ZnO、SnO2 、In2 3 、WO3 、Ti
2 、CaO等が挙げられ、これらは単独で使用されて
もよく、2種以上が併用されてもよい。上記金属酸化物
の中で、特にSiO2 、Al2 3 、ZrO2 がより好
ましい。
【0008】上記フッ素系樹脂としては、例えば、ポリ
テトラフルオロエチレン(以下PTFEという)、テト
ラフルオロエチレン−ヘキサフルオロプロピレン共重合
体(以下FEPという)、ポリクロロトリフルオロエチ
レン、テトラフルオロエチレン−エチレン共重合体、ポ
リビニルフルオライド、ポリビニリデンフルオライド、
テトラフルオロエチレン−パーフルオロアルキルビニル
エーテル共重合体等が挙げられるが、特にPTFE、F
EPが好ましい。
【0009】上記基材としては、ガラス、プラスチッ
ク、金属、セラミックス等が挙げられるが、特に、透明
性等に優れたガラス、プラスチック(ハードコート処理
された)が好ましい。
【0010】本発明のスパッタリング装置としては、多
元同時スパッタリング装置が用いられる。以下、多元同
時スパッタリング装置につき、図1に示された概要図に
基づいて説明する。図中1は真空槽を示し、真空槽1は
油回転ポンプとクライオポンプとを組み合わせた排気装
置(図示せず)により、所定の圧力(具体的には、1×
10-5Torr以下)に排気される。上記真空槽1内の
下部には二つのターゲット取付具13,14が取り付け
られたものを使用し、この取付具13及び14にターゲ
ットA及びBがそれぞれ取り付けられる。これらのター
ゲットのうちの一方が金属酸化物であり、もう一方がフ
ッ素系樹脂である。
【0011】上記ターゲットA及びBは、それぞれ別々
のマッチングボックス2、高周波電源3に接続されてお
り、A、Bはそれぞれ異なった高周波電源でスパッリン
グすることができる。また、ターゲットBについては、
直流電源4への切替えが可能であり、直流電源4による
スパッタリングも行うことができる。金属酸化物として
導電材料を用いる場合は金属ターゲットをBとし、直流
電源4によるスパッタリングを行ってもよい。また、上
記スパッタリング装置は、二つのターゲットA及びBへ
の投入電力を個別に制御することにより、基材上へ積層
する複合膜の組成を制御することができる。
【0012】上記真空槽1内の上部の、ターゲットA及
びBと対向する位置に、複合膜を設ける基材Cを取り付
けるためのスパッターテーブル5が配置されている。こ
のスパッターテーブル5はモーター6によって、スパッ
ターテーブル5の中心10を回転軸として、一定の回転
速度で回転可能となされている。上記基材Cとターゲッ
トA及びBとの間には、シャッター7が設けられる。
【0013】上記真空槽1内には、図1及び図2に示す
ように、底面12から上方に向けて拡散防止具11が形
成され、拡散防止具11の上端部が基材Cよりも低くな
るように配置される。この拡散防止具11は、図6〜8
に示すように、ターゲットAのスパッタリングによって
生じるスパッター粒子と、ターゲットBのスパッタリン
グによって生じるスパッター粒子との間の化学反応を妨
げるために設けられる。このようなスパッター粒子同士
の化学反応によって、得られた複合膜は組成欠損の多い
ものとなり、撥水性や耐擦傷性の低下が起こったり、着
色したものとなるので好ましくない。
【0014】上記拡散防止具11の形状については特に
限定されず、図2〜図5に示すように、例えば板状であ
ってもよく円筒状であってもよい。また、上記拡散防止
具11の材質としては、特に限定されないが、金属、セ
ラミックス、耐熱性プラスチックス等が好ましい。
【0015】上記ターゲットA及びBは、スパッターテ
ーブル5の回転軸10から等距離となるように配置する
のが好ましい。また、基材Cの回転数については、基材
Cが1回転する毎に、各ターゲットA及びBのスパッタ
ーによって成膜される膜厚が10Å以下となるように設
定するのが好ましい。
【0016】即ち、一定の条件下(基板間距離、投入電
力、ガス圧力)で、ターゲットA及びBのうち大きい方
の成膜速度をX(Å/min)、基材Cの回転速度をR
(回転/min)とすると、X/R≦10(Å/回転)
なる条件を満たす範囲でスパッタリングするのが好まし
い。X/Rが上記範囲を超えると、得られる被膜が複合
膜とならず積層体となる確率が高くなり、撥水性と耐擦
傷性を同時に付与することが難しくなる。スパッタリン
グによる成膜の場合、成膜速度が1000(Å/mi
n)を超えることは稀であり、R(回転速度)を100
(回転/min)以下とすることにより、殆どの場合に
おいて上記の条件を満足することができる。
【0017】上記図1に示した多元同時スパッタリング
装置を使用して実際にスパッタリングを行うには、ま
ず、ターゲットAにフッ素系樹脂(例えばPTFE)
を、ターゲットBに金属酸化物(例えばSiO2 )をそ
れぞれ取り付け、さらにスパッターテーブル5に基材C
(例えばガラス板)を取り付けた後、モーター6によっ
て10〜1000rpmの回転速度で回転させる。尚、
この時点では、シャッター7は閉じた状態にして置く。
【0018】次に、排気装置(図示せず)によって、真
空槽1内を1×10-5Torr以下)に排気した後、ガ
ス導入バルブ8を開くことによって、アルゴンガス等の
不活性ガスを真空槽1内に導入する。真空槽1内の圧力
は不活性ガスの導入量をマスコントローラー9により調
節することによって制御し、成膜時の真空槽1内圧力は
1×10-3〜1×10-1Torrの範囲が好ましい。そ
の理由は、真空槽1内圧力がこの範囲を超えると放電が
不安定となるために、連続的な成膜が困難となるからで
ある。
【0019】続いて、ターゲットA及びBに、それぞれ
独立した電源により高周波電力(Bに導電材料を用いる
場合は直流電力でもよい)を投入して放電を行わせ、タ
ーゲットA及びBへの投入電力を各々所定の電力値に設
定した後、シャッター7を開け、ターゲットA、Bをス
パッタリングすることにより、基材C上への成膜を開始
する。
【0020】成膜開始後、ターゲットA、Bへの投入電
力をそれぞれ一定に保つことにより、基材C上に金属酸
化物とフッ素系樹脂の割合が膜厚方向に一定した複合膜
が形成される。各ターゲットへの投入電力を制御するこ
とにより、フッ素系樹脂と金属酸化物の成膜速度を制御
し、複合膜中のフッ素系樹脂及び金属酸化物の含有量を
制御することができる。従って、ターゲットA、Bへの
投入電力については、用途に応じて、撥水性及び耐擦傷
性のいずれを重視するかにより、適宜決定すればよい。
即ち、撥水性をより重視する場合は、フッ素系樹脂ター
ゲットへの投入電力を金属酸化物ターゲットより高めれ
ばよい。
【0021】上記複合膜の膜厚は、100Å以上であれ
ば十分な撥水性を発揮し、耐擦傷性については基材がガ
ラス等の比較的硬い材料の場合は、100Å以上あれば
十分な性能を発揮する。しかし、基材がプラスチックな
どの比較的硬度の低い材料の場合は、耐擦傷性は基材の
影響を受け易く、その影響を受けないためには膜厚10
00Å以上の複合膜を設けるか、基材上に1〜3μmの
ハードコート層を設けた後、膜厚100Å以上の複合膜
を設けるのが好ましい。
【0022】
【作用】本発明のスパッタリング装置は、真空槽内に設
けられた拡散防止具によって、ターゲットA及びBから
生じたスパッタ粒子の拡散が妨げられ、スパッタ粒子同
士の化学反応が抑制されるため、複合膜中の組成欠損が
減少し、撥水性及び耐擦傷性の低下を防止することがで
きる。
【0023】
【実施例】以下、本発明の実施例を説明する。 (実施例1〜3)図1に示した多元同時スパッタリング
装置(芝浦製作所製「CFS-8EP-55」)を使用し、基材C
としてスライドガラス(マツナミ社製「S1111」、
サイズ80mm×30mm×1mm)を使用した。上記
真空槽(直径450mmの円筒形)1内において、基材
Cをスパッタテーブル5に取り付け、ターゲットA及び
Bをターゲット取付具13,14にそれぞれ取り付け、
基材CとターゲットA及びB(いずれも直径125m
m)との間の距離、即ち基板間距離が140mmとなる
ように調節した。さらに、真空槽1内には図4及び図5
に示すような円筒状のステンレス製拡散防止具(内径1
50mm、高さ115mm)11を、その上端部が基材
Cより25mm低くなるように配置した。上記スパッタ
テーブル5は円板の中心を回転軸10として回転可能と
なされており、ターゲットAにはPTFE(淀川化成社
製)、ターゲットBにはSiO2 をそれぞれ使用した。
【0024】この後、真空槽1内を1×10-5Torr
にまで真空排気した後、ガス導入バルブ8を開きスパッ
ターガスとしてArガスをマスフローコントローラー9
を用いて真空槽1内に45SCCM導入し、真空槽1内
圧力を5×10-3Torrとした。次いで、スパッター
テーブル5をモーター6によって回転させながら、ター
ゲットA及びBに発振周波数13.56MHzの高周波
電力を投入して放電を行わせ、続いてシャッター7を開
けることにより成膜を開始した。成膜は、表1に示した
成膜条件(高周波電力、基板回転速度)で行い、SiO
2 とPTFEの複合膜膜厚が1000Åとなった時点
で、シャッター7を閉じて両ターゲットへの電力投入を
中止すると共にArガスの導入及び基材Cの回転を中止
し、成膜を終了した。
【0025】(実施例4〜6)円筒状の拡散防止具に代
えて、図2及び図3に示したような板状のステンレス製
拡散防止具11を使用したこと以外は、実施例1と同様
にして基材C上にSiO2 とPTFEの複合膜を形成し
た。上記ステンレス製拡散防止具11は、高さ115m
m、横幅450mmのものを使用し、その上端部が基材
Cより25mm低くなるように配置した。
【0026】(比較例1〜4)ターゲットとして、図9
及び図10に示したように、SiO2 28aをPTFE
28bで部分的に被覆した複合ターゲット28を使用し
て、スパッターテーブル5を全く回転させることなく、
且つ拡散防止具11を全く使用せずに、表1に示した成
膜条件で成膜を行ったこと以外は、実施例1と同様にし
て基材C上にPTFEとSiO2 の複合膜を形成した。
【0027】(比較例5〜7)拡散防止具11を全く使
用せずに、表2に示した成膜条件で成膜したこと以外
は、実施例1と同様にして、基材C上にSiO2 とPT
FEの複合膜を形成した。
【0028】
【表1】
【0029】〔複合膜の性能評価〕上記実施例及び比較
例で得られた複合膜につき、下記の性能評価を行いその
結果を表3に示した。 (a)膜厚測定 基材の一部をマスキングして複合膜を形成し、マスキン
グ部と複合膜形成部の段差を表面形状測定器(スローン
社製「Dektak3030」)により測定して、厚さ
を求めた。
【0030】(b)撥水性試験 蒸留水に対する複合膜の接触角を、接触角計(協和界面
科学社製「CA−A型」)により液滴法で測定した。
【0031】(c)耐擦傷性試験 #0000のスチールウールを膜表面にある圧力で押し
当てた状態で、膜を20往復させた後、複合膜の表面状
態を目視観察し、膜表面に傷が付かない時の最大圧力を
もって耐擦傷(ハードコート)性の指標とした。
【0032】(d)膜質評価 ESCAによる複合膜の組成分析により、各元素(S
i、O、F及びC)の含有量を求め、(Si含有量/O
含有量)及び(F含有量/C含有量)の比率と、純粋な
SiO2 とPTFEの(Si含有量/O含有量)及び
(F含有量/C含有量)の比率とをそれぞれ比較して、
どの程度の差があるかによって、以下の基準で膜質を評
価した。 ○:欠損のない複合膜である △:欠損の少ない複合膜である ×:欠損の多い複合膜である
【0033】(e)着色評価 目視観察により以下の基準で膜質を評価した。 ○:殆ど無色に近い △:少し黄色を帯びている ×:褐色の着色が著しい
【0034】
【表2】
【0035】
【発明の効果】本発明のスパッタリング装置は、上述の
通りであり、真空槽内に設けられた拡散防止具によっ
て、ターゲットA及びBから生じたスパッタ粒子同士の
化学反応が抑制されるため、複合膜中の組成欠損が防止
されるので、基材上に撥水性と耐擦傷性を兼ね備えた複
合膜の形成が可能であり、目的に応じて、複合中の金属
酸化物とフッ素系樹脂の比率を変えることにより撥水性
と耐擦傷性を制御することができる。また、複合膜は透
明性に優れるので、透明性が要求される用途に好適であ
る。従って、本発明のスパッタリング装置で得られた複
合膜は、レンズ、ミラー、自動車、建築用窓ガラスやそ
の他の透明基材の保護膜として利用でき、さらにフッ素
系樹脂を含有することにより可撓性を有するので、農業
用フィルムなどの防汚フィルムとして使用可能である。
【0036】
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のスパッタリング装置の一例を示す模式
図である。
【図2】本発明のスパッタリング装置で使用される拡散
防止具の一例を示す模式図である。
【図3】図2の拡散防止具を示す平面図である。
【図4】本発明のスパッタリング装置で使用される拡散
防止具の他の一例を示す模式図である。
【図5】図4の拡散防止具を示す平面図である。
【図6】従来のスパッタリング装置においてスパッタリ
ングの状態を示す模式図である。
【図7】本発明のスパッタリング装置においてスパッタ
リングの状態を示す模式図である。
【図8】本発明のスパッタリング装置においてスパッタ
リングの状態を示す模式図である。
【図9】複合ターゲットを示す側面図である。
【図10】複合ターゲットを示す平面図である。
【符号の説明】
A,B ターゲット C 基材 D ターゲットAのスパッター粒子 E ターゲットBのスパッター粒子 1 真空槽 2 マッチングボックス 3 高周波電源 4 直流電源 5 スパッターテーブル 6 モーター 7 シャッター 8 ガス導入バルブ 9 マスフローコントローラー 10 スパッターテーブル回転軸 11 拡散防止具 13,14 ターゲット取付具 28a SiO2 ターゲット 28b PTFEターゲット

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】真空槽内上部に回転可能なスパッターテー
    ブルが設けられて基材が取り付け可能とされ、真空槽内
    下部に二つ以上のターゲット取付具が、上記スパッター
    テーブルと対向するように配置され、各ターゲットに電
    力を投入してスパッタリングを行う装置であって、各タ
    ーゲット取付具の間には、真空槽内底面より上方に向け
    て拡散防止具が形成され、拡散防止具の上端部がスパッ
    ターテーブルよりも低くなるように配置されていること
    を特徴とするスパッタリング装置。
JP572094A 1994-01-24 1994-01-24 スパッタリング装置 Pending JPH07207436A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP572094A JPH07207436A (ja) 1994-01-24 1994-01-24 スパッタリング装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP572094A JPH07207436A (ja) 1994-01-24 1994-01-24 スパッタリング装置

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JPH07207436A true JPH07207436A (ja) 1995-08-08

Family

ID=11618963

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP572094A Pending JPH07207436A (ja) 1994-01-24 1994-01-24 スパッタリング装置

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JP (1) JPH07207436A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2001068936A1 (fr) * 2000-03-13 2001-09-20 Mitsui Mining & Smelting Co.,Ltd. Matiere composite et son procede de production
JP2015111568A (ja) * 2013-11-06 2015-06-18 東レ株式会社 ガス拡散電極基材、それを用いたガス拡散電極およびそれらの製造方法

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