JPH07198612A - 成分分析装置 - Google Patents

成分分析装置

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JPH07198612A
JPH07198612A JP35233793A JP35233793A JPH07198612A JP H07198612 A JPH07198612 A JP H07198612A JP 35233793 A JP35233793 A JP 35233793A JP 35233793 A JP35233793 A JP 35233793A JP H07198612 A JPH07198612 A JP H07198612A
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JP
Japan
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adsorption
component
analysis unit
gas
measurement object
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Application number
JP35233793A
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English (en)
Inventor
Yuji Yao
祐史 八尾
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Toshiba Corp
Toshiba Information and Control Systems Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Toshiba Information and Control Systems Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明は測定対象となる物質を変質させるこ
となく、この物質の成分濃度や成分構成、多種の物質が
混入する物質の成分毎の濃度などを測定し、これによっ
て測定処理の効率化や測定場所の有効利用を図る。 【構成】 吸着分析部2内に測定対象となる物質(測定
対象物)5を配置した後、酸化ガス・洗浄ガス供給部1
によって前記測定対象物5に洗浄ガスを当てながら、こ
の測定対象物5を加熱してその表面を洗浄し、次いで吸
着ガス・洗浄ガス供給部1によって前記測定対象物5に
吸着ガスを当てて、これを吸着させた後、この測定対象
物5を加熱し、このとき得られた吸着ルミネッセンス効
果による光をスペクトル分析して測定対象物5の成分濃
度や成分構成、成分毎の濃度などを測定する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は物質成分濃度や物質成分
構成、多種の物質が混入する物質の成分などを分析する
成分分析装置に関する。
【0002】
【従来の技術】成分分析対象となる物質の成分などを分
析する成分分析装置として、従来、ガス化分析法や黒体
幅射エネルギー分析法などを用いた成分分析装置が知ら
れている。
【0003】ガス化分析法を使用した成分分析装置は成
分分析対象となる物質を加熱して、これをガス化させた
後、質量分析器によってガスの質量を測定し、この測定
結果に基づいて前記物質の成分を分析する。
【0004】また、黒体幅射エネルギー分析法を用いた
成分分析装置は成分分析対象となる物質を加熱してその
黒体幅射エネルギーを測定し、この測定結果に基づいて
前記物質の成分を分析する。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の各成分分析装置においては、次に述べるような
問題があった。
【0006】すなわち、ガス化分析法を使用した成分分
析装置では、測定対象となっている物質を加熱してガス
化してしまうため、この物質を変質させてしまう恐れが
あるとともに、ガス化された物質の質量しか測定するこ
とができないため、物質中に含まれている各成分の濃度
を測定することができない。したがって、物質中に含ま
れている各成分の濃度を測定する必要があるとき、独立
した濃度計が必要になり、その分だけスペースが余分に
必要になってしまうという問題があった。
【0007】また、黒体幅射エネルギー分析法を用いた
成分分析装置では、測定対象となっている物質を加熱し
たとき、この物質から放射される幅射エネルギーを測定
するようにしているので、ガス化分析法を使用した成分
分析装置と同様に前記物質を変質させてしまう恐れがあ
る。
【0008】本発明は上記の事情に鑑み、測定対象とな
る物質を変質させることなく、この物質の成分濃度や成
分構成、多種の物質が混入する物質の成分毎の濃度など
を測定することができ、これによって測定処理の効率化
や測定場所の有効利用を図ることができる成分分析装置
を提供することを目的としている。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに本発明による成分分析装置は、請求項1において、
測定対象物を収納する密閉容器を有し、この密閉容器内
に収納している測定対象物の温度を指定された温度にし
て洗浄処理、吸着処理、発光処理を行なう吸着分析部
と、この吸着分析部によって洗浄処理が行われるとき、
前記密閉容器内に収納されている前記測定対象物に対
し、洗浄ガスを供給し、また前記吸着分析部によって吸
着処理が行われるとき、前記密閉容器内に収納されてい
る前記測定対象物に対し、酸化性ガスを供給するガス供
給部と、前記吸着分析部によって発光処理が行われると
き、測定対象物から放射される吸着ルミネッセンス光を
取り込んで記録した後、この記録処理によって得られた
データに基づいて前記測定対象物の成分濃度を演算する
解析部とを備えたことを特徴としている。
【0010】また、請求項2では、請求項1の成分分析
装置において、前記解析部は吸着分析部の密閉容器内に
収納される測定対象物の質量を測定し、この測定結果と
前記解析部によって得られた前記測定対象物の成分濃度
とに基づいて前記測定対象物の成分含有率または成分含
有量を演算することを特徴としている。
【0011】また、請求項3では、請求項1または2の
成分分析装置において、前記解析部によって得られた前
記測定対象物の成分含有量または成分含有率の少なくと
もいずれか1つが予め設定されている値を越えたとき、
警報を発することを特徴としている。
【0012】
【作用】上記の構成において、請求項1では、測定対象
物を収納する密閉容器を有する吸着分析部によって前記
密閉容器内に収納している測定対象物の温度が指定され
た温度にされて洗浄処理、吸着処理、発光処理が行なわ
れるとともに、ガス供給部によって前記吸着分析部で洗
浄処理が行われるとき、前記密閉容器内に収納されてい
る前記測定対象物に対し、洗浄ガスが供給され、また前
記吸着分析部で吸着処理が行われるとき、前記密閉容器
内に収納されている前記測定対象物に対し、酸化性ガス
が供給される。さらに、解析部によって前記吸着分析部
で発光処理が行われるとき、測定対象物から放射される
吸着ルミネッセンス光が取り込まれて記録された後、こ
の記録処理で得られたデータに基づき前記測定対象物の
成分濃度が演算される。
【0013】また、請求項2では、請求項1の前記解析
部によって前記吸着分析部の密閉容器内に収納される測
定対象物の質量が測定され、この測定結果と前記解析部
で得られた前記測定対象物の成分濃度とに基づき、前記
測定対象物の成分含有率または成分含有量が演算され
る。
【0014】また、請求項3では、請求項1または2の
前記解析部によって得られた前記測定対象物の成分含有
量または成分含有率の少なくともいずれか1つが予め設
定されている値を越えたとき、警報が発っせられる。
【0015】
【実施例】図1は本発明による成分分析装置の一実施例
を示す構成図である。
【0016】この図に示す成分分析装置は吸着ガス・洗
浄ガス供給部1と、吸着分析部2と、ガス排気部3と、
解析部4とを備えており、吸着分析部2内に測定対象と
なる物質(測定対象物)5を配置した後、酸化ガス・洗
浄ガス供給部1によって前記測定対象物5に洗浄ガス
(この実施例では、窒素ガス)を当てながら、この測定
対象物5を加熱してその表面を洗浄し、次いで吸着ガス
・洗浄ガス供給部1によって前記測定対象物5に吸着ガ
ス(この実施例では、基準となる酸化性ガスとして空
気)を当てて、これを吸着させた後、この測定対象物5
を加熱し、このとき得られた吸着ルミネッセンス効果に
よる光をスペクトル分析して前記測定対象物5の成分濃
度や成分構成、成分毎の濃度などを測定する。
【0017】吸着ガス・洗浄ガス供給部1は一端が前記
吸着分析部2に接続される共通管6および各一端が前記
共通管6の他端に接続される洗浄ガス支管7、吸着ガス
支管8によって構成される配管9と、前記共通管6の途
中に配置され、開状態になっているとき、前記吸着分析
部2に対して洗浄ガスや吸着ガスの供給を可能にし、閉
状態になっているとき、前記吸着分析部2から洗浄ガス
や吸着ガスが逆流しないようにする仕切弁10と、前記
洗浄ガス支管7の他端に接続され、貯留している洗浄ガ
ス(窒素ガス)を前記洗浄ガス支管7内に供給する洗浄
ガスタンク11と、前記洗浄ガス支管7の途中に配置さ
れ、洗浄ガス圧送信号が供給されたとき、動作状態にな
り、前記洗浄ガスタンク11に貯留されている窒素ガス
を取り込んで共通管6内に圧送する圧送機12とを備え
ている。
【0018】さらに、前記吸着ガス・洗浄ガス供給部1
は前記洗浄ガス支管7の圧送機12と前記洗浄ガスタン
ク11との間に配置され、閉状態になっているとき、前
記吸着ガス支管8側からの吸着ガスが前記洗浄ガスタン
ク11内に入り込まないようにし、開状態になっている
とき、前記洗浄ガスタンク11内の窒素ガスを前記共通
管6内に流入させる仕切弁13と、前記吸着ガス支管8
の他端に接続され、貯留している吸着ガス(空気)を前
記吸着ガス支管8内に供給する吸着ガスタンク14と、
前記吸着ガス支管8の途中に配置され、吸着ガス圧送信
号が供給されたとき、動作状態になり、前記吸着ガスタ
ンク14に貯留されている空気を取り込んで共通管6内
に圧送する圧送機15と、前記吸着ガス支管8の圧送機
15と前記吸着ガスタンク14との間に配置され、閉状
態になっているとき、前記洗浄ガス支管7側からの窒素
ガスが前記吸着ガスタンク14内に入り込まないように
し、開状態になっているとき、前記吸着ガスタンク14
内の空気を前記共通管6内に流入させる仕切弁16とを
備えている。
【0019】そして、洗浄ガス供給指令が入力されたと
き、吸着ガス支管8の途中にある仕切弁16を閉状態に
するとともに、共通管6の途中にある仕切弁10と、洗
浄ガス支管7の途中にある仕切弁13とを開状態にし、
この後洗浄ガス支管7の途中に配置された圧送機12を
動作状態にする。これによって、洗浄ガスタンク11内
の窒素ガスがこの洗浄ガスタンク11→洗浄ガス支管7
の他端→仕切弁13→圧送機12→洗浄ガス支管7の一
端→共通管6の他端→仕切弁10→共通管6の一端→吸
着分析部2なる経路で吸着分析部2に供給される。この
後、洗浄ガス供給指令の入力が停止したとき、圧送機1
2の動作を停止させるとともに、各仕切弁10、13を
閉じて前記吸着分析部2に対する窒素ガスの供給を停止
する。
【0020】また、吸着ガス供給指令が入力されたと
き、洗浄ガス支管7の途中にある仕切弁13を閉状態に
するとともに、共通管6の途中にある仕切弁10と、吸
着ガス支管8の途中にある仕切弁16とを開状態にし、
この後吸着ガス支管8の途中に配置された圧送機15を
動作状態にする。これによって、吸着ガスタンク14内
の空気がこの吸着ガスタンク14→吸着ガス支管8の他
端→仕切弁16→圧送機15→吸着ガス支管8の一端→
共通管6の他端→仕切弁10→共通管6の一端→吸着分
析部2なる経路で吸着分析部2に供給される。この後、
吸着ガス供給指令の入力が停止したとき、圧送機15の
動作を停止させるとともに、各仕切弁10、16を閉じ
て前記吸着分析部2に対する空気の供給を停止する。
【0021】また、吸着分析部2は円筒状の筒部20と
この筒部20の上部側に分離可能に設けられるキャップ
状の閉止部21とによって構成され、前記共通管6の一
端から洗浄ガスや吸着ガスが供給されたとき、これを取
り込んで内部に充填させる吸着分析容器22と、この吸
着分析容器22の下部側に貫入されるレンズ23と、前
記吸着分析容器22内の前記レンズ23上に配置される
質量計24と、前記吸着分析容器22内の前記質量計2
4上に配置されるカップ状の測定対象物収納容器25
と、この測定対象物収納容器25内に収納される測定対
象物5の温度を計測する温度計26と、前記測定対象物
収納容器25に巻付けられるヒータ線27と、前記吸着
分析容器22の外に配置され、前記温度計26によって
得られた温度信号に基づいてヒーター駆動信号を生成
し、このヒーター駆動信号に基づいて前記ヒータ線27
を発熱させて前記測定対象物収納容器25内に収納され
た測定対象物5の温度を指定された温度にする温度調節
計28と、前記吸着分析容器22内の上部に配置され、
前記測定対象物収納容器25内に収納されている測定対
象物5から放射される吸着ルミネッセンス光を反射して
前記レンズ23に集光する凹面鏡29と、前記吸着分析
容器22の下部に配置され、前記レンズ23によって集
光された吸着ルミネッセンス光を分光する分光器30
と、この分光器30によって分光された吸着ルミネッセ
ンス光を解析部4に導く光伝送路31とを備えている。
【0022】そして、吸着分析容器22の閉止部21が
開けられて、測定対象物収納容器25内に測定対象物5
が収納され、この後吸着分析容器22の閉止部21が閉
じられ、洗浄指令が入力されたとき、温度計26によっ
て測定対象物収納容器25内に収納されている測定対象
物5の温度を計測し、温度調節計28によって前記計測
結果に基づきヒータ線27を発熱させて前記測定対象物
5の温度を指定された温度まで上昇させた後、この温度
を一定に保持させ、吸着分析容器22内に充填された窒
素ガスによって前記測定対象物5を洗浄させる。この
後、吸着分析容器22内の窒素ガスが排気された後、前
記吸着分析容器22内に空気が充填されて、前記測定物
収納容器25内に収納されている測定対象物5に前記空
気中の酸素を吸着させる。そして、この吸着処理が終了
して、計測指令が入力されたとき、温度計26によって
測定対象物収納容器25内に収納されている測定対象物
5の温度を計測し、温度調節計28によって前記計測結
果に基づきヒータ線27を発熱させて前記測定対象物5
の温度を指定された温度まで上昇させながら、凹面鏡2
9によって前記測定対象物5から放射される吸着ルミネ
ッセンス光をレンズ23側に集光させるとともに、分光
器30によって前記レンズ23で集光された吸着ルミネ
ッセンス光を分光し、光伝送路31を介して解析部4に
送る。
【0023】また、ガス排気部3は一端が前記吸着分析
容器22に接続される排気管35と、この排気管35の
途中に設けられ、排気信号が供給されたとき、動作状態
になり、前記吸着分析容器22内に充填されている窒素
ガスや空気を取り込んで大気中に排気する圧送機36
と、前記排気管35の前記圧送機36と前記排気管35
の前記一端との間に配置され、開状態になっていると
き、前記吸着分析容器22内に充填されている窒素ガス
や空気の排気を行ない、閉状態となっているとき、前記
吸着分析容器22内に窒素ガスや空気を充填させる仕切
弁37とを備えている。
【0024】そして、排気指令が入力されたとき、仕切
弁37を開状態にするとともに、圧送機36を動作状態
にして、吸着分析容器22内に充填されている窒素ガス
や空気を排気する。また、前記排気指令の入力が停止し
たとき、圧送機36の動作を停止するとともに、仕切弁
37を閉状態にして前記吸着分析容器22内に窒素ガス
や空気を充填可能な状態にし、さらに連通指令が入力さ
れたとき、仕切弁37を開状態にして前記吸着分析容器
22内の窒素ガスや空気を大気中に放出可能な状態にす
る。
【0025】また、解析部4は前記光伝送路31によっ
て導かれた吸着ルミネッセンス光を電気信号に変換して
そのスペクトルを分析するTVカメラ40と、このTV
カメラ40によって得られた各波長毎の光強度を示す画
像データを記録するVTR装置41と、このVTR装置
41によって得られた各測定処理毎のデータを取り込ん
でアベレージ積分処理などのノイズ低減処理を行ない、
各波長毎の光強度データを演算するとともに、この光強
度データに基づいて前記測定対象物5の物質成分濃度や
物質成分構成、多種の物質が混入する物質の成分などを
分析する分析装置42と、この分析装置42によって得
られた前記測定対象物5の物質成分濃度や物質成分構
成、多種の物質が混入する物質の成分などおよび前記質
量計24によって得られた前記測定対象物5の質量に基
づいて前記測定対象物5の各成分含有率の演算やこの成
分含有率や成分含有量が予め設定されている値を越えた
とき、警報を発する処理などを行なうオプション機能装
置43とを備えている。
【0026】そして、各測定処理毎に、前記吸着分析部
2の光伝送路31を介して分光された吸着ルミネッセン
ス光を取り込むとともに、TVカメラ40によって前記
吸着ルミネッセンス光を電気信号に変換し、これをVT
R装置41に記録する。この後、分析指令が入力された
とき、分析装置42によってVTR装置41に記録され
ている各測定処理毎のデータを取り込んで、ノイズ低減
処理を行ない、各波長毎の光強度データを演算するとと
もに、この光強度データに基づいて前記測定対象物5の
物質成分濃度や物質成分構成、多種の物質が混入する物
質の成分などを分析する。また、この動作と並行して、
オプション機能装置43によって前記分析装置42によ
って得られた前記測定対象物5の物質成分濃度や物質成
分構成、多種の物質が混入する物質の成分などと、前記
質量計24によって得られた前記測定対象物5の質量と
に基づいて前記測定対象物5の各成分含有率の演算やこ
の成分含有率や成分含有量が予め設定されている値を越
えたとき、警報を発する処理などを行なう。
【0027】次に、図2、図3に示すフローチャートを
参照しながら、この実施例の動作を説明する。
【0028】《測定処理》 <洗浄処理>まず、吸着分析容器22の閉止部21が開
けられて、測定対象物収納容器25内に測定対象物5が
収納された後、吸着分析容器22の閉止部21が閉じら
れる。次いで、吸着ガス・洗浄ガス供給部1に対し、洗
浄ガス供給指令が入力されるとともに、吸着分析部2に
対し、洗浄指令が入力され、さらにガス排気部3に対
し、連通指令が入力される。
【0029】これにより、吸着ガス・洗浄ガス供給部2
の吸着ガス支管8に設けられた仕切弁16が閉状態にさ
れるとともに、共通管6に設けられた仕切弁10と、洗
浄ガス支管7に設けられた仕切弁13とが開状態にさ
れ、さらに洗浄ガス支管7に設けられた圧送機12が動
作状態にされ、洗浄ガスタンク11内の窒素ガスがこの
洗浄ガスタンク11→洗浄ガス支管7の他端→仕切弁1
3→圧送機12→洗浄ガス支管7の一端→共通管6の他
端→仕切弁10→共通管6の一端→吸着分析部2の吸着
分析容器22なる経路で吸着分析部2の吸着分析容器2
2内に供給される。
【0030】また、この動作と並行して、ガス排気部3
の仕切弁37が開状態にされ、吸着分析部2の吸着分析
容器22内と、大気とが連通状態にされる。
【0031】この状態で、吸着分析部2の温度計26に
よって測定対象物収納容器25内に収納されている測定
対象物5の温度が計測され、温度調節計28によって前
記計測結果に基づきヒータ線27が発熱駆動されて前記
測定対象物5の温度が指定された温度まで上昇させられ
た後、この温度が一定に保持され、吸着分析容器22内
に充填された窒素ガスによって図4(a)、(b)に示
す如く前記測定対象物5が洗浄される(ステップST
1)。
【0032】この後、所定の時間が経過し(ステップS
T2)、図4(c)に示す如く測定対象物5から不純ガ
ス成分が除去されれば、吸着ガス・洗浄ガス供給部1に
対する洗浄ガス供給指令の入力が停止させられるととも
に、吸着分析部2に対する洗浄指令の入力が停止させら
れ、さらにガス排気部3に対しする連通指令の入力が停
止させれて排気指令が入力される。
【0033】これによって、吸着ガス・洗浄ガス供給部
1の洗浄ガス支管7に設けられた圧送機12が停止状態
にされるとともに、共通管6に設けられた仕切弁10お
よび洗浄ガス支管7に設けられた仕切弁13が閉状態に
されて、前記吸着分析部2に対する窒素ガスの供給が停
止させられる。
【0034】また、この動作と並行して、ガス排気部3
の仕切弁37が開状態にされたまま、排気管35に取り
付けられた圧送機36が動作状態にされて、吸着分析部
2の吸着分析容器22内に残っている窒素ガスが強制的
に大気中に排気されるとともに、吸着分析部2の温度調
節計28によるヒータ線27の駆動が停止されて、測定
対象物収納容器25内にある測定対象物5の温度が下げ
られる(ステップST3)。
【0035】この後、ガス排気部3に対しする排気指令
の入力が停止させられ、これによってガス排気部3の圧
送機36が停止状態にされるとともに、仕切弁37が閉
状態にされ、吸着分析部2の吸着分析容器22内と、大
気とが遮断状態にされる(ステップST4)。
【0036】<吸着処理>この後、吸着ガス・洗浄ガス
供給部1に対し、吸着ガス供給指令が入力されるととも
に、吸着分析部2に対し、吸着指令が入力される。
【0037】これにより、吸着ガス・洗浄ガス供給部1
の洗浄ガス支管7の途中にある仕切弁13が閉状態にさ
れるとともに、共通管6の途中にある仕切弁10と、吸
着ガス支管8の途中にある仕切弁16とが開状態にさ
れ、この後吸着ガス支管8の途中に配置された圧送機1
5が動作状態にされる。これによって、吸着ガスタンク
14内の空気がこの吸着ガスタンク14→吸着ガス支管
8の他端→仕切弁16→圧送機15→共通管6の他端→
仕切弁10→共通管6の一端→吸着分析部2のなる経路
で吸着分析部2に供給され、吸着分析部2内に設けられ
ている吸着分析容器22内に充填される。
【0038】これによって、図4(d)に示す如く前記
吸着分析容器22内の測定対象物収納容器25内に収納
されている測定対象物5に空気中の酸素が吸着される
(ステップST5)。
【0039】そして、図4(e)に示す如く測定対象物
5に酸素が十分に吸着されると(ステップST6)、吸
着ガス・洗浄ガス供給部1に対する吸着ガス供給指令の
入力が停止されるとともに、吸着分析部2に対する吸着
指令の入力が停止される。
【0040】これにより、吸着ガス・洗浄ガス供給部1
の吸着ガス支管8に設けられた圧送機15が停止状態に
されるとともに、共通管6に設けられた仕切弁10およ
び洗浄ガス支管7に設けられた仕切弁13、吸着ガス支
管8に設けられた仕切弁16が閉状態にされて、前記吸
着分析部2に対する空気の供給が停止させれる(ステッ
プST7)。
【0041】<発光処理および吸着ルミネッセンス光記
録処理>そして、この吸着処理が終了して、計測指令が
入力されたると、吸着分析部2の温度計26によって測
定対象物収納容器25内に収納されている測定対象物5
の温度が計測され、温度調節計28によって前記計測結
果に基づきヒータ線27が発熱駆動させられて前記測定
対象物5の温度が指定された温度まで上昇させられる
(ステップST8)。これによって、図4(f)に示す
如く測定対象物5から吸着ルミネッセンス光が放出さ
れ、これが凹面鏡29によって反射されてレンズ23側
に集光されるとともに、分光器30によって前記レンズ
23で集光された吸着ルミネッセンス光が分光され、光
伝送路31を介して解析部4に送られる。
【0042】そして、この解析部4のTVカメラ40に
よって前記吸着分析部2からの分光された吸着ルミネッ
センス光が取り込まれて電気信号に変換され、VTR装
置41によってこれが記録される(ステップST9、S
T10)。
【0043】以下、1つの測定対象物5に対して、上述
した洗浄処理、吸着処理、発光処理および吸着ルミネッ
センス光記録処理が順次、繰り返され、これによって得
られた測定対象物5からの吸着ルミネッセンス光に対
し、分光処理、光電変換処理を行なって得られた電気信
号がVTR装置41によって記録される(ステップST
1〜ST11)。
【0044】《吸着ルミネッセンス光分析処理》そし
て、上述した測定処理が所定回(例えば、数十回〜数百
回)だけ繰り返されて、VTR装置41に各測定処理毎
にデータが記録された後、分析指令が入力されると、分
析装置42によってVTR装置41に記録されている各
測定処理毎のデータが取り込まれて、ノイズ低減処理が
行なわれ、各波長毎の光強度データD’が演算される
(ステップST12)。
【0045】この後、スペクトル分析によって得られた
各波長毎の光強度データD’と、予め測定されている前
記測定対象物5に空気中の酸素を吸着させる前における
各波長毎の光強度データD0 との差ΔDλが演算されて
(ステップST13)、図5に示すような各波長毎に光
強度(光数)を示すデータ表50が求められるとともに
(ステップST14)、図6に示す如く予め設定されて
いる各成分毎の光強度データを示すテーブル51と、前
記演算処理によって得られた各波長毎の差ΔDλを示す
データ表50とが比較されて図7に示す如く前記測定対
象物5の物質成分(物質名)と、単位質量当たりの含有
量(成分濃度)とを示すデータ表52が求められる(ス
テップST15)。
【0046】《オプション処理》また、この動作と並行
して、オプション機能装置43によって前記分析装置4
2で得られた前記測定対象物5の物質成分濃度や物質成
分構成、多種の物質が混入する物質の成分などと(ステ
ップST16)、前記質量計24によって得られた前記
測定対象物5の質量とに基づいて(ステップST1
7)、図8に示す如く前記測定対象物5の各成分含有率
の演算が行なわれて図8に示す如く前記測定対象物5の
成分、成分含有量、成分含有率を示すデータ表53が作
成された後(ステップST18)、これら各成分含有率
や各成分含有量が予め設定されている値を越えたとき、
警報を発する処理などが行なわれる(ステップST2
0)。
【0047】そして、上述した手順によって、BaSO
4 と、Al2 3 とを混合比1:1で混合した物を測定
対象物5とし、これを測定対象物収納容器25に1gだ
け収納して発光温度を350℃にして発光させたとき、
図9に示すような測定結果を得ることができた。
【0048】また、この測定結果と、図10に示す如く
BaSO4 と、Al2 3 とを各々、測定対象物5と
し、これらを測定対象物収納容器25に各々、0.5g
だけ収納して発光温度を350℃にして発光させたとき
の測定結果とを比較すると明らかなように、BaSO4
と、Al2 3 とを混合比1:1で混合した物の吸着ル
ミネッセンス光のスペクトルはBaSO4 の吸着ルミネ
ッセンス光と、Al2 3 の吸着ルミネッセンス光とを
スペクトルを合成した値になる。
【0049】この結果、各物質毎の吸着ルミネッセンス
光のスペクトルを予め測定しておくことにより、これら
の各物質が混合されていても、その成分毎の濃度などを
測定することができることを確認することができた。
【0050】このようにこの実施例においては、吸着分
析部2内に測定対象となる物質(測定対象物)5を配置
した後、酸化ガス・洗浄ガス供給部1によって前記測定
対象物5に洗浄ガスを当てながら、この測定対象物5を
加熱してその表面を洗浄し、次いで吸着ガス・洗浄ガス
供給部1によって前記測定対象物5に吸着ガスを当て
て、これを吸着させた後、この測定対象物5を加熱し、
このとき得られた吸着ルミネッセンス効果による光をス
ペクトル分析して測定対象物5の成分濃度や成分構成、
成分毎の濃度などを測定するようにしているので、測定
対象となる物質を変質させることなく、この物質の成分
濃度や成分構成、多種の物質が混入する物質の成分毎の
濃度などを測定することができ、これによって測定処理
の効率化や測定場所の有効利用を図ることができる。
【0051】また、この実施例においては、オプション
機能によって分析装置42で得られた前記測定対象物5
の物質成分濃度や物質成分構成、多種の物質が混入する
物質の成分などと、前記質量計24によって得られた前
記測定対象物5の質量とに基づいて前記測定対象物5の
各成分含有率や成分含有量の演算を行なうようにしてい
るので、濃度分析動作と並行して測定対象物5を構成す
る各成分の含有率を測定することができ、これによって
測定処理の効率化や測定場所の有効利用を図ることがで
きる。
【0052】さらに、この実施例においては、オプショ
ン機能によって測定対象物5の成分含有率や成分含有量
が予め設定されている値を越えたとき、警報を発するよ
うにしているので、測定対象物5内に含まれる特定の成
分が指定された含有率や含有量を越えたとき、これを確
実に認識させることができる。
【0053】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、請
求項1では、測定対象となる物質を変質させることな
く、この物質の成分濃度や成分構成、多種の物質が混入
する物質の成分毎の濃度などを測定することができ、こ
れによって測定処理の効率化や測定場所の有効利用を図
ることができる。また、請求項2では、独立した濃度計
を必要とすることなく、測定対象となる物質の成分含有
量や成分含有率などを測定することができ、その分だけ
スペースを有効活用することができる。また、請求項3
では、測定対象物の成分含有量または成分含有率の少な
くともいずれか1つが予め設定されている値を越えたと
き、警報を発することができ、これによって測定処理の
効率化などを達成することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による成分分析装置の一実施例を示す構
成図である。
【図2】図1に示す成分分析装置の動作例を示すフロー
チャートである。
【図3】図1に示す成分分析装置の動作例を示すフロー
チャートである。
【図4】図1に示す成分分析装置による測定対象物の処
理例を示す模式図である。
【図5】図1に示す成分分析装置による演算処理によっ
て作成されるデータ表の一例を示す図である。
【図6】図1に示す成分分析装置による演算処理によっ
て使用されるテーブルの一例を示す図である。
【図7】図1に示す成分分析装置による演算処理によっ
て作成されるデータ表の一例を示す図である。
【図8】図1に示す成分分析装置による演算処理によっ
て作成されるデータ表の一例を示す図である。
【図9】図1に示す成分分析装置によって得られる測定
結果の一例を示す図である。
【図10】図1に示す成分分析装置によって得られる測
定結果の一例を示す図である。
【符号の説明】
1 吸着ガス・洗浄ガス供給部(ガス供給部) 2 吸着分析部 3 ガス排気部 4 解析部 5 測定対象物 22 吸着分析容器(密閉容器) 24 質量計

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 測定対象物を収納する密閉容器を有し、
    この密閉容器内に収納している測定対象物の温度を指定
    された温度にして洗浄処理、吸着処理、発光処理を行な
    う吸着分析部と、 この吸着分析部によって洗浄処理が行われるとき、前記
    密閉容器内に収納されている前記測定対象物に対し、洗
    浄ガスを供給し、また前記吸着分析部によって吸着処理
    が行われるとき、前記密閉容器内に収納されている前記
    測定対象物に対し、酸化性ガスを供給するガス供給部
    と、 前記吸着分析部によって発光処理が行われるとき、測定
    対象物から放射される吸着ルミネッセンス光を取り込ん
    で記録した後、この記録処理によって得られたデータに
    基づいて前記測定対象物の成分濃度を演算する解析部
    と、 を備えたことを特徴とする成分分析装置。
  2. 【請求項2】 前記解析部は吸着分析部の密閉容器内に
    収納される測定対象物の質量を測定し、この測定結果と
    前記解析部によって得られた前記測定対象物の成分濃度
    とに基づいて前記測定対象物の成分含有率または成分含
    有量を演算する請求項1記載の成分分析装置。
  3. 【請求項3】 前記解析部によって得られた前記測定対
    象物の成分含有量または成分含有率の少なくともいずれ
    か1つが予め設定されている値を越えたとき、警報を発
    する請求項1または2記載の成分分析装置。
JP35233793A 1993-12-29 1993-12-29 成分分析装置 Pending JPH07198612A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8308354B2 (en) 2006-10-05 2012-11-13 Toshiba Mitsubishi-Electric Industrial Systems Corporation Mechanism of monitoring unit of electric rotating machinery and monitoring method of electric rotating machinery

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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