JPH07192893A - プラズマ装置 - Google Patents

プラズマ装置

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Publication number
JPH07192893A
JPH07192893A JP5331033A JP33103393A JPH07192893A JP H07192893 A JPH07192893 A JP H07192893A JP 5331033 A JP5331033 A JP 5331033A JP 33103393 A JP33103393 A JP 33103393A JP H07192893 A JPH07192893 A JP H07192893A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample
plasma
processing chamber
chamber
frequency power
Prior art date
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Pending
Application number
JP5331033A
Other languages
English (en)
Inventor
Satoshi Ichimura
智 市村
Tadashi Sato
忠 佐藤
Tomoyuki Kiyono
知之 清野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP5331033A priority Critical patent/JPH07192893A/ja
Publication of JPH07192893A publication Critical patent/JPH07192893A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Plasma Technology (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)
  • Electron Sources, Ion Sources (AREA)
  • Drying Of Semiconductors (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】プラズマ生成室1と、試料処理室2を設け、プ
ラズマ生成室1の内径を試料処理室2の内径以上にする
ことにより、プラズマ生成室1で生成する中性ラジカル
を被加工物である試料に対し充分均一に発生させ、試料
処理室2に永久磁石のカスプ磁界でプラズマを均一に閉
じ込めることで、均一なプラズマを試料に照射できるよ
うにした。 【効果】直径250mmの大きなウェハに対しても、±5
%以下の変動の均一な加工ができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、プラズマを用いて薄膜
を生成,加工するプラズマ装置の改良に関する。
【0002】
【従来の技術】微細加工を行う従来の装置は、例えば、
特開昭63−96839 号公報に開示があるように、プラズマ
生成室でプラズマを発生させ、発生したプラズマをプラ
ズマ拡張室に導き、試料の微細加工や成膜を行ってい
た。これは、均一なプラズマを得る目的に対しては、一
定の効果が得られたが、プラズマの生成に伴って作られ
る中性のラジカル粒子に対しては、永久磁石のカスプ磁
界によるプラズマ閉じ込めの効果がなく、従って、中性
ラジカル粒子を利用した微細加工や成膜では、大面積ウ
ェハの均一な処理の点で、考慮されていなかった。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】したがって、従来技術
では、大面積の試料を、均一な中性ラジカルで成膜ある
いは微細加工処理できない問題があった。
【0004】本発明の目的は、大面積の試料を均一な中
性ラジカルで処理できるプラズマ装置を提供することに
ある。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明はプラズマ装置を、プラズマ生成室と試料処
理室で構成し、試料処理室以上の内径を持つプラズマ生
成室により、充分に広い面積のプラズマを生成させ、従
って、プラズマ生成に伴って生成する中性ラジカルも、
試料処理室に対し、充分に広い面積で生成させる。
【0006】
【作用】プラズマ生成室は、高周波やマイクロ波等の交
流によりプラズマを加熱,維持し、中性ラジカルを生成
する。
【0007】試料処理室は、プラズマ生成室で生成した
プラズマ及び中性ラジカルを導入する。この時、プラズ
マ生成室内径に対し、試料処理室内径を同等以下にする
ことで、試料処理室に設けた試料処理台上の試料を中性
ラジカルで均一に加工できる。また、試料処理室の壁面
に永久磁石のカスプ磁界を設けることにより、試料処理
室壁面でのプラズマの損耗を低減し、試料処理室内での
プラズマ密度を均一にし、試料台上の試料を均一に加工
できる。
【0008】更に、試料台にコンデンサを介して高周波
電流を流すことにより、試料台に正イオンを加速するバ
イアス電圧を発生させ、正イオンを加速することによる
微細加工時のエッチング速度の向上や、成膜時の膜質の
向上を行う。
【0009】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図1により説明す
る。
【0010】図1(A)はプラズマ装置の縦断面図であ
る。プラズマ生成室1は、内径400mm,高さ500mm
の石英ガラス製ベルジャーであり、外周にチターンの高
周波コイル2が巻回してあり、13.56MHz の高周
波電力により、プラズマ生成室1にプラズマを発生,維
持させる。プラズマ生成室1の下端は試料処理室3の上
端の中央部分に連結されている。試料処理室3は、内径
350mm,長さ350mmのステンレス製の円筒容器4
で、外周上に、長さ300mm,幅8mm,高さ25mmのコ
バルトサマリウム製の永久磁石5を図1(B)に示すよ
うに、N極,S極が交互になるように、24個設けてい
る。円筒容器4の永久磁石5の設置部分の肉厚を4mm以
下にすることで、内面の磁極部分の磁場の強さを100
0ガウス以上としている。試料台6は、正イオンを試料
方向に加速するバイアス電圧を作るためブロッキングコ
ンデンサを介して、400kHzの高周波電源7に接続
され、かつ、必要な冷却や加温を行う温度調節器に接続
されている。試料台6は、直径250mmのウェハ試料ま
で保持できるように、直径250mmの回転ステージでで
きており、周方向の加工の均一性を改良している。試料
台6の部分での磁場は5ガウス以下である。
【0011】本実施例によれば、試料台6の近傍での磁
場を5ガウス以下にできるので、磁性膜を使用している
薄膜のエッチングや成膜に、磁場による特性の劣化を与
えない。
【0012】図2は、他の実施例を示したもので、2.
45GHz のマイクロ波導波管20と電子サイクロト
ロン共鳴磁場の875ガウスの磁場発生用のコイル21
で、図1と同一のベルジャーにプラズマを作っている。
【0013】本実施例によれば、イオンの加速に基づく
エネルギが13.56MHz の高周波に比較して小さ
く、イオンエネルギによる半導体試料等のダメージが小
さい。
【0014】
【発明の効果】本発明によれば、交流の高周波によるプ
ラズマを作るので、プラズマにより生成する絶縁物によ
る放電の不安定がなく長時間安定した放電が維持でき、
プラズマ生成室と試料処理室に分離し、プラズマ生成室
で充分に広い面積のプラズマを発生させ、附随して発生
する中性ラジカル粒子を試料の直径に対し充分に広い面
積で発生させ、また、試料処理室にプラズマを導入し、
永久磁石のカスプ磁界で電子を閉じ込めることによって
プラズマの損失を低減し、試料直径に対し、プラズマ密
度も充分に均一に保つことにより、中性ラジカル及びプ
ラズマを利用したエッチングあるいは成膜を試料に対
し、均一に行う効果がある。
【0015】これにより、試料直径が200mm(8吋)
〜250mm(10吋)のウェハに対しても、本発明によ
り、±5%以内の変動で均一な加工及び成膜を行う。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の縦断面図。
【図2】本発明の他の実施例の縦断面図。
【符号の説明】
1…プラズマ生成室、2…高周波コイル、3…試料処理
室、4…円筒容器、5…永久磁石、6…試料台、7…高
周波電源、20…導波管、21…磁場発生用のコイル。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01L 21/3065 H05H 1/11 9014−2G

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】プラズマ生成室と、試料処理室と、試料台
    を備えたプラズマ装置において、前記プラズマ生成室に
    は高周波によるプラズマ発生手段を設け、前記試料処理
    室の内径は、前記プラズマ生成室の内径以下にし、交互
    に極性の異なる複数の永久磁石を、磁極が前記試料処理
    室の壁面に対向するように設け、前記試料台を前記試料
    処理室に設け、前記試料台にバイアス印加用の高周波電
    源を接続したことを特徴とするプラズマ装置。
JP5331033A 1993-12-27 1993-12-27 プラズマ装置 Pending JPH07192893A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5331033A JPH07192893A (ja) 1993-12-27 1993-12-27 プラズマ装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5331033A JPH07192893A (ja) 1993-12-27 1993-12-27 プラズマ装置

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Publication Number Publication Date
JPH07192893A true JPH07192893A (ja) 1995-07-28

Family

ID=18239081

Family Applications (1)

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JP5331033A Pending JPH07192893A (ja) 1993-12-27 1993-12-27 プラズマ装置

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JP (1) JPH07192893A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007308758A (ja) * 2006-05-18 2007-11-29 Denso Corp 成膜装置及び成膜方法
JP2008135309A (ja) * 2006-11-29 2008-06-12 National Institute For Materials Science イオンビーム発生方法とそれを実施する為のイオンビーム発生装置

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007308758A (ja) * 2006-05-18 2007-11-29 Denso Corp 成膜装置及び成膜方法
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