JPH07183608A - 可飽和吸収体により受動スイッチングする自己配列したモノリシック固体マイクロレーザー及びその製法 - Google Patents

可飽和吸収体により受動スイッチングする自己配列したモノリシック固体マイクロレーザー及びその製法

Info

Publication number
JPH07183608A
JPH07183608A JP6279564A JP27956494A JPH07183608A JP H07183608 A JPH07183608 A JP H07183608A JP 6279564 A JP6279564 A JP 6279564A JP 27956494 A JP27956494 A JP 27956494A JP H07183608 A JPH07183608 A JP H07183608A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
laser
laser cavity
saturable absorber
doped
thin film
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP6279564A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3636492B2 (ja
Inventor
Engin Molva
アンジ・モルヴァ
Jean-Jacques Aubert
ジャン−ジャック・オウベール
Jean Marty
ジャン・マルティ
Jean-Michel Nunzi
ジャン−ミッシェル・ノンジ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA
Original Assignee
Commissariat a lEnergie Atomique CEA
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Commissariat a lEnergie Atomique CEA filed Critical Commissariat a lEnergie Atomique CEA
Publication of JPH07183608A publication Critical patent/JPH07183608A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3636492B2 publication Critical patent/JP3636492B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/10Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating
    • H01S3/11Mode locking; Q-switching; Other giant-pulse techniques, e.g. cavity dumping
    • H01S3/1123Q-switching
    • H01S3/113Q-switching using intracavity saturable absorbers
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/35Non-linear optics
    • G02F1/3523Non-linear absorption changing by light, e.g. bleaching
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/02Constructional details
    • H01S3/025Constructional details of solid state lasers, e.g. housings or mountings
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/05Construction or shape of optical resonators; Accommodation of active medium therein; Shape of active medium
    • H01S3/06Construction or shape of active medium
    • H01S3/0602Crystal lasers or glass lasers
    • H01S3/0604Crystal lasers or glass lasers in the form of a plate or disc
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/05Construction or shape of optical resonators; Accommodation of active medium therein; Shape of active medium
    • H01S3/06Construction or shape of active medium
    • H01S3/0602Crystal lasers or glass lasers
    • H01S3/0615Shape of end-face
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/05Construction or shape of optical resonators; Accommodation of active medium therein; Shape of active medium
    • H01S3/06Construction or shape of active medium
    • H01S3/0627Construction or shape of active medium the resonator being monolithic, e.g. microlaser
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/09Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping
    • H01S3/091Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping using optical pumping
    • H01S3/094Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping using optical pumping by coherent light
    • H01S3/094049Guiding of the pump light
    • H01S3/094053Fibre coupled pump, e.g. delivering pump light using a fibre or a fibre bundle
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/09Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping
    • H01S3/091Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping using optical pumping
    • H01S3/094Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping using optical pumping by coherent light
    • H01S3/094084Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping using optical pumping by coherent light with pump light recycling, i.e. with reinjection of the unused pump light, e.g. by reflectors or circulators
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/09Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping
    • H01S3/091Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping using optical pumping
    • H01S3/094Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping using optical pumping by coherent light
    • H01S3/0941Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping using optical pumping by coherent light of a laser diode
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/14Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range characterised by the material used as the active medium
    • H01S3/16Solid materials
    • H01S3/1601Solid materials characterised by an active (lasing) ion
    • H01S3/1603Solid materials characterised by an active (lasing) ion rare earth
    • H01S3/1608Solid materials characterised by an active (lasing) ion rare earth erbium
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/14Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range characterised by the material used as the active medium
    • H01S3/16Solid materials
    • H01S3/1601Solid materials characterised by an active (lasing) ion
    • H01S3/1603Solid materials characterised by an active (lasing) ion rare earth
    • H01S3/161Solid materials characterised by an active (lasing) ion rare earth holmium
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/14Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range characterised by the material used as the active medium
    • H01S3/16Solid materials
    • H01S3/1601Solid materials characterised by an active (lasing) ion
    • H01S3/1603Solid materials characterised by an active (lasing) ion rare earth
    • H01S3/1611Solid materials characterised by an active (lasing) ion rare earth neodymium
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/14Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range characterised by the material used as the active medium
    • H01S3/16Solid materials
    • H01S3/1601Solid materials characterised by an active (lasing) ion
    • H01S3/1603Solid materials characterised by an active (lasing) ion rare earth
    • H01S3/1616Solid materials characterised by an active (lasing) ion rare earth thulium
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/14Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range characterised by the material used as the active medium
    • H01S3/16Solid materials
    • H01S3/1601Solid materials characterised by an active (lasing) ion
    • H01S3/1603Solid materials characterised by an active (lasing) ion rare earth
    • H01S3/1618Solid materials characterised by an active (lasing) ion rare earth ytterbium
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/14Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range characterised by the material used as the active medium
    • H01S3/16Solid materials
    • H01S3/163Solid materials characterised by a crystal matrix
    • H01S3/1631Solid materials characterised by a crystal matrix aluminate
    • H01S3/1635LaMgAl11O19 (LNA, Lanthanum Magnesium Hexaluminate)
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/14Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range characterised by the material used as the active medium
    • H01S3/16Solid materials
    • H01S3/163Solid materials characterised by a crystal matrix
    • H01S3/164Solid materials characterised by a crystal matrix garnet
    • H01S3/1643YAG
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/14Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range characterised by the material used as the active medium
    • H01S3/16Solid materials
    • H01S3/163Solid materials characterised by a crystal matrix
    • H01S3/1645Solid materials characterised by a crystal matrix halide
    • H01S3/1653YLiF4(YLF, LYF)
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/14Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range characterised by the material used as the active medium
    • H01S3/16Solid materials
    • H01S3/163Solid materials characterised by a crystal matrix
    • H01S3/1655Solid materials characterised by a crystal matrix silicate
    • H01S3/1661Y2SiO5 [YSO]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/14Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range characterised by the material used as the active medium
    • H01S3/16Solid materials
    • H01S3/163Solid materials characterised by a crystal matrix
    • H01S3/1671Solid materials characterised by a crystal matrix vanadate, niobate, tantalate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/14Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range characterised by the material used as the active medium
    • H01S3/16Solid materials
    • H01S3/163Solid materials characterised by a crystal matrix
    • H01S3/1671Solid materials characterised by a crystal matrix vanadate, niobate, tantalate
    • H01S3/1673YVO4 [YVO]

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Lasers (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 接着剤等を使用せずに可飽和吸収体をレーザ
ーキャビティ内に導入し、受動スイッチングするマイク
ロレーザーキャビティ及びその製法を提供する。 【構成】 固体活性レーザー媒質と、可飽和吸収体と、
入射鏡及び出射鏡を有し、前記可飽和吸収体が、その材
料を前記固体活性媒質上に直接堆積させた薄膜からなる
ことを特徴とするマイクロレーザー用キャビティ及びそ
の製法。 【効果】 光学的セッティングやアライメントが不要
な、モノリシックでコンパクトなマイクロレーザーキャ
ビティが得られ、大量生産も可能になる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、固体マイクロレーザー
に関し、前記マイクロレーザー用キャビティおよび前記
キャビティの製法に関する。
【0002】このマイクロレーザーの主な利点(本明細
書の最後に挙げた参考文献1及び2参照)は、多重層の
積層体をなすその構造であって、その本質的な特性を構
成しているものである。活性レーザー媒質は、150〜
1000μmの限定された厚みを有する低次元(数mm
2)の物質より構成され、その上には誘電体キャビティ
鏡(dielectric cavity mirrors)が直接堆積されてい
る。この活性媒質は、III−Vレーザーダイオードに
よって励起することができるが、このダイオードは、マ
イクロレーザー上に直接ハイブリッド化されているか、
あるいは光ファイバによって結合されている。マイクロ
電子工学の手法を用いた集団生産の可能性は、前記マイ
クロレーザーの極めて低コストでの大量生産を保証する
ものである。
【0003】マイクロレーザーには、自動車産業、環
境、科学的計測、遠隔測定法に渡る様々な分野において
数多くの応用がある。既知のマイクロレーザーは、一般
的に数ダースmWのパワーを持つ連続放出を有する。し
かしながら、前述の応用のほとんどで、平均パワーが数
ダースmWであり、10-8〜10-9秒間に数kWのピー
クパワー(瞬間電力)が要求されている。固体レーザー
においては、周波数10〜104Hzのパルスモードに
て作動させることによって、そのような高いピークパワ
ーレベルを得ることが可能である。こうした目的のため
に、公知のスイッチングプロセス、例えば、Q−スイッ
チによるもの(明細書の最後に挙げた参考文献3)が利
用されている。
【0004】より具体的には、レーザーのキャビティの
スイッチングは、励起エネルギーがゲイン材料の励起レ
ベルに貯蔵される間のある一定の時間、レーザー効果を
妨げる時間変動性の損失をキャビティに加えることから
なる。これらの損失はある瞬間に突然減少し、したがっ
て蓄積したエネルギーを非常に短時間のうちに放出し
(ジャイアントパルス)、このため高いピークパワーが
得られる。
【0005】いわゆる能動スイッチングの場合は、損失
の値は使用者によって外部から制御される(例えば、ビ
ームの経路あるいはその偏光状態のいずれかを変化させ
る、キャビティ内電気−光学的あるいは音響−光学的の
型の回転キャビティ鏡)。貯蔵時間、キャビティ開放時
間、及び反復速度は個別に選択することができる。しか
しながら、このことが、これに合ったエレクトロニクス
を要求するので、レーザーシステムをかなり複雑なもの
としているのである。
【0006】いわゆる受動スイッチングの場合は、可変
損失はキャビティに可飽和吸収(SA)として知られる
物質の形で導入され、これはレーザー波長と低いパワー
密度において高い吸収体であり、前記密度がある臨界値
を越えると実質的に透明になるが、これはSAの飽和強
度と呼ばれている。特に、固体可飽和吸収体(明細書の
最後に挙げた参考文献4および5)あるいは可飽和吸収
体高分子(明細書の最後に挙げた参考文献7および8)
を用いた受動的スイッチングは、既に実施されている。
【0007】既知の可飽和吸収体は、多くの場合、吸収
をもたらす有機分子を含んでいる。これらの物質は一般
的に液状またはプラスチックの形態であり、それゆえ光
学的特性に劣り、劣化が非常に速く、レーザーフラック
ス(laser flux)に対する抵抗が乏しい(参考文献3)。
固体物質もまた、可飽和吸収体として用いられる。これ
らの固体物質は結晶成長によって得られ、Cr4+(参考
文献5)あるいはEr3+(参考文献6)のような可飽和
吸収体イオンがドープされている。ある場合には、結晶
成長によって得られた同じ物質(例えば、YAG)が、
同時に活性レーザーイオン(例えば、Nd)および可飽
和吸収体イオン(例えば、Cr)を含有している(参考
文献4)。
【0008】このような可飽和吸収体の補助を受けて受
動スイッチングされた既知のレーザーにおいては、レー
ザーキャビティ内部として下記の配置が提案されてい
る。
【0009】1.第一の配置は図1(a)に示されてお
り、符号1はレーザーキャビティを、2は活性レーザー
材料を、3は可飽和吸収体を、4、5はキャビティの入
射鏡および出射鏡を示すものである(参考文献3)。一
方の端にある可飽和吸収体3と、他方にあるキャビティ
1の他の要素との間には、全く接触がない。この種の装
置においては、キャビティの要素を光学的に配列するこ
とが必要である。さらにまた、レーザーが使用される際
には光学的セッティングが必要であろう。
【0010】2.図1(b)および図1(c)に示され
る配置においては、光学的接着剤6(参考文献7)の補
助を得て可飽和吸収体3と、鏡4(図1b)あるいは活
性レーザー物質2(図1c)との間で接触を確実なもの
としている。しかしながら、この接着剤は、接着剤と接
着された材料との境界面において剰余吸収率および屈折
率の差を導く。さらにまた、接着された要素間に起こり
得る平行性の欠陥もまた、レーザーキャビティ中の損失
の原因となりうる。
【0011】3.図1(d)および1(e)は、第三の
可能な配置(参考文献4)を示しており、2は同じく活
性レーザー物質を示すが、それは活性レーザーイオンと
可飽和吸収イオンとが共ドープされている。すなわちこ
のとき同じ物質が活性媒質および可飽和吸収体として働
くのである。よって、レーザー物質と可飽和吸収体の特
性を個別に調節することは不可能である。媒質の厚み
は、レーザーモードの構造に影響を与えると同様に、可
飽和吸収体の吸収および活性レーザーイオンの吸収の両
方にも影響を与える。
【0012】さらにまた、活性レーザーイオンおよび可
飽和吸収体の吸収係数は、それらのイオンの濃度と直接
関連しており、これらイオンは結晶成長の間に絶対的に
固定され、その後は変更することができない。すなわ
ち、各レーザー配置各々について新たな結晶を製造せね
ばならない。最後に、レーザー作用のため及び可飽和吸
収体としての両方に同じイオン(例えば、Er)を用い
て受動スイッチングされるレーザーの場合、この共ドー
プ法を用いることは不可能である。それは、同じイオン
が、活性イオンとしてあるいは可飽和吸収イオンとして
働くには、その濃度が非常にかけ離れているからであ
る。可飽和吸収体とするためには、その濃度は活性レー
ザー物質とするためよりも極めて高くなければならな
い。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】本発明はマイクロレー
ザー用の固体活性物質を有する新規なレーザーキャビテ
ィに関するものであり、前述の種々の問題を解決するこ
とを可能にするものである。本発明はまた、前記マイク
ロレーザーキャビティの製法に関するもので、同様に、
それを組込んだマイクロレーザーに関するものである。
【0014】
【課題を解決するための手段】上記の問題を取り除くた
めに、本発明は、マイクロレーザーの活性材料上に、可
飽和吸収体を薄膜の形態で直接堆積することを提案する
ものである。より具体的には、本発明は、固体活性媒質
と、可飽和吸収体と、入射鏡あるいは入力鏡および出射
鏡あるいは出力鏡とを有し、この可飽和吸収体が固体活
性媒質上に直接堆積された可飽和吸収体材料の薄膜であ
ることを特徴とするマイクロレーザー用のキャビティで
ある。
【0015】本発明の主要な利点の一つは、層あるいは
膜の多重体からなる、スイッチングされるマイクロレー
ザー(あるいはマイクロ光学と連携したマイクロレーザ
ーから成るレーザーマイクロシステム)の構造にあり、
低コストの集団的生産の実現性を保つことを可能にする
ものである。この多層構造は、連続マイクロレーザー用
に進歩しているような簡便な集団的生産の方法、即ちマ
イクロレーザーの低コストを損うものではない。これ
は、自己配列した(self-aligned)、モノリシックの、受
動スイッチングされるマイクロレーザー(何らの光学的
セッティングなしの)を製造することを可能にし、ま
た、これはデレギュレート(deregulate)され得ない。こ
の構造は接着の操作も複雑な配列の操作も全く要求しな
い。
【0016】“共ドープ(codoped)”レーザーと比較し
て、本発明のマイクロレーザーの他の利点は、活性媒質
が可飽和吸収体から分離されていることであるが、その
2つの媒質の接着が避けられ、しかもモノリシック構造
が維持されていることである。したがって、(層の堆積
の間に、あるいは層の堆積に続く機械的な厚みの減縮に
よる)厚みの調整、及び二つの媒質中のイオンの濃度と
を独立に調整することが可能であり、一方前記分離の結
果として、同一のイオン(例えば、Er)が活性イオン
として、また可飽和吸収体として、異なる濃度で使用さ
れるスイッチングされるレーザーが製造できる。
【0017】基本となるレーザー材料は、以下より選択
することができる。Y3Al512(または“YA
G”)、LaMoAl1112(または“LMA”)、Y
2SiO5(または“YSO”)、GdVO4、YVO4
YLiF4(または“YLF”)、あるいは他の既知の
物質であって、ネオジム(Nd)、エルビウム(E
r)、イッテルビウム(Yb)、ツリウム(Tm)、ホ
ルミウム(Ho)のイオンによってドーピングされ、あ
るいはEr+Yb(エルビウム+イッテルビウム)ある
いはTm+Ho(ツリウム+ホルミウム)を共ドーピン
グされ、あるいは他の既知のイオンによりドーピングさ
れている。
【0018】本発明の第1の好ましい実施態様によれ
ば、薄膜は高分子溶媒に溶解した有機染料によって構成
されている。特に、その有機染料は、ビス(4−ジエチ
ルアミノジチオベンジル)ニッケル、あるいは、ビス
(4−ジメチルアミノジチオベンジル)ニッケルより選
択され、溶媒はポリメタクリル酸メチル(PMMA)、
ポリビニルアルコール、ポリ酢酸ビニル、ポリスチレン
等の溶液である。
【0019】本発明の第2の好ましい実施態様によれ
ば、薄膜は、液相エピタキシーによって堆積させること
ができる。特に、薄膜は液相エピタキシーによって堆積
され可能であり、その薄膜は、Cr4+あるいはEr3+
オンでドープされた固体活性媒質と同一の基礎材料より
構成される。
【0020】液相エピタキシーするためには、基板と同
一の基礎材料、あるいは少なくとも結晶構造(格子)が
基板として用いた材料のそれに類似した材料を用いるこ
とが必要である。Cr4+ドーピングは1.06μmのレ
ーザーに用いられ、Er3+ドーピングは1.5μmのレ
ーザーに用いられる。
【0021】本発明の2つの可能性(高分子あるいはエ
ピタキシー膜)の間での、利点及び欠点を以下に挙げ
る。高分子に関しては、任意のレーザー材料上に堆積す
ることが可能であるが、エピタキシー膜の場合よりも破
壊障壁が低く、より低いエネルギーレベルにて操作を行
なう必要がある。さらにまた、レーザー物質と高分子と
の屈折率の差異は、二つの媒質の間に光学的界面をもた
らす。
【0022】エピタキシー膜に関しては、破壊障壁はレ
ーザー材料のそれと同程度に高い。しかしながら、これ
まで説明したように、エピタキシーは同じ材料上に(例
えば、YAG上のYAG)、あるいは堆積された材料の
それに近い結晶構造(格子)を有する材料上でのみ実施
が可能である。このことは応用の範囲を限定するもので
ある。しかしながら、二つの媒質の間に光学的界面が形
成されるのを避けるために、エピタキシー膜の屈折率を
活性レーザー媒質(エピタキシー基板としてはたらく)
のそれに適合させることは可能である。このエピタキシ
ー膜もまた、基板と同等の特性を有する。
【0023】いずれの場合も、活性材料及び可飽和吸収
体の膜の間には、接着は全くない。したがって、剰余吸
収、屈折率の差異、また考えられる平行性の欠陥に関連
した問題は生じない。
【0024】薄膜(高分子あるいはエピタキシー膜)で
は、可飽和吸収体の膜あるいは層の厚みは、固体可飽和
吸収体の場合よりも格段に小さい。即ち、数ミクロン
(1〜10μm)の高分子膜あるいは百ミクロン(1〜
500μm)のエピタキシー膜が、レーザーの作動に適
切な吸収係数を得るのに充分である。したがって、この
ように限定された厚み結果として、モノリシックマイク
ロレーザーは全体に小さな寸法となる。
【0025】本発明により提供される別の可能性によれ
ば、これまでに述べたマイクロレーザーキャビティは、
第2の可飽和吸収体膜を有する。完全なレーザーキャビ
ティを得るために、入力面上に誘電体多重層の堆積によ
り製造される二色鏡が、出口面上の、SA層の上に同様
の方法で製造される出射鏡が提供される。また、レーザ
ー材料上に直接エッチングされたマイクロレンズ・アレ
ーを、レーザー材料の上、入射鏡を形成する誘電体多重
層の下に提供することも可能である。
【0026】本発明はまた、これまで説明した型のキャ
ビティ及び活性固体媒質に対する光学的励起手段を有す
るマイクロレーザーに関する。好ましくは、励起手段は
少なくとも一つのレーザーダイオードからなる。マイク
ロレーザーを構成する前記の要素は全て、アセンブリ
箱、ケース、機械的支持体中に一体化することができ
る。あるいはまた、マイクロレーザーキャビティを収容
した第1のケース、光学的励起手段を収容した第2のケ
ース、及びその2つのケース間の光ファイバ型光学的接
続とを有することも可能である。
【0027】本発明は前述のレーザーマイクロキャビテ
ィの製法にも関連する。この製法は以下の段階を含む:
固体活性媒質を構成する材料の、予め決定した厚みで
の、コンディショニング段階、及び、可飽和吸収体薄膜
を上記の段階により製造された材料の一方の面あるいは
両方の面上に直接形成する段階。
【0028】上記製法の第1の好ましい実施態様によれ
ば、薄膜はワーラー(Whirler)で堆積される。これ
は、高分子溶媒に溶解した有機染料より形成されるのが
望ましい。有機染料は、ビス(4−ジエチルアミノジチ
オベンジル)ニッケル、あるいはビス(4−ジメチルア
ミノジチオベンジル)ニッケルから選択され、溶媒は、
ポリメタクリル酸メチル(PMMA)か、ポリビニルア
ルコールか、ポリ酢酸ビニルか、ポリスチレンの溶液と
する。
【0029】この製法は、単純な製造段階のみを用い、
レーザーマイクロキャビティの低コストでの大量生産の
可能性を提供するものである。再度、キャビティ要素の
光学的配列は全く必要ない。
【0030】この製法の他の好ましい実施態様によれ
ば、薄膜は液相エピタキシーにより堆積される。薄膜は
活性レーザー媒質のそれと同一の基礎材料から形成さ
れ、前記基礎材料はCr4+あるいはEr3+でドープされ
ている。それゆえ、その上に堆積される材料に類似した
結晶構造(格子)をもつ材料を用いれば充分である。
【0031】この実施態様は、先に述べた実施態様と同
様の、簡単で、経済的で、いかなる配列も接着も必要と
しないという利点をもたらす。
【0032】好ましくは、上記の製法には、レーザー材
料の表面にマイクロレンズ。アレーを直接形成する補足
段階を加えることができる。特に、前記マイクロレンズ
はレーザー材料上で直接エッチングすることができる。
最後に、誘電体多重層を堆積することによって、キャビ
ティの入射または入力鏡および出射または出力鏡を形成
する段階を提供することも可能である。これら二つの補
足段階は、決してこの製法の簡潔さを減ずるものでな
く、経済性を低下させるものでもない。
【0033】以下に、本発明の実施例と添付した図面を
参照して本発明をさらに詳細に説明するが、本発明はそ
れらに限定されるものではない。
【0034】本発明は、固体活性媒質と、前記媒質に薄
膜状に直接堆積された可飽和吸収体とを有するマイクロ
レーザーキャビティに関する。前記構造の好適な実施態
様は、図2(a)に示されており、活性媒質8と可飽和
吸収体薄膜12とが、レーザーキャビティを閉鎖する2
枚の鏡14および15の間に配されている。符号10
は、キャビティ全体を示している。
【0035】従来の方法では、活性材料8を形成する材
料が、1.06μm近辺のレーザー放出のためにネオジ
ム(Nd)を用いてドープされる。その材料は、例えば
次の材料の中から選択され得る:YAG(Y3Al
512)、LMA(LaMgAl1119)、YVO4、Y
SO(Y2SiO5)、YLF(YLiF4)、またはG
dVO4。この選択は、次の基準によって調節される
が、応用によっても変わる。
【0036】以下に示すように、レーザーキャビティ1
は光学的に励起されるが、好ましくは一つ以上のレーザ
ーダイオードを用いて光学的に励起される。そのため第
一の基準は、励起波長における吸収係数が高いことであ
る(例えば、1mmより小さい限られた材料の厚さを維
持したまま、励起効率を増加させるための800nm近
辺でのIII−Vレーザーダイオード放出)。
【0037】レーザーダイオードの波長安定性の問題を
処理し、よってレーザー励起ダイオードの選択および電
気的調節を簡単化するために、約800nmでの励起波
長における吸収帯が広いこと。
【0038】高い出力レベルと効率とを得るために、誘
導放出の有効断面が大きいこと。単一周波数レーザーを
簡単に得るためのに、放出帯の幅が限られていること、
または逆に、周波数可変レーザー放出を得るために、放
出帯が広いこと。
【0039】材料の加工を簡易にし、励起の吸収による
発熱の良好な消費に不利になる熱効果を制限するため
に、加工熱的特性が良好であること(前記過剰熱はレー
ザーのエネルギー効率による)。
【0040】高度のエネルギー貯蔵のために、励起状態
での寿命が長いこと、または速い切り替え速度のために
寿命が短いこと。一つのレーザー結晶で最大数のマイク
ロレーザーを同時に集団的に作成することが可能である
ために寸法が大きいこと。
【0041】一般的に、既知のどの材料も、これらの基
準の全てを同時に満足するものはない。しかしながら、
既知の材料の中で、マイクロレーザーの操作に最も適し
たもの(数百マイクロ秒の匹敵する寿命期間を有する)
は以下の通りである。YVO4は、高い係数と、広い吸
収帯と、良好で効果的な断面とを有しているが、その熱
伝導性は乏しく、小さい寸法のもののみしか得られず、
壊れやすい。YAGは、平均的な吸収係数と誘導放出有
効断面とを有するが、その放出および吸収帯の幅が小さ
い。しかし、大寸法と良好な温度伝導性とで有用であ
り、ネオジム(Nd)でドープされ、最も知られた固体
レーザー材料であり、かつ現在最も広く用いられてい
る。LMAは、低い吸収係数と有効断面、広い放出およ
び吸収帯を提供し、大きな寸法を有するが、温度伝導性
が乏しい。
【0042】他の波長での放出のために、異なる材料と
ドーパントが選択される。一般に、活性イオンが以下か
ら選択される。1.06μm近辺での放出にはNd、
1.5μm近辺での放出にはErまたはエルビウムーイ
ッテルビウムEr+Ybの共ドーピング、2μm近辺で
の放出にはTmまたはHoまたはツリウム-ホルミウム
の共ドーピング。
【0043】他の決定的なパラメーターは、活性媒質2
の厚さeである。さらに詳しくは、図3(a)と3
(b)とに示されており、一方は幅eのレーザー増幅媒
質2であり、他方は増幅媒質のファブリーーペロット(Fa
bry-Perot)モードのスペクトル分布図を示している。こ
のスペクトル分布図では、モードの周囲はゲインバンド
を示し、dgはゲインバンドの幅を、dvはモードの間
隔を示している。縦軸は任意の単位での強度がプロット
され、一方横軸は周波数の目盛りである。
【0044】厚さeは、マイクロレーザーの特性を調節
する。一方、厚さが増すほど励起ビームの吸収が強くな
る。従って、I0を入射面での投射励起の強度とし、a
を吸収係数であるとすると、厚さeに吸収される強度は
次式によって与えられる。 吸収されるI=I0(1−e-ae
【0045】一方、ファブリーーペロットキャビティの
縦方向モードの総数は、厚さにより増加し、もし縦方向
の単一モードレーザーを製造することを望むなら、前記
厚さは小さくなければならない。従って、厚さeの平面
ー平面ファブリーーペロットキャビティでは、二つのファ
ブリーーペロットモードの間の自由なスペクトル周期d
vは、次式によって与えられる: dv=c/2e 但しcは光速である。もし、dgが材料の(レーザー放
出の)ゲインバンドの幅であれば、モードの総数Nは次
式によって与えられる。 N=dg/dv
【0046】従って、与えられた材料(aおよびdgが
与えられている)にとっては、eが増加したときに励起
吸収が増加するが、Nも同様に増加してしまう。単一周
波数レーザーについて、一般的に、最小厚さはN=1と
するように選ばれ、前記厚さが100μmより大きいと
与えられる。単一モードを与える典型的な厚さは以下の
通りである。 YAG L=750μm、 YVO4 L=500μm、 LMA L=150μm。 実際は、厚さeは、100μmと5mmの間で連続的に
変化する。
【0047】可飽和吸収体12(図2(a)および2
(b))は、薄層または薄膜状である。二つの型の薄膜
が使用され得る、すなわち可飽和吸収体の分子を含む高
分子である。典型的に、1.06μmでのマイクロレー
ザーには、可飽和吸収体としてビス(4−ジエチルアミ
ノジチオベンジル)ニッケルまたはBDN(コダック、
CAS番号51449-18-4)のような有機色素を、クロロベ
ンゼンに6重量%のポリメタクリル酸メチル(PMM
A)を含有する溶液中に含むものを使用することができ
る。
【0048】ポリビニルアルコール、ポリ酢酸ビニルま
たはポリスチレンのような他の高分子は、PMMAの代
わりにそれぞれの溶媒中で使用され得る。また、ビス
(4−ジメチルアミノジチオベンジル)ニッケルまたは
BDN(コダック、CAS番号38465-55-3)を色素とし
て使用することも可能である。また、その色素は、シリ
カゲルに取り込ませたり、高分子鎖にグラフトさせるこ
とができる。
【0049】ジチエンの多数の他の金属複合体が、色素
として使用され得る(参考文献8と9が明細書の最後に
与えられている)。その方法は、1.06μm以外の波
長で作動するレーザーをスイッチングするためにも使用
され得る。例えば、1.5μm近辺で放出するエルビウ
ムまたはEr+Yb複合体をドープされたレーザーは、
テトラエチル-オクタヒドロテトラアザペンタペンージチ
オレートーニッケルを用いてスイッチングされる(参考
文献9)。この型の溶液は、ワーラーを用いてレーザー
材料に直接堆積される(以下の調製工程参照)。これに
よって、厚さが約1〜5μmの薄膜が得られる。
【0050】他のタイプの薄膜は、液相エピキタシー
(LPE)によって、レーザー材料に直接、または同じ
堆積(同じ材料、同じドーピング、同じ特性)、より一
般的な用語では、LPEによって得られうる膜を与える
ことのできる他の工程によって堆積される。LPE調製
工程は、以下に記載されるが、固体活性媒質によって構
成された基板1上に、厚さ1〜500μmの間の薄膜を
得ることを可能にする。それは、固体活性媒質(例えば
YAG)の基礎材料と同様の基礎材料によって構成され
るが、それに可飽和吸収体特性を与えるイオンがドープ
されており、例えば1.06μmレーザーにはCr4+
または1.5μmレーザーにはEr3+がドープされてい
る。
【0051】従って、ドーパントのタイプは、スイッチ
ングが望まれるレーザーに合わせられ、そのためエピタ
キシーによる膜は、前記レーザーの放出波長における可
飽和吸収を有する。それゆえ、活性レーザー材料および
可飽和吸収体薄膜は、同じ結晶構造を有し、前記二つの
媒質の結晶および光学的特性に影響を与えるドーパント
による違いだけを有する。二つのケースにおける薄膜の
特性は、非常に重要な点で異なる。
【0052】従って、破壊障壁は、各々の薄膜のタイプ
に対して決定される。レーザーキャビティにおけるある
パワー密度を越えて、可飽和吸収体薄膜を破壊すること
が可能である。破壊障壁と呼ばれるこの限界パワー密度
は、LPEー堆積薄膜のケースより、有機色素を用いた
ポリマーのケースにおいてより低くなる。第1のケース
では、その結果として、第二のものに比べて、キャビテ
ィにおいてより低いエネルギーで作動する必要がある。
【0053】加えて、一方のケースでは、レーザー材料
8とポリマー12との屈折率差は、二つの媒質の間に光
学的界面をもたらす。他のケースでは、同じ材料にLP
Eを行なう(例えば、YAG上にYAG、ドーピングの
みが異なる)ことができるのみで、適用の範囲を制限す
るが、エピタキシーによる薄膜の屈折率を、エピタキシ
ー基板として適する活性レーザー媒質のそれに調整する
ことを可能にし、それゆえ二つの媒質の間の光学的界面
の形成を避ける。
【0054】最後に、薄膜の性質はレーザーパルスの時
間形に影響する。エピキタシーによる薄膜のケースで
は、不純物を含むイオン(Cr4+、Er3+)は、約1マ
イクロ秒のかなり長い崩壊時間を有するのに対し、ポリ
マーに溶かされた有機色素のケースでは、色素の崩壊時
間が非常に短い(〜1ns)。これらの特性は、予定さ
れた使用により薄膜の選択を明らかに調節する。
【0055】発明の他の実施態様によれば、図4(a)
に図示したように、活性レーザー材料8の両側に可飽和
吸収薄膜12、22を堆積することが可能であり、より
多くの励起ビームを吸収することが可能であるが、前記
ビームが入射する側に配された薄膜は、励起ビームによ
るグレーターウェア(greater wear)を受けやすい。符号
14および15は、キャビティの入射鏡および出射鏡を
示している。
【0056】任意にそして図5(a)に示すように、従
来の方法(明細書の最後の参考文献10)によって、シ
リカのような透明な材料から作られたマイクロレンズ1
6のアレーを形成すること、またはレーザー材料8の表
面上に類似したものを形成することが可能である。マイ
クロレンズの典型的な寸法は、百〜数百ミクロンの直
径、かつ数百マイクロメーター〜数ミリメーターの湾曲
半径である。
【0057】これらのマイクロレンズは、二番目、すな
わち可飽和吸収薄膜22の入射面に存在するケースであ
る図2(b)または4(b)に示された凹みのある平面
型の“安定した”キャビティ(平面−平面キャビティは
安定ではない)を製造するために使用される。光学的励
起の場合において、それらは励起ビームの集光をも可能
にする。
【0058】完全なレーザーキャビティを製造するため
に、その可飽和吸収体または薄膜または複数の薄膜を有
する活性媒質が二枚の鏡14、15の間に配されてい
る。既知の工程によって堆積された入射鏡は、好ましく
は、レーザーの波長において最大の反射性(100%に
できるだけ近い)を有し、かつ励起波長(一般に、Nd
ドープされた材料では約800nm、Erドープされた
材料では980nmおよびTmドープされた材料には7
80nm)において最高(>80%)の透過を有する二
色鏡がよい。出射鏡も二色型のものであるが、数パーセ
ントのレーザービームの通過を許容する。従って、レー
ザーキャビティは、図2(a)、2(b)および4
(a)、4(b)の通りの構造で得られる。
【0059】そのような構造の利点は、直ちに現れるも
のであり、その理由としては、活性媒質が活性レーザー
イオンと可飽和吸収体イオンとを共ドープした構造に関
連した問題を避ける一方、異なる要素の光学的配列に時
間を必要とせず、かつ光学的接着も全く取り入れないか
らである。キャビティのこのタイプの励起は、好ましく
は、光学的励起である。従って、III−Vレーザーダ
イオードは、特にマイクロレーザーキャビティの励起に
適している。
【0060】図6(a)に示すように、マイクロレーザ
ーキャビティ18は、励起レーザーダイオード20を受
けるために、メカニカルボックスまたはケース17に設
置され得る。符号21は、パルスされたレーザービーム
を示している。図6(b)に示された実施態様の通り
に、二つの分離したケース17-1と17-2とを有する
ことも可能であり、一方はマイクロレーザーキャビティ
18を受けるためであり、もう一方は励起レーザーダイ
オード20を受けるためであって、二つのケースは、そ
れぞれの箱(25-1、25-2)に備えつけられたコネ
クターにより光ファイバー23によって接続されてい
る。
【0061】本発明は、前述のタイプのマイクロレーザ
ーキャビティの製造工程にも関連する。この工程は、7
つの連続する段階を含んでいる。 1)第一の段階は、活性レーザー材料の選択からなる。
異なる可能な材料(YVO4、YAG、LMA等)およ
び専門家にこれらの材料の中から選択することを可能に
する異なる基準の記述は既に前述されている。 2)第二段階(図7参照)は、レーザー結晶31の調節
段階であり、方向が定められ、かつ0.5〜5mmの間
の厚さの薄板に切断される(32、33、34、3
5)。
【0062】3)第三段階は、薄板の研磨およびつや出
しを含み、二つの目的を有している。即ち一方は、切断
操作の原因による表面冷却ワーキングコーティングを除
去すること、もう一方は、ラ薄板の厚さを、マイクロレ
ーザーの設計明細書よりわずかに大きなレベルにするこ
とであり、従って、前述したように、活性媒質の厚さは
重要な基準であり、マイクロレーザーの特性を調節する
ものである。最終厚近くまで研磨された薄板は、光学特
性を有する両表面のつや出しが行われる。切断、研磨お
よびつや出しは、既知の機械を用いた既知の工程で行わ
れる。 4)薄い可飽和吸収体薄膜を調製および堆積する段階。
上述したように、本発明による製造工程の二つの好まし
い実施態様に相当する、二つのタイプの堆積がなされ得
る。
【0063】a)堆積の第1の型:高分子に溶解した可
飽和吸収体有機色素の堆積。 典型的に、1.06μmで作動するマイクロレーザーの
対して、可飽和吸収体として使用可能なのものは、ポリ
メタクリル酸メチル溶液中の、ビス(4−ジエチルアミ
ノジチオベンジル)ニッケルまたはBDN(コダック、
CAS番号51449−18−4)のような有機色素で
ある。
【0064】この目的のために、6重量%のポリメタク
リル酸メチル(ポリサイエンス平均重量)を含むクロロ
ベンゼン(プロラボ(Prolabo))溶液を24時間撹拌し
て調整した。引き続き、0.2重量%のBDNを加え、
さらに2時間撹拌した。次に、溶液をろ過し、基板の出
射面(二色鏡を有する入射面の反対)に滴状に堆積さ
せ、さらに遠心、円運動を使用した。この目的のため
に、ワーラー、即ち、リソグラフィ操作で使用される樹
脂を堆積させるためのマイクロエレクトロニクスで使用
されるような標準的な装置を使用することができる。研
磨工程による微量不純物のすべては、予め基板から取り
除かれた。それは、2000r.p.m.で20秒間、
次に5000r.p.m.で30秒間回転された。さら
に、膜を70℃オーブン中で2時間乾燥させた。
【0065】これにより、3%の活性分子(BDN)を
含み、その飽和に先立つ1.06μmにおける光学密度
が0.13(74%の伝達)である厚さ1μmの膜が与
えられる。そのような可飽和吸収体は10nsに近い緩
和時間を持ち、1MW/cm2に近い強度で飽和する。
【0066】高分子の濃度パラメータ、その分子量また
はその溶媒、あるいは色素比率、及びワーラーの回転速
度を変えることにより、可飽和吸収体のパフォーマンス
特性を調整することができる。得られた典型的な内訳は
以下の通りである。 膜厚:1から5μm 分子の密度:5から10重量% 色素:BDN、mm=685g ガラス転移:Tg=78℃ 1.06μmでの吸収:10から70% 飽和速度:90% 有効断面積:10-16cm2 緩和時間:2から15ns 飽和強度:0.1から1MW/cm2 膜の不均一性:1cm2で<5% 分極速度:<10-5 800nsでの損失:<1% 反復振動数:10−10,000Hz 光安定性:108 堆積方法:ワーラー
【0067】ポリビニルアルコール、ポリ酢酸ビニル、
またはポリスチレンのような他の高分子の、それら個々
の溶媒中のものが、PMMAの代わりに使用することが
できる。ビス(4−ジメチルアミノジチオベンジル)ニ
ッケルまたはBDN(コダック、CAS番号38465
−55−3)を、色素として使用することもできる。色
素は、シリカゲルに取り込むこともできるし、高分子鎖
にグラフトさせることもできる。他の波長に対しては、
他の多くのジチエン金属錯体を色素として使用すること
ができる(参考文献8及び9)。
【0068】この方法は、1.06μm以外の波長で作
動するスイッチング・レーザーにも使用することができ
る。例えば、1.5μm周辺で放出するErまたはEr
+Ybレーザー(ErまたはEr+Ybをドープした材
料で、活性イオンはErである)は、テトラエチルオク
タヒドロテトラアザペンタフェン−ジチオレート−ニッ
ケルでスイッチングされる(参考文献9)。
【0069】b)堆積の第二の型:液相エピタキシー
(LPE)による膜の堆積 可飽和吸収体、即ちSA膜は、堆積された基板を、適宜
に選択された過飽和溶液に浸漬することにより得られ
る。前記溶液即ちエピタキシー・バスは、溶媒と、最終
的な材料を形成する異なった要素からなる溶質の混合物
である。基板と膜とは同じ結晶構造を有し、膜の結晶性
と光学特性に影響を与えるドーパントのみが異なってい
る。Nd、ER、及びYbのような活性イオンは材料を
増幅し、他のイオン(Cr、Er)はSA特性を与え、
さらに他のイオンは材料の屈折率または結晶格子を変化
させるために使用される(例えば、Ga、Ge、Lu
等)。従って、製造される膜の特性を制御することが可
能である。
【0070】この方法は、単結晶の形で、液層エピタキ
シーによって製造可能な材料(基板の製造)にも適用で
きる。これは、上記の材料を活性レーザー媒質:Y3
151 2(YAG)、Y2SiO5(YSO)、YVO4
YLiF4(YLF)またはGdVO4の基礎材料とした
場合である。バスの組成(溶液及び置換体の選択)、異
なった酸化物の溶質における濃度、実験的成長条件(温
度範囲、作動モード等)は、各材料について、できる限
り良好な結晶特性を有する膜を得るように調整される。
【0071】ガーネット(YAG)の場合、選ばれた溶
媒はPbO/B23混合物であり、溶質は、ガーネット
相を安定させるために、過剰のAl23からなる。そし
て、溶質/溶媒比率は、約1000℃での成長が得られ
るように計算された。
【0072】バス組成、温度、及び堆積時間の関数とし
て、厚さ(1<e<200μm)及び膜中のドーパント
濃度が調整できる。膜の成長は一定温度で起こり、これ
により膜の厚さにおいて均一なドーパント濃度を得るこ
とが可能になる。基板は、交互のまたは一方向の回転運
動をなし、良好な厚さの均一さを導く。
【0073】活性レーザー材料の一方の表面を、バスの
表面部に浸漬させるか、あるいは、これを両方の面に適
用し、レーザー材料全体をバス中に浸漬するかによっ
て、1枚または2枚のSA膜を備えた基板(図2a、2
b、4a、4b)を製造することができる。得られたエ
ピタキシー成長した面は、おそらくエピタキシー工程に
よって生じる凸凹を取り除くため、及び、その膜の厚さ
を、マイクロレーザーの作動のために設定された厚さに
するために再研磨することができる。
【0074】5)入射鏡の堆積段階。 二色鏡は、商業的に入手可能な周知の方法である誘電体
多重層の堆積によって得られる。段階5(入射鏡堆積)
は、SA高分子が堆積される場合は、段階4の前または
後に行われてよいが、高温で行われ、鏡を破壊する可能
性のある液相エピタキシーの場合は、段階4の後に行わ
れなければならない。
【0075】6)膜上での出射鏡の堆積段階 段階5)でなされたものと同じ方法を使用する。 7)マイクロレーザー・チップを得るための薄板切断段
階(図8参照)。
【0076】数mm2の断面を持つレーザー・チップを
得るために、鏡、可飽和吸収体、及び活性レーザー媒
質、及び任意にマイクロレンズを有するプレート36
が、(マイクロエレクトロニクスのSiチップ切断用に
使用される型の)ダイヤモンド・ソーによって切り出さ
れる(図8の、プレート36上のラインは切断ラインを
表している)。
【0077】段階3)で得られた研磨された薄板の一方
または他方の表面上に、マイクロレンズ・アレーを製造
することが望まれるならば、段階4)の前に補足的段階
を使用できる。前記補足的段階の好ましい実施態様は、
昨今マイクロエレクトロニクスにおいて使用されている
方法を用いて、レーザー材料上にマイクロレンズを直接
エッチングすることからなる。この段階の他の実施態様
は、第1に他の材料上に前記マイクロレンズを製造し
(光官能性樹脂、シリカ等)、次にそれらをレーザー材
料8の研磨面と(光学的接着剤11でのボンディングま
たはフェース・トゥ・フェース接触によって)ハイブリ
ッド化する(図5b)。
【0078】上述の製造方法は、自動車のような分野の
応用に不可欠な、マイクロレーザーの低コストでの大量
生産の可能性を提供する。さらに、そのようにして製造
されたマイクロレーザーは、上述したような利点を有す
る。即ち、モノリシックであり、すなわち柔軟に使用で
き、光学的セッティングまたはアライメントを必要とし
ない。なぜならば、モノリシック製造工程は、レーザー
の自己配列(self-alignment)をさせるからである。
【0079】マイクロレーザーの工業的に可能な応用の
中で、レーザー遠隔計測法、レーザー加工及びマイクロ
マシニング、パワー・レーザー用レーザー注入、Heマ
グネトメトリ(magnetometry)、不純物検出、科学及び医
学装置を挙げることとができる。
【0080】さらに、マイクロレーザーとマイクロ光学
技術(マイクロレンズ)とを組み合わせることにより、
大量生産と低コストの利点は維持したままで、マイクロ
レンズのパフォーマンス特性(安定したキャビティ、ポ
ンプ集中)の改善、次のような特別な応用に対する光マ
イクロシステムの製造を可能にする。即ち、2Dアレー
(光学的アドレッサブルな)の製造、マイクロ−リダー
(micro-lider)(風速、汚染、等の遠隔検出)、自動車
用の障害物検知、レーザー遠隔計測法、低コストでコン
パクトなレーザー加工機械である。
【0081】これらの応用のうちいのくつか、特に加
工、マイクロ−リダー、障害物検地、及び遠隔計測法
は、高いピーク・パワー、従って、スイッチされた操作
を必要とする。本発明のマイクロレーザーは、そのよう
な応用に非常に適している。
【0082】本明細書中で引用した参考文献は以下の通
りである。 1.N. Mermilliod, et al., Appl. Phys. Letters 59
(27), 3519 (1991). 2.J.J. Zayhowski, The Lincoln Laboratory Journal
3(3), 427 (1990). 3.W. Koechner "Solid State Laser Engineering", S
pringer-Verlag 1988. 4.Shouhuan Zhou, et al., Optics Letters 18(7), 5
11 (1993). 5.I.J. Miller, et al., Advanced Solid State Lase
rs conf., Santa Fe1992. 6.K. Spariosu, et al., Appl. Phys. Letters 62(2
2), 2763 (1993). 7.R. Wisnieff, et al., Laser Cartridge Concept D
evelopment Study,Final report. Army electronics c
ommand, Fort Monmouth, NJ,report No: 1294-R-0018;
ECOM-74-0376-F, April 1976. 8.K.H. Drexhage, et al., Optics Communications 1
0(1), 19 (1974). 9.Mueller-Westerhoff, Mol. Cryst. Liq. Cryst. 18
3, 291 (1990). 10.A. Eda, et al., CLEO'92, paper CWG33, p.282
(Conf. on Laser and Electro-optics, Anaheim, USA,
May 1992).
【図面の簡単な説明】
【図1】 (a)から(e)は、従来の技術によるレー
ザーマイクロキャビティの可能な変形を示す図である。
【図2】 可飽和吸収体を備えた、平板−平板・モード
(a)及び凹み平板(b)の、本発明によるマイクロレ
ーザー・キャビティを示す図である。
【図3】 厚さeのプレーン−プレーン・ファブリー−
ペロット・キャビティにおけるモードの分布を示す図で
ある。
【図4】 2枚の可飽和吸収体を備えた、平板−平板・
モード(a)及び凹み平板(b)の、本発明によるマイ
クロレーザー・キャビティを示す図である。
【図5】 活性レーザー材料のエッチングにより直接堆
積した(a)、または、まず他の材料上に堆積し、次い
でレーザー材料の研磨面にハイブリッド化した(b)マ
イクロレンズ・アレーを示す図である。
【図6】 光学的励起手段を備えた本発明のマイクロレ
ーザーを示す図であり、異なる要素は各支持容器に支持
されている。
【図7】 本発明のレーザー・マイクロキャビティの製
造方法の段階を示す図である。
【図8】 マイクロレーザー・チップを、レーザー材料
(任意にマイクロレンズを備えた)の多層膜、可飽和吸
収体、及び鏡からなる薄板に切り出す工程を示す図であ
る。
【符号の説明】
1…レーザーキャビテイ、2…活性レーザー材料、3…
可飽和吸収体、8…活性媒質、10…マイクロレーザー
キャビティ、12…可飽和吸収体、14…入射鏡、15
…出射鏡、17…容器、18…マイクロレーザーキャビ
ティ、20…励起レーザーダイオード、21…レーザー
ビーム、23…光ファイバ
フロントページの続き (72)発明者 ジャン・マルティ フランス・38180・セイシン・リュ・デ・ アルエッテ・3 (72)発明者 ジャン−ミッシェル・ノンジ フランス・92160・アントニー・リュ・ダ キタイン・7

Claims (24)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 固体活性媒質、可飽和吸収体、入射鏡及
    び出射鏡を有し、その可飽和吸収体が、前記固体活性媒
    質上に直接堆積された可飽和吸収体材料の薄膜であるこ
    とを特徴とするマイクロレーザー用レーザーキャビテ
    ィ。
  2. 【請求項2】 前記固体活性媒質が、ネオジム(N
    d)、エルビウム(Er)、ツリウム(Tm)、ホルミ
    ウム(Ho)のイオンで、またはエルビウム及びイッテ
    ルビウム(Er+Yb)の共ドープ、あるいはツリウム
    及びホルミウム(Tm+Ho)の共ドープを伴ってドー
    プされた、Y3Al512、LaMgA1119、YVO、
    2SiO5、YLiF4またはGdVO4から選ばれた基
    礎材料からなることを特徴とする請求項1記載のレーザ
    ーキャビティ。
  3. 【請求項3】 前記薄膜が、高分子溶媒中に溶解した有
    機色素から形成されることを特徴とする請求項1または
    2記載のレーザーキャビティ。
  4. 【請求項4】 前記有機色素が、ビス(4−ジエチルア
    ミノジチオベンジル)ニッケルまたはビス(4−ジエチ
    ルアミノジチオベンジル)ニッケルから選ばれ、前記溶
    媒が、ポリメタクリル酸メチル(PMMA)、ポリビニ
    ルアルコール、ポリ酢酸ビニルまたはポリスチレンの溶
    液であることを特徴とする請求項3記載のレーザーキャ
    ビティ。
  5. 【請求項5】 前記薄膜が、液相エピタキシーで堆積可
    能であることを特徴とする請求項1記載のレーザーキャ
    ビティ。
  6. 【請求項6】 前記薄膜が、液相エピタキシーで堆積可
    能であり、その膜が、前記固体の活性媒質と同じ基礎材
    料から形成され、Cr4+またはEr3+をドープしたもの
    であることを特徴とする請求項2記載のレーザーキャビ
    ティ。
  7. 【請求項7】 前記レーザーキャビティが、第2の可飽
    和吸収体膜からなることを特徴とする請求項1または2
    のいずれかに記載のレーザーキャビティ。
  8. 【請求項8】 レーザー材料上に直接形成されたマイク
    ロレンズ・アレーを備えたことを特徴とする請求項1記
    載のレーザーキャビティ。
  9. 【請求項9】 前記入射鏡及び出射鏡が二色鏡であるこ
    とを特徴とする請求項1記載のレーザーキャビティ。
  10. 【請求項10】 請求項1記載のレーザーキャビティ
    と、そのキャビティを励起するための光学的手段とから
    なることを特徴とするマイクロレーザー。
  11. 【請求項11】 前記励起手段が、少なくともひとつの
    レーザーダイオードであることを特徴とする請求項10
    記載のマイクロレーザー。
  12. 【請求項12】 前記レーザーキャビティ及び前記光学
    的励起手段が、同じ容器内に取り付けられたことを特徴
    とする請求項10または11のいずれかに記載のマイク
    ロレーザー。
  13. 【請求項13】 前記レーザーキャビティ及び前記光学
    的励起手段が、異なる容器に取り付けられ、それぞれの
    容器内にあり、その2つの容器が光ファイバで連結され
    たことを特徴とする請求項10または11のいずれかに
    記載のマイクロレーザー。
  14. 【請求項14】 予め決められた厚さの材料で、固体活
    性媒質を形成する調整段階と、その先行段階に従って調
    整した材料の一方の面に可飽和吸収体膜を直接形成する
    段階とからなることを特徴とする請求項1から9のいず
    れかに記載のレーザーキャビティの製法。
  15. 【請求項15】 前記薄膜がワーラーで堆積されること
    を特徴とする請求項14記載の製法。
  16. 【請求項16】 前記薄膜が高分子溶媒に溶解した有機
    色素から形成されることを特徴とする請求項14及び1
    5のいずれかに記載の製法。
  17. 【請求項17】 前記有機色素が、ビス(4−ジエチル
    アミノジチオベンジル)ニッケルまたはビス(4−ジエ
    チルアミノジチオベンジル)ニッケルから選ばれ、前記
    溶媒が、ポリメタクリル酸メチル(PMMA)、ポリビ
    ニルアルコール、ポリ酢酸ビニルまたはポリスチレンの
    溶液であることを特徴とする請求項16記載の製法。
  18. 【請求項18】 前記薄膜が液相エピタキシーで堆積さ
    れることを特徴とする請求項14記載の製法。
  19. 【請求項19】 前記固体活性媒質が、ネオジム(N
    d)、エルビウム(Er)、ツリウム(Tm)、ホルミ
    ウム(Ho)のイオンで、またはエルビウム及びイッテ
    ルビウム(Er+Yb)の共ドープ、あるいはツリウム
    及びホルミウム(Tm+Ho)の共ドープを伴ってドー
    プされた、Y3Al512、LaMgA1119、YVO、
    2SiO5、YLiF4またはGdVO4から選ばれた基
    礎材料からなることを特徴とする請求項18記載の製
    法。
  20. 【請求項20】 前記薄膜が、液相エピタキシーで堆積
    可能であり、その膜が、前記固体活性媒質と同じ基礎材
    料から形成され、Cr4+またはEr3+をドープしたもの
    であることを特徴とする請求項19記載の製法。
  21. 【請求項21】 第2の可飽和吸収体膜が前記活性レー
    ザー材料の他方の面に堆積されることを特徴とする請求
    項14記載の製法。
  22. 【請求項22】 前記レーザー材料上に、微小レンズ・
    アレーを直接形成する補足段階を備えることを特徴とす
    る請求項14記載の製法。
  23. 【請求項23】 前記微小レンズ・アレーが,前記活性
    レーザー材料上で直接エッチングされることを特徴とす
    る請求項22記載の製法。
  24. 【請求項24】 誘電体多層体の堆積によりキャビティ
    の入射鏡及び出射鏡を形成することを特徴とする請求項
    14記載の製法。
JP27956494A 1993-11-15 1994-11-14 可飽和吸収体により受動スイッチングする自己配列したモノリシック固体マイクロレーザー及びその製法 Expired - Fee Related JP3636492B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR9313564 1993-11-15
FR9313564A FR2712742B1 (fr) 1993-11-15 1993-11-15 Microlaser solide, monolithique, autoaligné, à déclenchement passif par absorbant saturable et son procédé de fabrication.

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH07183608A true JPH07183608A (ja) 1995-07-21
JP3636492B2 JP3636492B2 (ja) 2005-04-06

Family

ID=9452835

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP27956494A Expired - Fee Related JP3636492B2 (ja) 1993-11-15 1994-11-14 可飽和吸収体により受動スイッチングする自己配列したモノリシック固体マイクロレーザー及びその製法

Country Status (5)

Country Link
US (1) US5495494A (ja)
EP (1) EP0653824B1 (ja)
JP (1) JP3636492B2 (ja)
DE (1) DE69428567T2 (ja)
FR (1) FR2712742B1 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004296706A (ja) * 2003-03-26 2004-10-21 Sony Corp 光共振器及びレーザ発振器
JP2008541442A (ja) * 2005-05-10 2008-11-20 コミツサリア タ レネルジー アトミーク 光ポンピング装置
WO2021106757A1 (ja) * 2019-11-28 2021-06-03 ソニー株式会社 レーザ素子、レーザ素子の製造方法、レーザ装置およびレーザ増幅素子

Families Citing this family (49)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2725279B1 (fr) * 1994-10-04 1996-10-25 Commissariat Energie Atomique Dispositif de telemetrie comportant un microlaser
US5732100A (en) * 1995-01-24 1998-03-24 Commissariat A L'energie Atomique Cavity for a solid microlaser having an optimized efficiency, microlaser using it and its production process
FR2734096B1 (fr) * 1995-05-12 1997-06-06 Commissariat Energie Atomique Cavite microlaser et microlaser solide impulsionnel a declenchement passif et a commande externe
FR2734094B1 (fr) * 1995-05-12 1997-06-06 Commissariat Energie Atomique Emetteur infrarouge monolithique a semi-conducteur pompe par un microlaser solide declenche
FR2734092B1 (fr) * 1995-05-12 1997-06-06 Commissariat Energie Atomique Microlaser monolithique declenche et materiau non lineaire intracavite
FR2736217B1 (fr) * 1995-06-27 1997-08-08 Commissariat Energie Atomique Cavite microlaser et microlaser solide impulsionnel a declenchement actif par micromodulateur
US5802083A (en) * 1995-12-11 1998-09-01 Milton Birnbaum Saturable absorber Q-switches for 2-μm lasers
FR2745668B1 (fr) * 1996-03-01 1998-04-17 Commissariat Energie Atomique Dispositif de mesure precise de la duree d'un intervalle de temps
FR2747192B1 (fr) * 1996-04-04 1998-04-30 Commissariat Energie Atomique Dispositif de detection de gaz a distance comportant un microlaser
FR2747802B1 (fr) * 1996-04-18 1998-05-15 Commissariat Energie Atomique Microdispositif optomecanique, et application a un microdeflecteur optomecanique
FR2750539B1 (fr) * 1996-06-28 1998-07-24 Commissariat Energie Atomique Materiaux laser et microlasers a fortes concentrations en ions actifs, et procedes de fabrication
FR2751467B1 (fr) * 1996-07-17 1998-10-02 Commissariat Energie Atomique Procede d'assemblage de deux structures et dispositif obtenu par le procede. applications aux microlasers
FR2751796B1 (fr) * 1996-07-26 1998-08-28 Commissariat Energie Atomique Microlaser soilde, a pompage optique par laser semi-conducteur a cavite verticale
FR2751795B1 (fr) * 1996-07-26 1998-08-28 Commissariat Energie Atomique Cavite microlaser et microlaser a selection de mode, et procedes de fabrication
FR2754114B1 (fr) * 1996-09-30 1998-10-30 Commissariat Energie Atomique Microlaser solide a declenchement electrooptique a electrodes independantes, et procede de realisation
FR2754400A1 (fr) * 1996-10-07 1998-04-10 Commissariat Energie Atomique Microlaser solide couple dans une fibre et procede de realisation
FR2758915B1 (fr) * 1997-01-30 1999-03-05 Commissariat Energie Atomique Microlaser solide declenche passivement par absorbant saturable et son procede de fabrication
USRE38489E1 (en) 1997-01-30 2004-04-06 Commissariat A L'energie Atomique Solid microlaser passively switched by a saturable absorber and its production process
FR2765687B1 (fr) * 1997-07-07 1999-07-30 Commissariat Energie Atomique Dispositif d'analyse raman comprenant un microlaser
FR2771222B1 (fr) 1997-11-14 1999-12-17 Commissariat Energie Atomique Realisation d'emetteurs hyperfrequences et applications aux radars et aux telecommunications
FR2771107B1 (fr) * 1997-11-18 1999-12-10 Commissariat Energie Atomique Procede de preparation par croissance par epitaxie en phase liquide de couches monocristallines d'aluminate de lanthane et de magnesium (lma) et composants optiques comprenant ces couches
FR2773000B1 (fr) * 1997-12-24 2000-05-12 Commissariat Energie Atomique Cavite laser a declenchement passif a polarisation controlee, microlaser comprenant cette cavite, et procede de fabrication de ce microlaser
US6240113B1 (en) 1998-02-27 2001-05-29 Litton Systems, Inc. Microlaser-based electro-optic system and associated fabrication method
US6072815A (en) * 1998-02-27 2000-06-06 Litton Systems, Inc. Microlaser submount assembly and associates packaging method
US6057871A (en) * 1998-07-10 2000-05-02 Litton Systems, Inc. Laser marking system and associated microlaser apparatus
FR2783977B1 (fr) * 1998-09-29 2000-11-03 Commissariat Energie Atomique Microlaser a pompage module et procede de codage-decodage de l'emission d'un tel microlaser
FR2784194A1 (fr) * 1998-10-01 2000-04-07 Commissariat Energie Atomique Dispositif d'imagerie utilisant un ensemble de microlasers et procede de fabrication de ceux-ci
FR2787269B1 (fr) 1998-12-11 2001-03-02 Aerospatiale Procede de mise en oeuvre d'une unite de service de trafic air
US6888871B1 (en) 2000-07-12 2005-05-03 Princeton Optronics, Inc. VCSEL and VCSEL array having integrated microlenses for use in a semiconductor laser pumped solid state laser system
US6490081B1 (en) 2000-07-28 2002-12-03 The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University Method of amplifying optical signals using doped materials with extremely broad bandwidths
US6778563B2 (en) * 2001-06-05 2004-08-17 Cobolt Ab Q-switched laser
US6738396B2 (en) 2001-07-24 2004-05-18 Gsi Lumonics Ltd. Laser based material processing methods and scalable architecture for material processing
US7065121B2 (en) 2001-07-24 2006-06-20 Gsi Group Ltd. Waveguide architecture, waveguide devices for laser processing and beam control, and laser processing applications
US7149231B2 (en) * 2002-10-04 2006-12-12 Spectra Systems Corporation Monolithic, side-pumped, passively Q-switched solid-state laser
US7822077B2 (en) * 2007-09-13 2010-10-26 Northrop Grumman Systems Corporation Thulium doped fiber configuration for enhanced high power operation
JP5587578B2 (ja) * 2008-09-26 2014-09-10 ギガフォトン株式会社 極端紫外光源装置およびパルスレーザ装置
WO2010145855A1 (en) 2009-06-15 2010-12-23 Pantec Biosolutions Ag Monolithic, side pumped solid-state laser and method for operating the same
WO2010145802A1 (en) 2009-06-15 2010-12-23 Pantec Biosolutions Ag A monolithic, side pumped solid-state laser and applications thereof
DE102010050860A1 (de) * 2010-03-31 2011-10-06 Innolight Innovative Laser Und Systemstechnik Gmbh Mikrokristall-Laser zur Erzeugung von Laserpulsen
EP2577818B1 (de) 2010-05-28 2020-07-15 Daniel Kopf Ultrakurzpuls-mikrochiplaser, halbleiterlaser, lasersystem und pumpverfahren für dünne lasermedien
US9493887B1 (en) 2010-07-08 2016-11-15 Clemson University Research Foundation Heterogeneous single vanadate based crystals for Q-switched lasers and microlasers and method for forming same
US9014228B1 (en) * 2010-07-08 2015-04-21 Clemson University Research Foundation Hydrothermal growth of heterogeneous single crystals for solid state laser applications
US9469915B2 (en) 2012-06-22 2016-10-18 Clemson University Research Foundation Hydrothermal growth of heterogeneous single crystals exhibiting amplified spontaneous emission suppression
US9711928B2 (en) 2012-06-22 2017-07-18 Clemson University Research Foundation Single crystals with internal doping with laser ions prepared by a hydrothermal method
US8948220B2 (en) 2012-12-18 2015-02-03 Coherent Gmbh Wavelength-stabilized microcrystal laser
US10156025B2 (en) 2015-05-04 2018-12-18 University Of South Carolina Monolithic heterogeneous single crystals with multiple regimes for solid state laser applications
US10998689B2 (en) * 2018-01-19 2021-05-04 Shailendhar Saraf Systems, apparatus, and methods for producing ultra stable, single-frequency, single-transverse-mode coherent light in solid-state lasers
CN109217091A (zh) * 2018-10-10 2019-01-15 山东大学 一种基于钕掺杂钒酸钇与磷酸钛氧钾胶合晶体的单片集成绿光脉冲激光器及制备
US20230187890A1 (en) * 2020-09-08 2023-06-15 Trieye Ltd. Novel passively q-switched laser

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3270291A (en) * 1962-10-22 1966-08-30 Rca Corp Laser control device using a saturable absorber
GB1566716A (en) * 1977-03-15 1980-05-08 Gen Electric Co Ltd Laser resonators and their manufacture
US4191931A (en) * 1978-02-06 1980-03-04 Sanders Associates, Inc. Cooled laser q-switch
US5119382A (en) * 1990-12-24 1992-06-02 Mcdonnell Douglas Corporation Tetravalent chromium doped passive Q-switch
US5278855A (en) * 1992-05-11 1994-01-11 At&T Bell Laboratories Broadband semiconductor saturable absorber

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004296706A (ja) * 2003-03-26 2004-10-21 Sony Corp 光共振器及びレーザ発振器
JP2008541442A (ja) * 2005-05-10 2008-11-20 コミツサリア タ レネルジー アトミーク 光ポンピング装置
WO2021106757A1 (ja) * 2019-11-28 2021-06-03 ソニー株式会社 レーザ素子、レーザ素子の製造方法、レーザ装置およびレーザ増幅素子

Also Published As

Publication number Publication date
EP0653824B1 (fr) 2001-10-10
DE69428567D1 (de) 2001-11-15
EP0653824A1 (fr) 1995-05-17
US5495494A (en) 1996-02-27
FR2712742A1 (fr) 1995-05-24
FR2712742B1 (fr) 1995-12-15
DE69428567T2 (de) 2002-06-27
JP3636492B2 (ja) 2005-04-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3636492B2 (ja) 可飽和吸収体により受動スイッチングする自己配列したモノリシック固体マイクロレーザー及びその製法
US5754333A (en) Microlaser-pumped monolithic optical parametric oscillator
JP3782847B2 (ja) スイッチング型一体式マイクロレーザーおよびキャビティ内非線形材料
JP3636491B2 (ja) 可飽和吸収体により受動スイッチングするレーザーキャビティ及びそのキャビティを有するレーザー
US5933444A (en) Monolithic semiconductor infrared emitter pumped by a switched solid microlaser
US6023479A (en) Solid microlaser passively switched by a saturable absorber and its production process
US7149231B2 (en) Monolithic, side-pumped, passively Q-switched solid-state laser
US5844932A (en) Microlaser cavity and externally controlled, passive switching, solid pulsed microlaser
Philipps et al. Diode-pumped erbium-ytterbium-glass laser passively Q-switched with a PbS semiconductor quantum-dot doped glass
US6014393A (en) Laser materials and microlasers having high active ion concentrations, and production processes
JPH06120606A (ja) 固体レーザシステム
US6973115B1 (en) Passive Q-switched microlaser with controlled polarization
JPH07221376A (ja) ビーム方向が制御可能なマイクロチップレーザー
USRE38489E1 (en) Solid microlaser passively switched by a saturable absorber and its production process
JPH11243247A (ja) ランタン・マグネシウムアルミナート(lma)の単結晶層、それらの液相エピタキシャル成長による成長プロセス及びそれらの単結晶の層を含む光学的部品
Fromzel et al. Efficiency and tuning of the erbium-doped glass lasers
Song et al. Spectra characteristics of novel Er: Yb phosphate glass
Philipps et al. Diode-pumped erbium-ytterbium-glass laser passively Q-switched with a PbS semiconductor quantum-dot doped glass

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20040525

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20040729

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20040803

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20041124

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20041221

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20050105

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090114

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100114

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110114

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110114

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120114

Year of fee payment: 7

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees