JPH07181263A - 放射線測定装置 - Google Patents

放射線測定装置

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JPH07181263A
JPH07181263A JP32721693A JP32721693A JPH07181263A JP H07181263 A JPH07181263 A JP H07181263A JP 32721693 A JP32721693 A JP 32721693A JP 32721693 A JP32721693 A JP 32721693A JP H07181263 A JPH07181263 A JP H07181263A
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JP
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JP32721693A
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Yoshifumi Iketani
敬文 池谷
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Yazaki Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 放射線の測定における統計的変動を移動平均
処理によって除去して測定精度を維持し、かつ被測定放
射線レベルの急激な変化に対して応答の速い放射線測定
装置を提供する。 【構成】 検出部1での検出に基づくパルス信号のカウ
ンタ2dによる一定期間の計数値をデータ収集部2が収
集する。データ記憶手段3c1 に格納した最新の計数値
に基づいてデータ処理部3が移動平均値を算出し、表示
部4に表示する。標準偏差算出手段3a1 が所定個数の
計数値についての標準偏差を算出し、算出値記憶手段3
2 に移動平均値と共に格納する。判定手段3a2 は、
最新の計数値が移動平均値および標準偏差を基準とした
所定範囲に入るか否かを判別し、入らない場合、データ
記憶手段の計数値を消去する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は例えば環境放射線をモニ
タするため、環境レベルの放射線を測定する放射線測定
装置に係り、特に、放射線特有の揺らぎによる変動の影
響を最小限となるようにしつつ、応答時間を短縮した放
射線測定装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】原子力発電所など放射性物質を取り扱う
施設における放射線汚染管理の一環として、環境放射線
をモニタする放射線測定器が使用される。その一例とし
て、放射線検出器に放射線が入射したときに発生する電
気パルスを計数することにより、入射した放射線の強度
を測定するパルス計数方式の放射線測定器がある。
【0003】図4はこのようなパルス計数方式の放射線
測定器の従来構成例を示すブロック図であり、放射線測
定器は検出部1、データ収集部2、データ処理部3及び
表示部4の各ブロックから構成される。検出部1は例え
ば電離箱検出器からなり、ガンマ線、アルファ線、ベー
タ線或いは中性子線等の放射線を検出したときに電荷放
電などの電気信号を出力する。
【0004】データ処理部2はプリアンプ2a、メイン
アンプ2b、波形整形回路2c、コンパレータ2d、カ
ウンタ2e等から構成され、プリアンプ2aは検出部1
の出力である電荷放電にともなう微弱な電流信号を増幅
して電圧信号に変換し、この電圧信号は次段のメインア
ンプ2b及び波形整形回路2cにより増幅及び整形さ
れ、このパルス信号のレベルがコンパレータ2dにより
所定値と比較され、この比較の決定により所定値以上の
パルス信号が一定振幅のパルス信号に変換され、このパ
ルス信号の数がカウンタ2eにて計数される。
【0005】データ処理部3は予め定めたプログラムに
基づいて動作するマイクロコンピュータ(CPU)3a
と、バッファメモリ3b、データメモリ3c、及びタイ
マ3dなどから構成され、CPU3aはデータ処理のた
めの演算及び各種の制御を行う。
【0006】CPU3a及びタイマ3dは協動して経過
時間を計時し、例えば3秒に設定されているサンプリン
グ周期Tが経過する毎にカウンタ2eの計数値データを
バッファメモリ3bに格納させる。
【0007】データメモリ3cには、データを格納する
ために例えば10個の番地が設けられてあり、上記各サ
ンプリング周期の終りに求められる計数値データが空い
ている番地に逐次格納される。ただし、格納可能な番地
の数を越えた場合には、データメモリ3c内の一番古い
データが消去されて、その代わりに最新のデータが格納
される。
【0008】表示部4には例えばLCDなどの表示器4
a及び例えばLEDなどの指示灯4bがあり、表示器4
aには現在データメモリ3cに格納されている全データ
の平均値が表示され、上記サンプリング周期毎に新しい
表示に更新される。また、指示灯4bには現在表示され
ているデータの処理モードに関する情報が表示される。
【0009】図4に例示した従来の放射線測定器の動作
の詳細を、CPUの処理フローチャートを示す図5を参
照して説明する。CPU3aは、電源が投入されると動
作を開始し、その最初のステップS1において、カウン
タ2e、バッファメモリ3b、データメモリ3cのクリ
アを含むシステムの初期化などを行う。
【0010】ステップS2においてはサンプリング周期
を定めるタイマ3dを起動させてからステップS3に進
み、ここでカウンタ2eの計数値を読み込みこの計数値
データをバッファメモリ3bに格納する。
【0011】次のステップS5においては、データメモ
リ3cにデータがまだ格納されていない空き番地がある
か否かを判定し、既に満杯であればステップS6に進
み、空き番地があればステップS8に進む。ステップS
6においては、表示灯4bを連続点灯モードにセットす
る信号を出力し、以後他の点灯モードの信号を出力する
まで表示灯4bを連続点灯状態に保持する。次に、ステ
ップS7に進み、ここでデータメモリ3c内のデータを
順送り処理して一番古いデータを1個消去してメモリ3
c内に空き番地を1個形成してからステップS9に進
む。
【0012】一方、ステップS8においては、表示灯4
bをウインクモードにセットする信号を出力してからス
テップS9に進む。なお、表示灯4bのウインク状態は
以後他の点灯モードの信号を出力するまで保持する。
【0013】ステップS9においては、バッファメモリ
3bに格納さている計数値をデータメモリ3cの最初の
空き番地に格納してからステップS10に進み、ここで
データメモリ3cに格納されている全てのデータの平均
値m(x)を算出し、この算出した平均値m(x)を続
くステップS11において表示装置4aに表示させる。
なお、環境モニタ等で線量当量率の表示が必要な場合
は、上記平均値計算とともに線質係数などによる換算を
行って、例えば[シーベルト/時(hour)]の単位の数
値で表示装置4aに表示を行う。
【0014】次にステップS12に進み、ここで上記ス
テップS2において起動したタイマ3dが例えば3秒に
設定されているサンプリング周期に相当する時間を計時
し、タイムオーバとなったか否かを判定し、タイムオー
バとなっていないときには待機し、この間カウンタ2e
の計数を続けている。なお、サンプリング周期が経過す
ると上記ステップS2に戻って次のサンプリング処理に
移る。
【0015】上述パルス計数方式放射線測定器による環
境放射線測定においては、従来各サンプリング毎のデー
タに移動平均処理を施して統計的変動を除去した上で表
示することが行われているが、これは被測定放射線の実
際のレベルに変化がない状態でも放射線特有の統計的揺
らぎによって毎回のサンプリングデータの値に統計的変
動が生じるため、各サンプリング毎にカウンタ2eの計
数値データxをそのまま出力として表示すると、サンプ
リング周期毎に表示値が飛躍して環境放射線の情況の把
握が困難になるからである。
【0016】上述した従来の放射線測定器の例において
は、パルスの計数値を格納するメモリ3cに10個の番
地を設けておき、ステップS5〜S11の処理により、
過去10サイクルのサンプリングデータについての移動
平均を表示装置4aに表示する。
【0017】なお、放射線測定器の電源を入れた直後な
どにおいては、メモリ3cに格納されているデータの数
は10個に満たないが、このような場合でも図6に模式
的に示すようにCPU3aはメモリ3cに存在するデー
タについての平均値を計算して表示装置4aに表示する
ので、メモリ3cのデータが満杯になるまではステップ
S8において表示灯4bをウインクモードにセットし
て、表示中の平均値が不足のサンプル数によって算出さ
れたものであることを報知する。
【0018】
【発明が解決しようとする課題】一般に、環境放射線の
モニタを目的として、環境放射線を測定すると、平常時
は被測定放射線のレベルは非常に低いので、毎回のサン
プリングにおける計数値xが非常に小さな整数値とな
り、従って統計的変動が相対的に大きくなる。
【0019】上記統計的変動を除去して測定精度を維持
するためには、従来上記サンプリング周期Tあるいは移
動平均のサンプル個数Nを大きく設定して変動を平均化
することが行われていたが、それに伴って測定系の応答
時間が長くなり、結果として被測定放射線レベルの急激
な変化に対して表示に遅れが出てモニタとしての目的が
損われるという欠点があった。すなわち、従来の放射線
測定器においては上記表示データの統計的変動の除去と
測定系の応答速度の向上とを両立させることが困難であ
った。
【0020】よって本発明は、上述した従来の問題点に
鑑み、環境放射線の測定における統計的変動を移動平均
処理によって除去して測定精度を維持し、かつ被測定放
射線レベルの急激な変化に対して応答の速い放射線測定
装置を提供することを目的とする。
【0021】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明により成された放射線測定装置は、図1の基本
構成図に示すように、放射線を検出して電気信号を出力
する検出部1と、該電気信号に基づくパルス信号を計数
するカウンタ2dとを有し、該カウンタによる一定期間
の計数値を収集するデータ収集部2と、該データ収集部
により収集した計数値データの最新のものを所定個数格
納するデータ記憶手段3c1 を有し、該データ記憶手段
に格納された所定個数の計数値データに基づいて移動平
均値を算出するデータ処理部3と、該データ処理部にお
いて算出した前記移動平均値を表示する表示部4とを備
えた放射線測定装置において、前記データ処理部が、前
記移動平均値の算出に用いた所定個数のデータについて
の標準偏差を算出する標準偏差算出手段3a1 と、該標
準偏差算出手段により算出した標準偏差値を前記移動平
均値と共に格納する算出値記憶手段3c2 と、最新の計
数値データが前記移動平均値および前記標準偏差を基準
とした所定範囲に入るか否かを判別する判定手段3a2
とを有し、前記判定手段による判定の決定の結果所定範
囲に入らない場合、前記データ記憶手段に格納されてい
るデータを消去するようにしたことを特徴としている。
【0022】
【作用】放射線の統計的揺らぎに基づく、一定期間毎の
計数値データの変動は真の値を中心とした正規分布であ
る。推計学によれば、適宜な個数のサンプルについての
平均をm(x)、標準偏差をσ(x)とすると、真の値
は99.7%の確率でm(x)±3σ(x)の範囲に収
まることが知られている。
【0023】従って、上記構成において、以前の所定個
数の計数値データについての移動平均m(x)と標準偏
差σ(x)を算出しておき、最新の計数値データxと予
め求めている移動平均m(x)とを比較して、xがm
(x)±3σ(x)の範囲の外にある場合は被測定放射
線に真の変化が生じたとみなし、それまでの計数値デー
タを破棄して新たな移動平均処理を起算することによ
り、移動平均処理に必要な所定個数のデータを収集する
ために生じる応答の遅れを伴うことなく、一定期間以内
の応答時間で新たなデータを表示することができる。
【0024】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。本発明による放射線測定装置の一実施例は、図3
及び図2についてそれぞれ後述するCPUの処理フロー
チャート、及びデータメモリの構成を除いて、図4につ
いて上述した従来の放射線測定装置と同様な構成となっ
ているので、放射線測定装置の構成を示す図は省略す
る。
【0025】データメモリ3c内には、図2に示すよう
に、10個の計数値データを格納するデータエリア3c
1 と、10個の計数値データに基づいて求めた平均値m
(x)と後述標準偏差σ(x)のデータを格納するエリ
ア3c2 とが形成されている。
【0026】次に、本発明による放射線測定装置の動作
の詳細を、CPUが行う処理を示す図3のフローチャー
トを参照して説明する。CPU3aは装置の電源が投入
されると動作を開始し、その最初のステップS21にお
いてカウンタ2c、バッファ3b、メモリ3cのクリア
を含む初期化を行う。その後ステップS22に進み、こ
こでサンプリング周期を定めるタイマ3dを起動させて
からステップS23に進み、ここでカウンタ2dの計数
値を読み込みこの計数値データをバッファメモリ3bに
格納する。
【0027】次のステップS25においては、データメ
モリ3c内にデータがあるか否かを判定し、この判定が
NOのときには、データメモリ3cのデータエリア3c
1 にバッファメモリ3b内に格納されている計数値デー
タを格納する。続いてステップS27に進んでデータエ
リア3c1 内の全てのデータの平均値m(x)を算出し
てからステップS28に進んで表示装置4aに新しい平
均値m(x)を表示させる。次にステップS29に進ん
でステップS22において起動したタイマがタイムオー
バとなるのを待ち、タイムオーバとなったら上記ステッ
プS22に戻る。
【0028】上記ステップS25の判定がYESのと
き、すなわちデータがあるときにはステップS30に進
み、ここでデータメモリ3c内のデータエリア3c1
格納されている全てのデータxiの平均値m(x)と標
準偏差σ(x)を算出し、これをエリア3c2 に格納し
てからステップS31に進む。ステップS31において
は、新たなサンプリングによって得られた計数値データ
xを現在のm(x)±3σ(x)の値と比較し、この範
囲外であるときにはステップS32に進み、範囲内であ
るときにはステップS33に進む。
【0029】上記ステップS31の判定処理は、推計学
で言う3シグマの検定であり、上記範囲から外れた場合
は被測定放射線に統計学的に有為な変化が生じたと判断
し、ステップS32においてデータメモリ3cのデータ
エリア3c1 に格納されている全てのデータを消去して
からそこに最新の計数値データを格納する。すなわち、
この場合は、それまでのサンプリングの結果を全てご破
算にするサンプリングリセットを行い、ステップS30
において以前のデータによって平均値を求めることな
く、ステップS28において表示装置4aに新しい計数
値データxそのものを表示させるから、被測定放射線に
統計学的に有意な変化が生じた事態に対して放射線測定
装置を迅速に応答させることができる。
【0030】ステップS33に進んだ場合は被測定放射
線に統計学的に有意な変化がないという判定であるか
ら、上記新たなサンプリングにより得られたパルスの計
数値データを取り込んでデータエリア3c1 に格納する
必要がある。そこでステップS33においては、データ
エリア3c1 内に空きがあるか否かを判定し、空きがあ
り判定がYESのときにはステップS34に進んでデー
タエリア3c1 内に計数値データを格納してからステッ
プS27に進む。一方、データエリア3c1 内に空きが
なくステップS33の判定がNOのときにはステップS
35に進みデータエリア3c1 内のデータをシフトして
一番古いデータを消去し、新データに差し替えてから上
記ステップS27に進む。
【0031】図3のフローチャートについての説明から
明らかなように、CPU3aは移動平均値の算出に用い
た所定個数のデータについての標準偏差を算出する標準
偏差算出手段3a1 、最新の計数値データが移動平均値
および標準偏差を基準とした所定範囲に入るか否かを判
別する判定手段3a2 として働いている。
【0032】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、被
測定放射線に統計的に有意な変化が生じた場合に迅速に
応答するから、測定における統計的変動を移動平均処理
によって除去して測定精度を維持しつつ、被測定放射線
レベルの急激な変化に対して応答の速い放射線測定装置
を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による放射線測定器の基本構成を示すブ
ロック図である。
【図2】本発明による装置のデータメモリの構成を示す
図である。
【図3】本発明による装置のCPUが行う処理を示すフ
ローチャートである。
【図4】従来の放射線測定器の一例を示すブロック図で
ある。
【図5】従来の放射線測定器のCPUが行う処理を示す
フローチャートである。
【図6】従来の放射線測定器の移動平均処理の模式的説
明図である。
【符号の説明】
1 検出部 2 データ収集部 2d カウンタ 3 データ処理部 3a1 標準偏差算出手段(CPU) 3a2 判定手段(CPU) 3c1 データ記憶手段(データエリア) 3c2 算出値記憶手段(エリア) 4 表示部
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成6年6月29日
【手続補正1】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図4
【補正方法】変更
【補正内容】
【図4】

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 放射線を検出して電気信号を出力する検
    出部と、該電気信号に基づくパルス信号を計数するカウ
    ンタとを有し、該カウンタによる一定期間の計数値を収
    集するデータ収集部と、該データ収集部により収集した
    計数値データの最新のものを所定個数格納するデータ記
    憶手段を有し、該データ記憶手段に格納された所定個数
    の計数値データに基づいて移動平均値を算出するデータ
    処理部と、該データ処理部において算出した前記移動平
    均値を表示する表示部とを備えた放射線測定装置におい
    て、 前記データ処理部が、前記移動平均値の算出に用いた所
    定個数のデータについての標準偏差を算出する標準偏差
    算出手段と、該標準偏差算出手段により算出した標準偏
    差値を前記移動平均値と共に格納する算出値記憶手段
    と、最新の計数値データが前記移動平均値および前記標
    準偏差を基準とした所定範囲に入るか否かを判別する判
    定手段とを有し、 前記判定手段による判定の決定の結果所定範囲に入らな
    い場合、前記データ記憶手段に格納されているデータを
    消去するようにしたことを特徴とする放射線測定装置。
JP32721693A 1993-12-24 1993-12-24 放射線測定装置 Withdrawn JPH07181263A (ja)

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