JP3085770B2 - 放射線監視装置 - Google Patents
放射線監視装置Info
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- Y02E30/30—Nuclear fission reactors
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- Monitoring And Testing Of Nuclear Reactors (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、原子力発電所における
核計装としての放射線監視装置に関する。
核計装としての放射線監視装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】図８は原子炉の起動領域モニタとして用
いられる放射線監視装置の構成図である。放射線検出器
１は原子炉炉心に配置され、γ線、α線、β線、中性子
線等を検出して電気信号に変換するもので、例えばＧＭ
管、ＳＳＤ、シンチレーション検出器とフォトマルチプ
ライヤとの組合わせ、電離箱等が用いられる。なお、こ
では電離箱を用いて説明する。
いられる放射線監視装置の構成図である。放射線検出器
１は原子炉炉心に配置され、γ線、α線、β線、中性子
線等を検出して電気信号に変換するもので、例えばＧＭ
管、ＳＳＤ、シンチレーション検出器とフォトマルチプ
ライヤとの組合わせ、電離箱等が用いられる。なお、こ
では電離箱を用いて説明する。
【０００３】この放射線検出器１にはカップリングコン
デンサ２、前置増幅器３を介して監視装置４が接続され
ている。なお、カップリングコンデンサ２は前置増幅器
３の内部に含まれている。
デンサ２、前置増幅器３を介して監視装置４が接続され
ている。なお、カップリングコンデンサ２は前置増幅器
３の内部に含まれている。
【０００４】この監視装置４には信号処理回路５及びバ
イアス電源６が備えられている。このうち、バイアス電
源６は放射線検出器１に対してバイアス電圧を印加する
ものである。又、信号処理回路５はパルス計数方式を採
用したもので、放射線検出器１からの信号を計数し、放
射線検出器１に入射する放射線の強度から原子炉出力を
求める機能を有している。具体的には図９に示すように
データ収集部７、原子炉出力計算部８及びトリップ判定
出力処理部９から構成されている。
イアス電源６が備えられている。このうち、バイアス電
源６は放射線検出器１に対してバイアス電圧を印加する
ものである。又、信号処理回路５はパルス計数方式を採
用したもので、放射線検出器１からの信号を計数し、放
射線検出器１に入射する放射線の強度から原子炉出力を
求める機能を有している。具体的には図９に示すように
データ収集部７、原子炉出力計算部８及びトリップ判定
出力処理部９から構成されている。
【０００５】かかる構成であれば、放射線検出器１には
バイアス電源６から例えば２００Ｖのバイアス電圧が印
加され、１０ｍＡのバイアス電流が流れるようになって
いる。この状態に放射線検出器１は放射線を検出し、そ
の放射線量に応じた電気信号を出力する。この電気信号
はカップリングコンデンサ２を通過し、前置増幅器３に
より増幅されて信号処理回路５に入力される。
バイアス電源６から例えば２００Ｖのバイアス電圧が印
加され、１０ｍＡのバイアス電流が流れるようになって
いる。この状態に放射線検出器１は放射線を検出し、そ
の放射線量に応じた電気信号を出力する。この電気信号
はカップリングコンデンサ２を通過し、前置増幅器３に
より増幅されて信号処理回路５に入力される。
【０００６】この信号処理回路５のデータ収集部７は前
置増幅器３からの信号を増幅・波形整形等により計数処
理し、電圧等の電気信号・ディジタル信号に変換する。
原子炉出力計算部８はデータ収集部７の出力を受け、原
子炉出力や放射線検出器１に入射した中性子束等を求め
る。そして、トリップ判定出力処理部９は原子炉出力計
算部８により求められた原子炉出力等を受けてレコーダ
に記録すると共に指示計に指示し、かつ原子炉出力等が
所定の条件を満たしていない場合に警報を発する。
置増幅器３からの信号を増幅・波形整形等により計数処
理し、電圧等の電気信号・ディジタル信号に変換する。
原子炉出力計算部８はデータ収集部７の出力を受け、原
子炉出力や放射線検出器１に入射した中性子束等を求め
る。そして、トリップ判定出力処理部９は原子炉出力計
算部８により求められた原子炉出力等を受けてレコーダ
に記録すると共に指示計に指示し、かつ原子炉出力等が
所定の条件を満たしていない場合に警報を発する。
【０００７】かかる装置は原子炉の立ち上げである起動
領域（１０-10 ％〜数十％）を監視するものであり、こ
の起動領域から出力領域に移れば、放射線検出器１に印
加されるバイアス電圧は低下してバイアス電流が制限さ
れ、放射線検出器１の劣化が防止される。例えば、バイ
アス電圧２００Ｖでバイアス電流１０ｍＡが流れている
状態に、原子炉出力の上昇によりバイアス電流２０ｍＡ
が流れるところ、バイアス電圧を１００Ｖに下げてバイ
アス電流を１０ｍＡに制限している。そして、出力領域
にあっては、起動領域モニタとは別の出力領域モニタと
いう監視装置に原子炉出力の監視が移管される。
領域（１０-10 ％〜数十％）を監視するものであり、こ
の起動領域から出力領域に移れば、放射線検出器１に印
加されるバイアス電圧は低下してバイアス電流が制限さ
れ、放射線検出器１の劣化が防止される。例えば、バイ
アス電圧２００Ｖでバイアス電流１０ｍＡが流れている
状態に、原子炉出力の上昇によりバイアス電流２０ｍＡ
が流れるところ、バイアス電圧を１００Ｖに下げてバイ
アス電流を１０ｍＡに制限している。そして、出力領域
にあっては、起動領域モニタとは別の出力領域モニタと
いう監視装置に原子炉出力の監視が移管される。
【０００８】このように起動領域及び出力領域ごとに各
監視装置が設けられるのは、監視領域の拡大及び他の監
視装置との重複監視を行って原子力発電の安全性を高め
ることにある。
監視装置が設けられるのは、監視領域の拡大及び他の監
視装置との重複監視を行って原子力発電の安全性を高め
ることにある。
【０００９】ところが、起動領域から出力領域に移った
とき放射線検出器１のバイアス電圧は制限され、原子炉
出力計算部８により求められる原子炉出力は図１０に示
すように実際の原子炉出力により低い値を示す。この場
合、出力領域モニタにより正確な原子炉出力が求めら
れ、原子炉の安全性には何等問題がないが、監視領域の
拡大及び重複監視の面から一層の安全性向上が要求さ
れ、出力領域にあっても正確に原子炉出力を求めること
が要求されている。
とき放射線検出器１のバイアス電圧は制限され、原子炉
出力計算部８により求められる原子炉出力は図１０に示
すように実際の原子炉出力により低い値を示す。この場
合、出力領域モニタにより正確な原子炉出力が求めら
れ、原子炉の安全性には何等問題がないが、監視領域の
拡大及び重複監視の面から一層の安全性向上が要求さ
れ、出力領域にあっても正確に原子炉出力を求めること
が要求されている。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】以上のように起動領域
から出力領域に移ると、放射線検出器１へのバイアス電
圧は制限されるので、実際の原子炉出力によりも低く求
められ、原子炉出力の監視を継続できない。
から出力領域に移ると、放射線検出器１へのバイアス電
圧は制限されるので、実際の原子炉出力によりも低く求
められ、原子炉出力の監視を継続できない。
【００１１】そこで本発明は、放射線検出器の劣化を防
止でき、そのうえバイアス電圧が制限されても原子炉出
力の監視を継続できる放射線監視装置を提供することを
目的とする。
止でき、そのうえバイアス電圧が制限されても原子炉出
力の監視を継続できる放射線監視装置を提供することを
目的とする。
【００１２】
【課題を解決するための手段】本発明は、原子炉炉心内
に配置されバイアス電圧が印加された放射線検出器の出
力信号を収集して原子炉出力を求め、この原子炉出力が
所定出力以上になった場合に放射線検出器のバイアス電
流を一定とするようにバイアス電圧を制限する放射線監
視装置において、
に配置されバイアス電圧が印加された放射線検出器の出
力信号を収集して原子炉出力を求め、この原子炉出力が
所定出力以上になった場合に放射線検出器のバイアス電
流を一定とするようにバイアス電圧を制限する放射線監
視装置において、
【００１３】予め放射線検出器のプラトー特性を記憶し
たプラトー特性記憶手段と、バイアス電圧に制限が加わ
った場合、プラトー特性に従って補正係数を求め、この
補正係数を用いて原子炉出力を補正演算する補正処理手
段とを備えて上記目的を達成しようとする放射線監視装
置である。
たプラトー特性記憶手段と、バイアス電圧に制限が加わ
った場合、プラトー特性に従って補正係数を求め、この
補正係数を用いて原子炉出力を補正演算する補正処理手
段とを備えて上記目的を達成しようとする放射線監視装
置である。
【００１４】
【作用】このような手段を備えたことにより、原子炉出
力が所定出力以上になった場合、放射線検出器のバイア
ス電流を一定とするようにバイアス電圧が制限される。
この場合、補正処理手段によってプラトー特性に従って
補正係数が求められ、この補正係数を用いて原子炉出力
が補正演算される。この結果、放射線検出器の劣化が防
止され、そのうえバイアス電圧が制限されても原子炉出
力の監視が継続される。
力が所定出力以上になった場合、放射線検出器のバイア
ス電流を一定とするようにバイアス電圧が制限される。
この場合、補正処理手段によってプラトー特性に従って
補正係数が求められ、この補正係数を用いて原子炉出力
が補正演算される。この結果、放射線検出器の劣化が防
止され、そのうえバイアス電圧が制限されても原子炉出
力の監視が継続される。
【００１５】
【実施例】以下、本発明の第１実施例について図面を参
照して説明する。なお、図８及び図９と同一部分には同
一符号を付してその詳しい説明は省略する。図１は原子
炉の起動領域モニタとして用いられる放射線監視装置の
構成図である。原子炉出力計算部１０にはプラトー測定
結果記憶部１１が接続されている。
照して説明する。なお、図８及び図９と同一部分には同
一符号を付してその詳しい説明は省略する。図１は原子
炉の起動領域モニタとして用いられる放射線監視装置の
構成図である。原子炉出力計算部１０にはプラトー測定
結果記憶部１１が接続されている。
【００１６】このプラトー測定結果記憶部１１には図２
に示す放射線検出器１のプラトー測定特性、つまりバイ
アス電圧を変化させたときの放射線検出器１の効率変化
を原子炉出力計算部１０で演算し求め、この演算結果を
プラトー測定特性として記憶している。このプラトー測
定特性は、例えばバイアス電圧２００Ｖのときの放射線
検出器１の感度変化を１．００と規格化し、これに対し
てバイアス電圧１００Ｖのときの放射線検出器１の感度
変化を補正係数１／０．５６として記憶している。図３
は原子炉出力に対する補正係数の関係を示している。
に示す放射線検出器１のプラトー測定特性、つまりバイ
アス電圧を変化させたときの放射線検出器１の効率変化
を原子炉出力計算部１０で演算し求め、この演算結果を
プラトー測定特性として記憶している。このプラトー測
定特性は、例えばバイアス電圧２００Ｖのときの放射線
検出器１の感度変化を１．００と規格化し、これに対し
てバイアス電圧１００Ｖのときの放射線検出器１の感度
変化を補正係数１／０．５６として記憶している。図３
は原子炉出力に対する補正係数の関係を示している。
【００１７】原子炉出力計算部１０は放射線検出器１の
バイアス電圧に制限が加わった場合、プラトー測定特性
に従って補正係数を求め、この補正係数を用いて原子炉
出力を補正演算する機能を有している。ところで、デー
タ収集部７、原子炉出力計算部１０及びトリップ判定出
力処理部９は実際には図４に示す構成となっている。
バイアス電圧に制限が加わった場合、プラトー測定特性
に従って補正係数を求め、この補正係数を用いて原子炉
出力を補正演算する機能を有している。ところで、デー
タ収集部７、原子炉出力計算部１０及びトリップ判定出
力処理部９は実際には図４に示す構成となっている。
【００１８】データ収集部７は波形整形回路７１、波高
弁別回路７２及び計数回路７３から構成されている。波
形整形回路７１は前置増幅器３からの電気信号を入力
し、その波形を微分、積分、増幅等を行って処理しやす
い波形に整形するものであり、波高弁別回路７２は波形
整形された信号を受けて放射線パルスによる波形とノイ
ズや低エネルギーの放射線による波形とを弁別して放射
線パルスによる波形を通過させるものである。計数回路
７３は波高弁別回路７２により弁別された放射線パルス
を計数するものである。
弁別回路７２及び計数回路７３から構成されている。波
形整形回路７１は前置増幅器３からの電気信号を入力
し、その波形を微分、積分、増幅等を行って処理しやす
い波形に整形するものであり、波高弁別回路７２は波形
整形された信号を受けて放射線パルスによる波形とノイ
ズや低エネルギーの放射線による波形とを弁別して放射
線パルスによる波形を通過させるものである。計数回路
７３は波高弁別回路７２により弁別された放射線パルス
を計数するものである。
【００１９】演算処理装置１０は、原子炉出力計算部１
０としての機能を有するもので、ＣＰＵ又はマイクロコ
ンピュータにより構成され、原子炉出力演算プログラム
及び補正プログラムを実行し、上記の如く原子炉出力や
放射線検出器１に入射した中性子束等を求め、かつバイ
アス電圧に制限が加わった場合、プラトー測定特性に従
って補正係数を求め、この補正係数を用いて原子炉出力
を補正演算する機能を有している。次に上記の如く構成
された装置の作用について説明する。
０としての機能を有するもので、ＣＰＵ又はマイクロコ
ンピュータにより構成され、原子炉出力演算プログラム
及び補正プログラムを実行し、上記の如く原子炉出力や
放射線検出器１に入射した中性子束等を求め、かつバイ
アス電圧に制限が加わった場合、プラトー測定特性に従
って補正係数を求め、この補正係数を用いて原子炉出力
を補正演算する機能を有している。次に上記の如く構成
された装置の作用について説明する。
【００２０】原子炉出力が起動領域にある場合、放射線
検出器１にはバイアス電源６から例えば２００Ｖのバイ
アス電圧が印加され、１０ｍＡのバイアス電流が流れ
る。この状態に放射線検出器１は放射線を検出し、その
放射線量に応じた電気信号を出力する。この電気信号は
カップリングコンデンサ２を通過し、前置増幅器３によ
り増幅されて波形整形回路７１に入力される。
検出器１にはバイアス電源６から例えば２００Ｖのバイ
アス電圧が印加され、１０ｍＡのバイアス電流が流れ
る。この状態に放射線検出器１は放射線を検出し、その
放射線量に応じた電気信号を出力する。この電気信号は
カップリングコンデンサ２を通過し、前置増幅器３によ
り増幅されて波形整形回路７１に入力される。
【００２１】この波形整形回路７１は前置増幅器３から
の電気信号を入力し、その波形に対して微分、積分、増
幅等を行って処理しやすい波形に整形する。波高弁別回
路７２は波形整形された信号を受けて放射線パルスによ
る波形とノイズや低エネルギーの放射線による波形とを
弁別し、放射線パルスによる波形を通過させる。計数回
路７３は波高弁別回路７２により弁別された放射線パル
スを入力して計数する。
の電気信号を入力し、その波形に対して微分、積分、増
幅等を行って処理しやすい波形に整形する。波高弁別回
路７２は波形整形された信号を受けて放射線パルスによ
る波形とノイズや低エネルギーの放射線による波形とを
弁別し、放射線パルスによる波形を通過させる。計数回
路７３は波高弁別回路７２により弁別された放射線パル
スを入力して計数する。
【００２２】演算処理装置１０は、計数回路７３の計数
値を受け、放射線検出器１に入射した放射線の強度から
原子炉出力を求めるとともに放射線検出器１に入射した
中性子束等を求める。そして、トリップ判定出力処理部
９は原子炉出力計算部８により求められた原子炉出力等
を受けてレコーダに記録すると共に指示計に指示し、か
つ原子炉出力等が所定の条件を満たしていない場合に警
報を発する。
値を受け、放射線検出器１に入射した放射線の強度から
原子炉出力を求めるとともに放射線検出器１に入射した
中性子束等を求める。そして、トリップ判定出力処理部
９は原子炉出力計算部８により求められた原子炉出力等
を受けてレコーダに記録すると共に指示計に指示し、か
つ原子炉出力等が所定の条件を満たしていない場合に警
報を発する。
【００２３】原子炉出力が起動領域から出力領域に移る
と、演算処理装置１０はバイアス電源６の出力電圧を制
限し、放射線検出器１に印加するバイアス電圧を低下し
てバイアス電流を制限する。例えば、バイアス電圧２０
０Ｖでバイアス電流１０ｍＡが流れている状態に、原子
炉出力が上昇すると、放射線検出器１の感度効率は図２
に示すプラトー特性に従って高くなり、バイアス電圧２
００Ｖでバイアス電流２０ｍＡが流れるようになる。こ
のため、演算処理装置１０はバイアス電源６によるバイ
アス電圧を１００Ｖに下げてバイアス電流を１０ｍＡに
制限する。そして、原子炉出力が上昇するに従って、放
射線検出器１のバイアス電圧は図５に示すようにバイア
ス電圧ｖ１、ｖ２、…ｖ４と低下する。
と、演算処理装置１０はバイアス電源６の出力電圧を制
限し、放射線検出器１に印加するバイアス電圧を低下し
てバイアス電流を制限する。例えば、バイアス電圧２０
０Ｖでバイアス電流１０ｍＡが流れている状態に、原子
炉出力が上昇すると、放射線検出器１の感度効率は図２
に示すプラトー特性に従って高くなり、バイアス電圧２
００Ｖでバイアス電流２０ｍＡが流れるようになる。こ
のため、演算処理装置１０はバイアス電源６によるバイ
アス電圧を１００Ｖに下げてバイアス電流を１０ｍＡに
制限する。そして、原子炉出力が上昇するに従って、放
射線検出器１のバイアス電圧は図５に示すようにバイア
ス電圧ｖ１、ｖ２、…ｖ４と低下する。
【００２４】このとき、演算処理装置１０は放射線検出
器１のバイアス電圧に応じた補正係数をプラトー測定特
性に従って求め、この補正係数を用いて原子炉出力を補
正演算する。例えば、原子炉出力１００％付近におい
て、バイアス電圧が２００Ｖから１００Ｖに低下し、原
子炉の測定出力が５５％となった場合、上記の如くバイ
アス電圧１００Ｖのときの放射線検出器１の感度変化を
補正係数１／０．５６としているので、測定出力５５％
に補正係数１／０．５６を乗算し、補正した原子炉の測
定出力９８％を求める。この結果、演算処理装置１０に
より補正し求められた原子炉の測定出力は、図６に示す
ように真の原子炉出力に近似した値を示す。
器１のバイアス電圧に応じた補正係数をプラトー測定特
性に従って求め、この補正係数を用いて原子炉出力を補
正演算する。例えば、原子炉出力１００％付近におい
て、バイアス電圧が２００Ｖから１００Ｖに低下し、原
子炉の測定出力が５５％となった場合、上記の如くバイ
アス電圧１００Ｖのときの放射線検出器１の感度変化を
補正係数１／０．５６としているので、測定出力５５％
に補正係数１／０．５６を乗算し、補正した原子炉の測
定出力９８％を求める。この結果、演算処理装置１０に
より補正し求められた原子炉の測定出力は、図６に示す
ように真の原子炉出力に近似した値を示す。
【００２５】このように上記第１実施例によれば、出力
領域において放射線検出器１へのバイアス電圧を制限し
て放射線検出器１の劣化を防止でき、このバイアス電圧
の制限があっても起動領域モニタ用の放射線検出器１を
用いて原子炉出力を正確に求めることができ、原子炉出
力の監視を継続できる。従って、監視領域の拡大及び重
複監視の面における安全性を確保できる。
領域において放射線検出器１へのバイアス電圧を制限し
て放射線検出器１の劣化を防止でき、このバイアス電圧
の制限があっても起動領域モニタ用の放射線検出器１を
用いて原子炉出力を正確に求めることができ、原子炉出
力の監視を継続できる。従って、監視領域の拡大及び重
複監視の面における安全性を確保できる。
【００２６】次に本発明の第２実施例について図７に示
す起動領域モニタ用の放射線監視装置の構成図を参照し
て説明する。なお、図１と同一部分には同一符号を付し
てその詳しい説明は省略し、異なるところを説明する。
す起動領域モニタ用の放射線監視装置の構成図を参照し
て説明する。なお、図１と同一部分には同一符号を付し
てその詳しい説明は省略し、異なるところを説明する。
【００２７】この放射線監視装置は、放射線検出器１か
らの電気信号の交流成分の二乗平均電圧を測定して放射
線検出器１に入射した放射線の強度を求めるキャンベル
法を採用したものである。前置増幅器３の出力端子に対
してフィルタ増幅器８１を介して二乗平均回路８２が接
続され、この二乗平均回路８２にＡＤ変換回路８３を介
して演算処理装置１０が接続されている。
らの電気信号の交流成分の二乗平均電圧を測定して放射
線検出器１に入射した放射線の強度を求めるキャンベル
法を採用したものである。前置増幅器３の出力端子に対
してフィルタ増幅器８１を介して二乗平均回路８２が接
続され、この二乗平均回路８２にＡＤ変換回路８３を介
して演算処理装置１０が接続されている。
【００２８】フィルタ増幅器８１はキャンベル法を適用
するための帯域制限フィルタ及び増幅器からなり、二乗
平均回路８２はフィルタ増幅器８１の出力を二乗平均処
理して実効電圧を求める機能を有している。
するための帯域制限フィルタ及び増幅器からなり、二乗
平均回路８２はフィルタ増幅器８１の出力を二乗平均処
理して実効電圧を求める機能を有している。
【００２９】かかる構成であれば、前置増幅器３により
増幅された放射線検出器１からの電気信号はフィルタ増
幅器８１を通って二乗平均回路８２に入力する。この二
乗平均回路８２は電気信号の交流成分の二乗平均処理し
て実効電圧を求めて出力する。そして、この実効電圧は
Ａ／Ｄ変換回路８３でディジタル化されて演算処理装置
１０に送られる。
増幅された放射線検出器１からの電気信号はフィルタ増
幅器８１を通って二乗平均回路８２に入力する。この二
乗平均回路８２は電気信号の交流成分の二乗平均処理し
て実効電圧を求めて出力する。そして、この実効電圧は
Ａ／Ｄ変換回路８３でディジタル化されて演算処理装置
１０に送られる。
【００３０】この演算処理装置１０は上記同様にディジ
タルの実効電圧を受けて放射線検出器１に入射した放射
線の強さから原子炉出力を求めるとともに放射線検出器
１に入射した中性子束等を求める。又、原子炉出力が起
動領域から出力領域に移ると、演算処理装置１０は放射
線検出器１のバイアス電圧に応じた補正係数をプラトー
測定特性に従って求め、この補正係数を用いて原子炉出
力を補正演算する。このように上記第２実施例によれ
ば、上記第１実施例と同様の効果を奏することは言うま
でもない。なお、本発明は上記各実施例に限定されるも
のでなくその要旨を変更しない範囲で変形してもよい。
タルの実効電圧を受けて放射線検出器１に入射した放射
線の強さから原子炉出力を求めるとともに放射線検出器
１に入射した中性子束等を求める。又、原子炉出力が起
動領域から出力領域に移ると、演算処理装置１０は放射
線検出器１のバイアス電圧に応じた補正係数をプラトー
測定特性に従って求め、この補正係数を用いて原子炉出
力を補正演算する。このように上記第２実施例によれ
ば、上記第１実施例と同様の効果を奏することは言うま
でもない。なお、本発明は上記各実施例に限定されるも
のでなくその要旨を変更しない範囲で変形してもよい。
【００３１】
【発明の効果】以上詳記したように本発明によれば、放
射線検出器の劣化を防止でき、そのうえバイアス電圧が
制限されても原子炉出力の監視を継続できる放射線監視
装置を提供できる。
射線検出器の劣化を防止でき、そのうえバイアス電圧が
制限されても原子炉出力の監視を継続できる放射線監視
装置を提供できる。
【図１】本発明に係わる放射線監視装置の第１実施例を
示す構成図。
示す構成図。
【図２】同装置における放射線検出器のプラトー測定特
性を示す図。
性を示す図。
【図３】同装置における原子炉出力の補正係数を示す
図。
図。
【図４】同装置の具体的な構成図。
【図５】同装置における出力領域のバイアス電圧変化を
示す図。
示す図。
【図６】同装置により求めた原子炉出力の結果を示す
図。
図。
【図７】本発明に係わる放射線監視装置の第２実施例を
示す構成図。
示す構成図。
【図８】従来装置の構成図。
【図９】同装置の信号処理回路の具体的な構成図。
【図１０】同装置により求めた原子炉出力の結果を示す
図。
図。
１…放射線検出器、３…前置増幅器、６…バイアス電
源、７…データ収集部、９…トリップ判定出力処理部、
１０…原子炉出力計算部、１１…プラトー測定結果記憶
部、７１…波形整形回路、７２…波高弁別回路、７３…
計数回路、８１…フィルタ増幅器、８２…二乗平均回
路、８３…ＡＤ変換回路。
源、７…データ収集部、９…トリップ判定出力処理部、
１０…原子炉出力計算部、１１…プラトー測定結果記憶
部、７１…波形整形回路、７２…波高弁別回路、７３…
計数回路、８１…フィルタ増幅器、８２…二乗平均回
路、８３…ＡＤ変換回路。
Claims (1)
- 【請求項１】 原子炉炉心内に配置されバイアス電圧が
印加された放射線検出器の出力信号を収集して前記原子
炉出力を求め、この原子炉出力が所定出力以上になった
場合に前記放射線検出器のバイアス電流を一定とするよ
うに前記バイアス電圧を制限する放射線監視装置におい
て、 予め前記放射線検出器のプラトー特性を記憶したプラト
ー特性記憶手段と、前記バイアス電圧に制限が加わった
場合、前記プラトー特性に従って補正係数を求め、この
補正係数を用いて前記原子炉出力を補正演算する補正処
理手段とを具備したことを特徴とする放射線監視装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP04043432A JP3085770B2 (ja) | 1992-02-28 | 1992-02-28 | 放射線監視装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP04043432A JP3085770B2 (ja) | 1992-02-28 | 1992-02-28 | 放射線監視装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05240995A JPH05240995A (ja) | 1993-09-21 |
| JP3085770B2 true JP3085770B2 (ja) | 2000-09-11 |
Family
ID=12663540
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP04043432A Expired - Fee Related JP3085770B2 (ja) | 1992-02-28 | 1992-02-28 | 放射線監視装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3085770B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4334256B2 (ja) * | 2003-03-26 | 2009-09-30 | 株式会社東芝 | 放射線出力監視装置 |
-
1992
- 1992-02-28 JP JP04043432A patent/JP3085770B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05240995A (ja) | 1993-09-21 |
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Legal Events
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