JPH07181235A - 回路基板試験システム - Google Patents
回路基板試験システムInfo
- Publication number
- JPH07181235A JPH07181235A JP6270720A JP27072094A JPH07181235A JP H07181235 A JPH07181235 A JP H07181235A JP 6270720 A JP6270720 A JP 6270720A JP 27072094 A JP27072094 A JP 27072094A JP H07181235 A JPH07181235 A JP H07181235A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit board
- test
- credit
- pay
- per
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G07—CHECKING-DEVICES
- G07F—COIN-FREED OR LIKE APPARATUS
- G07F7/00—Mechanisms actuated by objects other than coins to free or to actuate vending, hiring, coin or paper currency dispensing or refunding apparatus
- G07F7/02—Mechanisms actuated by objects other than coins to free or to actuate vending, hiring, coin or paper currency dispensing or refunding apparatus by keys or other credit registering devices
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
- G01R31/2806—Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/30—Monitoring
- G06F11/34—Recording or statistical evaluation of computer activity, e.g. of down time, of input/output operation ; Recording or statistical evaluation of user activity, e.g. usability assessment
- G06F11/3438—Recording or statistical evaluation of computer activity, e.g. of down time, of input/output operation ; Recording or statistical evaluation of user activity, e.g. usability assessment monitoring of user actions
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06Q—INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGY [ICT] SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL OR SUPERVISORY PURPOSES; SYSTEMS OR METHODS SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL OR SUPERVISORY PURPOSES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G06Q20/00—Payment architectures, schemes or protocols
- G06Q20/30—Payment architectures, schemes or protocols characterised by the use of specific devices or networks
- G06Q20/34—Payment architectures, schemes or protocols characterised by the use of specific devices or networks using cards, e.g. integrated circuit [IC] cards or magnetic cards
- G06Q20/343—Cards including a counter
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06Q—INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGY [ICT] SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL OR SUPERVISORY PURPOSES; SYSTEMS OR METHODS SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL OR SUPERVISORY PURPOSES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G06Q30/00—Commerce
- G06Q30/02—Marketing; Price estimation or determination; Fundraising
- G06Q30/0283—Price estimation or determination
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06Q—INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGY [ICT] SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL OR SUPERVISORY PURPOSES; SYSTEMS OR METHODS SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL OR SUPERVISORY PURPOSES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G06Q30/00—Commerce
- G06Q30/04—Billing or invoicing
-
- G—PHYSICS
- G07—CHECKING-DEVICES
- G07F—COIN-FREED OR LIKE APPARATUS
- G07F17/00—Coin-freed apparatus for hiring articles; Coin-freed facilities or services
-
- G—PHYSICS
- G07—CHECKING-DEVICES
- G07F—COIN-FREED OR LIKE APPARATUS
- G07F17/00—Coin-freed apparatus for hiring articles; Coin-freed facilities or services
- G07F17/0014—Coin-freed apparatus for hiring articles; Coin-freed facilities or services for vending, access and use of specific services not covered anywhere else in G07F17/00
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F2201/00—Indexing scheme relating to error detection, to error correction, and to monitoring
- G06F2201/88—Monitoring involving counting
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Business, Economics & Management (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Development Economics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Accounting & Taxation (AREA)
- Strategic Management (AREA)
- General Business, Economics & Management (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Finance (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Economics (AREA)
- Marketing (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Entrepreneurship & Innovation (AREA)
- Game Theory and Decision Science (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】高価な回路基板テスターを購入する関連コスト
を負うことなく、回路基板テスターの多重の電子試験能
力にアクセスすることのできるシステムおよび方法を提
供する。 【構成】本発明の一実施例によれば、多重電子試験能力
を有する回路基板試験プラットフォームと、該回路基板
試験プラットフォームに結合された使用払いモジュール
とを備えた電子回路試験システムが提供される。使用払
いモジュールは、回路基板試験プラットフォームの多重
電子試験能力の使用を監視し、該多重電子試験能力の使
用に基づいて使用クレジット・プールから使用クレジッ
ト高を借方記入する。
を負うことなく、回路基板テスターの多重の電子試験能
力にアクセスすることのできるシステムおよび方法を提
供する。 【構成】本発明の一実施例によれば、多重電子試験能力
を有する回路基板試験プラットフォームと、該回路基板
試験プラットフォームに結合された使用払いモジュール
とを備えた電子回路試験システムが提供される。使用払
いモジュールは、回路基板試験プラットフォームの多重
電子試験能力の使用を監視し、該多重電子試験能力の使
用に基づいて使用クレジット・プールから使用クレジッ
ト高を借方記入する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は電子回路基板試験に関
し、特に回路基板テスターへのアクセスを制御するため
の使用払い方式のシステムと方法に関する。
し、特に回路基板テスターへのアクセスを制御するため
の使用払い方式のシステムと方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般に、所与の回路基板はマイクロプロ
セッサ、メモリ・チップ、カウンタ・チップ、制御チッ
プ、アナログ部品等のような相互接続された多数の半導
体チップから構成されている。回路基板の組み立てが終
了した後で、しかも、これらを組立て中の製品に使用す
る、あるいは、取付ける前に、これらの回路基板は、必
要な全ての電気接続が適正に完了し必要な全ての電気部
品が適正な位置と適正な向きに実装されたことを確認す
るために試験しなければならない。試験をする別の理由
としては、適正な部品が使用されているか否かを判定
し、確認することがある。更に、各部品が適正に（すな
わち仕様通りに）動作するか否かを判定する必要があ
る。電気部品によっては更に取付け後に調整を必要とす
るものもある。
セッサ、メモリ・チップ、カウンタ・チップ、制御チッ
プ、アナログ部品等のような相互接続された多数の半導
体チップから構成されている。回路基板の組み立てが終
了した後で、しかも、これらを組立て中の製品に使用す
る、あるいは、取付ける前に、これらの回路基板は、必
要な全ての電気接続が適正に完了し必要な全ての電気部
品が適正な位置と適正な向きに実装されたことを確認す
るために試験しなければならない。試験をする別の理由
としては、適正な部品が使用されているか否かを判定
し、確認することがある。更に、各部品が適正に（すな
わち仕様通りに）動作するか否かを判定する必要があ
る。電気部品によっては更に取付け後に調整を必要とす
るものもある。
【０００３】自動回路基板試験は回路基板試験装置を使
用して実施される。回路基板試験装置は従来から公知で
ある。例えば、公知の回路基板試験装置にはヒューレッ
ト・パッカード社のモデルＨＰ−３０７５回路基板テス
ターがある。例えばＨＰ−３０７５は回路基板の部品を
計測するために所定の回路基板の種々のピンを同時に、
選択的に接続することができるピン（ピンの数は回路基
板の構造によって左右される）を有している。ＨＰ−３
０７５はヒューレット・パッカード社から市販されてい
るＨＰ３０７０ファミリーの操作・サービス・マニュア
ルに詳細に記載されている。
用して実施される。回路基板試験装置は従来から公知で
ある。例えば、公知の回路基板試験装置にはヒューレッ
ト・パッカード社のモデルＨＰ−３０７５回路基板テス
ターがある。例えばＨＰ−３０７５は回路基板の部品を
計測するために所定の回路基板の種々のピンを同時に、
選択的に接続することができるピン（ピンの数は回路基
板の構造によって左右される）を有している。ＨＰ−３
０７５はヒューレット・パッカード社から市販されてい
るＨＰ３０７０ファミリーの操作・サービス・マニュア
ルに詳細に記載されている。
【０００４】多様な別の回路基板テスターも市販されて
いる。使用される回路基板テスターの種類は回路基板で
試験しなければならない試験の種類に左右される。例え
ば、ＨＰ−３０７２Ｕ回路基板テスターはアナログ回路
基板での簡単なアナログ試験、又はＨＰTestJet ソフト
ウェアを使用したＳＭＴオープン試験に使用される。標
準のインサーキット・アナログ試験、簡単なディジタル
・インサーキット試験、又はアナログ機能試験を要する
試験にはＨＰ３０７２Ｐ回路基板テスターが必要であ
る。より複雑なディジタル・インサーキット試験が必要
である場合は、付加的なHybridPlus-6カードと、付加的
なインサーキット・ソフトウェアを備えたＨＰ３０７３
回路基板テスターが必要である。最後に、標準のインサ
ーキット・アナログ及びディジタル試験、アナログ機能
試験、ディジタル・バックトレーシング、故障辞書試験
及びタイミング・セット試験が必要である場合は、Hybr
idPlus-6カードと、組合せソフトウェアが使用される。
上記の回路基板テスターは全てカリフォルニア州パロア
ルトのヒューレット・パッカード社から市販されてい
る。
いる。使用される回路基板テスターの種類は回路基板で
試験しなければならない試験の種類に左右される。例え
ば、ＨＰ−３０７２Ｕ回路基板テスターはアナログ回路
基板での簡単なアナログ試験、又はＨＰTestJet ソフト
ウェアを使用したＳＭＴオープン試験に使用される。標
準のインサーキット・アナログ試験、簡単なディジタル
・インサーキット試験、又はアナログ機能試験を要する
試験にはＨＰ３０７２Ｐ回路基板テスターが必要であ
る。より複雑なディジタル・インサーキット試験が必要
である場合は、付加的なHybridPlus-6カードと、付加的
なインサーキット・ソフトウェアを備えたＨＰ３０７３
回路基板テスターが必要である。最後に、標準のインサ
ーキット・アナログ及びディジタル試験、アナログ機能
試験、ディジタル・バックトレーシング、故障辞書試験
及びタイミング・セット試験が必要である場合は、Hybr
idPlus-6カードと、組合せソフトウェアが使用される。
上記の回路基板テスターは全てカリフォルニア州パロア
ルトのヒューレット・パッカード社から市販されてい
る。
【０００５】特定の回路基板テスターのコストはそれが
実行できる試験の種類に左右される。異なる回路基板の
種類には異なる試験能力が必要になる。多くの異なる回
路基板の製造と試験に携わるメーカーでは特定の種類の
回路基板に必要であるよりも大幅に多くの能力が必要で
ある。従って、全てが最も複雑な試験を実施できる回路
基板テスターの在庫を維持することはコストの効率が悪
くなる。
実行できる試験の種類に左右される。異なる回路基板の
種類には異なる試験能力が必要になる。多くの異なる回
路基板の製造と試験に携わるメーカーでは特定の種類の
回路基板に必要であるよりも大幅に多くの能力が必要で
ある。従って、全てが最も複雑な試験を実施できる回路
基板テスターの在庫を維持することはコストの効率が悪
くなる。
【０００６】回路基板の製造及び試験業界は極めて競合
している。会社が競争力をつけるには最も効率的な方法
で試験資源を活用しなければならない。製造フロアーに
設置されているが、めったに使用されない装置に投資す
ることは資源の有効利用とは言えない。更に、試験能力
がないために営業チャンスを逃してしまえば、新たなチ
ャンスは訪れない。
している。会社が競争力をつけるには最も効率的な方法
で試験資源を活用しなければならない。製造フロアーに
設置されているが、めったに使用されない装置に投資す
ることは資源の有効利用とは言えない。更に、試験能力
がないために営業チャンスを逃してしまえば、新たなチ
ャンスは訪れない。
【０００７】そのため多くのメーカーは回路基板試験ハ
ードウェアに関して態度を決めかねている。メーカーと
しては、所定時間で複雑な試験を実施し、又は最大範囲
の顧客にアピールするためには完全な組合せテスターの
機能性（例えばＨＰ３０７５の機能性）を備えたい。同
時に、完全な組合せテスターに資本投資する余裕がない
場合も多い。例えば、契約メーカーでは１０の顧客企業
のうち、組合せ試験能力を必要とするのは一社だけであ
る場合がある。残りの９社はその企業の回路基板を試験
するのにインサーキット試験の機能性しか必要としな
い。契約メーカーは１０の顧客の全ての要望に対応した
いが、より複雑な試験レベルを必要とするのが１０％だ
けである場合は、組合せテスターのコストは割りに合わ
ない。
ードウェアに関して態度を決めかねている。メーカーと
しては、所定時間で複雑な試験を実施し、又は最大範囲
の顧客にアピールするためには完全な組合せテスターの
機能性（例えばＨＰ３０７５の機能性）を備えたい。同
時に、完全な組合せテスターに資本投資する余裕がない
場合も多い。例えば、契約メーカーでは１０の顧客企業
のうち、組合せ試験能力を必要とするのは一社だけであ
る場合がある。残りの９社はその企業の回路基板を試験
するのにインサーキット試験の機能性しか必要としな
い。契約メーカーは１０の顧客の全ての要望に対応した
いが、より複雑な試験レベルを必要とするのが１０％だ
けである場合は、組合せテスターのコストは割りに合わ
ない。
【０００８】従来の解決方法は特定の回路基板試験シス
テムに対する性能対価格比に焦点をあてるものであっ
た。このような解決方法では、回路基板試験システムの
性能と価格のいずれかを特定の市場需要に適応するよう
に調整する。これは優れた“ポイント”方式の解決方法
である。しかし、今日の電子メーカーは広範囲の製造技
術を利用した広範囲の複雑さを以て製造された回路基板
の広範囲の故障に直面している。ポイント方式の解決方
法はこのようなニーズに適応するには適していない。ポ
イント方式の解決方法では、同類ではあるが同一ではな
い試験装置が重複し、複数の専門業者や、複数の熟練
や、複数のサービス及び支援業者を必要とし、これらの
全てによって試験のコストが高くなる。従って、メーカ
ーが高価な回路基板テスターを購入する関連コストを負
うことなく、回路基板テスターの多重の電子試験能力に
アクセスできるシステムに対する需要がある。
テムに対する性能対価格比に焦点をあてるものであっ
た。このような解決方法では、回路基板試験システムの
性能と価格のいずれかを特定の市場需要に適応するよう
に調整する。これは優れた“ポイント”方式の解決方法
である。しかし、今日の電子メーカーは広範囲の製造技
術を利用した広範囲の複雑さを以て製造された回路基板
の広範囲の故障に直面している。ポイント方式の解決方
法はこのようなニーズに適応するには適していない。ポ
イント方式の解決方法では、同類ではあるが同一ではな
い試験装置が重複し、複数の専門業者や、複数の熟練
や、複数のサービス及び支援業者を必要とし、これらの
全てによって試験のコストが高くなる。従って、メーカ
ーが高価な回路基板テスターを購入する関連コストを負
うことなく、回路基板テスターの多重の電子試験能力に
アクセスできるシステムに対する需要がある。
【０００９】
【発明の目的】本発明は、高価な回路基板テスターを購
入する関連コストを負うことなく、回路基板テスターの
多重の電子試験能力にアクセスすることのできるシステ
ムおよび方法を提供する。
入する関連コストを負うことなく、回路基板テスターの
多重の電子試験能力にアクセスすることのできるシステ
ムおよび方法を提供する。
【００１０】
【発明の概要】本発明は単一の回路基板テスターの多重
の試験能力へのアクセスを制御するようにされた使用払
い方式の回路基板試験システム１００を提供するもので
ある。使用払いアクセス・モジュールによってハードウ
ェアの機能性をソフトウェア制御することが可能にな
る。
の試験能力へのアクセスを制御するようにされた使用払
い方式の回路基板試験システム１００を提供するもので
ある。使用払いアクセス・モジュールによってハードウ
ェアの機能性をソフトウェア制御することが可能にな
る。
【００１１】使用払い方式のアクセス・モジュールは回
路基板の初期状態設定の時点で幾つかのチェックを行
う。これらのチェックは、回路基板試験システムのテス
トヘッドが使用払いモードで動作されるべきであるか否
か、又、必要なハードウェアの全てが回路基板テスター
にあるか否かを判定するものである。回路基板が装填さ
れると、利用される回路基板の試験能力に応じて使用料
が決められる。システムの基本能力だけが利用される場
合は、使用料はゼロとなる。回路基板試験区分の開始が
検知され、使用クレジット・プールに未だ利用できる使
用クレジットがあるものと判定されると、タイマーが始
動する。回路基板区分の終了が検知されると、タイマー
は停止され、利用できる使用クレジット・プールが相応
に差し引かれる。タイマーは、テスターが実際に試験を
実行していないものと判定された場合（すなわち、回路
基板の取り外し、又はオペレータによる手動的な介在が
あった場合）にも停止される。
路基板の初期状態設定の時点で幾つかのチェックを行
う。これらのチェックは、回路基板試験システムのテス
トヘッドが使用払いモードで動作されるべきであるか否
か、又、必要なハードウェアの全てが回路基板テスター
にあるか否かを判定するものである。回路基板が装填さ
れると、利用される回路基板の試験能力に応じて使用料
が決められる。システムの基本能力だけが利用される場
合は、使用料はゼロとなる。回路基板試験区分の開始が
検知され、使用クレジット・プールに未だ利用できる使
用クレジットがあるものと判定されると、タイマーが始
動する。回路基板区分の終了が検知されると、タイマー
は停止され、利用できる使用クレジット・プールが相応
に差し引かれる。タイマーは、テスターが実際に試験を
実行していないものと判定された場合（すなわち、回路
基板の取り外し、又はオペレータによる手動的な介在が
あった場合）にも停止される。
【００１２】ユーザーは使用クレジットの差引残高が少
ないことを警告するために３レベルのアラームを設定で
きる。発されるアラームは切迫の度合いによってレベル
が上がってゆく。（状態、警告、緊要）ユーザーは各ア
ラーム・レベルに応じてクレジットの差引残高（もしく
は残りの試験時間を判断する。）利用できる使用クレジ
ット・プールが空になると、緊要レベルで第４のアラー
ムが発され、それ以上の回路基板の試験開始はできなく
なる。
ないことを警告するために３レベルのアラームを設定で
きる。発されるアラームは切迫の度合いによってレベル
が上がってゆく。（状態、警告、緊要）ユーザーは各ア
ラーム・レベルに応じてクレジットの差引残高（もしく
は残りの試験時間を判断する。）利用できる使用クレジ
ット・プールが空になると、緊要レベルで第４のアラー
ムが発され、それ以上の回路基板の試験開始はできなく
なる。
【００１３】回路基板試験の実施中、実施中の試験の料
金レベルと，消費された使用クレジットに関する統計が
記録される。この情報はユーザーがリポート形式で入手
できる。
金レベルと，消費された使用クレジットに関する統計が
記録される。この情報はユーザーがリポート形式で入手
できる。
【００１４】使用払いアクセスによって電子メーカーは
低性能の初期価格で高性能の試験ハードウェアを買うこ
とができる。増強された性能が必要である場合だけ、メ
ーカーにはその能力に対する料金請求がなされる。単一
の試験プラットフォームを保持するだけで、電子メーカ
ーは、ハードウェアとソフトウェアの契約負担額を低減
し、全ての試験技師に一貫した訓練を行えばよく、試験
オペレータの操作手順を規準化してその幾つかを指定す
ればよいので、試験全体のコストを節減できる。
低性能の初期価格で高性能の試験ハードウェアを買うこ
とができる。増強された性能が必要である場合だけ、メ
ーカーにはその能力に対する料金請求がなされる。単一
の試験プラットフォームを保持するだけで、電子メーカ
ーは、ハードウェアとソフトウェアの契約負担額を低減
し、全ての試験技師に一貫した訓練を行えばよく、試験
オペレータの操作手順を規準化してその幾つかを指定す
ればよいので、試験全体のコストを節減できる。
【００１５】
【実施例】図１を参照すると、本発明は単一の回路基板
テスターの多重の試験能力へのアクセスを制御するよう
にされた使用払い回路基板試験システム１００を提供す
るものである。推奨実施例で使用される回路基板テスタ
ーはＨＰ３０７５回路基板テスターである。ＨＰ３０７
５回路基板テスターによって、例えば標準のインサーキ
ット・ディジタル及びアナログ試験、アナログ機能試
験、サービス・マウント技術（ＳＭＴ）オープン試験、
ディジタル・バックトレーシング、故障辞書試験、及び
タイミング設定試験を行うことができる。この種類の回
路基板テスターは組合せテスターと呼ばれている。
テスターの多重の試験能力へのアクセスを制御するよう
にされた使用払い回路基板試験システム１００を提供す
るものである。推奨実施例で使用される回路基板テスタ
ーはＨＰ３０７５回路基板テスターである。ＨＰ３０７
５回路基板テスターによって、例えば標準のインサーキ
ット・ディジタル及びアナログ試験、アナログ機能試
験、サービス・マウント技術（ＳＭＴ）オープン試験、
ディジタル・バックトレーシング、故障辞書試験、及び
タイミング設定試験を行うことができる。この種類の回
路基板テスターは組合せテスターと呼ばれている。
【００１６】本発明を使用すると利点が得られるメーカ
ーには幾つかのタイプがある。一つのタイプは自社用の
回路基板を製造し、試験する回路基板メーカーである。
別のタイプは、回路基板を製造する企業のために回路基
板試験を実施する契約による試験業者である。更に別の
タイプは、別の企業のために回路基板の製造と試験を行
う契約メーカーである。これらのタイプのメーカーは以
下では全般的にメーカーという用語で呼ばれる。
ーには幾つかのタイプがある。一つのタイプは自社用の
回路基板を製造し、試験する回路基板メーカーである。
別のタイプは、回路基板を製造する企業のために回路基
板試験を実施する契約による試験業者である。更に別の
タイプは、別の企業のために回路基板の製造と試験を行
う契約メーカーである。これらのタイプのメーカーは以
下では全般的にメーカーという用語で呼ばれる。
【００１７】本発明は組合せテスター・ハードウェアと
組み合わせたソフトウェア・インタフェースを提供する
ものである。すなわち、本発明の使用払いシステムは単
一の試験プラットフォームとインタフェースされる。こ
のシステムは使用クレジットのプールを管理することに
よって単一の試験プラットフォームの多重の試験能力へ
のアクセスを制御する。使用払いシステムは多重の試験
能力の使用状態を監視し、且つ前記多重の電子試験能力
の使用状態に基づいて使用クレジット・プールから使用
クレジット高を借方記入するようにされている。
組み合わせたソフトウェア・インタフェースを提供する
ものである。すなわち、本発明の使用払いシステムは単
一の試験プラットフォームとインタフェースされる。こ
のシステムは使用クレジットのプールを管理することに
よって単一の試験プラットフォームの多重の試験能力へ
のアクセスを制御する。使用払いシステムは多重の試験
能力の使用状態を監視し、且つ前記多重の電子試験能力
の使用状態に基づいて使用クレジット・プールから使用
クレジット高を借方記入するようにされている。
【００１８】すなわち、メーカーは例えば組合せ回路基
板テスター（すなわち多重の能力を備えたテスター）と
使用クレジット・プールを購入する。しかし、組合せ回
路基板テスターは追加料金なしでは、低レベルの能力
（例えば標準の非出力試験やＳＭＴオープン試験）への
アクセスだけが可能であるようにされている。すなわ
ち、メーカーは組合せ試験の低レベルの試験能力だけを
使用することに制限されている。しかし、クレジット・
プール内の使用クレジットの借方記入すると、ユーザー
はより高レベルの能力にアクセスできる。（例えばメー
カーは限定出力試験、インサーキット試験及び組合せ試
験能力にアクセスできる。）使用クレジット・プールに
は回路基板試験が利用した最高レベルの試験機能に対応
する使用料が借方記入される。使用クレジットには、回
路基板テスターによって試験が実施される毎に借方記入
される。
板テスター（すなわち多重の能力を備えたテスター）と
使用クレジット・プールを購入する。しかし、組合せ回
路基板テスターは追加料金なしでは、低レベルの能力
（例えば標準の非出力試験やＳＭＴオープン試験）への
アクセスだけが可能であるようにされている。すなわ
ち、メーカーは組合せ試験の低レベルの試験能力だけを
使用することに制限されている。しかし、クレジット・
プール内の使用クレジットの借方記入すると、ユーザー
はより高レベルの能力にアクセスできる。（例えばメー
カーは限定出力試験、インサーキット試験及び組合せ試
験能力にアクセスできる。）使用クレジット・プールに
は回路基板試験が利用した最高レベルの試験機能に対応
する使用料が借方記入される。使用クレジットには、回
路基板テスターによって試験が実施される毎に借方記入
される。
【００１９】推奨実施例はヒューレット・パッカード社
が製造販売している回路基板試験装置を使用している
が、本発明はどの種類の回路基板テスターにも利用でき
ることが専門家には理解されよう。更に、本発明は一つ
のレベル以上の機能性を有する任意のハードウェア／プ
ラットフォーム・ソフトウェア・パッケージに利用でき
る。
が製造販売している回路基板試験装置を使用している
が、本発明はどの種類の回路基板テスターにも利用でき
ることが専門家には理解されよう。更に、本発明は一つ
のレベル以上の機能性を有する任意のハードウェア／プ
ラットフォーム・ソフトウェア・パッケージに利用でき
る。
【００２０】図１は本発明に従って動作する回路基板テ
スターの大幅に概略化した図面を示している。プリント
回路基板１１０は複数の部品リード線を介して複数の導
体１４０に接続されて、プリント回路基板１１０上に回
路を形成する複数個のアナログ、ディジタル双方の部品
１２０を有している。試験ベッド１６０は所定位置で導
体１４０と接触して試験信号を供給し、プリント回路基
板１１０内の所定位置での応答を検出する機能を果たす
複数のコネクタ−ピン１８０を有している。導体１３０
はコネクタ・ピン１８０を試験システム１７０に接続す
る。試験システム１７０は試験動作と分析を行い、ユー
ザー１９０に対して情報を提供するのに必要な信号発生
器と信号処理装置とを備えている。情報はプリント回路
基板１１０の試験結果を表示する。
スターの大幅に概略化した図面を示している。プリント
回路基板１１０は複数の部品リード線を介して複数の導
体１４０に接続されて、プリント回路基板１１０上に回
路を形成する複数個のアナログ、ディジタル双方の部品
１２０を有している。試験ベッド１６０は所定位置で導
体１４０と接触して試験信号を供給し、プリント回路基
板１１０内の所定位置での応答を検出する機能を果たす
複数のコネクタ−ピン１８０を有している。導体１３０
はコネクタ・ピン１８０を試験システム１７０に接続す
る。試験システム１７０は試験動作と分析を行い、ユー
ザー１９０に対して情報を提供するのに必要な信号発生
器と信号処理装置とを備えている。情報はプリント回路
基板１１０の試験結果を表示する。
【００２１】試験システム１７０には試験を監視制御す
る試験プランが装填される。これには例えば、試験の順
序付け、結果のロギング、回路基板／取付け具のインタ
フェースの制御、試験用電力供給の制御等が含まれる。
すなわち、試験プランは回路基板テスター１００での試
験の実施を制御するプログラムである。
る試験プランが装填される。これには例えば、試験の順
序付け、結果のロギング、回路基板／取付け具のインタ
フェースの制御、試験用電力供給の制御等が含まれる。
すなわち、試験プランは回路基板テスター１００での試
験の実施を制御するプログラムである。
【００２２】使用払いアクセス・モジュール１５０が試
験システム１７０に結合されている。使用払いアクセス
・モジュール１５０は回路基板の初期状態設定の時点で
幾つかのチェックを行う。これらのチェックは、回路基
板テスター１００が使用払いモードで動作されるのか、
又、必要なハードウェアが回路基板テスター１００に備
わっているか否かを判定する。回路基板の情報がテスト
ヘッド１６０に装填されると、使用料金（すなわち単位
時間当たりのクレジット高）が使用される回路基板試験
の能力に応じて決定される。回路基板試験区分の開始が
試験開始機能を介して検知され、使用クレジット・プー
ル内に未だ利用できる使用クレジットがあるものと判定
されると、タイマーが始動する。試験停止機能を介して
回路基板試験区分の終了が検知されると、タイマーは停
止し、利用できる使用クレジット・プールが相応に差し
引かれる。タイマーは、テスターが実際には試験を実施
していないことが判定さた場合（例えば回路基板の取り
外しや、データ入力のために一時停止中）も停止する。
この機能性は後に詳述する。
験システム１７０に結合されている。使用払いアクセス
・モジュール１５０は回路基板の初期状態設定の時点で
幾つかのチェックを行う。これらのチェックは、回路基
板テスター１００が使用払いモードで動作されるのか、
又、必要なハードウェアが回路基板テスター１００に備
わっているか否かを判定する。回路基板の情報がテスト
ヘッド１６０に装填されると、使用料金（すなわち単位
時間当たりのクレジット高）が使用される回路基板試験
の能力に応じて決定される。回路基板試験区分の開始が
試験開始機能を介して検知され、使用クレジット・プー
ル内に未だ利用できる使用クレジットがあるものと判定
されると、タイマーが始動する。試験停止機能を介して
回路基板試験区分の終了が検知されると、タイマーは停
止し、利用できる使用クレジット・プールが相応に差し
引かれる。タイマーは、テスターが実際には試験を実施
していないことが判定さた場合（例えば回路基板の取り
外しや、データ入力のために一時停止中）も停止する。
この機能性は後に詳述する。
【００２３】図３Ａ及び３Ｂを参照すると、認可ボタン
３００はクレジットの勘定（すなわち試験システム１７
０の使用払いアクセス）並びにシステムの安全性のその
他の側面のために使用される。認可ボタン３００は試験
システム１７０の使用権を制御する安全用マイクロチッ
プである。すなわち、認可ボタン３００はソフトウェア
を複写する権利ではなく、使用する権利を制御する。
３００はクレジットの勘定（すなわち試験システム１７
０の使用払いアクセス）並びにシステムの安全性のその
他の側面のために使用される。認可ボタン３００は試験
システム１７０の使用権を制御する安全用マイクロチッ
プである。すなわち、認可ボタン３００はソフトウェア
を複写する権利ではなく、使用する権利を制御する。
【００２４】一般に、認可ボタンはそれを通してソフト
ウェア適用業務によってアクセスされる直列又は並列ポ
ートに取付けられたボタン・ホルダー（図示せず）に装
填される安価な市販の器具である。Ｉ／Ｏポートはその
他の適用業務及びオペレーティング・システムによって
も利用可能な状態に保たれている。推奨実施例では、認
可ボタン３００には最小限のクレジット購入料（例えば
５０，０００単位）が装填される。認可ボタン３００は
特定の顧客、又は特定のハードウェアに対してロックさ
れるものではない。すなわち、顧客は違約金なしに認可
ボタンをテストヘッドからテストヘッドに移動してもよ
い。
ウェア適用業務によってアクセスされる直列又は並列ポ
ートに取付けられたボタン・ホルダー（図示せず）に装
填される安価な市販の器具である。Ｉ／Ｏポートはその
他の適用業務及びオペレーティング・システムによって
も利用可能な状態に保たれている。推奨実施例では、認
可ボタン３００には最小限のクレジット購入料（例えば
５０，０００単位）が装填される。認可ボタン３００は
特定の顧客、又は特定のハードウェアに対してロックさ
れるものではない。すなわち、顧客は違約金なしに認可
ボタンをテストヘッドからテストヘッドに移動してもよ
い。
【００２５】回路基板の最低の試験能力以上を必要とす
る試験プランは、認可ボタン３００が少なくともある程
度のクレジット残高がある場合だけ実行される。試験プ
ラン・セグメントが完了すると（すなわち、停止の時点
に達すると）、認可ボタン３００から相応のクレジット
高が差し引かれる。
る試験プランは、認可ボタン３００が少なくともある程
度のクレジット残高がある場合だけ実行される。試験プ
ラン・セグメントが完了すると（すなわち、停止の時点
に達すると）、認可ボタン３００から相応のクレジット
高が差し引かれる。
【００２６】ボタン・ホルダーには一つ以上のボタンを
装填できるものもある。複数のクレジット・ボタンが装
填され、その一つが空である場合、次のボタンに切り換
えられ、ユーザーが空のボタンが交換されることを確認
するように指示するメッセージがスクリーンに表示され
る。試験中に残りのクレジットの全てが（全てのボタン
で）空になった場合は、新たなボタンがボタン・ホルダ
ーに挿入されるまで、それ以上の回路基板試験を行うこ
とは許容されない。認可ボタン３００がなく、又は、認
可ボタン３００にクレジットが含まれていない場合は、
テスターは最低の機能レベル（例えば非出力試験）だけ
で動作する。
装填できるものもある。複数のクレジット・ボタンが装
填され、その一つが空である場合、次のボタンに切り換
えられ、ユーザーが空のボタンが交換されることを確認
するように指示するメッセージがスクリーンに表示され
る。試験中に残りのクレジットの全てが（全てのボタン
で）空になった場合は、新たなボタンがボタン・ホルダ
ーに挿入されるまで、それ以上の回路基板試験を行うこ
とは許容されない。認可ボタン３００がなく、又は、認
可ボタン３００にクレジットが含まれていない場合は、
テスターは最低の機能レベル（例えば非出力試験）だけ
で動作する。
【００２７】ボタンによるアクセス・ルーチンによって
ボタンの現在のクレジット差引残高を読み取り、ボタン
に新たな差引残高を書込み、更にシステムの安全性を確
認することができる。
ボタンの現在のクレジット差引残高を読み取り、ボタン
に新たな差引残高を書込み、更にシステムの安全性を確
認することができる。
【００２８】推奨実施例はテキサス州ダラスのダラス半
導体製の認可ボタンを使用している。認可ボタン３００
は不正改造防止の１６ｍｍのステンレス鋼容器内にパッ
ケージされている。認可ボタン３００を物理的に不正改
造すると、その内容が破壊され、使用できなくなる。推
奨実施例で使用される認可ボタン３００は暗証で防護さ
れた持久読出し／書込み記憶装置を含んでいる。この記
憶装置は最終ユーザーの現場（すなわちチップ・メーカ
ー又は契約業者）で情報（すなわちクレジット情報）を
更新することができる。
導体製の認可ボタンを使用している。認可ボタン３００
は不正改造防止の１６ｍｍのステンレス鋼容器内にパッ
ケージされている。認可ボタン３００を物理的に不正改
造すると、その内容が破壊され、使用できなくなる。推
奨実施例で使用される認可ボタン３００は暗証で防護さ
れた持久読出し／書込み記憶装置を含んでいる。この記
憶装置は最終ユーザーの現場（すなわちチップ・メーカ
ー又は契約業者）で情報（すなわちクレジット情報）を
更新することができる。
【００２９】推奨実施例では、認可ボタン３００はこれ
もダラス半導体から市販されているＤＳ１４１ボタン・
ホルダー（図示せず）を介してテスターとインタフェー
スされる。
もダラス半導体から市販されているＤＳ１４１ボタン・
ホルダー（図示せず）を介してテスターとインタフェー
スされる。
【００３０】認可ボタン３００との通信は適応する１線
インタフェースを介して行われる。認可ボタン３００の
底部３１０はデータ・ピンであり、フランジ３２０が基
底である。認可ボタン３００との対話はパルス幅変調プ
ロトコルを介して行われる。ダラス半導体から市販の応
用プログラム・インタフェース（図示せず）によって使
用払い方式のシステム・アクセス・モジュール１５０
と、認可ボタン３００とがリンクされる。アクセス・ソ
フトウェアは１線インタフェースを管理し、ポートにあ
る全ての認可ボタンを識別する。アクセス・ソフトウェ
アに関するその他の情報はダラス半導体から市販されて
いるＤＳ１４１ｘＫボタン・ディベロッバー・キットに
記載されている。認可ボタン３００に関するその他の文
献もダラス半導体から市販されている。
インタフェースを介して行われる。認可ボタン３００の
底部３１０はデータ・ピンであり、フランジ３２０が基
底である。認可ボタン３００との対話はパルス幅変調プ
ロトコルを介して行われる。ダラス半導体から市販の応
用プログラム・インタフェース（図示せず）によって使
用払い方式のシステム・アクセス・モジュール１５０
と、認可ボタン３００とがリンクされる。アクセス・ソ
フトウェアは１線インタフェースを管理し、ポートにあ
る全ての認可ボタンを識別する。アクセス・ソフトウェ
アに関するその他の情報はダラス半導体から市販されて
いるＤＳ１４１ｘＫボタン・ディベロッバー・キットに
記載されている。認可ボタン３００に関するその他の文
献もダラス半導体から市販されている。
【００３１】使用払い回路基板試験システム１００は２
つの方法で操作できる。第１の方法は、３つの料金追加
モードの各々で利用できる特定の試験時間の量と一致す
る使用クレジットのブロックに前払いするようにメーカ
ーに要求する方法である。推奨実施例では３段階の追加
料金モードを採用してきるが、本発明は追加料金モード
数を限定するものではないことに留意されたい。第２の
方法は、３つの追加料金モードの各々でのテスターの使
用時間を測定し、顧客に周期的に勘定請求する方法であ
る。推奨実施例では、前払い方式が実施され、これにつ
いては後に詳述する。
つの方法で操作できる。第１の方法は、３つの料金追加
モードの各々で利用できる特定の試験時間の量と一致す
る使用クレジットのブロックに前払いするようにメーカ
ーに要求する方法である。推奨実施例では３段階の追加
料金モードを採用してきるが、本発明は追加料金モード
数を限定するものではないことに留意されたい。第２の
方法は、３つの追加料金モードの各々でのテスターの使
用時間を測定し、顧客に周期的に勘定請求する方法であ
る。推奨実施例では、前払い方式が実施され、これにつ
いては後に詳述する。
【００３２】使用払い回路基板試験システムは更に、
（テスターの使用時間ではなく）選択された試験が実施
される回数をカウントし、試験数と，試験で利用された
能力レベルに応じてクレジットから差し引く方式を採用
して実施することもできる。推奨実施例では、タイマー
方式が実施され、後に詳述する。
（テスターの使用時間ではなく）選択された試験が実施
される回数をカウントし、試験数と，試験で利用された
能力レベルに応じてクレジットから差し引く方式を採用
して実施することもできる。推奨実施例では、タイマー
方式が実施され、後に詳述する。
【００３３】図２は使用払いアクセス・システム１５０
の詳細な構成図を示している。ユーザー１９０は使用払
いシステムの異なる能力にアクセスすることができ、
（試験プランに規定された）所定の指令セットを介して
上記の能力にアクセスする。
の詳細な構成図を示している。ユーザー１９０は使用払
いシステムの異なる能力にアクセスすることができ、
（試験プランに規定された）所定の指令セットを介して
上記の能力にアクセスする。
【００３４】ユーザーは回路基板の試験を準備する際に
試験システム１７０に回路基板情報と試験プランとを装
填する。試験板の情報が装填されると、使用払いシステ
ム１５０は回路基板を試験するためにテスターのどの能
力が必要であるかを判定する。本発明では４つのレベル
の試験が実施できる。すなわち1)非出力試験、2)簡単な
限定出力試験、3)完全なインサーキット試験、及び4)組
み合わせ試験である。各々の試験レベルにはそれに応じ
た料金レベルがある。（推奨実施例では、非出力試験に
は料金がかからないことを付記しておく。）回路基板全
体用の料金レベルは（回路基板記述情報によって判定さ
れた）利用される最高の能力に基づくものである。この
料金レベルは使用払いシステム初期状態設定モジュール
２１５に記憶される。使用クレジット差引残高更新モジ
ュール２４５（以後差引残高モジュール２４５と呼ぶ）
は使用払いソフトウェアの初期状態設定中に接続線２１
７を介して現在の料金レベルに更新される。
試験システム１７０に回路基板情報と試験プランとを装
填する。試験板の情報が装填されると、使用払いシステ
ム１５０は回路基板を試験するためにテスターのどの能
力が必要であるかを判定する。本発明では４つのレベル
の試験が実施できる。すなわち1)非出力試験、2)簡単な
限定出力試験、3)完全なインサーキット試験、及び4)組
み合わせ試験である。各々の試験レベルにはそれに応じ
た料金レベルがある。（推奨実施例では、非出力試験に
は料金がかからないことを付記しておく。）回路基板全
体用の料金レベルは（回路基板記述情報によって判定さ
れた）利用される最高の能力に基づくものである。この
料金レベルは使用払いシステム初期状態設定モジュール
２１５に記憶される。使用クレジット差引残高更新モジ
ュール２４５（以後差引残高モジュール２４５と呼ぶ）
は使用払いソフトウェアの初期状態設定中に接続線２１
７を介して現在の料金レベルに更新される。
【００３５】料金レベルが決定され、回路基板が装填さ
れると、ユーザーは（線２１２を介して）“試験開始”
指令２１０を発することによって回路基板試験を開始す
る。この指令は（線２１４を介して）モジュール２２０
内に示したように、タイマーの始動をトリガする。
れると、ユーザーは（線２１２を介して）“試験開始”
指令２１０を発することによって回路基板試験を開始す
る。この指令は（線２１４を介して）モジュール２２０
内に示したように、タイマーの始動をトリガする。
【００３６】開始モジュール２２０は線２０２を介して
使用クレジット・プール２４０にアクセスできる。使用
クレジット・プールは利用できる使用クレジットを記憶
している。開始モジュール２２０は、使用クレジット・
プール２４０に利用できる充分な使用クレジットがない
場合は、有料の回路基板試験の開始を防止するように構
成されている。使用クレジット・プール２４０の現在の
内容は線２０４を介してディスプレー報告モジュール２
７０に送られることができる。
使用クレジット・プール２４０にアクセスできる。使用
クレジット・プールは利用できる使用クレジットを記憶
している。開始モジュール２２０は、使用クレジット・
プール２４０に利用できる充分な使用クレジットがない
場合は、有料の回路基板試験の開始を防止するように構
成されている。使用クレジット・プール２４０の現在の
内容は線２０４を介してディスプレー報告モジュール２
７０に送られることができる。
【００３７】タイマーは回路基板の試験中に経過した時
間量の記録を保持する。タイマーは（線２１６を介し
て）モジュール２３０に示したような“一時停止”、又
は“中断”又は“出口”指令のような“試験停止”指令
２５５を実行することによって（線２１８を介して）停
止させることができる。停止指令２２５の一つが一旦実
行されると、テスターは休止し、タイマーは試験の時間
を測定することを停止する。すなわち、使用払いシステ
ム１５０は使用クレジット・プール２４０からクレジッ
トを差し引かない。
間量の記録を保持する。タイマーは（線２１６を介し
て）モジュール２３０に示したような“一時停止”、又
は“中断”又は“出口”指令のような“試験停止”指令
２５５を実行することによって（線２１８を介して）停
止させることができる。停止指令２２５の一つが一旦実
行されると、テスターは休止し、タイマーは試験の時間
を測定することを停止する。すなわち、使用払いシステ
ム１５０は使用クレジット・プール２４０からクレジッ
トを差し引かない。
【００３８】試験停止指令はブロック２３０に示すよう
に、タイマーを停止する。タイマーが一旦停止すると、
差引勘定モジュール２４５が（線２４４を介して）アク
セスされ、ユーザーの使用クレジットが更新される。前
述のように、差引勘定モジュール２４５はシステムの初
期状態設定中にモジュール２１５によって既に現在の料
金レベルで更新されている。差引勘定モジュール２４５
は双方向線２４２を介して使用クレジット・プール２４
０にアクセスし、更新された使用クレジット差引残高を
計算する。
に、タイマーを停止する。タイマーが一旦停止すると、
差引勘定モジュール２４５が（線２４４を介して）アク
セスされ、ユーザーの使用クレジットが更新される。前
述のように、差引勘定モジュール２４５はシステムの初
期状態設定中にモジュール２１５によって既に現在の料
金レベルで更新されている。差引勘定モジュール２４５
は双方向線２４２を介して使用クレジット・プール２４
０にアクセスし、更新された使用クレジット差引残高を
計算する。
【００３９】詳細に説明すると、差引勘定モジュール２
４５は料金レベルをタイマーの全経過時間で乗算するこ
とによって更新された差引残高を計算する。この数値が
使用クレジット・プール２４０に記憶された使用クレジ
ット総数から減算されて、更新された差引残高が算出さ
れる。更新された差引残高は次に使用クレジット・プー
ル２４０に再度記憶される。更に、更新された差引残高
は線２６７を介して（後述する）回路基板統計モジュー
ル２８０にも送られる。
４５は料金レベルをタイマーの全経過時間で乗算するこ
とによって更新された差引残高を計算する。この数値が
使用クレジット・プール２４０に記憶された使用クレジ
ット総数から減算されて、更新された差引残高が算出さ
れる。更新された差引残高は次に使用クレジット・プー
ル２４０に再度記憶される。更に、更新された差引残高
は線２６７を介して（後述する）回路基板統計モジュー
ル２８０にも送られる。
【００４０】試験開始指令２１０が引き続き実行される
と、タイマーは再び始動し、回路基板の試験を継続でき
る。使用払いシステム１５０は、テスターが回路基板を
実際に試験している間だけの料金を請求する。回路基板
の交換やデータ入力のための休止時間の料金はユーザー
に対して請求されない。
と、タイマーは再び始動し、回路基板の試験を継続でき
る。使用払いシステム１５０は、テスターが回路基板を
実際に試験している間だけの料金を請求する。回路基板
の交換やデータ入力のための休止時間の料金はユーザー
に対して請求されない。
【００４１】使用払いシステム１５０は更に状態アラー
ム２５０を備えている。推奨実施例では、アラームは３
つの残高不足アラーム・レベルを備えるようにプログラ
ムされている。ユーザーは応用プログラム２６０を介し
て残高不足アラームのレベルを変更することができる。
これは線２６２によって示されている。次に変更は線２
５６を経てアラーム・データ・ファイル２５５に記憶さ
れる。
ム２５０を備えている。推奨実施例では、アラームは３
つの残高不足アラーム・レベルを備えるようにプログラ
ムされている。ユーザーは応用プログラム２６０を介し
て残高不足アラームのレベルを変更することができる。
これは線２６２によって示されている。次に変更は線２
５６を経てアラーム・データ・ファイル２５５に記憶さ
れる。
【００４２】どのアラーム・レベルに設定されるかに関
わりなく（例えば省略時、又はユーザー定義）、アラー
ム・レベルはアラーム・データ・ファイル２５５に記憶
される。アラーム・ファイル２５５はこの情報を線２５
９を介して差引勘定モジュール２４５に、線２６１を介
して報告モジュール２７０に、又、線２６３を介して初
期状態設定モジュール２１５に送る。
わりなく（例えば省略時、又はユーザー定義）、アラー
ム・レベルはアラーム・データ・ファイル２５５に記憶
される。アラーム・ファイル２５５はこの情報を線２５
９を介して差引勘定モジュール２４５に、線２６１を介
して報告モジュール２７０に、又、線２６３を介して初
期状態設定モジュール２１５に送る。
【００４３】第１レベルのアラームは状態アラームと呼
ばれる。状態アラームはクレジット高が第１のアラーム
・レベル（例えば４０時間分の使用クレジットが残って
いる状態）に達したことを表示する。そのような場合
は、使用クレジット高をできるだけ速やかに追加する必
要がある。第２レベルのアラームは警告アラームと呼ば
れる。警告アラームはクレジット高が第２のアラーム・
レベル（例えば２０時間分の使用クレジットが残ってい
る状態）に達するとその旨の信号を発する。第３の、最
終的なアラーム・レベルは緊要アラームと呼ばれる。推
奨実施例では、この緊要アラームは、クレジット高が、
テスターが１シフトだけ動作するのに必要なクレジット
高よりも僅かに多いだけの場合（例えば８時間を僅かに
上回るだけ）にその旨の信号を送る。
ばれる。状態アラームはクレジット高が第１のアラーム
・レベル（例えば４０時間分の使用クレジットが残って
いる状態）に達したことを表示する。そのような場合
は、使用クレジット高をできるだけ速やかに追加する必
要がある。第２レベルのアラームは警告アラームと呼ば
れる。警告アラームはクレジット高が第２のアラーム・
レベル（例えば２０時間分の使用クレジットが残ってい
る状態）に達するとその旨の信号を発する。第３の、最
終的なアラーム・レベルは緊要アラームと呼ばれる。推
奨実施例では、この緊要アラームは、クレジット高が、
テスターが１シフトだけ動作するのに必要なクレジット
高よりも僅かに多いだけの場合（例えば８時間を僅かに
上回るだけ）にその旨の信号を送る。
【００４４】使用できる時間に等しいクレジット高は、
アラームがトリガされた時点で試験中の回路基板の料金
レベルによって決まる。
アラームがトリガされた時点で試験中の回路基板の料金
レベルによって決まる。
【００４５】推奨実施例では、使用払いシステム１５０
はアラーム・レベルに達した時にユーザーに対して（線
２１１を経て）警報を発するようにプログラムされてい
る。特定の警告レベルが特有の色彩でユーザー１９０に
表示される。使用払い試験システム１５０は、使用払い
システムのソフトウェアの初期状態設定の後、又は、差
引残高の更新後にアラーム状態をチェックする。初期状
態設定中に、アラーム・ファイルは線２０６を介してチ
ェックされ、且つ差引残高の更新中に線２０８を介して
チェックされる。
はアラーム・レベルに達した時にユーザーに対して（線
２１１を経て）警報を発するようにプログラムされてい
る。特定の警告レベルが特有の色彩でユーザー１９０に
表示される。使用払い試験システム１５０は、使用払い
システムのソフトウェアの初期状態設定の後、又は、差
引残高の更新後にアラーム状態をチェックする。初期状
態設定中に、アラーム・ファイルは線２０６を介してチ
ェックされ、且つ差引残高の更新中に線２０８を介して
チェックされる。
【００４６】推奨実施例では、このシステムはクレジッ
トの“スペア・タンク”を搭載できる。それによって、
空のボタンの代えを購入中に、又は装填中に“スペア・
タンク”ボタン（図示せず）で試験を継続できる。しか
し、増強されたレベルで試験を継続するには、クレジッ
トの差引残高は常にプラスでなければならない。
トの“スペア・タンク”を搭載できる。それによって、
空のボタンの代えを購入中に、又は装填中に“スペア・
タンク”ボタン（図示せず）で試験を継続できる。しか
し、増強されたレベルで試験を継続するには、クレジッ
トの差引残高は常にプラスでなければならない。
【００４７】推奨実施例では更に、実行時間試験システ
ム１７０が認可クレジット・ボタン３００に関する情報
を受理する。実行時間ソフトウェア（図示せず）は、使
用払いアクセス・システム１５０が認可クレジット・ボ
タン３００から遮断された場合、挿入された認可ボタン
３００がミスである場合、又は、認可ボタン３００が空
である場合を除いては休止している。推奨実施例では、
“非出力のみ”の試験プランが実行中である場合（すな
わち、クレジット・プールに借方記入する試験を使用し
ない場合）、使用払いシステム１５０は、試験システム
１７０に認可ボタンを取付ける必要がない。
ム１７０が認可クレジット・ボタン３００に関する情報
を受理する。実行時間ソフトウェア（図示せず）は、使
用払いアクセス・システム１５０が認可クレジット・ボ
タン３００から遮断された場合、挿入された認可ボタン
３００がミスである場合、又は、認可ボタン３００が空
である場合を除いては休止している。推奨実施例では、
“非出力のみ”の試験プランが実行中である場合（すな
わち、クレジット・プールに借方記入する試験を使用し
ない場合）、使用払いシステム１５０は、試験システム
１７０に認可ボタンを取付ける必要がない。
【００４８】メーカーが差引残高の更新中に認可ボタン
へのアクセスを無視したり、遮断しようとすることへの
安全策として、本発明は安全目的のために“更新保留”
機構を実施している。更新保留は、差引残高の更新が成
されようとし、使用払いシステム１５０が、認可ボタン
３００が試験システムに接続されていることを検知しな
い場合に実施される。使用払いシステム１５０は新たな
開始指令が出されるまで更新情報を保管し、その時点で
使用払いシステムは試験の再開が可能になる前に、再装
填された認可ボタン３００内のクレジット差引残高を更
新する。
へのアクセスを無視したり、遮断しようとすることへの
安全策として、本発明は安全目的のために“更新保留”
機構を実施している。更新保留は、差引残高の更新が成
されようとし、使用払いシステム１５０が、認可ボタン
３００が試験システムに接続されていることを検知しな
い場合に実施される。使用払いシステム１５０は新たな
開始指令が出されるまで更新情報を保管し、その時点で
使用払いシステムは試験の再開が可能になる前に、再装
填された認可ボタン３００内のクレジット差引残高を更
新する。
【００４９】使用払い試験システム１５０の最終モジュ
ール・セットは回路基板の試験統計機能に集中してい
る。回路基板試験の全統計がデータ・ファイル２８０に
記憶される。回路基板試験の統計の例には、回路基板の
識別（ＩＤ）、そのＩＤの回路基板がそれに基づいて試
験された最初の日付け、そのＩＤの回路基板がそれに基
づいて試験された最新の日付け、料金請求される回路基
板試験のレベル、及びそのＩＤの回路基板を試験するた
めに使用されたクレジットの総額が含まれる。この情報
は全て線２７２を介してモジュール２７０に前送りさ
れ、このモジュールは全ての情報をコンパイルし、使用
払いアクセス・システム１５０にリポートを提示する。
このリポートはユーザー１９０に提供される。
ール・セットは回路基板の試験統計機能に集中してい
る。回路基板試験の全統計がデータ・ファイル２８０に
記憶される。回路基板試験の統計の例には、回路基板の
識別（ＩＤ）、そのＩＤの回路基板がそれに基づいて試
験された最初の日付け、そのＩＤの回路基板がそれに基
づいて試験された最新の日付け、料金請求される回路基
板試験のレベル、及びそのＩＤの回路基板を試験するた
めに使用されたクレジットの総額が含まれる。この情報
は全て線２７２を介してモジュール２７０に前送りさ
れ、このモジュールは全ての情報をコンパイルし、使用
払いアクセス・システム１５０にリポートを提示する。
このリポートはユーザー１９０に提供される。
【００５０】回路基板統計クリヤ・プログラム２８５は
線２８８で示すようにユーザー１９０に提示される。プ
ログラム２８５によってユーザーは、線２８６を介して
回路基板統計データ・ファイルの全体を、もしくは回路
基板ＩＤ毎にクリヤすることができる。
線２８８で示すようにユーザー１９０に提示される。プ
ログラム２８５によってユーザーは、線２８６を介して
回路基板統計データ・ファイルの全体を、もしくは回路
基板ＩＤ毎にクリヤすることができる。
【００５１】リポート・プログラム２７０は使用払いア
クセス・システム１５０の全ての側面のデータを提示す
る。報告プログラム２７０は今日の日付け、存在する全
てのクレジット・ボタンの現在の使用クレジット差引残
高、及びこのクレジット・ボタンの現在の使用クレジッ
ト差引残高に基づく、各クレジット・ボタンの残りの全
試験時間を提示する。この試験時間データは３段階で増
強される試験レベルの各々について計算される。報告プ
ログラム２７０は更にユーザー定義のアラーム設定及び
回路基板の統計の現在値をプリントする。報告プログラ
ム２７０は線２７４を介してユーザー１９０にこの情報
を提示する。
クセス・システム１５０の全ての側面のデータを提示す
る。報告プログラム２７０は今日の日付け、存在する全
てのクレジット・ボタンの現在の使用クレジット差引残
高、及びこのクレジット・ボタンの現在の使用クレジッ
ト差引残高に基づく、各クレジット・ボタンの残りの全
試験時間を提示する。この試験時間データは３段階で増
強される試験レベルの各々について計算される。報告プ
ログラム２７０は更にユーザー定義のアラーム設定及び
回路基板の統計の現在値をプリントする。報告プログラ
ム２７０は線２７４を介してユーザー１９０にこの情報
を提示する。
【００５２】推奨実施例では、使用払いシステムのユー
ザーは実際の試験時間についてだけ料金請求がなされ
る。言い換えると、プログラム開発、試験中のデータ入
力のための一時停止、システム診断等には料金請求はな
されない。システムの安全性と完全性は不可欠である。
クレジット・ボタンが不正である場合は、警告が提示さ
れ、試験を継続するには新たなボタンが挿入されなけれ
ばならない。本発明は所有権アクセス暗証を設けること
によって、顧客が不正に作成したクレジット・ボタンの
使用を防護している。暗証の知識がないと、メーカーは
使用払いシステム１５０が認識するクレジット・ボタン
を作成できない。従ってメーカーは、回路基板テスター
の増強された試験能力へのアクセスができない。使用払
いソフトウェアも顧客によってターンオフできないこと
も重要である。更に、クレジット・ボタンの安全性は、
認可ボタン３００が装填されるポートへの、又、ポート
からの送信を遮断することによっては侵犯することがで
きない。
ザーは実際の試験時間についてだけ料金請求がなされ
る。言い換えると、プログラム開発、試験中のデータ入
力のための一時停止、システム診断等には料金請求はな
されない。システムの安全性と完全性は不可欠である。
クレジット・ボタンが不正である場合は、警告が提示さ
れ、試験を継続するには新たなボタンが挿入されなけれ
ばならない。本発明は所有権アクセス暗証を設けること
によって、顧客が不正に作成したクレジット・ボタンの
使用を防護している。暗証の知識がないと、メーカーは
使用払いシステム１５０が認識するクレジット・ボタン
を作成できない。従ってメーカーは、回路基板テスター
の増強された試験能力へのアクセスができない。使用払
いソフトウェアも顧客によってターンオフできないこと
も重要である。更に、クレジット・ボタンの安全性は、
認可ボタン３００が装填されるポートへの、又、ポート
からの送信を遮断することによっては侵犯することがで
きない。
【００５３】顧客は実際にプログラムされたものよりも
低レベルの試験能力を暗示するように回路基板の構造を
修正することによって、料金レベルを引き下げることが
できない。試験対象は試験実施の時点で、実行時間の回
路基板構造に指定された能力と、試験対象が製造された
時に指定された能力とが整合していることを確認するチ
ェックがなされる。
低レベルの試験能力を暗示するように回路基板の構造を
修正することによって、料金レベルを引き下げることが
できない。試験対象は試験実施の時点で、実行時間の回
路基板構造に指定された能力と、試験対象が製造された
時に指定された能力とが整合していることを確認するチ
ェックがなされる。
【００５４】使用払い試験システム１５０のユニークな
点は、それによって電子メーカーが試験時間を購入する
態様が変化することである。主要には、使用払いによっ
て初期の資本投資が削減され、進行に伴う経費が増え
る。この財政上の方式はメーカーがテスターを使用する
方式と一致している。節減される経費が試験業者への収
益損で制約されるので、テスターの資本コストを僅かに
節減すること（ディスカウント、値引き）は適切な方法
ではない。使用払い方式によって、収益の流れが年金の
ようになり、試験設備の初期資本コストを大幅に削減で
き、試験業者の収益損は、試験システムの実際の使用に
伴う年金的な“支出”で時間の経過とともに相殺され
る。
点は、それによって電子メーカーが試験時間を購入する
態様が変化することである。主要には、使用払いによっ
て初期の資本投資が削減され、進行に伴う経費が増え
る。この財政上の方式はメーカーがテスターを使用する
方式と一致している。節減される経費が試験業者への収
益損で制約されるので、テスターの資本コストを僅かに
節減すること（ディスカウント、値引き）は適切な方法
ではない。使用払い方式によって、収益の流れが年金の
ようになり、試験設備の初期資本コストを大幅に削減で
き、試験業者の収益損は、試験システムの実際の使用に
伴う年金的な“支出”で時間の経過とともに相殺され
る。
【００５５】使用払いアクセスによって電子メーカーは
低性能の初期価格で高性能の試験ハードウェアを購入で
きる。増強された性能が必要である場合だけ、メーカー
にはその能力に見合う料金が請求される。これは回路基
板毎に管理される。単一の試験プラットフォームを保持
するだけで、電子メーカーはハードウェアとソフトウェ
アの契約負担額を低減し、全ての試験技師に一貫した訓
練を行えばよく、試験オペレータの操作手順を規準化し
てその幾つかを指定すればよいので、試験全体のコスト
を節減できる。
低性能の初期価格で高性能の試験ハードウェアを購入で
きる。増強された性能が必要である場合だけ、メーカー
にはその能力に見合う料金が請求される。これは回路基
板毎に管理される。単一の試験プラットフォームを保持
するだけで、電子メーカーはハードウェアとソフトウェ
アの契約負担額を低減し、全ての試験技師に一貫した訓
練を行えばよく、試験オペレータの操作手順を規準化し
てその幾つかを指定すればよいので、試験全体のコスト
を節減できる。
【００５６】別の実施例では、使用払いシステム１５０
はネットワーク使用許可方式で実施することができる。
従来のネットワーク・システムでは、複数のコンピュー
タがコンピュータ・ネットワーク内（例えば局域ネット
ワーク）で互いに結合されている。このネットワークは
ネットワーク相互に共用できる単数又は複数のソフトウ
ェア・パッケージを含むライセンス・サーバーにも接続
されている。ネットワークのオーナーはソフトウェアの
開発者から特定のソフトウェア・パッケージの複数の使
用許可のライセンスを購入する。すなわち、ネットワー
クが３つのライセンスを所有している場合は、所定の時
点で３者のユーザーしかソフトウェア・パッケージにア
クセスできない。
はネットワーク使用許可方式で実施することができる。
従来のネットワーク・システムでは、複数のコンピュー
タがコンピュータ・ネットワーク内（例えば局域ネット
ワーク）で互いに結合されている。このネットワークは
ネットワーク相互に共用できる単数又は複数のソフトウ
ェア・パッケージを含むライセンス・サーバーにも接続
されている。ネットワークのオーナーはソフトウェアの
開発者から特定のソフトウェア・パッケージの複数の使
用許可のライセンスを購入する。すなわち、ネットワー
クが３つのライセンスを所有している場合は、所定の時
点で３者のユーザーしかソフトウェア・パッケージにア
クセスできない。
【００５７】これに対して、使用払いシステム１５０を
コンピュータ・ネットワークに接続することによって、
ユーザーは使用クレジットのプールからのクレジットに
借方記入することによって、ソフトウェア・パッケージ
にアクセスすることができる。異なるソフトウェア・パ
ッケージ又はパッケージ群が独自の使用クレジット・プ
ールを有し、時間又は使用単位毎に異なるクレジット高
を必要とすることになろう。このシステムでは、一度に
ソフトウェア・パッケージにアクセスできるユーザーの
数に制約はない。むしろ、ソフトウェア・パッケージの
使用が制約されるのは、特定のソフトウェア・パッケー
ジ毎に利用できる使用クレジット高によってのみであ
る。
コンピュータ・ネットワークに接続することによって、
ユーザーは使用クレジットのプールからのクレジットに
借方記入することによって、ソフトウェア・パッケージ
にアクセスすることができる。異なるソフトウェア・パ
ッケージ又はパッケージ群が独自の使用クレジット・プ
ールを有し、時間又は使用単位毎に異なるクレジット高
を必要とすることになろう。このシステムでは、一度に
ソフトウェア・パッケージにアクセスできるユーザーの
数に制約はない。むしろ、ソフトウェア・パッケージの
使用が制約されるのは、特定のソフトウェア・パッケー
ジ毎に利用できる使用クレジット高によってのみであ
る。
【００５８】使用払いネットワーク・ライセンスを実施
するためには使用払いシステム１５０に変更を加える必
要があることが専門家には明らかであろう。
するためには使用払いシステム１５０に変更を加える必
要があることが専門家には明らかであろう。
【００５９】認可ボタン３００の更に別の使用法は、ユ
ーザーが一時料金（例えばボタンの購入費）で増強され
たソフトウェア、又はハードウェア能力にアクセスでき
るように、認可ボタン３００でコードを実行できる簡便
な権利を記憶することである。この方式では使用クレジ
ットから差し引かれることはない。認可ボタンは使用中
のシステムの種類を特定するためにも利用できる。すな
わち、認可ボタンはシステムが使用払いモードで動作し
ているのか、又は、制限なく全アクセスできる組み合わ
せテスターとして動作しているのかを表示することが可
能であろう。認可ボタン３００の上記の使用法は個々
に、又は組み合わせて利用できることが専門家には明白
であろう。これまで本発明を推奨実施例を参照して図示
し、説明してきたが、本発明の趣旨と範囲から離れるこ
となく形式と細部を多様に変更できることが専門家には
理解されよう。
ーザーが一時料金（例えばボタンの購入費）で増強され
たソフトウェア、又はハードウェア能力にアクセスでき
るように、認可ボタン３００でコードを実行できる簡便
な権利を記憶することである。この方式では使用クレジ
ットから差し引かれることはない。認可ボタンは使用中
のシステムの種類を特定するためにも利用できる。すな
わち、認可ボタンはシステムが使用払いモードで動作し
ているのか、又は、制限なく全アクセスできる組み合わ
せテスターとして動作しているのかを表示することが可
能であろう。認可ボタン３００の上記の使用法は個々
に、又は組み合わせて利用できることが専門家には明白
であろう。これまで本発明を推奨実施例を参照して図示
し、説明してきたが、本発明の趣旨と範囲から離れるこ
となく形式と細部を多様に変更できることが専門家には
理解されよう。
【００６０】以上、本発明の実施例について詳述した
が、以下、本発明の各実施例毎に列挙する。
が、以下、本発明の各実施例毎に列挙する。
【実施例１】電子回路の試験システムにおいて、 a)多重電子試験能力を有する回路基板試験プラットフォ
ーム１６０，１７０と、 b)前記回路基板試験プラットフォーム１６０，１７０と
結合され、この回路基板試験プラットフォーム１６０，
１７０の前記多重電子試験能力の利用状態を監視し、且
つ、前記多重電子試験能力の利用状態に基づいて使用ク
レジット・プール２４０から使用クレジット高を借方記
入するための使用払いアクセス・モジュール１５０、と
を備えたことを特徴とするシステム。
ーム１６０，１７０と、 b)前記回路基板試験プラットフォーム１６０，１７０と
結合され、この回路基板試験プラットフォーム１６０，
１７０の前記多重電子試験能力の利用状態を監視し、且
つ、前記多重電子試験能力の利用状態に基づいて使用ク
レジット・プール２４０から使用クレジット高を借方記
入するための使用払いアクセス・モジュール１５０、と
を備えたことを特徴とするシステム。
【実施例２】前記クレジット・プール２４０内のクレジ
ット高が不充分である場合は、前記使用払いアクセス・
モジュール１５０が基本レベル以外での前記回路基板試
験プラットフォーム１６０，１７０での試験を認可しな
いことを特徴とする実施例１記載のシステム。
ット高が不充分である場合は、前記使用払いアクセス・
モジュール１５０が基本レベル以外での前記回路基板試
験プラットフォーム１６０，１７０での試験を認可しな
いことを特徴とする実施例１記載のシステム。
【実施例３】前記使用クレッジット・プール２４０を含
む単数又は複数個の認可ボタンを更に備え、この単数又
は複数個の認可ボタンには所定数のクレジットが装填さ
れていることを特徴とする実施例１記載のシステム。
む単数又は複数個の認可ボタンを更に備え、この単数又
は複数個の認可ボタンには所定数のクレジットが装填さ
れていることを特徴とする実施例１記載のシステム。
【実施例４】前記使用払いアクセス・モジュール１５０
が回路基板試験開始機能を開始することによって起動さ
れ、回路基板試験終了機能を開始することによって停止
するタイマー２２０，２３０を備え、このタイマー２２
０，２３０が前記回路基板試験を実施するのに経過した
時間の記録を保存することを特徴とする実施例１記載の
システム。
が回路基板試験開始機能を開始することによって起動さ
れ、回路基板試験終了機能を開始することによって停止
するタイマー２２０，２３０を備え、このタイマー２２
０，２３０が前記回路基板試験を実施するのに経過した
時間の記録を保存することを特徴とする実施例１記載の
システム。
【実施例５】前記使用払いアクセス・モジュール１５０
が更に、前記使用クレジット・プール２４０を記憶する
ための認可装置３００と、前記タイマー２２０，２３０
と前記認可装置３００とに接続され、料金レベルと、前
記タイマー２２０，２３０によって記録された時間の長
さに基づいて使用クレジットの控除を計算する差引勘定
モジュール２４５とを備え、前記使用クレジット・プー
ル２４０が前記控除によって差し引かれることを特徴と
する実施例４記載のシステム。
が更に、前記使用クレジット・プール２４０を記憶する
ための認可装置３００と、前記タイマー２２０，２３０
と前記認可装置３００とに接続され、料金レベルと、前
記タイマー２２０，２３０によって記録された時間の長
さに基づいて使用クレジットの控除を計算する差引勘定
モジュール２４５とを備え、前記使用クレジット・プー
ル２４０が前記控除によって差し引かれることを特徴と
する実施例４記載のシステム。
【実施例６】使用クレジットのプールを装填した使用ク
レジット・プール２４０を結合した回路基板テスター１
６０，１７０の多重の能力へのアクセスを制御するため
のコンピュータを使用した方法において、 1)試験プラン１７０に従って回路基板試験セグメントを
初期設定する段階と、 2)前記回路基板試験を実施するために回路基板テスター
１６０，１７０のどの能力が必要であるかを前記試験プ
ラン１７０から判定する段階と、 3)前記必要な能力に基づいて料金レベルを決定する段階
と、 4)回路基板試験開始機能２１０と回路基板試験停止機能
２２５とによって決定された前記回路基板試験セグメン
トを実施するために経過した時間を判定する段階と、 5)前記経過時間と前記料金レベルとに基づいて、前記回
路基板試験セグメントを実施するために使用クレジット
のプール２４０から控除されるべき使用クレジット高を
計算する段階と、 6)使用クレジットのプール２４０から前記使用クレジッ
ト高を控除する段階と、 7)使用クレジット・プール２４０内の使用クレジット高
が警告値以下に低減した場合は、状態アラーム２５０を
発する段階、とから成ることを特徴とする方法。
レジット・プール２４０を結合した回路基板テスター１
６０，１７０の多重の能力へのアクセスを制御するため
のコンピュータを使用した方法において、 1)試験プラン１７０に従って回路基板試験セグメントを
初期設定する段階と、 2)前記回路基板試験を実施するために回路基板テスター
１６０，１７０のどの能力が必要であるかを前記試験プ
ラン１７０から判定する段階と、 3)前記必要な能力に基づいて料金レベルを決定する段階
と、 4)回路基板試験開始機能２１０と回路基板試験停止機能
２２５とによって決定された前記回路基板試験セグメン
トを実施するために経過した時間を判定する段階と、 5)前記経過時間と前記料金レベルとに基づいて、前記回
路基板試験セグメントを実施するために使用クレジット
のプール２４０から控除されるべき使用クレジット高を
計算する段階と、 6)使用クレジットのプール２４０から前記使用クレジッ
ト高を控除する段階と、 7)使用クレジット・プール２４０内の使用クレジット高
が警告値以下に低減した場合は、状態アラーム２５０を
発する段階、とから成ることを特徴とする方法。
【実施例７】回路基板テスター１６０，１７０の多重能
力にアクセスするための料金をユーザーに対して使用払
い方式で請求するシステムにおいて、 a)使用クレジット・プール２４０を記憶するための認可
装置３００と、 b)回路基板プラットフォーム１６０，１７０に結合さ
れ、この回路基板試験プラットフォーム１６０，１７０
の前記多重電子試験能力の利用状態を監視し、且つ、前
記多重電子試験能力の利用状態に基づいて使用クレジッ
ト・プール２４０から使用クレジット高を借方記入する
ための使用払いアクセス・モジュール１５０、とを備え
たことを特徴とするシステム。
力にアクセスするための料金をユーザーに対して使用払
い方式で請求するシステムにおいて、 a)使用クレジット・プール２４０を記憶するための認可
装置３００と、 b)回路基板プラットフォーム１６０，１７０に結合さ
れ、この回路基板試験プラットフォーム１６０，１７０
の前記多重電子試験能力の利用状態を監視し、且つ、前
記多重電子試験能力の利用状態に基づいて使用クレジッ
ト・プール２４０から使用クレジット高を借方記入する
ための使用払いアクセス・モジュール１５０、とを備え
たことを特徴とするシステム。
【実施例８】前記使用払いアクセス・モジュール１５０
が、 1)回路基板試験開始機能２１０を開始することによって
起動され、回路基板試験終了機能２２０を開始すること
によって停止し、前記回路基板試験を実施するのに経過
した時間の記録を保存するタイマー２２０，２３０と、 2)前記タイマー２２０，２３０と前記認可装置３００と
に接続され、料金レベルと、前記タイマー２２０，２３
０によって記録された時間の長さに基づいて使用クレジ
ットの控除を計算する差引勘定モジュール２４５と、 3)前記差引勘定モジュール２４５に接続され、残りの使
用クレジット高が警告レベルに達すると、その旨を表示
する状態アラーム２５０、とを備えたことを特徴とする
実施例７記載のシステム。
が、 1)回路基板試験開始機能２１０を開始することによって
起動され、回路基板試験終了機能２２０を開始すること
によって停止し、前記回路基板試験を実施するのに経過
した時間の記録を保存するタイマー２２０，２３０と、 2)前記タイマー２２０，２３０と前記認可装置３００と
に接続され、料金レベルと、前記タイマー２２０，２３
０によって記録された時間の長さに基づいて使用クレジ
ットの控除を計算する差引勘定モジュール２４５と、 3)前記差引勘定モジュール２４５に接続され、残りの使
用クレジット高が警告レベルに達すると、その旨を表示
する状態アラーム２５０、とを備えたことを特徴とする
実施例７記載のシステム。
【実施例９】ハードウェア・プラットフォームの多重能
力にアクセスするための料金をユーザーに対して使用払
い方式で請求するシステムにおいて、 a)使用クレジット・プール２４０を記憶するための認可
装置３００と、 b)前記プラットフォームに結合され、このハードウェア
・プラットフォームの前記多重電子試験能力の利用状態
を監視し、且つ、前記多重電子試験能力の利用状態に基
づいて使用クレジット・プール２４０から使用クレジッ
ト高を借方記入するための使用払いアクセス・モジュー
ル１５０、とを備えたことを特徴とするシステム。
力にアクセスするための料金をユーザーに対して使用払
い方式で請求するシステムにおいて、 a)使用クレジット・プール２４０を記憶するための認可
装置３００と、 b)前記プラットフォームに結合され、このハードウェア
・プラットフォームの前記多重電子試験能力の利用状態
を監視し、且つ、前記多重電子試験能力の利用状態に基
づいて使用クレジット・プール２４０から使用クレジッ
ト高を借方記入するための使用払いアクセス・モジュー
ル１５０、とを備えたことを特徴とするシステム。
【実施例１０】複数のコンピュータから成るシステムに
おいてソフトウェアの使用を許可するシステムが、 a)単数又は複数のソフトウェア・パッケージを含むライ
センス・サーバーと、 b)前記ソフトウェア・パッケージのそれぞれが前記使用
クレジット・プール２４０と関連している形式の、単数
又は複数の使用クレジット・プール２４０を記憶するた
めの前記使用許可サーバーに結合された認可装置３００
と、 c)前記ライセンス・サーバーと前記認可装置３００とに
結合され、前記単数又は複数のソフトウェア・パッケー
ジの使用状態を監視し、且つ前記単数又は複数のソフト
ウェア・パッケージの使用状態に基づいて前記使用クレ
ジット・プール２４０から使用クレジット高を借方記入
するための使用払いアクセス・モジュール１５０、とを
備えたことを特徴とするシステム。
おいてソフトウェアの使用を許可するシステムが、 a)単数又は複数のソフトウェア・パッケージを含むライ
センス・サーバーと、 b)前記ソフトウェア・パッケージのそれぞれが前記使用
クレジット・プール２４０と関連している形式の、単数
又は複数の使用クレジット・プール２４０を記憶するた
めの前記使用許可サーバーに結合された認可装置３００
と、 c)前記ライセンス・サーバーと前記認可装置３００とに
結合され、前記単数又は複数のソフトウェア・パッケー
ジの使用状態を監視し、且つ前記単数又は複数のソフト
ウェア・パッケージの使用状態に基づいて前記使用クレ
ジット・プール２４０から使用クレジット高を借方記入
するための使用払いアクセス・モジュール１５０、とを
備えたことを特徴とするシステム。
【００６１】
【発明の効果】以上説明したように、本発明を用いるこ
とにより、メーカーが、高価な回路基板テスターを購入
する関連コストを負うことなく、回路基板テスターの多
重の電子試験能力にアクセスすることができる。
とにより、メーカーが、高価な回路基板テスターを購入
する関連コストを負うことなく、回路基板テスターの多
重の電子試験能力にアクセスすることができる。
【図１】回路基板試験システムの大幅に概略化した図面
である。
である。
【図２】回路基板試験ハードウェアに結合された使用払
い試験システム１００の構成図である。
い試験システム１００の構成図である。
【図３】認可ボタンの概略図である。
１１０：プリント回路基板 １５０：アクセス・モジュール １６０：テストヘッド １７０：試験システム
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 キャサリン・ザレスキー・ウィザース−ミ クロス アメリカ合衆国コロラド州フォートコリン ズ、ドリフトウッドドライブ 907 (72)発明者 カイ・コートニー・ラネン アメリカ合衆国コロラド州フォートコリン ズ、ハープーンコート 4412 (72)発明者 テッド・トレネス・ターナー アメリカ合衆国コロラド州ラブランド、エ スガーフィールド 3542 (72)発明者 エイモス・ホン−キアット・レオン シンガポール シンガポール、メーグイロ ード 101 ナンバー07−00
Claims (1)
- 【請求項１】多重電子試験能力を有する回路基板試験プ
ラットフォームと、 前記回路基板試験プラットフォームに結合され、該回路
基板試験プラットフォームの前記多重電子試験能力の利
用状態を監視し、前記多重電子試験能力の利用状態に基
づいて使用クレジット・プールから使用クレジット高を
借方記入するための使用払いアクセス・モジュールと、 を備えて成る回路基板試験システム。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US132,987 | 1993-10-07 | ||
| US08/132,987 US5412575A (en) | 1993-10-07 | 1993-10-07 | Pay-per-use access to multiple electronic test capabilities |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07181235A true JPH07181235A (ja) | 1995-07-21 |
| JP3568257B2 JP3568257B2 (ja) | 2004-09-22 |
Family
ID=22456509
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27072094A Expired - Fee Related JP3568257B2 (ja) | 1993-10-07 | 1994-10-07 | 電子回路試験システム |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (2) | US5412575A (ja) |
| EP (1) | EP0647855B1 (ja) |
| JP (1) | JP3568257B2 (ja) |
| DE (1) | DE69421494T2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005300535A (ja) * | 2004-04-06 | 2005-10-27 | Agilent Technol Inc | 自動試験装置を有効にするセキュリティトークンの提供及び使用法 |
| JP2009198291A (ja) * | 2008-02-21 | 2009-09-03 | Yokogawa Electric Corp | 半導体試験装置 |
Families Citing this family (26)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5581463A (en) * | 1993-10-07 | 1996-12-03 | Hewlett-Packard Co | Pay-per-use access to multiple electronic test capabilities and tester resources |
| US5412575A (en) * | 1993-10-07 | 1995-05-02 | Hewlett-Packard Company | Pay-per-use access to multiple electronic test capabilities |
| JP3519134B2 (ja) * | 1994-08-10 | 2004-04-12 | 富士通株式会社 | ソフトウェア使用量測定装置およびマルチメディア情報出力装置 |
| US5768382A (en) * | 1995-11-22 | 1998-06-16 | Walker Asset Management Limited Partnership | Remote-auditing of computer generated outcomes and authenticated biling and access control system using cryptographic and other protocols |
| US7553234B2 (en) * | 1995-11-22 | 2009-06-30 | Walker Digital, Llc | Method and apparatus for outputting a result of a game via a container |
| US20030177347A1 (en) * | 1995-11-22 | 2003-09-18 | Bruce Schneier | Methods and apparatus for awarding prizes based on authentication of computer generated outcomes using coupons |
| US8092224B2 (en) | 1995-11-22 | 2012-01-10 | James A. Jorasch | Systems and methods for improved health care compliance |
| US5835899A (en) * | 1996-03-01 | 1998-11-10 | Electronic Data Systems Corporation | System and method for deriving financial responsibility identification |
| US7483670B2 (en) * | 1996-05-09 | 2009-01-27 | Walker Digital, Llc | Method and apparatus for educational testing |
| US5947747A (en) * | 1996-05-09 | 1999-09-07 | Walker Asset Management Limited Partnership | Method and apparatus for computer-based educational testing |
| US6119109A (en) * | 1996-09-30 | 2000-09-12 | Digital Vision Laboratories Corporation | Information distribution system and billing system used for the information distribution system |
| US8055509B1 (en) * | 2000-03-10 | 2011-11-08 | Walker Digital, Llc | Methods and apparatus for increasing and/or for monitoring a party's compliance with a schedule for taking medicines |
| US6656091B1 (en) | 2000-04-21 | 2003-12-02 | Kevin G. Abelbeck | Exercise device control and billing system |
| EP1360659A1 (en) * | 2000-10-23 | 2003-11-12 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Method of automatic payment of a software license fee |
| US20050038665A1 (en) * | 2001-11-01 | 2005-02-17 | Kunio Hasebe | Measurement system and measurement method |
| US7350206B2 (en) * | 2001-11-05 | 2008-03-25 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Method to reduce provisioning time in shared storage systems by preemptive copying of images |
| US8898657B2 (en) * | 2003-10-03 | 2014-11-25 | Cyberlink Corp. | System and method for licensing software |
| US20060230423A1 (en) * | 2005-04-11 | 2006-10-12 | Doug Burgett | System and method for providing calibration/verification services at a CATV service organization site on a prepaid basis |
| US20070016443A1 (en) * | 2005-07-13 | 2007-01-18 | Vitality, Inc. | Medication compliance systems, methods and devices with configurable and adaptable escalation engine |
| US20100328099A1 (en) * | 2005-07-13 | 2010-12-30 | Vitality, Inc. | Night Light With Embedded Cellular Modem |
| US7756893B2 (en) * | 2005-11-09 | 2010-07-13 | Microsoft Corporation | Independent computation environment and data protection |
| US8112798B2 (en) * | 2005-11-09 | 2012-02-07 | Microsoft Corporation | Hardware-aided software code measurement |
| US7987512B2 (en) * | 2006-05-19 | 2011-07-26 | Microsoft Corporation | BIOS based secure execution environment |
| US20080005560A1 (en) * | 2006-06-29 | 2008-01-03 | Microsoft Corporation | Independent Computation Environment and Provisioning of Computing Device Functionality |
| US7739070B2 (en) * | 2007-08-28 | 2010-06-15 | Agilent Technologies, Inc. | Standardized interfaces for proprietary instruments |
| US20140136148A1 (en) * | 2012-11-15 | 2014-05-15 | Microsoft Corporation | Automatic determination of device specific interoperability |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4127823A (en) * | 1977-02-23 | 1978-11-28 | Frost R Jack | Programmable controller |
| US4168796A (en) * | 1978-04-13 | 1979-09-25 | Ncr Corporation | Tester with driver/sensor circuit having programmable termination devices |
| US4196386A (en) * | 1978-04-13 | 1980-04-01 | Ncr Corporation | Method and portable apparatus for testing digital printed circuit boards |
| US4594711A (en) * | 1983-11-10 | 1986-06-10 | Texas Instruments Incorporated | Universal testing circuit and method |
| EP0143623A3 (en) * | 1983-11-25 | 1987-09-23 | Mars Incorporated | Automatic test equipment |
| US5386369A (en) * | 1993-07-12 | 1995-01-31 | Globetrotter Software Inc. | License metering system for software applications |
| US5412575A (en) * | 1993-10-07 | 1995-05-02 | Hewlett-Packard Company | Pay-per-use access to multiple electronic test capabilities |
-
1993
- 1993-10-07 US US08/132,987 patent/US5412575A/en not_active Expired - Lifetime
-
1994
- 1994-09-30 EP EP94307170A patent/EP0647855B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1994-09-30 DE DE69421494T patent/DE69421494T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1994-10-07 JP JP27072094A patent/JP3568257B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1995
- 1995-02-15 US US08/388,765 patent/US5481463A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005300535A (ja) * | 2004-04-06 | 2005-10-27 | Agilent Technol Inc | 自動試験装置を有効にするセキュリティトークンの提供及び使用法 |
| JP2009198291A (ja) * | 2008-02-21 | 2009-09-03 | Yokogawa Electric Corp | 半導体試験装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE69421494T2 (de) | 2000-02-10 |
| DE69421494D1 (de) | 1999-12-09 |
| US5412575A (en) | 1995-05-02 |
| JP3568257B2 (ja) | 2004-09-22 |
| EP0647855B1 (en) | 1999-11-03 |
| US5481463A (en) | 1996-01-02 |
| EP0647855A1 (en) | 1995-04-12 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3568257B2 (ja) | 電子回路試験システム | |
| US5581463A (en) | Pay-per-use access to multiple electronic test capabilities and tester resources | |
| US4272757A (en) | Vending machine accountability system | |
| US4951308A (en) | Automated vending of cellular hand-held telephones and cellular telephone services | |
| US4593376A (en) | System for vending program cartridges which have circuitry for inhibiting program usage after preset time interval expires | |
| EP0884701B1 (en) | Machine data acquisition system and method | |
| EP0671711A1 (en) | Software rental method and apparatus, and circulating medium therefor | |
| US4621330A (en) | Programming system for programmable time registering electric energy meters | |
| US6968998B2 (en) | System and method for ensuring payment for sold or leased equipment | |
| JP2008183180A (ja) | 遊技媒体貸出装置 | |
| JP4236069B2 (ja) | 遊技機 | |
| JP2001137504A5 (ja) | ||
| JPH11267332A (ja) | プリペイドカードシステム | |
| JPH0760097B2 (ja) | プリペイドカードによる使用料金調定システム | |
| JP5643977B2 (ja) | 遊技台 | |
| JPH1094662A (ja) | カード式遊技システム | |
| JP4220697B2 (ja) | 遊技機 | |
| JP2009082733A (ja) | 遊技用演算処理装置 | |
| JP3753454B2 (ja) | カード式遊技設備 | |
| JP3036757B2 (ja) | 自己診断機能付計量機 | |
| JP5643976B2 (ja) | 遊技台 | |
| JP5643978B2 (ja) | 遊技台 | |
| JP4641043B2 (ja) | 遊技機 | |
| JP2604382Y2 (ja) | タクシーメータ | |
| JP2003251036A (ja) | 遊技機 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20040218 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20040527 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20040615 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |