JP3568257B2 - 電子回路試験システム - Google Patents

Description

【０００１】
【産業上の利用分野】
本発明は電子回路基板試験に関し、特に回路基板テスターへのアクセスを制御するための使用払い方式のシステムと方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
一般に、所与の回路基板はマイクロプロセッサ、メモリ・チップ、カウンタ・チップ、制御チップ、アナログ部品等のような相互接続された多数の半導体チップから構成されている。回路基板の組み立てが終了した後で、しかも、これらを組立て中の製品に使用する、あるいは、取付ける前に、これらの回路基板は、必要な全ての電気接続が適正に完了し必要な全ての電気部品が適正な位置と適正な向きに実装されたことを確認するために試験しなければならない。試験をする別の理由としては、適正な部品が使用されているか否かを判定し、確認することがある。更に、各部品が適正に（すなわち仕様通りに）動作するか否かを判定する必要がある。電気部品によっては更に取付け後に調整を必要とするものもある。
【０００３】
自動回路基板試験は回路基板試験装置を使用して実施される。回路基板試験装置は従来から公知である。例えば、公知の回路基板試験装置にはヒューレット・パッカード社のモデルＨＰ−３０７５回路基板テスターがある。例えばＨＰ−３０７５は回路基板の部品を計測するために所定の回路基板の種々のピンを同時に、選択的に接続することができるピン（ピンの数は回路基板の構造によって左右される）を有している。ＨＰ−３０７５はヒューレット・パッカード社から市販されているＨＰ３０７０ファミリーの操作・サービス・マニュアルに詳細に記載されている。
【０００４】
多様な別の回路基板テスターも市販されている。使用される回路基板テスターの種類は回路基板で試験しなければならない試験の種類に左右される。例えば、ＨＰ−３０７２Ｕ回路基板テスターはアナログ回路基板での簡単なアナログ試験、又はＨＰＴｅｓｔＪｅｔ ソフトウェアを使用したＳＭＴオープン試験に使用される。標準のインサーキット・アナログ試験、簡単なディジタル・インサーキット試験、又はアナログ機能試験を要する試験にはＨＰ３０７２Ｐ回路基板テスターが必要である。より複雑なディジタル・インサーキット試験が必要である場合は、付加的なＨｙｂｒｉｄＰｌｕｓ−６カードと、付加的なインサーキット・ソフトウェアを備えたＨＰ３０７３回路基板テスターが必要である。最後に、標準のインサーキット・アナログ及びディジタル試験、アナログ機能試験、ディジタル・バックトレーシング、故障辞書試験及びタイミング・セット試験が必要である場合は、ＨｙｂｒｉｄＰｌｕｓ−６カードと、組合せソフトウェアが使用される。上記の回路基板テスターは全てカリフォルニア州パロアルトのヒューレット・パッカード社から市販されている。
【０００５】
特定の回路基板テスターのコストはそれが実行できる試験の種類に左右される。異なる回路基板の種類には異なる試験能力が必要になる。多くの異なる回路基板の製造と試験に携わるメーカーでは特定の種類の回路基板に必要であるよりも大幅に多くの能力が必要である。従って、全てが最も複雑な試験を実施できる回路基板テスターの在庫を維持することはコストの効率が悪くなる。
【０００６】
回路基板の製造及び試験業界は極めて競合している。会社が競争力をつけるには最も効率的な方法で試験資源を活用しなければならない。製造フロアーに設置されているが、めったに使用されない装置に投資することは資源の有効利用とは言えない。更に、試験能力がないために営業チャンスを逃してしまえば、新たなチャンスは訪れない。
【０００７】
そのため多くのメーカーは回路基板試験ハードウェアに関して態度を決めかねている。メーカーとしては、所定時間で複雑な試験を実施し、又は最大範囲の顧客にアピールするためには完全な組合せテスターの機能性（例えばＨＰ３０７５の機能性）を備えたい。同時に、完全な組合せテスターに資本投資する余裕がない場合も多い。例えば、契約メーカーでは１０の顧客企業のうち、組合せ試験能力を必要とするのは一社だけである場合がある。残りの９社はその企業の回路基板を試験するのにインサーキット試験の機能性しか必要としない。契約メーカーは１０の顧客の全ての要望に対応したいが、より複雑な試験レベルを必要とするのが１０％だけである場合は、組合せテスターのコストは割りに合わない。
【０００８】
従来の解決方法は特定の回路基板試験システムに対する性能対価格比に焦点をあてるものであった。このような解決方法では、回路基板試験システムの性能と価格のいずれかを特定の市場需要に適応するように調整する。これは優れた“ポイント”方式の解決方法である。しかし、今日の電子メーカーは広範囲の製造技術を利用した広範囲の複雑さを以て製造された回路基板の広範囲の故障に直面している。ポイント方式の解決方法はこのようなニーズに適応するには適していない。ポイント方式の解決方法では、同類ではあるが同一ではない試験装置が重複し、複数の専門業者や、複数の熟練や、複数のサービス及び支援業者を必要とし、これらの全てによって試験のコストが高くなる。
従って、メーカーが高価な回路基板テスターを購入する関連コストを負うことなく、回路基板テスターの多重の電子試験能力にアクセスできるシステムに対する需要がある。
【０００９】
【発明の目的】
本発明は、高価な回路基板テスターを購入する関連コストを負うことなく、回路基板テスターの多重の電子試験能力にアクセスすることのできるシステムおよび方法を提供する。
【００１０】
【発明の概要】
本発明は単一の回路基板テスターの多重の試験能力へのアクセスを制御するようにされた使用払い方式の回路基板試験システム１００を提供するものである。使用払いアクセス・モジュールによってハードウェアの機能性をソフトウェア制御することが可能になる。
【００１１】
使用払い方式のアクセス・モジュールは回路基板の初期状態設定の時点で幾つかのチェックを行う。これらのチェックは、回路基板試験システムのテストヘッドが使用払いモードで動作されるべきであるか否か、又、必要なハードウェアの全てが回路基板テスターにあるか否かを判定するものである。回路基板が装填されると、利用される回路基板の試験能力に応じて使用料が決められる。システムの基本能力だけが利用される場合は、使用料はゼロとなる。回路基板試験区分の開始が検知され、使用クレジット・プールに未だ利用できる使用クレジットがあるものと判定されると、タイマーが始動する。回路基板区分の終了が検知されると、タイマーは停止され、利用できる使用クレジット・プールが相応に差し引かれる。タイマーは、テスターが実際に試験を実行していないものと判定された場合（すなわち、回路基板の取り外し、又はオペレータによる手動的な介在があった場合）にも停止される。
【００１２】
ユーザーは使用クレジットの差引残高が少ないことを警告するために３レベルのアラームを設定できる。発されるアラームは切迫の度合いによってレベルが上がってゆく。（状態、警告、緊要）ユーザーは各アラーム・レベルに応じてクレジットの差引残高（もしくは残りの試験時間を判断する。）利用できる使用クレジット・プールが空になると、緊要レベルで第４のアラームが発され、それ以上の回路基板の試験開始はできなくなる。
【００１３】
回路基板試験の実施中、実施中の試験の料金レベルと，消費された使用クレジットに関する統計が記録される。この情報はユーザーがリポート形式で入手できる。
【００１４】
使用払いアクセスによって電子メーカーは低性能の初期価格で高性能の試験ハードウェアを買うことができる。増強された性能が必要である場合だけ、メーカーにはその能力に対する料金請求がなされる。単一の試験プラットフォームを保持するだけで、電子メーカーは、ハードウェアとソフトウェアの契約負担額を低減し、全ての試験技師に一貫した訓練を行えばよく、試験オペレータの操作手順を規準化してその幾つかを指定すればよいので、試験全体のコストを節減できる。
【００１５】
【実施例】
図１を参照すると、本発明は単一の回路基板テスターの多重の試験能力へのアクセスを制御するようにされた使用払い回路基板試験システム１００を提供するものである。推奨実施例で使用される回路基板テスターはＨＰ３０７５回路基板テスターである。ＨＰ３０７５回路基板テスターによって、例えば標準のインサーキット・ディジタル及びアナログ試験、アナログ機能試験、サービス・マウント技術（ＳＭＴ）オープン試験、ディジタル・バックトレーシング、故障辞書試験、及びタイミング設定試験を行うことができる。この種類の回路基板テスターは組合せテスターと呼ばれている。
【００１６】
本発明を使用すると利点が得られるメーカーには幾つかのタイプがある。一つのタイプは自社用の回路基板を製造し、試験する回路基板メーカーである。別のタイプは、回路基板を製造する企業のために回路基板試験を実施する契約による試験業者である。更に別のタイプは、別の企業のために回路基板の製造と試験を行う契約メーカーである。これらのタイプのメーカーは以下では全般的にメーカーという用語で呼ばれる。
【００１７】
本発明は組合せテスター・ハードウェアと組み合わせたソフトウェア・インタフェースを提供するものである。すなわち、本発明の使用払いシステムは単一の試験プラットフォームとインタフェースされる。このシステムは使用クレジットのプールを管理することによって単一の試験プラットフォームの多重の試験能力へのアクセスを制御する。使用払いシステムは多重の試験能力の使用状態を監視し、且つ前記多重の電子試験能力の使用状態に基づいて使用クレジット・プールから使用クレジット高を借方記入するようにされている。
【００１８】
すなわち、メーカーは例えば組合せ回路基板テスター（すなわち多重の能力を備えたテスター）と使用クレジット・プールを購入する。しかし、組合せ回路基板テスターは追加料金なしでは、低レベルの能力（例えば標準の非出力試験やＳＭＴオープン試験）へのアクセスだけが可能であるようにされている。すなわち、メーカーは組合せ試験の低レベルの試験能力だけを使用することに制限されている。しかし、クレジット・プール内の使用クレジットの借方記入すると、ユーザーはより高レベルの能力にアクセスできる。（例えばメーカーは限定出力試験、インサーキット試験及び組合せ試験能力にアクセスできる。）使用クレジット・プールには回路基板試験が利用した最高レベルの試験機能に対応する使用料が借方記入される。使用クレジットには、回路基板テスターによって試験が実施される毎に借方記入される。
【００１９】
推奨実施例はヒューレット・パッカード社が製造販売している回路基板試験装置を使用しているが、本発明はどの種類の回路基板テスターにも利用できることが専門家には理解されよう。更に、本発明は一つのレベル以上の機能性を有する任意のハードウェア／プラットフォーム・ソフトウェア・パッケージに利用できる。
【００２０】
図１は本発明に従って動作する回路基板テスターの大幅に概略化した図面を示している。プリント回路基板１１０は複数の部品リード線を介して複数の導体１４０に接続されて、プリント回路基板１１０上に回路を形成する複数個のアナログ、ディジタル双方の部品１２０を有している。試験ベッド１６０は所定位置で導体１４０と接触して試験信号を供給し、プリント回路基板１１０内の所定位置での応答を検出する機能を果たす複数のコネクタ−ピン１８０を有している。導体１３０はコネクタ・ピン１８０を試験システム１７０に接続する。試験システム１７０は試験動作と分析を行い、ユーザー１９０に対して情報を提供するのに必要な信号発生器と信号処理装置とを備えている。情報はプリント回路基板１１０の試験結果を表示する。
【００２１】
試験システム１７０には試験を監視制御する試験プランが装填される。これには例えば、試験の順序付け、結果のロギング、回路基板／取付け具のインタフェースの制御、試験用電力供給の制御等が含まれる。すなわち、試験プランは回路基板テスター１００での試験の実施を制御するプログラムである。
【００２２】
使用払いアクセス・モジュール１５０が試験システム１７０に結合されている。使用払いアクセス・モジュール１５０は回路基板の初期状態設定の時点で幾つかのチェックを行う。これらのチェックは、回路基板テスター１００が使用払いモードで動作されるのか、又、必要なハードウェアが回路基板テスター１００に備わっているか否かを判定する。回路基板の情報がテストヘッド１６０に装填されると、使用料金（すなわち単位時間当たりのクレジット高）が使用される回路基板試験の能力に応じて決定される。回路基板試験区分の開始が試験開始機能を介して検知され、使用クレジット・プール内に未だ利用できる使用クレジットがあるものと判定されると、タイマーが始動する。試験停止機能を介して回路基板試験区分の終了が検知されると、タイマーは停止し、利用できる使用クレジット・プールが相応に差し引かれる。タイマーは、テスターが実際には試験を実施していないことが判定さた場合（例えば回路基板の取り外しや、データ入力のために一時停止中）も停止する。この機能性は後に詳述する。
【００２３】
図３を参照すると、認可ボタン３００はクレジットの勘定（すなわち試験システム１７０の使用払いアクセス）並びにシステムの安全性のその他の側面のために使用される。認可ボタン３００は試験システム１７０の使用権を制御する安全用マイクロチップである。すなわち、認可ボタン３００はソフトウェアを複写する権利ではなく、使用する権利を制御する。
【００２４】
一般に、認可ボタンはそれを通してソフトウェア適用業務によってアクセスされる直列又は並列ポートに取付けられたボタン・ホルダー（図示せず）に装填される安価な市販の器具である。Ｉ／Ｏポートはその他の適用業務及びオペレーティング・システムによっても利用可能な状態に保たれている。推奨実施例では、認可ボタン３００には最小限のクレジット購入料（例えば５０，０００単位）が装填される。認可ボタン３００は特定の顧客、又は特定のハードウェアに対してロックされるものではない。すなわち、顧客は違約金なしに認可ボタンをテストヘッドからテストヘッドに移動してもよい。
【００２５】
回路基板の最低の試験能力以上を必要とする試験プランは、認可ボタン３００が少なくともある程度のクレジット残高がある場合だけ実行される。試験プラン・セグメントが完了すると（すなわち、停止の時点に達すると）、認可ボタン３００から相応のクレジット高が差し引かれる。
【００２６】
ボタン・ホルダーには一つ以上のボタンを装填できるものもある。複数のクレジット・ボタンが装填され、その一つが空である場合、次のボタンに切り換えられ、ユーザーが空のボタンが交換されることを確認するように指示するメッセージがスクリーンに表示される。試験中に残りのクレジットの全てが（全てのボタンで）空になった場合は、新たなボタンがボタン・ホルダーに挿入されるまで、それ以上の回路基板試験を行うことは許容されない。認可ボタン３００がなく、又は、認可ボタン３００にクレジットが含まれていない場合は、テスターは最低の機能レベル（例えば非出力試験）だけで動作する。
【００２７】
ボタンによるアクセス・ルーチンによってボタンの現在のクレジット差引残高を読み取り、ボタンに新たな差引残高を書込み、更にシステムの安全性を確認することができる。
【００２８】
推奨実施例はテキサス州ダラスのダラス半導体製の認可ボタンを使用している。認可ボタン３００は不正改造防止の１６ｍｍのステンレス鋼容器内にパッケージされている。認可ボタン３００を物理的に不正改造すると、その内容が破壊され、使用できなくなる。推奨実施例で使用される認可ボタン３００は暗証で防護された持久読出し／書込み記憶装置を含んでいる。この記憶装置は最終ユーザーの現場（すなわちチップ・メーカー又は契約業者）で情報（すなわちクレジット情報）を更新することができる。
【００２９】
推奨実施例では、認可ボタン３００はこれもダラス半導体から市販されているＤＳ１４１ボタン・ホルダー（図示せず）を介してテスターとインタフェースされる。
【００３０】
認可ボタン３００との通信は適応する１線インタフェースを介して行われる。認可ボタン３００の底部３１０はデータ・ピンであり、フランジ３２０が基底である。認可ボタン３００との対話はパルス幅変調プロトコルを介して行われる。ダラス半導体から市販の応用プログラム・インタフェース（図示せず）によって使用払い方式のシステム・アクセス・モジュール１５０と、認可ボタン３００とがリンクされる。アクセス・ソフトウェアは１線インタフェースを管理し、ポートにある全ての認可ボタンを識別する。アクセス・ソフトウェアに関するその他の情報はダラス半導体から市販されているＤＳ１４１ｘＫボタン・ディベロッバー・キットに記載されている。認可ボタン３００に関するその他の文献もダラス半導体から市販されている。
【００３１】
使用払い回路基板試験システム１００は２つの方法で操作できる。第１の方法は、３つの料金追加モードの各々で利用できる特定の試験時間の量と一致する使用クレジットのブロックに前払いするようにメーカーに要求する方法である。推奨実施例では３段階の追加料金モードを採用してきるが、本発明は追加料金モード数を限定するものではないことに留意されたい。第２の方法は、３つの追加料金モードの各々でのテスターの使用時間を測定し、顧客に周期的に勘定請求する方法である。推奨実施例では、前払い方式が実施され、これについては後に詳述する。
【００３２】
使用払い回路基板試験システムは更に、（テスターの使用時間ではなく）選択された試験が実施される回数をカウントし、試験数と，試験で利用された能力レベルに応じてクレジットから差し引く方式を採用して実施することもできる。推奨実施例では、タイマー方式が実施され、後に詳述する。
【００３３】
図２は使用払いアクセス・システム１５０の詳細な構成図を示している。ユーザー１９０は使用払いシステムの異なる能力にアクセスすることができ、（試験プランに規定された）所定の指令セットを介して上記の能力にアクセスする。
【００３４】
ユーザーは回路基板の試験を準備する際に試験システム１７０に回路基板情報と試験プランとを装填する。試験板の情報が装填されると、使用払いシステム１５０は回路基板を試験するためにテスターのどの能力が必要であるかを判定する。本発明では４つのレベルの試験が実施できる。すなわち１）非出力試験、２）簡単な限定出力試験、３）完全なインサーキット試験、及び４）組み合わせ試験である。各々の試験レベルにはそれに応じた料金レベルがある。（推奨実施例では、非出力試験には料金がかからないことを付記しておく。）回路基板全体用の料金レベルは（回路基板記述情報によって判定された）利用される最高の能力に基づくものである。この料金レベルは使用払いシステム初期状態設定モジュール２１５に記憶される。使用クレジット差引残高更新モジュール２４５（以後差引残高モジュール２４５と呼ぶ）は使用払いソフトウェアの初期状態設定中に接続線２１７を介して現在の料金レベルに更新される。
【００３５】
料金レベルが決定され、回路基板が装填されると、ユーザーは（線２１２を介して）“試験開始”指令２１０を発することによって回路基板試験を開始する。この指令は（線２１４を介して）モジュール２２０内に示したように、タイマーの始動をトリガする。
【００３６】
開始モジュール２２０は線２０２を介して使用クレジット・プール２４０にアクセスできる。使用クレジット・プールは利用できる使用クレジットを記憶している。開始モジュール２２０は、使用クレジット・プール２４０に利用できる充分な使用クレジットがない場合は、有料の回路基板試験の開始を防止するように構成されている。使用クレジット・プール２４０の現在の内容は線２０４を介してディスプレー報告モジュール２７０に送られることができる。
【００３７】
タイマーは回路基板の試験中に経過した時間量の記録を保持する。タイマーは（線２１６を介して）モジュール２３０に示したような“一時停止”、又は“中断”又は“出口”指令のような“試験停止”指令２５５を実行することによって（線２１８を介して）停止させることができる。停止指令２２５の一つが一旦実行されると、テスターは休止し、タイマーは試験の時間を測定することを停止する。すなわち、使用払いシステム１５０は使用クレジット・プール２４０からクレジットを差し引かない。
【００３８】
試験停止指令はブロック２３０に示すように、タイマーを停止する。タイマーが一旦停止すると、差引勘定モジュール２４５が（線２４４を介して）アクセスされ、ユーザーの使用クレジットが更新される。前述のように、差引勘定モジュール２４５はシステムの初期状態設定中にモジュール２１５によって既に現在の料金レベルで更新されている。差引勘定モジュール２４５は双方向線２４２を介して使用クレジット・プール２４０にアクセスし、更新された使用クレジット差引残高を計算する。
【００３９】
詳細に説明すると、差引勘定モジュール２４５は料金レベルをタイマーの全経過時間で乗算することによって更新された差引残高を計算する。この数値すなわち料金レベルをタイマーの全経過時間で乗算した数値が使用クレジット・プール２４０に記憶された使用クレジット総数から減算されて、更新された差引残高が算出される。更新された差引残高は次に使用クレジット・プール２４０に再度記憶される。更に、更新された差引残高は線２６７を介して（後述する）回路基板統計モジュール２８０にも送られる。
【００４０】
試験開始指令２１０が引き続き実行されると、タイマーは再び始動し、回路基板の試験を継続できる。使用払いシステム１５０は、テスターが回路基板を実際に試験している間だけの料金を請求する。回路基板の交換やデータ入力のための休止時間の料金はユーザーに対して請求されない。
【００４１】
使用払いシステム１５０は更に状態アラーム２５０を備えている。推奨実施例では、アラームは３つの残高不足アラーム・レベルを備えるようにプログラムされている。ユーザーは応用プログラム２６０を介して残高不足アラームのレベルを変更することができる。これは線２６２によって示されている。次に変更は線２５６を経てアラーム・データ・ファイル２５５に記憶される。
【００４２】
どのアラーム・レベルに設定されるかに関わりなく（例えば省略時、又はユーザー定義）、アラーム・レベルはアラーム・データ・ファイル２５５に記憶される。アラーム・ファイル２５５はこの情報を線２５９を介して差引勘定モジュール２４５に、線２６１を介して報告モジュール２７０に、又、線２６３を介して初期状態設定モジュール２１５に送る。
【００４３】
第１レベルのアラームは状態アラームと呼ばれる。状態アラームはクレジット高が第１のアラーム・レベル（例えば４０時間分の使用クレジットが残っている状態）に達したことを表示する。そのような場合は、使用クレジット高をできるだけ速やかに追加する必要がある。第２レベルのアラームは警告アラームと呼ばれる。警告アラームはクレジット高が第２のアラーム・レベル（例えば２０時間分の使用クレジットが残っている状態）に達するとその旨の信号を発する。第３の、最終的なアラーム・レベルは緊要アラームと呼ばれる。推奨実施例では、この緊要アラームは、クレジット高が、テスターが１シフトだけ動作するのに必要なクレジット高よりも僅かに多いだけの場合（例えば８時間を僅かに上回るだけ）にその旨の信号を送る。
【００４４】
使用できる時間に等しいクレジット高は、アラームがトリガされた時点で試験中の回路基板の料金レベルによって決まる。
【００４５】
推奨実施例では、使用払いシステム１５０はアラーム・レベルに達した時にユーザーに対して（線２１１を経て）警報を発するようにプログラムされている。特定の警告レベルが特有の色彩でユーザー１９０に表示される。使用払い試験システム１５０は、使用払いシステムのソフトウェアの初期状態設定の後、又は、差引残高の更新後にアラーム状態をチェックする。初期状態設定中に、アラーム・ファイルは線２０６を介してチェックされ、且つ差引残高の更新中に線２０８を介してチェックされる。
【００４６】
推奨実施例では、このシステムはクレジットの“スペア・タンク”を搭載できる。それによって、空のボタンの代えを購入中に、又は装填中に“スペア・タンク”ボタン（図示せず）で試験を継続できる。しかし、増強されたレベルで試験を継続するには、クレジットの差引残高は常にプラスでなければならない。
【００４７】
推奨実施例では更に、実行時間試験システム１７０が認可クレジット・ボタン３００に関する情報を受理する。実行時間ソフトウェア（図示せず）は、使用払いアクセス・システム１５０が認可クレジット・ボタン３００から遮断された場合、挿入された認可ボタン３００がミスである場合、又は、認可ボタン３００が空である場合を除いては休止している。推奨実施例では、“非出力のみ”の試験プランが実行中である場合（すなわち、クレジット・プールに借方記入する試験を使用しない場合）、使用払いシステム１５０は、試験システム１７０に認可ボタンを取付ける必要がない。
【００４８】
メーカーが差引残高の更新中に認可ボタンへのアクセスを無視したり、遮断しようとすることへの安全策として、本発明は安全目的のために“更新保留”機構を実施している。更新保留は、差引残高の更新が成されようとし、使用払いシステム１５０が、認可ボタン３００が試験システムに接続されていることを検知しない場合に実施される。使用払いシステム１５０は新たな開始指令が出されるまで更新情報を保管し、その時点で使用払いシステムは試験の再開が可能になる前に、再装填された認可ボタン３００内のクレジット差引残高を更新する。
【００４９】
使用払い試験システム１５０の最終モジュール・セットは回路基板の試験統計機能に集中している。回路基板試験の全統計がデータ・ファイル２８０に記憶される。回路基板試験の統計の例には、回路基板の識別（ＩＤ）、そのＩＤの回路基板がそれに基づいて試験された最初の日付け、そのＩＤの回路基板がそれに基づいて試験された最新の日付け、料金請求される回路基板試験のレベル、及びそのＩＤの回路基板を試験するために使用されたクレジットの総額が含まれる。この情報は全て線２７２を介してモジュール２７０に前送りされ、このモジュールは全ての情報をコンパイルし、使用払いアクセス・システム１５０にリポートを提示する。このリポートはユーザー１９０に提供される。
【００５０】
回路基板統計クリヤ・プログラム２８５は線２８８で示すようにユーザー１９０に提示される。プログラム２８５によってユーザーは、線２８６を介して回路基板統計データ・ファイルの全体を、もしくは回路基板ＩＤ毎にクリヤすることができる。
【００５１】
リポート・プログラム２７０は使用払いアクセス・システム１５０の全ての側面のデータを提示する。報告プログラム２７０は今日の日付け、存在する全てのクレジット・ボタンの現在の使用クレジット差引残高、及びこのクレジット・ボタンの現在の使用クレジット差引残高に基づく、各クレジット・ボタンの残りの全試験時間を提示する。この試験時間データは３段階で増強される試験レベルの各々について計算される。報告プログラム２７０は更にユーザー定義のアラーム設定及び回路基板の統計の現在値をプリントする。報告プログラム２７０は線２７４を介してユーザー１９０にこの情報を提示する。
【００５２】
推奨実施例では、使用払いシステムのユーザーは実際の試験時間についてだけ料金請求がなされる。言い換えると、プログラム開発、試験中のデータ入力のための一時停止、システム診断等には料金請求はなされない。システムの安全性と完全性は不可欠である。クレジット・ボタンが不正である場合は、警告が提示され、試験を継続するには新たなボタンが挿入されなければならない。本発明は所有権アクセス暗証を設けることによって、顧客が不正に作成したクレジット・ボタンの使用を防護している。暗証の知識がないと、メーカーは使用払いシステム１５０が認識するクレジット・ボタンを作成できない。従ってメーカーは、回路基板テスターの増強された試験能力へのアクセスができない。使用払いソフトウェアも顧客によってターンオフできないことも重要である。更に、クレジット・ボタンの安全性は、認可ボタン３００が装填されるポートへの、又、ポートからの送信を遮断することによっては侵犯することができない。
【００５３】
顧客は実際にプログラムされたものよりも低レベルの試験能力を暗示するように回路基板の構造を修正することによって、料金レベルを引き下げることができない。試験対象は試験実施の時点で、実行時間の回路基板構造に指定された能力と、試験対象が製造された時に指定された能力とが整合していることを確認するチェックがなされる。
【００５４】
使用払い試験システム１５０のユニークな点は、それによって電子メーカーが試験時間を購入する態様が変化することである。主要には、使用払いによって初期の資本投資が削減され、進行に伴う経費が増える。この財政上の方式はメーカーがテスターを使用する方式と一致している。節減される経費が試験業者への収益損で制約されるので、テスターの資本コストを僅かに節減すること（ディスカウント、値引き）は適切な方法ではない。使用払い方式によって、収益の流れが年金のようになり、試験設備の初期資本コストを大幅に削減でき、試験業者の収益損は、試験システムの実際の使用に伴う年金的な“支出”で時間の経過とともに相殺される。
【００５５】
使用払いアクセスによって電子メーカーは低性能の初期価格で高性能の試験ハードウェアを購入できる。増強された性能が必要である場合だけ、メーカーにはその能力に見合う料金が請求される。これは回路基板毎に管理される。単一の試験プラットフォームを保持するだけで、電子メーカーはハードウェアとソフトウェアの契約負担額を低減し、全ての試験技師に一貫した訓練を行えばよく、試験オペレータの操作手順を規準化してその幾つかを指定すればよいので、試験全体のコストを節減できる。
【００５６】
別の実施例では、使用払いシステム１５０はネットワーク使用許可方式で実施することができる。従来のネットワーク・システムでは、複数のコンピュータがコンピュータ・ネットワーク内（例えば局域ネットワーク）で互いに結合されている。このネットワークはネットワーク相互に共用できる単数又は複数のソフトウェア・パッケージを含むライセンス・サーバーにも接続されている。ネットワークのオーナーはソフトウェアの開発者から特定のソフトウェア・パッケージの複数の使用許可のライセンスを購入する。すなわち、ネットワークが３つのライセンスを所有している場合は、所定の時点で３者のユーザーしかソフトウェア・パッケージにアクセスできない。
【００５７】
これに対して、使用払いシステム１５０をコンピュータ・ネットワークに接続することによって、ユーザーは使用クレジットのプールからのクレジットに借方記入することによって、ソフトウェア・パッケージにアクセスすることができる。異なるソフトウェア・パッケージ又はパッケージ群が独自の使用クレジット・プールを有し、時間又は使用単位毎に異なるクレジット高を必要とすることになろう。このシステムでは、一度にソフトウェア・パッケージにアクセスできるユーザーの数に制約はない。むしろ、ソフトウェア・パッケージの使用が制約されるのは、特定のソフトウェア・パッケージ毎に利用できる使用クレジット高によってのみである。
【００５８】
使用払いネットワーク・ライセンスを実施するためには使用払いシステム１５０に変更を加える必要があることが専門家には明らかであろう。
【００５９】
認可ボタン３００の更に別の使用法は、ユーザーが一時料金（例えばボタンの購入費）で増強されたソフトウェア、又はハードウェア能力にアクセスできるように、認可ボタン３００でコードを実行できる簡便な権利を記憶することである。この方式では使用クレジットから差し引かれることはない。認可ボタンは使用中のシステムの種類を特定するためにも利用できる。すなわち、認可ボタンはシステムが使用払いモードで動作しているのか、又は、制限なく全アクセスできる組み合わせテスターとして動作しているのかを表示することが可能であろう。認可ボタン３００の上記の使用法は個々に、又は組み合わせて利用できることが専門家には明白であろう。
これまで本発明を推奨実施例を参照して図示し、説明してきたが、本発明の趣旨と範囲から離れることなく形式と細部を多様に変更できることが専門家には理解されよう。
【００６０】
以上、本発明の実施例について詳述したが、以下、本発明の各実施例毎に列挙する。
【実施例１】
電子回路の試験システムにおいて、
ａ）多重電子試験能力を有する回路基板試験プラットフォーム１６０，１７０と、
ｂ）前記回路基板試験プラットフォーム１６０，１７０と結合され、この回路基板試験プラットフォーム１６０，１７０の前記多重電子試験能力の利用状態を監視し、且つ、前記多重電子試験能力の利用状態に基づいて使用クレジット・プール２４０から使用クレジット高を借方記入するための使用払いアクセス・モジュール１５０、とを備えたことを特徴とするシステム。
【実施例２】
前記クレジット・プール２４０内のクレジット高が不充分である場合は、前記使用払いアクセス・モジュール１５０が基本レベル以外での前記回路基板試験プラットフォーム１６０，１７０での試験を認可しないことを特徴とする実施例１記載のシステム。
【実施例３】
前記使用クレッジット・プール２４０を含む単数又は複数個の認可ボタンを更に備え、この単数又は複数個の認可ボタンには所定数のクレジットが装填されていることを特徴とする実施例１記載のシステム。
【実施例４】
前記使用払いアクセス・モジュール１５０が回路基板試験開始機能を開始することによって起動され、回路基板試験終了機能を開始することによって停止するタイマー２２０，２３０を備え、このタイマー２２０，２３０が前記回路基板試験を実施するのに経過した時間の記録を保存することを特徴とする実施例１記載のシステム。
【実施例５】
前記使用払いアクセス・モジュール１５０が更に、
前記使用クレジット・プール２４０を記憶するための認可装置３００と、
前記タイマー２２０，２３０と前記認可装置３００とに接続され、料金レベルと、前記タイマー２２０，２３０によって記録された時間の長さに基づいて使用クレジットの控除を計算する差引勘定モジュール２４５とを備え、前記使用クレジット・プール２４０が前記控除によって差し引かれることを特徴とする実施例４記載のシステム。
【実施例６】
使用クレジットのプールを装填した使用クレジット・プール２４０を結合した回路基板テスター１６０，１７０の多重の能力へのアクセスを制御するためのコンピュータを使用した方法において、
１）試験プラン１７０に従って回路基板試験セグメントを初期設定する段階と、
２）前記回路基板試験を実施するために回路基板テスター１６０，１７０のどの能力が必要であるかを前記試験プラン１７０から判定する段階と、
３）前記必要な能力に基づいて料金レベルを決定する段階と、
４）回路基板試験開始機能２１０と回路基板試験停止機能２２５とによって決定された前記回路基板試験セグメントを実施するために経過した時間を判定する段階と、
５）前記経過時間と前記料金レベルとに基づいて、前記回路基板試験セグメントを実施するために使用クレジットのプール２４０から控除されるべき使用クレジット高を計算する段階と、
６）使用クレジットのプール２４０から前記使用クレジット高を控除する段階と、
７）使用クレジット・プール２４０内の使用クレジット高が警告値以下に低減した場合は、状態アラーム２５０を発する段階、とから成ることを特徴とする方法。
【実施例７】
回路基板テスター１６０，１７０の多重能力にアクセスするための料金をユーザーに対して使用払い方式で請求するシステムにおいて、
ａ）使用クレジット・プール２４０を記憶するための認可装置３００と、
ｂ）回路基板プラットフォーム１６０，１７０に結合され、この回路基板試験プラットフォーム１６０，１７０の前記多重電子試験能力の利用状態を監視し、且つ、前記多重電子試験能力の利用状態に基づいて使用クレジット・プール２４０から使用クレジット高を借方記入するための使用払いアクセス・モジュール１５０、とを備えたことを特徴とするシステム。
【実施例８】
前記使用払いアクセス・モジュール１５０が、
１）回路基板試験開始機能２１０を開始することによって起動され、回路基板試験終了機能２２０を開始することによって停止し、前記回路基板試験を実施するのに経過した時間の記録を保存するタイマー２２０，２３０と、
２）前記タイマー２２０，２３０と前記認可装置３００とに接続され、料金レベルと、前記タイマー２２０，２３０によって記録された時間の長さに基づいて使用クレジットの控除を計算する差引勘定モジュール２４５と、
３）前記差引勘定モジュール２４５に接続され、残りの使用クレジット高が警告レベルに達すると、その旨を表示する状態アラーム２５０、とを備えたことを特徴とする実施例７記載のシステム。
【実施例９】
ハードウェア・プラットフォームの多重能力にアクセスするための料金をユーザーに対して使用払い方式で請求するシステムにおいて、
ａ）使用クレジット・プール２４０を記憶するための認可装置３００と、
ｂ）前記プラットフォームに結合され、このハードウェア・プラットフォームの前記多重電子試験能力の利用状態を監視し、且つ、前記多重電子試験能力の利用状態に基づいて使用クレジット・プール２４０から使用クレジット高を借方記入するための使用払いアクセス・モジュール１５０、とを備えたことを特徴とするシステム。
【実施例１０】
複数のコンピュータから成るシステムにおいてソフトウェアの使用を許可するシステムが、
ａ）単数又は複数のソフトウェア・パッケージを含むライセンス・サーバーと、
ｂ）前記ソフトウェア・パッケージのそれぞれが前記使用クレジット・プール２４０と関連している形式の、単数又は複数の使用クレジット・プール２４０を記憶するための前記使用許可サーバーに結合された認可装置３００と、
ｃ）前記ライセンス・サーバーと前記認可装置３００とに結合され、前記単数又は複数のソフトウェア・パッケージの使用状態を監視し、且つ前記単数又は複数のソフトウェア・パッケージの使用状態に基づいて前記使用クレジット・プール２４０から使用クレジット高を借方記入するための使用払いアクセス・モジュール１５０、とを備えたことを特徴とするシステム。
【００６１】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明を用いることにより、メーカーが、高価な回路基板テスターを購入する関連コストを負うことなく、回路基板テスターの多重の電子試験能力にアクセスすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】回路基板試験システムの大幅に概略化した図面である。
【図２】回路基板試験ハードウェアに結合された使用払い試験システム１００の構成図である。
【図３】認可ボタンの概略図である。
【符号の説明】
１１０：プリント回路基板
１５０：アクセス・モジュール
１６０：テストヘッド
１７０：試験システム

Claims (10)

1. 電子回路を試験するシステムであって、
   （ａ）試験ベッドと試験システムを有し、多重の電子試験をする能力すなわち多重電子試験機能を備えた回路基板試験プラットフォームと、
   （ｂ）前記回路基板試験プラットフォームに結合されており、前記回路基板試験プラットフォームの前記多重電子試験機能の使用を監視し、前記多重電子試験機能の前記使用に基づき使用クレジット・プールから使用量クレジットの数を借方記入する使用払いモジュールと
   を備えたシステム。
2. 前記回路基板試験装置が組合せ試験能力を備えた試験装置であることを特徴とする請求項１記載のシステム。
3. 前記使用クレジット・プールを有する１個以上の認可ボタンをさらに含み、前記１個以上の認可ボタンには所定数のクレジットが装填されていることを特徴とする請求項１記載のシステム。
4. 前記使用クレジット・プールは不正な変更および／または無認可のユーザによる変更から防護されていることを特徴とする請求項１記載のシステム。
5. 前記使用払いモジュールは、回路基板試験開始機能を開始することによって作動し回路基板試験停止機能を開始することによって停止されるタイマーを備えており、前記タイマーは回路基板試験を実行するために経過時間の記録を保持しており、前記使用クレジット・プールは、経過時間の前記記録および前記多重電子試験機能のいずれが使用されるかの関数として借方記入されることを特徴とする請求項１記載のシステム。
6. 前記使用払いモジュールは、
   前記使用クレジット・プールを記憶する認可手段と、
   前記タイマーおよび前記認可手段と接続されており、料金レベルおよび前記タイマーにより記録された時間の量に基づき使用クレジットの差引残高を計算する差引勘定モジュールとをさらに含み、ここにおいて前記使用クレジット・プールは前記差引残高まで減額されることを特徴とする請求項５記載のシステム。
7. 前記使用払いモジュールは、前記差引勘定モジュールと接続され、残り使用クレジット高が警報レベルに達した時を指示する状態アラームをさらに含むことを特徴とする請求項６記載のシステム。
8. 前記使用払いモジュールは、回路基板試験に関連する情報を記憶する統計モジュールおよび、前記統計モジュールと接続され、前記情報の全部を編集し報告を生成する報告モジュールをさらに含むことを特徴とする請求項１記載のシステム。
9. 前記使用払いモジュールは、電子回路の試験において利用される最高の能力を検出することを特徴とする請求項１記載のシステム。
10. 前記電子試験能力の少なくとも１つの使用は前記使用クレジット・プールが借方記入されることを要求しないことを特徴とする請求項１記載のシステム。

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