JPH07159452A - 直流電圧測定方法および装置 - Google Patents

直流電圧測定方法および装置

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JPH07159452A
JPH07159452A JP5355318A JP35531893A JPH07159452A JP H07159452 A JPH07159452 A JP H07159452A JP 5355318 A JP5355318 A JP 5355318A JP 35531893 A JP35531893 A JP 35531893A JP H07159452 A JPH07159452 A JP H07159452A
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JP
Japan
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polarized light
light
axis
voltage
short
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Pending
Application number
JP5355318A
Other languages
English (en)
Inventor
Kiyoshi Kurosawa
潔 黒澤
Satoru Yoshida
知 吉田
Yoshikazu Miyazawa
義和 宮澤
Hideaki Yamazaki
英明 山崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokyo Electric Power Company Holdings Inc
Original Assignee
Tokyo Electric Power Co Inc
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Publication date
Application filed by Tokyo Electric Power Co Inc filed Critical Tokyo Electric Power Co Inc
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明は、構成の複雑化を招くことなく光出
力の時間的低下(ドリフト現象)を抑制することを目的
とする。 【構成】 本発明の直流電圧測定方法および装置は、円
偏波光を被測定直流電圧に応じた楕円偏波光に変換する
ポッケルス素子として光軸方向の直流電界を加えられる
縦型ポッケルス素子11を用いた構成を有している。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ポッケルス効果を利用
して光学的に直流電圧を測定する直流電圧測定方法およ
び装置に関し、特に、構成の複雑化を招くことなく光出
力の時間的低下(ドリフト現象)を抑制できるようにし
た直流電圧測定方法および装置に関する。
【0002】
【従来の技術】現在、実用化されている直流電圧測定装
置として、例えば、電気光学結晶(例えば、Bi4 Ge
3 12等)のポッケルス効果を利用して光学的に直流電
圧を測定するものがある。
【0003】図3には、上記した直流電圧測定装置の構
成が示されている。この直流電圧測定装置は、所定の波
長の光を出射する発光ダイオード等の光源1と、光源1
から発せられた光を後述する光電圧検出器に伝送する光
ファイバ2と、光ファイバ2によって導かれた光を被測
定電圧に応じた楕円偏波光とし、その長軸偏光と短軸偏
光を出射する光電圧検出器3と、長軸偏光と短軸偏光を
それぞれ伝送する光ファイバ4A,4Bと、長軸偏光と
短軸偏光をそれぞれ電気信号に変換して、長軸偏光信号
Aと短軸偏光信号Bを出力する光電変換器5A,5B
と、長軸偏光信号Aと短軸偏光信号Bを入力して楕円偏
波光の楕円率を算出する演算装置6を備えて構成されて
いる。
【0004】光電圧検出器3は、所定の偏波を有した偏
光を出射する偏光子7と、偏光子7から出射された偏光
を円偏波光にする1/4波長板8と、光軸方向と直交す
る方向に被測定直流電圧Vが印加されることにより、円
偏波光を楕円偏波光にする横型ポッケルス素子9と、楕
円偏波光を直交する2つの偏光、すなわち、長軸偏光と
短軸偏光に分離する偏光ビームスプリッタ10より構成
されている。
【0005】演算装置6は、長軸偏光信号Aと短軸偏光
信号Bから(A−B)/(A+B)の演算を行って(こ
の値を楕円率と呼ぶ)、楕円率から被測定直流電圧Vを
算出するように構成されている。
【0006】以下、上記装置を用いた直流電圧測定方法
を説明する。まず、光源1から光を出射し、これを光フ
ァイバ2で光電圧検出器3まで伝送すると、この光は偏
光子7で所定の偏波の直線偏光に変換される。この直線
偏光は1/4波長板8を透過して円偏波光になり、更
に、横型ポッケルス素子10を通ることによって被測定
電圧に応じた楕円偏波光になる。この楕円偏波光は偏光
ビームスプリッタ10で長軸偏光と短軸偏光に分離さ
れ、光ファイバ4A,4Bを介して光電変換器5A,5
Bにそれぞれ伝送される。
【0007】このようにして光電変換器5A,5Bに長
軸偏光と短軸偏光が伝送されると、光電変換器5A,5
Bはこれを光電変換して長軸偏光信号Aと短軸偏光信号
Bとして演算装置6に出力し、演算装置6は入力信号
A,Bから(A−B)/(A+B)の演算を行って被測
定直流電圧Vを算出する。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の直流電
流測定方法および装置によると、ポッケルス素子として
横型ポッケルス素子、つまり、結晶通過光に対し垂直方
向に電界を加える素子を使用しているため、図4に示す
ように、直流電圧印加後、時間とともに光出力が低下
(数十分で10%程度)するドリフト現象が生じる。こ
のドリフト現象は直流電圧の印加によりポッケルス結晶
中の電荷が移動し、ポッケルス素子中心部の電界が緩和
されるために生じると考えられる。
【0009】また、直流電圧を高速でチョッピングした
疑似的な交流電圧を横型ポッケルス素子に印加すれば上
記問題を解決できるが、チョッピング回路やその電源が
必要になり、構成の複雑化を招く他、応答周波数を上げ
るためにチョッピング周波数を上げようとすると、回路
のキャパシタ分のために消費皮相電力が大になるという
不都合が生じる。
【0010】従って、本発明の目的は構成の複雑化を招
くことなく光出力の時間的低下(ドリフト現象)を抑制
することができる直流電圧測定方法および装置を提供す
ることである。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明は上記問題点に鑑
み、構成の複雑化を招くことなく光出力の時間的低下
(ドリフト現象)を抑制するため、光源から発せられた
光を円偏波光に変換し、円偏波光を縦型ポッケルス素子
に通して、その光軸方向に加えられる直流電界によって
楕円偏波光に変換し、楕円偏波光の長軸偏光と短軸偏光
を検出し、長軸偏光と短軸偏光を電気信号にすることに
より、長軸偏光信号Aと短軸偏光信号Bを発生させ、長
軸偏光信号Aと短軸偏光信号Bに基づいて(A−B)/
(A+B)の演算を行って、直流電界に応じた直流電圧
を算出するようにした直流電圧測定方法を提供するもの
である。
【0012】また、上記目的を達成する本発明の直流電
圧測定装置は、光源から発せられる光を円偏波光に変換
する円偏波光変換手段と、光軸方向の直流電界を加えら
れることによって円偏波光を楕円偏波光に変換する縦型
ポッケルス素子と、楕円偏波光の長軸偏光と短軸偏光を
検出する長短軸偏光検出手段と、長軸偏光と短軸偏光を
電気信号に変換し、長軸偏光信号Aと短軸偏光信号Bを
発生する光電変換手段と、長軸偏光信号Aと短軸偏光信
号Bに基づいて(A−B)/(A+B)の演算を行っ
て、直流電界に応じた直流電圧を算出する演算手段を備
えている。
【0013】
【実施例】以下、本発明の直流電圧測定方法および装置
について添付図面を参照しながら詳細に説明する。
【0014】図1には、本発明の一実施例の直流電圧測
定装置の構成が示されている。この図において、図3と
同一の部分には同一の引用数字,符号を付したので重複
した説明は省略する。
【0015】この実施例の直流電圧測定装置は、光電圧
検出器3に光軸方向、つまり、結晶通過光と同じ方向に
直流電圧が印加されることにより円偏波光を直流電圧値
に応じた楕円偏波光にする縦型ポッケルス素子11を設
けて構成されている。尚、検光子10は前述した偏光ビ
ームスプリッタ等より構成されている。
【0016】以下、縦型ポッケルス素子11を適用した
場合の直流電圧の測定について説明する。
【0017】まず、光源1から光を出射し、これを光フ
ァイバ2で光電圧検出器3まで伝送すると、この光は偏
光子7で所定の偏波の直線偏光にされ、次いで、1/4
波長板8で円偏波光になり、更に、縦型ポッケルス素子
11を通ることによって被測定電圧Vに応じた楕円偏波
光になる。検光子12はこの楕円偏波光から長軸偏光と
短軸偏光を検出して出射し、その出射光を光ファイバ4
A,4Bを介して光電変換器5A,5Bにそれぞれ伝送
する。
【0018】このようにして光電変換器5A,5Bに長
軸偏光と短軸偏光が伝送されると、光電変換器5A,5
Bはこれを光電変換して長軸偏光信号Aと短軸偏光信号
Bとして演算装置6に出力し、演算装置6は入力信号
A,Bから(A−B)/(A+B)の演算を行って被測
定直流電圧Vを算出する。
【0019】上記した電圧測定において、ポッケルス素
子として縦型ポッケルス素子11を使用しているため、
直流電圧の印加によって電荷が移動し、これによって一
部の電界が緩和しても通過光路全体での電界の積分値
(印加電圧)を一定にすることができ、これによって光
出力の低下(ドリフト現象)を抑えることができる。
【0020】図2に、被測定電圧として300Vの直流
電圧を印加した実験における電圧印加時間と光出力の関
係が示されている。この実験結果から判るように、30
0Vの直流電圧の印加によって時定数20〜30分程度
で1%程度の出力の変化がみられるが、横型ポッケルス
素子の場合のような大きな出力の低下はみられなかっ
た。
【0021】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の直流電圧
測定方法および装置によると、円偏波光を被測定直流電
圧に応じた楕円偏波光に変換するポッケルス素子として
光軸方向の直流電界を加えられる縦型ポッケルス素子を
用いたため、構成の複雑化を招くことなく光出力の時間
的低下(ドリフト現象)を抑制することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示す説明図。
【図2】一実施例に係る実験結果を示すグラフ。
【図3】従来の直流電圧測定装置を示す説明図。
【図4】従来の直流電圧測定装置に係る電圧印加時間と
光出力の関係を表すグラフ。
【符号の説明】
1 光源 2 光フ
ァイバ 3 光電圧検出器 4A,4B
光ファイバ 5A,5B 光電変換器 6 演算
装置 7 偏光子 8 1/
4波長板 9 横型ポッケルス素子 10 偏光
ビームスプリッタ 11 縦型ポッケルス素子
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 山崎 英明 東京都日野市百草460 東京電力株式会社 東電学園内

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光源から発せられた光を円偏波光に変換
    し、 前記円偏波光を縦型ポッケルス素子に通して、その光軸
    方向に加えられる直流電界によって楕円偏波光に変換
    し、 前記楕円偏波光の長軸偏光と短軸偏光を検出し、 前記長軸偏光と前記短軸偏光を電気信号にすることによ
    り、長軸偏光信号Aと短軸偏光信号Bを発生させ、 前記長軸偏光信号Aと短軸偏光信号Bに基づいて(A−
    B)/(A+B)の演算を行って、前記直流電界に応じ
    た直流電圧を算出することを特徴とする直流電圧測定方
    法。
  2. 【請求項2】 光源から発せられる光を円偏波光に変換
    する円偏波光変換手段と、 光軸方向の直流電界を加えられることによって前記円偏
    波光を楕円偏波光に変換する縦型ポッケルス素子と、 前記楕円偏波光の長軸偏光と短軸偏光を検出する長短軸
    偏光検出手段と、 前記長軸偏光と前記短軸偏光を電気信号に変換し、長軸
    偏光信号Aと短軸偏光信号Bを発生する光電変換手段
    と、 前記長軸偏光信号Aと前記短軸偏光信号Bに基づいて
    (A−B)/(A+B)の演算を行って、前記直流電界
    に応じた直流電圧を算出する演算手段を備えていること
    を特徴とする直流電圧測定装置。
JP5355318A 1993-12-02 1993-12-02 直流電圧測定方法および装置 Pending JPH07159452A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104020337A (zh) * 2014-06-17 2014-09-03 上海理工大学 石榴石型电压电流传感器
JP2015011019A (ja) * 2013-07-02 2015-01-19 株式会社東芝 直流電圧測定装置

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015011019A (ja) * 2013-07-02 2015-01-19 株式会社東芝 直流電圧測定装置
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