JPH0843454A - 過電流検出方法および過電流検出装置 - Google Patents
過電流検出方法および過電流検出装置Info
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- JPH0843454A JPH0843454A JP6177198A JP17719894A JPH0843454A JP H0843454 A JPH0843454 A JP H0843454A JP 6177198 A JP6177198 A JP 6177198A JP 17719894 A JP17719894 A JP 17719894A JP H0843454 A JPH0843454 A JP H0843454A
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Abstract
過電流を検出できるようにする。 【構成】所定値以上の磁界強度によりファラディ回転角
が飽和する光磁気効果素子220a、220bを用いる
とともに、この光磁気効果素子220a、220bのフ
ァラディ回転角が飽和したとき光出力が零となるように
偏光子210a、210bと検光子230a、230b
の偏光方向の相対角度を設定し、通常の負荷状態での電
流が流れることにより発生する磁界強度で光磁気効果素
子220a、220bのファラディ回転角が飽和領域に
有るように直流磁界240a、240bを印加し、過電
流が流れることにより発生する大きな磁界においては光
出力が得られるようにする。
Description
電流検出装置に係り、特に、光磁気効果素子を用いて過
電流に基づくファラディ回転角の変化を光出力の変化と
して検出する過電流検出方法および過電流検出装置に関
する。
で磁界の方向と平行に進む直線偏光の偏光面が回転する
現象、即ち、ファラディ効果を利用している。図7はそ
の原理を示す図であり、偏光子により直線偏光された光
は、光磁気効果素子(ファラディ素子)内を伝搬する間
に、外部磁界によって偏光面が回転し、検光子でその回
転角φに応じた光強度に変換される。この偏光面での回
転角φは一般に次の式数1によって表される。
磁界、Lはファラディ素子の厚みである。偏光子と検光
子の偏光方向の相対角度(光学的バイアス)をφBとす
ると、検光子から出力される光強度Pは、次の式数2に
よって表される。
検出感度を最大かつ直線性が最良となるように光学的バ
イアスφBを45°に設定すると、検光子から出力され
る光強度Pは、次の式数3によって表される。
し、2φ《1と仮定すると、検光子から出力される光強
度Pは、次の式数4によって表される。
子)、検光子を組み合わせることにより、印加磁界の大
きさに比例した強度の光を得ることができる。
効果素子(ファラディ素子)、検光子からなる光磁界セ
ンサ部と、光送信器、光受信器、増幅器等を備えた信号
処理部とにより構成されている。図8に光磁界測定器の
構成例を示す。図8において、光送信器の発光ダイオー
ドから出射された光は、光ファイバの中を伝搬し、光磁
界センサ部で光強度変換される。この光強度変換された
光は、受光用光ファイバを介して、光受信器の受光素子
に入力されて、光−電圧変換される。この光−電圧変換
された電圧信号から光変調成分(交流成分)のみを取り
出すことにより、印加磁界を測定できる。
と、偏光子と検光子との相対角度(光学バイアス)との
関係は、図9に示すような特性となる。この特性から分
かるように、偏光子と検光子との相対角度(光学バイア
ス)がπ/4(45°)となる点が直線性が最大(直線
性誤差が最小)となり、通常、この点が基準点となるよ
うに、偏光子と検光子とを組み合わせて使用している。
この電流により発生する磁界を検出し、その磁界に比例
した出力を取り出すことにより、電線に流れる電流量を
検出することができる。このような目的で光磁界センサ
を用いる場合、偏光子と検光子との相対角度(光学バイ
アス)がπ/4(45°)となるようにして使用する必
要がある。
ディ回転角が飽和する光磁気効果素子、例えば、強磁性
体よりなる光磁気効果素子を用いた光磁界センサの場
合、印加磁界に対するファラディ回転角との関係は、図
10に示すような特性となる。この特性から分かるよう
に、印加磁界零の点を基準とし、検出電流に比例した交
流または直流の磁界が印加された場合に直線性のある領
域(0〜HF)で使用する必要がある。
出しようとする場合、この光磁界センサにより光強度変
換した後、受光素子に入力して光−電圧変換し、この光
−電圧変換された電圧信号を増幅して、その後フィルタ
を通してノイズを除去した電圧信号と基準信号とを比較
する。この電圧信号が基準信号より大きい場合に過電流
信号を発するように構成されているため、複雑な電気回
路が必要になるという問題を生じた。また、その電気回
路の構成も複雑になるという問題も生じた。また、過電
流を判定する場合に、増幅してフィルタを通した電圧信
号と基準信号とを比較するため、過電流の判定精度にも
問題を生じた。
特性にも考慮する必要があり、高価になるという問題も
生じた。さらに、この種センサの信頼性を担保するため
に、定期的な点検が必要となり、その保守も容易ではな
いという問題も生じた。そこで、本発明は上記問題点に
鑑みてなされたものであり、複雑な電気回路を必要とし
なく、かつ高精度に過電流が検出できるようにすること
を目的とするものである。
子を用いて過電流に基づくファラディ回転角の変化を光
出力の変化として検出する過電流検出方法であって、本
発明の構成上の第1の特徴は、所定値以上の磁界強度に
よりファラディ回転角が飽和する光磁気効果素子を用い
るとともに、偏光子と検光子の偏光方向の相対角度を光
磁気効果素子のファラディ回転角が飽和したとき光出力
が零となるようにし、通常の負荷状態での電流が流れる
ことにより発生する磁界強度で光磁気効果素子のファラ
ディ回転角が飽和領域に有るように直流磁界を印加し、
過電流が流れることにより発生する大きな磁界において
は光出力が得られるようにしたことにある。
述の第1の特徴に付加して、過電流が流れることにより
発生する大きな磁界の発生方向に係わりなく光出力が得
られるようにしたことにある。また、本発明の構成上の
第3の特徴は、印加する直流磁界の大きさを過電流の程
度に応じて変更できるようにしたことにある。
て過電流に基づくファラディ回転角の変化を光出力の変
化として検出する過電流検出装置であって、本発明の構
成上の第4の特徴は、光を出射する発光源と、この発光
源より出射された光を直線偏光する偏光子と、この偏光
子により直線偏光された光を磁界の強度に応じて偏光面
がファラディ回転し、所定値以上の磁界強度によりファ
ラディ回転角が飽和する光磁気効果素子と、この光磁気
効果素子によりファラディ回転された光を当該ファラデ
ィ回転角に応じた光強度に変換する検光子と、この検光
子からの光強度が所定値以上になると出力信号を発する
受光素子とを有し、偏光子と検光子の偏光方向の相対角
度を光磁気効果素子のファラディ回転角が飽和したとき
光出力が零となるような位置関係に偏光子と検光子とを
配置するとともに、通常の負荷状態での電流が流れるこ
とにより発生する磁界強度で光磁気効果素子のファラデ
ィ回転角が飽和するような直流磁界を印加する直流磁界
印加手段を備えたことにある。
過電流が流れることにより発生する大きな磁界の発生方
向に係わりなく光出力が得られるようにするために検出
電流を挟むようにして平行な光路を2系統設けたことで
あり、この光路を2系統とするために、本発明の構成上
の第6の特徴は、2つのハーフミラーを用いたことにあ
り、本発明の構成上の第7の特徴は、2つの発光源を用
いたことにあり、さらに、本発明の構成上の第8の特徴
は、2つの光ファイバカプラを用いたことにある。
いては、光磁気効果素子(ファラディ素子)そのものが
持つ磁界による飽和特性を利用しているので、常に物理
的に安定した状態にあり、かつ長期間にわたってその特
性が変化しないという格別の効果を生じる。また、変電
所等の電磁ノイズの多い環境で使用しても、これらの電
磁ノイズに何等影響されることなく、高精度で、かつ安
価なこの種過電流検出装置を提供できるという格別の効
果を生じる。
とにより発生する磁界の大きさでは光出力に基づく検出
信号が零となるようにし、過電流が流れることにより発
生する大きな磁界においては光出力に基づく検出信号が
得られるようになされているので、過電流の有無に対応
したオン・オフの信号を得ることができるようになる。
そして、過電流の有無に対応したオン・オフの信号の切
り換えは瞬時に行われるため、過電流の検出を瞬時に行
うことができるようになるという格別の効果を生じる。
度をファラディ素子のファラディ回転角が飽和したとき
光出力が零となるような位置関係に偏光子と検光子とを
配置しており、常にファラディ素子が飽和する直流磁界
が印加されているので、通常の負荷状態での電流が流れ
ることにより発生する磁界の大きさでは光出力に基づく
信号が零となり、過電流が流れることにより発生する大
きな磁界においては光出力に基づく信号が得られ、過電
流検出のための複雑な電気回路が一切必要でなく、過電
流判定の精度も格段に向上するという格別の効果を生じ
る。
ないので、その電気回路の温度特性を考慮する必要もな
くなり、この種過電流検出装置を安価に製造できるとい
う格別の効果を生じる。また、複雑な電気回路を一切使
用していないので、光磁界センサとしての信頼性も向上
し、かつ、その保守も容易になるという格別の効果を生
じる。
体を挟むようにして、第1の光路と、この第1の光路と
平行に配置された第2の光路とにより形成されているの
で、被測定用の通電導体にプラス方向に過電流が流れて
も、あるいは、被測定用の通電導体にマイナス方向に過
電流が流れても、この過電流に基づいて、これらの光路
のどちらかが光出力を発するので、被測定用の通電導体
にどの方向の過電流が流れても過電流を検出することが
できる。
づいて説明する。図1は本発明の過電流検出装置の第1
実施例の全体構成を示す図であり、図1において、光磁
界センサ200は、被測定用の通電導体400を挟むよ
うにして、第1の光路200aと、この第1の光路20
0aと平行に配置された第2の光路200bとにより形
成されている。なお、通電導体400には紙面の裏から
表に向けて電流が流れているものとする。
100と、第1の偏光子210a、ファラディ素子から
なる第1の光磁界素子220aおよび第1の検光子23
0aよりなる第1の光路200aと、第2の偏光子21
0b、ファラディ素子からなる第2の光磁界素子220
bおよび第2の検光子230bよりなる第2の光路20
0bと、発光源100から出射された光を第1の光路2
00aに透過するとともに第2の光路200bに向けて
90度反射する第1のハーフミラー110と、第1のハ
ーフミラー110により90度反射された光を第2の光
路200bに向けて再度90度反射する第1のミラー1
20と、第2の光路200bより出射された光を第1の
光路200aに向けて90度反射する第2のミラー32
0と、第1の光路200aからの光を透過するとともに
第2の光路200bより出射された光を再度90度反射
する第2のハーフミラー310と、この第2のハーフミ
ラー310を透過した第1の光路200aからの光と第
2のハーフミラー310により再度90度反射された第
2の光路200bからの光とを受光する受光素子300
と、第1の光磁界素子220aに直流磁界を印加する第
1の永久磁石240aと、第2の光磁界素子220bに
直流磁界を印加する第2の永久磁石240bとから構成
されている。
に偏光ビームスプリッタPBSを用いてもよい。この場
合、偏光子210a、210bは不要となる。また、第
1のミラー120の代わりに偏光ビームスプリッタPB
Sを用いてもよい。この場合、偏光子210bは不要と
なる。
検光子230a、230bとしては誘電体膜や天然方解
石を素材とするものが、受光素子300としては光強度
を検出して電気信号に変換するフォトダイオード、フォ
トトランジスタ、光点弧型サイリスタ等の各種の光検出
器が好適に採用される。また、光磁界素子220a、2
20bとしては、YIG、Tb−YIG、Bi−YIG
等の所定値以上の磁界強度によりファラディ回転角が飽
和する特性を有する強磁性体を用いる。また、発光源1
00としては、レーザダイオード、発光ダイオード(L
ED)、He−Neレーザ、Arイオンレーザ等が好適
に採用される。
G素子を用い、受光素子としてシリコンフォトトランジ
スタ、シリコン光サイリスタを用いる場合は、発光源1
00としては、YIG素子の光吸収係数が小さく、受光
素子の感度がある1.05μm付近の波長を有するもの
を用いる。また、YIG素子の光吸収係数が極小さい
1.3μm付近の波長のものを用い、YIG素子通過後
に非線形光学素子、アップコンバージョン結晶およびガ
ラス等を用いて、受光素子に適した波長に波長変換する
ことも可能である。
磁界素子220a、220bを囲う大きさの径を有する
円筒状の永久磁石を用いる。また、図4に示されるよう
に、被測定用の通電導体400に通常の負荷電流の範囲
の電流(−A1〜+A1)(例えば−4KA〜+4KA)
が流れることにより生じる磁界強度(−H1〜+H1)
(例えば−68Oe〜+68Oe)において常に飽和領
域にあるような直流磁界(H0)(例えば1800O
e)を印加するものである。
図1において、レーザダイオード、発光ダイオード(L
ED)、He−Neレーザ、Arイオンレーザ等からな
る発光源100から出射された光は、ハーフミラー11
0により、二方向に分岐され、一方の光はハーフミラー
110を透過して第1の光路200aの第1の偏光子2
10aに入射され、他方の光はハーフミラー110によ
り90度反射されてミラー120に入射し、このミラー
120により再度90度反射されて第1の光路200a
に平行な第2の光路200bの第2の偏光子210bに
入射される。この偏光子210a、210bに入射され
た各々の光は偏光子210a、210bにより各々直線
偏光され、上述のファラディ素子よりなる光磁界素子2
20a、220bに入射される。
入射された各々の光は、通電導体400に流れる電流に
より生じる磁界の強度に応じて、その偏光面がファラデ
ィ回転する。ファラディ素子220a、220bにより
ファラディ回転された各々の光は、それぞれ検光子23
0a、230bに入射され、これらの検光子230a、
230bにより各々のファラディ回転角に応じた光強度
に変換される。ついで、フォトダイオード、フォトトラ
ンジスタ、光点弧型サイリスタ等よりなる受光素子30
0に入射し、この受光素子300により、所定値以上の
光強度を検出して電気信号に変換される。
および偏光子210bと検光子230bとは、次のよう
な位置関係となるように配置されている。即ち、第1の
偏光子210aと第1の検光子230aの偏光方向の相
対角度を第1のファラディ素子220aのファラディ回
転角が飽和したとき光出力が零となるような位置関係に
第1の偏光子220aと第1の検光子230aとを配置
するとともに、第2の偏光子210bと第2の検光子2
30bの偏光方向の相対角度を第2のファラディ素子2
20bのファラディ回転角が飽和したとき光出力が零と
なるような位置関係に第2の偏光子210bと第2の検
光子230bとを配置している。
光子210bと検光子230bとをこのような配置関係
に配置しており、永久磁石240a、240bにより、
常にファラディ素子220a、220bが飽和する直流
磁界(H0)が印加されているので、図5に示されるよ
うに、通常の負荷電流(−A1〜+A1)の範囲の電流
(例えば−4KA〜+4KA)が流れることにより生じ
る磁界強度(−H1〜+H1)(例えば−68Oe〜+6
8Oe)においては、即ち、図5の時間t0〜t1までの
間は検光子230a、230bより出力される出力光は
零となる。
点において、短絡、地絡等の事故が発生して通電導体4
00に過電流A2(例えば最大電流31KA)が流れた
場合、この過電流A2が流れることにより光路200a
に生じる磁界は、図4に示されるように(−H2)(例
えば−880Oe)となり、第1の光路200aのファ
ラディ素子220aのファラディ回転角はθBとなり、
したがって、第1の光路200aの検光子230aより
出力される出力光は、図5のB2で示されるような大き
な光強度となる。このような大きな光強度においては、
受光素子300は作動状態となり、受光素子300は光
強度を検出して、その出力信号C2を発することとな
る。一方、過電流A2が流れることにより第2の光路2
00bに生じる磁界は、図4に示されるように(+
H2)(例えば+880Oe)となり、第2の光路20
0bのファラディ素子220bのファラディ回転角はθ
Fで飽和したままであるので、第2の光路200bの検
光子230bより出力される出力光は零のままである。
導体400に過電流A2とは逆向きの過電流A3が流れた
場合、この過電流A3が流れることにより第2の光路2
00bに生じる磁界は、図4に示されるように(−
H3)となり、第2の光路200bのファラディ素子2
20bのファラディ回転角はθCとなり、したがって、
第2の光路200bの検光子230bより出力される出
力光は、図5のB3で示されるような大きな光強度とな
る。このような大きな光強度においては、受光素子30
0は作動状態となり、受光素子300は光強度を検出し
て、その出力信号C3を発することとなる。一方、過電
流A3が流れることにより第1の光路200aに生じる
磁界は、図4に示されるように(+H3)となり、第1
の光路200aのファラディ素子220aのファラディ
回転角はθFで飽和したままであるので、第1の光路2
00aの検光子230aより出力される出力光は零のま
まである。
流が通電導体400に流れた場合には、第2の光路20
0bの第2のファラディ素子220bのファラディ回転
は飽和したままであるが、第1の光路200aの第1の
ファラディ素子220aがファラディ回転して第1の検
光子230aより光が出力(B4、B6、B8、B10)さ
れ、この光出力B4、B6、B8、B10に基づいて受光素
子300は作動状態となって、その出力信号C4、C6、
C8、C10を発する。一方、A5、A7、A9の過電流が通
電導体400に流れた場合には、第1の光路200aの
第1のファラディ素子220aのファラディ回転は飽和
したままであるが、第2の光路200bの第2のファラ
ディ素子220bがファラディ回転して第2の検光子2
30bより光が出力(B5、B7、B9)され、この光出
力B5、B7、B9に基づいて受光素子300は作動状態
となって、その出力信号C5、C7、C9を発する。
いては、各々の偏光子210a、210bと各々の検光
子230a、230bの偏光方向の相対角度を各々のフ
ァラディ素子220a、220bのファラディ回転角が
飽和したとき光出力が零となるような位置関係に各々の
偏光子210a、210bと各々の検光子230a、2
30bとを配置しており、永久磁石240a、240b
により、常にファラディ素子220a、220bが飽和
する直流磁界(H0)が印加されているので、通常の負
荷状態での電流が流れることにより発生する磁界の大き
さ(−H1〜+H1)では光出力に基づく信号が零とな
り、過電流が流れることにより発生する大きな磁界にお
いては光出力に基づく信号が得られることとなるので、
過電流の有無に対応したオン・オフの信号を得ることが
できるようになる。
フの信号の切り換えは瞬時に行われるため、過電流の検
出を瞬時に行うことができるようになるという格別の効
果を生じる。また、過電流検出のための複雑な電気回路
が一切必要でなく、過電流判定の精度も格段に向上する
という格別の効果を生じる。さらに、複雑な電気回路を
一切使用していないので、その電気回路の温度特性を考
慮する必要もなくなり、この種過電流検出装置を安価に
製造できるという格別の効果を生じる。また、複雑な電
気回路を一切使用していないので、光磁界センサとして
の信頼性も向上し、かつ、その保守も容易になるという
格別の効果を生じる。
通電導体400を挟むようにして、第1の光路200a
と、この第1の光路200aと平行に配置された第2の
光路200bとにより形成されているので、被測定用の
通電導体400にプラス方向に過電流が流れても、ある
いは、被測定用の通電導体400にマイナス方向に過電
流が流れても、この過電流に基づいて、これらの光路2
00aもしくは200bのどちらかが光出力を発するの
で、被測定用の通電導体400にどの方向の過電流が流
れても過電流を検出することができる。
できる。この場合、第2の光路200bをなくし、被測
定用の通電導体400にプラス方向に過電流が流れた時
のみ、過電流が検出できるようにする。この場合、当
然、ハーフミラー110、130およびミラー120、
320は不要となる。
づいて説明する。図2は本発明の過電流検出装置の第2
実施例の全体構成を示す図であり、図2において、光磁
界センサ200は、被測定用の通電導体400を挟むよ
うにして、第1の光路200aと、この第1の光路20
0aと平行に配置された第2の光路200bとにより形
成されている。なお、通電導体400には紙面の裏から
表に向けて電流が流れているものとする。
0aとファラディ素子からなる第1の光磁界素子220
aおよび第1の検光子230aとにより形成されてお
り、また、第2の光路200bは、第2の偏光子210
bとファラディ素子からなる第2の光磁界素子220b
および第2の検光子230bとにより形成されている。
本第2実施例の過電流検出装置は、この第1の光路20
0aに光を出射する第1の発光源100と、第1の光路
200aからの光を受光する受光素子300と、第2の
光路200bに光を出射する第2の発光源130と、第
2の光路200bからの光を受光する受光素子330
と、第1の光磁界素子220aに直流磁界を印加する第
1の永久磁石240aと、第2の光磁界素子220bに
直流磁界を印加する第2の永久磁石240bとから構成
されている。
検光子230a、230bとしては誘電体膜や天然方解
石を素材とするものが、受光素子300、330として
は光強度を検出して電気信号に変換するフォトダイオー
ド、フォトトランジスタ、光点弧型サイリスタ等の各種
の光検出器が好適に採用される。また、光磁界素子22
0a、220bとしては、YIG、Tb−YIG、Bi
−YIG等の所定値以上の磁界強度によりファラディ回
転角が飽和する特性を有する強磁性体を用いる。また、
発光源100、130としては、レーザダイオード、発
光ダイオード(LED)、He−Neレーザ、Arイオ
ンレーザ等が好適に採用される。
G素子を用い、受光素子としてシリコンフォトトランジ
スタ、シリコン光サイリスタを用いる場合は、発光源1
00としては、YIG素子の光吸収係数が小さく、受光
素子の感度がある1.05μm付近の波長を有するもの
を用いる。また、YIG素子の光吸収係数が極小さい
1.3μm付近の波長のものを用い、YIG素子通過後
に非線形光学素子、アップコンバージョン結晶およびガ
ラス等を用いて、受光素子に適した波長に波長変換する
ことも可能である。
磁界素子220a、220bを囲う大きさの径を有する
円筒状の永久磁石を用いる。また、図4に示されるよう
に、被測定用の通電導体400に最大の負荷電流の範囲
の電流(例えば−4KA〜+4KA)が流れることによ
り生じる磁界強度(−H1〜+H1)(例えば−68Oe
〜+68Oe)において常に飽和領域にあるような直流
磁界(H0)(例えば1800Oe)を印加するもので
ある。
図2において、レーザダイオード、発光ダイオード(L
ED)、He−Neレーザ、Arイオンレーザ等からな
る発光源100から出射された光は、第1の光路200
aの第1の偏光子210aに入射される。この偏光子2
10aに入射された光は偏光子210aにより直線偏光
され、上述のファラディ素子よりなる光磁界素子220
aに入射される。このファラディ素子220aに入射さ
れた光は、通電導体400に流れる電流により生じる磁
界の強度に応じて、その偏光面がファラディ回転する。
ファラディ素子220aによりファラディ回転された光
は、検光子230aに入射され、この検光子230aに
より、ファラディ回転角に応じた光強度に変換される。
ついで、フォトダイオード、フォトトランジスタ、光点
弧型サイリスタ等よりなる受光素子300に入射し、こ
の受光素子300により、所定値以上の光強度を検出し
て電気信号に変換される。
(LED)、He−Neレーザ、Arイオンレーザ等か
らなる発光源130から出射された光は、第2の光路2
00bの第2の偏光子210bに入射される。この偏光
子210bに入射された光は偏光子210bにより直線
偏光され、上述のファラディ素子よりなる光磁界素子2
20bに入射される。このファラディ素子220bに入
射された光は、通電導体400に流れる電流により生じ
る磁界の強度に応じて、その偏光面がファラディ回転す
る。ファラディ素子220bによりファラディ回転され
た光は、検光子230bに入射され、この検光子230
bにより、ファラディ回転角に応じた光強度に変換され
る。ついで、フォトダイオード、フォトトランジスタ、
光点弧型サイリスタ等よりなる受光素子330に入射
し、この受光素子330により、所定値以上の光強度を
検出して電気信号に変換される。
および偏光子210bと検光子230bとは、次のよう
な位置関係となるように配置されている。即ち、第1の
偏光子210aと第1の検光子230aの偏光方向の相
対角度を第1のファラディ素子220aのファラディ回
転角が飽和したとき光出力が零となるような位置関係に
第1の偏光子220aと第1の検光子230aとを配置
するとともに、第2の偏光子210bと第2の検光子2
30bの偏光方向の相対角度を第2のファラディ素子2
20bのファラディ回転角が飽和したとき光出力が零と
なるような位置関係に第2の偏光子210bと第2の検
光子230bとを配置している。
光子210bと検光子230bとをこのような配置関係
に配置しており、永久磁石240a、240bにより、
常にファラディ素子220a、220bが飽和する直流
磁界(H0)が印加されているので、図5に示されるよ
うに、通常の負荷電流(−A1〜+A1)の範囲の電流
(例えば−4KA〜+4KA)が流れることにより生じ
る磁界強度(−H1〜+H1)(例えば−68Oe〜+6
8Oe)においては、即ち、図5の時間t0〜t1までの
間は検光子230a、230bより出力される出力光は
零となる。
点において、短絡、地絡等の事故が発生して通電導体4
00に過電流A2(例えば31KA)が流れた場合、こ
の過電流A2が流れることにより光路200aに生じる
磁界は、図4に示されるように(−H2)(例えば−8
80Oe)となり、第1の光路200aのファラディ素
子220aのファラディ回転角はθBとなり、したがっ
て、第1の光路200aの検光子230aより出力され
る出力光は、図5のB2で示されるような大きな光強度
となる。このような大きな光強度においては、受光素子
300は作動状態となり、受光素子300は光強度を検
出して、その出力信号C2を発することとなる。一方、
過電流A2が流れることにより第2の光路200bに生
じる磁界は、図4に示されるように(+H2)(例えば
+880Oe)となり、第2の光路200bのファラデ
ィ素子220bのファラディ回転角はθFで飽和したま
まであるので、第2の光路200bの検光子230bよ
り出力される出力光は零のままである。
導体400に過電流A2とは逆向きの過電流A3が流れた
場合、この過電流A3が流れることにより第2の光路2
00bに生じる磁界は、図4に示されるように(−
H3)となり、第2の光路200bのファラディ素子2
20bのファラディ回転角はθCとなり、したがって、
第2の光路200bの検光子230bより出力される出
力光は、図5のB3で示されるような大きな光強度とな
る。このような大きな光強度においては、受光素子33
0は作動状態となり、受光素子330は光強度を検出し
て、その出力信号C3を発することとなる。一方、過電
流A3が流れることにより第1の光路200aに生じる
磁界は、図4に示されるように(+H3)となり、第1
の光路200aのファラディ素子220aのファラディ
回転角はθFで飽和したままであるので、第1の光路2
00aの検光子230aより出力される出力光は零のま
まである。
流が通電導体400に流れた場合には、第2の光路20
0bの第2のファラディ素子220bのファラディ回転
は飽和したままであるが、第1の光路200aの第1の
ファラディ素子220aがファラディ回転して第1の検
光子230aより光が出力(B4、B6、B8、B10)さ
れ、この光出力B4、B6、B8、B10に基づいて受光素
子300は作動状態となって、その出力信号C4、C6、
C8、C10を発する。一方、A5、A7、A9の過電流が通
電導体400に流れた場合には、第1の光路200aの
第1のファラディ素子220aのファラディ回転は飽和
したままであるが、第2の光路200bの第2のファラ
ディ素子220bがファラディ回転して第2の検光子2
30bより光が出力(B5、B7、B9)され、この光出
力B5、B7、B9に基づいて受光素子330は作動状態
となって、その出力信号C5、C7、C9を発する。
いては、各々の偏光子210a、210bと各々の検光
子230a、230bの偏光方向の相対角度を各々のフ
ァラディ素子220a、220bのファラディ回転角が
飽和したとき光出力が零となるような位置関係に各々の
偏光子210a、210bと各々の検光子230a、2
30bとを配置しており、永久磁石240a、240b
により、常にファラディ素子220a、220bが飽和
する直流磁界(H0)が印加されているので、通常の負
荷状態での電流が流れることにより発生する磁界の大き
さ(−H1〜+H1)では光出力に基づく信号が零とな
り、過電流が流れることにより発生する大きな磁界にお
いては光出力に基づく信号が得られることとなるので、
過電流の有無に対応したオン・オフの信号を得ることが
できるようになる。
フの信号の切り換えは瞬時に行われるため、過電流の検
出を瞬時に行うことができるようになるという格別の効
果を生じる。また、過電流検出のための複雑な電気回路
が一切必要でなく、過電流判定の精度も格段に向上する
という格別の効果を生じる。さらに、複雑な電気回路を
一切使用していないので、その電気回路の温度特性を考
慮する必要もなくなり、この種過電流検出装置を安価に
製造できるという格別の効果を生じる。また、複雑な電
気回路を一切使用していないので、光磁界センサとして
の信頼性も向上し、かつ、その保守も容易になるという
格別の効果を生じる。
通電導体400を挟むようにして、第1の光路200a
と、この第1の光路200aと平行に配置された第2の
光路200bとにより形成されているので、被測定用の
通電導体400にプラス方向に過電流が流れても、ある
いは、被測定用の通電導体400にマイナス方向に過電
流が流れても、この過電流に基づいて、これらの光路2
00aもしくは200bのどちらかが光出力を発するの
で、被測定用の通電導体400にどの方向の過電流が流
れても過電流を検出することができる。
用しなくて、直接各光路200a、200b用の発光源
100および130により、各光路200a、200b
に光を導くようにしているので、光が減衰することがな
く、効率よく過電流を検出できるようになる。
づいて説明する。図3は本発明の過電流検出装置の第3
実施例の全体構成を示す図であり、図3において、光磁
界センサ200は、被測定用の通電導体400を挟むよ
うにして、第1の光路200aと、この第1の光路20
0aと平行に配置された第2の光路200bとにより形
成されている。なお、通電導体400には紙面の裏から
表に向けて電流が流れているものとする。
100と、第1の偏光子210a、ファラディ素子から
なる第1の光磁界素子220aおよび第1の検光子23
0aよりなる第1の光路200aと、第2の偏光子21
0b、ファラディ素子からなる第2の光磁界素子220
bおよび第2の検光子230bよりなる第2の光路20
0bと、発光源100から出射された光を光ファイバ1
50を介して第1の光ファイバカプラー140に導き、
この第1の光ファイバカプラー140から第1の光路2
00aに出射するとともに第2の光路200bに出射す
る光ファイバ160、170と、第1の光路200aか
らの光を光ファイバ360を介して出射するとともに第
2の光路200bより出射された光を入射する第2の光
ファイバカプラー340と、この第2の光ファイバカプ
ラー340からの光を光ファイバ350を介して受光す
る受光素子300と、第1の光磁界素子220aに直流
磁界を印加する第1の永久磁石240aと、第2の光磁
界素子220bに直流磁界を印加する第2の永久磁石2
40bとから構成されている。
検光子230a、230bとしては誘電体膜や天然方解
石を素材とするものが、受光素子300としては光強度
を検出して電気信号に変換するフォトダイオード、フォ
トトランジスタ、光点弧型サイリスタ等の各種の光検出
器が好適に採用される。また、光磁界素子220a、2
20bとしては、YIG、Tb−YIG、Bi−YIG
等の所定値以上の磁界強度によりファラディ回転角が飽
和する特性を有する強磁性体を用いる。また、発光源1
00としては、レーザダイオード、発光ダイオード(L
ED)、He−Neレーザ、Arイオンレーザ等が好適
に採用される。
G素子を用い、受光素子としてシリコンフォトトランジ
スタ、シリコン光サイリスタを用いる場合は、発光源1
00としては、YIG素子の光吸収係数が小さく、受光
素子の感度がある1.05μm付近の波長を有するもの
を用いる。また、YIG素子の光吸収係数が極小さい
1.3μm付近の波長のものを用い、YIG素子通過後
に非線形光学素子、アップコンバージョン結晶およびガ
ラス等を用いて、受光素子に適した波長に波長変換する
ことも可能である。
磁界素子220a、220bを囲う大きさの径を有する
円筒状の永久磁石を用いる。また、図4に示されるよう
に、被測定用の通電導体400に最大の負荷電流の範囲
の電流(例えば−4KA〜+4KA)が流れることによ
り生じる磁界強度(−H1〜+H1)(例えば−68Oe
〜+68Oe)において常に飽和領域にあるような直流
磁界(H0)(例えば1800Oe)を印加するもので
ある。
図3において、レーザダイオード、発光ダイオード(L
ED)、He−Neレーザ、Arイオンレーザ等からな
る発光源100から光ファイバ150を介して出射され
た光は、光ファイバカプラー140により、二方向に分
岐され、一方の光は光ファイバ160を介して第1の光
路200aの第1の偏光子210aに入射され、他方の
光は光ファイバ170を介して第1の光路200aに平
行な第2の光路200bの第2の偏光子210bに入射
される。この偏光子210a、210bに入射された各
々の光は偏光子210a、210bにより各々直線偏光
され、上述のファラディ素子よりなる光磁界素子220
a、220bに入射される。
入射された各々の光は、通電導体400に流れる電流に
より生じる磁界の強度に応じて、その偏光面がファラデ
ィ回転する。ファラディ素子220a、220bにより
ファラディ回転された各々の光は、それぞれ検光子23
0a、230bに入射され、これらの検光子230a、
230bにより各々のファラディ回転角に応じた光強度
に変換される。ついで、フォトダイオード、フォトトラ
ンジスタ、光点弧型サイリスタ等よりなる受光素子30
0に入射し、この受光素子300により、所定値以上の
光強度を検出して電気信号に変換される。
および偏光子210bと検光子230bとは、次のよう
な位置関係となるように配置されている。即ち、第1の
偏光子210aと第1の検光子230aの偏光方向の相
対角度を第1のファラディ素子220aのファラディ回
転角が飽和したとき光出力が零となるような位置関係に
第1の偏光子220aと第1の検光子230aとを配置
するとともに、第2の偏光子210bと第2の検光子2
30bの偏光方向の相対角度を第2のファラディ素子2
20bのファラディ回転角が飽和したとき光出力が零と
なるような位置関係に第2の偏光子210bと第2の検
光子230bとを配置している。
光子210bと検光子230bとをこのような配置関係
に配置しており、永久磁石240a、240bにより、
常にファラディ素子220a、220bが飽和する直流
磁界(H0)が印加されているので、図5に示されるよ
うに、通常の負荷電流(−A1〜+A1)の範囲の電流
(例えば−4KA〜+4KA)が流れることにより生じ
る磁界強度(−H1〜+H1)(例えば−68Oe〜+6
8Oe)においては、即ち、図5の時間t0〜t1までの
間は検光子230a、230bより出力される出力光は
零となる。
点において、短絡、地絡等の事故が発生して通電導体4
00に過電流A2(例えば31KA)が流れた場合、こ
の過電流A2が流れることにより光路200aに生じる
磁界は、図4に示されるように(−H2)(例えば−8
80Oe)となり、第1の光路200aのファラディ素
子220aのファラディ回転角はθBとなり、したがっ
て、第1の光路200aの検光子230aより出力され
る出力光は、図5のB2で示されるような大きな光強度
となる。このような大きな光強度においては、受光素子
300は作動状態となり、受光素子300は光強度を検
出して、その出力信号C2を発することとなる。一方、
過電流A2が流れることにより第2の光路200bに生
じる磁界は、図4に示されるように(+H2)(例えば
+880Oe)となり、第2の光路200bのファラデ
ィ素子220bのファラディ回転角はθFで飽和したま
まであるので、第2の光路200bの検光子230bよ
り出力される出力光は零のままである。
導体400に過電流A2とは逆向きの過電流A3が流れた
場合、この過電流A3が流れることにより第2の光路2
00bに生じる磁界は、図4に示されるように(−
H3)となり、第2の光路200bのファラディ素子2
20bのファラディ回転角はθCとなり、したがって、
第2の光路200bの検光子230bより出力される出
力光は、図5のB3で示されるような大きな光強度とな
る。このような大きな光強度においては、受光素子30
0は作動状態となり、受光素子300は光強度を検出し
て、その出力信号C3を発することとなる。一方、過電
流A3が流れることにより第1の光路200aに生じる
磁界は、図4に示されるように(+H3)となり、第1
の光路200aのファラディ素子220aのファラディ
回転角はθFで飽和したままであるので、第1の光路2
00aの検光子230aより出力される出力光は零のま
まである。
流が通電導体400に流れた場合には、第2の光路20
0bの第2のファラディ素子220bのファラディ回転
は飽和したままであるが、第1の光路200aの第1の
ファラディ素子220aがファラディ回転して第1の検
光子230aより光が出力(B4、B6、B8、B10)さ
れ、この光出力B4、B6、B8、B10に基づいて受光素
子300は作動状態となって、その出力信号C4、C6、
C8、C10を発する。一方、A5、A7、A9の過電流が通
電導体400に流れた場合には、第1の光路200aの
第1のファラディ素子220aのファラディ回転は飽和
したままであるが、第2の光路200bの第2のファラ
ディ素子220bがファラディ回転して第2の検光子2
30bより光が出力(B5、B7、B9)され、この光出
力B5、B7、B9に基づいて受光素子300は作動状態
となって、その出力信号C5、C7、C9を発する。
いては、各々の偏光子210a、210bと各々の検光
子230a、230bの偏光方向の相対角度を各々のフ
ァラディ素子220a、220bのファラディ回転角が
飽和したとき光出力が零となるような位置関係に各々の
偏光子210a、210bと各々の検光子230a、2
30bとを配置しており、永久磁石240a、240b
により、常にファラディ素子220a、220bが飽和
する直流磁界(H0)が印加されているので、通常の負
荷状態での電流が流れることにより発生する磁界の大き
さ(−H1〜+H1)では光出力に基づく信号が零とな
り、過電流が流れることにより発生する大きな磁界にお
いては光出力に基づく信号が得られることとなるので、
過電流の有無に対応したオン・オフの信号を得ることが
できるようになる。
フの信号の切り換えは瞬時に行われるため、過電流の検
出を瞬時に行うことがてきるようになるという格別の効
果を生じる。また、過電流検出のための複雑な電気回路
が一切必要でなく、過電流判定の精度も格段に向上する
という格別の効果を生じる。さらに、複雑な電気回路を
一切使用していないので、その電気回路の温度特性を考
慮する必要もなくなり、この種過電流検出装置を安価に
製造できるという格別の効果を生じる。また、複雑な電
気回路を一切使用していないので、光磁界センサとして
の信頼性も向上し、かつ、その保守も容易になるという
格別の効果を生じる。
通電導体400を挟むようにして、第1の光路200a
と、この第1の光路200aと平行に配置された第2の
光路200bとにより形成されているので、被測定用の
通電導体400にプラス方向に過電流が流れても、ある
いは、被測定用の通電導体400にマイナス方向に過電
流が流れても、この過電流に基づいて、これらの光路2
00aもしくは200bのどちらかが光出力を発するの
で、被測定用の通電導体400にどの方向の過電流が流
れても過電流を検出することができる。
用しなくて、光ファイバにより直接各光路200a、2
00bに光を導くようにしているので、光が減衰するこ
とがなく、効率よく過電流を検出できるようになる。ま
た、1つの発光源を使用して光ファイバカプラー14
0、340により光を分岐して各光路200a、200
bに光を導入、あるいは各光路200a、200bから
光を導出するので、この種過電流検出装置を安価に製造
することができるようになる。
石240aおよび240bにより印加する直流磁界はH
0と固定されていたが、光磁界センサ200を設置する
系統により、系統の短絡、故障に起因して発生する過電
流の大きさの程度が相違するので、永久磁石240aお
よび240bにより印加する直流磁界の大きさをそれら
の系統に対応させる必要がある。この場合、図6に示さ
れるように、系統の短絡、故障に起因して発生する過電
流が大きい系統の場合は、永久磁石240aおよび24
0bにより印加する直流磁界をH01からH02に変化させ
るようにする。
により印加する直流磁界をH01、H02となるように設定
しておき、光磁気効果素子220a、220bの位置を
変更することによって実現できる。また、直流磁界H01
を印加した光磁気効果素子220a、220bと、直流
磁界H02を印加した光磁気効果素子220a、220b
を用意しておき、設置する系統によりこれらを切り換え
ることによっても実現できる。
成を示す図である。
成を示す図である。
成を示す図である。
子(ファラディ素子)の印加磁界とファラディ回転角の
関係を示す図である。
力の関係を示す図である。
(ファラディ素子)の印加磁界とファラディ回転角の関
係を示す図である。
る。
強度との関係を示す図である。
子)の印加磁界とファラディ回転角の関係を示す図であ
る。
a…第1の光路、200b…第2の光路、210a、2
10b…偏光子、220a、220b…光磁界素子(フ
ァラディ素子)、230a、230b…検光子、30
0、330…受光素子、400…通電導体。
Claims (8)
- 【請求項1】光磁気効果素子を用いて過電流に基づくフ
ァラディ回転角の変化を光出力の変化として検出する過
電流検出方法であって、 所定値以上の磁界強度によりファラディ回転角が飽和す
る光磁気効果素子を用いるとともに、 前記光磁気効果素子のファラディ回転角が飽和したとき
光出力が零となるように偏光子と検光子の偏光方向の相
対角度を設定し、 通常の負荷状態での電流が流れることにより発生する磁
界強度で前記光磁気効果素子のファラディ回転角が飽和
領域に有るように直流磁界を印加し、 過電流が流れることにより発生する大きな磁界において
は光出力が得られるようにしたことを特徴とする過電流
検出方法。 - 【請求項2】光磁気効果素子を用いて過電流に基づくフ
ァラディ回転角の変化を光出力の変化として検出する過
電流検出方法であって、 所定値以上の磁界強度によりファラディ回転角が飽和す
る光磁気効果素子を用いるとともに、 前記光磁気効果素子のファラディ回転角が飽和したとき
光出力が零となるように偏光子と検光子の偏光方向の相
対角度を設定し、 通常の負荷状態での電流が流れることにより発生する磁
界強度で前記光磁気効果素子のファラディ回転角が飽和
領域に有るように直流磁界を印加し、 過電流が流れることにより発生する大きな磁界において
は光出力が得られるようにするとともに、 過電流が流れることにより発生する大きな磁界の発生方
向に係わりなく光出力が得られるようにしたことを特徴
とする過電流検出方法。 - 【請求項3】光磁気効果素子を用いて過電流に基づくフ
ァラディ回転角の変化を光出力の変化として検出する過
電流検出方法であって、 所定値以上の磁界強度によりファラディ回転角が飽和す
る光磁気効果素子を用いるとともに、 前記光磁気効果素子のファラディ回転角が飽和したとき
光出力が零となるように偏光子と検光子の偏光方向の相
対角度を設定し、 通常の負荷状態での電流が流れることにより発生する磁
界強度で前記光磁気効果素子のファラディ回転角が飽和
領域に有るように直流磁界を印加するとともに、 印加する直流磁界の大きさを過電流の程度に応じて変更
できるようにし、 過電流が流れることにより発生する大きな磁界の大きさ
に係わりなく一定の大きさの光出力が得られるようにし
たことを特徴とする過電流検出方法。 - 【請求項4】光磁気効果素子を用いて過電流に基づくフ
ァラディ回転角の変化を光出力の変化として検出する過
電流検出装置であって、 光を出射する発光源と、 前記発光源より出射された光を直線偏光する偏光子と、 前記偏光子により直線偏光された光を磁界の強度に応じ
て偏光面がファラディ回転し、所定値以上の磁界強度に
よりファラディ回転角が飽和する光磁気効果素子と、 前記光磁気効果素子によりファラディ回転された光を当
該ファラディ回転角に応じた光強度に変換する検光子
と、 前記検光子からの光強度が所定値以上になると出力信号
を発する受光素子と、を有し、 前記偏光子と前記検光子の偏光方向の相対角度を前記光
磁気効果素子のファラディ回転角が飽和したとき光出力
が零となるような位置関係に前記偏光子と前記検光子と
を配置するとともに、 通常の負荷状態での電流が流れることにより発生する磁
界強度で前記光磁気効果素子のファラディ回転角が飽和
するような直流磁界を印加する直流磁界印加手段を備え
たことを特徴とする過電流検出装置。 - 【請求項5】光磁気効果素子を用いて過電流に基づくフ
ァラディ回転角の変化を光出力の変化として検出する過
電流検出装置であって、 光を出射する発光源と、 前記発光源より出射された光を受光する第1の光路と、 前記発光源より出射された光を受光するするとともに、
被測定用の通電導体を挟んで前記第1の光路と平行に形
成された第2の光路と、 前記第1の光路および前記第2の光路からの光を受光
し、該受光した光強度が所定値以上になると出力信号を
発する受光素子と、を有し、 前記第1の光路および前記第2の光路は、 前記発光源より出射された光を直線偏光する偏光子と、 前記偏光子により直線偏光された光を磁界の強度に応じ
て偏光面がファラディ回転し、所定値以上の磁界強度に
よりファラディ回転角が飽和する光磁気効果素子と、 前記光磁気効果素子によりファラディ回転された光を当
該ファラディ回転角に応じた光強度に変換する検光子
と、を有し、 前記偏光子と前記検光子の偏光方向の相対角度を前記光
磁気効果素子のファラディ回転角が飽和したとき光出力
が零となるような位置関係に前記偏光子と前記検光子と
を配置するとともに、 通常の負荷状態での電流が流れることにより発生する磁
界強度で前記光磁気効果素子のファラディ回転角が飽和
するような直流磁界を印加する直流磁界印加手段を備え
たことを特徴とする過電流検出装置。 - 【請求項6】光磁気効果素子を用いて過電流に基づくフ
ァラディ回転角の変化を光出力の変化として検出する過
電流検出装置であって、 光を出射する発光源と、 前記発光源より出射された光を透過するとともに、90
度反射する第1のハーフミラーと、 前記第1のハーフミラーを透過した光を直線偏光する第
1の偏光子と、 前記第1の偏光子により直線偏光された光を磁界の強度
に応じて偏光面がファラディ回転し、所定値以上の磁界
強度によりファラディ回転角が飽和する第1の光磁気効
果素子と、 通常の負荷状態での電流が流れることにより発生する磁
界強度で前記第1の光磁気効果素子のファラディ回転角
が飽和するような直流磁界を印加する第1の直流磁界印
加手段と、 前記第1の光磁気効果素子によりファラディ回転された
光を当該ファラディ回転角に応じた光強度に変換する第
1の検光子と、 前記第1のハーフミラーにより90度反射された光を直
線偏光する第2の偏光子と、 前記第2の偏光子により直線偏光された光を磁界の強度
に応じて偏光面がファラディ回転し、所定値以上の磁界
強度によりファラディ回転角が飽和する第2の光磁気効
果素子と、 通常の負荷状態での電流が流れることにより発生する磁
界強度で前記第2の光磁気効果素子のファラディ回転角
が飽和するような直流磁界を印加する第2の直流磁界印
加手段と、 前記第2の光磁気効果素子によりファラディ回転された
光を当該ファラディ回転角に応じた光強度に変換する第
2の検光子と、 前記第1の検光子から出力される光を透過し、前記第2
の検光子から出力される光を90度反射する第2のハー
フミラーと、 前記第2のハーフミラーから出力される光強度が所定値
以上になると出力信号を発する受光素子と、を備え、 前記第1の偏光子と前記第1の検光子の偏光方向の相対
角度を前記第1の光磁気効果素子のファラディ回転角が
飽和したとき光出力が零となるような位置関係に前記第
1の偏光子と前記第1の検光子とを配置するとともに、
前記第2の偏光子と前記第2の検光子の偏光方向の相対
角度を前記第2の光磁気効果素子のファラディ回転角が
飽和したとき光出力が零となるような位置関係に前記第
2の偏光子と前記第2の検光子とを配置したことを特徴
とする過電流検出装置。 - 【請求項7】光磁気効果素子を用いて過電流に基づくフ
ァラディ回転角の変化を光出力の変化として検出する過
電流検出装置であって、 光を出射する第1の発光源と、 前記第1の発光源より出射された光を直線偏光する第1
の偏光子と、 前記第1の偏光子により直線偏光された光を磁界の強度
に応じて偏光面がファラディ回転し、所定値以上の磁界
強度によりファラディ回転角が飽和する第1の光磁気効
果素子と、 通常の負荷状態での電流が流れることにより発生する磁
界強度で前記第1の光磁気効果素子のファラディ回転角
が飽和するような直流磁界を印加する第1の直流磁界印
加手段と、 前記第1の光磁気効果素子によりファラディ回転された
光を当該ファラディ回転角に応じた光強度に変換する第
1の検光子と、 前記第1の検光子から出力される光強度が所定値以上に
なると出力信号を発する第1の受光素子と、 光を出射する第2の発光源と、 前記第2の発光源より出射された光を直線偏光する第2
の偏光子と、 前記第2の偏光子により直線偏光された光を磁界の強度
に応じて偏光面がファラディ回転し、所定値以上の磁界
強度によりファラディ回転角が飽和する第2の光磁気効
果素子と、 通常の負荷状態での電流が流れることにより発生する磁
界強度で前記第2の光磁気効果素子のファラディ回転角
が飽和するような直流磁界を印加する第2の直流磁界印
加手段と、 前記第2の光磁気効果素子によりファラディ回転された
光を当該ファラディ回転角に応じた光強度に変換する第
2の検光子と、 前記第2の検光子から出力される光強度が所定値以上に
なると出力信号を発する第2の受光素子と、 前記第1の受光素子の出力と前記第2の受光素子の出力
を合成して出力する出力合成手段と、を備え、 前記第1の偏光子と前記第1の検光子の偏光方向の相対
角度を前記第1の光磁気効果素子のファラディ回転角が
飽和したとき光出力が零となるような位置関係に前記第
1の偏光子と前記第1の検光子とを配置するとともに、
前記第2の偏光子と前記第2の検光子の偏光方向の相対
角度を前記第2の光磁気効果素子のファラディ回転角が
飽和したとき光出力が零となるような位置関係に前記第
2の偏光子と前記第2の検光子とを配置したことを特徴
とする過電流検出装置。 - 【請求項8】光磁気効果素子を用いて過電流に基づくフ
ァラディ回転角の変化を光出力の変化として検出する過
電流検出装置であって、 光を出射する発光源と、 前記発光源より出射された光を2方向に分割する第1の
光ファイバカプラーと、 前記第1の光ファイバカプラーにより分割されて第1の
光ファイバを介して入射される光を直線偏光する第1の
偏光子と、 前記第1の偏光子により直線偏光された光を磁界の強度
に応じて偏光面がファラディ回転し、所定値以上の磁界
強度によりファラディ回転角が飽和する第1の光磁気効
果素子と、 通常の負荷状態での電流が流れることにより発生する磁
界強度で前記第1の光磁気効果素子のファラディ回転角
が飽和するような直流磁界を印加する第1の直流磁界印
加手段と、 前記第1の光磁気効果素子によりファラディ回転された
光を当該ファラディ回転角に応じた光強度に変換する第
1の検光子と、 前記第1の光ファイバカプラーにより分割されて第2の
光ファイバを介して入射される光を直線偏光する第2の
偏光子と、 前記第2の偏光子により直線偏光された光を磁界の強度
に応じて偏光面がファラディ回転し、所定値以上の磁界
強度によりファラディ回転角が飽和する第2の光磁気効
果素子と、 通常の負荷状態での電流が流れることにより発生する磁
界強度で前記第2の光磁気効果素子のファラディ回転角
が飽和するような直流磁界を印加する第2の直流磁界印
加手段と、 前記第2の光磁気効果素子によりファラディ回転された
光を当該ファラディ回転角に応じた光強度に変換する第
2の検光子と、 前記第1の検光子から第3の光ファイバを介して出力さ
れる出力光と、前記第2の検光子から第4の光ファイバ
を介して出力される出力光とを合成する第2の光ファイ
バカプラーと、 前記第2の光ファイバカプラーから出力される出力光の
光強度が所定値以上になると出力信号を発する受光素子
と、を備え、 前記第1の偏光子と前記第1の検光子の偏光方向の相対
角度を前記第1の光磁気効果素子のファラディ回転角が
飽和したとき光出力が零となるような位置関係に前記第
1の偏光子と前記第1の検光子とを配置するとともに、
前記第2の偏光子と前記第2の検光子の偏光方向の相対
角度を前記第2の光磁気効果素子のファラディ回転角が
飽和したとき光出力が零となるような位置関係に前記第
2の偏光子と前記第2の検光子とを配置したことを特徴
とする過電流検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6177198A JPH0843454A (ja) | 1994-07-28 | 1994-07-28 | 過電流検出方法および過電流検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6177198A JPH0843454A (ja) | 1994-07-28 | 1994-07-28 | 過電流検出方法および過電流検出装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0843454A true JPH0843454A (ja) | 1996-02-16 |
Family
ID=16026900
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6177198A Pending JPH0843454A (ja) | 1994-07-28 | 1994-07-28 | 過電流検出方法および過電流検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0843454A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2015019534A1 (ja) * | 2013-08-06 | 2015-02-12 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 磁気センサおよびこの磁気センサを用いた電流センサ |
CN104793038A (zh) * | 2015-04-20 | 2015-07-22 | 清华大学 | 一种电力系统全光学过电压监测装置 |
-
1994
- 1994-07-28 JP JP6177198A patent/JPH0843454A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2015019534A1 (ja) * | 2013-08-06 | 2015-02-12 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 磁気センサおよびこの磁気センサを用いた電流センサ |
CN104793038A (zh) * | 2015-04-20 | 2015-07-22 | 清华大学 | 一种电力系统全光学过电压监测装置 |
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