JPH07141825A - テープカセット用テープガイド - Google Patents
テープカセット用テープガイドInfo
- Publication number
- JPH07141825A JPH07141825A JP14775293A JP14775293A JPH07141825A JP H07141825 A JPH07141825 A JP H07141825A JP 14775293 A JP14775293 A JP 14775293A JP 14775293 A JP14775293 A JP 14775293A JP H07141825 A JPH07141825 A JP H07141825A
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- JP
- Japan
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- tape
- guide
- tape guide
- aluminum
- cassette
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- Pending
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- Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 テープカセットのテープガイドを真鍮（Ｂｓ
ＢＭ）及びステンレス（ＳＵＳ）等の材料から最も安価
なアルミニウム（Ａｌ）等を使用しても最適な相性にな
るような表面処理を提供する。 【構成】 アルミニウム（Ａｌ）材で形成されたテープ
ガイドの表面の粗度（Ｒｚ）を、ピッチ（ＰＣ）とバニ
シング量とで表面粗度Ｒｚ＝３±１ミクロンメートル
（μｍ）すると共に、ピッチ（ＰＣ）は１００〜１３４
個の値とし、バニシング量は５〜８ミクロンメートル
（μｍ）になるように表面処理をして使用する。
ＢＭ）及びステンレス（ＳＵＳ）等の材料から最も安価
なアルミニウム（Ａｌ）等を使用しても最適な相性にな
るような表面処理を提供する。 【構成】 アルミニウム（Ａｌ）材で形成されたテープ
ガイドの表面の粗度（Ｒｚ）を、ピッチ（ＰＣ）とバニ
シング量とで表面粗度Ｒｚ＝３±１ミクロンメートル
（μｍ）すると共に、ピッチ（ＰＣ）は１００〜１３４
個の値とし、バニシング量は５〜８ミクロンメートル
（μｍ）になるように表面処理をして使用する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、テープカセットに装着
されているテープガイドの材料をアルミニウム（Ａｌ）
材で形成した時に、磁気テープ等の記録媒体用テープへ
与える影響を最小限にする加工方法に関するものであ
る。
されているテープガイドの材料をアルミニウム（Ａｌ）
材で形成した時に、磁気テープ等の記録媒体用テープへ
与える影響を最小限にする加工方法に関するものであ
る。
【０００２】
【従来の技術】一般に市場に普及しているテープカセッ
トは、長方形状を呈しており、その外殻はテープリール
を収容する下シェルと、上殻となる上シェルと、前蓋と
で構成され、この下シェルと上シェルは夫々別々の製造
ラインで製作される。即ち、下シェルにテープを巻装さ
せたサプライ側及びテークアップ側からなる１対のテー
プリールを並べて収容した後に上シェルを接合させて組
み立てられる。
トは、長方形状を呈しており、その外殻はテープリール
を収容する下シェルと、上殻となる上シェルと、前蓋と
で構成され、この下シェルと上シェルは夫々別々の製造
ラインで製作される。即ち、下シェルにテープを巻装さ
せたサプライ側及びテークアップ側からなる１対のテー
プリールを並べて収容した後に上シェルを接合させて組
み立てられる。
【０００３】一方のテープリールから他方のテープリー
ルへ走行するテープは、テープカセットの開口部にあた
る前部の左右両側に設けられた円筒形状の金属製のテー
プガイドによって、テープカセットの前部側を走行する
ように案内される。このテープガイドは、下シェル及び
上シェルとは別に製作され、テープカセットの組み立て
工程で、下シェルと上シェルとの間に装着されて配設さ
れる。
ルへ走行するテープは、テープカセットの開口部にあた
る前部の左右両側に設けられた円筒形状の金属製のテー
プガイドによって、テープカセットの前部側を走行する
ように案内される。このテープガイドは、下シェル及び
上シェルとは別に製作され、テープカセットの組み立て
工程で、下シェルと上シェルとの間に装着されて配設さ
れる。
【０００４】このようにテープカセットに装着されたテ
ープガイドは、例えばビデオカセット用テープガイドと
しては、真鍮（ＢｓＢＭ）やステンレス（ＳＵＳ）等の
材質からなる材料により形成されていることが一般的で
ある。
ープガイドは、例えばビデオカセット用テープガイドと
しては、真鍮（ＢｓＢＭ）やステンレス（ＳＵＳ）等の
材質からなる材料により形成されていることが一般的で
ある。
【０００５】これは、一般にテープガイドは、磁気テー
プ等の記録媒体用テープの巻取り及び供給に際して、必
ずテープガイドによりガイドされて、適切な位置におけ
る読み書き等を行う上において密接な関係にあるため、
その材料の表面粗度（Ｒｚ）で管理し、その値もＲｚ≦
０．７μｍが望ましく、この条件を満足する材料、例え
ば真鍮（ＢｓＢＭ）やステンレス（ＳＵＳ）が使用され
ていた。
プ等の記録媒体用テープの巻取り及び供給に際して、必
ずテープガイドによりガイドされて、適切な位置におけ
る読み書き等を行う上において密接な関係にあるため、
その材料の表面粗度（Ｒｚ）で管理し、その値もＲｚ≦
０．７μｍが望ましく、この条件を満足する材料、例え
ば真鍮（ＢｓＢＭ）やステンレス（ＳＵＳ）が使用され
ていた。
【０００６】ここで、上記示した真鍮（ＢｓＢＭ）やス
テンレス（ＳＵＳ）等の材質よりも安価なアルミニウム
（Ａｌ）をテープガイドに使用する場合には、アルミニ
ウム（Ａｌ）自体の材質が真鍮（ＢｓＢＭ）やステンレ
ス（ＳＵＳ）等の材質に比べて軟らかいため、耐摩耗と
してアルマイト処理を施し、且つ、アルマイト処理で荒
れた表面をスパロールで平滑にすることが磁気テープへ
の傷付きを考えた場合に最適である。
テンレス（ＳＵＳ）等の材質よりも安価なアルミニウム
（Ａｌ）をテープガイドに使用する場合には、アルミニ
ウム（Ａｌ）自体の材質が真鍮（ＢｓＢＭ）やステンレ
ス（ＳＵＳ）等の材質に比べて軟らかいため、耐摩耗と
してアルマイト処理を施し、且つ、アルマイト処理で荒
れた表面をスパロールで平滑にすることが磁気テープへ
の傷付きを考えた場合に最適である。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、テープ
カセットに巻装されている磁気テープへの傷付き、及び
磁気テープとの摩擦係数（μ）を総合した磁気テープと
の相性を考えた場合には、従来から使用されている真鍮
（ＢｓＢＭ）、ステンレス（ＳＵＳ）等における表面粗
度（Ｒｚ）で管理すると、仕上げ処理等の加工法が異な
るため、同じ表面粗度（Ｒｚ）の値であっても、磁気テ
ープに対する影響が違ってくると云う問題点がある。
カセットに巻装されている磁気テープへの傷付き、及び
磁気テープとの摩擦係数（μ）を総合した磁気テープと
の相性を考えた場合には、従来から使用されている真鍮
（ＢｓＢＭ）、ステンレス（ＳＵＳ）等における表面粗
度（Ｒｚ）で管理すると、仕上げ処理等の加工法が異な
るため、同じ表面粗度（Ｒｚ）の値であっても、磁気テ
ープに対する影響が違ってくると云う問題点がある。
【０００８】従って、真鍮（ＢｓＢＭ）、ステンレス
（ＳＵＳ）等よりも安価な材料であるアルミニウム（Ａ
ｌ）を使用しても、磁気テープへの影響を最小限にする
加工方法に解決しなければならない課題を有している。
（ＳＵＳ）等よりも安価な材料であるアルミニウム（Ａ
ｌ）を使用しても、磁気テープへの影響を最小限にする
加工方法に解決しなければならない課題を有している。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明に係るテープカセット用テープガイドは、一
対のリールに巻装された記録媒体用テープをガイドする
テープガイドを備えたテープカセットであって、テープ
ガイドを、バニシング加工したアルミニウム（Ａｌ）材
で形成することである。
に、本発明に係るテープカセット用テープガイドは、一
対のリールに巻装された記録媒体用テープをガイドする
テープガイドを備えたテープカセットであって、テープ
ガイドを、バニシング加工したアルミニウム（Ａｌ）材
で形成することである。
【００１０】又、バニシング加工したアルミニウム（Ａ
ｌ）材の表面粗度（Ｒｚ）は、Ｒｚ＝３±１μｍに形成
したこと；バニシング加工したアルミニウム（Ａｌ）材
の表面粗度（Ｒｚ）は、１ｍｍ間における突起数が１０
０〜１３４個で、バニシング加工量（Ｗ）がＷ＝５〜８
μｍであるテープカセット用テープガイドである。
ｌ）材の表面粗度（Ｒｚ）は、Ｒｚ＝３±１μｍに形成
したこと；バニシング加工したアルミニウム（Ａｌ）材
の表面粗度（Ｒｚ）は、１ｍｍ間における突起数が１０
０〜１３４個で、バニシング加工量（Ｗ）がＷ＝５〜８
μｍであるテープカセット用テープガイドである。
【００１１】
【作用】テープカセットのテープガイドの材料をアルミ
ニウム（Ａｌ）材で形成することにより、テープカセッ
トのコストを下げることが可能となる。
ニウム（Ａｌ）材で形成することにより、テープカセッ
トのコストを下げることが可能となる。
【００１２】又、アルミニウム（Ａｌ）材で形成された
テープガイドの表面粗度（Ｒｚ）を、ピッチ（ＰＣ）と
バニシング加工量（Ｗ）とでＲｚ＝３±１μｍに形成す
ることにより、磁気テープとテープガイドとの最適な相
性を得ることが可能となる。
テープガイドの表面粗度（Ｒｚ）を、ピッチ（ＰＣ）と
バニシング加工量（Ｗ）とでＲｚ＝３±１μｍに形成す
ることにより、磁気テープとテープガイドとの最適な相
性を得ることが可能となる。
【００１３】更に、アルミニウム（Ａｌ）材で形成され
たテープガイドは、１ｍｍ間における突起数を１００〜
１３４個で、バニシング加工量（Ｗ）をＷ＝５〜８μｍ
にすることにより、磁気テープとテープガイドとの最適
な相性を得ることが可能となる。
たテープガイドは、１ｍｍ間における突起数を１００〜
１３４個で、バニシング加工量（Ｗ）をＷ＝５〜８μｍ
にすることにより、磁気テープとテープガイドとの最適
な相性を得ることが可能となる。
【００１４】
【実施例】本発明に係るテープカセット用テープガイド
の実施例について、図を参照にして説明する。
の実施例について、図を参照にして説明する。
【００１５】一般に市場に普及しているテープカセット
１は、図１及び図２に示すように、長方形状を呈してお
り、その外殻はテープリールを収容する下シェル２ａ
と、上殻となる上シェル２ｂと、前蓋とで構成され、こ
の下シェル２ａと上シェル２ｂは夫々別々の製造ライン
で製作される。即ち、下シェル２ａにテープ３を巻装さ
せたサプライ側及びテークアップ側からなる２つのテー
プリール４，５を並べて収容した後に上シェル２ｂを接
合させて組み立てられる。
１は、図１及び図２に示すように、長方形状を呈してお
り、その外殻はテープリールを収容する下シェル２ａ
と、上殻となる上シェル２ｂと、前蓋とで構成され、こ
の下シェル２ａと上シェル２ｂは夫々別々の製造ライン
で製作される。即ち、下シェル２ａにテープ３を巻装さ
せたサプライ側及びテークアップ側からなる２つのテー
プリール４，５を並べて収容した後に上シェル２ｂを接
合させて組み立てられる。
【００１６】前蓋は、上シェル２ｂの両側面の前面側に
設けられた軸を支点として開閉可能になっており、前蓋
が開いた時は、テープカセット１の前面にテープカセッ
ト１の外部と内部とを通ずる開口部が形成され、テープ
３とビデオデッキ等の電子機器の記録再生機構部との接
続状態が得られる構造になっている。
設けられた軸を支点として開閉可能になっており、前蓋
が開いた時は、テープカセット１の前面にテープカセッ
ト１の外部と内部とを通ずる開口部が形成され、テープ
３とビデオデッキ等の電子機器の記録再生機構部との接
続状態が得られる構造になっている。
【００１７】一方のテープリールから他方のテープリー
ルへ走行するテープ３は、テープカセットの開口部にあ
たる前部の左右両側に設けられた円筒形状の金属製のテ
ープガイド６，７によって、テープカセット１の前部側
を走行するように案内される。このテープガイド６
（７）は、下シェル２ａ及び上シェル２ｂとは別に製作
され、テープカセット１の組み立て工程で、下シェル２
ａのボス部２ｃと上シェル２ｂのボス部２ｄとで挟持さ
れ、且つ支持された状態で配設される。
ルへ走行するテープ３は、テープカセットの開口部にあ
たる前部の左右両側に設けられた円筒形状の金属製のテ
ープガイド６，７によって、テープカセット１の前部側
を走行するように案内される。このテープガイド６
（７）は、下シェル２ａ及び上シェル２ｂとは別に製作
され、テープカセット１の組み立て工程で、下シェル２
ａのボス部２ｃと上シェル２ｂのボス部２ｄとで挟持さ
れ、且つ支持された状態で配設される。
【００１８】このテープガイド６（７）は、バニシング
加工したアルミニウム（Ａｌ）材で形成されており、ア
ルミニウム（Ａｌ）材の表面粗度（Ｒｚ）を、テープガ
イドの表面１ｍｍ間に施せる突起数、即ち山数からなる
ピッチ（ＰＣ）及びスパロールで突起をつぶす量である
バニシング加工量（Ｗ）により、テープガイドと磁気テ
ープとの最適な相性を得るように加工管理されている。
加工したアルミニウム（Ａｌ）材で形成されており、ア
ルミニウム（Ａｌ）材の表面粗度（Ｒｚ）を、テープガ
イドの表面１ｍｍ間に施せる突起数、即ち山数からなる
ピッチ（ＰＣ）及びスパロールで突起をつぶす量である
バニシング加工量（Ｗ）により、テープガイドと磁気テ
ープとの最適な相性を得るように加工管理されている。
【００１９】ここで、表面粗度（Ｒｚ）は、円筒形状を
したテープガイドの全長（実施例においては１６ｍｍ）
の内、磁気テープ３が抵触して直接に影響を及ぼす幅
（実施例においては１２．５ｍｍ）の粗度をいう。
したテープガイドの全長（実施例においては１６ｍｍ）
の内、磁気テープ３が抵触して直接に影響を及ぼす幅
（実施例においては１２．５ｍｍ）の粗度をいう。
【００２０】又、摩擦係数（μ）は、長さ２５ｃｍの磁
気テープの一端に１００ｇの重量を加え、その他端に摩
擦を測定する測定器を接続し、速度２ｃｍ／ｓで１〜５
００回往復させた時の最大値である。尚、この条件は適
宜設定変更することができる。
気テープの一端に１００ｇの重量を加え、その他端に摩
擦を測定する測定器を接続し、速度２ｃｍ／ｓで１〜５
００回往復させた時の最大値である。尚、この条件は適
宜設定変更することができる。
【００２１】ここで、摩擦係数（μ）とバニシング加工
量（Ｗ）の関係について説明する。即ち、図４に示すよ
うに、アルミニウム（Ａｌ）材で形成したテープガイド
６（７）は、アルマイト処理後において、その表面に無
数の大小からなる突起８…８を形成している。この突起
８…８の数、即ち、テープガイド６（７）の表面の適宜
１ｍｍ間における突起８…８の山数を、ピッチ（ＰＣ）
で表している。この突起８をスパロールでつぶす量、即
ちバニシング加工量（Ｗ）が大きければ、図５に示すよ
うに、テープガイド６のつぶれた突起９による空間Ｘ１
が狭くなり、その結果、突起９と抵触する磁気テープと
の関係は面抵触に近い状態となり、その結果、摩擦係数
（μ）は上昇する。
量（Ｗ）の関係について説明する。即ち、図４に示すよ
うに、アルミニウム（Ａｌ）材で形成したテープガイド
６（７）は、アルマイト処理後において、その表面に無
数の大小からなる突起８…８を形成している。この突起
８…８の数、即ち、テープガイド６（７）の表面の適宜
１ｍｍ間における突起８…８の山数を、ピッチ（ＰＣ）
で表している。この突起８をスパロールでつぶす量、即
ちバニシング加工量（Ｗ）が大きければ、図５に示すよ
うに、テープガイド６のつぶれた突起９による空間Ｘ１
が狭くなり、その結果、突起９と抵触する磁気テープと
の関係は面抵触に近い状態となり、その結果、摩擦係数
（μ）は上昇する。
【００２２】これに対して、図４に示したアルマイト処
理後のテープガイド１の突起８…８のつぶす量を小さく
する、即ち、バニシング加工量（Ｗ）を小さくした場合
には、図６に示すように、つぶれた突起１０の空間Ｘ２
は、図５に比べてピッチ（ＰＣ）間の空隙が大きいた
め、テープガイド６と磁気テープとの抵触は点抵触状態
となり、摩擦係数（μ）は上昇しない。
理後のテープガイド１の突起８…８のつぶす量を小さく
する、即ち、バニシング加工量（Ｗ）を小さくした場合
には、図６に示すように、つぶれた突起１０の空間Ｘ２
は、図５に比べてピッチ（ＰＣ）間の空隙が大きいた
め、テープガイド６と磁気テープとの抵触は点抵触状態
となり、摩擦係数（μ）は上昇しない。
【００２３】このように、突起９，１０により生じる空
間Ｘ１，Ｘ２、及びつぶれた突起９，１０の状態によ
り、抵触する磁気テープとの摩擦係数（μ）は大きく左
右され、且つ、磁気テープに与える影響も大きく異な
る。この関係を測定した結果を表１に示す。尚、磁気テ
ープは、一般的に市販されているビデオテープを無造作
に抽出したものを使用している。
間Ｘ１，Ｘ２、及びつぶれた突起９，１０の状態によ
り、抵触する磁気テープとの摩擦係数（μ）は大きく左
右され、且つ、磁気テープに与える影響も大きく異な
る。この関係を測定した結果を表１に示す。尚、磁気テ
ープは、一般的に市販されているビデオテープを無造作
に抽出したものを使用している。
【００２４】
【表１】
【００２５】この表１に示す測定結果を見ると、例えば
Ｎｏ．５による測定においては、前記説明した図５に示
すピッチ（ＰＣ）間の空間Ｘ１が小さくなり、磁気テー
プとの摩擦係数（μ）は大きくなる。
Ｎｏ．５による測定においては、前記説明した図５に示
すピッチ（ＰＣ）間の空間Ｘ１が小さくなり、磁気テー
プとの摩擦係数（μ）は大きくなる。
【００２６】これに対して、Ｎｏ．１０に示す測定にお
いては、前記説明した図６に示すピッチ（ＰＣ）の空間
Ｘ２が大きくなり、磁気テープとの摩擦係数（μ）は上
昇しないこととなる。
いては、前記説明した図６に示すピッチ（ＰＣ）の空間
Ｘ２が大きくなり、磁気テープとの摩擦係数（μ）は上
昇しないこととなる。
【００２７】一方、図７は、表１に基づいて、アルミニ
ウム（Ａｌ）材で形成したテープガイドの摩擦係数
（μ）とテープ傷との関係を示したものであり、縦軸を
摩擦係数（μ）で表し、横軸をバニシング後の表面粗度
（Ｒｚ）で表した場合の摩擦係数測定値と目視による磁
気テープのテープ傷を表したものである。
ウム（Ａｌ）材で形成したテープガイドの摩擦係数
（μ）とテープ傷との関係を示したものであり、縦軸を
摩擦係数（μ）で表し、横軸をバニシング後の表面粗度
（Ｒｚ）で表した場合の摩擦係数測定値と目視による磁
気テープのテープ傷を表したものである。
【００２８】この図７に示すように、バニシング量の少
ない場合の表面粗度（Ｒｚ）の場合には、摩擦係数測定
値（μ）は大きな値となり、バニシング量（Ｗ）が大き
くなった場合の表面粗度（Ｒｚ）の摩擦係数測定値
（μ）は徐々に小さな値になる。
ない場合の表面粗度（Ｒｚ）の場合には、摩擦係数測定
値（μ）は大きな値となり、バニシング量（Ｗ）が大き
くなった場合の表面粗度（Ｒｚ）の摩擦係数測定値
（μ）は徐々に小さな値になる。
【００２９】一方、バニシング量（Ｗ）が大きい時のバ
ニシング後の表面粗度（Ｒｚ）に対する摩擦係数の測定
値（μ）は大きくなる、即ち、面接触状態で抵触するた
め目視によるテープ傷は少ない。
ニシング後の表面粗度（Ｒｚ）に対する摩擦係数の測定
値（μ）は大きくなる、即ち、面接触状態で抵触するた
め目視によるテープ傷は少ない。
【００３０】そして、バニシング量（Ｗ）が小さい時の
バニシング後の表面粗度（Ｒｚ）に対する摩擦係数の測
定値（μ）は小さくなる、即ち、点接触状態で抵触する
ため目視によるテープ傷は大きくなる。
バニシング後の表面粗度（Ｒｚ）に対する摩擦係数の測
定値（μ）は小さくなる、即ち、点接触状態で抵触する
ため目視によるテープ傷は大きくなる。
【００３１】このように、バニシング後の摩擦係数
（μ）とテープ傷の許せる範囲は、図７で示す斜線の部
分であり、且つ図３に示すように、つぶれた突起１１及
びこのつぶれた突起１１により生じる空間Ｘ３により得
られた表面の状態、即ちガイドピン６の外周面に接触す
る磁気テープの磁性面に与える影響を最小限に抑制でき
る加工管理であり、この時の表面粗度（Ｒｚ）はＲｚ＝
２．５〜３．５μｍである。
（μ）とテープ傷の許せる範囲は、図７で示す斜線の部
分であり、且つ図３に示すように、つぶれた突起１１及
びこのつぶれた突起１１により生じる空間Ｘ３により得
られた表面の状態、即ちガイドピン６の外周面に接触す
る磁気テープの磁性面に与える影響を最小限に抑制でき
る加工管理であり、この時の表面粗度（Ｒｚ）はＲｚ＝
２．５〜３．５μｍである。
【００３２】これは、前記表１に示した、Ｎｏ．６，Ｎ
ｏ．７に設定することが磁気テープとガイドピン６との
相性は最良の状態となることを示している。即ち、バニ
シング後の表面粗度（Ｒｚ）がＲｚ＝２．５〜３．５μ
ｍで、ピッチ（ＰＣ）が１３４個、バニシング加工量
（Ｗ）がＷ＝５〜８μｍのアルミニウム（Ａｌ）材がテ
ープガイド６（７）と磁気テープ３との最適な相性を得
ることができるのである。
ｏ．７に設定することが磁気テープとガイドピン６との
相性は最良の状態となることを示している。即ち、バニ
シング後の表面粗度（Ｒｚ）がＲｚ＝２．５〜３．５μ
ｍで、ピッチ（ＰＣ）が１３４個、バニシング加工量
（Ｗ）がＷ＝５〜８μｍのアルミニウム（Ａｌ）材がテ
ープガイド６（７）と磁気テープ３との最適な相性を得
ることができるのである。
【００３３】
【発明の効果】上記説明したように、本発明に係るテー
プカセット用テープガイドをアルミニウム（Ａｌ）材で
形成し、その表面粗度（Ｒｚ）をＲｚ＝３±１μｍ、ピ
ッチ（ＰＣ）を１００〜１３４個、バニシング加工量
（Ｗ）をＷ＝５〜８μｍにして使用することにより、安
価な材料であっても磁気テープとの最適な相性が得られ
るように、テープガイドの加工を管理することができる
と云う極めて優れた効果を奏する。
プカセット用テープガイドをアルミニウム（Ａｌ）材で
形成し、その表面粗度（Ｒｚ）をＲｚ＝３±１μｍ、ピ
ッチ（ＰＣ）を１００〜１３４個、バニシング加工量
（Ｗ）をＷ＝５〜８μｍにして使用することにより、安
価な材料であっても磁気テープとの最適な相性が得られ
るように、テープガイドの加工を管理することができる
と云う極めて優れた効果を奏する。
【図１】本発明に係る上シェルを外した状態のテープカ
セットの平面図である。
セットの平面図である。
【図２】同ガイドピンの状態を示す要部断面図である。
【図３】同ガイドピンの外周面を磁気テープとの最良の
状態でバニシング加工した要部を拡大した説明図であ
る。
状態でバニシング加工した要部を拡大した説明図であ
る。
【図４】アルミニウム（Ａｌ）材によるテープガイドを
アルマイト処理した説明図である。
アルマイト処理した説明図である。
【図５】図４のテープガイドをバニシング加工量が大き
い場合の突起の状態を示す説明図である。
い場合の突起の状態を示す説明図である。
【図６】同バニシング加工量が小さい場合の突起の状態
を示す説明図である。
を示す説明図である。
【図７】バニシング加工したテープガイドとテープとの
摩擦係数測定値及びテープ傷との関係を示すグラフであ
る。
摩擦係数測定値及びテープ傷との関係を示すグラフであ
る。
１ テープカセット ２ａ 下シェル ２ｂ 上シェル ３ テープ ４，５ テープリール ６，７ テープガイド ８，９，１０，１１ 突起 Ｘ１，Ｘ２，ｘ３ 突起間の範囲
Claims (3)
- 【請求項１】 一対のリールに巻装された記録媒体用テ
ープをガイドするテープガイドを備えたテープカセット
であって、前記テープガイドを、バニシング加工したア
ルミニウム（Ａｌ）材で形成したことを特徴とするテー
プカセット用テープガイド。 - 【請求項２】 バニシング加工したアルミニウム（Ａ
ｌ）材の表面粗度（Ｒｚ）は、Ｒｚ＝３±１μｍに形成
したことを特徴とする請求項１に記載のテープカセット
用テープガイド。 - 【請求項３】 バニシング加工したアルミニウム（Ａ
ｌ）材の表面粗度（Ｒｚ）は、１ｍｍ間における突起数
が１００〜１３４個で、バニシング加工量（Ｗ）がＷ＝
５〜８μｍであることを特徴とする請求項１又は２に記
載のテープカセット用テープガイド。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14775293A JPH07141825A (ja) | 1993-06-18 | 1993-06-18 | テープカセット用テープガイド |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14775293A JPH07141825A (ja) | 1993-06-18 | 1993-06-18 | テープカセット用テープガイド |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07141825A true JPH07141825A (ja) | 1995-06-02 |
Family
ID=15437353
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14775293A Pending JPH07141825A (ja) | 1993-06-18 | 1993-06-18 | テープカセット用テープガイド |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07141825A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH09197696A (ja) * | 1996-01-11 | 1997-07-31 | Showa Alum Corp | 感光ドラム基体用アルミニウム管の製造方法 |
-
1993
- 1993-06-18 JP JP14775293A patent/JPH07141825A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH09197696A (ja) * | 1996-01-11 | 1997-07-31 | Showa Alum Corp | 感光ドラム基体用アルミニウム管の製造方法 |
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