JPH0548312Y2

JPH0548312Y2 -

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Publication number: JPH0548312Y2
Application number: JP8468788U
Authority: JP
Priority date: 1987-06-26
Filing date: 1988-06-27
Publication date: 1993-12-22
Anticipated expiration: 2003-06-27
Also published as: JPH0164170U

Description

【考案の詳細な説明】

（産業上の利用分野）本考案は磁気テープカセツトに関し、特に、
VTR等に用いられる磁気テープカセツトに関す
るものである。（従来技術） VTR等に使用される磁気テープカセツトには、
例えばβ方式やVHS方式等の如く各種の方式が
あるが、その基本的構造は概ね同様であり、第４
図にVHS方式のものを示す。第４図の如く磁気
テープカセツト１０は磁気テープＴが供給リール
１１と巻取リール１２との間を走行するため、テ
ープ走行を案内するガイド手段、例えば円柱状の
テープガイド１３やガイドポール１４、ガイドロ
ーラ１５、押圧パツド１６などを備えた構造とな
つている。従つて、これらのガイド手段と磁気テ
ープとの摺動の良否によりテープ走行性は大きく
影響されるものである。このことは、磁気テープ
Ｔは周知の如くアセテート、ポリエステル、塩化
ビニル等のフレキシブルなフイルムベースに磁性
層を設けたものであることから容易に理解できる
ことである。特に近年においては、例えば長時間
記録再生を可能にするため、又、電磁変換特性を
向上させる等の目的により、テープ厚さを一層薄
くすると共に、テープ表面の平滑性を高めた磁気
テープＴを収納するようになつてきた。このような状況下において、テープ走行を案内
する上述のガイド手段はその表面がさらに滑性を
有することが必要となる。すなわち、磁気テープ
はその薄手化に伴つて剛性が低下して、磁気テー
プの挙動はガイド手段によりさらに影響され易く
なり、又、より高密度の記録再生を目ざした磁気
テープカセツトにおいては、僅かなテープ挙動変
化でもその影響は出易くなり、テープ走行を安定
に保つ技術は、さらに高い技術が要求される。こ
のテープ挙動変化によつて生じる問題には例え
ば、再生画面が水平方向に不安定にゆれ動く現象
（ジツター）などが主としてあつた。又、場合に
よつてはテープジヤミング等の原因にもなつてい
た。本考案者等はかかる課題を解決すべく鋭意調
査、分析を重ねた結果、磁気テープのベース面側
（非磁気層側）よりも磁性層に接するガイド手段、
すなわち第４図に示すガイドポール１４による影
響が大きく、さらに磁気テープの磁性面の表面性
に関連し、特に磁性面の表面がRa値（カツトオ
フ値0.25mm）で例えば0.01μm未満の平滑な磁気テ
ープにおいては、テープ走行性が影響され易く上
述のような問題が生じ易くなることが判つた。（考案の目的）本考案は、上記問題に鑑みてなされたものであ
り、磁気テープの磁性面に接して良好なテープ走
行を保証することのできるガイドポールを備えた
磁気テープカセツトを提供することを目的とする
ものである。（問題点を解決するための手段）本考案の上記目的は、磁気テープの磁性面に接
してテープ走行を案内する金属製のガイドポール
を具備する磁気テープカセツトにおいて、前記ガ
イドポールの表面に、深さが0.2μm以上でかつ幅
が40μm以下のテープ摺動方向に沿つた溝が、テ
ープ幅方向に沿つて１mm当り10本以上存在しない
ことを特徴とする磁気テープカセツトにより達成
される。以下、図面に例示する本考案の一実施態様につ
いて説明する。第１図は本態様のガイドポール１を示す。この
ガイドポール１は例えば第４図に示した磁気テー
プカセツト１０に装着するものであり、形状や寸
法はガイドポール１４と同様に構成されている。本考案のガイドポール１は従来のガイドポール
１４と同様にステンレスを素材としたものであ
る。その製作は、ステンレス製でほぼガイドポー
ルの寸法に構成された円柱状の素材をセンタレス
加工により、該素材の外周面を粗削り処理する。
このセンタレス加工により素材の外周面には円周
方向に沿つたキズ状の微細な溝、すなわち、ガイ
ドポール長さ方向に凹凸が形成されながら所望の
寸法に加工される。センタレス加工に使用する砥
石は＃100〜140の粗さのものが一般に用いられ
る。この粗さは加工工程の時間的な問題は云うに
及ばず、バレル加工との兼合いから適宜選択され
たものである。その後、バレル処理によつてガイドポール１の
表面を研磨する。このバレル処理は研磨材として
例えば酸化アルミニウム（球状で径が1μm〜２
mm）あるいは炭化ケイ素の粒子とセラミツク製の
ボール（径が2.5mm）とをセンタレス加工済みの
ガイドポール１と共に処理容器に入れて回転す
る。なお、研磨材として用いられた粒子は、バレ
ル処理中に粒子同士、ガイドポール及びセラミツ
ク製のポールと擦り合う。従つて粒子はこの擦り
合うときの衝撃によりくだかれて、処理時間の経
過と共に微細化して行く。このような処理によつてガイドポール１の表面
２に形成され凸部分が潰されて表面２の平坦化が
なされて行く。この平坦化は、センタレス加工に
よつて生じた凹凸の小さい部分からなされて行
き、徐々に大きな溝（凹部）をなくしていくよう
なされる。またさらに、バレル処理の後にローラ仕上げが
施される。該ローラ仕上げによつて、バレル処理
後残存していた凹凸の凸部分が押しつぶされ、ガ
イドポール１の表面２がさらに平坦化される。こ
の平坦化は、センタレス加工によつて生じ、バレ
ル処理後残存していた凹凸のうち小さい部分から
なされて行き徐々に大きな溝（凹部）をなくして
行くようになされる。ローラ仕上げする前のガイドポール１の表面２
を第２図に示し、ローラ仕上げ後の表面２を第３
図に示す。第２図及び第３図は光学顕微鏡写真の
倍率200倍における模式図である。第２図及び第
３図から明らかなように、表面２の溝３はバレル
処理後のローラ仕上げによりかなり少なくなり表
面２の平坦化がなされている。そしてローラ仕上
げをした表面２の表面粗さを測定するが、この測
定は測定針をポール長さ方向に沿つて摺動させ、
該針の上下動に基づいて表面の凹凸を測定する。本態様のガイドポール１の表面２は、上記の如
き測定に基づいて、深さ0.2μm以上で幅40μm以
下の溝３が、ガイドポール１の長さ方向（テープ
幅方向）に沿つて１mm当り10本以上にならないよ
うにバレル処理及びローラ仕上げを行つてある。
すなわち、溝３が１mm当り10本以上存在した表面
であると、特に、磁性面のRa値（カツトオフ値
0.25mm）が0.01μm未満の平滑な磁気テープが摺動
するとき、表面の凹凸の影響を受けてテープ走行
時の挙動が不安定となり、ジツター等の発生が多
くなる。一方、表面２を鏡面仕上げをすると、磁性面が
上述の如く平滑度が高い場合は、はり付き現象に
より、摩擦抵抗が極めて増大してテープ走行性の
低下を招く。（考案の効果）以上述べたように本考案の如く磁気テープの磁
性面と摺動接触するガイドポールの表面は、深さ
0.2μm以上で幅が40μm以下のテープ摺動方向に
沿つた溝が１mm当り10本以上存在しないように構
成されていることにより、磁気テープはガイドポ
ールの表面の凹凸によつて例えばテープ走行方向
に沿つたテープ振動が発生することなく、テープ
挙動の安定化を図ることができるので、例えばジ
ツター等のない記録再生特性に優れた磁気テープ
カセツトを提供することができる。以下、実施例により本考案の効果をさらに明確
にする。（実施例）テストに用いた磁気テープカセツトはVHS方
式の富士写真フイルム(株)製のＳ−MASTERで、
磁気テープの磁性面の平滑度はRa値（カツトオ
フ値0.25mm）で0.009μmの磁気テープを用いた。ガイドポールは第１図に示すような円柱状のも
ので、外径は2.5mmであり、Feが65〜75重量％、
Crが15〜20重量％、Niが10〜15重量％のステン
レスを素材としたものを用いた。ガイドポールのセンタレス加工において使用し
た砥石の粗さは＃120のものを用いた。バレル処理における研磨材は酸化アルミニウム
で、その平均粒径は1.5mm。ガイドポールの製作は上記条件にバレル処理時
間などの処理条件を変えて試料を複数製作し、す
べての試料にローラ仕上げを施しテープ摺動方向
に沿つた溝と画面ユレ（ジツター）との関係につ
いて測定、観察した。溝の測定方法は東京精密製の接針式の表面粗さ
測定機（サーフコム800A）を用いて、針圧
0.4gf、径5μm、測定速度0.06mm／sec、チヤート
速度15mm／sec、縦軸倍率50000倍の条件で任意箇
所を1.6mm長測定し、表面粗さのパターンのチヤ
ートを取つた。この結果、溝の深さは0.2μm以下の深さの微細
な溝は全試料においてほとんど同様に現われるが
0.2μm以上の深さで溝幅40μm以下の溝の数によ
りジツター等の特性が変化することを見出した。上記のテスト結果を表−１に示す。

【表】表−１に示す評価の測定方法及び条件は、温度
５℃、相対湿度80％の環境下において、使用した
記録再生装置は、松下電器産業(株)製のVTRG−
21で、目黒電波ジツターメーターMK−611Aに
よりジツター量を測定し、0.01μsec未満を◎印、
0.10μsec以上で0.15μsec未満を○印、0.15μsec以
上を×印で表示した。表−１から明らかなように、溝深さが0.2μm
で、溝幅40μm以下の溝が１mm当り10本以下であ
る場合には、ジツターが発生せず画面は極めて良
好であつた。

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案によるガイドポールを示す斜視
図、第２図及び第３図は第１図に示すガイドポー
ルの表面の光学顕微鏡写真の模式図、第４図は従
来の磁気テープカセツトの一部破断平面図であ
る。１，１４……ガイトポール、２……ガイドポー
ルの表面、３……溝、１０……磁気テープカセツ
ト、１１……供給リール、１２……巻取リール、
１３……テープガイド、１５……ガイドローラ、
１６……押圧パツド。

Claims

【実用新案登録請求の範囲】

磁気テープの磁性面に接してテープ走行を案内
する金属製のガイドポールを具備する磁気テープ
カセツトにおいて、前記ガイドポールの表面に、
深さが0.2μm以上でかつ幅が40μm以下のテープ
摺動方向に沿つた溝が、テープ幅方向に沿つて１
mm当り10本以上存在しないことを特徴とする磁気
テープカセツト。