JPH07140494A - エレクトロクロミック素子 - Google Patents
エレクトロクロミック素子Info
- Publication number
- JPH07140494A JPH07140494A JP5283727A JP28372793A JPH07140494A JP H07140494 A JPH07140494 A JP H07140494A JP 5283727 A JP5283727 A JP 5283727A JP 28372793 A JP28372793 A JP 28372793A JP H07140494 A JPH07140494 A JP H07140494A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layer
- ecd
- electrochromic
- film
- electrode
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Electrochromic Elements, Electrophoresis, Or Variable Reflection Or Absorption Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 素子面内において、着色の透過率や反射率を
段階的に分布させ、しかもこの状態を長く維持すること
ができるエレクトロクロミック素子を提供する。 【構成】 基板上に少なくとも、エレクトロクロミック
層2,4と、これを挟む一対の電極層1,5とを積層し
てなり、各電極層1,5の一部に低抵抗の取り出し電極
1A,5A をそれぞれ形成してなるエレクトロクロミック素
子において、前記エレクトロクロミック素子の形成面内
において、前記エレクトロクロミック層2,4の膜厚、
及び/又は、エレクトロクロミズムに関与する前記エレ
クトロクロミック層2,4の膜質が所定方向Xに略連続
的に変化させたことを特徴とするエレクトロクロミック
素子。
段階的に分布させ、しかもこの状態を長く維持すること
ができるエレクトロクロミック素子を提供する。 【構成】 基板上に少なくとも、エレクトロクロミック
層2,4と、これを挟む一対の電極層1,5とを積層し
てなり、各電極層1,5の一部に低抵抗の取り出し電極
1A,5A をそれぞれ形成してなるエレクトロクロミック素
子において、前記エレクトロクロミック素子の形成面内
において、前記エレクトロクロミック層2,4の膜厚、
及び/又は、エレクトロクロミズムに関与する前記エレ
クトロクロミック層2,4の膜質が所定方向Xに略連続
的に変化させたことを特徴とするエレクトロクロミック
素子。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光量制御や表示に使用
されるエレクトロクロミック素子に関する。
されるエレクトロクロミック素子に関する。
【0002】
【従来の技術】電圧を印加すると可逆的に電解酸化また
は還元反応が起こり、可逆的に着消色する現象をエレク
トロクロミズムという。このような現象を示すエレクト
ロクロミック(以下、ECと略す場合がある)物質を用
いて、電圧操作により着消色するEC素子(以下、EC
Dと略す場合がある)を作り、このECDを光量制御素
子(例えば調光ガラスや防眩ミラー等)や7セグメント
を利用した数字表示素子に利用しようとする試みは、2
0年以上前から行われている。
は還元反応が起こり、可逆的に着消色する現象をエレク
トロクロミズムという。このような現象を示すエレクト
ロクロミック(以下、ECと略す場合がある)物質を用
いて、電圧操作により着消色するEC素子(以下、EC
Dと略す場合がある)を作り、このECDを光量制御素
子(例えば調光ガラスや防眩ミラー等)や7セグメント
を利用した数字表示素子に利用しようとする試みは、2
0年以上前から行われている。
【0003】ECDは、ECDを構成する各層の材料形
態によって、溶液型、ゲル型、全固体型等に大別するこ
とができ、その中でも全固体型ECDは、各層がすべて
薄膜状に積層して形成されている。そのため、全固体型
ECDでは、溶液型やゲル型のECDを作製するときの
ような、各層を別々の基板に形成して両基板を貼り合わ
せる工程や液状材料の密封の工程が不要であり、大型化
が容易と考えられている。
態によって、溶液型、ゲル型、全固体型等に大別するこ
とができ、その中でも全固体型ECDは、各層がすべて
薄膜状に積層して形成されている。そのため、全固体型
ECDでは、溶液型やゲル型のECDを作製するときの
ような、各層を別々の基板に形成して両基板を貼り合わ
せる工程や液状材料の密封の工程が不要であり、大型化
が容易と考えられている。
【0004】例えば、ガラス基板の上に透明電極層(陰
極)、三酸化タングステン薄膜層、二酸化ケイ素のよう
な絶縁層、電極層(陽極)を順次積層してなるECD
(特公昭52−46098号参照)が全固体型ECDと
して知られている。その他に全固体型ECDとして知ら
れているものは、素子基板上の一対の電極層の間に還元
着色性EC層(例えばWO3 層)、イオン導電層、可逆
的電解酸化層(例えば酸化または水酸化イリジウムの
層)が積層され、両電極層間に所定の電圧を印加できる
構造となっている。
極)、三酸化タングステン薄膜層、二酸化ケイ素のよう
な絶縁層、電極層(陽極)を順次積層してなるECD
(特公昭52−46098号参照)が全固体型ECDと
して知られている。その他に全固体型ECDとして知ら
れているものは、素子基板上の一対の電極層の間に還元
着色性EC層(例えばWO3 層)、イオン導電層、可逆
的電解酸化層(例えば酸化または水酸化イリジウムの
層)が積層され、両電極層間に所定の電圧を印加できる
構造となっている。
【0005】ECDに電圧(着色電圧)を印加すると、
三酸化タングステン(WO3 )薄膜層が青色に着色す
る。その後、このECDに逆の電圧(消色電圧)を印加
すると、WO3 薄膜層の青色が消えて、無色になる。こ
の着消色する機構は詳しくは解明されていないが、WO
3 薄膜層及び絶縁層(イオン導電層)中に含まれる少量
の水分がWO3 の着消色を支配していると理解されてい
る。
三酸化タングステン(WO3 )薄膜層が青色に着色す
る。その後、このECDに逆の電圧(消色電圧)を印加
すると、WO3 薄膜層の青色が消えて、無色になる。こ
の着消色する機構は詳しくは解明されていないが、WO
3 薄膜層及び絶縁層(イオン導電層)中に含まれる少量
の水分がWO3 の着消色を支配していると理解されてい
る。
【0006】着色の反応式は、以下のように推定されて
いる。 ところで、EC層を直接または間接的に挟む一対の電極
層は、EC層の着消色を外部に見せるために、少なくと
も一方の電極層は透明でなければならない。特に透過型
ECDの場合には両電極層とも透明でなければならな
い。
いる。 ところで、EC層を直接または間接的に挟む一対の電極
層は、EC層の着消色を外部に見せるために、少なくと
も一方の電極層は透明でなければならない。特に透過型
ECDの場合には両電極層とも透明でなければならな
い。
【0007】透明な電極層材料としては、現在のところ
SnO2 、In2 O3 、ITO(In2 O3 とSnO2
の混合物)、ZnO等が知られているが、これらの材料
は比較的透明度が悪いために薄くせねばならず、この理
由及びその他の理由からECDは基板(例えば、ガラス
板やプラスチック板)の上に形成されるのが普通であ
る。
SnO2 、In2 O3 、ITO(In2 O3 とSnO2
の混合物)、ZnO等が知られているが、これらの材料
は比較的透明度が悪いために薄くせねばならず、この理
由及びその他の理由からECDは基板(例えば、ガラス
板やプラスチック板)の上に形成されるのが普通であ
る。
【0008】一対の電極層には、外部電源から電圧を印
加するために、外部配線との接続部である取り出し電極
を設ける。電極層として透明電極層を使用した場合に
は、透明電極層が外部配線に比べて高抵抗であるので、
透明電極層に重ねて(即ち、接触させて)低抵抗の取り
出し電極を設けることが多い。通常は、基板表面端部に
位置する透明電極層の周辺に帯状に低抵抗電極部を設け
て(例えば、金属製クリップを装着したり、低抵抗金属
材料をメッキする)、低抵抗の取り出し電極としてい
る。
加するために、外部配線との接続部である取り出し電極
を設ける。電極層として透明電極層を使用した場合に
は、透明電極層が外部配線に比べて高抵抗であるので、
透明電極層に重ねて(即ち、接触させて)低抵抗の取り
出し電極を設けることが多い。通常は、基板表面端部に
位置する透明電極層の周辺に帯状に低抵抗電極部を設け
て(例えば、金属製クリップを装着したり、低抵抗金属
材料をメッキする)、低抵抗の取り出し電極としてい
る。
【0009】また、ECDは用途によって、素子を保護
するための封止基板を素子基板と対向するように配置
し、例えばエポキシ樹脂等を用いて密封封止して用いら
れる。
するための封止基板を素子基板と対向するように配置
し、例えばエポキシ樹脂等を用いて密封封止して用いら
れる。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】従来のECDは、一対
の電極層間に着色電圧を印加すると、両電極層の取り出
し電極間距離が小さいときには、すぐに素子面全体が均
一な着色状態となり、取り出し電極間距離が大きいとき
でも、比較的短時間で素子面全体がほぼ均一な着色状態
となる。
の電極層間に着色電圧を印加すると、両電極層の取り出
し電極間距離が小さいときには、すぐに素子面全体が均
一な着色状態となり、取り出し電極間距離が大きいとき
でも、比較的短時間で素子面全体がほぼ均一な着色状態
となる。
【0011】即ち、従来のECDでは、素子面内におい
て、着色の透過率や反射率を段階的に分布させ(着色濃
淡をもたせ)、しかもこの状態を長く維持することがで
きなかった。本発明の目的は、素子面内において、着色
の透過率や反射率を段階的に分布させ(着色濃淡をもた
せ)、しかもこの状態を長く維持することができるエレ
クトロクロミック素子を提供することにある。
て、着色の透過率や反射率を段階的に分布させ(着色濃
淡をもたせ)、しかもこの状態を長く維持することがで
きなかった。本発明の目的は、素子面内において、着色
の透過率や反射率を段階的に分布させ(着色濃淡をもた
せ)、しかもこの状態を長く維持することができるエレ
クトロクロミック素子を提供することにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】そのため、本発明は「基
板上に少なくとも、エレクトロクロミック層と、これを
挟む一対の電極層とを積層してなり、各電極層の一部に
低抵抗の取り出し電極をそれぞれ形成してなるエレクト
ロクロミック素子において、前記エレクトロクロミック
素子の形成面内において、前記エレクトロクロミック層
の膜厚、及び/又は、エレクトロクロミズムに関与する
前記エレクトロクロミック層の膜質を所定方向に略連続
的に変化させたことを特徴とするエレクトロクロミック
素子」を提供する。
板上に少なくとも、エレクトロクロミック層と、これを
挟む一対の電極層とを積層してなり、各電極層の一部に
低抵抗の取り出し電極をそれぞれ形成してなるエレクト
ロクロミック素子において、前記エレクトロクロミック
素子の形成面内において、前記エレクトロクロミック層
の膜厚、及び/又は、エレクトロクロミズムに関与する
前記エレクトロクロミック層の膜質を所定方向に略連続
的に変化させたことを特徴とするエレクトロクロミック
素子」を提供する。
【0013】また、本発明は第二に「前記変化が略連続
的な増大又は向上であることを特徴とする請求項1記載
のエレクトロクロミック素子(請求項2)」 を提供す
る。
的な増大又は向上であることを特徴とする請求項1記載
のエレクトロクロミック素子(請求項2)」 を提供す
る。
【0014】
【作用】図を引用して以下、本発明の作用を説明する
が、本発明はこの図の例に限定されるものではない。本
発明では、ECDの素子面内において、EC層の膜厚、
及び/又は、エレクトロクロミズムに関与するEC層の
膜質を所定方向に略連続的に変化させているが、断続的
に変化させてもよい。
が、本発明はこの図の例に限定されるものではない。本
発明では、ECDの素子面内において、EC層の膜厚、
及び/又は、エレクトロクロミズムに関与するEC層の
膜質を所定方向に略連続的に変化させているが、断続的
に変化させてもよい。
【0015】これは、エレクトロクロミズムという現象
を示すEC物質の量及び/又は膜質をECD面内におい
て、所定方向に略連続的又は断続的に変化させていると
いうことである。この変化は、膜厚の増加又は膜質の
向上、膜厚の減少又は膜質の低下、 との組み
合わせ が該当する。即ち、着色電圧印加時に、前記現
象を起こす着色種であるEC物質がより多い場所の着色
濃度がより大きくなる。またEC物質の量(EC層の膜
厚)がECD面内において同じでも、エレクトロクロミ
ズムという現象をより起こしやすい膜質である場所の着
色濃度がより大きくなる。その結果、着色濃度がECD
面内で所定方向に略連続的又は断続的に変化する(図3
に、着色濃度を一方向10に連続的に変化させたモデルを
示す)。
を示すEC物質の量及び/又は膜質をECD面内におい
て、所定方向に略連続的又は断続的に変化させていると
いうことである。この変化は、膜厚の増加又は膜質の
向上、膜厚の減少又は膜質の低下、 との組み
合わせ が該当する。即ち、着色電圧印加時に、前記現
象を起こす着色種であるEC物質がより多い場所の着色
濃度がより大きくなる。またEC物質の量(EC層の膜
厚)がECD面内において同じでも、エレクトロクロミ
ズムという現象をより起こしやすい膜質である場所の着
色濃度がより大きくなる。その結果、着色濃度がECD
面内で所定方向に略連続的又は断続的に変化する(図3
に、着色濃度を一方向10に連続的に変化させたモデルを
示す)。
【0016】エレクトロクロミズムに関与するEC層の
膜質は、EC層の成膜条件によって変化する。例えば、
低成膜レートで形成したEC層は、高成膜レートで形成
したEC層よりも、一般的にエレクトロクロミズムとい
う現象をより起こしやすく、着色濃度が大きくなりやす
い(他の成膜条件や膜厚が同一の場合)。本発明にかか
る膜厚、及び/又は、エレクトロクロミズムに関与する
膜質が所定方向に略連続的又は断続的に変化させたEC
層は、例えば、EC層を形成する基板がEC層形成(成
膜)中に、成膜材料(EC材料)のターゲット(例え
ば、スパッタリングターゲット、蒸着源など)上を移動
する搬送型の成膜装置を使用して形成できる。この成膜
装置では、搬送レール12上にガラス基板7を載せて一定
方向(図2の矢印10方向)に搬送する。
膜質は、EC層の成膜条件によって変化する。例えば、
低成膜レートで形成したEC層は、高成膜レートで形成
したEC層よりも、一般的にエレクトロクロミズムとい
う現象をより起こしやすく、着色濃度が大きくなりやす
い(他の成膜条件や膜厚が同一の場合)。本発明にかか
る膜厚、及び/又は、エレクトロクロミズムに関与する
膜質が所定方向に略連続的又は断続的に変化させたEC
層は、例えば、EC層を形成する基板がEC層形成(成
膜)中に、成膜材料(EC材料)のターゲット(例え
ば、スパッタリングターゲット、蒸着源など)上を移動
する搬送型の成膜装置を使用して形成できる。この成膜
装置では、搬送レール12上にガラス基板7を載せて一定
方向(図2の矢印10方向)に搬送する。
【0017】膜厚を所定方向に略連続的又は断続的に変
化させたEC層の形成(成膜)は、前記成膜装置による
基板搬送成膜中に、成膜材料の蒸発速度又は基板の搬送
速度を連続的又は断続的に変化させることにより可能で
ある。この場合の所定方向は、基板の搬送方向となる。
また、膜質を所定方向に略連続的又は断続的に変化させ
たEC層の形成(成膜)は、前記成膜装置による基板搬
送成膜中に、ガスの圧力(全圧)、酸素ガス分圧、高周
波パワー、蒸発速度等の成膜条件を連続的又は断続的に
変化させることにより可能である。また、所定方向は基
板の搬送方向である。
化させたEC層の形成(成膜)は、前記成膜装置による
基板搬送成膜中に、成膜材料の蒸発速度又は基板の搬送
速度を連続的又は断続的に変化させることにより可能で
ある。この場合の所定方向は、基板の搬送方向となる。
また、膜質を所定方向に略連続的又は断続的に変化させ
たEC層の形成(成膜)は、前記成膜装置による基板搬
送成膜中に、ガスの圧力(全圧)、酸素ガス分圧、高周
波パワー、蒸発速度等の成膜条件を連続的又は断続的に
変化させることにより可能である。また、所定方向は基
板の搬送方向である。
【0018】このようにして、例えば図3に示すような
着色濃淡を有するECDを作製することができる。着色
濃淡を有するECDは、サングラスや窓ガラス等に利用
できる。ECDを素子面内で着色濃淡をもたせて着色さ
せても、絶縁層(イオン導電層)やEC層のイオン導電
性(イオン伝導性)が大きいときは、時間がたつと(比
較的短い時間で)着色濃度が素子面全体で均一となる。
そこで、着色濃淡をもたせた着色状態を長く維持するた
めには、絶縁層(イオン導電層)やEC層のイオン導電
性を低くすることが好ましい。
着色濃淡を有するECDを作製することができる。着色
濃淡を有するECDは、サングラスや窓ガラス等に利用
できる。ECDを素子面内で着色濃淡をもたせて着色さ
せても、絶縁層(イオン導電層)やEC層のイオン導電
性(イオン伝導性)が大きいときは、時間がたつと(比
較的短い時間で)着色濃度が素子面全体で均一となる。
そこで、着色濃淡をもたせた着色状態を長く維持するた
めには、絶縁層(イオン導電層)やEC層のイオン導電
性を低くすることが好ましい。
【0019】本発明にかかるECDの積層構造は、特に
どれと限定されるものではないが、固体型ECDの構造
としては、例えば電極層/EC層/イオン導電層/電
極層のような4層構造、電極層/還元着色型EC層/
イオン導電層/可逆的電解酸化層/電極層のような5層
構造があげられる。還元着色型EC層には、一般にWO
3 ,MoO3 等が使用される。イオン導電層には、例え
ば酸化ケイ素、酸化タンタル、酸化チタン、酸化アルミ
ニウム、酸化ニオブ、酸化ジルコニウム、酸化ハフニウ
ム、酸化ランタン、フッ化マグネシウム等が使用され
る。
どれと限定されるものではないが、固体型ECDの構造
としては、例えば電極層/EC層/イオン導電層/電
極層のような4層構造、電極層/還元着色型EC層/
イオン導電層/可逆的電解酸化層/電極層のような5層
構造があげられる。還元着色型EC層には、一般にWO
3 ,MoO3 等が使用される。イオン導電層には、例え
ば酸化ケイ素、酸化タンタル、酸化チタン、酸化アルミ
ニウム、酸化ニオブ、酸化ジルコニウム、酸化ハフニウ
ム、酸化ランタン、フッ化マグネシウム等が使用され
る。
【0020】イオン導電層は、電子に対して絶縁体であ
るが、プロトン(H+ )及びヒドロキシイオン(O
H- )に対しては良導体となる。EC層の着消色反応に
はカチオンが必要とされ、H+ やLi+ をEC層その他
に含有させる必要がある。H+ は初めからイオンである
必要はなく、電圧が印加された時にH+ が生じればよ
く、従ってH+ の代わりに水を含有させてもよい。この
水は、非常に少なくて十分であり、しばしば大気中から
自然に侵入する水分でも着消色する。
るが、プロトン(H+ )及びヒドロキシイオン(O
H- )に対しては良導体となる。EC層の着消色反応に
はカチオンが必要とされ、H+ やLi+ をEC層その他
に含有させる必要がある。H+ は初めからイオンである
必要はなく、電圧が印加された時にH+ が生じればよ
く、従ってH+ の代わりに水を含有させてもよい。この
水は、非常に少なくて十分であり、しばしば大気中から
自然に侵入する水分でも着消色する。
【0021】EC層とイオン導電層とは、どちらを上に
しても下にしてもよい。更にEC層に対して間にイオン
導電層を挟んで(場合により酸化着色性EC層ともな
る)可逆的電解酸化層ないし触媒層を配設してもよい。
このような層としては、例えば酸化ないし水酸化イリジ
ウム、同じくニッケル、同じくクロム、同じくバナジウ
ム、同じくルテニウム、同じくロジウム等があげられ
る。これらの物質は、イオン導電層または透明電極層中
に分散されていてもよいし、逆にそれらを分散していて
もよい。
しても下にしてもよい。更にEC層に対して間にイオン
導電層を挟んで(場合により酸化着色性EC層ともな
る)可逆的電解酸化層ないし触媒層を配設してもよい。
このような層としては、例えば酸化ないし水酸化イリジ
ウム、同じくニッケル、同じくクロム、同じくバナジウ
ム、同じくルテニウム、同じくロジウム等があげられ
る。これらの物質は、イオン導電層または透明電極層中
に分散されていてもよいし、逆にそれらを分散していて
もよい。
【0022】以下、実施例により本発明を具体的に説明
するが、本発明はこれに限定されるものではない。
するが、本発明はこれに限定されるものではない。
【0023】
【実施例1】図1は、本実施例にかかるECDの一例を
示す概念図(a),及びECD面内の濃度分布の一例を
示す説明図(b)である。図1(a)に示すECDをイ
ンラインスパッタリング装置(搬送型の成膜装置の一
例)を使用して、以下の手順で作製した。 (1)45cm×45cmサイズのガラス製素子基板7(図
2参照)の表面全体にDCスパッタリングによりITO
電極層を形成した。ITO電極層の膜厚は約2000
Å、ITO電極層のシート抵抗は約20Ωであった。基
板搬送中の成膜条件(全ガス圧、酸素分圧、入力パワー
等)や搬送速度は一定にした。 (2)フォトエッチングまたはレーザーカッティングに
よりITO電極層に溝(幅3mm)を形成し、上部IT
O電極層1用の低抵抗取り出し電極形成部1’と下部電
極層5とに分離した。なお、図1(a)に示した低抵抗
取り出し電極形成部1’は、実際には下部電極層5と同
一平面上にある。 (3)DCスパッタリングにより、酸化イリジウムと酸
化スズとの混合物からなる可逆的電解酸化層4を、前記
上部ITO電極層1用の低抵抗取り出し電極形成部1’
と下部電極層5の低抵抗取り出し電極形成部5’にかか
らないようにITO電極層上に形成した。
示す概念図(a),及びECD面内の濃度分布の一例を
示す説明図(b)である。図1(a)に示すECDをイ
ンラインスパッタリング装置(搬送型の成膜装置の一
例)を使用して、以下の手順で作製した。 (1)45cm×45cmサイズのガラス製素子基板7(図
2参照)の表面全体にDCスパッタリングによりITO
電極層を形成した。ITO電極層の膜厚は約2000
Å、ITO電極層のシート抵抗は約20Ωであった。基
板搬送中の成膜条件(全ガス圧、酸素分圧、入力パワー
等)や搬送速度は一定にした。 (2)フォトエッチングまたはレーザーカッティングに
よりITO電極層に溝(幅3mm)を形成し、上部IT
O電極層1用の低抵抗取り出し電極形成部1’と下部電
極層5とに分離した。なお、図1(a)に示した低抵抗
取り出し電極形成部1’は、実際には下部電極層5と同
一平面上にある。 (3)DCスパッタリングにより、酸化イリジウムと酸
化スズとの混合物からなる可逆的電解酸化層4を、前記
上部ITO電極層1用の低抵抗取り出し電極形成部1’
と下部電極層5の低抵抗取り出し電極形成部5’にかか
らないようにITO電極層上に形成した。
【0024】この際、基板の搬送速度を連続的に変化
(増加)させた。基板の搬送方向10は一対の低抵抗取り
出し電極形成部1’,5’が対向する方向(図1のY方
向)と垂直な方向(図1のX方向)にした(以下の成膜
工程でも同様)。また、基板搬送中の成膜条件(全ガス
圧、酸素分圧、入力パワー等)は一定にした。さらに、
成膜条件の適正化により、可逆的電解酸化層4のイオン
導電性が低くなるようにした。
(増加)させた。基板の搬送方向10は一対の低抵抗取り
出し電極形成部1’,5’が対向する方向(図1のY方
向)と垂直な方向(図1のX方向)にした(以下の成膜
工程でも同様)。また、基板搬送中の成膜条件(全ガス
圧、酸素分圧、入力パワー等)は一定にした。さらに、
成膜条件の適正化により、可逆的電解酸化層4のイオン
導電性が低くなるようにした。
【0025】このようにして、一対の低抵抗取り出し電
極形成部1’,5’が対向する方向と垂直な方向に膜厚
が変化した可逆的電解酸化層4を形成した。可逆的電解
酸化層4の膜厚は、該層の一方の端部で約1500Å、
中央部で約1000Å、他方の端部で約500Åになる
ようにした。 (4)DCスパッタリングにより、可逆的電解酸化層4
上に酸化タンタルからなるイオン導電層3を形成した。
基板搬送中の成膜条件(全ガス圧、酸素分圧、入力パワ
ー等)や搬送速度は一定にした。膜厚は約3000Åで
あった。また、成膜条件の適正化により、イオン導電層
3のイオン導電性が低くなるようにした。 (5)DCスパッタリングにより、イオン導電層3上に
酸化タングステン層2を形成した。この際、基板の搬送
速度を連続的に変化(増加)させた。基板搬送中の成膜
条件(全ガス圧、酸素分圧、入力パワー等)は、一定に
した。また、成膜条件の適正化により、酸化タングステ
ン層2のイオン導電性が低くなるようにした。
極形成部1’,5’が対向する方向と垂直な方向に膜厚
が変化した可逆的電解酸化層4を形成した。可逆的電解
酸化層4の膜厚は、該層の一方の端部で約1500Å、
中央部で約1000Å、他方の端部で約500Åになる
ようにした。 (4)DCスパッタリングにより、可逆的電解酸化層4
上に酸化タンタルからなるイオン導電層3を形成した。
基板搬送中の成膜条件(全ガス圧、酸素分圧、入力パワ
ー等)や搬送速度は一定にした。膜厚は約3000Åで
あった。また、成膜条件の適正化により、イオン導電層
3のイオン導電性が低くなるようにした。 (5)DCスパッタリングにより、イオン導電層3上に
酸化タングステン層2を形成した。この際、基板の搬送
速度を連続的に変化(増加)させた。基板搬送中の成膜
条件(全ガス圧、酸素分圧、入力パワー等)は、一定に
した。また、成膜条件の適正化により、酸化タングステ
ン層2のイオン導電性が低くなるようにした。
【0026】このようにして、一対の低抵抗取り出し電
極形成部1’,5’が対向する方向と垂直な方向に膜厚
が変化した酸化タングステン層2を形成した。酸化タン
グステン層2の膜厚は、該層の一方の端部で約3000
Å、中央部で約2000Å、他方の端部で約1000Å
になるようにした。 (6)DCスパッタリングにより上部ITO電極層1を
形成した。この時、上部ITO電極層1は既に素子基板
上に形成された低抵抗取り出し電極形成部1’と一端が
接触するように形成した。上部ITO電極層の膜厚は約
2000Å、電極層のシート抵抗は約20Ωであった。 (7)基板端部に、低抵抗取り出し電極形成部1’,
5’と略同じ長さの一対の金属製クリップ(図示せず)
を装着して、各低抵抗取り出し電極形成部1’,5’と
接触させ、低抵抗の取り出し電極1A,5Aとした。
極形成部1’,5’が対向する方向と垂直な方向に膜厚
が変化した酸化タングステン層2を形成した。酸化タン
グステン層2の膜厚は、該層の一方の端部で約3000
Å、中央部で約2000Å、他方の端部で約1000Å
になるようにした。 (6)DCスパッタリングにより上部ITO電極層1を
形成した。この時、上部ITO電極層1は既に素子基板
上に形成された低抵抗取り出し電極形成部1’と一端が
接触するように形成した。上部ITO電極層の膜厚は約
2000Å、電極層のシート抵抗は約20Ωであった。 (7)基板端部に、低抵抗取り出し電極形成部1’,
5’と略同じ長さの一対の金属製クリップ(図示せず)
を装着して、各低抵抗取り出し電極形成部1’,5’と
接触させ、低抵抗の取り出し電極1A,5Aとした。
【0027】エポキシ樹脂又は合わせガラス用中間膜の
シート(変成EVAまたは可塑化PVB等、図示せず)
及びガラス製の封止基板(図示せず)により素子を封止
して、本実施例のECDを作製した。この様にして作製
したECDの一対の低抵抗取り出し電極1A,5Aの間
に、駆動電源から2Vの着色電圧を90秒間印加したと
ころ、ECD13の一端から他端にかけて着色濃淡を有す
る着色状態が観察された。また、イオン導電層やEC層
のイオン導電性を低くなるように各層を形成したので、
着色濃淡を有する着色状態を長時間(30分以上)保持
することができた。この着色状態の一例を図3に模式的
に示す。
シート(変成EVAまたは可塑化PVB等、図示せず)
及びガラス製の封止基板(図示せず)により素子を封止
して、本実施例のECDを作製した。この様にして作製
したECDの一対の低抵抗取り出し電極1A,5Aの間
に、駆動電源から2Vの着色電圧を90秒間印加したと
ころ、ECD13の一端から他端にかけて着色濃淡を有す
る着色状態が観察された。また、イオン導電層やEC層
のイオン導電性を低くなるように各層を形成したので、
着色濃淡を有する着色状態を長時間(30分以上)保持
することができた。この着色状態の一例を図3に模式的
に示す。
【0028】
【実施例2】実施例1の(5)の工程を以下の内容に変
更し、また可逆的電解酸化層の膜厚をECD面内で一定
(1500Å)とした他は、実施例1と全く同様にして
本実施例のECDを作製した。本実施例の(5)の工程
では、DCスパッタリングにより、イオン導電層3上に
酸化タングステン層2を形成した。但し、この際、酸素
分圧比(スパッタガスの全圧に対する酸素ガス圧力の
比)を連続的に変化させた。即ち、該層の一方の端部成
膜時の酸素分圧比を28%、中央部成膜時の酸素分圧比
を20%、他方の端部成膜時の酸素分圧比を12%とし
た。また、酸素分圧比のみを変化させると、成膜レート
も変化するので、入力パワーも変化させて酸化タングス
テン層2の膜厚が一定になるようにした。その他の成膜
条件や基板搬送速度は一定にした。さらに、成膜条件の
適正化により、酸化タングステン層2のイオン導電性が
低くなるようにした。
更し、また可逆的電解酸化層の膜厚をECD面内で一定
(1500Å)とした他は、実施例1と全く同様にして
本実施例のECDを作製した。本実施例の(5)の工程
では、DCスパッタリングにより、イオン導電層3上に
酸化タングステン層2を形成した。但し、この際、酸素
分圧比(スパッタガスの全圧に対する酸素ガス圧力の
比)を連続的に変化させた。即ち、該層の一方の端部成
膜時の酸素分圧比を28%、中央部成膜時の酸素分圧比
を20%、他方の端部成膜時の酸素分圧比を12%とし
た。また、酸素分圧比のみを変化させると、成膜レート
も変化するので、入力パワーも変化させて酸化タングス
テン層2の膜厚が一定になるようにした。その他の成膜
条件や基板搬送速度は一定にした。さらに、成膜条件の
適正化により、酸化タングステン層2のイオン導電性が
低くなるようにした。
【0029】この様にして作製したECDの一対の低抵
抗取り出し電極の間に、駆動電源から2Vの着色電圧を
90秒間印加したところ、ECDの一端から他端にかけ
て着色濃淡を有する着色状態が観察された。また、イオ
ン導電層やEC層のイオン導電性を低くなるように各層
を形成したので、着色濃淡を有する着色状態を長時間
(30分以上)保持することができた。
抗取り出し電極の間に、駆動電源から2Vの着色電圧を
90秒間印加したところ、ECDの一端から他端にかけ
て着色濃淡を有する着色状態が観察された。また、イオ
ン導電層やEC層のイオン導電性を低くなるように各層
を形成したので、着色濃淡を有する着色状態を長時間
(30分以上)保持することができた。
【0030】
【比較例1】酸化タングステン層及び可逆的電解酸化層
の膜厚をECD面内で略一定とした他は、実施例1と全
く同様にして比較例1のECDを作製した。このECD
の一対の低抵抗取り出し電極の間に、駆動電源から2V
の着色電圧を90秒間印加したところ、素子全面がほぼ
均一に着色した。
の膜厚をECD面内で略一定とした他は、実施例1と全
く同様にして比較例1のECDを作製した。このECD
の一対の低抵抗取り出し電極の間に、駆動電源から2V
の着色電圧を90秒間印加したところ、素子全面がほぼ
均一に着色した。
【0031】
【比較例2】酸化タングステン層の膜質をECD面内で
略一定とした他は、実施例2と全く同様にして比較例1
のECDを作製した。このECDの一対の低抵抗取り出
し電極の間に、駆動電源から2Vの着色電圧を90秒間
印加したところ、素子全面がほぼ均一に着色した。
略一定とした他は、実施例2と全く同様にして比較例1
のECDを作製した。このECDの一対の低抵抗取り出
し電極の間に、駆動電源から2Vの着色電圧を90秒間
印加したところ、素子全面がほぼ均一に着色した。
【0032】
【発明の効果】以上の通り、本発明によれば、ECD面
内において、着色の透過率や反射率を段階的に分布させ
(着色濃淡をもたせ)、しかもこの状態を長く維持する
ことができる。
内において、着色の透過率や反射率を段階的に分布させ
(着色濃淡をもたせ)、しかもこの状態を長く維持する
ことができる。
【図1】は、本発明にかかるECDの一例を示す概念図
(a),及びECD面内の濃度分布の一例を示す説明図
(b)である。
(a),及びECD面内の濃度分布の一例を示す説明図
(b)である。
【図2】は、基板搬送型成膜装置による成膜を示す概念
図である。
図である。
【図3】は、本発明にかかるECDの着色濃淡を有する
着色状態の一例を模式的に示す状態図である。
着色状態の一例を模式的に示す状態図である。
1・・・上部ITO電極層(上部電極層の一例) 1’・・上部電極層の低抵抗取り出し電極形成部 1A・上部電極層の低抵抗取り出し電極 2・・・酸化タングステン層(還元発色型EC層の一
例) 3・・・五酸化タンタル層(イオン導電層の一例) 4・・・酸化イリジウム層(酸化発色型EC層の一例) 5・・・下部ITO電極層(下部電極層の一例) 5’・・下部電極層の低抵抗取り出し電極形成部 5A・下部電極層の低抵抗取り出し電極 6・・・基板 7・・・基板上の成膜済の部分 8・・・成膜材料ターゲット 9・・・成膜材料の放出(蒸発) 10・・・基板の搬送方向 11・・・搬送系回転駆動部分 12・・・搬送レール 13・・・ECD 以 上
例) 3・・・五酸化タンタル層(イオン導電層の一例) 4・・・酸化イリジウム層(酸化発色型EC層の一例) 5・・・下部ITO電極層(下部電極層の一例) 5’・・下部電極層の低抵抗取り出し電極形成部 5A・下部電極層の低抵抗取り出し電極 6・・・基板 7・・・基板上の成膜済の部分 8・・・成膜材料ターゲット 9・・・成膜材料の放出(蒸発) 10・・・基板の搬送方向 11・・・搬送系回転駆動部分 12・・・搬送レール 13・・・ECD 以 上
Claims (1)
- 【請求項1】 基板上に少なくとも、エレクトロクロミ
ック層と、これを挟む一対の電極層とを積層してなり、
各電極層の一部に低抵抗の取り出し電極をそれぞれ形成
してなるエレクトロクロミック素子において、 前記エレクトロクロミック素子の形成面内において、前
記エレクトロクロミック層の膜厚、及び/又は、エレク
トロクロミズムに関与する前記エレクトロクロミック層
の膜質を所定方向に略連続的に変化させたことを特徴と
するエレクトロクロミック素子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5283727A JPH07140494A (ja) | 1993-11-12 | 1993-11-12 | エレクトロクロミック素子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5283727A JPH07140494A (ja) | 1993-11-12 | 1993-11-12 | エレクトロクロミック素子 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07140494A true JPH07140494A (ja) | 1995-06-02 |
Family
ID=17669316
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5283727A Pending JPH07140494A (ja) | 1993-11-12 | 1993-11-12 | エレクトロクロミック素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH07140494A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007322824A (ja) * | 2006-06-01 | 2007-12-13 | Fuji Xerox Co Ltd | 画像表示媒体 |
JP2022043167A (ja) * | 2014-06-17 | 2022-03-15 | セイジ・エレクトロクロミクス,インコーポレイテッド | エレクトロクロミックデバイスの被制御スイッチング |
US11796882B2 (en) | 2014-06-17 | 2023-10-24 | Sage Electrochromics, Inc. | Moisture resistant electrochromic device |
-
1993
- 1993-11-12 JP JP5283727A patent/JPH07140494A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007322824A (ja) * | 2006-06-01 | 2007-12-13 | Fuji Xerox Co Ltd | 画像表示媒体 |
JP2022043167A (ja) * | 2014-06-17 | 2022-03-15 | セイジ・エレクトロクロミクス,インコーポレイテッド | エレクトロクロミックデバイスの被制御スイッチング |
US11796882B2 (en) | 2014-06-17 | 2023-10-24 | Sage Electrochromics, Inc. | Moisture resistant electrochromic device |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5148306A (en) | Electrochromic device with specific resistances | |
JP2512880B2 (ja) | 第3電極層から電極取出しを行なつたec素子 | |
US4652090A (en) | Dispersed iridium based complementary electrochromic device | |
JP2696827B2 (ja) | エレクトロクロミツク装置の駆動方法 | |
JPH0728099A (ja) | 全固体型エレクトロクロミック素子及びその製造方法 | |
JPH10253995A (ja) | 調光ガラスおよびその製造方法 | |
US5099356A (en) | Electrochromic device with an electrolyte comprising a lithium salt and a sodium salt | |
JPH06167724A (ja) | 調光ガラスの製造方法 | |
JPH07140494A (ja) | エレクトロクロミック素子 | |
JPH07140308A (ja) | 透過率/反射率の比率が可変なハーフミラー | |
JPH06289435A (ja) | エレクトロクロミック素子 | |
JP2827247B2 (ja) | 均一着色するエレクトロクロミック素子 | |
JPH04107427A (ja) | 透過型エレクトロクロミック素子の製造方法 | |
JP2936186B2 (ja) | エレクトロクロミック素子の製造方法 | |
JPH0820648B2 (ja) | 端面に取出し電極部を設けたec素子 | |
JP2936185B2 (ja) | エレクトロクロミック素子の製造方法 | |
JP2650258B2 (ja) | 封止構造を有するエレクトロクロミック素子 | |
JP2567786Y2 (ja) | エレクトロクロミック素子 | |
JPH10197907A (ja) | エレクトロクロミック素子 | |
JPH0525099B2 (ja) | ||
JP2505006Y2 (ja) | エレクトロクロミック素子 | |
JPH0627499A (ja) | エレクトロクロミック素子の製造方法 | |
JPH0980489A (ja) | 全固体型エレクトロクロミック素子およびその製造方法 | |
JPH10197906A (ja) | エレクトロクロミック素子 | |
JPH0578806B2 (ja) |