JPH07140391A - オ─トコリメ─タ用反射装置 - Google Patents

オ─トコリメ─タ用反射装置

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JPH07140391A
JPH07140391A JP5288098A JP28809893A JPH07140391A JP H07140391 A JPH07140391 A JP H07140391A JP 5288098 A JP5288098 A JP 5288098A JP 28809893 A JP28809893 A JP 28809893A JP H07140391 A JPH07140391 A JP H07140391A
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autocollimator
reflection
light
reflecting device
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Akitoshi Okuma
昭利 大熊
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Abstract

(57)【要約】 【目的】オ─トコリメ─タに反射光を容易に戻せるよう
にし、セッティング作業を簡単にする。光軸に垂直な面
内での傾きも検知できるようにする。 【構成】この反射装置は、直交し対向する2つの反射面
からなる第1の反射面104,105と、その2つの反
射面各々と45度傾斜しオ─トコリメ─タを指向する第
2の反射面106,107,108を有する。まず、必
ず入射光に平行となる第1の反射面104,105から
の反射光を利用してX軸121回りの反射装置111,
112の向きを調整し、次にそれを基準にしてY軸12
2回りの反射装置113,114の向きを調整して、第
2の反射面106,107,108からの反射光もオ─
トコリメ─タ200に戻るように調整する。また、Z軸
回りに反射装置が傾いた場合、反射角度に影響を与えオ
─トコリメ─タにより検知できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、オ─トコリメ─タ用反
射装置に関する。
【0002】
【従来の技術】定盤やステ─ジ等の平面度、真直度、直
角度や、運動の真直度等を測定する手段としてオ─トコ
リメ─タがしばしば用いられる。その一例として、オ─
トコリメ─タを用いた面の真直度の測定方法について図
13を参照して説明する。図13において、まず、オ─
トコリメ─タ200内の光源201により発せられた光
は、コンデンサレンズ202、十字の標線が記された光
源側焦点板203を経て、半透過プリズム204により
反射され、さらに対物レンズ205により平行光716
とされ、被測定面305上に光軸208に垂直におかれ
た平面鏡900に照射される。そして、平面鏡900に
より反射された反射光732が再びオ─トコリメ─タ2
00内に採り込まれ、対物レンズ205、半透過プリズ
ム204を透過し、接眼側焦点板206上に標線を結像
させる。従って、平面鏡900を被測定面305上をZ
軸方向に動かし、このときの標線のずれdを接眼レンズ
207を通して観察することにより被測定面305の真
直度を測定できる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、前述した測定
を行うためのオ─トコリメ─タ、及び平面鏡のセッティ
ング作業は、大変手間のかかる難しい作業であり、従っ
て熟練を要し、さらに時間もかかるため、前記測定を効
率的に行えないという問題点があった。
【0004】これは、以下に述べる理由による。まず、
オ─トコリメ─タの角度測定の精度は数分、或いは数秒
といった非常に微小な値であるため、前述のような平面
305の真直度を測定するためには、平面鏡900を同
程度の精度で正確に光軸208に垂直にセットしなけれ
ばならない。また、一般的にオ─トコリメ─タの視野範
囲は測定精度を最も粗くした場合においても15分程度
で、それ以上平面鏡が傾いていた場合には反射光は全く
オ─トコリメ─タに戻ってこないため、接眼レンズを見
ながらずれを補正し位置合わせを行うことができない。
しかも、そのずれは光軸に垂直な面内で2次元的にずれ
ているので調整はさらに難しくなる。さらに、数十分程
度の傾きでは、直接目視したのみで平面鏡がどの方向に
傾いているかを見極めるのは非常に難しい。従って、測
定者は勘に頼りながら試行錯誤を繰り返し、平面鏡の向
きを調整しなければならない。
【0005】前記調整の具体例を図14に示す。図14
において、平面鏡900が例えば面901に示すように
少しでもX軸回りにずれていると、その反射光はずれた
反射光733となり、また平面鏡900が面902に示
すようにY軸回りにずれていると、その反射光はずれた
反射光734となり、ともにオ─トコリメ─タ200に
戻ってこない。しかも、前記ずれは1度以下の微小なず
れであるため、目視したのみではどの方向に傾いている
のか見極めるのは不可能である。その結果、非常に微小
な角度を、しかもX軸回り、Y軸回りの双方について同
時に2次元的に調整しながら、試行錯誤を繰り返し、平
面鏡900の反射光がオ─トコリメ─タ200に戻るよ
うにセッティングを行わなければならない。
【0006】さらに、前述した測定方法では、オ─トコ
リメ─タの光軸に垂直な面内での被測定面の傾きは測定
できないという問題点もあった。例えば、図15に示す
被測定面306がZ軸回りに角度θだけ傾いた例におい
て、平面鏡900からの反射光735は全く影響を受け
ず対物レンズ205に垂直に入射するため、焦点板20
6の標線像808はずれを生じない。従って、測定者
は、Z軸回りの面の傾きを検知できない。
【0007】従って本発明の目的は、被測定面の真直度
等を測定するためのオ─トコリメ─タ、及び反射装置の
セッティング作業を容易にし、短時間に簡単にセッティ
ングを行えるようにすることにある。さらに本発明の他
の目的は、オ─トコリメ─タの光軸に垂直な面内での被
測定面の傾きを測定可能にすることにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明のオ─トコリメ─
タ用反射装置は、1つ以上の基準面と、該基準面と所定
の角度をなし互いに直交し対向する第1の2つの反射面
を有する。好適には、前記第1の2つの反射面各々に対
して45度傾斜し、オ─トコリメ─タを指向する第2の
反射面を有することが望ましい。特定的には、前記反射
装置は、2つのV溝斜面を有するVブロックとして構成
される。その場合、前記第1の2つの反射面は前記2つ
のV溝斜面として構成され、前記第2の反射面は前記2
つのV溝斜面の交差部近傍の底部またはその底部と反対
側のV溝斜面の端部に設けられる。また特定的には、前
記反射装置は、前記第1の2つの反射面たる2つの直交
表面と、基準表面と、光入射用表面を有するプリズムで
構成される。
【0009】
【作用】本発明のオ─トコリメ─タ用の反射装置は、直
交し対向する第1の2つの反射面を有する。直交する2
つの反射面に平行光が入射すると、2つの反射面の交線
に垂直な方向に関しては、反射光は必ず入射光と平行に
反射される。本発明の反射装置はこの点に着目した。
【0010】つまり、まず目視で可能な程度の精度で反
射装置にオ─トコリメ─タの光を照射すれば、反射光と
入射光は、前記第1の2つの反射面の交線に垂直な方向
については平行である。従って、その方向については反
射装置の向きを調整する必要がなく、残る一方向につい
て反射装置の向きを調整すれば、必ず反射光をオ─トコ
リメ─タ内に採り込むことができる。従って、2次元同
時に調整しなければならないために、勘に頼った試行錯
誤的な作業を繰り返さなければならないという問題を解
決でき、合理的にセッティング作業が行える。
【0011】また、前記第1の2つの反射面各々に対し
て45度傾斜しオ─トコリメ─タを指向する第2の反射
面を有する反射装置においては、前記調整の結果得られ
た反射光を基準にし、引き続き今度は前記反射装置の第
2の反射面からの光をオ─トコリメ─タに採り込むよう
よう反射装置の向きを調整すればよい。従って、1方向
づつの2回の調整で平面鏡である第2の反射面からの反
射光もオ─トコリメ─タに採りこめ、オ─トコリメ─
タ、及び反射装置のセッティングが容易になる。
【0012】また、本発明の反射装置の第1の2つの反
射面は、平面鏡と異なり、その交線に平行な面内で方向
性を持つ。そのため、被測定面がその方向で傾いている
と、前記第1の2つの反射面からの反射光は影響を受
け、入射光と平行でなくなり、従ってその標線像はずれ
る。故に、このずれを検出することによりZ軸まわりの
傾きも検知できる。
【0013】
【実施例】本発明のオ─トコリメ─タ用反射装置(以
下、反射装置と言う)の第1実施例を図1〜図5を参照
して説明する。図1は、第1実施例の反射装置100を
用いてオ─トコリメ─タ200により、面301の光軸
208と平行な方向307の真直度を測定する方法を説
明する図である。図2は、第1実施例の反射装置100
の斜視図である。反射装置100は、互いに直交する3
つの基準面101,102,103、互いに直交しさら
にともに基準面102と直交し基準面103とは45度
傾斜している第1の反射面104,105、及び基準面
102と直交し基準面103と平行な第2の反射面10
6,107,108を有する。
【0014】図3は、第1実施例の反射装置100、及
びオ─トコリメ─タ200のセッティングの方法を説明
する図であり、(A)はX軸回りの角度の調整方法を説
明する図、(B)はY軸回りの角度の調整方法を説明す
る図である。図4は、第1実施例の反射装置100の直
交する第1の2つの反射面104,105に対する、平
行入射光711,712の反射の仕方を説明する図であ
り、(A)は第1の2つの反射面の指向方向が入射光と
平行な場合、(B)は第1の2つの反射面が入射光に対
して+Xの方向を指向している場合、(C)は第1の2
つの反射面が入射平行光に対して−Xの方向に指向して
いる場合を示す図である。図5は、反射装置100がオ
─トコリメ─タの光軸に垂直な面内で傾いた場合の反射
の仕方を説明する図である。
【0015】以下、第1実施例のオ─トコリメ─タ用反
射装置を用いた被測定面の真直度の測定方法について説
明する。まず、図1に示すように、被測定面301上に
反射装置100を、基準面101が被測定面301に接
し、第2の反射面106が真直度の測定方向307に直
交するようにセットする。次にオ─トコリメ─タ200
を、反射面106に対して垂直に光が照射するように高
さ及び角度を調整する。但し、この調整は目視して可能
な程度の精度でよい。またこの調整は、被測定面301
の高さを調整することにより相対的にオ─トコリメ─タ
200の光線の高さ、及び角度を調整する方法でもよ
い。
【0016】前記調整を行った結果、反射装置100の
Y軸回りの向きに関係なく、少なくとも第1の2つの反
射面104,105により反射された光は、X軸方向の
高さに関しては入射光と平行に反射される。このことに
ついて図4を参照して説明する。つまり、反射装置10
0の第2の反射面106により反射された反射光72
2,724,726は反射装置100の向きに応じた方
向に反射されるが、第1の2つの反射面104,105
により反射された光は反射装置のY軸回りの向きに関係
なく、入射光711と平行な反射光721,723,7
25となり反射される。
【0017】そこで次に、図3(A)に示すようにX軸
方向に回転軸121をとり、反射装置100を反射装置
111に示す向きから反射装置112に示す向きまで少
しづつ回転させる。すると、その回転動作中に、例えば
標線像801から標線像802のように移動する標線像
を必ず観測することができる。そこで、その標線像が焦
点板206の中心になるように反射装置100の向きを
調整する。以上の操作により、X軸回りの反射装置10
0の向きのセッティングは完了する。
【0018】しかし、焦点板の中心に結像している標線
は、第1の2つの反射面104,105により反射され
た光による標線像であり、Y軸回りの反射装置100の
向きは未調整である。そこで次に、第2の反射面106
からの反射光をオ─トコリメ─タに採り込めるようY軸
回りの向きの調整を行う。そこで、図3(B)に示すよ
うに、Y軸方向を回転軸122として反射装置100を
反射装置113に示す向きから反射装置114に示す向
きまで少しづつ回転させる。すると、その回転動作中、
第1の2つの反射面104,105からの反射光による
標線像805は焦点板の中心に結像したまま移動しない
が、例えば標線像803から標線像804のように移動
する第2の反射面106からの標線像は必ず観測するこ
とができる。そこで、その標線像を前記第1の2つの反
射面104,105からの標線像805と重ねて焦点板
206の中心に結像するように反射装置100の向きを
調整する。尚、前記反射装置のY軸回りの向きの調整は
オ─トコリメ─タの高さ、向きを調整することにより相
対的に行われるものであってもよい。
【0019】以上の操作により、オ─トコリメ─タ20
0、及び反射装置100のセッティングは完了する。つ
づけて、反射装置100を真直度の測定方向307の方
向に移動させながら標線の移動量を観測し被測定面30
1の真直度を測定できる。このように、第1の2つの反
射面104,105により反射された光による標線像を
用いて、1次元的な調整を2度繰り返すことにより反射
装置100の方向を的確に調整すればよい。
【0020】さらに、図1に示すように反射装置100
及び、オ─トコリメ─タ200のセッティングを行った
場合には、光軸208に垂直な面内での被測定面301
の傾きも測定できることについて図5を参照して説明す
る。つまり、図5に示すように、反射装置100が被測
定面301の傾きによりZ軸回りに角度θで傾いている
と、第2の反射面106への光の入射角度は変わらない
ため、その反射光727は変化せず焦点板206の中心
に標線像806を結像する。しかし、第1の2つの反射
面104、105については光の入射角度が変わるた
め、反射光728はずれ、標線像807もずれた位置に
結像される。従って、光軸に垂直なZ軸回りの被測定面
301の傾きもオ─トコリメ─タ200により検出でき
る。
【0021】尚、第1実施例の反射装置100において
は、第2の反射面は、第1の2つの反射面の交線部分に
位置する第2の反射面106、及び第1の2つの反射面
の交線とは反対側に第1の2つの反射面各々と連続して
設けた第2の反射面107,108、の3面を有した
が、これに限られるものではなく、何れか1面のみ有し
ても、或いは任意の2面を有しても何ら差し支えない。
【0022】第2実施例を図6を参照して説明する。図
6は、本発明の第2実施例を示す図である。第2実施例
は、一般に広く用いられているVブロックを利用して本
発明の反射装置を実現した例であり、図6(A)はV字
溝底部に加工の逃げがあるVブロックの例を、図6
(B)はV字溝底部に第2の反射面を設けその両脇に加
工の逃げがあるVブロックの例を示す。図6に示すよう
に、本発明の反射装置は、一般的に広く用いられている
いわゆるVブロックを用い、必要な面を鏡面加工する
か、或いは必要な面に平面鏡を接合することにより、容
易に作成できる。
【0023】その一例が、図6(A)に示す反射装置4
10である。Vブロックには通常加工の逃げが存在する
場合が多い。反射装置410にはV字溝底部に加工の逃
げ411がある。この加工の逃げ411の部分は、鏡面
加工し第2の反射面として用いても、或いはそのまま加
工の逃げとして放置しておいてもよい。また、Vブロッ
クを利用した反射装置の他の例を、図6(B)に示す反
射装置420である。反射装置420は、Vブロックの
V字溝底部に第2の反射面となる平面部422を形成し
ている。この反射装置420においても加工の逃げ42
1が存在するが、この程度の変形は放置しこのまま反射
装置420を使用しても何ら差し支えない。尚、第2実
施例の反射装置410,420の使用方法は前述した第
1実施例の反射装置100と全く同等である。このよう
に、一般に広く用いられているVブロックを用いれば、
本発明の反射装置は容易に実現できる。
【0024】第3実施例を図7を参照して説明する。図
7は、本発明の第3実施例を示す図である。第3実施例
の反射装置430は、互いに直交する第1の2つの反射
面431,432の側面に、第2の反射面433を有す
る構造となっている。この第3実施例の反射装置430
は、オ─トコリメ─タからの光の照射領域434が小領
域であっても、図示するように、第1の2つの反射面4
31、432と第2の反射面433に同時に光を照射で
きると言う点で有効である。
【0025】第4実施例を説明する。図示せぬ第4実施
例の反射装置は、第2の反射面として、図2に第1実施
例として示した反射装置100の第2の反射面106
と、図7に第3実施例として示した反射装置430の第
2の反射面433を、同時に有する構成の反射装置であ
る。このように、第2の反射面は、前述の第1実施例〜
第3実施例に限らず、第1の2つの反射面の近傍であっ
て、第1の2つの反射面と同一のオ─トコリメ─タの光
を受光できる範囲内であれば、任意好適な場所でよい。
【0026】第5実施例を図8を参照して説明する。図
8は、本発明の第5実施例を示す図であり、(A)は第
5実施例の反射装置を示す図、(B)はその反射装置の
使用例を示す図である。第5実施例の反射装置440
は、第2の反射面を有せず、互いに直交する第1の2つ
の反射面441,442のみからなる構造となってい
る。このように、第1の2つの反射面各々と45度傾斜
し、オ─トコリメ─タの光軸に対し垂直な第2の反射面
は、用途に応じてはこれを有しない構造でもよい。
【0027】前記用途とは、例えば図8(B)に示す被
測定面303のZ方向へのたわみを測定する場合が考え
られる。図8(B)においては、反射装置440のY軸
回りの角度変化をオ─トコリメ─タ200を用いて測定
する。従ってセッティング時には、オ─トコリメ─タ2
00と反射装置440の相対的なY軸回りの角度を調整
し反射光を受光できるようにすればよく、さらにX軸回
りの角度を調整して光軸に垂直な面からの反射光を受光
できるようにする必要はない。故に、図8(A)に示す
直交し対向する第1の2つの反射面441,442のみ
からなる反射装置440を用いればよい。
【0028】第6実施例を図9を参照して説明する。図
9は、本発明の第6実施例を示す図であり、(A)は第
6実施例の反射装置を示す図、(B)はその反射装置の
使用例を示す図である。第6実施例の反射装置450
は、第1及び第2の反射面の指向方向が基準面と平行で
ない構造となっている。つまり、反射装置450は、基
準面451と、互いに直交する第1の2つの反射面45
2、453と、この第1の2つの反射面各々と45度傾
斜ししさらにそれらの交線部分に位置する第2の反射面
454を有している。そして、この第2の反射面454
と直角な方向455がオ─トコリメ─タへの指向方向で
あり、この455は基準面451と任意の角度αをなし
ている。但し、αは0度より大きく90度より小さいも
のとする。
【0029】この反射装置450を用いれば、例えば図
9(B)に示す場合に有効である。図9(B)におい
て、被測定面304は回転テ─ブルであり、その運動面
の真直度を測定する。また、被測定面304の垂直方
向、及び水平方向には遮蔽物911、912がある。こ
の例においては、被測定面304に垂直或いは水平方向
から光を照射できないため、第1実施例に示した反射装
置100では前記測定は不可能である。しかし、基準面
に対してαの角度でオ─トコリメ─タを指向する反射装
置450を図9(B)のように設置すると、斜め方向か
らオ─トコリメ─タ200により光を照射することによ
り、前記測定が可能となる。
【0030】第7実施例を図10及び図11を参照して
説明する。図10は、本発明の第7実施例を示す図であ
り、(A)は直角プリズムによる反射装置を示す図、
(B)は直角プリズムと平面鏡を接合した構成の反射装
置を示す図である。図11は、図10に示した反射装置
の光の進行経路を説明する図であり、(A)は図10
(A)の反射装置の光の進行経路を説明する図、(B)
は図10(B)の反射装置の光の進行経路を説明する図
である。第7実施例の反射装置は、透明体で形成された
直角プリズムを用いて本発明の反射装置を実現した場合
である。
【0031】図10(A)に示す反射装置460は、基
準面461、互いに直交する水平表面である第1の2つ
の反射面462,463、光の入射面465よりなる直
角プリズムである。図10(A)に示した反射装置46
0をY軸方向からみた側面図が図11(A)である。図
11(A)において、オ─トコリメ─タから入射された
光713は第1の2つの反射面462、463において
図示したように各々反射され、入射光713と平行な反
射光729となりオ─トコリメ─タに戻る。従って、直
角プリズムで形成した反射装置460は、図8(A)に
示した第4実施例の、第2の反射面を有しない反射装置
440と同等の働きをする。
【0032】また図10(B)に示す反射装置470
は、基準面471、互いに直交する水平表面である第1
の2つの反射面472,473、光の入射面475を有
し、さらに前記第1の2つの反射面の交差部分をその2
表面472,473に対して45度の角度で削除し水平
な表面474を形成し、さらにその水平部分474に平
面鏡をその鏡面がプリズム内部に向くように接合した。
図11(B)において、オ─トコリメ─タから入射され
た光714,715に対する反射光は、第1の2つの反
射面472,473においては、図示したように入射光
714と平行な反射光730となり、また第2の反射面
474においては、反射装置474の向きに応じた反射
光731となる。従って、直角プリズムと平面鏡で構成
した反射装置470は、図2に示した反射装置100と
同等の働きをする。
【0033】第8実施例を図12を参照して説明する。
図12は、本発明の第8実施例である反射部をその指向
方向と垂直な面内で回転できる用に支持部に設置し、そ
の回転角度を表示できるようにした反射装置を示す図で
ある。図12において、反射装置480は、反射部48
1、支持部482より構成され、反射部481は支持部
482により支持されている。また、反射部481はそ
の指向方向に垂直な面内で回転可能な構造になってお
り、その反射部481の回転角度を表示部483に表示
するようになっている。尚、支持部482の底面が基準
面484である。
【0034】この反射装置480を用いれば、図5に例
示したように、オ─トコリメ─タの光軸と垂直な方向の
被測定面の傾きθにより標線像がずれた場合、前記反射
部481を回転させ、標線像が中心に結像するよう補正
し、この時の補正角度を表示部483により読み取るこ
とにより前記被測定面の傾きθを測定できる。このよう
に、第8実施例の反射装置を用いれば、オ─トコリメ─
タの光軸に垂直な方向の被測定面の傾きも検知できる。
【0035】
【発明の効果】本発明のオ─トコリメ─タ用反射装置
は、入射光と平行に光を反射する性質をもつ2直交反射
面を有し、その平行な反射光を利用して、一次元的に反
射装置の向きを調整することにより、反射光をオ─トコ
リメ─タ内に採り込み可能としている。また、必要に応
じ、その調整された向きを基準にして先の方向について
再び一次元的に反射装置の向きを調整し、平面鏡からの
反射光を採り込み可能としている。従って、反射装置の
セッティング作業を簡単に行うことができ、故に、誰で
も短時間で効率的にオ─トコリメ─タを用いた種々の測
定が行える。また、オ─トコリメ─タの光軸に垂直な面
内での被測定面の傾きも検出できるため、面の真直度等
を効率的に検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】第1実施例の反射装置を用いてオ─トコリメ─
タにより面の真直度を測定する方法を説明する図であ
る。
【図2】第1実施例の反射装置の斜視図である。
【図3】第1実施例の反射装置、及びオ─トコリメ─タ
のセッティングの方法を説明する図であり、(A)は反
射装置のX軸回りの角度の調整方法を説明をする図、
(B)は反射装置のY軸回りの角度の調整方法を説明を
する図である。
【図4】第1実施例の反射装置に対する平行光の反射の
仕方を説明する図であり、(A)は反射装置の指向方向
が入射光に平行な場合、(B)は反射装置が入射光に対
して+Xの方向を指向している場合、(C)は直交2鏡
面が入射光に対して−Xの方向に指向している場合を示
す図である。
【図5】第1実施例の反射装置がオ─トコリメ─タの光
軸に垂直な面内で傾いた場合の反射の仕方を説明する図
である。
【図6】第2実施例の反射装置を示す図であり、(A)
はVブロックのV字溝底部に加工の逃げがある反射装置
を示す図、(B)はVブロックのV字溝底部に設けた第
2の反射面の両脇に加工の逃げがある反射装置を示す図
である。
【図7】第3実施例の反射装置を示す図であり、第1の
2つの反射面の側面に第2の反射面を設けた反射装置を
示す図である。
【図8】第4実施例の説明をする図であり、(A)は第
2の反射面を有しない反射装置を示す図、(B)は
(A)に示した反射装置を用いた面のたわみの測定方法
を説明する図である。
【図9】第6実施例の説明をする図であり、(A)は第
1及び第2の反射面の指向方向が基準面と平行でない反
射装置を示す図、(B)は(A)に示した反射装置を用
いた回転テ─ブルの動作の真直度の測定方法を説明する
図である。
【図10】第7実施例の反射装置を示す図であり、
(A)は直角プリズムによる反射装置を示す図、(B)
は直角プリズムと平面鏡を接合した構成の反射装置を示
す図である。
【図11】図10に示した反射装置の光の進行経路を説
明する図であり、(A)は図10(A)の反射装置の光
の進行経路を説明する図、(B)は図10(B)の反射
装置の光の進行経路を説明する図である。
【図12】第8実施例の反射装置を示す図であり、支持
部に取り付けられた反射部の回転角度を表示できるよう
にした反射装置を示す図である。
【図13】平面鏡を用いてオ─トコリメ─タにより面の
真直度を測定する方法を説明する図である。
【図14】図13に示した測定における、平面鏡、及び
オ─トコリメ─タのセッティング方法を説明する図であ
る。
【図15】平面鏡がオ─トコリメ─タの光軸に垂直な面
内で傾いた場合の反射の仕方を説明する図である。
【符号の説明】
100 反射装置 101〜103 基準面 104,105 第1の反射面 106〜108 第2の反射面 111〜114 反射装置 121,122 回転軸 200 オ─トコリメ─タ 201 光源 202 光源側焦点板 203 コンデンサレンズ 204 半透過プリズム 205 対物レンズ 206 接眼側焦点板 207 接眼レンズ 208 光軸 301,303〜306 被測定面 307 真直度の測定方向 410,420 反射装置 411,421 加工の逃げ 422 第2の反射面 430 反射装置 431,432 第1の反射面 433 第2の反射面 434 光照射領域 440 反射装置 441,442 第1の反射面 450 反射装置 451 基準面 452,453 第1の反射面 454 第2の反射面 455 反射面の指向方向 460,470 反射装置 461,471 基準面 462,463,472,473 第1の反射面 465,475 光の入反射面 474 第2の反射面 480 反射装置 481 反射部 482 支持部 483 表示部 404 基準面 711〜716 入射光 721〜735 反射光 801〜808 標線像 900〜902 平面鏡 911,912 遮蔽物

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】基準面と、 該基準面と所定の角度をなし直交し対向する第1の2つ
    の反射面とを有するオ─トコリメ─タ用反射装置。
  2. 【請求項2】前記第1の2つの反射面に対して45度傾
    斜し、オ─トコリメ─タを指向する少なくとも1つの第
    2の反射面をさらに有する請求項1記載のオ─トコリメ
    ─タ用反射装置。
  3. 【請求項3】前記第2の反射面は、 前記第1の2つの反射面の対向する両端部を結ぶ線に平
    行し、前記第1の2つの反射面の接続部位、または、該
    接続部位と反対側の少なくとも一方の反射面の端部に連
    続して設けられている請求項2記載のオ─トコリメ─タ
    用反射装置。
  4. 【請求項4】前記反射装置は2つのV溝斜面を有するV
    ブロックとして構成され、 前記第1の2つの反射面は前記2つのV溝斜面として構
    成されており、 前記第2の反射面は前記2つのV溝斜面の交差部近傍の
    底部または該底部と対向するV溝斜面の端部に設けられ
    ている請求項3記載のオ─トコリメ─タ用反射装置。
  5. 【請求項5】前記第2の反射面は、 前記第1の2つの反射面の対向する両端部を結ぶ線に平
    行し、前記第1の2つの反射面の側端部側に設けられて
    いる請求項2記載のオ─トコリメ─タ用反射装置。
  6. 【請求項6】前記反射装置は、前記基準面と、光入射面
    と、該光入射面に入射された光を受け入れて反射させる
    第1の面と、該反射された光を受け入れて前記光入射面
    に向けてさらに反射する第2の面を有するプリズムであ
    り、 前記2つの受光・反射面が前記第1の2つの反射面を構
    成する請求項1記載のオ─トコリメ─タ用反射装置。
  7. 【請求項7】前記第1の面と第2の面との接続部位に前
    記第1の面と第2の面に45度傾斜した反射平面が設け
    られている請求項6記載のオ─トコリメ─タ用反射装
    置。
  8. 【請求項8】前記第1の2つの反射面の交線に平行な面
    内で当該反射装置を回転する手段と、 該回転した角度を指示する手段とをさらに有する請求項
    1〜7いずれか記載のオ─トコリメ─タ用反射装置。
JP5288098A 1993-11-17 1993-11-17 オ─トコリメ─タ用反射装置 Pending JPH07140391A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006349605A (ja) * 2005-06-20 2006-12-28 Shinko Seiki Co Ltd 投影機用計測治具

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