JPH0713218Y2 - 半導体の樹脂封止装置 - Google Patents
半導体の樹脂封止装置Info
- Publication number
- JPH0713218Y2 JPH0713218Y2 JP5040790U JP5040790U JPH0713218Y2 JP H0713218 Y2 JPH0713218 Y2 JP H0713218Y2 JP 5040790 U JP5040790 U JP 5040790U JP 5040790 U JP5040790 U JP 5040790U JP H0713218 Y2 JPH0713218 Y2 JP H0713218Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- nozzle
- sealing
- resin
- semiconductor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この考案は半導体素子を高分子フィルム基板に実装する
テープキャリア方式の樹脂封止装置に関する。
テープキャリア方式の樹脂封止装置に関する。
近年半導体素子は高密度,高集積化により機器の薄型化
が要求されてきている。本考案は薄型対応の高分子フィ
ルム基板への半導体素子実装に関するもので、半導体素
子を基板に接続後、ポッテング法により樹脂封止する装
置に関する。
が要求されてきている。本考案は薄型対応の高分子フィ
ルム基板への半導体素子実装に関するもので、半導体素
子を基板に接続後、ポッテング法により樹脂封止する装
置に関する。
従来のフィルムキャリア実装におけるポッテング樹脂封
止装置は、フィルム基板5を基板ガイド4と基板受6で
上下からサンドイッチして固架し、封止ノズル2を下降
させ、基板5とこれに対向させて封止ノズル2の間隙7
を保たせて、エアーディスペンサにより吐出封止樹脂
1′を吐出しIC3の表面および基板5の一部に塗布する
構成となっていた。
止装置は、フィルム基板5を基板ガイド4と基板受6で
上下からサンドイッチして固架し、封止ノズル2を下降
させ、基板5とこれに対向させて封止ノズル2の間隙7
を保たせて、エアーディスペンサにより吐出封止樹脂
1′を吐出しIC3の表面および基板5の一部に塗布する
構成となっていた。
上記の装置はエアーディスペンサにより吐出樹脂1′お
よび封止樹脂1でIC3を被覆している。
よび封止樹脂1でIC3を被覆している。
しかし、基板5は薄いフィルム状なのでうねりやそりが
あり、封止ノズル2の端面と平行になりにくい。また、
間隙7も当然一定になりにくい。間隙7が一定でないと
封止ノズル2に保持された封止樹脂1がディスペンサ等
の圧力により吐出封止樹脂1′となって基板5、および
IC3に転写される時、形状が不安定となり、必要とする
部分に吐出封止樹脂1′が被覆されないという欠点があ
った。
あり、封止ノズル2の端面と平行になりにくい。また、
間隙7も当然一定になりにくい。間隙7が一定でないと
封止ノズル2に保持された封止樹脂1がディスペンサ等
の圧力により吐出封止樹脂1′となって基板5、および
IC3に転写される時、形状が不安定となり、必要とする
部分に吐出封止樹脂1′が被覆されないという欠点があ
った。
本考案は従来装置の上記欠点を解消した半導体の樹脂封
止装置を提供することを目的とする。
止装置を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本考案が採用した主たる手
段は従来の半導体樹脂封止装置の封止ノズルの外周に上
記封止ノズルより突出した周辺ノズルを設けた点にあ
る。
段は従来の半導体樹脂封止装置の封止ノズルの外周に上
記封止ノズルより突出した周辺ノズルを設けた点にあ
る。
基板受6と封止ノズル2の塗布部を囲む周辺ノズルで基
板5を固定するので、基板5と封止ノズル2の間隙7が
一定となった。また封止ノズル2とIC3のギャップも一
定とすることが可能となり、封止ノズル2の塗布部分の
形状が基板5およびIC3に転写されるようになった。
板5を固定するので、基板5と封止ノズル2の間隙7が
一定となった。また封止ノズル2とIC3のギャップも一
定とすることが可能となり、封止ノズル2の塗布部分の
形状が基板5およびIC3に転写されるようになった。
以下に本考案の実施例を図面に基づいて説明する。第1
図は本考案による半導体の樹脂封止装置に示す断面図で
ある。
図は本考案による半導体の樹脂封止装置に示す断面図で
ある。
第1図において基板5は該基板5の周囲に設けた基板ガ
イド4により幅方向に位置規制され、長さ方向は基板5
の送りスプロケット(図示せず)でテンションを加えた
状態で固架されている。基板5は長さ方向に送り、所定
位置で止められる。次に前記基板5の下方に設けた基板
受6が下方から突き上げられ、基板5は基板受6と基板
ガイド4で挟持されて固定される。
イド4により幅方向に位置規制され、長さ方向は基板5
の送りスプロケット(図示せず)でテンションを加えた
状態で固架されている。基板5は長さ方向に送り、所定
位置で止められる。次に前記基板5の下方に設けた基板
受6が下方から突き上げられ、基板5は基板受6と基板
ガイド4で挟持されて固定される。
次に基板5の上方に設けられた封止ノズル2が下降し、
基板5の表面に当接して基板5をクランプする。この時
封止ノズル2はノズル塗布部とその周辺ノズル部とに段
差があるので、この段差が間隙7となる。
基板5の表面に当接して基板5をクランプする。この時
封止ノズル2はノズル塗布部とその周辺ノズル部とに段
差があるので、この段差が間隙7となる。
基板5がクランプされると、エアー等により封止樹脂1
が封止ノズル2の形状に充填され、IC3の表面および基
板5に吐出封止樹脂1′が付着する。樹脂を吐出後、封
止ノズル2を上昇させると、封止ノズル2の形状が基板
5およびIC3に転写され、同時に基板5の固定が解除さ
れる。次に基板受6を下降させる。この時、基板5の固
定は送りスプロケットのテンションのみとなる。次に塗
布の必要なIC3まで基板5をステップ送りし同様な動作
を繰り返す。
が封止ノズル2の形状に充填され、IC3の表面および基
板5に吐出封止樹脂1′が付着する。樹脂を吐出後、封
止ノズル2を上昇させると、封止ノズル2の形状が基板
5およびIC3に転写され、同時に基板5の固定が解除さ
れる。次に基板受6を下降させる。この時、基板5の固
定は送りスプロケットのテンションのみとなる。次に塗
布の必要なIC3まで基板5をステップ送りし同様な動作
を繰り返す。
本考案は以上説明したようにノズル塗布部より突出させ
てその周囲に周辺ノズル部を形成したので、IC3および
基板5と封止ノズル2の塗布部分の間隙7が一定とな
り、封止ノズル2の形状がIC3および基板5に転写さ
れ、必要とする部分が被覆されないということがなくな
り、安定した樹脂封止が可能となった。
てその周囲に周辺ノズル部を形成したので、IC3および
基板5と封止ノズル2の塗布部分の間隙7が一定とな
り、封止ノズル2の形状がIC3および基板5に転写さ
れ、必要とする部分が被覆されないということがなくな
り、安定した樹脂封止が可能となった。
第1図は本考案による半導体の樹脂封止方法を示す断面
略図で、第2図は従来の半導体の樹脂封止方法を示す断
面略図である。 1……封止樹脂 1′……吐出封止樹脂 2……封止ノズル 3……IC 4……基板ガイド 5……基板 6……基板受 7……間隙
略図で、第2図は従来の半導体の樹脂封止方法を示す断
面略図である。 1……封止樹脂 1′……吐出封止樹脂 2……封止ノズル 3……IC 4……基板ガイド 5……基板 6……基板受 7……間隙
Claims (1)
- 【請求項1】半導体素子を実装した高分子フィルム基板
を基板ガイドと基板受とで上下からはさんで固定する手
段と、上記半導体素子に対向して配置され樹脂を被覆す
る封止ノズルとを有するフィルムキャリア実装に用いる
半導体の樹脂封止装置において、 上記封止ノズルはその外周に上記封止ノズルより突出し
た周辺ノズルを有することを特徴とするフィルムキャリ
ア実装に用いる半導体の樹脂封止装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5040790U JPH0713218Y2 (ja) | 1990-05-15 | 1990-05-15 | 半導体の樹脂封止装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5040790U JPH0713218Y2 (ja) | 1990-05-15 | 1990-05-15 | 半導体の樹脂封止装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0410336U JPH0410336U (ja) | 1992-01-29 |
JPH0713218Y2 true JPH0713218Y2 (ja) | 1995-03-29 |
Family
ID=31568924
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5040790U Expired - Lifetime JPH0713218Y2 (ja) | 1990-05-15 | 1990-05-15 | 半導体の樹脂封止装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0713218Y2 (ja) |
-
1990
- 1990-05-15 JP JP5040790U patent/JPH0713218Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0410336U (ja) | 1992-01-29 |
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