JPH07122762A - 薄膜光起電力装置 - Google Patents

薄膜光起電力装置

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JPH07122762A
JPH07122762A JP5264852A JP26485293A JPH07122762A JP H07122762 A JPH07122762 A JP H07122762A JP 5264852 A JP5264852 A JP 5264852A JP 26485293 A JP26485293 A JP 26485293A JP H07122762 A JPH07122762 A JP H07122762A
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JP
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cell
type
light
thin film
layer
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Takayuki Watanabe
隆行 渡辺
Masahiro Matsui
正宏 松井
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Asahi Chemical Industry Co Ltd
Original Assignee
Asahi Chemical Industry Co Ltd
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Publication date
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    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
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    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
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    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P70/00Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
    • Y02P70/50Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product

Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【構成】 タンデム構造の光起電力装置において、光吸
収層として、バンドギャップが小さいCuInSe2
どのカルコパイライト化合物3を下部セル6に、それよ
りバンドギャップが大きいCuInS2 などのカルコパ
イライト化合物10を上部セル12に用いた。 【効果】 変換効率が高く、光照射時の耐久性に優れ、
かつ安価なタンデム構造の光起電力装置が作製できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、タンデム構造を有する
高効率の薄膜光起電力装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】半導体光起電力素子において、電気エネ
ルギーに変換できる光の波長範囲は、その半導体材料の
バンドギャップにより決定される。バンドギャップより
低いエネルギー、即ち長波長の光は半導体に吸収されず
に透過してしまう。一方、バンドギャップより高いエネ
ルギー、即ち短波長の光は半導体に吸収され、電子を価
電子帯から伝導帯に励起することにより光電流を発生さ
せる。ただし、吸収された光エネルギーのうち、バンド
ギャップより大きい分は熱エネルギーとして損失され光
電流に寄与しない。太陽光スペクトルが広い波長範囲に
渡り分布しているため、単一接合の光起電力素子では、
太陽光の入射エネルギーの50%以上が利用されずに損
失してしまい、これが光電変換効率の飛躍的向上が達成
されない一因となっている。
【0003】近年、太陽光を広い波長範囲で有効に利用
する目的から、バンドギャップの異なる半導体を構成材
料とする二つ以上の光起電力素子を積層したタンデム構
造と呼ばれる光起電力装置が報告されている。タンデム
構造の光起電力装置(以下、タンデム・セルと略す。)
は、バンドギャップが広い半導体材料を光吸収層として
有する第2の光起電力素子(以下、上部セルと略す。)
を光の入射側に、上部セルよりバンドギャップが狭い半
導体材料を光吸収層として有する第1の光起電力素子
(以下、下部セルと略す。)を上部セルの光の進行方向
側に設置した構成となる。タンデム・セルとして、アモ
ルファスシリコン(以下、a−Siと略す。)のPIN
型光起電力素子を上部セル、結晶シリコン(以下、c−
Siと略す。)のPN型光起電力素子、a−SiをP
層、アモルファスシリコンゲルマニウムをI層、a−S
iをN層としたPIN型光起電力素子またはセレン化銅
インジウム(CuInSe2 )などのa−Siよりもバ
ンドギャップの狭いI −III −VI族化合物半導体(以
下、カルコパイライト化合物と称す。)をP層、硫化カ
ドミウム(CdS)、硫化亜鉛(ZnS)若しくはそれ
らの固溶体をN層としたPN型光起電力素子を下部セル
として構成されたものがある。また、砒素化ガリウム
(GaAs)、硫化銅インジウム(CuInS2 )など
のc−Siよりもバンドギャップの広い化合物半導体の
PN型光起電力素子を上部セル、c−Siを下部セルと
して構成されたものもある。
【0004】しかしながら、a−SiのPIN型光起電
力素子は、c−Siおよび化合物半導体のPN型光起電
力素子と比較して光電変換効率が低く、光照射に対する
耐久性において劣るためa−Siを構成材料としたタン
デム・セルでも同様な問題がある。また、c−SiやG
aAsなどのIII −V族化合物半導体の光起電力素子は
光電変換効率は高いが、その半導体材料の結晶バルク基
板が高価であるために、これらを構成材料としたタンデ
ム・セルにおいても高価になるという問題がある。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、単一接合の
光起電力素子では実現困難な、高光電変換効率、長寿命
かつ低コストを可能にするタンデム構造の光起電力装置
を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明者らは、高光電変
換効率、長寿命かつ低コストの光起電力装置の構成につ
いて検討した結果、上部セル及び下部セルの光吸収層と
してカルコパイライト化合物を用いた薄膜型のタンデム
・セルが、a−Siを構成材料としたタンデム・セルと
比較して光照射に対して安定で光電変換効率が高く、か
つc−Si、GaAsなどの高価な半導体材料を有する
タンデム・セルに比べ安価に作製できることを見いだし
本発明をなすに至った。
【0007】すなわち本発明は、元素周期律表のI −II
I −VI族化合物薄膜を光吸収層として有する第1の薄膜
光起電力素子と、第1の薄膜光起電力素子の光吸収層の
I −III −VI族化合物薄膜よりもバンドギャップの広い
元素周期律表のI −III −VI族化合物薄膜を光吸収層と
して有する第2の薄膜光起電力素子とを積層することを
特徴とする薄膜光起電力装置である。
【0008】以下に、本発明を詳細に説明する。図1か
ら図4は、本発明を適用した薄膜光起電力装置の例であ
る。図1中の、1は下部セル用の絶縁性透明基板、2は
Mo等からなる金属電極、3はP型またはN型のカルコ
パイライト化合物からなる光吸収層、4は光吸収層とP
N接合を形成する半導体層、5はアルミ添加酸化亜鉛
(以下、ZnO:Alと略す。)等からなる透明電極層
であり、6は基板1上に、2から5を順次積層して形成
された下部セルである。7は上部セル用の絶縁性透明基
板、8、11はZnO:Al等からなる透明電極層であ
り、10はバンドギャップが下部セルの光吸収層材料よ
りも大きいP型またはN型のカルコパイライト化合物か
らなる上部セルの光吸収層、9はこの光吸収層とPN接
合を形成する半導体層であり、12は基板7上に、8か
ら11を順次積層して形成された上部セルである。下部
セル6と上部セル12とは別々に形成され、それらの透
明電極5と透明電極11とが、防湿用ポリマー13を介
して接合され、タンデムセルが形成されている。
【0009】PN接合を形成する場合には、P層、N層
の材料を同一のカルコパイライト化合物として、ホモP
N接合を形成しても良いし、或いは、P型またはN型の
カルコパイライト化合物を光吸収層として、光吸収層よ
りバンドギャップの広いN型またはP型の半導体を窓層
として、それらを接合してヘテロPN接合を形成しても
良い。
【0010】光吸収層としてのカルコパイライト化合物
のバンドギャップは、下部セルよりも上部セルの方が広
ければ特に限定されないが、好ましくは、下部セルが
0.8eV〜1.3eV、上部セルが1.3eV〜2.
5eVの範囲であり、上部セルと下部セルのバンドギャ
ップの差が0.2eV以上あるのがより好ましい。下部
セルの光吸収層に適用されるカルコパイライト化合物と
しては、特に限定はないが、CuInTe2 、AgIn
Te2 、CuInSe2 、AgInSe2 、AgGaT
2 、CuGaTe2 およびこれらの混晶等が挙げられ
る。また、上部セルの光吸収層に適用されるカルコパイ
ライト化合物としては、特に限定はないが、CuInS
2 、CuGaSe2 、AgGaSe2 、AgInS2
CuGaS 2 およびこれらの混晶等が挙げられる。
【0011】光吸収層とPN接合を形成する材料として
は、光吸収層の材料として挙げたカルコパイライト化合
物に加え、AgGaS2 、CuAlSe2 、CuAlS
2 およびこれらの混晶、CdS、ZnS、(Cd、Z
n)S、ZnSe等のII−VI族化合物、さらにSn
2 、In2 3 、In2 Se3 、In2 3 等が挙げ
られる。PN接合を形成するとき、この材料はバンドギ
ャップが光吸収層と同等若しくは広いものが選択され
る。
【0012】上部セル、下部セルの光吸収層であるカル
コパイライト化合物薄膜およびこの光吸収層とpn接合
を形成する半導体層としてカルコパイライト化合物を用
いる場合の薄膜の形成方法としては特に限定はないが、
例えば、スパッタリング法、真空蒸着法、カルコゲナイ
ド化法、MOCVD法、塗布法、スプレー法、溶液法等
がある。スパッタリング法、真空蒸着法でカルコパイラ
イト化合物薄膜を形成する場合には、成膜用材料として
カルコパイライト化合物を用いても良いし、I−VI族化
合物およびIII −V族化合物の2元化合物を用いても良
いし、カルコパイライト化合物を構成する各元素を用い
ても良い。カルコゲナイド化法には大きく分類して固相
カルコゲナイド化法と気相カルコゲナイド化法とがあ
り、前者の例としてI族元素、III 族元素、VI族元素の
積層膜を不活性ガス雰囲気中で熱処理する方法、後者の
例として、I族元素、III 族元素の積層膜をカルコゲナ
イド(VI族元素)含有ガス雰囲気中で熱処理する方法が
ある。
【0013】上部セル、下部セルを形成する、電極層お
よびカルコパイライト化合物を用いない半導体層の形成
方法としても特に限定はないが、例えばスパッタリング
法、真空蒸着法、MOCVD法、塗布法、スプレー法、
溶液法等がある。図2中の、1は絶縁性透明基板、2は
Mo等からなる金属電極、3はP型またはN型のカルコ
パイライト化合物からなる光吸収層、4は光吸収層とP
N接合を形成する半導体層、5はZnO:Al等からな
る透明電極層であり、14は基板1上に2から5を順次
積層して形成された下部セルである。15は透明電極層
5上に形成された酸化シリコン等からなる透明絶縁層で
あり、これは下部セルと上部セルとを電気的に絶縁する
ためのものである。8、11はZnO:Al等からなる
透明電極層、10はバンドギャップが下部セルの光吸収
層材料よりも大きいP型またはN型のカルコパイライト
化合物からなる上部セルの光吸収層、9はこの光吸収層
とPN接合を形成する半導体層であり、16は透明絶縁
層14上に11から8の順に積層して形成された上部セ
ルである。
【0014】図3中の、1は絶縁性透明基板、2はMo
等からなる金属電極、3はP型またはN型のカルコパイ
ライト化合物からなる光吸収層、4は光吸収層とPN接
合を形成する半導体層、17はZnO:Al等からなる
透明電極層であり、18は以上の2、3、4、17で構
成されている下部セルである。8はZnO:Al等から
なる透明電極層、10はバンドギャップが下部セルの光
吸収層材料よりも大きいP型またはN型のカルコパイラ
イト化合物からなる上部セルの光吸収層、9はこの光吸
収層とPN接合を形成する半導体層であり、19は以上
の8、9、10、17で構成されている上部セルであ
る。この構造では、下部セルの光吸収層3がP型の場
合、上部セルの光吸収層10はN型、下部セルの光吸収
層3がN型の場合、上部セルの光吸収層10はP型であ
り、下部セルと上部セルとが透明電極17を共通の端子
として電気的に並列に接合されている。
【0015】図4中の、1は絶縁性透明基板、2はMo
等からなる金属電極、3はP型またはN型のカルコパイ
ライト化合物からなる光吸収層、4は光吸収層3とPN
接合を形成する半導体層、8はZnO:Al等からなる
透明電極層、10はバンドギャップが下部セルの光吸収
層材料よりも大きいP型またはN型のカルコパイライト
化合物からなる上部セルの光吸収層、9はこの光吸収層
10とPN接合を形成する半導体層であり、3、4から
なる下部セル20と、9、10からなる上部セル21が
直接、接合されてタンデムセルが形成されている。この
構造では、下部セルの光吸収層3がP型の場合、上部セ
ルの光吸収層10もP型、下部セルの光吸収層3がN型
の場合、上部セルの光吸収層10もN型であり、下部セ
ルと上部セルは電気的に直列に接合されている。
【0016】
【実施例】以下に、本発明の実施例を具体的に説明す
る。
【0017】
【実施例1】厚さ1mmのガラス基板上に、スパッタリ
ング法によりMoを電極として形成して、その上にC
u、In、Seを真空蒸着法を用いて順次積層して、そ
の積層膜をAr雰囲気中で熱処理することによりP型C
uInSe2 を形成した。さらに、溶液法によりN型C
dS、2wt%Al2 3 含有ZnO(以下、ZnO:
Alと略す。)焼結体をターゲットとして用いたスパッ
タリング法により透明電極を順次成膜して下部セルを作
製した。次に、別の厚さ1mmのガラス基板上に、スパ
ッタリング法によりZnO:Al透明電極、真空蒸着法
によりN型CdSを形成した。その上に、Cu、In、
Sを蒸発源とした3源同時蒸着法により、P型CuIn
2 を形成した。さらに、スパッタリング法によりZn
O:Al透明電極を形成して、上部セルを作製した。下
部セルと上部セルをそれぞれ作製した後に、ZnO:A
l透明電極の面の間に防湿用ポリマーを挟んで接合して
タンデム構造の薄膜起電力装置を作製した。上部セル、
下部セルからそれぞれ正負の電極を取り出し、AM1.
5の光源を用いて太陽電池特性を評価したところ、変換
効率は上部セルが10.0%、下部セルが8.0%、タ
ンデム・セルで18.0%であった。また、1000時
間連続して光照射した後の変換効率は17.5%であ
り、初期変換効率の97%であった。
【0018】
【比較例1】SnO2 (酸化錫)付ガラス基板上に、r
f(radio frequency )CVD法を用いてP型a−S
i、I型a−Si、N型a−Siを順次成膜して、その
上に、ITOを形成して上部セルを作製した。P型結晶
シリコンウェハに、熱拡散法を用いてリン(P)をドー
プしてN型層を形成した後、表面のN型層に櫛形Ag−
Alを形成した。最後に、リンを熱拡散した際にシリコ
ン裏面に形成されたN型層を酸処理により除去し、Ag
電極を形成して下部セルを作製した。下部セルと上部セ
ルをそれぞれ作製した後、ITO透明電極とシリコン表
面との間に防湿用ポリマーを挟んで接合して、タンデム
構造の薄膜起電力装置を作製した。上部セル、下部セル
からそれぞれ正負の電極を取り出し、AM1.5の光源
を用いて太陽電池特性を評価したところ、変換効率は上
部セルが7.8%、下部セルが9.6%、タンデム・セ
ルで17.4%であった。また、1000時間連続して
光照射した後の変換効率は15.7%であり、初期変換
効率の90%であった。
【0019】
【実施例2】厚さ1mmのガラス基板上に、スパッタリ
ング法によりMoを電極として形成して、その上にC
u、In、Seを蒸発源とした3源同時蒸着法によりP
型のCuInSe2 を、CdS、ZnSを蒸発源とした
真空蒸着法によりCd0.9 Zn 0.1 Sを順次積層して、
さらに、MOCVD法によりボロン(B)ドープ酸化亜
鉛(以下、ZnO:Bと略す。)透明電極を形成して下
部セルを作製した。次に、下部セルと上部セルとを電気
的に絶縁するために、下部セルの透明電極層の上に、プ
ラズマCVD法によりSiO2 を形成した。SiO2
にMOCVD法によりZnO:Bを形成した後、Cu、
In、Ga、Seを蒸発源とした3源同時蒸着法により
P型CuGa0.9 In0.1 Se2 を、CdS、ZnSを
蒸発源とした真空蒸着法によりCd0.7 Zn0.3 Sを、
MOCVD法によりZnO:Bを順次積層してタンデム
構造の薄膜光起電力装置を作製した。上部セル、下部セ
ルからそれぞれ正負の電極を取り出し、AM1.5の光
源を用いて太陽電池特性を評価したところ、変換効率
は、上部セルが8.8%、下部セルが8.2%、タンデ
ム・セルで17.0%であった。
【0020】
【実施例3】厚さ1mmのガラス基板上に、スパッタリ
ング法によりWを電極として形成して、その上にCu、
In、Se、Sを蒸発源として、3源同時蒸着法により
P型のCuInSe2 、N型のCuInS2 を連続して
形成した。その上に、5wt%SnO2 含有In2 3
(以下、ITOと略す。)の焼結体をターゲットとして
用いたスパッタリング法により透明電極を作製した。次
に、ITO透明電極上にCu、Ga、Se、Sを蒸発源
として、3源同時蒸着法によりN型のCuGaSe2
P型のCuGaS2 を連続形成し、さらに、スパッタリ
ング法によりITO透明電極を形成してタンデム構造の
薄膜光起電力装置を作製した。セル最上部のITO透明
電極とW電極を正極、セル中央部のITO透明電極を負
極として、AM1.5の光源を用いて太陽電池特性を評
価したところ、変換効率は16.0%であった。
【0021】
【実施例4】厚さ1mmのガラス基板上に、スパッタリ
ング法によりMoを電極として形成して、その上にC
u、In、Al、Se、Sを蒸発源として、3源同時蒸
着法によりP型のCuInSe2 、N型のCuAlSe
2 、P型のCuInS2 、N型のCuAlS2 を連続形
成して、さらにスパッタリング法によりZnO:Alを
形成して、タンデム構造の薄膜光起電力素子を作製し
た。以上のように作製したセルの太陽電池特性をAM
1.5の光源を用いて評価したところ、変換効率は1
6.5%であった。
【0022】
【比較例2】厚さ1mmのガラス基板上に、スパッタリ
ング法によりMoを電極として形成して、その上にC
u、In、Seを蒸発源とした3源同時蒸着法によりP
型のCuInSe2 を、CdS、ZnSを蒸発源とした
真空蒸着法によりCd0.9 Zn 0.1 Sを順次積層して、
さらに、MOCVD法によりボロン(B)ドープ酸化亜
鉛(以下、ZnO:Bと略す。)透明電極を形成して、
下部セルを作製した。以上のように作製した太陽電池の
特性を評価したところ、変換効率は14.0%であっ
た。
【0023】
【発明の効果】本発明によると、安価で光電変換効率が
高く、かつ光照射に対する耐久性に優れた薄膜光起電力
装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明が適用される薄膜光起電力装置を示す断
面説明図である。
【図2】本発明が適用される薄膜光起電力装置を示す断
面説明図である。
【図3】本発明が適用される薄膜光起電力装置を示す断
面説明図である。
【図4】本発明が適用される薄膜光起電力装置を示す断
面説明図である。
【符号の説明】
1、7 絶縁性透明基板 2 金属電極 3 下部セルの光吸収層 4 下部セルの半導体層 5、8、11、17 透明電極層 6、14、18、20 下部セル 9 上部セルの半導体層 10 上部セルの光吸収層 12、15、19、21 上部セル 13 防湿用ポリマー 15 透明絶縁層

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 元素周期律表のI −III −VI族化合物薄
    膜を光吸収層として有する第1の薄膜光起電力素子と、
    第1の薄膜光起電力素子の光吸収層のI −III −VI族化
    合物薄膜よりもバンドギャップの広い元素周期律表のI
    −III −VI族化合物薄膜を光吸収層として有する第2の
    薄膜光起電力素子とを積層することを特徴とする薄膜光
    起電力装置。
JP5264852A 1993-10-22 1993-10-22 薄膜光起電力装置 Withdrawn JPH07122762A (ja)

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