JPH07115000B2 - 塗膜厚制御方法 - Google Patents
塗膜厚制御方法Info
- Publication number
- JPH07115000B2 JPH07115000B2 JP7877587A JP7877587A JPH07115000B2 JP H07115000 B2 JPH07115000 B2 JP H07115000B2 JP 7877587 A JP7877587 A JP 7877587A JP 7877587 A JP7877587 A JP 7877587A JP H07115000 B2 JPH07115000 B2 JP H07115000B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- coating film
- film thickness
- thickness
- measured
- control method
- Prior art date
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- Expired - Fee Related
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- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Application Of Or Painting With Fluid Materials (AREA)
- Coating Apparatus (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は帯鋼等の長尺材に対する塗装ラインにおける塗
膜厚制御方法に関する。
膜厚制御方法に関する。
帯鋼に塗膜を連続塗装する場合は、帯鋼をその長手方向
に走行させこれに塗料を塗布するがその塗膜厚を一定に
制御する必要がある。この塗膜厚制御方法としては特開
昭57−102263号が公知である。
に走行させこれに塗料を塗布するがその塗膜厚を一定に
制御する必要がある。この塗膜厚制御方法としては特開
昭57−102263号が公知である。
これは塗膜厚を塗料乾燥前及び塗料乾燥後に測定し、こ
れらから塗料の稀釈率を求め、乾燥前の測定膜厚から乾
燥後の膜厚を推定し、乾燥後の膜厚の推定値と目標膜厚
との偏差をフィードバック信号とする方法である。
れらから塗料の稀釈率を求め、乾燥前の測定膜厚から乾
燥後の膜厚を推定し、乾燥後の膜厚の推定値と目標膜厚
との偏差をフィードバック信号とする方法である。
以上の方法においては乾燥前，後の測定位置に相当の距
離があるので、この距離に相当する部分の塗膜厚の制御
が行われない。
離があるので、この距離に相当する部分の塗膜厚の制御
が行われない。
本発明は斯かる問題を解決するためになされたものであ
り、未乾塗膜厚を目標値に一致させるべき制御を行うこ
ととして、全長に亘って正確な塗膜厚制御を行えるよう
にした塗膜厚制御方法を提供することを目的とする。
り、未乾塗膜厚を目標値に一致させるべき制御を行うこ
ととして、全長に亘って正確な塗膜厚制御を行えるよう
にした塗膜厚制御方法を提供することを目的とする。
本発明に係る塗膜厚制御方法は長手方向に走行する長尺
材に塗装される塗膜の厚さを制御する方法において、未
乾塗膜の厚さを測定し、この測定値と、乾燥塗膜に残る
成分の濃度とに基づいて未乾塗膜厚さの乾燥後の厚さを
予測し、この予測値と乾燥塗膜の厚さの目標値との偏差
をフィードバック信号として用いることを特徴する。
材に塗装される塗膜の厚さを制御する方法において、未
乾塗膜の厚さを測定し、この測定値と、乾燥塗膜に残る
成分の濃度とに基づいて未乾塗膜厚さの乾燥後の厚さを
予測し、この予測値と乾燥塗膜の厚さの目標値との偏差
をフィードバック信号として用いることを特徴する。
以下本発明をその実施状態を示す図面に基づいて詳述す
る。帯鋼４は図示しないアンコイラから繰り出されて上
方へ送られ、塗装ロール３とブライドルロール５との間
に送り込まれて塗装され、ここから水平に移送され乾燥
炉９で乾燥される。１は塗料槽であり、ここに貯溜され
ている塗料1a中にその一部が浸漬されたピックアップロ
ール２が前記塗装ロール３に転接し、塗料1aが塗装ロー
ル３に移されて帯鋼４へ塗着される。
る。帯鋼４は図示しないアンコイラから繰り出されて上
方へ送られ、塗装ロール３とブライドルロール５との間
に送り込まれて塗装され、ここから水平に移送され乾燥
炉９で乾燥される。１は塗料槽であり、ここに貯溜され
ている塗料1a中にその一部が浸漬されたピックアップロ
ール２が前記塗装ロール３に転接し、塗料1aが塗装ロー
ル３に移されて帯鋼４へ塗着される。
未乾塗膜の膜厚t0はブライドルロール５にそのヘッド7a
を対向させた膜厚計７にて測定される。また乾燥塗膜ｔ
は乾燥炉９の出側において帯鋼４にそのヘッド10aを対
向させた膜厚計10によって測定される。これら膜厚計7,
10の測定値は演算部６へ入力される。膜厚計７としては
席外吸収を利用したものを用いる。また膜厚計10として
はβ線の減衰を利用したものを用いる。
を対向させた膜厚計７にて測定される。また乾燥塗膜ｔ
は乾燥炉９の出側において帯鋼４にそのヘッド10aを対
向させた膜厚計10によって測定される。これら膜厚計7,
10の測定値は演算部６へ入力される。膜厚計７としては
席外吸収を利用したものを用いる。また膜厚計10として
はβ線の減衰を利用したものを用いる。
塗料槽１中の塗料の乾燥後に残る塗膜成分の濃度ρが濃
度検出器８によって測定され、測定値は演算部６に入力
される。
度検出器８によって測定され、測定値は演算部６に入力
される。
演算部６は以下に説明する演算処理を行い膜厚制御部11
へフィードバック信号を出力する。膜厚制御部11はピッ
クアップロール２及び塗装ロール３の回転速度を遅，速
制御して塗膜厚を厚，薄に制御する。
へフィードバック信号を出力する。膜厚制御部11はピッ
クアップロール２及び塗装ロール３の回転速度を遅，速
制御して塗膜厚を厚，薄に制御する。
次に演算部６の演算内容につき説明する。上述の如く測
定したt0及びρを用いてt0に対応する乾燥塗膜厚ｔつま
り、t0の厚さの未乾塗膜が乾燥した場合の厚さｔを下記
（１）式によって予測する。
定したt0及びρを用いてt0に対応する乾燥塗膜厚ｔつま
り、t0の厚さの未乾塗膜が乾燥した場合の厚さｔを下記
（１）式によって予測する。
ｔ＝ａ×ρ×t0 …（１） このａは膜厚計10による測定値t10とρt0との比、つま
り、 として規定される定数である。
り、 として規定される定数である。
このａは複数回の測定値t0,t10,ρの移動平均値を用い
るのがよい。
るのがよい。
膜厚制御装置11には乾燥塗膜の厚さの目標値Ｔが設定さ
れており、演算部６は膜厚制御部11へ目標値Ｔと予測値
ｔとの偏差ΔＴ（＝Ｔ−ｔ）を出力する。膜厚制御装置
11はこれを０とすべき制御を行う。
れており、演算部６は膜厚制御部11へ目標値Ｔと予測値
ｔとの偏差ΔＴ（＝Ｔ−ｔ）を出力する。膜厚制御装置
11はこれを０とすべき制御を行う。
なお、膜厚の制御はロール2,3の回転速度による場合の
外、これらのロール2,3の間隔の調整によってもよい。
外、これらのロール2,3の間隔の調整によってもよい。
また、ρについては実測によらず、その管理濃度など一
定値を用いてもよい。
定値を用いてもよい。
以上の如き本発明による場合は未乾塗膜の測定値を基に
膜厚制御を行うので制御の影響が及ばない範囲は膜厚計
ヘッド7a〜塗装ロール３内の極めて短い範囲となり、ま
た未乾塗膜厚と濃度に基づいて乾燥膜厚を予測し、また
この予測値を補正するようにしているので制御精度が高
い。つまり、高精度の膜厚制御を制御の遅れなしに実現
することが可能である。
膜厚制御を行うので制御の影響が及ばない範囲は膜厚計
ヘッド7a〜塗装ロール３内の極めて短い範囲となり、ま
た未乾塗膜厚と濃度に基づいて乾燥膜厚を予測し、また
この予測値を補正するようにしているので制御精度が高
い。つまり、高精度の膜厚制御を制御の遅れなしに実現
することが可能である。
図面は本発明方法の実施状態を示す模式図である。 １……塗料槽、３……塗装ロール、４……帯鋼、６……
演算部、7,10……膜厚計、８……濃度計、11……膜厚制
御部
演算部、7,10……膜厚計、８……濃度計、11……膜厚制
御部
Claims (2)
- 【請求項１】長手方向に走行する長尺材に塗装される塗
膜の厚さを制御する方法において、未乾塗膜の厚さを測
定し、この測定値と、乾燥塗膜に残る成分の濃度とに基
づいて未乾塗膜厚さの乾燥後の厚さを予測し、この予測
値と乾燥塗膜の厚さの目標値との偏差をフィードバック
信号として用いることを特徴する塗膜厚制御方法。 - 【請求項２】前記濃度が実測値である特許請求の範囲第
１項記載の塗膜厚制御方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7877587A JPH07115000B2 (ja) | 1987-03-30 | 1987-03-30 | 塗膜厚制御方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7877587A JPH07115000B2 (ja) | 1987-03-30 | 1987-03-30 | 塗膜厚制御方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63242376A JPS63242376A (ja) | 1988-10-07 |
| JPH07115000B2 true JPH07115000B2 (ja) | 1995-12-13 |
Family
ID=13671277
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7877587A Expired - Fee Related JPH07115000B2 (ja) | 1987-03-30 | 1987-03-30 | 塗膜厚制御方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07115000B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012524258A (ja) * | 2009-04-16 | 2012-10-11 | テトラ ラバル ホールデイングス エ フイナンス ソシエテ アノニム | コーティング層の厚みを測定する装置及び方法 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06102034A (ja) * | 1992-09-18 | 1994-04-12 | Hokkai Koki Kk | カラー塗装塗膜厚みのオンライン検出方法および制御方法 |
-
1987
- 1987-03-30 JP JP7877587A patent/JPH07115000B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012524258A (ja) * | 2009-04-16 | 2012-10-11 | テトラ ラバル ホールデイングス エ フイナンス ソシエテ アノニム | コーティング層の厚みを測定する装置及び方法 |
| US8664601B2 (en) | 2009-04-16 | 2014-03-04 | Tetra Laval Holdings & Finance S.A. | System and method for measuring the thickness of a layer of coating |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63242376A (ja) | 1988-10-07 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
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