JPH07110214A - 光学式位置検出装置 - Google Patents

光学式位置検出装置

Info

Publication number
JPH07110214A
JPH07110214A JP27762593A JP27762593A JPH07110214A JP H07110214 A JPH07110214 A JP H07110214A JP 27762593 A JP27762593 A JP 27762593A JP 27762593 A JP27762593 A JP 27762593A JP H07110214 A JPH07110214 A JP H07110214A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image
pattern
dimensional
point
optical
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP27762593A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3304564B2 (ja
Inventor
Yasuji Ogawa
保二 小川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Wacom Co Ltd
Original Assignee
Wacom Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Wacom Co Ltd filed Critical Wacom Co Ltd
Priority to JP27762593A priority Critical patent/JP3304564B2/ja
Publication of JPH07110214A publication Critical patent/JPH07110214A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3304564B2 publication Critical patent/JP3304564B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 撮像手段を利用した光学式位置検出装置の高
分解能化を図る。 【構成】 光学式位置検出装置は光軸に沿って順に配置
した結像手段1、スケール板2及び撮像手段3と、該撮
像手段3に接続した位置演算部10とから構成されてい
る。スケール板2は光軸に直交する前方座標面に沿って
規則的に配列した複数のパタン素を有している。結像手
段1は目標とする測定点4から発する光束を集光して対
応する結像点に収束する参照光に変換するとともに、こ
の参照光でスケール板2の一部をスポット照明して特定
のパタン素を拡大投影する。撮像手段3は光軸に直交す
る後方座標面に沿って配置された受光面を有しており、
拡大投影されたパタン素影を撮像して対応する画像デー
タを出力する。位置演算部10はこの画像データを処理
してパタン素影の後方座標値を検出し、これと元のパタ
ン素の前方座標値とに基いて結像点の位置を算出し、さ
らに結像点の位置に基いて対応する測定点の位置を算出
する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、直接的又は間接的に光
を発する点光源の位置を、撮像デバイスを利用して測定
する光学式位置検出装置に関する。より詳しくはかかる
光学式位置検出装置の高精度化技術に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、例えば地滑り等の挙動監視を行な
う場合、山の法面(斜面)に等間隔で点光源からなるタ
ーゲットを設置して、各点光源から直接的又は間接的に
発する光線を遠方よりテレビカメラで撮像し、その映像
信号を解析して個々のターゲットの位置を検出してい
た。特に、各ターゲットの三次元変位情報が必要な場合
には、テレビカメラを2台使用するステレオ法が良く利
用されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】この様な監視システム
において測定精度を上げる為には、テレビカメラの分解
能を向上させる必要がある。しかしながら、その為には
テレビカメラに組み込まれるCCD等の撮像デバイスの
素子数を大幅に増やさなければならないが、これは製造
技術上困難である。
【0004】撮像デバイスの素子数を増加させる事なく
見掛上分解能を改善する為の技術が提案されており、例
えば特開昭60−218002号公報に開示されてい
る。これによれば、テレビカメラのレンズにクロスフィ
ルタを取り付け、各ターゲットからの光線をクロスフィ
ルタによってストリーク状の十文字像に変換し、撮像デ
バイスの受光面に投影させている。この投影像を画像処
理し十文字像の交点を算出して各ターゲットを構成する
点光源の位置を割り出すものである。しかしながらこの
従来方法では点光源からの光がある程度強くないとスト
リーク状の十文字像が生じない。従って感度が悪いとい
う欠点がある。
【0005】
【課題を解決するための手段】上述した従来の技術の課
題に鑑み、本発明は撮像デバイスの素子数を増加させる
事なく且つ感度を犠牲にする事なく分解能を向上させた
光学式位置検出装置を提供する事を目的とする。かかる
目的を達成する為に以下の手段を講じた。即ち本発明に
かかる光学式位置検出装置は基本的な構成として、光軸
に沿って順に配置した結像手段、スケール板及び撮像手
段と、該撮像手段に接続した演算手段とを備えている。
かかる構成において、前記スケール板は該光軸に直交す
る前方座標面に沿って規則的に配列した複数のパタン素
を有している。又、前記結像手段は目標とする測定点か
ら発する光束を集光して対応する結像点に収束する参照
光に変換するとともに、該参照光で前記スケール板の一
部をスポット照明して特定のパタン素を拡大投影する。
さらに前記撮像手段は、該光軸に直交する後方座標面に
沿って配置された受光面を有しており拡大投影されたパ
タン素影を撮像して対応する画像データを出力する。最
後に前記演算手段は、該画像データを処理してパタン素
影の後方座標値を検出し、これと元のパタン素の前方座
標値とに基いて該結像点の位置を検出し、さらに結像点
の位置に基いて該測定点の位置を算出する。
【0006】前記スケール板は前方座標面に沿って二次
元的に規則配列した複数のパタン素(例えば格子状のパ
タン素)を有している。一方、前記撮像手段は拡大投影
されたパタン素影を平面的に撮像して対応する二次元画
像データを出力する。前記演算手段は該二次元画像デー
タを処理して該パタン素影の二次元後方座標値を検出
し、これと元のパタン素の二次元前方座標値とに基き該
結像点の二次元位置を算出し、さらに該二次元位置に基
いて該測定点の二次元位置を算出する。この場合、前記
演算手段は該二次元画像データを積分処理して互いに直
交する一次元断面データを生成し、これら一次元断面デ
ータを解析して該二次元後方座標値を検出している。二
次元情報に代えて三次元情報を扱う場合には、前記撮像
手段は拡大投影された少なくとも一対のパタン素影を撮
像して対応する画像データを出力する。前記演算手段は
該画像データを処理して一対のパタン素影の二次元後方
座標値を検出し、これと元の一対のパタン素の二次元前
方座標値とに基いて該結像点の三次元位置を算出し、さ
らに該三次元位置に基いて該測定点の三次元位置を算出
する。
【0007】かかる光学式位置検出装置は単独の測定点
のみならず複数の測定点を取り扱う事ができる。この場
合前記撮像手段は複数の測定点から発する光束により互
いに分離的に拡大投影された複数のパタン素影を撮像し
て対応する画像データを出力する。前記演算手段は該画
像データを処理して個々のパタン素影毎に後方座標値を
検出し、もって該複数の測定点の位置を独立且つ同時に
算出する。この場合各測定点を構成する点光源の光量が
比較的小さい。この為、前記撮像手段は微弱な参照光の
増幅を行なう為光電子増倍作用を有するイメージインテ
ンシファイアを備えている。さらに前記演算手段から出
力された位置の情報を経時的に解析して複数の測定点の
移動状態又は変位状態を総合的に監視するコンピュータ
等を含んでおり、測定監視システムを構築できる。
【0008】
【作用】本発明によれば、結像手段と撮像手段の間にス
ケール板を介在させ、その上に形成されたパタン素を撮
像手段の受光面に拡大投影させる事により、目標測定点
を構成する点光源の変位を拡大検出できる。従って、撮
像手段に組み込まれるイメージセンサの素子数を増やす
事なく、測定点位置検出の分解能を向上させる事ができ
る。特に二次元のイメージセンサにおいては素子数を増
やす事は製造技術上困難である事から、本発明に従って
光学的な空間変調により分解能を向上させる事は実際的
であり、従来不可能であった応用分野を切り開く事がで
きる。さらに、撮像手段にイメージインテンシファイア
を組み合わせる事によりその高感度性を生かした高精度
測定が可能になる。ある程度測定点同士が離間配置され
ていれば、複数の点光源の位置を同時に検出できるの
で、地滑り等の挙動監視を高速に行なう事ができる。か
かる光学式位置検出装置をコンピュータに接続する事に
より、動体の測定監視システム等の応用システムを容易
に構築する事ができる。かかるシステムは高精度且つ高
速なリアルタイム測定を可能にする。
【0009】
【実施例】以下図面を参照して本発明の好適な実施例を
詳細に説明する。図1は本発明にかかる光学式位置検出
装置の基本的な構成を示すブロック図である。図示する
様に本光学式位置検出装置は、光軸に沿って順に配置し
た結像手段1、スケール板2及び撮像手段3を備えてい
る。光軸方向には目標となる測定点4が配置されてい
る。本例では山の法面5に沿って複数の測定点4が配置
されており地滑り等の挙動監視に利用される。個々の測
定点4は点光源からなり、例えばLED等の発光素子で
構成できる。あるいは発光素子に代えてコーナーキュー
ブ等の反射型光源を利用しても良い。発光素子を用いる
場合には赤外光を放射するLEDが好適である。一方結
像手段1はバンドパスフィルタ6と対物レンズ7とを含
んでいる。バンドパスフィルタ6は例えば多層膜フィル
タからなり点光源から発する光束に含まれる赤外波長の
みを選択的に通す様にしている。又撮像手段3はイメー
ジインテンシファイア8とCCDイメージセンサ9との
組み合わせからなる。CCDイメージセンサ9には位置
演算部10が接続されている。さらに位置演算部10に
はコンピュータ11が接続されている。
【0010】本発明の特徴的な構成要素であるスケール
板2は光軸に直交する前方座標面に沿って規則的に配列
した複数のパタン素を有している。本例では二次元的に
規則配列した複数のパタン素(格子状パタン素)が形成
されている。なお二次元的なスケールパタンは格子状に
限られるものではなく、例えばドットパタンをマトリク
ス状に配列したものであっても良い。さらには二次元的
なスケールパタンに代えて一次元のストライプパタン等
を用いて、目標測定点の一次元位置を算出する事も考え
られる。スケール板2は対物レンズ7の結像面12に対
して光軸方向後側に離間した位置に配置されている。対
物レンズ7に対してデフォーカスした状態でスケール板
2を照明する為である。従って、場合によってはスケー
ル板2を結像面12に対して光軸方向前側に離間して配
置する事も考えられる。
【0011】対物レンズ7は目標とする個々の測定点4
から発する光束を集光して対応する結像点に収束する参
照光に変換するとともに、該参照光でスケール板2の一
部をスポット照明して特定のパタン素を拡大投影する。
CCDイメージセンサ9は光軸に直交する後方座標面に
沿って配置された受光面を有しており拡大投影されたパ
タン素影を撮像して対応する画像データを出力する。位
置演算部10は画像データを処理してパタン素影の後方
座標値を検出し、これと元のパタン素の前方座標値とに
基いて該結像点の位置を算出し、さらに結像点の位置に
基いて各測定点4の位置を算出する。本例ではCCDイ
メージセンサ9は複数の測定点から発する光束により互
いに分離的に拡大投影された複数のパタン素影を撮像し
て対応する画像データを出力する。位置演算部10はこ
の画像データを処理して個々のパタン素影毎に後方座標
値を検出し、もって複数の測定点4の位置を独立且つ同
時に算出する。位置演算部10から出力された位置情報
はコンピュータ11により経時的に解析され、各測定点
4の移動状態又は変位状態を総合的に監視する。これに
より、山の法面5の挙動監視が可能になり、地滑り等の
事故を未然に予知可能とする。かかる監視システムでは
山の法面5に対して光学式位置検出装置本体が遠距離に
配置されている。従って個々の測定点4から検出装置本
体に到達する光量は極めて僅かであり参照光が微弱とな
る為このままではスケール板2を実用的な光強度で照明
する事が困難な場合がある。そこで本例ではCCDイメ
ージセンサ9にイメージインテンシファイア8を組み合
わせ、微弱な参照光の増幅を行なう様にしている。しか
しながらイメージインテンシファイア8は感度を高める
一方、CCDイメージセンサ9に比べ解像度が低い為、
装置全体の分解能を損なう惧れがある。この点、本発明
ではスケール板2を用いた光学的な空間変調により分解
能を実質上改善しているのでイメージインテンシファイ
ア8を組み込んだ事による性能低下を防止している。
【0012】図2は、CCDイメージセンサの受光面1
3に写し出された拡大投影像の一例を表わしている。拡
大投影像は個々の測定点に対応したスポット像14を含
んでいる。各スポット像14の内部にはパタン素影15
が写し出されている。前述した様に本例ではスケール板
が前方座標面に沿って二次元的に規則配列した格子状の
パタン素を有している。この為受光面13にはデフォー
カスされた参照光によってスポット照明され拡大投影さ
れた格子状のパタン素影15が写し出される事になる。
これに応じてCCDイメージセンサは二次元画像データ
を出力する。又位置演算部10は二次元画像データを処
理してパタン素影15の二次元後方座標値を検出し、こ
れと元のパタン素の二次元前方座標値とに基き結像点の
二次元位置を算出し、さらに該二次元位置に基いて対応
する測定点の二次元位置を算出する。
【0013】図3は本発明にかかる光学式位置検出装置
の幾何光学図である。本例では理解を容易にする為測定
点として一対の発光素子a,bが配置されている。発光
素子aから発した光束16aは対物レンズ7により集光
され結像面12の上に対応する結像点Aを結ぶ。換言す
ると入射光束16aは対物レンズ7により結像点Aに収
束する参照光17aに変換される。結像面12から離間
して光軸に直交する前方座標面に沿ってスケール板2が
配置されている。スケール板2に設けられた特定のパタ
ン素18aは参照光17aによりスポット照明され受光
面13上に対応するパタン素影15aが拡大投影され
る。前述した様にこのパタン素影15aはスポット像1
4aの中に含まれる。なおこの受光面13は前述した様
に光軸に直交する後方座標面に沿って配置されている。
同様に発光素子bから発した入射光束16bは対物レン
ズ7により参照光17bに変換され結像面12の上に結
像点Bを結ぶ。参照光17bは特定のパタン素18bを
拡大投影し対応するパタン素影15bをスポット像14
bとともに写し出す。
【0014】図示の幾何学的な関係から明らかな様に、
パタン素18a,18bは対応する結像点A,Bを夫々
見掛上の点光源としてスポット照明され受光面13の上
に拡大投影される。従ってパタン素影15a,15bの
拡大倍率は結像面12からスケール板2までの距離及び
結像面12から受光面13までの距離の比に応じたもの
となる。例えば結像面12とスケール板2の間隔を0.
5mm程度に設定しスケール板2と受光面13の距離を3
〜4mm程度に設定すると、6〜8倍の拡大率が得られ、
この分だけ分解能が改善された事になる。この場合、ス
ケール板2に設けられたパタン素の配列ピッチは例えば
80μm程度に設定される。但し上述した拡大倍率の計
算は結像面12を固定した状態で算出したものである。
対物レンズ7の光学的な構成によっては、発光素子まで
の距離に応じて結像面12が移動する場合があり、拡大
倍率も若干変動する。結像面12を固定したい場合には
短焦点レンズを用いたりあるいはオートフォーカス機構
を組み込めば良い。
【0015】前述した様に、受光面13を有するCCD
イメージセンサ9は拡大投影されたパタン素影を撮像し
て対応する画像データを出力する。一方、位置演算部1
0は画像データを処理して例えばパタン素影15aの後
方座標位置を検出する。これと元のパタン素18aの前
方座標値とに基いて結像点Aの位置を算出する。図示の
幾何光学的な関係から明らかな様に、結像点Aはパタン
素影15aとパタン素18aを結んだ直線と結像面12
の交差部に位置する。さらに検出された結像点Aの位置
に基いて周知のレンズ公式に従い対応する発光素子aの
位置が算出できる。この例では結像面12に沿った結像
点Aの二次元位置が求められる。従って発光素子aの二
次元位置が求められる。
【0016】但し結像面12が変動する場合にはパタン
素影15aとパタン素18aを結ぶ1本の直線により結
像点Aの位置を求める事はできない。この時には少なく
とも一対のパタン素影と、対応する元の一対のパタン素
を各々結ぶ2本の直線を求めその交差点を算出する事に
より結像点Aの位置を求める。この場合には必然的に結
像点Aの三次元位置が求まる事になる。従って対応する
発光素子の三次元位置を算出する事ができる。
【0017】図4は1個の発光素子(図示せず)が光軸
を横切る方向に移動した場合におけるスポット像の移動
及びパタン素の投影範囲を示す幾何光学図である。図示
の例では発光素子が移動する事により、結像面12に沿
って結像点がAからDに向って変化していく状態を表わ
している。この時受光面13に写し出されるスポット像
は各結像点A,B,C,Dの移動に対応して、14A,
14B,14C,14Dの様に移動していく。一方、ス
ケール板2には複数のパタン素P,Q,Rが設けられて
いる。この時、スポット像14Aの内部にはパタン素P
に対応するパタン素影15Pが写し出される。次にスポ
ット像14Bに移るとパタン素影15Pが上方に移動
し、且つ次のパタン素Qに対応するパタン素影15Qが
スポット像14Bの下端側に進入してくる。従ってスポ
ット像14Bには2本のパタン素影15P,15Qが含
まれる事になる。続いてスポット像14Cに移るとパタ
ン素影15Qが中央に進み先のパタン素影15Pはスポ
ット像14Cから外れる事になる。さらにスポット像1
4Dに移るとパタン素影15Qが上端側に移り他のパタ
ン素Rに対応するパタン素影15Rが進入してくる。従
ってスポット像14Dには2本のパタン素影15Q,1
5Rが含まれる事になる。1個のスポット像に対して複
数のパタン素影が含まれている場合、1本のパタン素影
を特定する必要がある。この時にはスポット像の中心位
置を画像処理により算出し、中心位置に最も近いパタン
素影を選択すれば良い。換言すると、対物レンズ7のレ
ンズ開口を絞りスポット像の面積を縮小した事と等価に
なる。
【0018】一方スポット像14A〜14Dの移動に伴
なって、各パタン素P,Q,Rの投影範囲も受光面13
に沿って変化しある程度の幅を有している。しかしなが
ら、各パタン素P,Q,Rの投影範囲は受光面13上で
重ならないので、画像処理により個々のパタン素を特定
する事が可能である。即ち、全てのパタン素の投影範囲
を予めテーブルデータとして格納しておけば、これを参
照する事により個々のパタン素影の座標値に基いて対応
する元のパタン素を特定できる。なお、個々のパタン素
を識別する為には、1本ずつの寸法や形状に変化を持た
せても良い。
【0019】次に図5のフローチャートを参照して、位
置演算処理を詳細に説明する。先ず最初にステップS1
においてCCDイメージセンサから出力された画像デー
タを取り込む。ここでは取り込んだ画像データをBUF
〔I,J〕で表わす。なおI,Jは全画素に対して割り
当てられる行番号並びに列番号を表わしている。BUF
〔I,J〕を模式的に表わしたものが先の図2である。
図2を参照すれば明らかな様に、画像データには複数の
円形スポット像14が含まれている。
【0020】次にステップS2において個々のスポット
像の中心位置BUF〔I0 ,J0 〕を求める。この演算
を模式的に表わしたものが図6である。但し図6では理
解を容易にする為1個のスポット像14のみが示されて
いる。個々のスポット像の中心位置を求める具体的な方
法としては、例えば円形の二次元オペレータを使用して
BUFの積和演算を行ないピークを抽出すれば良い。
【0021】次にステップS3に進み、個々のスポット
像の範囲内でX断面成分及びY断面成分を求める。この
演算を模式的に表わしたものが図7である。即ち二次元
画像データBUFを行毎及び列毎に積分処理して互いに
直交する一次元断面データ(X断面成分、Y断面成分)
を生成し、これら一次元断面データを解析してパタン素
影15の二次元後方座標位置を検出する事ができる。特
に積分処理を行なう事によりデフォーカスで参照光が弱
くなった分を補う事が可能になる。図7の例ではスポッ
ト像14に2本の列方向パタン素影が含まれている為、
X断面成分XBUFには2個のピークが現われる。同様
にスポット像14に2本の行方向パタン素影が含まれる
為、Y断面成分YBUFにも2個のピークが含まれる。
【0022】次にステップS4に進み、個々のスポット
像14の中心位置(I0 ,J0 )に近いパタン素影の二
次元後方座標値X0 ,Y0 を求める。この演算処理も図
7に模式的に示されている。
【0023】次にステップS5において、X0 ,Y0
ら投影パタン素影に対応する元のパタン素の二次元前方
座標値Xp ,Yp を前述した投影範囲テーブルから求め
る。なお、参考の為図8に前方座標面(X,Y)に割り
付けられたスケールパタンの一例を示しておく。
【0024】最後にステップS6において、スケール板
上での二次元前方座標(Xp ,Yp)と、CCD受光面
上での二次元後方座標(X0 ,Y0 )により、結像点の
二次元位置を求める。さらに対応する測定点の二次元位
置を求める。なお、三次元位置を求める場合には、個々
のスポット像に含まれる少なくとも一対のパタン素影と
対応する一対のパタン素を結ぶ2本の直線の交点を演算
すれば良い。
【0025】最後に図9を参照して、CCDイメージセ
ンサ9とイメージインテンシファイア8を組み合わせた
高感度ビデオカメラの一例を説明する。このカメラは微
弱画像であっても極めて高感度に撮像する事ができる。
図示する様に、レンズ等の光学系(図示せず)を通して
入力面に拡大投影像を結像すると、入力面に形成されて
いる半導体薄膜21からは入射光に応じた量の電子が放
出される。こうして作成された電子像は電子レンズ22
によりマイクロチャンネルプレート23に投影される。
このマイクロチャンネルプレート23は内壁を二次電子
放出性を持つ材料で構成した極めて細いチャンネルを多
数束ねて、独立した二次電子増倍器を二次元的に配列し
た薄板状のデバイスである。マイクロチャンネルプレー
ト23の各チャンネルに入射した電子は、電子1個当り
1回のチャンネル壁面衝突により平均2個前後の二次電
子を発生する。従って入射電子がチャンネルを通過する
過程で複数回の壁面衝突を繰り返し、数千倍に倍増され
る。さらにマイクロチャンネルプレート23から出力さ
れる電子は高電圧で加速され、出力面に形成されている
蛍光体膜24に衝突し光に変換される。こうして出力面
には入力光のおよそ1万倍に及ぶ明るい画像が発生す
る。その後、明るく増強された出力像をCCDイメージ
センサ9で撮像する。この際、光ファイバを多数束ね、
画像の二次元情報を1つの画面から別の面へと伝達でき
るファイバオプティックプレート25を介在させる事に
より、十分に明るい画面が得られる。
【0026】
【発明の効果】以上説明した様に、本発明によれば、結
像面の近傍にスケール板を配置して、そのパタン素を受
光面に拡大投影させる事により、測定点を構成する点光
源の変位を拡大検出できるので、撮像デバイスの素子数
を増やす事なく位置検出分解能を向上させる事ができる
という効果がある。特に二次元のイメージセンサにおい
ては素子数を増やす事が製造技術上困難であるので、本
発明の実益的な価値は極めて大きく、従来不可能であっ
た応用分野を切り開く事が可能になるという効果があ
る。さらに撮像デバイスとイメージインテンシファイア
を組み合わせる事によりその高感度性を生かした高精度
測定が可能になるという効果がある。加えて、ある程度
点光源同士が離間配置されていれば、複数の測定点位置
を同時に検出できるので、地滑り等の挙動監視を高速に
行なう事ができるという効果がある。又、かかる光学式
検出装置をコンピュータに接続する事により、動体の測
定監視システム等の応用システムを容易に構築する事が
できる。かかるシステムは高精度且つ高速なリアルタイ
ム測定を可能にする。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明にかかる光学式位置検出装置の基本的な
構成を示すブロック図である。
【図2】拡大投影像を表わす平面図である。
【図3】本発明にかかる光学式位置検出装置の幾何光学
図である。
【図4】同じく幾何光学図である。
【図5】本発明にかかる光学式位置検出装置の動作説明
に供するフローチャートである。
【図6】同じく動作説明に供する模式図である。
【図7】同じく動作説明に供する模式図である。
【図8】同じく動作説明に供する模式図である。
【図9】本発明にかかる光学式位置検出装置に組み込ま
れるイメージインテンシファイアの一例を示す断面図で
ある。
【符号の説明】
1 結像手段 2 スケール板 3 撮像手段 4 測定点 6 バンドパスフィルタ 7 対物レンズ 8 イメージインテンシファイア 9 CCDイメージセンサ 10 位置演算部 11 コンピュータ 12 結像面 13 受光面 14 スポット像 15 パタン素影

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光軸に沿って順に配置した結像手段、ス
    ケール板及び撮像手段と、該撮像手段に接続した演算手
    段とからなる光学式位置検出装置であって、 前記スケール板は該光軸に直交する前方座標面に沿って
    規則的に配列した複数のパタン素を有しており、 前記結像手段は目標とする測定点から発する光束を集光
    して対応する結像点に収束する参照光に変換するととも
    に、該参照光で前記スケール板の一部をスポット照明し
    て特定のパタン素を拡大投影し、 前記撮像手段は該光軸に直交する後方座標面に沿って配
    置された受光面を有しており拡大投影されたパタン素影
    を撮像して対応する画像データを出力し、 前記演算手段は該画像データを処理してパタン素影の後
    方座標値を検出し、これと元のパタン素の前方座標値と
    に基いて該結像点の位置を算出し、さらに結像点の位置
    に基いて該測定点の位置を算出する事を特徴とする光学
    式位置検出装置。
  2. 【請求項2】 前記スケール板は前方座標面に沿って二
    次元的に規則配列した複数のパタン素を有しており、 前記撮像手段は拡大投影されたパタン素影を平面的に撮
    像して対応する二次元画像データを出力し、 前記演算手段は該二次元画像データを処理して該パタン
    素影の二次元後方座標値を検出し、これと元のパタン素
    の二次元前方座標値とに基き該結像点の二次元位置を算
    出し、さらに該二次元位置に基いて該測定点の二次元位
    置を算出する事を特徴とする請求項1記載の光学式位置
    検出装置。
  3. 【請求項3】 前記演算手段は、該二次元画像データを
    積分処理して互いに直交する一次元断面データを生成
    し、これら一次元断面データを解析して該二次元後方座
    標値を検出する事を特徴とする請求項2記載の光学式位
    置検出装置。
  4. 【請求項4】 前記撮像手段は拡大投影された少なくと
    も一対のパタン素影を撮像して対応する画像データを出
    力し、 前記演算手段は該画像データを処理して一対のパタン素
    影の二次元後方座標値を検出し、これと元の一対のパタ
    ン素の二次元前方座標値とに基いて該結像点の三次元位
    置を算出し、さらに該三次元位置に基いて該測定点の三
    次元位置を算出する事を特徴とする請求項2記載の光学
    式位置検出装置。
  5. 【請求項5】 前記撮像手段は複数の測定点から発する
    光束により互いに分離的に拡大投影された複数のパタン
    素影を撮像して対応する画像データを出力し、 前記演算手段は該画像データを処理して個々のパタン素
    影毎に後方座標値を検出し、もって該複数の測定点の位
    置を独立且つ同時に算出する事を特徴とする請求項1記
    載の光学式位置検出装置。
  6. 【請求項6】 前記撮像手段は、微弱な参照光の増幅を
    行なう為光電子増倍作用を有するイメージインテンシフ
    ァイアを備えている事を特徴とする請求項1記載の光学
    式位置検出装置。
  7. 【請求項7】 前記演算手段から出力された測定点の位
    置の情報を経時的に解析して該測定点の移動状態又は変
    位状態を監視するコンピュータを含む事を特徴とする請
    求項1記載の光学式位置検出装置。
JP27762593A 1993-10-07 1993-10-07 光学式位置検出装置 Expired - Fee Related JP3304564B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP27762593A JP3304564B2 (ja) 1993-10-07 1993-10-07 光学式位置検出装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP27762593A JP3304564B2 (ja) 1993-10-07 1993-10-07 光学式位置検出装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH07110214A true JPH07110214A (ja) 1995-04-25
JP3304564B2 JP3304564B2 (ja) 2002-07-22

Family

ID=17586038

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP27762593A Expired - Fee Related JP3304564B2 (ja) 1993-10-07 1993-10-07 光学式位置検出装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3304564B2 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003187370A (ja) * 2001-12-20 2003-07-04 Mcube Network:Kk 斜面監視装置及び計測処理システム
JP2015203685A (ja) * 2014-04-16 2015-11-16 富士通株式会社 環境監視システム及び環境監視方法
JP2016180681A (ja) * 2015-03-24 2016-10-13 株式会社フジタ 地盤崩壊検知システム
JP2019211360A (ja) * 2018-06-06 2019-12-12 ファナック株式会社 エンコーダ

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003187370A (ja) * 2001-12-20 2003-07-04 Mcube Network:Kk 斜面監視装置及び計測処理システム
JP2015203685A (ja) * 2014-04-16 2015-11-16 富士通株式会社 環境監視システム及び環境監視方法
JP2016180681A (ja) * 2015-03-24 2016-10-13 株式会社フジタ 地盤崩壊検知システム
JP2019211360A (ja) * 2018-06-06 2019-12-12 ファナック株式会社 エンコーダ

Also Published As

Publication number Publication date
JP3304564B2 (ja) 2002-07-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6456793B1 (en) Method and apparatus for a color scannerless range imaging system
US6707054B2 (en) Scannerless range imaging system having high dynamic range
JPH07261920A (ja) 光学式位置検出装置および光学式座標入力装置
JPH0666241B2 (ja) 位置検出方法
US5548392A (en) Optical position detector having scale pattern spot-illuminated to increase resolution
JP3304564B2 (ja) 光学式位置検出装置
JPH09305312A (ja) 投影表示装置
JP3595117B2 (ja) アレイ素子検査方法およびアレイ素子検査装置
JP2670405B2 (ja) 微弱光計測装置
JPS5812561B2 (ja) シヨウテンケンシユツソウチ
JP3881629B2 (ja) 入射光の二次元位置検出装置
US7253801B2 (en) Input device of 3-D translation and rotation and its method and recording medium
JP2001349713A (ja) 三次元形状測定装置
JP2003050111A (ja) 三次元形状入力装置及び投影装置
JPH0914914A (ja) レーザスペックルパターンによる移動量の測定装置におけるレーザ光の照射方法ならびにその装置
JPS6291833A (ja) 光源の2次元配光分布測定装置
CN111611987B (zh) 显示装置及利用显示装置实现特征识别的方法
JP2609528B2 (ja) 光子相関測定装置
JP2943343B2 (ja) 微粒子測定装置
JP3120176B2 (ja) 自動合焦照明装置
JPH01149354A (ja) 電子顕微鏡
US5387794A (en) Detector for diffracted electrons
US20040113075A1 (en) Transmission electron microscope
JP4327625B2 (ja) 光の位置情報検出装置
JPH07198337A (ja) 光点位置計測装置及び光点位置計測方法

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees