JPH0710826B2 - O−ナフトキノンジアジドスルホン酸エステルの製造法 - Google Patents
O−ナフトキノンジアジドスルホン酸エステルの製造法Info
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 15
- BDHFUVZGWQCTTF-UHFFFAOYSA-M sulfonate Chemical compound [O-]S(=O)=O BDHFUVZGWQCTTF-UHFFFAOYSA-M 0.000 title claims description 3
- -1 sulfonic acid halide Chemical class 0.000 claims description 19
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N Ammonia Chemical compound N QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 12
- 238000005886 esterification reaction Methods 0.000 claims description 10
- 230000032050 esterification Effects 0.000 claims description 9
- 239000002253 acid Substances 0.000 claims description 7
- QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N Acetic acid Chemical class CC(O)=O QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 229910021529 ammonia Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 239000002904 solvent Substances 0.000 claims description 6
- 150000003863 ammonium salts Chemical class 0.000 claims description 5
- KETQAJRQOHHATG-UHFFFAOYSA-N 1,2-naphthoquinone Chemical compound C1=CC=C2C(=O)C(=O)C=CC2=C1 KETQAJRQOHHATG-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- HZAXFHJVJLSVMW-UHFFFAOYSA-N 2-Aminoethan-1-ol Chemical compound NCCO HZAXFHJVJLSVMW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 claims description 4
- 238000001035 drying Methods 0.000 claims description 4
- VHUUQVKOLVNVRT-UHFFFAOYSA-N Ammonium hydroxide Chemical compound [NH4+].[OH-] VHUUQVKOLVNVRT-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 125000001931 aliphatic group Chemical group 0.000 claims description 3
- ZBCBWPMODOFKDW-UHFFFAOYSA-N diethanolamine Chemical compound OCCNCCO ZBCBWPMODOFKDW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 238000001556 precipitation Methods 0.000 claims description 3
- 150000003459 sulfonic acid esters Chemical class 0.000 claims description 2
- BVKZGUZCCUSVTD-UHFFFAOYSA-N carbonic acid Chemical class OC(O)=O BVKZGUZCCUSVTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 claims 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 18
- CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N Acetone Chemical compound CC(C)=O CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 16
- WSFSSNUMVMOOMR-UHFFFAOYSA-N Formaldehyde Chemical compound O=C WSFSSNUMVMOOMR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 15
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 15
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 12
- ISWSIDIOOBJBQZ-UHFFFAOYSA-N Phenol Chemical compound OC1=CC=CC=C1 ISWSIDIOOBJBQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 9
- 239000000047 product Substances 0.000 description 9
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 150000002989 phenols Chemical class 0.000 description 8
- 239000007795 chemical reaction product Substances 0.000 description 7
- 239000008367 deionised water Substances 0.000 description 6
- 229910021641 deionized water Inorganic materials 0.000 description 6
- 229920003986 novolac Polymers 0.000 description 6
- 239000002244 precipitate Substances 0.000 description 6
- NLXLAEXVIDQMFP-UHFFFAOYSA-N Ammonium chloride Substances [NH4+].[Cl-] NLXLAEXVIDQMFP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000002585 base Substances 0.000 description 5
- 229910021645 metal ion Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000000376 reactant Substances 0.000 description 5
- HTQNYBBTZSBWKL-UHFFFAOYSA-N 2,3,4-trihydroxbenzophenone Chemical compound OC1=C(O)C(O)=CC=C1C(=O)C1=CC=CC=C1 HTQNYBBTZSBWKL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052783 alkali metal Inorganic materials 0.000 description 4
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 4
- 150000002148 esters Chemical class 0.000 description 4
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 4
- 238000004377 microelectronic Methods 0.000 description 4
- 229920001568 phenolic resin Polymers 0.000 description 4
- 239000005011 phenolic resin Substances 0.000 description 4
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 4
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 4
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 4
- BDHFUVZGWQCTTF-UHFFFAOYSA-N sulfonic acid Chemical compound OS(=O)=O BDHFUVZGWQCTTF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 4
- UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N Benzene Chemical compound C1=CC=CC=C1 UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M Chloride anion Chemical compound [Cl-] VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- YMWUJEATGCHHMB-UHFFFAOYSA-N Dichloromethane Chemical compound ClCCl YMWUJEATGCHHMB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- ZMANZCXQSJIPKH-UHFFFAOYSA-N Triethylamine Chemical compound CCN(CC)CC ZMANZCXQSJIPKH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 3
- 238000006482 condensation reaction Methods 0.000 description 3
- 125000004435 hydrogen atom Chemical group [H]* 0.000 description 3
- 239000011541 reaction mixture Substances 0.000 description 3
- 239000011877 solvent mixture Substances 0.000 description 3
- 239000007858 starting material Substances 0.000 description 3
- 238000003756 stirring Methods 0.000 description 3
- OISVCGZHLKNMSJ-UHFFFAOYSA-N 2,6-dimethylpyridine Chemical compound CC1=CC=CC(C)=N1 OISVCGZHLKNMSJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- GJYCVCVHRSWLNY-UHFFFAOYSA-N 2-butylphenol Chemical compound CCCCC1=CC=CC=C1O GJYCVCVHRSWLNY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- KXGFMDJXCMQABM-UHFFFAOYSA-N 2-methoxy-6-methylphenol Chemical compound [CH]OC1=CC=CC([CH])=C1O KXGFMDJXCMQABM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- USFZMSVCRYTOJT-UHFFFAOYSA-N Ammonium acetate Chemical compound N.CC(O)=O USFZMSVCRYTOJT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000005695 Ammonium acetate Substances 0.000 description 2
- JUJWROOIHBZHMG-UHFFFAOYSA-N Pyridine Chemical compound C1=CC=NC=C1 JUJWROOIHBZHMG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000007513 acids Chemical class 0.000 description 2
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 description 2
- 229940043376 ammonium acetate Drugs 0.000 description 2
- 235000019257 ammonium acetate Nutrition 0.000 description 2
- 239000001099 ammonium carbonate Substances 0.000 description 2
- 235000019270 ammonium chloride Nutrition 0.000 description 2
- 235000011114 ammonium hydroxide Nutrition 0.000 description 2
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 2
- 229910002091 carbon monoxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000001805 chlorine compounds Chemical class 0.000 description 2
- 239000007859 condensation product Substances 0.000 description 2
- 229940118056 cresol / formaldehyde Drugs 0.000 description 2
- 238000002845 discoloration Methods 0.000 description 2
- 125000002887 hydroxy group Chemical group [H]O* 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- FDPIMTJIUBPUKL-UHFFFAOYSA-N pentan-3-one Chemical compound CCC(=O)CC FDPIMTJIUBPUKL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 2
- 239000003495 polar organic solvent Substances 0.000 description 2
- 229920001296 polysiloxane Polymers 0.000 description 2
- WQGWDDDVZFFDIG-UHFFFAOYSA-N pyrogallol Chemical compound OC1=CC=CC(O)=C1O WQGWDDDVZFFDIG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910001415 sodium ion Inorganic materials 0.000 description 2
- 125000002128 sulfonyl halide group Chemical group 0.000 description 2
- 150000005691 triesters Chemical class 0.000 description 2
- 125000002256 xylenyl group Chemical class C1(C(C=CC=C1)C)(C)* 0.000 description 2
- ZGEVJWAATSHAKG-UHFFFAOYSA-N (3,5-dibromo-2,4-dihydroxyphenyl)-phenylmethanone Chemical compound OC1=C(Br)C(O)=C(Br)C=C1C(=O)C1=CC=CC=C1 ZGEVJWAATSHAKG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RYHBNJHYFVUHQT-UHFFFAOYSA-N 1,4-Dioxane Chemical compound C1COCCO1 RYHBNJHYFVUHQT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZXDDPOHVAMWLBH-UHFFFAOYSA-N 2,4-Dihydroxybenzophenone Chemical compound OC1=CC(O)=CC=C1C(=O)C1=CC=CC=C1 ZXDDPOHVAMWLBH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SVONRAPFKPVNKG-UHFFFAOYSA-N 2-ethoxyethyl acetate Chemical compound CCOCCOC(C)=O SVONRAPFKPVNKG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QTWJRLJHJPIABL-UHFFFAOYSA-N 2-methylphenol;3-methylphenol;4-methylphenol Chemical compound CC1=CC=C(O)C=C1.CC1=CC=CC(O)=C1.CC1=CC=CC=C1O QTWJRLJHJPIABL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BSKHPKMHTQYZBB-UHFFFAOYSA-N 2-methylpyridine Chemical compound CC1=CC=CC=N1 BSKHPKMHTQYZBB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VWGKEVWFBOUAND-UHFFFAOYSA-N 4,4'-thiodiphenol Chemical compound C1=CC(O)=CC=C1SC1=CC=C(O)C=C1 VWGKEVWFBOUAND-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KJXKCDVQERWFTP-UHFFFAOYSA-N 4,6-bis[(2,4-dihydroxyphenyl)sulfanyl]benzene-1,3-diol Chemical compound OC1=CC(O)=CC=C1SC1=CC(SC=2C(=CC(O)=CC=2)O)=C(O)C=C1O KJXKCDVQERWFTP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-O Ammonium Chemical compound [NH4+] QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-O 0.000 description 1
- ATRRKUHOCOJYRX-UHFFFAOYSA-N Ammonium bicarbonate Chemical compound [NH4+].OC([O-])=O ATRRKUHOCOJYRX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BVKZGUZCCUSVTD-UHFFFAOYSA-M Bicarbonate Chemical compound OC([O-])=O BVKZGUZCCUSVTD-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- DKPFZGUDAPQIHT-UHFFFAOYSA-N Butyl acetate Natural products CCCCOC(C)=O DKPFZGUDAPQIHT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CTQNGGLPUBDAKN-UHFFFAOYSA-N O-Xylene Chemical compound CC1=CC=CC=C1C CTQNGGLPUBDAKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YZCKVEUIGOORGS-IGMARMGPSA-N Protium Chemical compound [1H] YZCKVEUIGOORGS-IGMARMGPSA-N 0.000 description 1
- 229910005965 SO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001242 acetic acid derivatives Chemical class 0.000 description 1
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 229910000288 alkali metal carbonate Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000008041 alkali metal carbonates Chemical class 0.000 description 1
- 229910001514 alkali metal chloride Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052784 alkaline earth metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012670 alkaline solution Substances 0.000 description 1
- 125000003545 alkoxy group Chemical group 0.000 description 1
- 150000001412 amines Chemical class 0.000 description 1
- 235000012538 ammonium bicarbonate Nutrition 0.000 description 1
- 235000012501 ammonium carbonate Nutrition 0.000 description 1
- 229910052787 antimony Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052785 arsenic Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000003118 aryl group Chemical group 0.000 description 1
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 description 1
- 238000001479 atomic absorption spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000004305 biphenyl Substances 0.000 description 1
- 150000001649 bromium compounds Chemical class 0.000 description 1
- 229910001424 calcium ion Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004649 carbonic acid derivatives Chemical class 0.000 description 1
- 150000001728 carbonyl compounds Chemical class 0.000 description 1
- 150000001732 carboxylic acid derivatives Chemical class 0.000 description 1
- 238000005266 casting Methods 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000009833 condensation Methods 0.000 description 1
- 230000005494 condensation Effects 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 1
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 1
- 229930003836 cresol Natural products 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 230000006735 deficit Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- HPYNZHMRTTWQTB-UHFFFAOYSA-N dimethylpyridine Natural products CC1=CC=CN=C1C HPYNZHMRTTWQTB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000975 dye Substances 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- 239000000945 filler Substances 0.000 description 1
- 239000012467 final product Substances 0.000 description 1
- 150000008282 halocarbons Chemical class 0.000 description 1
- 125000005843 halogen group Chemical group 0.000 description 1
- FUZZWVXGSFPDMH-UHFFFAOYSA-N hexanoic acid Chemical compound CCCCCC(O)=O FUZZWVXGSFPDMH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000006460 hydrolysis reaction Methods 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 239000004615 ingredient Substances 0.000 description 1
- 150000007529 inorganic bases Chemical class 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 230000001788 irregular Effects 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 229910052748 manganese Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- WSFSSNUMVMOOMR-NJFSPNSNSA-N methanone Chemical compound O=[14CH2] WSFSSNUMVMOOMR-NJFSPNSNSA-N 0.000 description 1
- 125000002496 methyl group Chemical group [H]C([H])([H])* 0.000 description 1
- 150000002790 naphthalenes Chemical class 0.000 description 1
- 230000003472 neutralizing effect Effects 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000000269 nucleophilic effect Effects 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000049 pigment Substances 0.000 description 1
- 238000006068 polycondensation reaction Methods 0.000 description 1
- 229910052700 potassium Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000003141 primary amines Chemical class 0.000 description 1
- UMJSCPRVCHMLSP-UHFFFAOYSA-N pyridine Natural products COC1=CC=CN=C1 UMJSCPRVCHMLSP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229940079877 pyrogallol Drugs 0.000 description 1
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 1
- 239000013049 sediment Substances 0.000 description 1
- 229910052711 selenium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 238000007086 side reaction Methods 0.000 description 1
- 229910052708 sodium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 125000001273 sulfonato group Chemical class [O-]S(*)(=O)=O 0.000 description 1
- 125000000542 sulfonic acid group Chemical group 0.000 description 1
- 150000003461 sulfonyl halides Chemical class 0.000 description 1
- 229910052717 sulfur Inorganic materials 0.000 description 1
- 231100000331 toxic Toxicity 0.000 description 1
- 230000002588 toxic effect Effects 0.000 description 1
- 238000010626 work up procedure Methods 0.000 description 1
- 239000008096 xylene Substances 0.000 description 1
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 1
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-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C07—ORGANIC CHEMISTRY
- C07C—ACYCLIC OR CARBOCYCLIC COMPOUNDS
- C07C309/00—Sulfonic acids; Halides, esters, or anhydrides thereof
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- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/004—Photosensitive materials
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Description
【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、O−ナフトキノンジアジドスルホン酸エステ
ルを、O−ナフトキノンジアジドスルホン酸ハロゲン化
物、特に塩化物を一価または多価のフエノール化合物を
用い、溶剤中で塩基性成分の存在でエステル化し、引き
続きエステルを沈殿させかつ乾燥することにより製造す
る方法に関する。
ルを、O−ナフトキノンジアジドスルホン酸ハロゲン化
物、特に塩化物を一価または多価のフエノール化合物を
用い、溶剤中で塩基性成分の存在でエステル化し、引き
続きエステルを沈殿させかつ乾燥することにより製造す
る方法に関する。
従来の技術 西ドイツ国特許第865860号明細書(米国特許第3046120
号明細書に相当)から、複写層用の基材として適当な感
光性成分が、O−ナフトキノンジアジドスルホン酸ハロ
ゲン化物とアルカリ可溶性フエノール/ホルムアルデヒ
ド樹脂との反応生成物から得られることが公知である。
号明細書に相当)から、複写層用の基材として適当な感
光性成分が、O−ナフトキノンジアジドスルホン酸ハロ
ゲン化物とアルカリ可溶性フエノール/ホルムアルデヒ
ド樹脂との反応生成物から得られることが公知である。
一般に、O−ナフトキノンジアジドスルホン酸ハロゲン
化物とフエノール化合物との間のエステル化反応は、極
性有機溶剤、たとえばジオキサン、アセトン、メチル−
エチルケトンまたは溶剤混合物中で、酸結合塩基成分と
して無機塩基、たとえばアルカリ金属炭酸塩、アルカリ
金属重炭酸塩、アルカリ土類金属炭酸塩等を反応混合物
にモル比で添加するようにして行われる。
化物とフエノール化合物との間のエステル化反応は、極
性有機溶剤、たとえばジオキサン、アセトン、メチル−
エチルケトンまたは溶剤混合物中で、酸結合塩基成分と
して無機塩基、たとえばアルカリ金属炭酸塩、アルカリ
金属重炭酸塩、アルカリ土類金属炭酸塩等を反応混合物
にモル比で添加するようにして行われる。
反応が完結したら、反応生成物を種々の方法で、たとえ
ば無極性溶剤を用いる沈殿または水の添加により、混合
物から単離することができる。使用される製造法によ
り、生じる生成物は、なお縮合反応に使用された少量の
金属イオンを含有し、それ故にこれらの生成物は無条件
に使用することができない。
ば無極性溶剤を用いる沈殿または水の添加により、混合
物から単離することができる。使用される製造法によ
り、生じる生成物は、なお縮合反応に使用された少量の
金属イオンを含有し、それ故にこれらの生成物は無条件
に使用することができない。
西ドイツ国特許出願公告第2044868号明細書(米国特許
第3647443号明細書に相当)から、O−ナフトキノンジ
アジドスルホニルクロリドをフエノール成分と、ピリジ
ン、ピコリン、ルチジンまたはトリエチルアミンのよう
な溶剤中で反応させるのが公知である。反応は、標準条
件下に低下または高めた温度で実施することができる。
反応生成物は、反応混合物を、希酸、たとえば希塩酸で
中和し、引き続きハロゲン化炭化水素溶剤、たとえば塩
化メチレンで抽出することにより単離される。
第3647443号明細書に相当)から、O−ナフトキノンジ
アジドスルホニルクロリドをフエノール成分と、ピリジ
ン、ピコリン、ルチジンまたはトリエチルアミンのよう
な溶剤中で反応させるのが公知である。反応は、標準条
件下に低下または高めた温度で実施することができる。
反応生成物は、反応混合物を、希酸、たとえば希塩酸で
中和し、引き続きハロゲン化炭化水素溶剤、たとえば塩
化メチレンで抽出することにより単離される。
若干の事例で毒性危険を示す塩基の使用は別として、こ
の方法は、アルカリ金属塩酸塩の残分が反応生成物中に
とどまるという欠点を有する。反応生成物を後処理する
間、これらの残分は変色を惹起するか、または生成物か
ら感光系を製造する間、敏感な加工装置に腐食による損
害を生じさせる。もう1つの欠点は、残留するアルカリ
金属塩酸塩を反応生成物から除去するために必要な高い
工業的費用にある。
の方法は、アルカリ金属塩酸塩の残分が反応生成物中に
とどまるという欠点を有する。反応生成物を後処理する
間、これらの残分は変色を惹起するか、または生成物か
ら感光系を製造する間、敏感な加工装置に腐食による損
害を生じさせる。もう1つの欠点は、残留するアルカリ
金属塩酸塩を反応生成物から除去するために必要な高い
工業的費用にある。
集積化の規模が増大するにつれて、O−ナフトキノンジ
アジドスルホン酸のエステルおよび該エステルから製造
されるポジテイブ型感光性複写層は、たとえばプリント
回路技術の分野で適用するため、特に超小型電子技術の
分野でシリコーン表面をパターン化するためには、連続
的に増大する要件を満たさねばならない。この点で、最
も厳格な要件の1つは、反応生成物中の金属イオンを除
去することである。
アジドスルホン酸のエステルおよび該エステルから製造
されるポジテイブ型感光性複写層は、たとえばプリント
回路技術の分野で適用するため、特に超小型電子技術の
分野でシリコーン表面をパターン化するためには、連続
的に増大する要件を満たさねばならない。この点で、最
も厳格な要件の1つは、反応生成物中の金属イオンを除
去することである。
おもな要件は、感光性混合物中のイオンの不在に関す
る。特に不利なのは、金属イオン、たとえばNa,K,Mg,M
n,Fe,Bi,Sb,As,Cu,Cr,Ni,Zn,Seイオンである。その理由
は、これらのイオンは所謂ドーピング元素として作用す
るか、またはシリコーン表面の結晶格子を不規則にする
ことにより、後続のエツチング工程間の挙動に不利な影
響を及ぼすからである。
る。特に不利なのは、金属イオン、たとえばNa,K,Mg,M
n,Fe,Bi,Sb,As,Cu,Cr,Ni,Zn,Seイオンである。その理由
は、これらのイオンは所謂ドーピング元素として作用す
るか、またはシリコーン表面の結晶格子を不規則にする
ことにより、後続のエツチング工程間の挙動に不利な影
響を及ぼすからである。
発明が解決しようとする問題点 したがつて本発明の課題は、記載した欠点を避け、かつ
超小型電子産業の連続的に増大する要求を満たすよう
な、O−ナフトキノンジアジドスルホン酸エステルの製
造法を開発することであつた。
超小型電子産業の連続的に増大する要求を満たすよう
な、O−ナフトキノンジアジドスルホン酸エステルの製
造法を開発することであつた。
問題点を解決するための手段 かかる課題の解決において、エステル化を、アンモニ
ア、弱酸のアンモニウム塩または1〜3個の炭素原子を
有するアンモニアの脂肪族誘導体の存在で、約1.5から
約8.5までの範囲内のpHおよび約15℃から約40℃までの
範囲内の温度で実施することを特徴とする最初に述べた
ような方法が提供された。好ましくは、エステル化は、
アンモニア水、カルボン酸または酢酸のアンモニウム塩
の存在またはモノーまたはジエタノールアミンの存在で
実施される。有利なpHは、6〜8の範囲内にあり、有利
な温度は20℃〜35℃の範囲内にある。
ア、弱酸のアンモニウム塩または1〜3個の炭素原子を
有するアンモニアの脂肪族誘導体の存在で、約1.5から
約8.5までの範囲内のpHおよび約15℃から約40℃までの
範囲内の温度で実施することを特徴とする最初に述べた
ような方法が提供された。好ましくは、エステル化は、
アンモニア水、カルボン酸または酢酸のアンモニウム塩
の存在またはモノーまたはジエタノールアミンの存在で
実施される。有利なpHは、6〜8の範囲内にあり、有利
な温度は20℃〜35℃の範囲内にある。
この方法は、O−ナフトキノンジアジドスルホン酸エス
テルの好ましくない不純物を必要不可決の最小限に減少
するか、または完全に除去することを保証する。本発明
の方法によると、所望の生成物が高純度の品質および高
い収率で得られる。
テルの好ましくない不純物を必要不可決の最小限に減少
するか、または完全に除去することを保証する。本発明
の方法によると、所望の生成物が高純度の品質および高
い収率で得られる。
本発明による方法は、O−ナフトキノンジアジドスルホ
ン酸ハロゲン化物、特に相応する塩化物と、フエノール
化合物とを、成分を極性の有機溶剤または溶剤混合物に
溶解し、次いで本発明の塩基成分の存在で、場合により
水を添加して反応させ、これにより温度およびpHを慎重
に制御するようにして、反応させることを要旨とする。
ン酸ハロゲン化物、特に相応する塩化物と、フエノール
化合物とを、成分を極性の有機溶剤または溶剤混合物に
溶解し、次いで本発明の塩基成分の存在で、場合により
水を添加して反応させ、これにより温度およびpHを慎重
に制御するようにして、反応させることを要旨とする。
所望のO−ナフトキノンジアジドスルホン酸エステルを
生じる方法の経過は、ハロゲン化スルホニルが利用しう
る共反応物の求核特性により、遊離スルホン酸を生じる
加水分解反応または、それぞれ、相応するスルホン酸ア
ミドを生じるアミンとの反応が優勢になることを期待す
ることができた限りにおいて驚異的である。
生じる方法の経過は、ハロゲン化スルホニルが利用しう
る共反応物の求核特性により、遊離スルホン酸を生じる
加水分解反応または、それぞれ、相応するスルホン酸ア
ミドを生じるアミンとの反応が優勢になることを期待す
ることができた限りにおいて驚異的である。
得られるアルカリ金属塩酸塩のすぐれた水溶性(これに
より該塩酸塩を最終生成物から分離するのが容易にな
る)は別として、本発明の方法は特に、アンモニアを使
用する場合に形成する塩化アンモニウムが、熱に不安定
であり、したがつて乾燥工程の間に、困難なく完全に除
去することができるという利点を有する。
より該塩酸塩を最終生成物から分離するのが容易にな
る)は別として、本発明の方法は特に、アンモニアを使
用する場合に形成する塩化アンモニウムが、熱に不安定
であり、したがつて乾燥工程の間に、困難なく完全に除
去することができるという利点を有する。
得られる生成物は、ミクロ電子工学の分野で使用しうる
感光系が満たさねばならない全ての要件を満たす。
感光系が満たさねばならない全ての要件を満たす。
変色を避けかつ副反応を抑制するためには、縮合反応を
正確な温度およびpH制御下に行なうのが重要である。
正確な温度およびpH制御下に行なうのが重要である。
適当な弱酸のアンモニウム塩は、反応の間に易溶で揮発
性の成分に変換され、おそくとも乾燥工程中に除去する
ことのできる炭酸アンモニウムまたは重炭酸アンモニウ
ムのような炭酸の塩および酢酸アンモニウムのような酢
酸の塩を包含する。
性の成分に変換され、おそくとも乾燥工程中に除去する
ことのできる炭酸アンモニウムまたは重炭酸アンモニウ
ムのような炭酸の塩および酢酸アンモニウムのような酢
酸の塩を包含する。
適当なアンモニアの脂肪族誘導体は、さらに置換基を有
していてもよい、1〜3個の炭素原子を有する第一級ア
ミンである。特に有利なのは、モノエタノールアミンお
よびジエタノールアミンである。
していてもよい、1〜3個の炭素原子を有する第一級ア
ミンである。特に有利なのは、モノエタノールアミンお
よびジエタノールアミンである。
O−ナフトキノンジアジドスルホン酸ハロゲン化物のう
ち、自体公知の塩化物が有利である。しかしながら、た
いてい、同様に公知の臭化物を使用することも可能であ
る。化合物は、ナフトキノン−(1,2)−ジアジド、特
に−ジアジド−(2)から誘導される。これらの化合物
は、その分子中に1個または2個のハロゲン化スルホニ
ル基を含有することができ、これらのハロゲン化スルホ
ニル基はナフタレン核の3−,4−,5−,6−,7−または8
位に存在しうる。モノスルホン酸のうち、たいてい4−
スルホン酸および好ましくは5−スルホン酸が使用され
る。ジスルホン酸を使用する場合、スルホン酸基は、た
とえば3,5位;3,6位;4,6位または5,7位に存在することが
できる。
ち、自体公知の塩化物が有利である。しかしながら、た
いてい、同様に公知の臭化物を使用することも可能であ
る。化合物は、ナフトキノン−(1,2)−ジアジド、特
に−ジアジド−(2)から誘導される。これらの化合物
は、その分子中に1個または2個のハロゲン化スルホニ
ル基を含有することができ、これらのハロゲン化スルホ
ニル基はナフタレン核の3−,4−,5−,6−,7−または8
位に存在しうる。モノスルホン酸のうち、たいてい4−
スルホン酸および好ましくは5−スルホン酸が使用され
る。ジスルホン酸を使用する場合、スルホン酸基は、た
とえば3,5位;3,6位;4,6位または5,7位に存在することが
できる。
適当な一価または多価のフエノール化合物は、好ましく
は低分子量フエノールを包含する。また、フエノール性
ヒドロキシ基を有する重合体化合物またはその混合物を
使用することも可能である。
は低分子量フエノールを包含する。また、フエノール性
ヒドロキシ基を有する重合体化合物またはその混合物を
使用することも可能である。
有利に使用される低分子量フエノールは、分子中に、少
なくとも2個のフエノール性ヒドロキシ基を含有する少
なくとも2個のベンゼン核を有する化合物である。
なくとも2個のフエノール性ヒドロキシ基を含有する少
なくとも2個のベンゼン核を有する化合物である。
フエノール化合物の有利な1グループは、一般式: 〔式中、Rは単結合を表わすかまたは基CO,S,O,SO2また
はCR6CR7のいずれか、好ましくはCOまたはCR6R7を表わ
し、 R1,R2,R3,R4およびR5は、水素原子またはハロゲン原
子、ヒドロキシル基、または1〜4個の炭素原子を有す
るアルキル基またはアルコキシ基を表わし、 R6およびR7は、水素原子または1〜4個の炭素原子を有
するアルキル基、 好ましくは水素原子またはメチル基を表わすか、または
基R3,R4およびR5のうちの2つおよび基R1およびR2は、
それぞれ一緒になつて芳香環を表わし、その際全ての場
合に、基R1,R2,R3,R4およびR5の少なくとも1つはヒド
ロキシ基を表わす〕により示される。
はCR6CR7のいずれか、好ましくはCOまたはCR6R7を表わ
し、 R1,R2,R3,R4およびR5は、水素原子またはハロゲン原
子、ヒドロキシル基、または1〜4個の炭素原子を有す
るアルキル基またはアルコキシ基を表わし、 R6およびR7は、水素原子または1〜4個の炭素原子を有
するアルキル基、 好ましくは水素原子またはメチル基を表わすか、または
基R3,R4およびR5のうちの2つおよび基R1およびR2は、
それぞれ一緒になつて芳香環を表わし、その際全ての場
合に、基R1,R2,R3,R4およびR5の少なくとも1つはヒド
ロキシ基を表わす〕により示される。
適当な低分子量フエノール化合物の例は、2,4−ジヒド
ロキシ−ベンゾフエノン、2,3,4−トリヒドロキシ−ベ
ンゾフエノン、2,4,2´,4´−テトラヒドロキシ−ジフ
エニル−スルフイド、2,2´−ジヒドロキシ−ジナフチ
ル−メタン、4,4´−ジヒドロキシ−2,2´−ジメチル−
5,5´−ジ−第三−ブチル−ジフエニル−スルフイド、
4,4´−ジヒドロキシ−ジフエニル−スルフイド、4,6−
ビス−(2,4−ジヒドロキシ−フエニルチオ)−レソル
シノール、2,4,2´,4´−テトラヒドロキシ−3,5,3´,5
´−テトラブロメ−ジフエニルスルホン、2,4,2´,4´
−テトラヒドロキシ−3,5,3´,5´−テトラブロモ−ジ
フエニルまたは2,4−ジヒドロキシ−3,5−ジブロモ−ベ
ンゾフエノンである。
ロキシ−ベンゾフエノン、2,3,4−トリヒドロキシ−ベ
ンゾフエノン、2,4,2´,4´−テトラヒドロキシ−ジフ
エニル−スルフイド、2,2´−ジヒドロキシ−ジナフチ
ル−メタン、4,4´−ジヒドロキシ−2,2´−ジメチル−
5,5´−ジ−第三−ブチル−ジフエニル−スルフイド、
4,4´−ジヒドロキシ−ジフエニル−スルフイド、4,6−
ビス−(2,4−ジヒドロキシ−フエニルチオ)−レソル
シノール、2,4,2´,4´−テトラヒドロキシ−3,5,3´,5
´−テトラブロメ−ジフエニルスルホン、2,4,2´,4´
−テトラヒドロキシ−3,5,3´,5´−テトラブロモ−ジ
フエニルまたは2,4−ジヒドロキシ−3,5−ジブロモ−ベ
ンゾフエノンである。
フエノール性ヒドロキシ基を有する適当な重合体化合物
は、とりわけ、フエノールとカルボニル化合物との縮合
樹脂を包含する。有利な反応物は、それ自体、O−ナフ
トキノンジアジド層の常用成分として公知な縮合生成物
である。この理由で、フエノール/ホルムアルデヒドノ
ボラツクまたはクレゾール/ホルムアルデヒドノボラツ
クが特に有利である。これらの樹脂のエステル化生成物
の使用は、未エステル化フエノール化合物の一定含量が
(この含量はいずれにせよ混合物の1成分であるので)
いかなる障害も惹起しないという利点を有する。さら
に、適当なフエノール樹脂は、英国特許第1113759号明
細書中に記載されているような、ピロガロールとアセト
ンとの縮合生成物である。また、西ドイツ国特許出願公
開第2847878号明細書中に記載されている、ポリヒドロ
キシベンゾフエノンとホルムアルデヒドとから得られる
重縮合生成物を使用することも可能である。
は、とりわけ、フエノールとカルボニル化合物との縮合
樹脂を包含する。有利な反応物は、それ自体、O−ナフ
トキノンジアジド層の常用成分として公知な縮合生成物
である。この理由で、フエノール/ホルムアルデヒドノ
ボラツクまたはクレゾール/ホルムアルデヒドノボラツ
クが特に有利である。これらの樹脂のエステル化生成物
の使用は、未エステル化フエノール化合物の一定含量が
(この含量はいずれにせよ混合物の1成分であるので)
いかなる障害も惹起しないという利点を有する。さら
に、適当なフエノール樹脂は、英国特許第1113759号明
細書中に記載されているような、ピロガロールとアセト
ンとの縮合生成物である。また、西ドイツ国特許出願公
開第2847878号明細書中に記載されている、ポリヒドロ
キシベンゾフエノンとホルムアルデヒドとから得られる
重縮合生成物を使用することも可能である。
一般に、O−ナフトキノンジアジドスルホン酸塩化物お
よびフエノール化合物は、室温で適当な溶剤に溶解し、
次いで縮合反応のために必要な塩基は、好ましくは水に
溶解して緩慢に配量し、反応混合物の温度を約15〜40℃
に調節し、かつpHを約1.5〜8.5、好ましくは6〜8の範
囲内に保持する。塩基の添加が完結したら、混合物をさ
らに0.5〜10分間撹拌し、かつ後処理する。
よびフエノール化合物は、室温で適当な溶剤に溶解し、
次いで縮合反応のために必要な塩基は、好ましくは水に
溶解して緩慢に配量し、反応混合物の温度を約15〜40℃
に調節し、かつpHを約1.5〜8.5、好ましくは6〜8の範
囲内に保持する。塩基の添加が完結したら、混合物をさ
らに0.5〜10分間撹拌し、かつ後処理する。
得られる生成物は、分離し、操り返し水で洗浄して、乾
燥する。この形で、該生成物は感光性混合物を製造する
ために直接に使用することができる。
燥する。この形で、該生成物は感光性混合物を製造する
ために直接に使用することができる。
したがつて、水に不溶性で、アルカリ水溶液に可溶でか
つ本発明により製造されるエステルを含有する結合剤含
有感光性混合物も、本発明の範囲内にある。
つ本発明により製造されるエステルを含有する結合剤含
有感光性混合物も、本発明の範囲内にある。
約300〜5000の分子量を有する被膜形成フエノール樹脂
が、結合剤として使用される。これらの樹脂は、フエノ
ールまたは置換フエノールをホルムアルデヒドで縮合さ
せることにより得られる。適当な置換フエノールは、ク
レゾール、キシレノール、ブチルフエノール等を包含す
る。アルカリ可溶性被膜形成フエノール樹脂のうち、フ
エノール/ホルムアルデヒドノボラツク、クレゾール/
ホルムアルデヒドノボラツクおよびフエノール変性キシ
レノール/ホルムアルデヒドノボラツクが、特に有利で
ある。フエノール樹脂の量は、全不揮発性成分の約50〜
90重量%の間、好ましくは65〜85重量%の間で変動す
る。
が、結合剤として使用される。これらの樹脂は、フエノ
ールまたは置換フエノールをホルムアルデヒドで縮合さ
せることにより得られる。適当な置換フエノールは、ク
レゾール、キシレノール、ブチルフエノール等を包含す
る。アルカリ可溶性被膜形成フエノール樹脂のうち、フ
エノール/ホルムアルデヒドノボラツク、クレゾール/
ホルムアルデヒドノボラツクおよびフエノール変性キシ
レノール/ホルムアルデヒドノボラツクが、特に有利で
ある。フエノール樹脂の量は、全不揮発性成分の約50〜
90重量%の間、好ましくは65〜85重量%の間で変動す
る。
本発明の範囲内の混合物は、常用の充填剤、染料、顔
料、光分解酸形成剤、たとえば1,2−ナフトキノンジア
ジド−(2)−4−スルホン酸塩化物、および他の公知
の添加剤および助剤を含有することができる。
料、光分解酸形成剤、たとえば1,2−ナフトキノンジア
ジド−(2)−4−スルホン酸塩化物、および他の公知
の添加剤および助剤を含有することができる。
支持材料は、自体公知の方法で、たとえば吹付けまたは
注型により被覆される。設けられた層は、好ましくは1.
0〜3.0g/m2の乾燥重量を有する。
注型により被覆される。設けられた層は、好ましくは1.
0〜3.0g/m2の乾燥重量を有する。
本発明を次の実施例により詳説する。
実施例 例1 ナフトキシ−(1,2)−ジアジド−(2)−5−スルホ
ニルクロリド28.8重量部および2,3,4−トリヒドロキシ
ベンゾフエノン17.6重量部を、アセトン167重量部に溶
解し、次いで得られる先に記載した反応物のアセトン溶
液に25重量%のアンモニア水溶液8.6重量部を、添加
し、これによつてpHおよび温度を制御し、温度は約15〜
35℃の間を変動し、pHは約2〜7.5の範囲内に保持され
るようにする。
ニルクロリド28.8重量部および2,3,4−トリヒドロキシ
ベンゾフエノン17.6重量部を、アセトン167重量部に溶
解し、次いで得られる先に記載した反応物のアセトン溶
液に25重量%のアンモニア水溶液8.6重量部を、添加
し、これによつてpHおよび温度を制御し、温度は約15〜
35℃の間を変動し、pHは約2〜7.5の範囲内に保持され
るようにする。
添加が完結した後に、撹拌をさらに5分間継続し、次い
でpHを塩酸を用いて2よりも低い値に調節し、反応溶液
を完全脱イオン水1000重量部に注入する。
でpHを塩酸を用いて2よりも低い値に調節し、反応溶液
を完全脱イオン水1000重量部に注入する。
生じる沈殿物を、公知の方法で、真空過器を使用して
吸引過する。完全脱イオン水約3000重量部を用いて慎
重に洗浄することにより、水に易溶の塩化アンモニウム
を完全に洗出することができる。流出する水を、その伝
導率の測定により制御し、沈殿物を、流出水の伝導率が
10μSに等しいか、またはそれよりも低くなるまで洗浄
する。
吸引過する。完全脱イオン水約3000重量部を用いて慎
重に洗浄することにより、水に易溶の塩化アンモニウム
を完全に洗出することができる。流出する水を、その伝
導率の測定により制御し、沈殿物を、流出水の伝導率が
10μSに等しいか、またはそれよりも低くなるまで洗浄
する。
次いで沈殿物を乾燥して、上記の出発化合物のモノー、
ビス−およびトリスエステルの混合物40重量部が得ら
れ、この混合物はイオン不含のミクロ電子レジストに直
接使用することができる。
ビス−およびトリスエステルの混合物40重量部が得ら
れ、この混合物はイオン不含のミクロ電子レジストに直
接使用することができる。
例2 ナフトキノン−(1,2)−ジアジド−(2)−5−スル
ホニルクロリド22重量部および2,3,4−トリヒドロキシ
ベンゾフエノン17.6重量部をアセトン167重量部に溶解
し、次いで得られる、先に記載した反応物のアセトン溶
液にモノエタノールアミン6.6重量部を、添加し、これ
によつてpHおよび温度を制御して、温度は約15℃〜35℃
の間を変動し、pHは約2〜7.5の範囲内に保持されるよ
うにする。
ホニルクロリド22重量部および2,3,4−トリヒドロキシ
ベンゾフエノン17.6重量部をアセトン167重量部に溶解
し、次いで得られる、先に記載した反応物のアセトン溶
液にモノエタノールアミン6.6重量部を、添加し、これ
によつてpHおよび温度を制御して、温度は約15℃〜35℃
の間を変動し、pHは約2〜7.5の範囲内に保持されるよ
うにする。
添加が完結した後に、撹拌をさらに5分間継続し、次い
でpHを塩酸を用いて2よりも低い値に調節し、反応溶液
を完全脱イオン水1600重量部に注入する。
でpHを塩酸を用いて2よりも低い値に調節し、反応溶液
を完全脱イオン水1600重量部に注入する。
生じる沈殿物を、公知の方法で、真空過器を使用して
吸引過する。完全脱イオン水約3000重量部を用いて慎
重に洗浄することにより、易溶性のアルカリ金属塩化物
は、完全に洗出することができ、その際洗浄水の導電率
を、例1に記載したように測定する。
吸引過する。完全脱イオン水約3000重量部を用いて慎
重に洗浄することにより、易溶性のアルカリ金属塩化物
は、完全に洗出することができ、その際洗浄水の導電率
を、例1に記載したように測定する。
次いで沈殿物を乾燥して、上記の出発化合物のモノー、
ビス−およびトリエステルの混合物33重量部が得られ、
この混合物は金属イオン不含の電子レジストに直接使用
することができる。
ビス−およびトリエステルの混合物33重量部が得られ、
この混合物は金属イオン不含の電子レジストに直接使用
することができる。
例3 ナフトキノン−(1,2)−ジアジド−(2)−5−スル
ホニルクロリド22重量部および2,3,4−トリヒドロキシ
ベンゾフエノン17.6重量部をアセトン167重量部に溶解
し、次いで得られる先に記載した反応物のアセトン溶液
に35重量%の酢酸アンモニウム水溶液23.5重量部を、添
加し、これによつてpHおよび温度を制御して、温度は約
15℃〜35℃の間を変動し、pHは約2〜7.5の範囲内に保
持されるようにする。
ホニルクロリド22重量部および2,3,4−トリヒドロキシ
ベンゾフエノン17.6重量部をアセトン167重量部に溶解
し、次いで得られる先に記載した反応物のアセトン溶液
に35重量%の酢酸アンモニウム水溶液23.5重量部を、添
加し、これによつてpHおよび温度を制御して、温度は約
15℃〜35℃の間を変動し、pHは約2〜7.5の範囲内に保
持されるようにする。
添加が完結した後に、撹拌をさらに5分間継続し、次い
でpHを塩酸を用いて2より低い値に調節し、反応溶液を
完全脱イオン水1600重量部に注入する。
でpHを塩酸を用いて2より低い値に調節し、反応溶液を
完全脱イオン水1600重量部に注入する。
生じる沈殿物を、真空過器を使用して吸引過する。
完全脱イオン水約3000重量部をを用いて慎重に洗浄する
ことにより、易溶性の塩化アンモニウムは完全に洗出す
ることができる。
完全脱イオン水約3000重量部をを用いて慎重に洗浄する
ことにより、易溶性の塩化アンモニウムは完全に洗出す
ることができる。
次いで沈殿物を乾燥することにより、上記の出発化合物
のモノー、ビス−およびトリエステルの混合物31重量部
が得られ、この混合物は、金属イオン不含の液体レジス
トに直接使用することができる。
のモノー、ビス−およびトリエステルの混合物31重量部
が得られ、この混合物は、金属イオン不含の液体レジス
トに直接使用することができる。
比較例 ノボラツクタイプの重合体(軟化点112℃〜119℃、フエ
ノール基の含量14重量%)25重量部を室温で撹拌下に酢
酸エチルグリコール、酢酸ブチルエステルおよびキシレ
ン(80:10:10)の混合物68重量部に溶解する。
ノール基の含量14重量%)25重量部を室温で撹拌下に酢
酸エチルグリコール、酢酸ブチルエステルおよびキシレ
ン(80:10:10)の混合物68重量部に溶解する。
生じる溶液を、西ドイツ国特許第865860号明細書(米国
特許第3046120号明細書に相当)により製造されたキノ
ンジアジド化合物7重量部と混合し、混合物を、全ての
成分が溶解するまで撹拌する。
特許第3046120号明細書に相当)により製造されたキノ
ンジアジド化合物7重量部と混合し、混合物を、全ての
成分が溶解するまで撹拌する。
さらに溶液を上述したような過により処理することに
より、以下の金属イオン濃度を有する、すぐ使用できる
ポジ型フオトレジストが得られる: Na+イオン55ppm;Fe+/ イオン2,9ppm;およびCa イオン
1.5ppm 個々の濃度は、原子吸光分光分析法(AAS)を用いて測
定する。
より、以下の金属イオン濃度を有する、すぐ使用できる
ポジ型フオトレジストが得られる: Na+イオン55ppm;Fe+/ イオン2,9ppm;およびCa イオン
1.5ppm 個々の濃度は、原子吸光分光分析法(AAS)を用いて測
定する。
例4 上述の比較例に記載したようなノボラツクタイプの重合
体25重量部を室温で、比較例に記載したような溶剤混合
物68重量部に溶解する。
体25重量部を室温で、比較例に記載したような溶剤混合
物68重量部に溶解する。
生じる溶液を、例1に記載したようなナフトキノンジア
ジドスルホン酸エステル混合物7重量部と混合する。
ジドスルホン酸エステル混合物7重量部と混合する。
混合物を、全ての成分が溶解するまで撹拌する。
さらに、溶液を、上述したように処理することにより、
以下の金属イオン濃度を有する、すぐ使用できるポジ型
フオトレジストが得られる: Na+:7ppmよりも少ない;Fe / :1ppmよりも少ない;K+,
Mg+,Ca ,Cu およびMn :それぞれ1ppmよりも少な
い。
以下の金属イオン濃度を有する、すぐ使用できるポジ型
フオトレジストが得られる: Na+:7ppmよりも少ない;Fe / :1ppmよりも少ない;K+,
Mg+,Ca ,Cu およびMn :それぞれ1ppmよりも少な
い。
Claims (6)
- 【請求項1】O−ナフトキノンジアジドスルホン酸エス
テルを、O−ナフトキノンジアシドスルホン酸ハロゲン
化物を一価または多価のフエノール化合物を用い溶剤中
で、塩基性成分の存在でエステル化し、引き続きエステ
ルを沈殿させ、かつ乾燥することにより製造する方法に
おいて、エステル化をアンモニア、弱酸のアンモニウム
塩または1〜3個の炭素原子を有するアンモニアの脂肪
族誘導体の存在で、約1.5から約8.5までの範囲内のpHお
よび約15℃から約40℃までの範囲内の温度で実施するこ
とを特徴とするO−ナフトキノンジアジドスルホン酸エ
ステルの製造法。 - 【請求項2】エステル化を、アンモニア水の存在で実施
する特許請求の範囲第1項記載の方法。 - 【請求項3】エステル化を、炭酸または酢酸のアンモニ
ウム塩の存在で実施する特許請求の範囲第1項記載の方
法。 - 【請求項4】エステル化を、モノエタノールアミンまた
はジエタノールアミンの存在で実施する特許請求の範囲
第1項記載の方法。 - 【請求項5】エステル化を、約6から約8までの範囲内
のpHで実施する特許請求の範囲第1項から第4項までの
いずれか1項記載の方法。 - 【請求項6】エステル化を、約20℃から約35℃までの範
囲内の温度で実施する特許請求の範囲第1項から第5項
までのいずれか1項記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19863629122 DE3629122A1 (de) | 1986-08-27 | 1986-08-27 | Verfahren zur herstellung eines o-naphthochinondiazidsulfonsaeureesters und diesen enthaltendes lichtempfindliches gemisch |
DE3629122.6 | 1986-08-27 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6368555A JPS6368555A (ja) | 1988-03-28 |
JPH0710826B2 true JPH0710826B2 (ja) | 1995-02-08 |
Family
ID=6308285
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62210380A Expired - Lifetime JPH0710826B2 (ja) | 1986-08-27 | 1987-08-26 | O−ナフトキノンジアジドスルホン酸エステルの製造法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4873169A (ja) |
EP (1) | EP0258727B1 (ja) |
JP (1) | JPH0710826B2 (ja) |
KR (1) | KR950005773B1 (ja) |
DE (2) | DE3629122A1 (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5290656A (en) * | 1988-05-07 | 1994-03-01 | Sumitomo Chemical Company, Limited | Resist composition, novel phenol compound and quinone diazide sulfonic acid ester of novel phenol compound |
US5169741A (en) * | 1988-10-11 | 1992-12-08 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method for forming high sensitivity positive patterns employing a material containing a photosensitive compound having a diazo group, an alkaline-soluble polymer, a compound capable of adjusting the pH to 4 or less and a solvent |
DE3837499A1 (de) * | 1988-11-04 | 1990-05-23 | Hoechst Ag | Verfahren zur herstellung von substituierten 1,2-naphthochinon-(2)-diazid-4-sulfonsaeureestern und deren verwendung in einem strahlungsempfindlichen gemisch |
US5362599A (en) * | 1991-11-14 | 1994-11-08 | International Business Machines Corporations | Fast diazoquinone positive resists comprising mixed esters of 4-sulfonate and 5-sulfonate compounds |
JP4895329B2 (ja) * | 2007-01-12 | 2012-03-14 | 日本精工株式会社 | ボールねじ機構 |
KR20160003418U (ko) | 2015-03-26 | 2016-10-06 | 이정훈 | 입자 비료 주입기의 주입구 구조 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
BE506677A (ja) * | 1950-10-31 | |||
NL129162C (ja) * | 1959-01-17 | |||
GB1113759A (en) * | 1965-12-17 | 1968-05-15 | Fuji Photo Film Co Ltd | Lithographic printing plates |
US3647443A (en) * | 1969-09-12 | 1972-03-07 | Eastman Kodak Co | Light-sensitive quinone diazide polymers and polymer compositions |
JPS505084B1 (ja) * | 1970-09-16 | 1975-02-28 | ||
JPS5280022A (en) * | 1975-12-26 | 1977-07-05 | Fuji Photo Film Co Ltd | Light solubilizable composition |
DE2828037A1 (de) * | 1978-06-26 | 1980-01-10 | Hoechst Ag | Lichtempfindliches gemisch |
DE2847878A1 (de) * | 1978-11-04 | 1980-05-22 | Hoechst Ag | Lichtempfindliches gemisch |
DE3100077A1 (de) * | 1981-01-03 | 1982-08-05 | Hoechst Ag, 6000 Frankfurt | Lichtempfindliches gemisch, das einen naphthochinondiazidsulfonsaeureester enthaelt, und verfahren zur herstellung des naphthochinondiazidsulfonsaeureesters |
US4397937A (en) * | 1982-02-10 | 1983-08-09 | International Business Machines Corporation | Positive resist compositions |
JPS59219743A (ja) * | 1983-05-28 | 1984-12-11 | Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd | ポジ型レジスト現像液 |
GB8505402D0 (en) * | 1985-03-02 | 1985-04-03 | Ciba Geigy Ag | Modified phenolic resins |
-
1986
- 1986-08-27 DE DE19863629122 patent/DE3629122A1/de not_active Withdrawn
-
1987
- 1987-08-18 DE DE8787111920T patent/DE3765370D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1987-08-18 EP EP87111920A patent/EP0258727B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1987-08-20 US US07/087,599 patent/US4873169A/en not_active Expired - Lifetime
- 1987-08-26 KR KR1019870009311A patent/KR950005773B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1987-08-26 JP JP62210380A patent/JPH0710826B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3629122A1 (de) | 1988-03-10 |
DE3765370D1 (de) | 1990-11-08 |
JPS6368555A (ja) | 1988-03-28 |
US4873169A (en) | 1989-10-10 |
KR880002821A (ko) | 1988-05-11 |
KR950005773B1 (ko) | 1995-05-30 |
EP0258727A1 (de) | 1988-03-09 |
EP0258727B1 (de) | 1990-10-03 |
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