JPH07105417B2 - プローブ装置 - Google Patents

プローブ装置

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JPH07105417B2
JPH07105417B2 JP62321059A JP32105987A JPH07105417B2 JP H07105417 B2 JPH07105417 B2 JP H07105417B2 JP 62321059 A JP62321059 A JP 62321059A JP 32105987 A JP32105987 A JP 32105987A JP H07105417 B2 JPH07105417 B2 JP H07105417B2
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JP
Japan
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rail
moving member
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moving
rail member
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JP62321059A
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浩 雨宮
雅幸 山田
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Tokyo Electron Ltd
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Tokyo Electron Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、半導体ウエハ上のチップの電気的特性を測定
するプローブ装置に関する。
[従来の技術] 半導体ウエハ(以下、単にウエハという)上のチップの
電気的特性を測定するプローブ装置は、チップ上の電極
パッドにプローブカードのプローブ針を圧接して、この
プローブ針と導通状態にあるテスタによって検査され
る。そして、検査の結果、不良品のチップにはマーキン
グが施される。
このように構成されたプローブ装置は、例えば、特開昭
59-117229号公報はおよび特開昭62-25889号公報に記載
されている。このプローブ装置のウエハ支持機構は、ウ
エハを支持する支持体と、この支持体をX・Y軸方向に
移動するように敷設されたX軸の一定直線形のレール及
びY軸の一定直線形のレールとから構成されている。
そして、これらレールに沿って支持体がX・Y軸方向に
移動してウエハに形成されたチップの電極パッドにプロ
ーブ針を圧接して検査しているのが一般的である。
支持体をX・Y軸に移動する技術として特開昭61-20983
1号公報、特開昭61-209833号公報、及び特開昭61-20983
5号公報等によって知られている。
[発明が解決しようとする課題] しかしながら、従来のプローブ装置では、ウエハを支持
体に載置するに際し、支持体が立設されたX・Yテーブ
ルを操作側にローディングさせるためX・Yテーブルを
支承している基台の面積が大きくなり、またウエハのサ
イズが大型化するに伴ってさらにプローブ装置全体が大
型化してしまうという問題があった。
本発明は、前記事情に着目してなされたもので、その目
的とするところは、ウエハのサイズが大型化しても、プ
ローブ装置全体が大型化することはなく、占有する設置
スペースを狭く、また操作性を向上できるプローブ装置
を提供することにある。
[課題を解決するための手段] 本発明は、前記目的を達成するために、半導体ウエハを
吸着支持する支持体と、この支持体をθ方向に回転自在
に支持するとともにZ軸方向に昇降自在に支持する昇降
機構と、この昇降機構を搭載しX・Y軸方向に移動する
移動機構とを備え、前記半導体ウエハに形成されたチッ
プの電気的特性を検査するプローブ装置において、前記
移動機構は、基台と、この基台に設けられY軸方向に沿
って配設された一対の第1のレール部材と、この第1の
レール部材に両側端が支持されY軸方向に移動自在であ
るとともに、第1のレール部材の長さの少なくとも1/2
が該レール部材の端部から延出可能な第1の移動部材
と、前記基台に設けられ第1の移動部材をY軸方向に移
動させるY軸駆動機構と、前記第1の移動部材に設けら
れX軸方向に沿って配設された一対の第2のレール部材
と、この第2のレール部材に両側端が支持されX軸方向
に移動自在であるとともに、第2のレール部材の長さの
少なくとも1/2が該レール部材の端部から延出可能な第
2の移動部材と、前記第1の移動部材に設けられ第2の
移動部材をX軸方向に移動させるX軸駆動機構とから構
成したことを特徴とする。
[作用] Y軸駆動機構によって第1の移動部材を移動すると、第
1の移動部材は第1のレール部材にガイドされながらY
軸方向に移動し、最大で第1のレール部材の長さの1/2
が該レール部材の端部から延出するため、大きなストロ
ークが得られる。また、X軸駆動機構によって第2の移
動部材を移動すると、第2の移動部材は第2のレール部
材にガイドされながらX軸方向に移動し、最大で第2の
レール部材の長さの1/2が該レール部材の端部から延出
するため、X・Y軸方向に大きなストロークが得られ
る。
[実施例] 以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。
第1図は本発明のプローブ装置の要部を示す斜視図、第
2図は縦断正面図、第3図はローダ部と検査部の平面
図、第4図はプローブ装置の平面図である。第4図に示
すように、プローブ装置の本体の一側部にはローダ部1
が、他端部には検査部2が設けられている。
ローダ部1は、第3図に示すように、例えば、直径4イ
ンチの多数枚のウエハWを間隔を存して収容したカセッ
ト3がセットされており、検査部2には回動アーム4が
設けられている。この回動アーム4によってカセット3
内のウエハWを1枚ずつ取り出し、これをプリアライメ
ントした後、検査部2の支持体5に受け渡し、検査部2
で検査が終了したウエハWを前記カセット3に戻すよう
に構成されている。なお、第4図において、6は検査部
2に対向して設けられたマイクロスコープであり、7は
オペレータが操作するキーボードである。
第1図及び第2図に示すように、前記検査部2に設けら
れた前記支持体5は、円板状で、その表面8にはウエハ
Wを吸着固定する複数の吸着孔9が設けられ、吸着孔9
によって真空吸引することにより、ウエハWを支持体5
の表面8に吸着するようになっている。さらに、支持体
5をθ方向に回転自在に支持するとともにZ軸方向に昇
降自在に支持する昇降機構10が設けられており、この昇
降機構10は後述する移動機構11に搭載され、X・Y軸方
向に移動自在に構成されている。
次に、前記移動機構11について説明すると、矩形状の基
台12の両側縁にはY軸方向に沿って一対の第1のレール
部材13が固定されている。この第1のレール部材13は断
面がコ字状に形成され、その凹溝には板状体からなる第
1の移動部材14の両側端が支持され、第1のレール部材
13に沿ってY軸方向に移動自在になっている。この第1
のレール部材13は、例えば幅50mm、高さ60mm、長さ300m
mのアルミ角材に、幅15mm、高さ20mm、長さ300mmの凹溝
を形成したレールである。第1の移動部材14は、例え
ば、幅300mm、長さ250mm、厚さ15mmのアルミ板材で、両
側端が滑らかに摺動するように支持されている。
また、第1の移動部材14は、第1のレール部材13の長さ
の少なくとも1/2が該レール部材13の左右端部から延出
可能であり、第1のレール部材13の長さをLとすれば、
1/2Lが第1のレール部材13の凹溝から外れて第1の移動
部材14が突出すると、第1のレール部材13の約2L倍のス
トロークが得られるようになっている。
さらに、前記基台12の一側部には第1のパルスモータ15
が設けられており、この第1のパルスモータ15の回転軸
には第1の移動部材14の下部をY軸方向に延長するボー
ルスクリュ16が連結されている。このボールスクリュ16
には第1の移動部材14を固定されたナット部材17が螺合
しており、ボールスクリュ16の回転をナット部材17によ
って直線運動に変換する公知のY軸駆動機構18を構成
し、第1の移動部材14をY軸方向に移動させるようにな
っている。
さらに、前記第1の移動部材14の両側端にはX軸方向に
沿って一対の第2のレール部材19が固定されている。こ
の第2のレール部材19は断面がコ字状に形成され、その
凹溝には板状体からなる第2の移動部材20の両側端が支
持され、第2のレール部材19に沿ってX軸方向に移動自
在になっている。第2の移動部材20は、例えば、幅300m
m、長さ200mm、厚さ25mmのアルミ板材で、両側端が滑ら
かに摺動するように支持されている。
また、第2の移動部材20は、第2のレール部材19の長さ
の少なくとも1/2が該レール部材19の左右端部から延出
可能であり、第2のレール部材19の長さをLとすれば、
1/2Lが第2のレール部材19の凹溝から外れて第2の移動
部材20が突出すると、第2のレール部材19の約2L倍のス
トロークが得られるようになっている。
さらに、前記第1の移動部材14の一側部には第2のパル
スモータ21が設けられており、この第2のパルスモータ
21の回転軸には第2の移動部材20の下部をX軸方向に延
出するボールスクリュ22が連結されている。このボール
スクリュ22には第2の移動部材20に固定されたナット部
材23が螺合しており、ボールスクリュ22の回転をナット
部材23によって直線運動に変換する公知のX軸駆動機構
24を構成し、第2の移動部材20をX軸方向に移動させる
ようになっている。
また、第1と第2のパルスモータ15,21はプローブ装置
のCPUの駆動指令信号に基づきY軸駆動機構18及びX軸
駆動機構24を駆動し、支持体5をX・Y方向に駆動する
ように構成されている。
次に、前述のように構成されたプローブ装置の作用につ
いて説明する。
ローダ部1でカセット3内の1枚のウエハWを取り出し
てウエハWのプリアライメントした後、検査部2に設け
られている回動アーム4に受け渡し、回動アーム4は1
枚のウエハWを支持体5に支持する。ウエハWが支持体
5に支持されると、吸着孔9からの真空吸引力によって
ウエハWが支持体5に吸着固定される。
次に、移動機構11が作動して支持体5をX・Yおよびθ
方向に移動させ、ウエハWのアライメントを実行し、さ
らに昇降機構10によって支持体5をZ軸方向に移動させ
てプローブカードのプローブ針とウエハWの電極パッド
を接触させ、通電によってウエハWの電気的特性を検査
する。なお、このとき、ウエハWのチップとプローブ針
の位置関係をマイクロスコープ6によって確認する。
ここで、回動アーム4の回動によってウエハWを支持体
5に載置する際、回動アーム4で受け渡される位置まで
支持体5をCPUの指令信号に基づいて第1と第2のパル
スモータ15,21を駆動させ、ホームポジション位置aか
ら検査部2の中心位置bまで支持体5をあらかじめ記憶
されているプログラムにしたがって移動することができ
る。
しかも、支持体5の移動ストロークは、これを移動自在
に支持するレール部材のサイズに制限されず、大きなス
トロークを得ることができる。すなわち、まず、第1の
パルスモータ15が駆動すると、ボールスクリュ16が回転
し、ナット部材17を介して第1の移動部材14が第1のレ
ール13にガイドされながらY軸方向に移動する。
この際、第1の移動部材14は、第1のレール部材13の長
さの少なくとも1/2が該レール部材13の左右端部から延
出可能であり、第1のレール部材13の長さをLとすれ
ば、1/2Lが第1のレール部材13の凹溝から外れて第1の
移動部材14が突出すると、第1のレール部材13の約2L倍
のストロークが得られる。
同様に、第2のパルスモータ21が駆動すると、ボールス
クリュ22が回転し、ナット部材23を介して第2の移動部
材20が第2のレール19にガイドされながらX軸方向に移
動する。
この際、第2の移動部材20は、第2のレール部材19の長
さの少なくとも1/2が該レール部材19の左右端部から延
出可能であり、第2のレール部材19の長さをLとすれ
ば、1/2Lが第2のレール部材19の凹溝から外れて第2の
移動部材20が突出すると、第2のレール部材19の約2L倍
のストロークが得られる。
したがって、移動機構11を大型化することなく、支持体
5のX・Y軸方向の移動ストロークを拡大することがで
き、プローブ装置本体の小型化を図ることができる。
[発明の効果] 以上説明したように、本発明によれば、X・Y方向の移
動機構を構成する移動部材をレール部材に対してスライ
ド自在に支持し、この移動部材は、レール部材の長さの
少なくとも1/2が該レール部材の左右端部から延出可能
に構成したから、移動部材は、レール部材の長さの約2
倍の移動ストロークが得られる。したがって、移動機構
を大型化することなく、支持体のX・Y軸方向の移動ス
トロークを拡大することができ、プローブ装置本体の小
型化を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のプローブ装置の要部を示す斜視図、第
2図は同じく縦断正面図、第3図は同じくローダ部と検
査部の平面図、第4図は同じくプローブ装置の平面図で
ある。 5……支持体、10……昇降機構、11……移動機構、12…
…基台、13……第1のレール部材、18……Y軸駆動機
構、24……X軸駆動機構。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】半導体ウエハを吸着支持する支持体と、こ
    の支持体をθ方向に回転自在に支持するとともにZ軸方
    向に昇降自在に支持する昇降機構と、この昇降機構を搭
    載しX・Y軸方向に移動する移動機構とを備え、前記半
    導体ウエハに形成されたチップの電気的特性を検査する
    プローブ装置において、 前記移動機構は、基台と、この基台に設けられY軸方向
    に沿って配設された一対の第1のレール部材と、この第
    1のレール部材に両側端が支持されY軸方向に移動自在
    であるとともに、第1のレール部材の長さの少なくとも
    1/2が該レール部材の端部から延出可能な第1の移動部
    材と、前記基台に設けられ第1の移動部材をY軸方向に
    移動させるY軸駆動機構と、前記第1の移動部材に設け
    られX軸方向に沿って配設された一対の第2のレール部
    材と、この第2のレール部材に両側端が支持されX軸方
    向に移動自在であるとともに、第2のレール部材の長さ
    の少なくとも1/2が該レール部材の端部から延出可能な
    第2の移動部材と、前記第1の移動部材に設けられ第2
    の移動部材をX軸方向に移動させるX軸駆動機構とから
    構成したことを特徴とするプローブ装置。
JP62321059A 1987-12-18 1987-12-18 プローブ装置 Expired - Lifetime JPH07105417B2 (ja)

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JPH01161844A JPH01161844A (ja) 1989-06-26
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105004888A (zh) * 2014-11-10 2015-10-28 成都振芯科技股份有限公司 一种可调集成电路测试治具

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105004888A (zh) * 2014-11-10 2015-10-28 成都振芯科技股份有限公司 一种可调集成电路测试治具
CN105004888B (zh) * 2014-11-10 2017-11-24 成都振芯科技股份有限公司 一种可调集成电路测试治具

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