JPH0697027A - X線リソグラフィ装置 - Google Patents

X線リソグラフィ装置

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JPH0697027A
JPH0697027A JP4242392A JP24239292A JPH0697027A JP H0697027 A JPH0697027 A JP H0697027A JP 4242392 A JP4242392 A JP 4242392A JP 24239292 A JP24239292 A JP 24239292A JP H0697027 A JPH0697027 A JP H0697027A
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JP
Japan
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ray
sor
mirror
intensity
beam line
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Pending
Application number
JP4242392A
Other languages
English (en)
Inventor
Kenji Igarashi
健二 五十嵐
Masaaki Sudo
正昭 須藤
Kazuyuki Furuse
一幸 古瀬
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/708Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
    • G03F7/70808Construction details, e.g. housing, load-lock, seals or windows for passing light in or out of apparatus

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  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Epidemiology (AREA)
  • Public Health (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】ビームラインの短縮化とともに、X線ミラーを
固定状態のままで露光領域を確保し、機構の簡素化を図
り、X線ミラー反射後のSOR光の強度向上および均一
性の向上を得るX線リソグラフィ装置を提供する。 【構成】指向性が強く高強度のSOR光発生源としての
SORリング1と、このSORリングよりSOR光を取
出して反射し、短波長のX線成分を除去するX線ミラー
3を配置した超高真空のビームライン2と、このビーム
ライン終端部に設けられビームライン側の超高真空領域
と大気圧領域ないし減圧雰囲気とを区分してX線を取出
すBe窓4と、このBe窓を透過したX線を受け露光さ
れる露光装置7とを具備し、上記X線ミラー3は、光軸
方向に凸面状で、光軸と直交する方向には凹面状をなす
非球面形状であり、固定された状態で、全露光領域を確
保する反射面積を有する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、SOR(シンクロトロ
ン放射)光を用いてパターン転写をなすX線リソグラフ
ィ装置に関する。
【0002】
【従来の技術】SOR(シンクロトロン放射)光は、光
速に近い速さをもった電子(一般には荷電粒子)が円軌
道のような加速度を受ける運動を行う際に放出する電磁
波であり、このようなSOR光が、近時、X線リソグラ
フィ装置の線源として用いられるようになった。
【0003】すなわち、SOR光発生源としてのSOR
リングから、SOR光を超高真空のビームラインに取出
し、このSOR光から短波長のX線成分をX線ミラーが
除去して反射する。
【0004】上記ビームライン側の終端部には、ビーム
ラインの超高真空領域と、大気圧もしくは、ある程度減
圧されて、ヘリウムガスの影響下にある、すなわち露光
雰囲気にある露光装置側とを区分し、SOR光から長波
長部を吸収してX線を取出し、露光させるX線透過膜で
あるBe(ベリリウム)窓が設けられる。
【0005】上記ビームラインにおけるX線は、軌道面
に対して垂直方向に指向性が高く、露光に用いるには、
露光面積拡大のため、垂直方向に拡大する必要がある。
そのため、上記X線ミラーを垂直方向に揺動して、X線
ビームを走査する。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記ビーム
ラインにおいては、X線ミラーの前部(上流側)にSO
R光を通光するか、もしくは遮光するかのスイッチング
機能を有する吸収体と、スリットおよび高速遮断バルブ
などが配置されている。そのため、SOR光発生源とし
てのSORリングからX線ミラーまでの距離が長くなら
ざるを得ない。
【0007】一方、上記X線ミラーは、露光領域を拡大
するために揺動する必要があり、露光面での半影ぼけ
や、ランアウト誤差をできるだけ小さく抑制することを
目的とするため、X線ミラーから露光面であるウエハま
での距離が長大化する傾向にある。その結果、ビームラ
インに付設される真空排気系も多数必要になり、極めて
高額で、かつ非常に長大なビームラインになっていた。
【0008】これに対して、ビームラインの短縮化およ
び簡素化を目的として、種々の発明がなされている。
【0009】たとえば、特開昭60−226122号公
報には、反射面の断面形状が指数関数で表現されるミラ
ーでSORビームを反射させることにより、光ビームの
拡大を強度分布の均一性を維持しながら行う技術が開示
されている。
【0010】特開昭59−69927号公報には、凸面
ミラーにより反射し断面積が拡大された放射線束を、凸
面ミラーに回転または回転振動を与えて振動させること
により、大面積のマスクパターンを露光ムラなく高精度
で転写できるようにする技術が開示されている。
【0011】1991年度 精密工学会の秋季大会シン
ポジウムにおいて配布された資料の53〜56ページに
は、2枚ミラーを備えたビームラインが開示されてい
る。すなわち、SORリングに近い、第1のミラーは集
光を行い、ウエハ上のX線強度を強めると同時に、短波
長側のX線カットをなしている。第2のミラーは水平方
向のコリメーションと、ミラー揺動による垂直方向の露
光領域の拡大を行うようになっている。
【0012】これらの新技術は、ビームラインの短縮化
および簡素化にある程度は寄与していることを否定でき
ないが、今だ、十分と言えるものではない。しかも、ミ
ラーを揺動するものがほとんどで、これらの揺動機構を
ビームラインを構成するビームダクト内に備えなければ
ならず、安定駆動に不可欠な潤滑剤を使用できないこと
から、複雑になり、操作性、保守の面から取扱いが難し
い欠点がある。
【0013】従来のX線ミラーは、上下動振動(揺動)
させてビーム束拡大を図っているが、機構的に複雑な
上、ミラー形状をトロイダル、シリンドリカルなどにし
ても、1枚ミラー構成では均一な強度分布が得られな
い。その一方、2枚ミラーの構成では、均一性は向上す
るが、強度が低下することと、ビームライン長が長くな
る欠点がある。
【0014】本発明は、このような事情によりなされた
ものであり、その目的とするところは、ビームラインの
短縮化とともに、X線ミラーを固定状態のままで露光領
域を確保し、機構の簡素化を図り、X線ミラー反射後の
SOR光の強度向上および均一性の向上を得るX線リソ
グラフィ装置を提供することにある。
【0015】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
第1の発明は、指向性が強く高強度のSOR(シンクロ
トロン放射)光発生源としてのSORリング、このSO
RリングよりSOR光を取出し、このSOR光を反射
し、かつ短波長のX線成分を除去するX線ミラーを配置
した超高真空のビームライン、このビームライン終端部
に設けられビームライン側の超高真空領域と大気圧領域
ないし減圧雰囲気とを区分してX線を取出すBe(ベリ
リウム)窓、このBe窓を透過したX線を受け露光され
る露光装置とを具備し、上記X線ミラーは、光軸方向に
凸面状で、光軸と直交する方向には凹面状をなす非球面
形状であり、固定された状態で、全露光領域を確保する
反射面積を有することを特徴とするX線リソグラフィ装
置である。
【0016】第2の発明は、上記X線ミラーは、上記S
ORリングに一体的に設けられ、ビームラインを構成す
るビームダクト内に収容される。
【0017】第3の発明は、上記X線ミラーの両側部に
沿って、X線ミラーの露光強度の向上と、その均一性の
補正をなすためのサブミラーを設けた。
【0018】第4の発明は、上記X線ミラーは、内部に
縦横整然と配列された多数のアクチュエータにより支持
され、これらアクチュエータ群の駆動によって非球面形
状を補正する。
【0019】第5の発明は、上記X線ミラーの反射側
で、コリメートされた光路中に、反射されるX線の強度
均一性をモニタするSOR光強度の2次元検出器を備
え、この検出器からの強度分布信号を上記アクチュエー
タ群にフィードバックして露光強度の均一性をリアルタ
イムで補正制御する手段を備えた。
【0020】
【作用】このような構成とすることにより、ビームライ
ンの短縮化とともに、X線ミラーを固定のままで露光領
域を拡大して機構の簡素化を図り、X線ミラー反射後の
SOR光の強度向上および均一性の向上を得る。
【0021】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図面にもとづいて
説明する。
【0022】図1中、1はSORリングであり、高強度
のSOR(シンクロトロン放射)光の発生源である。こ
れは、図示しない加速器から入射される電子を、偏向電
磁石部1Aで軌跡を曲げながら真空パイプ内を周回さ
せ、電子の1周期に同期して加速器で所定のエネルギに
加速維持する。
【0023】さらに、電子ビームを収束して、上記偏向
電磁石部1Aで電子軌跡が曲げられる部分から接線方向
に、ビームライン2に沿ってSOR光を取出すようにな
っている。
【0024】上記SORリング1は、電子運動の減衰を
極力避けるために高真空に保たれており、上記ビームラ
イン2は、SORリング1よりSOR光を取出すため、
超高真空に形成されている。
【0025】上記ビームライン2にX線ミラー3が配置
される。このミラー3は、ビームライン2に導かれるS
OR光を集光し、短波長のX線成分を除去する。そし
て、このミラー3は、本発明においては、あくまで固定
状態に保持され、ミラー面は、露光面積拡大のため、後
述するような非球面形状に形成される。
【0026】このX線ミラー3のSOR光反射側で、か
つビームライン2の終端部には、X線透過膜としてのB
e(ベリリウム)窓4が配置される。これは、超高真空
領域Mであるビームライン2と、大気圧領域Hとを区分
していて、ビームライン2に導かれるX線を大気圧領域
H中に透過させるものである。
【0027】上記Be窓4のX線取出し側である大気圧
領域Hには、所定のパターンを備えたマスク5およびレ
ジストが塗布されたウエハ6などを備えた露光装置7が
配置される。
【0028】なお、上記X線ミラー3で反射したSOR
光は、マスク5を等倍で露光し、かつ広い露光領域を得
るために、コリメートされた状態で、広いビーム束を持
つ必要がある。
【0029】先に説明したように、上記X線ミラー3の
ミラー面は、ビームライン2の光軸方向に沿っては凸面
状であり、光軸と直交する方向には、凹面状の非球面形
状をなす。
【0030】このことから、光軸方向に凸面状とするこ
とにより、ミラー3を固定したまま、ミラーの揺動がな
くても広い露光領域を確保できるとともに、光軸と直交
する方向に凹面状とすることにより、水平方向に拡がる
SOR光をコリメートでき、SOR光の利用角度を高め
るとともに、SOR光強度を高めることができる。
【0031】図2に示すように、上記SORリング1
は、偏向磁石部8…内にそれぞれ配置された4つのチャ
ンバと、これらチャンバを互いに連通する真空パイプ9
…を備える。
【0032】それぞれのチャンバには、電子軌跡が曲げ
られる部分から接線方向に、SOR光を取出す複数の取
出しポートを備えるとともに上記X線ミラー3を配置す
るビームダクト10が設けられる。
【0033】上記ビームダクト10は、ここではSOR
リング1に一体的に設けられ、かつビームライン2の端
部を構成する。
【0034】したがって、SOR光発生源であるSOR
リング1と、X線ミラー3を備えたビームライン2とは
同じ真空系となり、SORリング1とX線ミラー3との
距離を短縮化している。
【0035】一般論として、SORリングから導かれる
SOR光は、電子軌道面に対して鉛直方向にはガウス分
布を持つ鋭い指向性を示すが、水平方向にはリング1全
周に亘って発光するため、多くのSOR光を同一形状
(寸法)のX線ミラーで反射させて強度の向上を図るに
は、SORリングとX線ミラーとの距離を短縮すればよ
い。
【0036】しかるに、SOR光の発光点にX線ミラー
を極力近付けるように設置すれば、SORリングとX線
ミラーとの間の距離が短くてすみ、ビームラインの短縮
化を得られるばかりでなく、小型のミラーであっても強
度の高いSOR光をビームラインに導くことができる。
【0037】本発明においては、X線露光に用いるため
の露光領域拡大ミラーとしてのX線ミラー3を、SOR
リング1とビームライン2との同一真空チャンバ、もし
くは同一真空排気系内に配置することにより、SORリ
ング1とX線ミラー3との間の距離が短くなり、ビーム
ライン2の短縮化と、ミラー反射後のSOR光の強度の
増大を図れる。
【0038】図3に示すように、ミラー面が非球面状を
なす形状構造のX線ミラー3を備えるとともに、この光
軸に沿う両側部に補助ミラー11a,11bを設けても
よい。(なお、先に図1で説明したものと同部品につい
ては、同番号を付して新たな説明を省略する) このような構造を採用することにより、主鏡であるX線
ミラー3による露光ばかりでなく、これまで用いられな
かったビームまでを集光して露光に供することができ、
全体的な集光ビームの強度および均一性を補正する光学
機能を持たせることとなる。
【0039】ところで、ミラー面を非球面状となす特殊
な形状構造のX線ミラー3を備えるには、高い次元の関
数式もしくは特殊関数式からなる複雑形状を創成しなけ
ればならず、さらには、これにともなう加工技術の困難
性が予期される。
【0040】そこで、図4に示すように、任意形状が創
成可能なX線ミラー3を採用し、かつ内部に縦横整然と
配列された多数のアクチュエータである圧電変位素子1
2…により支持する。
【0041】予め、各部位に対応する位置にある圧電変
位素子12…の変位量を設定することで、ミラー面の曲
率を局所的に変位させ、上記形状面を得られる。
【0042】図5に示すように、圧電変位素子12…で
支持されるX線ミラー3を備えるとともに、圧電変位素
子12…はD/A変換器13を介してコンピュータ14
と電気的に接続する。
【0043】さらに、取出し窓であるBe窓4と露光装
置7のマスクとの間に、半透明材からなり、SOR光の
強度分布を測定できるSOR光強度の2次元検出器15
を配置する。この検出器15は、A/D変換器16を介
してコンピュータ14と電気的に接続する。
【0044】このような構成をなすことにより、X線ミ
ラー3で反射されBe窓4を透過するSOR光の一部
を、検出器15が取り込んで、強度分布をリアルタイム
で測定する。
【0045】この強度分布信号はコンピュータ14に送
られ、ここで測定結果を記憶し、かつその結果から、X
線ミラー3の理想の曲面形状を演算して、上記圧電変位
素子12…にフィードバックする。
【0046】結局、圧電変位素子12…の変位量を制御
でき、その結果、X線ミラー3の露光強度の均一性を、
リアルタイムで補正制御することとなる。
【0047】なお、X線ミラー3から反射後のビーム強
度の均一性向上を得るために、X線ミラー3の反射面の
表面粗さや、コーテング膜の膜厚、コーティング膜の材
質等を、SOR光の反射強度分布に応じて、局所的に、
しかも任意に偏在できる。
【0048】一般的に、X線ミラーの表面粗さによるX
線反射強度の低下は、次式で表される。
【0049】 I/Io = exp{−(4πα・sinθ)2 /λ2 } …(1) ただし、 I : 粗さのある面での反射強度。
【0050】Io : 粗さのない理想面での反射強度。
【0051】α : 粗さの2乗平均値の平方根(rm
s値)。
【0052】θ : 斜入射角。
【0053】λ : X線波長。
【0054】上記(1)式から、粗さαを偏在させれ
ば、反射強度を定量的、かつ自由に変化させることがで
き、X線ミラー3で反射した後のSOR光の強度分布を
均一にできる。
【0055】また、真空中においてX線に対する物質の
反射率(R)は、
【数1】 ただし、 N : 1cm3 当りの電子数。 e
: 素電荷。
【0056】mo : 電子質量。 c
: 光速度。
【0057】No : アボガドロ数。 Z
: 原子番号。
【0058】A : 原子量。 ρ
: 密度。
【0059】μ : 線吸収係数。
【0060】で得られることが知られている。
【0061】仮に、ミラー反射面のコーティング材を変
えると、(5)式および(6)式で示されるδ,βの値
が変化し、反射率Rが変わる。
【0062】そのため、X線ミラー3の反射率(R)
は、コーティング材料の選択によって、定量的、かつ自
由に変化させることが可能であり、ミラー反射後のSO
R光強度の均一性を保持できる。
【0063】さらに、同一コーティング材料において
も、コーティングの膜厚を局所的に偏在させれば、反射
強度を変えられるので、ミラー反射強度分布の均一性に
寄与できる。
【0064】このことは、屈折率N2 = n2 −iK
2 の基板上に、コーティングされた屈折率N2
1 −iK1 、厚さdの単層膜に、波長λの光が入射角
φ(屈折角φ´)で入射した場合の反射率R´が次式で
与えられるところから説明がつく。
【0065】
【数2】 ただし、rij : 媒質iから媒質jへ光が入射すると
きのフレネル反射率 tij : 媒質iから媒質jへ光が入射するときのフレ
ネル屈折率 したがって、X線ミラー3のミラー面におけるコーティ
ング膜の膜厚dを局所的に、かつ任意に変化させれば、
ミラー反射後のSOR光の強度分布は均一になる。
【0066】種々の実験の結果、X線ミラー自体の母材
として、炭化けい素(SiC)、窒化けい素(Si3
4 )、溶融石英などを用いるとよく、コーティング材料
としては、白金(Pt)、レニウム(Re)、金(A
u)、タングステン(Rh)を用いるとよい。コーティ
ング膜の膜厚としては、1000オングストローム程度
で充分である。
【0067】なお、上記実施例においては、X線源とし
てシンクロトロンSOR光を適用したが、これに限定さ
れるものではなく、露光用X線源として、レーザプラズ
マ生成X線などであっても、同様な作用効果が得られる
ものである。
【0068】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
ビームラインの短縮化を得るとともに、X線ミラーを固
定状態のままで露光領域の拡大化を図ることができ、さ
らには機構の簡素化と、ミラー反射後のSOR光の強度
向上および均一性の向上を得る等の、種々の効果を奏す
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示す、X線リソグラフィ装
置の概略構成図。
【図2】同実施例の、SORリングおよびビームライン
一部の概略構成図。
【図3】他の実施例の、X線リソグラフィ装置の概略平
面図。
【図4】他の実施例の、X線ミラーと、その支持機構の
斜視図。
【図5】他の実施例の、X線リソグラフィ装置の概略構
成図。
【符号の説明】
1…SORリング、2…ビームライン、3…X線ミラ
ー、4…Be窓、7…露光装置、10…ビームダクト、
11a,11b…サブミラー、12…アクチュエータ
(圧電変位素子)、15…(SOR光強度)2次元検出
器、14…コンピュータ。

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】指向性が強く高強度のSOR(シンクロト
    ロン放射)光発生源としてのSORリングと、このSO
    RリングよりSOR光を取出し、このSOR光を反射
    し、かつ短波長のX線成分を除去するX線ミラーを配置
    した超高真空のビームラインと、このビームライン終端
    部に設けられビームライン側の超高真空領域と大気圧領
    域ないし減圧雰囲気とを区分してX線を取出すBe(ベ
    リリウム)窓と、このBe窓を透過したX線を受け露光
    される露光装置とを具備したX線リソグラフィ装置にお
    いて、上記X線ミラーは、光軸方向に凸面状で、光軸と
    直交する方向には凹面状をなす非球面形状であり、固定
    された状態で、全露光領域を確保する反射面積を有する
    ことを特徴とするX線リソグラフィ装置。
  2. 【請求項2】上記X線ミラーは、上記SORリングに一
    体的に設けられ、ビームラインを構成するビームダクト
    内に収容されることを特徴とする請求項1記載のX線リ
    ソグラフィ装置。
  3. 【請求項3】上記X線ミラーの両側部に沿って、X線ミ
    ラーの露光強度の向上と、その均一性の補正をなすため
    のサブミラーを設けたことを特徴とする請求項1記載の
    X線リソグラフィ装置。
  4. 【請求項4】上記X線ミラーは、内部に縦横整然と配列
    された多数のアクチュエータにより支持され、これらア
    クチュエータ群の駆動によって非球面形状を補正するこ
    とを特徴とする請求項1記載のX線リソグラフィ装置。
  5. 【請求項5】上記X線ミラーの反射側で、コリメートさ
    れた光路中に、反射されるX線の強度をモニタするSO
    R光強度の2次元検出器を備え、この検出器からの強度
    分布信号を上記アクチュエータ群にフィードバックして
    露光強度の均一性をリアルタイムで補正制御する手段を
    備えたことを特徴とする請求項4記載のX線リソグラフ
    ィ装置。
JP4242392A 1992-09-10 1992-09-10 X線リソグラフィ装置 Pending JPH0697027A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006032578A (ja) * 2004-07-14 2006-02-02 Canon Inc 光源装置、当該光源装置を有する露光装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006032578A (ja) * 2004-07-14 2006-02-02 Canon Inc 光源装置、当該光源装置を有する露光装置

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