JPH0696522A - 磁気ディスク装置の復調処理装置 - Google Patents
磁気ディスク装置の復調処理装置Info
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- JPH0696522A JPH0696522A JP24501892A JP24501892A JPH0696522A JP H0696522 A JPH0696522 A JP H0696522A JP 24501892 A JP24501892 A JP 24501892A JP 24501892 A JP24501892 A JP 24501892A JP H0696522 A JPH0696522 A JP H0696522A
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- vth
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 磁気ディスク装置の復調処理装置に関し、サ
ンプル値の状態判定の高速化を図り、短いサンプリング
間隔にも対応可能な装置の提供を目的とする。 【構成】 パーシャルレスポンス方式の磁気ディスク装
置の復調処理装置を、再生信号のサンプル手段１と、入
力サンプル値列Y1,Y2,… Yk-1, Yk,…にオフセット値Ｖ
offsetを与える手段２と、オフセット値付加後のサンプ
ル値列の正、負側の振幅判定用の第１, 第２の閾値Ｖth
+ , Ｖth - の設定手段３と、オフセット値付加後のサン
プル値が、Ｖth + 以上の状態、Ｖth - とＶth + の間で
ある状態、又はＶth - 以下の状態の何れかを検出す
る手段４と、ｋ番目のサンプル値のオフセット量Ｖ
offset( k ) を、ｋ−１番目の状態が、の時は、Ｙ
k-1-A/2,の時はk-1 番目の状態と同じ、の時は、Ｙ
k-1+A/2 に設定する手段５とから構成する。
ンプル値の状態判定の高速化を図り、短いサンプリング
間隔にも対応可能な装置の提供を目的とする。 【構成】 パーシャルレスポンス方式の磁気ディスク装
置の復調処理装置を、再生信号のサンプル手段１と、入
力サンプル値列Y1,Y2,… Yk-1, Yk,…にオフセット値Ｖ
offsetを与える手段２と、オフセット値付加後のサンプ
ル値列の正、負側の振幅判定用の第１, 第２の閾値Ｖth
+ , Ｖth - の設定手段３と、オフセット値付加後のサン
プル値が、Ｖth + 以上の状態、Ｖth - とＶth + の間で
ある状態、又はＶth - 以下の状態の何れかを検出す
る手段４と、ｋ番目のサンプル値のオフセット量Ｖ
offset( k ) を、ｋ−１番目の状態が、の時は、Ｙ
k-1-A/2,の時はk-1 番目の状態と同じ、の時は、Ｙ
k-1+A/2 に設定する手段５とから構成する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は磁気ディスク装置の復調
処理装置に関し、特に、パーシャルレスポンス方式を用
いた磁気ディスク装置からの再生信号を復調する最尤検
出器の状態を検出する復調処理装置に関する。磁気ディ
スク装置の高速、大容量化に伴い、復調回路が扱う信号
は周波数が高くなり、媒体上の記録密度も上昇すること
から信号品質が著しく劣化したものとなる。
処理装置に関し、特に、パーシャルレスポンス方式を用
いた磁気ディスク装置からの再生信号を復調する最尤検
出器の状態を検出する復調処理装置に関する。磁気ディ
スク装置の高速、大容量化に伴い、復調回路が扱う信号
は周波数が高くなり、媒体上の記録密度も上昇すること
から信号品質が著しく劣化したものとなる。
【０００２】この様な劣化した信号の復調に際しては、
従来から行われているピーク検出では信頼性の高い復調
が困難になりつつある。信頼性の高い復調の有効な方法
の１つとしては、制御された波形干渉が付加された再生
信号をビットレートでサンプリングし、復調処理するパ
ーシャルレスポンス方式が公知である。このパーシャル
レスポンス方式の復調処理に関しては、例えば、以下に
示す２つの文献がある。
従来から行われているピーク検出では信頼性の高い復調
が困難になりつつある。信頼性の高い復調の有効な方法
の１つとしては、制御された波形干渉が付加された再生
信号をビットレートでサンプリングし、復調処理するパ
ーシャルレスポンス方式が公知である。このパーシャル
レスポンス方式の復調処理に関しては、例えば、以下に
示す２つの文献がある。
【０００３】(1) E.R.Kretzmer著："Generalization
of a Technique for Binary DataCommunication",〔IEE
E Trans. Comm. Tech. COM-14, pp.67-68,(1966)〕 (2) H.Kobayashi and D.T.Tang共著："Application o
f Partial ResponseChannel Coding to Magnetic Recor
ding systems",〔IBM J. Res. Develop., 14, No. 4, p
p. 368-375,(1970) 〕 また、このパーシャルレスポンス方式の等化方式の一つ
であるクラス４等化方式において最尤検出方を取り入れ
る試みも検討されており、これに関しては、例えば、以
下の２つの文献がある。
of a Technique for Binary DataCommunication",〔IEE
E Trans. Comm. Tech. COM-14, pp.67-68,(1966)〕 (2) H.Kobayashi and D.T.Tang共著："Application o
f Partial ResponseChannel Coding to Magnetic Recor
ding systems",〔IBM J. Res. Develop., 14, No. 4, p
p. 368-375,(1970) 〕 また、このパーシャルレスポンス方式の等化方式の一つ
であるクラス４等化方式において最尤検出方を取り入れ
る試みも検討されており、これに関しては、例えば、以
下の２つの文献がある。
【０００４】(1) M.J.Ferguson著："Optimal Recepti
on for Binary Partial ResponseChannels"〔The Bell
System Technical Journal Vol 51,NO. 2,pp493-505,(1
972) 〕 (2) Roger W. Wood and David A. Petersen 共著："V
iterbi Detection ofClassIV Partial Response on a M
agnetic Recording Channel"〔IEEE Trans. Comm. COM-
34,NO.5, pp454-461,(1986) 〕 これらの文献に記載されたパーシャルレスポンス方式の
復調装置には、読み出されたサンプル値列から最も尤度
の高いデータ列を導き、これを検出結果として出力する
ことが記載されている。この場合、入力したサンプル値
列は以前の状態に依存して変化するしきい値Ｖth + 、Ｖ
th - と比較され、入力サンプル値の状態が判定されなけ
ればならない。従って、状態判定の高速化が可能であ
り、高いデータレートにも対応できる最尤検出器の状態
検出処理が望まれている。
on for Binary Partial ResponseChannels"〔The Bell
System Technical Journal Vol 51,NO. 2,pp493-505,(1
972) 〕 (2) Roger W. Wood and David A. Petersen 共著："V
iterbi Detection ofClassIV Partial Response on a M
agnetic Recording Channel"〔IEEE Trans. Comm. COM-
34,NO.5, pp454-461,(1986) 〕 これらの文献に記載されたパーシャルレスポンス方式の
復調装置には、読み出されたサンプル値列から最も尤度
の高いデータ列を導き、これを検出結果として出力する
ことが記載されている。この場合、入力したサンプル値
列は以前の状態に依存して変化するしきい値Ｖth + 、Ｖ
th - と比較され、入力サンプル値の状態が判定されなけ
ればならない。従って、状態判定の高速化が可能であ
り、高いデータレートにも対応できる最尤検出器の状態
検出処理が望まれている。
【０００５】
【従来の技術】図４は従来のパーシャルレスポンス方式
を用いた磁気ディスク装置において再生信号を復調する
最尤検出器の状態を検出する状態検出器４０の構成を示
すものである。磁気ディスク４１からヘッド４２により
読み出された再生信号は、増幅器４３で増幅された後に
サンプルホールド回路（Ｓ／Ｈ）４４にてサンプリング
され、サンプル値列となる。このサンプル値列は比較器
４５と閾値設定器４６に入力される。比較器４５では、
入力サンプル値列が閾値設定器４６によって設定された
閾値Ｖth+ , Ｖth -と比較され、入力サンプル値が閾値
Ｖth+ 以上か、閾値Ｖth+ とＶth -の間にあるか、また
は閾値Ｖth -以下かの状態が判定される。この状態判定
結果は最尤復調器４７に入力されて復調処理が行われ、
この最尤復調器４７から復調データが出力される。
を用いた磁気ディスク装置において再生信号を復調する
最尤検出器の状態を検出する状態検出器４０の構成を示
すものである。磁気ディスク４１からヘッド４２により
読み出された再生信号は、増幅器４３で増幅された後に
サンプルホールド回路（Ｓ／Ｈ）４４にてサンプリング
され、サンプル値列となる。このサンプル値列は比較器
４５と閾値設定器４６に入力される。比較器４５では、
入力サンプル値列が閾値設定器４６によって設定された
閾値Ｖth+ , Ｖth -と比較され、入力サンプル値が閾値
Ｖth+ 以上か、閾値Ｖth+ とＶth -の間にあるか、また
は閾値Ｖth -以下かの状態が判定される。この状態判定
結果は最尤復調器４７に入力されて復調処理が行われ、
この最尤復調器４７から復調データが出力される。
【０００６】次に、図４の状態検出器４０における状態
の判定と閾値の設定について説明する。入力サンプル値
の第ｋ番目のサンプル値をＹk としたときに、このサン
プル値Ｙk の状態は、この時の閾値をＶth+ (k),Ｖth -
(k) として、以下の３つの状態に分けられる。
の判定と閾値の設定について説明する。入力サンプル値
の第ｋ番目のサンプル値をＹk としたときに、このサン
プル値Ｙk の状態は、この時の閾値をＶth+ (k),Ｖth -
(k) として、以下の３つの状態に分けられる。
【０００７】(1) 状態：Ｙk ≧Ｖth+ (k) (2) 状態：Ｖth+ (k) ＞Ｙｋ＞Ｖth -(k) (3) 状態：Ｙk ≦Ｖth- (k) また、この時の閾値Ｖth+ (k),Ｖth -(k) は、入力サン
プル値の第ｋ−１番目の状態に依存し、次のように設定
される。但し、Ａは理想状態でのロジックシンボル
“１”に対応する振幅である。
プル値の第ｋ−１番目の状態に依存し、次のように設定
される。但し、Ａは理想状態でのロジックシンボル
“１”に対応する振幅である。
【０００８】(a) 第ｋ−１番目の状態がである時、 Ｖth+ (k) ＝Ｙk-1 Ｖth -(k) ＝Ｙk-1 −Ａ (b) 第ｋ−１番目の状態がである時、 Ｖth+ (k) ＝Ｖth+ (k-1), Ｖth -(k) ＝Ｖth -(k-1) (b) 第ｋ−１番目の状態がである時、 Ｖth+ (k) ＝Ｙk-1 ＋Ａ, Ｖth -(k) ＝Ｙk-1 図５はこのようなサンプル値列と閾値の変化の様子を示
すものであり、この図５における変化を時間を追って説
明する。まず、ｋ＝１, ２の時は、サンプル値Ｙ１, Ｙ
２が閾値Ｖth- と閾値Ｖth+ の間にあるので状態であ
り、閾値は変化しない。ところが、ｋ＝３の時は、サン
プル値Ｙ３が閾値Ｖth+ を越えるので状態になる。こ
の時は、次のｋ＝４の時に、閾値Ｖth+ の値が前述の
(a) で説明したように、サンプル値Ｙ３と同じになり、
閾値Ｖth- の値がこのＹ３より閾値幅Ａだけ下がったＹ
３−Ａになる。以後のｋ＝４、５、６の時は、サンプル
値Ｙ４〜Ｙ６が閾値Ｖth- と閾値Ｖth+ の間にあるので
状態であり、閾値はｋ＝４の時と変わらない。そし
て、ｋ＝７の時にサンプル値Ｙ７が閾値Ｖth- を下回る
ので状態になる。この時は、次のｋ＝８の時に、閾値
Ｖth- の値が前述の(c)で説明したように、サンプル値
Ｙ７と同じになり、閾値Ｖth+ の値がこのＹ７より閾値
幅Ａだけ上がったＹ７＋Ａになる。以後のｋ＝８、９、
１０の時は、サンプル値Ｙ８〜Ｙ１０が閾値Ｖth- と閾
値Ｖth+ の間にあるので状態であり、閾値はｋ＝７の
時と変わらない。
すものであり、この図５における変化を時間を追って説
明する。まず、ｋ＝１, ２の時は、サンプル値Ｙ１, Ｙ
２が閾値Ｖth- と閾値Ｖth+ の間にあるので状態であ
り、閾値は変化しない。ところが、ｋ＝３の時は、サン
プル値Ｙ３が閾値Ｖth+ を越えるので状態になる。こ
の時は、次のｋ＝４の時に、閾値Ｖth+ の値が前述の
(a) で説明したように、サンプル値Ｙ３と同じになり、
閾値Ｖth- の値がこのＹ３より閾値幅Ａだけ下がったＹ
３−Ａになる。以後のｋ＝４、５、６の時は、サンプル
値Ｙ４〜Ｙ６が閾値Ｖth- と閾値Ｖth+ の間にあるので
状態であり、閾値はｋ＝４の時と変わらない。そし
て、ｋ＝７の時にサンプル値Ｙ７が閾値Ｖth- を下回る
ので状態になる。この時は、次のｋ＝８の時に、閾値
Ｖth- の値が前述の(c)で説明したように、サンプル値
Ｙ７と同じになり、閾値Ｖth+ の値がこのＹ７より閾値
幅Ａだけ上がったＹ７＋Ａになる。以後のｋ＝８、９、
１０の時は、サンプル値Ｙ８〜Ｙ１０が閾値Ｖth- と閾
値Ｖth+ の間にあるので状態であり、閾値はｋ＝７の
時と変わらない。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
状態検出器４０では、サンプル値が２つの閾値Ｖth- と
Ｖth+ の範囲から外に出た場合は、閾値Ｖth- とＶth+
とを間隔Ａを保って同時に変化させなければならないの
で、データレートが上がってサンプリング間隔が短くな
った場合に、閾値Ｖth- とＶth+ の間隔Ａを保持した同
時変化ができなくなる可能性があり、同時性の点で動作
が困難になる恐れがある。
状態検出器４０では、サンプル値が２つの閾値Ｖth- と
Ｖth+ の範囲から外に出た場合は、閾値Ｖth- とＶth+
とを間隔Ａを保って同時に変化させなければならないの
で、データレートが上がってサンプリング間隔が短くな
った場合に、閾値Ｖth- とＶth+ の間隔Ａを保持した同
時変化ができなくなる可能性があり、同時性の点で動作
が困難になる恐れがある。
【００１０】そこで、本発明は、磁気ディスク装置の復
調処理におけるサンプル値の状態判定の高速化が図れ、
データレートが上がってサンプリング間隔が短くなった
場合にも対応可能な磁気ディスク装置の復調処理装置を
提供することを目的とする。
調処理におけるサンプル値の状態判定の高速化が図れ、
データレートが上がってサンプリング間隔が短くなった
場合にも対応可能な磁気ディスク装置の復調処理装置を
提供することを目的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成する本発
明の磁気ディスク装置の復調処理装置は、パーシャルレ
スポンス方式を用いた磁気ディスク装置からの再生信号
を復調する最尤検出器の状態を検出する復調処理装置で
あって、図１に示すように、再生信号をサンプリングし
て入力サンプル信号を作るサンプル手段１と、入力サン
プル値列Ｙ1,Ｙ 2,Ｙ3,…Ｙk-1,Ｙk , …に対して、オフ
セット値Ｖoffsetを与えるオフセット値付加手段２と、
このオフセット値が付加されたサンプル値列の正側、及
び負側の振幅の大きさを判定する為の固定された第１の
閾値Ｖth + と、第２の閾値Ｖth -を設定する閾値設定手
段３と、前記オフセット値が付加されたサンプル値が、
前記第１の閾値以上である第１の状態、前記第１の閾値
と第２の閾値との間である第２の状態、または前記第２
の閾値以下の第３の状態の何れの状態であるかを検出す
る状態検出手段４と、理想状態でのロジックシンボル
“１”に対応する振幅をＡとした時に、第ｋ番目のサン
プル値のオフセット量Ｖoffset( k ) を、第ｋ−１番目
の状態が、前記第１の状態の時は、Ｙk-1 −Ａ／２、前
記第２の状態の時は、第ｋ−１番目の状態と同じ、前記
第３の状態の時は、Ｙk-1 ＋Ａ／２に設定するオフセッ
ト量設定手段５とを備えることを特徴としている。
明の磁気ディスク装置の復調処理装置は、パーシャルレ
スポンス方式を用いた磁気ディスク装置からの再生信号
を復調する最尤検出器の状態を検出する復調処理装置で
あって、図１に示すように、再生信号をサンプリングし
て入力サンプル信号を作るサンプル手段１と、入力サン
プル値列Ｙ1,Ｙ 2,Ｙ3,…Ｙk-1,Ｙk , …に対して、オフ
セット値Ｖoffsetを与えるオフセット値付加手段２と、
このオフセット値が付加されたサンプル値列の正側、及
び負側の振幅の大きさを判定する為の固定された第１の
閾値Ｖth + と、第２の閾値Ｖth -を設定する閾値設定手
段３と、前記オフセット値が付加されたサンプル値が、
前記第１の閾値以上である第１の状態、前記第１の閾値
と第２の閾値との間である第２の状態、または前記第２
の閾値以下の第３の状態の何れの状態であるかを検出す
る状態検出手段４と、理想状態でのロジックシンボル
“１”に対応する振幅をＡとした時に、第ｋ番目のサン
プル値のオフセット量Ｖoffset( k ) を、第ｋ−１番目
の状態が、前記第１の状態の時は、Ｙk-1 −Ａ／２、前
記第２の状態の時は、第ｋ−１番目の状態と同じ、前記
第３の状態の時は、Ｙk-1 ＋Ａ／２に設定するオフセッ
ト量設定手段５とを備えることを特徴としている。
【００１２】
【作用】本発明の磁気ディスク装置の復調処理装置によ
れば、入力サンプル値列に、その前の状態の入力サンプ
ル値を基にしてオフセットが与えられ、これを固定の閾
値と比較してその状態が判定される。この結果、状態判
定の高速化が可能となり、高いデータレートにも対応で
きる最尤検出器が実現される。
れば、入力サンプル値列に、その前の状態の入力サンプ
ル値を基にしてオフセットが与えられ、これを固定の閾
値と比較してその状態が判定される。この結果、状態判
定の高速化が可能となり、高いデータレートにも対応で
きる最尤検出器が実現される。
【００１３】
【実施例】以下添付図面を用いて本発明の実施例を詳細
に説明する。図２(a) は本発明の一実施例の磁気ディス
ク装置の復調処理装置２０の構成を示すものであり、図
４に示したサンプルホルダ４４以降の部分が示されてい
る。なお、以下の説明において、Ａは理想状態でのロジ
ックシンボル“１”に対応する振幅である。
に説明する。図２(a) は本発明の一実施例の磁気ディス
ク装置の復調処理装置２０の構成を示すものであり、図
４に示したサンプルホルダ４４以降の部分が示されてい
る。なお、以下の説明において、Ａは理想状態でのロジ
ックシンボル“１”に対応する振幅である。
【００１４】図示しない磁気ディスクからヘッドにより
読み出された再生信号は、増幅された後にサンプルホー
ルド回路にてサンプリングされ、図２(a) に示すように
入力サンプル値列となって加算器２１と閾値設定器４６
に入力される。加算器２１には後述するオフセット値設
定器２３からのオフセット値が入力されており、この加
算器２１に入力されたサンプル値列は、オフセット値と
加算されて比較器４５に入力される。比較器４５では、
オフセット値が付加された入力サンプル値列が固定の閾
値Ｖth+ ＝＋Ａ／２と閾値Ｖth -＝−Ａ／２と比較さ
れ、オフセット値付加後の入力サンプル値が閾値Ｖth+
以上か、閾値Ｖth+ とＶth -の間にあるか、または閾値
Ｖth -以下かの状態が判定される。この状態判定結果は
オフセット値設定器２３と最尤復調器２４に入力され
る。そして、オフセット値設定器２３ではオフセット値
が決定され、最尤復調器２４では復調処理が行われ、こ
の最尤復調器２４から復調データが出力される。
読み出された再生信号は、増幅された後にサンプルホー
ルド回路にてサンプリングされ、図２(a) に示すように
入力サンプル値列となって加算器２１と閾値設定器４６
に入力される。加算器２１には後述するオフセット値設
定器２３からのオフセット値が入力されており、この加
算器２１に入力されたサンプル値列は、オフセット値と
加算されて比較器４５に入力される。比較器４５では、
オフセット値が付加された入力サンプル値列が固定の閾
値Ｖth+ ＝＋Ａ／２と閾値Ｖth -＝−Ａ／２と比較さ
れ、オフセット値付加後の入力サンプル値が閾値Ｖth+
以上か、閾値Ｖth+ とＶth -の間にあるか、または閾値
Ｖth -以下かの状態が判定される。この状態判定結果は
オフセット値設定器２３と最尤復調器２４に入力され
る。そして、オフセット値設定器２３ではオフセット値
が決定され、最尤復調器２４では復調処理が行われ、こ
の最尤復調器２４から復調データが出力される。
【００１５】図２(b) は比較器２２の内部構成を示すも
のであり、比較器２２の内部には２つのコンパレータ２
２ａ，２２ｂがあって、それぞれ固定された閾値＋Ａ／
２と閾値−Ａ／２に対する入力サンプル値の大小が比較
され、入力サンプル値の状態が、以下の３つの状態に分
けられる。 (1) 状態：閾値＋Ａ／２以上 (2) 状態：閾値−Ａ／２と閾値＋Ａ／２の間 (3) 状態：閾値−Ａ／２以下 判定結果は、例えば２ビットのロジック信号として出力
される。この実施例では判定結果は下表のようになる。 〔表１〕入力サンプル値の状態の判定結果 状 態 条件 出力Ｓ1 出力Ｓ2 閾値＋Ａ／２以上 Ｈ Ｌ -A/2と+A/2の間 Ｌ Ｌ 閾値−Ａ／２以下 Ｌ Ｈ また、図２(a) におけるオフセット設定器２３は、遅延
素子３１、第１の加算器３２、切換スイッチ３３、オフ
セット電源３４、第２の加算器３５、開閉スイッチ３
６、レジスタ３７、および状態判定結果の遅延素子３８
から構成されている。遅延素子３１では入力サンプル値
に対して１ステップの遅延が行われ、１つ前のサンプル
値Ｙk=1 が得られる。このサンプル値Ｙk=1 は、加算器
３２、加算器３５、開閉スイッチ３６、及びレジスタ３
７を経て加算器２１に入力される。レジスタ３７は、次
にオフセット値が更新されるまで、即ち、次にＳ1(k-1)
またはＳ2(k-1)が“Ｈ”になるまで同一のオフセット値
を保つ動作をする。また、比較器２２よりオフセット設
定器２３に入力された状態判定結果Ｓ1(k), Ｓ2(k)は、
遅延素子３８によって１ステップの遅延が行われ、１つ
前の状態判定結果Ｓ1(k-1), Ｓ2(k-1)が得られる。前述
の切換スイッチ３３は、この状態判定結果Ｓ1(k-1)が
“Ｈ”の時に図の右側に倒れてサンプル値Ｙk=1 にオフ
セット電圧−Ａ／２を加え、状態判定結果Ｓ2(k-1)が
“Ｈ”の時に図の左側に倒れてサンプル値Ｙ k=1 にオフ
セット電圧＋Ａ／２を加える。更に、開閉スイッチ３６
は、１つ前の状態判定結果Ｓ1(k-1)又はＳ2(k-1)が
“Ｈ”の時にＯＮとなる。
のであり、比較器２２の内部には２つのコンパレータ２
２ａ，２２ｂがあって、それぞれ固定された閾値＋Ａ／
２と閾値−Ａ／２に対する入力サンプル値の大小が比較
され、入力サンプル値の状態が、以下の３つの状態に分
けられる。 (1) 状態：閾値＋Ａ／２以上 (2) 状態：閾値−Ａ／２と閾値＋Ａ／２の間 (3) 状態：閾値−Ａ／２以下 判定結果は、例えば２ビットのロジック信号として出力
される。この実施例では判定結果は下表のようになる。 〔表１〕入力サンプル値の状態の判定結果 状 態 条件 出力Ｓ1 出力Ｓ2 閾値＋Ａ／２以上 Ｈ Ｌ -A/2と+A/2の間 Ｌ Ｌ 閾値−Ａ／２以下 Ｌ Ｈ また、図２(a) におけるオフセット設定器２３は、遅延
素子３１、第１の加算器３２、切換スイッチ３３、オフ
セット電源３４、第２の加算器３５、開閉スイッチ３
６、レジスタ３７、および状態判定結果の遅延素子３８
から構成されている。遅延素子３１では入力サンプル値
に対して１ステップの遅延が行われ、１つ前のサンプル
値Ｙk=1 が得られる。このサンプル値Ｙk=1 は、加算器
３２、加算器３５、開閉スイッチ３６、及びレジスタ３
７を経て加算器２１に入力される。レジスタ３７は、次
にオフセット値が更新されるまで、即ち、次にＳ1(k-1)
またはＳ2(k-1)が“Ｈ”になるまで同一のオフセット値
を保つ動作をする。また、比較器２２よりオフセット設
定器２３に入力された状態判定結果Ｓ1(k), Ｓ2(k)は、
遅延素子３８によって１ステップの遅延が行われ、１つ
前の状態判定結果Ｓ1(k-1), Ｓ2(k-1)が得られる。前述
の切換スイッチ３３は、この状態判定結果Ｓ1(k-1)が
“Ｈ”の時に図の右側に倒れてサンプル値Ｙk=1 にオフ
セット電圧−Ａ／２を加え、状態判定結果Ｓ2(k-1)が
“Ｈ”の時に図の左側に倒れてサンプル値Ｙ k=1 にオフ
セット電圧＋Ａ／２を加える。更に、開閉スイッチ３６
は、１つ前の状態判定結果Ｓ1(k-1)又はＳ2(k-1)が
“Ｈ”の時にＯＮとなる。
【００１６】次に、図２(a) の復調処理装置２０におけ
るオフセット値の設定について説明する。入力サンプル
値の第ｋ番目のサンプル値をＹk とすると、このサンプ
ル値Ｙkには加算器２１においてオフセット値Ｖoff(k)
が付加されるので、オフセット値付加後のサンプル値Ｙ
k −Ｖoff(k)の状態は、この時の閾値を＋Ａ／２, −Ａ
／２として、以下の３つの状態に分けられる。
るオフセット値の設定について説明する。入力サンプル
値の第ｋ番目のサンプル値をＹk とすると、このサンプ
ル値Ｙkには加算器２１においてオフセット値Ｖoff(k)
が付加されるので、オフセット値付加後のサンプル値Ｙ
k −Ｖoff(k)の状態は、この時の閾値を＋Ａ／２, −Ａ
／２として、以下の３つの状態に分けられる。
【００１７】(1) 状態：Ｙk −Ｖoff(k)≧＋Ａ／２ (2) 状態：＋Ａ／２＞Ｙk −Ｖoff(k)＞−Ａ／２ (3) 状態：Ｙk −Ｖoff(k)≦−Ａ／２ また、この時のオフセット値Ｖoff(k)は、入力サンプル
値の第ｋ−１番目の状態に依存し、次のように設定され
る。但し、０≦｜Ｙk ｜≦Ａである。
値の第ｋ−１番目の状態に依存し、次のように設定され
る。但し、０≦｜Ｙk ｜≦Ａである。
【００１８】(a) 第ｋ−１番目の状態がである時、Ｖ
off(k)＝Ｙk-1 −Ａ／２ (b) 第ｋ−１番目の状態がである時、Ｖoff(k)＝Ｖof
f(k-1) (b) 第ｋ−１番目の状態がである時、Ｖoff(k)＝Ｙ
k-1 ＋Ａ／２ 図３はこのようなサンプル値列とオフセット値の変化の
様子を示すものであり、サンプル値列として図５で示し
たものと同じものが入力されるとして、この図３におけ
るオフセット値の変化を時間を追って説明する。まず、
ｋ＝１, ２の時は、サンプル値Ｙ１, Ｙ２が閾値−Ａ／
２と閾値＋Ａ／２の間にあるので状態であり、オフセ
ット値は以前の状態と同じで変化しない。ところが、ｋ
＝３の時は、サンプル値Ｙ３が閾値＋Ａ／２を越えるの
で状態になる。この時は、次のｋ＝４の時に、オフセ
ット値Ｖoff(k)の値が前述の(a) で説明したように、Ｙ
３−Ａ／２となる。よって、この時に加算器２１に入力
されるサンプル値をＹ４′とすると、オフセット値付加
後のサンプル値Ｙ４は、Ｙ４＝Ｙ４′−Ｙ３＋Ａ／２と
なり、従来例で説明した閾値＋Ａ／２をＹ３の値に引き
上げたのと同様の判定が行える。
off(k)＝Ｙk-1 −Ａ／２ (b) 第ｋ−１番目の状態がである時、Ｖoff(k)＝Ｖof
f(k-1) (b) 第ｋ−１番目の状態がである時、Ｖoff(k)＝Ｙ
k-1 ＋Ａ／２ 図３はこのようなサンプル値列とオフセット値の変化の
様子を示すものであり、サンプル値列として図５で示し
たものと同じものが入力されるとして、この図３におけ
るオフセット値の変化を時間を追って説明する。まず、
ｋ＝１, ２の時は、サンプル値Ｙ１, Ｙ２が閾値−Ａ／
２と閾値＋Ａ／２の間にあるので状態であり、オフセ
ット値は以前の状態と同じで変化しない。ところが、ｋ
＝３の時は、サンプル値Ｙ３が閾値＋Ａ／２を越えるの
で状態になる。この時は、次のｋ＝４の時に、オフセ
ット値Ｖoff(k)の値が前述の(a) で説明したように、Ｙ
３−Ａ／２となる。よって、この時に加算器２１に入力
されるサンプル値をＹ４′とすると、オフセット値付加
後のサンプル値Ｙ４は、Ｙ４＝Ｙ４′−Ｙ３＋Ａ／２と
なり、従来例で説明した閾値＋Ａ／２をＹ３の値に引き
上げたのと同様の判定が行える。
【００１９】以後のｋ＝４、５、６の時は、サンプル値
Ｙ４〜Ｙ６が閾値−Ａ／２と閾値＋Ａ／２の間にあるの
で状態であり、オフセット値はｋ＝４の時と変わらな
い。そして、ｋ＝７の時にサンプル値Ｙ７が閾値−Ａ／
２を下回るので状態になる。この時は、次のｋ＝８の
時に、オフセット値Ｖoff(k)の値が前述の(c) で説明し
たように、Ｙ７＋Ａ／２となる。よって、この時に加算
器２１に入力されるサンプル値をＹ８′とすると、オフ
セット値付加後のサンプル値Ｙ８は、Ｙ８＝Ｙ８′−Ｙ
７−Ａ／２となり、従来例で説明した閾値−Ａ／２をＹ
７の値に引き下げたのと同様の判定が行える。
Ｙ４〜Ｙ６が閾値−Ａ／２と閾値＋Ａ／２の間にあるの
で状態であり、オフセット値はｋ＝４の時と変わらな
い。そして、ｋ＝７の時にサンプル値Ｙ７が閾値−Ａ／
２を下回るので状態になる。この時は、次のｋ＝８の
時に、オフセット値Ｖoff(k)の値が前述の(c) で説明し
たように、Ｙ７＋Ａ／２となる。よって、この時に加算
器２１に入力されるサンプル値をＹ８′とすると、オフ
セット値付加後のサンプル値Ｙ８は、Ｙ８＝Ｙ８′−Ｙ
７−Ａ／２となり、従来例で説明した閾値−Ａ／２をＹ
７の値に引き下げたのと同様の判定が行える。
【００２０】このような処理により、以上説明した実施
例の復調処理装置２０では、サンプル値が２つの閾値−
Ａ／２と＋Ａ／２の範囲から外に出た場合は、オフセッ
ト値のみを変化させれば良いので、データレートが上が
ってサンプリング間隔が短くなった場合でもオフセット
値の追従動作が遅くなることがなく、磁気ディスク装置
の復調処理におけるサンプル値の状態判定の高速化が図
れる。
例の復調処理装置２０では、サンプル値が２つの閾値−
Ａ／２と＋Ａ／２の範囲から外に出た場合は、オフセッ
ト値のみを変化させれば良いので、データレートが上が
ってサンプリング間隔が短くなった場合でもオフセット
値の追従動作が遅くなることがなく、磁気ディスク装置
の復調処理におけるサンプル値の状態判定の高速化が図
れる。
【００２１】なお、前述の実施例に於いては、アナログ
処理のイメージで表現しているが、これをディジタル処
理で行っても何ら困難はない。
処理のイメージで表現しているが、これをディジタル処
理で行っても何ら困難はない。
【００２２】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
入力サンプル値列に、その前の状態の入力サンプル値を
基にしたオフセット値が与えられ、これを固定の閾値と
比較してその状態が判定されるので、状態判定の高速化
が可能となり、高いデータレートにも対応できる最尤検
出器が実現されるという効果がある。
入力サンプル値列に、その前の状態の入力サンプル値を
基にしたオフセット値が与えられ、これを固定の閾値と
比較してその状態が判定されるので、状態判定の高速化
が可能となり、高いデータレートにも対応できる最尤検
出器が実現されるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の磁気ディスク装置の復調処理装置の構
成を示す原理構成図である。
成を示す原理構成図である。
【図２】(a) は本発明の磁気ディスク装置の復調処理装
置の一実施例の構成を示すブロック回路図であり、(b)
は(a) の比較器の構成を示す回路図である。
置の一実施例の構成を示すブロック回路図であり、(b)
は(a) の比較器の構成を示す回路図である。
【図３】本発明のサンプル値列とオフセット値の変化を
示す説明図である。
示す説明図である。
【図４】従来の最尤検出器の状態検出器の構成を示すブ
ロック回路図である。
ロック回路図である。
【図５】従来のサンプル値列と閾値の変化を示す説明図
である。
である。
１…サンプル手段 ２…オフセット値付加手段 ３…状態検出手段 ４…閾値設定手段 ５…オフセット値設定手段 ２１…加算器 ２２…比較器 ２３…閾値設定器 ２４…最尤復調器 ３１，３８…遅延素子 ３２，３５…加算器 ３３…切換スイッチ ３４…オフセット電源 ３６…開閉スイッチ ３７…レジスタ
Claims (1)
- 【請求項１】 パーシャルレスポンス方式を用いた磁気
ディスク装置からの再生信号を復調する最尤検出器の状
態を検出する復調処理装置であって、 再生信号をサンプリングして入力サンプル信号を作るサ
ンプル手段(1) と、 入力サンプル値列（Ｙ1,Ｙ2,Ｙ3,…Ｙk-1,Ｙk , …）に
対して、オフセット値（Ｖoffset）を与えるオフセット
値付加手段(2) と、 このオフセット値が付加されたサンプル値列の正側、及
び負側の振幅の大きさを判定する為の固定された第１の
閾値（Ｖth + ）と、第２の閾値（Ｖth - ）を設定する閾
値設定手段(3) と、 前記オフセット値が付加されたサンプル値が、前記第１
の閾値以上である第１の状態、前記第１の閾値と第２の
閾値との間である第２の状態、または前記第２の閾値以
下の第３の状態の何れの状態であるかを検出する状態検
出手段(4) と、 理想状態でのロジックシンボル“１”に対応する振幅を
Ａとした時に、第ｋ番目のサンプル値のオフセット量
（Ｖoffset( k ) ）を、第ｋ−１番目の状態が、 前記第１の状態の時は、Ｙk-1 −Ａ／２、 前記第２の状態の時は、第ｋ−１番目の状態と同じ、 前記第３の状態の時は、Ｙk-1 ＋Ａ／２、 に設定するオフセット量設定手段(5) と、 を備えることを特徴とする磁気ディスク装置の復調処理
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24501892A JPH0696522A (ja) | 1992-09-14 | 1992-09-14 | 磁気ディスク装置の復調処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24501892A JPH0696522A (ja) | 1992-09-14 | 1992-09-14 | 磁気ディスク装置の復調処理装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0696522A true JPH0696522A (ja) | 1994-04-08 |
Family
ID=17127356
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24501892A Withdrawn JPH0696522A (ja) | 1992-09-14 | 1992-09-14 | 磁気ディスク装置の復調処理装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0696522A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2001054125A1 (fr) * | 2000-01-17 | 2001-07-26 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Appareil d'enregistrement/reproduction numeriques de donnees |
| US6876607B2 (en) | 2000-06-29 | 2005-04-05 | Fujitsu Limited | Data recording method and apparatus for reducing fluctuation in DC component |
-
1992
- 1992-09-14 JP JP24501892A patent/JPH0696522A/ja not_active Withdrawn
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2001054125A1 (fr) * | 2000-01-17 | 2001-07-26 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Appareil d'enregistrement/reproduction numeriques de donnees |
| US6674707B2 (en) | 2000-01-17 | 2004-01-06 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Digital recorded data reproducing device |
| US6876607B2 (en) | 2000-06-29 | 2005-04-05 | Fujitsu Limited | Data recording method and apparatus for reducing fluctuation in DC component |
| US7023769B2 (en) | 2000-06-29 | 2006-04-04 | Fujitsu Limited | Data recording method, data reproduction method, data recording device, data reproduction device and optical recording medium |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19991130 |