JPH0683265B2 - デイジタル中継器の動作余裕度監視装置 - Google Patents
デイジタル中継器の動作余裕度監視装置Info
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- JPH0683265B2 JPH0683265B2 JP60245382A JP24538285A JPH0683265B2 JP H0683265 B2 JPH0683265 B2 JP H0683265B2 JP 60245382 A JP60245382 A JP 60245382A JP 24538285 A JP24538285 A JP 24538285A JP H0683265 B2 JPH0683265 B2 JP H0683265B2
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- circuit
- repeater
- signal
- transmission line
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は光通信方式やPCM通信方式等のディジタル通信
方式におけるディジタル中継器の動作余裕度監視装置に
関する。
方式におけるディジタル中継器の動作余裕度監視装置に
関する。
従来、ディジタル中継器の動作を監視する方式として
は、光中継器で採用されるLDバイアス監視方式と、PCM
中継器で採用されるパルストリオ余裕度監視方式とが知
られている。
は、光中継器で採用されるLDバイアス監視方式と、PCM
中継器で採用されるパルストリオ余裕度監視方式とが知
られている。
第２図は、LDバイアス監視を行なう光中継器のブロック
図であり、光伝送路２から光中継器１に入力した光信号
はO/E変換回路３で電気信号に変換され、再びE/O変換回
路４で光信号に変換されることにより波形整形等の中継
動作が行なわれて光伝送路５に送出される。E/O変換回
路４内の半導体レーザ（LD）のバイアス値はLDバイアス
監視回路６で監視されており、LDバイアス監視回路６で
得られた半導体レーザのバイアス値は、監視情報挿入回
路７において監視用光伝送路等の別の光伝送路８に挿入
され、監視元に返送される。なお同図において、９は光
伝送路８を介して光中継器１に入力された光信号を電気
信号に変換するO/E変換回路、10は監視情報挿入回路７
でO/E変換回路９の出力にLDバイアス監視情報が挿入さ
れた電気信号を光信号に変換するE/O変換回路である。
図であり、光伝送路２から光中継器１に入力した光信号
はO/E変換回路３で電気信号に変換され、再びE/O変換回
路４で光信号に変換されることにより波形整形等の中継
動作が行なわれて光伝送路５に送出される。E/O変換回
路４内の半導体レーザ（LD）のバイアス値はLDバイアス
監視回路６で監視されており、LDバイアス監視回路６で
得られた半導体レーザのバイアス値は、監視情報挿入回
路７において監視用光伝送路等の別の光伝送路８に挿入
され、監視元に返送される。なお同図において、９は光
伝送路８を介して光中継器１に入力された光信号を電気
信号に変換するO/E変換回路、10は監視情報挿入回路７
でO/E変換回路９の出力にLDバイアス監視情報が挿入さ
れた電気信号を光信号に変換するE/O変換回路である。
また第３図は、パルストリオ余裕度の監視を行なうPCM
中継器のブロック図であり、PCM伝送路11からPCM中継器
12に入力したバイポーラなPCM信号はB/U変換回路13でユ
ニポーラなPCM信号に変換され、回調回路17で生成され
た再生クロックに基づいて等化器14で等化された後、U/
B変換回路15でバイポーラなPCM信号に変換されてPCM伝
送路16に送出される。PCM中継器12のパルストリオ余裕
度の監視は、PCM伝送路11を介してPCM中継器12にパルス
トリオ監視用の信号を入力し、U/B変換回路15の出力か
らそのパルストリオ監視用信号に応じた信号成分のみを
帯域炉波器18で抽出して監視伝送路19により監視元に返
送し、返送された信号に基づき監視元でパルストリオ余
裕度の測定が行なわれる。
中継器のブロック図であり、PCM伝送路11からPCM中継器
12に入力したバイポーラなPCM信号はB/U変換回路13でユ
ニポーラなPCM信号に変換され、回調回路17で生成され
た再生クロックに基づいて等化器14で等化された後、U/
B変換回路15でバイポーラなPCM信号に変換されてPCM伝
送路16に送出される。PCM中継器12のパルストリオ余裕
度の監視は、PCM伝送路11を介してPCM中継器12にパルス
トリオ監視用の信号を入力し、U/B変換回路15の出力か
らそのパルストリオ監視用信号に応じた信号成分のみを
帯域炉波器18で抽出して監視伝送路19により監視元に返
送し、返送された信号に基づき監視元でパルストリオ余
裕度の測定が行なわれる。
このように、従来のディジタル中継器においても何等か
の監視手段は備えられているが、ディジタル中継器の誤
り率を正確に監視するまでには到っていない。即ち、上
述した従来の光中継器１における監視方式では、中継器
の全回路のうちのE/O変換回路４の余裕度のみしか監視
できず、半導体レーザの劣化等は監視し得るが、全体的
な誤り率は監視できず、また第３図の従来のPCM中継器1
2のパルストリオ監視方式でも、監視結果と中継器の誤
り率等との相関関係を正確に把握することが困難であ
る。
の監視手段は備えられているが、ディジタル中継器の誤
り率を正確に監視するまでには到っていない。即ち、上
述した従来の光中継器１における監視方式では、中継器
の全回路のうちのE/O変換回路４の余裕度のみしか監視
できず、半導体レーザの劣化等は監視し得るが、全体的
な誤り率は監視できず、また第３図の従来のPCM中継器1
2のパルストリオ監視方式でも、監視結果と中継器の誤
り率等との相関関係を正確に把握することが困難であ
る。
本発明はこのような事情に鑑みて為されたもので、その
目的は、ディジタル中継器の動作余裕度を誤り率として
正確に測定し得る動作余裕度監視装置を提供することに
ある。
目的は、ディジタル中継器の動作余裕度を誤り率として
正確に測定し得る動作余裕度監視装置を提供することに
ある。
本発明は上記目的を達成するために、自ディジタル中継
器に伝送路を介して入力された、動作余裕度の試験内容
を識別する付加ビットが付加された信号に対して、該信
号中から前記付加ビットを分離する付加ビット分離回路
と、 自ディジタル中継器の入力部に設けられ、前記付加ビッ
ト分離回路で分離された付加ビットの試験内容に対応し
た動作余裕度の試験を行う動作余裕度試験回路と、 この動作余裕度試験回路の試験中における前記伝送路を
介して入力される信号の符号誤り率を検出する符号誤り
率検出回路と、 この符号誤り率検出回路で検出された符号誤り率を伝送
路に送出して返送する監視情報挿入回路とを設ける。
器に伝送路を介して入力された、動作余裕度の試験内容
を識別する付加ビットが付加された信号に対して、該信
号中から前記付加ビットを分離する付加ビット分離回路
と、 自ディジタル中継器の入力部に設けられ、前記付加ビッ
ト分離回路で分離された付加ビットの試験内容に対応し
た動作余裕度の試験を行う動作余裕度試験回路と、 この動作余裕度試験回路の試験中における前記伝送路を
介して入力される信号の符号誤り率を検出する符号誤り
率検出回路と、 この符号誤り率検出回路で検出された符号誤り率を伝送
路に送出して返送する監視情報挿入回路とを設ける。
監視元例えば端局中継器より被測定中継器番号，測定項
目等の情報を含む付加ビットが伝送路を経由して被測定
中継器に入力されると、この付加ビットは付加ビット分
離回路で分離される。付加ビットには、あらかじめ動作
余裕度試験のなかの種々の試験内容を指定するための制
御情報が設定されている。そして、動作余裕度試験回路
は、この分離された付加ビットにより指定された試験内
容に対応した動作余裕度試験を行うための各種の動作、
例えば入力レベル余裕度試験のためのアッテネータの挿
入,S/N余裕度試験のための雑音の挿入，ジッタ余裕度試
験のための等化器用同調回路の中心周波数の変動操作等
を行なう。このような動作が行なわれている最中に、伝
送路を介して中継器にディジタル信号が入力されると、
符号誤り率検出回路で符号の誤り率が検出され、その符
号誤り率が監視情報挿入回路により伝送路に挿入されて
端局中継器等の監視元に返送される。
目等の情報を含む付加ビットが伝送路を経由して被測定
中継器に入力されると、この付加ビットは付加ビット分
離回路で分離される。付加ビットには、あらかじめ動作
余裕度試験のなかの種々の試験内容を指定するための制
御情報が設定されている。そして、動作余裕度試験回路
は、この分離された付加ビットにより指定された試験内
容に対応した動作余裕度試験を行うための各種の動作、
例えば入力レベル余裕度試験のためのアッテネータの挿
入,S/N余裕度試験のための雑音の挿入，ジッタ余裕度試
験のための等化器用同調回路の中心周波数の変動操作等
を行なう。このような動作が行なわれている最中に、伝
送路を介して中継器にディジタル信号が入力されると、
符号誤り率検出回路で符号の誤り率が検出され、その符
号誤り率が監視情報挿入回路により伝送路に挿入されて
端局中継器等の監視元に返送される。
第１図は本発明の実施例のブロック図であり、本発明を
PCM中継器に適用した例を示す。
PCM中継器に適用した例を示す。
信号には、通常の信号に動作余裕度試験を行う中継器番
号、試験の測定項目、測定条件等をコードした付加ビッ
トが付加されている。第１図において、PCM伝送路20を
介してPCM中継器21に入力されたバイポーラなPCM信号
は、動作余裕度試験回路22を経由してB/U変換回路23に
加えられ、ここでユニポーラなPCM信号に変換される。B
/U変換回路23の出力は、等化器24に入力され、ここで同
調回路25で生成された再生クロックにより等化処理され
た信号が付加ビット分離回路26に入力される。付加ビッ
ト分離回路26は、入力された信号を別の中継器に中継す
る為にそのまま後段の符号誤り検出回路27に送出すると
共に、入力信号中に付加ビットが含まれていればこれを
抽出して動作余裕度試験回路22の制御回路220へ入力す
る。
号、試験の測定項目、測定条件等をコードした付加ビッ
トが付加されている。第１図において、PCM伝送路20を
介してPCM中継器21に入力されたバイポーラなPCM信号
は、動作余裕度試験回路22を経由してB/U変換回路23に
加えられ、ここでユニポーラなPCM信号に変換される。B
/U変換回路23の出力は、等化器24に入力され、ここで同
調回路25で生成された再生クロックにより等化処理され
た信号が付加ビット分離回路26に入力される。付加ビッ
ト分離回路26は、入力された信号を別の中継器に中継す
る為にそのまま後段の符号誤り検出回路27に送出すると
共に、入力信号中に付加ビットが含まれていればこれを
抽出して動作余裕度試験回路22の制御回路220へ入力す
る。
符号誤り検出回路27は信号中の符号誤りを検出するもの
で、符号誤りを検出すると符号誤り計数回路28をカウン
トアップする。また、例えば所定文字数だけの符号誤り
処理を行なうと符号誤り計数回路28をリセットする。
で、符号誤りを検出すると符号誤り計数回路28をカウン
トアップする。また、例えば所定文字数だけの符号誤り
処理を行なうと符号誤り計数回路28をリセットする。
符号誤り検出回路27の出力は、U/B変換回路29に入力さ
れ、ここで再びバイポーラなPCM信号に変換されてPCM伝
送路30に送出される。
れ、ここで再びバイポーラなPCM信号に変換されてPCM伝
送路30に送出される。
また、監視用伝送路や下り伝送路等の別のPCM伝送路31
からPCM中継器21に入力されたバイポーラなPCM信号は、
B/U変換回路32でユニポーラなPCM信号に変換され、等化
器33で等化されたのち監視情報挿入回路34に入力され
る。監視情報挿入回路34は、等化器33からの信号に符号
誤り計数回路28の出力である誤り率情報を挿入し、これ
をU/B変換回路35に送り、ここでバイポーラなPCM信号に
変換されたPCM信号がPCM伝送路36に送出される。
からPCM中継器21に入力されたバイポーラなPCM信号は、
B/U変換回路32でユニポーラなPCM信号に変換され、等化
器33で等化されたのち監視情報挿入回路34に入力され
る。監視情報挿入回路34は、等化器33からの信号に符号
誤り計数回路28の出力である誤り率情報を挿入し、これ
をU/B変換回路35に送り、ここでバイポーラなPCM信号に
変換されたPCM信号がPCM伝送路36に送出される。
上記動作余裕度試験回路22は、本実施例の場合、PCM伝
送路20とB/U変換回路23間に接続されたアッテネータ挿
入回路221と、雑音発生音222と、雑音発生器222で発生
した雑音信号を中継器入力に重畳する加算器223と、付
加ビット分離回路26で分離された付加ビットをデコード
し、自中継器の番号が含まれている場合には指定された
試験項目を指定された測定条件の下で試験するためにア
ッテネータ挿入回路221,雑音発生器222を制御し、また
同調回路25の中心周波数を変化させる信号を発する制御
回路220とから構成されている。
送路20とB/U変換回路23間に接続されたアッテネータ挿
入回路221と、雑音発生音222と、雑音発生器222で発生
した雑音信号を中継器入力に重畳する加算器223と、付
加ビット分離回路26で分離された付加ビットをデコード
し、自中継器の番号が含まれている場合には指定された
試験項目を指定された測定条件の下で試験するためにア
ッテネータ挿入回路221,雑音発生器222を制御し、また
同調回路25の中心周波数を変化させる信号を発する制御
回路220とから構成されている。
本実施例では、PCM中継器21の入力レベル余裕度とS/N余
裕度とジッタ余裕度の測定が可能であり、各余裕度の測
定を行なう場合、当該PCM中継器21に割当てられた中継
器番号と、測定項目と、測定条件をコード化した付加ビ
ットをPCM伝送路20を経由して端局中継器等から入力す
る。PCM中継器21に入力された付加ビットは、付加ビッ
ト分離回路26で分離されて制御回路220に入力され、制
御回路220は付加ビットをデコードすることにより自中
継器の番号が含まれているか否か、および含まれていれ
ばその測定項目、測定条件を識別し、その内容に応じて
次のような制御を行なう。
裕度とジッタ余裕度の測定が可能であり、各余裕度の測
定を行なう場合、当該PCM中継器21に割当てられた中継
器番号と、測定項目と、測定条件をコード化した付加ビ
ットをPCM伝送路20を経由して端局中継器等から入力す
る。PCM中継器21に入力された付加ビットは、付加ビッ
ト分離回路26で分離されて制御回路220に入力され、制
御回路220は付加ビットをデコードすることにより自中
継器の番号が含まれているか否か、および含まれていれ
ばその測定項目、測定条件を識別し、その内容に応じて
次のような制御を行なう。
・測定項目＝入力レベル余裕度 この場合、アッテネータ挿入回路221内のアッテネータ
をPCM伝送路20とB/U変換回路23の間に挿入し、且つその
アッテネータ値を測定条件で指定された値に変化させ
る。
をPCM伝送路20とB/U変換回路23の間に挿入し、且つその
アッテネータ値を測定条件で指定された値に変化させ
る。
このように所定のアッテネータ値が入力部に入力された
状態で伝送路20を介してPCM信号が入力されると、符号
誤り検出回路27で符号誤りが検出され、符号誤り計数回
路28からそのアッテネータ値に応じた誤り率情報が出力
され、監視情報挿入回路34にて伝送路31からの信号に挿
入され、伝送路36を経由して端局中継器に返送される。
従って、端局中継器でその誤り率情報と指定したアッテ
ネータ値とから当該PCM中継器21の入力レベル余裕度を
監視することができる。
状態で伝送路20を介してPCM信号が入力されると、符号
誤り検出回路27で符号誤りが検出され、符号誤り計数回
路28からそのアッテネータ値に応じた誤り率情報が出力
され、監視情報挿入回路34にて伝送路31からの信号に挿
入され、伝送路36を経由して端局中継器に返送される。
従って、端局中継器でその誤り率情報と指定したアッテ
ネータ値とから当該PCM中継器21の入力レベル余裕度を
監視することができる。
・測定項目＝S/N余裕度 この場合、雑音発生器222から測定条件で指定されたレ
ベルの雑音信号を発生させ、加算器223で中継器入力に
加算させる。後の動作は入力レベル余裕度試験と同じで
あり、その雑音レベルに応じた誤り率情報が伝送路36を
経由して端局中継器に返送され、端局中継器側で返送さ
れた誤り率情報と指定した雑音レベルとからS/N余裕度
を監視する。
ベルの雑音信号を発生させ、加算器223で中継器入力に
加算させる。後の動作は入力レベル余裕度試験と同じで
あり、その雑音レベルに応じた誤り率情報が伝送路36を
経由して端局中継器に返送され、端局中継器側で返送さ
れた誤り率情報と指定した雑音レベルとからS/N余裕度
を監視する。
・測定項目＝ジッタ余裕度 この場合、同調回路25の中心周波数を測定条件で指定さ
れた量だけ変化させる信号を同調回路25に加える。これ
により、同調回路25で生成される再生クロックが正規の
位置より変動するので、そのときの誤り率を見ることで
ジッタ余裕度の監視が可能となる。
れた量だけ変化させる信号を同調回路25に加える。これ
により、同調回路25で生成される再生クロックが正規の
位置より変動するので、そのときの誤り率を見ることで
ジッタ余裕度の監視が可能となる。
なお、制御回路220は、余裕度の測定が指示されていな
いときは、アッテネータ221の挿入，雑音信号の重畳，
同調回路25の中心周波数の変動は何れも行なわれないこ
とは勿論のことである。
いときは、アッテネータ221の挿入，雑音信号の重畳，
同調回路25の中心周波数の変動は何れも行なわれないこ
とは勿論のことである。
以上の実施例では、測定項目として入力レベル余裕度,S
/N余裕度，ジッタ余裕度の３種類としたが、本発明はそ
のうちの１種類或いは２種類の測定を行なうように変更
しても良く、他の種類の余裕度を測定するように構成し
ても良い。また、PCM中継器について適用した実施例の
み示したが、光中継器へも同様に適用することが可能で
ある。
/N余裕度，ジッタ余裕度の３種類としたが、本発明はそ
のうちの１種類或いは２種類の測定を行なうように変更
しても良く、他の種類の余裕度を測定するように構成し
ても良い。また、PCM中継器について適用した実施例の
み示したが、光中継器へも同様に適用することが可能で
ある。
以上説明したように、本発明によれば、ディジタル中継
器の入力部に入力レベル余裕度,S/N余裕度、ジッタ余裕
度等の１種類或いは複数種類の余裕度の試験を行なう動
作余裕度試験回路を設け、遠隔地より伝送路を介して送
出した付加ビットにより動作余裕度試験回路を制御し、
試験中の符号誤り率を中継器内で求めて遠隔地に返送す
るように構成したので、中継器の動作余裕度を誤り率と
して正確に遠隔地から監視でき、ディジタル伝送路の保
守の信頼性を向上させることができる効果がある。
器の入力部に入力レベル余裕度,S/N余裕度、ジッタ余裕
度等の１種類或いは複数種類の余裕度の試験を行なう動
作余裕度試験回路を設け、遠隔地より伝送路を介して送
出した付加ビットにより動作余裕度試験回路を制御し、
試験中の符号誤り率を中継器内で求めて遠隔地に返送す
るように構成したので、中継器の動作余裕度を誤り率と
して正確に遠隔地から監視でき、ディジタル伝送路の保
守の信頼性を向上させることができる効果がある。
第１図は本発明の実施例のブロック図、 第２図および第３図は従来例のブロック図である。 図において、21はPCM中継器、20,30,31,36はPCM伝送
路、22は動作余裕度試験回路、26は付加ビット分離回
路、27は符号誤り検出回路、28は符号誤り計数回路、34
は監視情報挿入回路である。
路、22は動作余裕度試験回路、26は付加ビット分離回
路、27は符号誤り検出回路、28は符号誤り計数回路、34
は監視情報挿入回路である。
Claims (1)
- 【請求項１】自ディジタル中継器に伝送路を介して入力
された、動作余裕度の試験内容を識別する付加ビットが
付加された信号に対して、該信号中から前記付加ビット
を分離する付加ビット分離回路と、 自ディジタル中継器の入力部に設けられ、前記付加ビッ
ト分離回路で分離された付加ビットの試験内容に対応し
た動作余裕度の試験を行う動作余裕度試験回路と、 該動作余裕度試験回路の試験中における前記伝送路を介
して入力される信号の符号誤り率を検出する符号誤り率
検出回路と、 該符号誤り率検出回路で検出された符号誤り率を伝送路
に送出して返送する監視情報挿入回路とを具備したこと
を特徴とするディジタル中継器の動作余裕度監視装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60245382A JPH0683265B2 (ja) | 1985-10-31 | 1985-10-31 | デイジタル中継器の動作余裕度監視装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60245382A JPH0683265B2 (ja) | 1985-10-31 | 1985-10-31 | デイジタル中継器の動作余裕度監視装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62104342A JPS62104342A (ja) | 1987-05-14 |
| JPH0683265B2 true JPH0683265B2 (ja) | 1994-10-19 |
Family
ID=17132826
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60245382A Expired - Lifetime JPH0683265B2 (ja) | 1985-10-31 | 1985-10-31 | デイジタル中継器の動作余裕度監視装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0683265B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE60238326D1 (de) * | 2001-07-13 | 2010-12-30 | Anritsu Corp | Jitterwiderstandsmessinstrument und verfahren zur ermöglichung einer effizienten messung der jitterwiderstandskenngrösse und zur adäquaten bewertung |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5341487A (en) * | 1976-09-27 | 1978-04-14 | Nippon Paint Co Ltd | Immobilized enzyme and its preparation |
-
1985
- 1985-10-31 JP JP60245382A patent/JPH0683265B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62104342A (ja) | 1987-05-14 |
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