JPH06779Y2

JPH06779Y2 - 基板試験用治具

Info

Publication number: JPH06779Y2
Application number: JP1985047022U
Authority: JP
Inventors: 秀俊松沢
Original assignee: 有限会社サンエー技研
Priority date: 1985-03-29
Filing date: 1985-03-29
Publication date: 1994-01-05
Anticipated expiration: 2000-03-29
Also published as: JPS61161774U

Description

【考案の詳細な説明】（産業上の利用分野）本考案は、例えばプリント基板の電気的試験を、迅速、
かつ、確実に行わせるための基板試験治具に関し、詳し
くは、治具に付着した塵埃等の除去が容易で、基板のテ
ストポイントと確実に電気信号の授受をさせる基板試験
用治具に関するものである。

（従来の技術）従来、プリント基板等の電気的試験時に使用される試験
用治具は、第５図に示すように、被試験用の基板１を定
位置にセットさせる試験板２と、試験板２のガイドピン
２Ａを着脱可能に支持するガイド穴２Ｂを備え、試験板
２にセットされた状態の基板１のテストポイントＴＰに
対応する試験板２の位置に明けられた貫通小穴等３を通
して前記テストポイントＴＰに接触するプローブ４を取
付けるとともに試験板２との間に気密室５を形成するた
めの例えば、伸縮自在の合成ゴム等で形成された気密性
部材６を環閉形状に取付けたプローブ取付板７とで構成
され、試験板２，プローブ取付板７は、４本の支柱８
Ａ，８Ｂ，８Ｃ，８Ｄに支持された状態で台板９に載置
される。プローブ取付板７に取付けられた気密性部材６
によって、試験板２の間に形成された気密室５の空気
を、例えば、外部に設けた真空ポンプなどによって排気
し、気密室５の気圧を下げるための排気口１０および排
気口１０に接続され、前記真空ポンプと連結するための
排気管１１および連結口１２が設けられる。また、前記
支柱８Ａ，８Ｂ，８Ｃ，８Ｄとプローブ取付板７は、支
柱８Ａ，８Ｂの上端部に設けられた係止片１３を介して
ネジ１４によってネジ止めされるとともに、支柱８Ｃ，
８Ｄとプローブ取付板７は蝶番１５によって開閉可能に
支持されたものである。

なお、第６図は第５図におけるＸ−Ｘ矢視図である。第
６図に示すように、プローブ４は基板１のテストポイン
トＴＰに対応する位置に取付けられ、また、気密性部材
６はプローブ取付板７の上面側に取付けられている。

（考案が解決しようとする問題点）前記従来の基板試験用治具においては試験板２と試験板
２の下側に位置するプローブ取付板７の間に気密室５を
形成するための気密性部材６が第５図に示すように塵埃
等の付着しやすいプローブ取付板７の上面側に取付けら
れていたため、プローブ取付板７に付着した塵埃等を除
去するときに環閉形状に取付けられた気密性部材６が邪
魔をして塵埃等を十分に除去することが困難であり、そ
のため、基板１のテストポイントとプローブ４の信号授
受に確実性を欠くという問題があった。

そこで本考案は、以上の問題を解決するため、試験板２
の下面に気密室５を形成するための気密性部材６を取付
けて、プローブ取付板７に付着した塵埃等を容易に除去
させることを、その解決すべき技術的課題とするもので
ある。

（問題点を解決するための手段）上記課題解決のための技術的手段は、基板試験用治具
を、被試験用の基板が上面の所定位置に載置されるとと
もに伸縮性を有する気密性部材を下面の周縁に沿って環
状に取り付けた試験板と、上端面が前記気密性部材の下
端面と密着し、前記試験板との間に気密室を形成すると
ともに、その気密室の空気を排出するための排気パイプ
が接続され、その排気パイプから上記気密室の空気が排
出され気密室の気圧が低くなって前記試験板が大気圧に
より押圧されたときの前記気密性部材の厚み方向の縮小
に伴って前記試験板が近接したとき、その試験板に載置
された前記基板のそれぞれのテストポイントと接触させ
て試験信号を授受する複数のプローブを立設したプロー
ブ取付板とを備えた構成にする事である。

（作用）試験板とプローブ取付板の間に気密室を形成する気密性
部材は、気密室の空気が、例えば外部に設けた真空ポン
プによって排気されると、気密室は真空状態になって気
密性部材が大気圧によって圧縮され、その結果、試験板
はプローブ取付板に近ずき、試験板にセットされた基板
のテストポイントとプローブが接触して基板のテストポ
イントとプローブの間で信号授受が可能となる。このよ
うな作用をする気密性部材は、前記従来の基板試験用治
具と異なり、試験板側に取付けられているためプローブ
取付板に付着した塵埃等は容易に除去できる。

（実施例）次に、本考案の一実施例の構成と作用を第１図および第
１図のＹ−Ｙ矢視による第２図により説明する。

第１図は、本実施例にかかる基板試験用治具の側面図を
示したもので、電気的試験をされる基板１は、試験板２
の上面に取付けられた合成ゴム等の弾性を有したシート
２Ｓ上に、セットピン２Ｐによりガイドされた状態でセ
ットされる。試験板２の下面には、気密室５を形成する
ための例えば伸縮性を有する合成ゴム等で形成された気
密性部材６が第２図に示すような環閉形状に取付けられ
る。また、試験板２には、基板１のテストポイントＴＰ
に対応した位置に貫通小穴３が明けられ、さらに、試験
板２の下側に位置するプローブ取付板７と組合わせ取付
けをさせるときに、定位置にセットさせるためのガイド
ピン２Ａが対角状に２個、前記気密性部材６が取付けら
れた面と同一面に取付けられる。

気密性部材６の下面に密着状に接触して試験板２との間
に気密室５を形成するプローブ取付板７には、前記試験
板２に取付けられたガイドピン２Ａがガイドされるガイ
ド穴２Ｂがガイドピン２Ａの位置に対応して形成され、
さらに、前記試験板２に形成された貫通小穴３のそれぞ
れの位置に相対して基板１のテストポイントＴＰに電気
的接触をさせるためのプローブ４が取付けられる。ま
た、前記気密室５の空気を、外部に設けられた、例えば
真空ポンプによって排気するための排気口１０が２箇所
設けられ、気密室５の空気は排気口１０から排気管１
１，連結口１２を介して前記真空ポンプによって排気さ
れる。なお、気密室５の空気は排気口１０から排気管１
１および連結口１２を介して真空ポンプによって排気さ
れる手段の他に、排気口１０に直接ホース等を接続して
気密室５の空気を排気しても同様の効果が得られる。

プローブ取付板７は、台板９上に取付けられた４本の支
柱８Ａ，８Ｂ，８Ｃ，８Ｄに支持され、支柱８Ａ，８Ｂ
の上端には係止片１３が取付けられてプローブ取付板７
をネジ１４で係止する。支柱８Ａ，８Ｂと相対する位置
に支柱８Ｃ，８Ｄが取付けられ、支柱８Ｃ，８Ｄの上端
には蝶番１５が取付けられることによって、プローブ取
付板７が開閉可能に構成される。

なお、プローブ４は、先端部すなわち、基板１のテスト
ポイントＴＰに接触させる探針部が外力に応じて弾性伸
縮するように構成され、テストポイントＴＰに均一の接
触圧で接触するように形成されたもので、第３図に示す
ように、本体部４Ｂの内部に弾着されたスプリング４Ｄ
によって、探針部４Ａが、基板１のテストポイントＴＰ
に接触して押圧されたときに、探針部４Ａが圧力に応じ
て縮む一方、基板１の電気的試験完了後に気密室５に空
気が再入されたときに基板１のテストポイントＴＰと探
針部４Ａが離れるため、スプリング４Ｄは再び自然状態
に戻り、探針部４Ａが元の位置に戻る。なお、プローブ
４の基端部４Ｃにはラッピングピンが取付けられる。

なお、気密室５の空気が排出され、気密性部材６が圧縮
されたとき、試験板２とプローブ取付板７の間に、異
物、例えばドライバーなどが挟まれると、プローブ４が
基板１のテストポイントＴＰと接触が不可能になった
り、人の指が挟まれると危険であるため、試験板２の下
面外周に気密性部材６より軟質な例えばウレタンゴムの
しゃ閉部材６Ａを取付け、異物の侵入を防止する。

以上の構成のもとで、前記真空ポンプ等により気密室５
の空気が排気されると、気密室５の気圧が低下するた
め、気密性部材６が大気圧によって圧縮され、試験板２
とプローブ取付板７の間隔がせまくなって、試験板２に
セットされた基板１のテストポイントＴＰと、プローブ
４が接触し、テストポイントＴＰとプローブ４との間で
電気信号の授受が可能となる。プローブ４の基端部に
は、例えば、図示していないラッピング手段によって信
号線が接続され、それぞれの信号線は基板１をテストす
るための図示していない外部のテスト装置に接続され
る。

試験される基板１に、例えば、オプション仕様時に部品
を実装するための予備実装穴が明けられており、前記気
密室５の空気を排気するときに、この予備実装穴から空
気が吸入されて、気密室５の気圧が下がらない場合、基
板１のテストポイントＴＰとプローブ４は接触が不可能
となる。このような場合には、第４図に示すような、例
えば透明合成樹脂で形成され、底部周縁に合成ゴム３０
等を取付けたカバーボックス３１を前記予備実装穴部、
もしくは、基板１のほぼ全体に密着するように被せるこ
とによって、予備実装穴から気密室５に空気が吸入され
ることを防止することができる。

さらにまた、基板１に前記同様の予備実装穴Ｈが空けら
れている場合、第７図の側面図および第７図の矢視Ｚ１
−Ｚ１に沿った第８図に示すように、試験板２の下面に
形成された気密性部材６、遮蔽部材６Ａの他に、基板１
の外周にほぼ沿った形状に気密性部材６と同材質か、も
しくは類似材質でパッキンループ６Ｂを形成したうえ、
試験板２をプローブ取付板７にセットして前記同様の手
段で気密性部材６とパッキンループ６Ｂとで囲まれた気
密室５Ａの空気を排気して気圧を下げる。なお、第７図
は、第８図における矢視Ｚ２−Ｚ２に沿い、一部破断面
を含んだ側面図を示したものである。

前記気密室５Ａの気圧が下がると、試験板２は下がって
プローブ取付板７に近接するが、基板１がセットされた
部分は十分に下がらず、さらにプローブ取付板７に取付
けられたプローブ４の先端が基板１のテストポイントＴ
Ｐに接触すると基板１が浮いてしまうため、第４図に示
したような前記カバーボックス３１を、第７図に示すよ
うに基板１を完全に包含するように状態に被せ、押え柱
３１Ａによって基板１の浮き上りを押え、基板１のテス
トポイントＴＰとプローブ４を確実に接触させることが
できる。

（考案の効果）以上のように本考案によれば、従来、プローブ取付板に
設けられていた気密性部材を試験板に取付けたためにプ
ローブ取付板に付着した塵埃等を容易に除去することが
可能になり、プローブを基板のテストポイントに確実に
接触させ、正確な電気的試験を行わせる効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案の一実施例にかかる基板試験用治具の側
面図、第２図はその矢視図、第３図は一実施例のプロー
ブ構造説明図、第４図はカバーボックス外形図、第５図
は従来の基板試験用治具の側面図、第６図は第５図のＸ
−Ｘ矢視図、第７図は他の実施例の側面図、第８図は第
７図のＺ１−Ｚ１矢視図である。１…基板２…試験板３…貫通小穴４…プローブ５…気密室６…気密性部材６Ａ…しゃ閉部材７…プローブ取付板８Ａ，８Ｂ，８Ｃ，８Ｄ…支柱９…台板１０…排気口

Claims

【実用新案登録請求の範囲】

【請求項１】被試験用の基板が上面の所定位置にセット
されるとともに伸縮性を有する気密性部材を下面の周縁
に沿って環状に取り付けた試験板と、上端面が前記気密
性部材の下端面と密着し、前記試験板との間に気密室を
形成するとともに、その気密室の空気を排出するための
排気パイプが接続され、その排気パイプから上記気密室
の空気が排出され気密室の気圧が低くなって前記試験板
が大気圧により押圧されたときの前記気密性部材の厚み
方向の縮小に伴って前記試験板が近接したとき、その試
験板にセットされた前記基板の下面形成のそれぞれのテ
ストポイントと接触させて試験信号を授受する複数のプ
ローブを立設したプローブ取付板とを備えたことを特徴
とする基板試験用治具。