JPH0676811U - 平面度測定機 - Google Patents

平面度測定機

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JPH0676811U
JPH0676811U JP1568193U JP1568193U JPH0676811U JP H0676811 U JPH0676811 U JP H0676811U JP 1568193 U JP1568193 U JP 1568193U JP 1568193 U JP1568193 U JP 1568193U JP H0676811 U JPH0676811 U JP H0676811U
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Abstract

(57)【要約】 【構成】被測定物Aを載置するための定盤1上に、高さ
検出用センサ7を備えたフロートテーブル2を移動可能
に配置し、該センサ7の平面上に映像機3を備えて成
り、上記フロートテーブル2を定盤1上で移動させて、
センサ7で検出した被測定物Aの高さ信号と、映像機3
による測定点の映像を画像処理装置により処理した平面
上の位置信号とにより平面度を測定するようにする。 【効果】複雑なシステムや移動装置は一切必要とせず、
かつ容易に平面度を高精度に測定することができる平面
度測定機を提供することができる。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は、ガラス、金属、またはセラミックスなどの角盤や円盤の平面度を測 定する装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来より平面度測定機としては、オプチカルフラットや三次元測定機が用いら れていた。オプチカルフラットを用いる方法は、図4に示すように、定盤31上 に被測定物Aを載置し、該被測定物Aの上方に全面を覆うように平面度の高いガ ラス(オプチカルフラット)32を真空密着(リンキング)させることにより測 定する。このようにすると、両者間の隙間に応じた光の干渉によって縞模様が現 れ、その縞33の本数や曲率半径によって被測定物Aの平面度を測定することが できる。この方法により測定すると、容易に高精度の測定を行うことができ、平 面度を読み取る分解能は0.3μmである。
【0003】 一方、三次元測定機は、図5に示すように、定盤41上にゲート型の支持体4 2を配置し、該支持体42の一部である縦軸43が定盤41の前後方向に自由に 移動できるように構成し、かつ支持体42のガイド軸44に枠型の移動体45を 軸着させて、移動体45が定盤41の左右方向に移動できるように構成してなる ものである。そして、上記移動体45に上下方向に移動可能としたセンサ46を 備えることにより、3軸方向に自由に移動可能となるセンサ46を被測定物に接 触させながら走行させることにより被測定物の形状などを測定する。これにより 、被測定物の各点のセンサ出力を得て、その立体的な位置座標を記憶し、その値 から平面度を求めることもできる。
【0004】 また、二次元形状測定装置や干渉計を応用した表面形状測定機等も使用されて いるが、これらは上記オプチカルフラットや画像処理技術を応用してさらに精度 を向上させている装置であり、基本的構造は上記の装置や原理と同様である。
【0005】
【考案が解決しようとする課題】
ところが、図4に示すオプチカルフラット32を使用して大型の被測定物Aを 測定する場合、大型のオプチカルフラット32は研磨が困難で高精度加工に時間 がかかり、非常に高価なものとなるため、直径が100mm程度の小型の被測定 物Aしか測定できないという問題点があった。また、光の干渉などの光学式の測 定を行う場合には、被測定物Aの材質や表面形状、さらには反射率などの要因に より縞33の現れ方に大きな違いが生じるために測定不可能な被測定物があると いう問題点もあった。
【0006】 一方、図5に示す三次元測定機は、大型の被測定物に用いることができるが、 支持体42の縦軸43とガイド軸44の真直精度が測定精度に大きく影響するた め、製作上±3μm程度の測定精度が出てしまうという問題点があった。また、 三次元測定機は立体形状を測定できる優れた測定機ではあるが、平面しか測定し ない場合でも、穴間のピッチや直角度を測定するなどの余分な付加機能が多く、 装置が大がかりで複雑となるという問題点もあった。
【0007】
【課題を解決するための手段】
本考案は、上記問題点に鑑みてなされたものであり、被測定物の平面度を測定 する平面度測定機において、被測定物を載置するための定盤上に、高さ検出用セ ンサを備えたフロートテーブルを移動可能に配置し、該センサの上面に映像機を 備えて成り、上記フロートテーブルを定盤上で移動させて、センサで検出した被 測定物の高さ信号と、映像機による測定点の映像を画像処理装置により処理した 平面上の位置信号とにより平面度を測るようにしたものである。
【0008】 なお、高さ検出用センサとしては、接触型あるいは非接触型センサのどちらで もよく、例えば、接触型センサの場合にはプランジャー式やてこ式の差動トラン ス方式のセンサがある。
【0009】
【作用】
本考案によれば、定盤上を移動可能としたフロートテーブルに備えた高さ検出 用センサを被測定物上で移動させて、センサで検出した被測定物の高さ信号と、 映像機による測定点の映像を画像処理装置により処理した平面上の位置信号とに より得られたデータにより回帰平面を求め、その最大値と最小値の差より平面度 を求めることができる。
【0010】
【実施例】
以下、本考案の実施例を詳細に説明する。
【0011】 図1に示すように、平面度測定機は、定盤1上に任意に移動自在なフロートテ ーブル2と被測定物Aを載置し、被測定物Aの上方に測定点を映す映像機として CCDカメラ3、そのカメラ3による測定点の映像を平面上の位置(X−Y方向 )として検出するための画像処理装置(不図示)を設けて構成されている。ここ で、カメラ3は定盤1に固定された支柱4を上下自由に移動する上下移動体5に 取り付けてある。また、フロートテーブル2には延長棒6が固定され、その延長 棒6の先端には被測定物Aの高さ(Z方向)を検出するてこ式の差動トランス方 式のセンサ7を備え、後端にはセンサ7の出力である高さを読み取るためのコー ド8がつながれている。
【0012】 そして、平面度測定機による測定方法は、まず定盤1上のフロートテーブル2 を手で移動させることにより、センサ7を被測定物A上の予め設定されている測 定点に置き、センサ7の出力によって測定点の高さ(Z方向)を検出すると同時 に、カメラ3により測定点を映し、その測定点の映像を画像処理装置により測定 点の平面上の位置(X−Y方向)として検出する。さらに続けて、フロートテー ブル2を手で移動させ、センサ7を被測定物A上の先に設定してある各測定点に 置き、各測定点の高さ(Z方向)と平面上の位置(X−Y方向)の信号を記憶し ていく。そして、各測定点のデータから回帰平面を求め、高さの最大値と最小値 の差より平面度を求めることができる。例えば、図2に示すように、円盤状の被 測定物Aをてこ式の差動トランス方式のセンサ7により測定する場合には、延長 棒6の先端にネジ9などによりセンサ7を取り付け、センサ7の先端球10を被 測定物Aの目的とする各測定点に置いた時点で、センサ7により高さ(Z方向) を検出し、かつ画像処理装置により平面上の位置(X−Y方向)を検出すればよ い。
【0013】 このような平面度測定機によれば、既存の技術であるカメラ3とそれにつなが れている画像処理装置、そしてセンサ7を使用して、平面度を求めることができ 、簡単な装置で容易に測定することができる。さらに、フロートテーブル2を手 により移動させることができるために、複雑な移動装置を一切必要としない測定 機となる。
【0014】 ここで、定盤1はムラナイトや斑糲岩に代表されるような石やセラミックスを 使用することが好ましいが、被測定物Aの平面度の測定精度は定盤1の平面度に 大きく依存するために、高精度が要求される測定機の場合には、平面度が1.0 μm以下であることが好ましい。また、延長棒6は直径が小さくて長いためにス テンレス鋼などの材質が好ましいが、より高精度を追求する場合には剛性の高い セラミックスがより好ましい。
【0015】 さらに、上記フロートテーブル2は、定盤1に傷を与えずに滑らかに移動でき る材質から成り、手で持ちやすい形状とすればよく、定盤1と接触する底面部は 高精度が要求される場合には、定盤1と同様に平面度が1.0μm以下であるこ とが好ましい。また、定盤1との接触面積を小さくするために、フロートテーブ ル2の底面部に溝を設けたり、あるいは底面部に平面度の高い板を取り付けるこ とにより、滑りを良くすることができる。
【0016】 そして、フロートテーブル2をより滑らかに移動させ、かつ高精度の測定を行 うようにするためには、図3(a)の斜視図と(b)の断面図に示すように、角 盤状のプレート部21にバネ22を介して枠型のガイド部23を設け、プレート 部21にホース挿入孔24、空気噴出部25、ホルダー26を設けてフロートテ ーブル2を構成することもできる。上記ホース挿入孔24は、プレート部21の 表面上に形成され、圧縮空気を送出するためのホース27をつなぐための孔であ り、底面部の空気噴出部25とつながっている。また、ホルダー26は、プレー ト部21の表面上に形成され、延長棒6を固定するための挿入孔28と延長棒6 を固定するためのネジ溝29が設けられてなる。
【0017】 上記のように構成されたフロートテーブル2によると、ホース27から圧縮空 気を送られた場合に、ホース挿入孔24を通り、底面部の空気噴出部25へ空気 が常時供給されるために、フロートテーブル2のプレート部21が浮上し、定盤 1上を滑らかに移動することができる。また、プレート部21とガイド部23間 にバネ22を介することにより、ガイド部23からの多少の振動であればバネ2 2が吸収するために、ガイド部23を手により移動させた場合でもプレート部2 1は平行に移動することとなり、測定精度に影響を与えずに済むようになる。
【0018】 なお、プレート部21はある程度の圧縮空気により浮く程度の材質であればよ いが、耐久性があり、かつ平面度の高いものとすることができる材質がより好ま しく、例えば、セラミックスなどがよい。また、ガイド部23は定盤1と接触し て移動するため、定盤1に傷を与えずに滑らかに移動できる材質が好ましく、例 えばセラミックスよりなり、かつ底面部の平面度を1.0μm以下としたものが より好ましいが、定盤1との接触面積を小さくするために、ガイド部23の底面 部に溝を設けてもよい、あるいは図3(b)の断面図に示すようなガイド部23 の底面部にセラミックス等の材質よりなり、かつ平面度の高い補助板30を取り 付けることにより、より滑らかな移動が可能となる。そして、ガイド部23、プ レート部21、またはホルダー部26の高さは、被測定物Aの高さに応じて好ま しい高さのものを使用すればよい。
【0019】 さらに、上記実施例では、プレート部21とガイド部23の間にバネ22を介 しているが、ガイド部23を手で動かしてもプレート部21に影響がないように 構成されていればよく、例えば隙間にスポンジやゴムなどの弾状体を介在させて もよい。また、上記実施例では、角盤状のプレート部21を使用したが、ホース 挿入孔24、空気噴出部25、ホルダー26が備えられていればどのような形状 でもよく、手で持ちやすい形状とすればよい。
【0020】 実施例 ここで、上記実施例による平面度測定機を使用して、実際に測定を行った。
【0021】 実施の際には、定盤1は横が1m、縦が80cm、厚さが10cm、平面度が 1μmのムラナイトとし、フロートテーブル2は図3に示す構造のものとし、全 体の大きさは横が10cm、縦が7cm、高さが2cm、ガイド部23の底面部 の平面度が1μmのアルミナセラミックスとし、延長棒6は長さが30cm、直 径が3cmのアルミナセラミックスとし、被測定物Aとして30cm角、厚さ2 cmのガラスからなる角盤を使用して、各測定点を3cm間隔に設定した。また 、映像機としては36万画素のCCDカメラ3を使用した。さらに、測定時にホ ース11より4kgf/cm2 の圧縮空気を送出して、プレート部21を20μ mを浮上させるようにした。
【0022】 測定の結果、カメラ3の位置分解能は約0.5mmであり、被測定物Aが小さ い場合はカメラ3の位置を上下移動体5により下げることにより位置分解能は向 上し、例えば被測定物Aが直径60mmの円盤を測定した場合の位置分解能は約 0.1mmとなった。また、センサ7の測定精度は±1.0μm以下となり、三 次元測定機よりも精度の良い測定を行えることがわかった。さらに、定盤1の平 面度をさらに高くすれば、それに比例して測定精度がよくなることがわかった。
【0023】
【考案の効果】
以上のように、本考案に係わる平面度測定機によれば、被測定物を載置するた めの定盤上に、高さ検出用センサを備えたフロートテーブルを移動可能に配置し 、該センサの平面上に映像機を備えて成り、上記フロートテーブルを定盤上で移 動させて、センサで検出した被測定物の高さ信号と、映像機による測定点の映像 を画像処理装置により処理した平面上の位置信号とにより平面度を測定するよう にしたことによって、複雑なシステムや移動装置は一切必要とせず、かつ容易に 平面度を高精度に測定することができる平面度測定機を提供することができる。
【0024】
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案の平面度測定機を示す斜視図である。
【図2】本考案の平面度測定機のセンサ部分を示す一部
拡大平面図である。
【図3】(a)は本考案の平面度測定機の一部であるフ
ロートテーブルを示す斜視図であり、(b)は(a)の
X−X線断面図である。
【図4】(a)は従来のオプチカルフラットを用いた平
面度測定機を示す正面図であり、(b)は平面図であ
る。
【図5】従来の三次元測定機を示す斜視図である。
【符号の説明】
1,31,41:定盤 2 :フロートテーブル 3 :カメラ 4 :支柱 5 :上下移動体 6 :延長棒 7,46:センサ 8 :コード 9 :ネジ 10:先端球 21:プレート部 22:バネ 23:ガイド部 24:ホース挿入孔 25:空気噴出部 26:ホルダー 27:ホース 28:挿入孔 29:ネジ溝 30:補助板 32:オプチカルフラット 33:縞 42:支持体 43:縦軸 44:ガイド軸 45:移動体 A :被測定物

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】被測定物の平面度を測定する平面度測定機
    において、被測定物を載置するための定盤上に、高さ検
    出用センサを備えたフロートテーブルを移動可能に配置
    し、該センサの上面に映像機を備えて成り、上記フロー
    トテーブルを定盤上で移動させて、センサで検出した被
    測定物の高さ信号と、映像機による測定点の映像を画像
    処理装置により処理した平面上の位置信号とにより平面
    度を測定するようにしたことを特徴とする平面度測定
    機。
JP1568193U 1993-03-31 1993-03-31 平面度測定機 Expired - Fee Related JP2586633Y2 (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004177192A (ja) * 2002-11-26 2004-06-24 Dainippon Printing Co Ltd 欠陥高さ検査装置及び欠陥高さ検査方法
CN114216429A (zh) * 2021-12-20 2022-03-22 上海为彪汽配制造有限公司 一种雷达天线盖的平面度检测设备及检测方法

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