JPH0674986A - 計測診断装置 - Google Patents

計測診断装置

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JPH0674986A
JPH0674986A JP4228313A JP22831392A JPH0674986A JP H0674986 A JPH0674986 A JP H0674986A JP 4228313 A JP4228313 A JP 4228313A JP 22831392 A JP22831392 A JP 22831392A JP H0674986 A JPH0674986 A JP H0674986A
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JP
Japan
Prior art keywords
external storage
hard disk
storage device
temperature
display device
Prior art date
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Pending
Application number
JP4228313A
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English (en)
Inventor
Isao Takahashi
高橋  功
Toshio Ishikawa
敏雄 石川
Fumimasa Endo
奎将 遠藤
Tokio Yamagiwa
時生 山極
Atsushi Ozawa
淳 小沢
Kaoru Endo
馨 遠藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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Publication of JPH0674986A publication Critical patent/JPH0674986A/ja
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  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【目的】寒冷な環境条件でも、ハードディスクの読み込
みが正常に行われ、液晶ディスプレイを使用する場合に
も、表示が確実になる計測診断装置を提供すること。 【構成】寒冷な環境条件でハードディスクを使用する場
合、指定された温度範囲内になって初めて、その電源を
接続する。変形例は、一度、自動起動に失敗した場合に
は、ハードディスクが熱損失等により適温に上昇するま
での時間を経て、再び自動起動の読み込みをするソフト
を内部記憶装置に持たせる。また、液晶ディスプレイを
表示装置に用いる場合には、発熱体を用いてそれが適温
になるようにする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は計測診断装置に係り、特
に、GIS(Gas Insulated Swichgear)や変圧器等、電
力回路の各種の構成要素の状態や異常を診断するよう
な、計測診断装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、ワークステーション(WS:Work
Station)、陰極線管(CRT:Cathode Ray Tube)或
いは液晶ディスプレイ(LCD:Liquid Crystal Displa
y)等の表示装置、外部記憶装置としてのハードディスク
(HD:Hard Disk)或いは、フレキシブルディスク(F
D:Flexible Disk)等を利用して、各種の計測や設備の
診断等が行われている。例えば、これらの計測装置等の
電源投入後、ワークステーションの内部記憶装置から、
代表的な外部記憶装置であるハードディスク内の特定の
システム(例えば、BASIC)を呼び出し、更に、特
定の計測,計算処理等を行うプログラムを自動的に呼び
出したり、必要に応じて実行する、いわゆる、自動起動
「auto start」という方式が知られている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】前述の各機器の内、と
くにハードディスクの回転部は例えば、毎分三千回転程
度(フレキシブルディスクの場合は、毎分三百回転程
度)の高速で回転する部分も含む微妙な機器であって、
一般には使用するのに適した環境条件(温度,湿度,気
圧等)が指定されている。そのために、ワークステーシ
ョンを含むこれらの装置は、一般には空調された、理想
的な環境の中で使用されることが多い。しかし、例え
ば、新設された発・変電所等の屋外に、雨風をやっとし
のぐ程度の簡単な小屋を設置して、その中にこれらの機
器を収容して計測や診断等を行う必要が生じることもあ
る。これは、現地試験と呼ばれる。この様な現地試験の
場合には、前記の指定された環境条件が、いろいろな事
情によって必ずしも守られないことがある。
【0004】例えば、筆者等が体験した一例を述べる。
実験室内では何度も正常に動作していた自動起動が、現
地試験では、その起動に失敗したことがあった。検討の
結果、測定小屋の室内温度が氷点下であり、ハードディ
スクに指定された使用温度範囲の最低温度より、相当低
いためと推定された。測定小屋の入口を閉じ、太陽熱で
小屋の内部を温めた後に、再び自動起動を試みたとこ
ろ、今度は起動に成功した。指定された温度範囲より、
使用状態の温度が低いために、ハードディスクが正常に
動作しない原因は、明確には特定はできないが、例え
ば、(a)回転軸の潤滑油の粘性が過大になり、十分な
回転数が得られない、(b)低温時にディスク表面に水
分が凝縮して、結露し、更に気温が氷点下になった場合
には、ディスクの表面に薄い氷ができたり、氷結する可
能性がある、或いは、(c)あまりに低温なために内部
記憶装置を含む各種の素子が、所定の機能を果たすこと
ができず、これらの装置が、結局、誤動作すること等が
考えられる。
【0005】更にまた、表示に液晶ディスプレイを使う
場合には、使用する環境温度が低いと、表示が不完全に
なることも知られている。
【0006】本発明の目的は、このような場合にも、正
常に動作する計測診断装置を得るにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】計測診断装置に電源を投
入しても、例えば、ハードディスクだけには、直接には
電源が入らないように回路を構成し、任意の方法でハー
ドディスクを徐々に温めて、ハードディスクに関して指
定された温度仕様を満たすような温度にした後に、初め
てハードディスクに電源が接続されるようにする。文献
(例えば、情報処理ハンドブック、情報処理学会編、オ
ーム社、(1989−5)等)によれば、ハードディス
クの読み取り装置近傍は、外部に対して完全ではない
が、ほぼ密封されているために、急速な加熱は、気体の
膨張による気圧の上昇による容器の変形を伴うので好ま
しくない。従って、このような場合には、ゆるやかに加
熱するように特段の注意が必要である。
【0008】また、低温時の液晶ディスプレイの不完全
動作の対策としても、当然加熱する手段を設けることは
有効である。
【0009】
【作用】ハードディスクが指定された温度範囲になっ
て、はじめてその電源が接続されるように構成すること
により、例えば、(a)回転軸の潤滑油の粘性は、許容
できる程度に小さくなる。(b)ディスク表面の結露,
氷結等は、解消する。(c)低温であるための、各素子の
誤動作はなくなる。
【0010】また、低温時に液晶ディスプレイをその支
持体を経て、ゆるやかに加熱する等によって、使用温度
範囲にすることが出来る。このような方法により、結
局、計測診断装置全体として正常な動作が可能となる。
【0011】
【実施例】本発明の一実施例概要説明図である図1を、
従来例図2と対比しながら説明する。図2では、電源ス
イッチSW1を投入すると、ハードディスクの電源,ワ
ークステーション,陰極線管等が、すべて同時に電源に
接続される。この場合、もし周囲の環境条件が、氷点下
の厳しい気温であると、前述のような不都合が起こり得
る。そこで、本発明を示す図1では、ハードディスクに
直列に後で詳細を述べるように、独立のスイッチSW2
を置き、少なくともハードディスクの温度が、指定され
た使用温度範囲内になった状態で、初めてハードディス
クの電源が接続されるように構成した。
【0012】図1の点線枠内の詳細を、図3によって説
明する。図3は、氷点下の厳しい周囲温度の場合を示
す。電源スイッチSW1の投入により、ハードディスク
の主要部の温度の影響を受けて閉じているバイメタル1
を通して、リレーコイル2が励磁される。これにより、
リレーのa接点3が閉じ、ハードディスクを温めるヒー
タ4,ランプ5に電流が流れる。ヒータ4は、発熱を開
始し、ランプ5の発する光は、例えば、半透明な表示箱
6内から、「暖房待ち」であることを表示する。一方、
リレーのb接点7は、リレーコイル2の励磁によって開
き、ハードディスクには通電されない。
【0013】適当な時間が経過して、少なくとも、ハー
ドディスクの温度が、指定された使用温度範内囲にな
り、バイメタル1が矢印方向に開くと、リレーのコイル
2の励磁が止み、a接点3は開き、b接点7は閉じる。
その結果、ヒータ4とランプ5への電流は遮断され、逆
にハードディスクへの通電が開始される。このように構
成することにより、ハードディスクは必ず指定された適
正温度範囲内にあるときだけ通電されるので、前述のよ
うな不都合がなく、確実にハードディスクの起動が可能
になり、更に目的とするプログラムを読み込んで、必要
に応じて自動的に、計測診断等が可能になる。なお、一
旦、ハードディスクが、通電を開始した後は、その電力
損失と予め設けられている通風装置によって適温を保ち
続け、電源が遮断されて充分に低温にならない限り、バ
イメタルは再び閉じることがない。また、図示は省略す
るが、図3のバイメタルやリレーの接点回路を、半導体
回路で置き換えることも可能である。これにより、電源
の完全なオン,オフ操作ではなくて、電子回路やサーモ
素子等を使うことにより、低温時には、発熱を多くし、
温度の上昇につれて発熱量を小さくするという、連続的
な調節も可能である。
【0014】図4は、本発明の部分的な応用例を示す図
であって、ハードディスクの外観を示す。これに、例え
ば、シート状のヒータ(参考文献:例えば、電子技術、
日刊工業新聞社、(1992−4)、Vol.34、N
o.5)をハードディスクを収容した箱の内部、又は、外
部の、通気をさまたげない所に貼り付け、通電すること
によって、徐々にハードディスクの温度を高める。(普
通、ハードディスクは、冷却用に通風機構を持ってい
る。)図5は、本発明の更に異なる実施例を示す。この
実施例では、スイッチSW1の他にはスイッチを設けな
いで、ソフト的に問題を解決する例である。電源スイッ
チSW1を閉じると、内部記憶装置、例えば、ROMか
ら、指令を読み込んで自動起動を起動し、ハードディス
クから、これから利用しようとする言語、例えば、BA
SIC等を読み込もうとする。もし、その読み込みに成
功すれば、フローチャートで「Yes」で示した方向に
進み、次の段階の計測や診断に移る。しかし、もし、ハ
ードディスクから、例えばBASIC等の読み込みに失
敗した場合には、あらかじめ定めた一定時間だけ待って
再び自動起動の直前の段階に戻るように、計算の流れを
構成しておく。一定時間内に、ハードディスク内の適当
な電力損失によって、ハードディスクが指定された使用
温度範囲内に入るように、前述の時間を選んだり、或い
は、このような事態を考慮して、ハードディスクの電力
損失を適切に設計する。例えば、低温時の電力損失が大
きくなるように、あらかじめ回路を構成しておく。これ
により、2回目に自動起動の読み込みに向かった時点で
は、ハードディスクの温度は、指定された使用温度範囲
内にあって、ハードディスクの起動が確実に行われる。
【0015】尚、前記、内部記憶装置のROMは、文献
(例えば、情報処理ハンドブック、情報処理学会編、オ
ーム社、(1989−5)、第5章)で明らかように、
メーカの工場でのみ記憶内容の設定ができるマスクRO
Mはもちろんのこと、ユーザ自身が記憶内容の設定を行
うことができるユーザプログラマブルROMもこの目的
に利用することができる。
【0016】図6は、本発明の異なる実施例を示す。図
6は、液晶ディスプレイを有する(可搬型)のワークス
テーションに本発明を適用する例を示す。図のA部は、
ワークステーションの本体、B部はキーボード、C部は
液晶ディスプレイ、D部は液晶ディスプレイの裏面であ
る。
【0017】最近は、例えば、自動車用の液晶のよう
に、−30℃〜85℃で動作可能というように、動作温
度の広いものもある(参考文献:例えば、液晶ディバイ
スハンドブック、日本学術振興会、第142委員会編、
日刊工業新聞社(1989−9)、表3.26)。しか
し、一般には、これらの機器は、空調された室内で使用
されることが多いため、コスト等の問題から、現在はも
う少し動作温度範囲の狭いもの、とくに最低動作温度の
高いものが多数使用されている模様であり、寒冷時には
正常な表示が出来ないことがある。そこで、本発明で
は、液晶ディスプレイの前述の問題点の対策として、シ
ート状のヒータ(参考文献:例えば、電子技術、日刊工
業新聞社、(1992−4)、Vol.34、No.5)
を図6のD部の表面或いは、C部とD部の間に挿入し、
公知の技術を利用して液晶ディスプレイの温度を、適正
な動作温度範囲に保つものとする。もちろん、ハードデ
ィスクやフレキシブルディスクの動作を完全にすること
を目的として、図6に示す本体A部の外周,内周にも同
様に、シート状のヒータを用いた改良を行うこともでき
る。これにより、寒冷な環境条件でも、液晶ディスプレ
イを使用した計測診断装置が実用可能になるという効果
がある。
【0018】図7は、本発明のさらに異なる実施例の部
分説明図である。温度計70の一部に、その機器の使用
に適した温度範囲を示すマーク71を付けて、ハードデ
ィスクや液晶ディスプレイに取り付ける。この図で、7
2は、例えば赤色に染めたアルコールまたは、水銀等、
温度変化によって体積の比較的大きく変化する液体であ
る。この場合、目的とした機器の主要部温度が測れるよ
うに、取付け位置や方法を予め工夫するものとする。こ
れにより、もし、使用環境が使用に適した温度範囲にな
い場合には、それを知って適当な処置がとれる。例え
ば、今まで説明してきたように、機器に密着してシート
状のヒータを貼っておき、そのスイッチを手動または自
動的に入れる、或いは、測定小屋内を暖房する等であ
る。このような表示により、機器が仮に正常に動作しな
くても、その原因が明示されるので、あわてずに適切な
処置がとれるいう効果がある。
【0019】
【発明の効果】本発明によれば、例えば、新設された発
・変電所等での冬期における現地試験の時など、寒冷な
環境条件でも、ハードディスク等の読み込みが正常に行
われ、さらに、表示装置として液晶ディスプレイを用い
る場合にも、表示が確実になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のブロック図。
【図2】従来例の説明図。
【図3】本発明の一実施例の説明図。
【図4】本発明の部分説明図。
【図5】本発明の異なる実施例の説明図。
【図6】本発明の異なる部分の説明図。
【図7】本発明のさらに異なる部分の説明図。
【符号の説明】
1…バイメタル、2…リレーのコイル、3…a接点、4
…ヒータ、5…ランプ、6…半透明な表示箱。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 山極 時生 茨城県日立市国分町一丁目1番1号 株式 会社日立製作所国分工場内 (72)発明者 小沢 淳 茨城県日立市久慈町4026番地 株式会社日 立製作所日立研究所内 (72)発明者 遠藤 馨 茨城県日立市久慈町4026番地 株式会社日 立製作所日立研究所内

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】外部記憶装置、及び表示装置を含む計測診
    断装置において、前記外部記憶装置を温める発熱体を設
    け、少なくとも、前記外部記憶装置がその適正使用温度
    になって初めて、前記外部記憶装置の電源が接続される
    ように構成したことを特徴とする計測診断装置。
  2. 【請求項2】外部記憶装置、及び表示装置を含む計測診
    断装置において、少なくとも、前記表示装置をその適正
    使用温度にするための発熱体を設けたことを特徴とする
    計測診断装置。
  3. 【請求項3】外部記憶装置、及び表示装置を含む計測診
    断装置において、前記外部記憶装置を温める発熱体を設
    け、前記外部記憶装置がその適正使用温度になって初め
    て、前記外部記憶装置の電源が接続されるようにし、か
    つ、前記表示装置をその適正使用温度にするための発熱
    体を設けたことを特徴とする計測診断装置。
  4. 【請求項4】外部記憶装置、及び表示装置を含む自動起
    動機能を有する計測診断装置において、電源を接続して
    起動に失敗した場合、前記外部記憶装置が発熱体の作用
    により、その適正使用温度になるまでの待ち時間を経
    て、再び自動起動を試みるように構成したことを特徴と
    する計測診断装置。
  5. 【請求項5】外部記憶装置、及び表示装置を含む自動起
    動機能を有する計測診断装置において、電源を接続して
    起動に失敗した場合、前記外部記憶装置が発熱体の作用
    により、その適正使用温度になるまでの待ち時間を経
    て、再び自動起動を試みるように構成するとともに、前
    記表示装置をその適正使用温度にするための発熱体を設
    けたことを特徴とする計測診断装置。
  6. 【請求項6】外部記憶装置、及び表示装置を含む計測診
    断装置において、前記外部記憶装置の主要部温度を表示
    する温度計を、その適温範囲を表示するマークとともに
    備えたことを特徴とする計測診断装置。
  7. 【請求項7】外部記憶装置、及び表示装置を含む計測診
    断装置において、前記表示装置の主要部温度を表示する
    温度計を、その適温範囲を表示するマークとともに備え
    たことを特徴とする計測診断装置。
JP4228313A 1992-08-27 1992-08-27 計測診断装置 Pending JPH0674986A (ja)

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JP4228313A JPH0674986A (ja) 1992-08-27 1992-08-27 計測診断装置

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JP4228313A JPH0674986A (ja) 1992-08-27 1992-08-27 計測診断装置

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JPH0674986A true JPH0674986A (ja) 1994-03-18

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ID=16874486

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JP4228313A Pending JPH0674986A (ja) 1992-08-27 1992-08-27 計測診断装置

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JP (1) JPH0674986A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008059652A (ja) * 2006-08-30 2008-03-13 Teac Corp ハードディスク装置
US7567407B2 (en) 2006-08-01 2009-07-28 Denso Corporation Storage apparatus, in-vehicle navigation system, and method for controlling temperature of storage apparatus
JP2012059037A (ja) * 2010-09-09 2012-03-22 Dakkusu:Kk 電子制御装置

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