JPH0670566A - モータドライブ装置 - Google Patents
モータドライブ装置Info
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- JPH0670566A JPH0670566A JP4218947A JP21894792A JPH0670566A JP H0670566 A JPH0670566 A JP H0670566A JP 4218947 A JP4218947 A JP 4218947A JP 21894792 A JP21894792 A JP 21894792A JP H0670566 A JPH0670566 A JP H0670566A
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- JP
- Japan
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- gain
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- Control Of Electric Motors In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 負荷となる機械系に振動などの悪影響を与え
ずに速度ループゲインを自動調整しゲイン調整の手間を
なくす。 【構成】 ランプ状の速度指令を含むパターンを発生す
るテストパターン発生器１０と、速度制御演算器２の積
分器１６への出力を遮断するスイッチ２０と、テストゲ
インへの切り替えが可能な速度ループゲイン乗算器１７
と、テストパターン発生器１０の出力と速度検出器９の
出力よりイナーシャを推定して最適な速度ループゲイン
を設定するゲイン調整器１２を備えた。 【効果】 実際に駆動するようなランプ部を含む速度指
令をテストパターンとし、さらに、負荷イナーシャなし
でもオーバーシュートしないゲインでテスト運転するた
め、機械系の無理のない速度パターンで負荷イナーシャ
を推定することができ、機械系での安全なオートチュー
ニングが可能となる。
ずに速度ループゲインを自動調整しゲイン調整の手間を
なくす。 【構成】 ランプ状の速度指令を含むパターンを発生す
るテストパターン発生器１０と、速度制御演算器２の積
分器１６への出力を遮断するスイッチ２０と、テストゲ
インへの切り替えが可能な速度ループゲイン乗算器１７
と、テストパターン発生器１０の出力と速度検出器９の
出力よりイナーシャを推定して最適な速度ループゲイン
を設定するゲイン調整器１２を備えた。 【効果】 実際に駆動するようなランプ部を含む速度指
令をテストパターンとし、さらに、負荷イナーシャなし
でもオーバーシュートしないゲインでテスト運転するた
め、機械系の無理のない速度パターンで負荷イナーシャ
を推定することができ、機械系での安全なオートチュー
ニングが可能となる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、オートチューニング機
能を持たせたモータドライブ装置に関するものである。
能を持たせたモータドライブ装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来からモータドライブ装置にオートチ
ューニング機能が用いられている。以下、従来のモータ
ドライブ装置について説明する。
ューニング機能が用いられている。以下、従来のモータ
ドライブ装置について説明する。
【０００３】図５は従来のモータドライブ装置の速度制
御ブロック図で、この速度制御系において、速度ループ
ゲインＫｖと、積分時間Ｔｉは調整パラメータ、Ｊはモ
ータと負荷のイナーシャ、Ｓはラプラス演算子で、この
系の入出力間の特性方程式は（数１）となる。
御ブロック図で、この速度制御系において、速度ループ
ゲインＫｖと、積分時間Ｔｉは調整パラメータ、Ｊはモ
ータと負荷のイナーシャ、Ｓはラプラス演算子で、この
系の入出力間の特性方程式は（数１）となる。
【０００４】
【数１】
【０００５】この（数１）より、Ｋｖ／Ｊが一定値であ
れば応答特性が同じになることがわかる。このため、Ｋ
ｖ／Ｊの最適値と、イナーシャＪがわかれば最適な速度
ループゲインＫｖが設定できるので、イナーシャＪを推
定し、速度ループゲインＫｖを求める方法が多く行われ
ている。
れば応答特性が同じになることがわかる。このため、Ｋ
ｖ／Ｊの最適値と、イナーシャＪがわかれば最適な速度
ループゲインＫｖが設定できるので、イナーシャＪを推
定し、速度ループゲインＫｖを求める方法が多く行われ
ている。
【０００６】オートチューニング機構には、運転中常に
ゲイン調整を行うオンライン調整タイプのものと、オフ
ライン時にテストパターンを発生し運転前に１度だけゲ
イン調整を行うタイプのものがある。前者は運転時、通
常の制御演算にゲイン調整処理が加わるためマイクロプ
ロセッサの負荷が大きくなる。このため運転中にイナー
シャの変動の小さい場合は、後者のオフライン調整が適
している。
ゲイン調整を行うオンライン調整タイプのものと、オフ
ライン時にテストパターンを発生し運転前に１度だけゲ
イン調整を行うタイプのものがある。前者は運転時、通
常の制御演算にゲイン調整処理が加わるためマイクロプ
ロセッサの負荷が大きくなる。このため運転中にイナー
シャの変動の小さい場合は、後者のオフライン調整が適
している。
【０００７】さらに、応答遅れを検出してゲイン調整を
行うものと、オーバーシュート量を検出してゲイン調整
を行うものがあるが、後者は調整前に大きなオーバーシ
ュートがあると機械系に大きな振動を与えるので好まし
くない。以下オフラインタイプでの応答遅れ検出方式の
オートチューニング機構について説明する。
行うものと、オーバーシュート量を検出してゲイン調整
を行うものがあるが、後者は調整前に大きなオーバーシ
ュートがあると機械系に大きな振動を与えるので好まし
くない。以下オフラインタイプでの応答遅れ検出方式の
オートチューニング機構について説明する。
【０００８】図６は従来のオートチューニング機構の備
わったモータドライブ装置の第１例の構成図である。図
６において、１は位置ループゲイン乗算器、２は速度制
御演算器、３は磁極検出器、４はトルク指令と磁極デー
タを乗算する乗算器、５は電流指令をＤ／Ａ変換するＤ
／Ａ変換器、６はモータへ電流を供給する電流アンプ、
７は回転位置を検出するエンコーダ、８はモータ、９は
エンコーダ信号より速度検出を行う速度検出器、１０は
テストパターン発生器、１１は速度制御演算器出力とテ
ストパターン発生器出力の切り替えスイッチ、１２はト
ルク指令値と速度検出値からイナーシャを推定し速度ル
ープゲインを調整するゲイン調整器である。
わったモータドライブ装置の第１例の構成図である。図
６において、１は位置ループゲイン乗算器、２は速度制
御演算器、３は磁極検出器、４はトルク指令と磁極デー
タを乗算する乗算器、５は電流指令をＤ／Ａ変換するＤ
／Ａ変換器、６はモータへ電流を供給する電流アンプ、
７は回転位置を検出するエンコーダ、８はモータ、９は
エンコーダ信号より速度検出を行う速度検出器、１０は
テストパターン発生器、１１は速度制御演算器出力とテ
ストパターン発生器出力の切り替えスイッチ、１２はト
ルク指令値と速度検出値からイナーシャを推定し速度ル
ープゲインを調整するゲイン調整器である。
【０００９】図７は従来のオートチューニング機構の備
わったモータドライブ装置の第２例の構成図であり、１
３は位置ループゲイン乗算器出力とテストパターン発生
器出力の切り替えスイッチであり、１４は応答遅れ時間
を計測するタイマーである。
わったモータドライブ装置の第２例の構成図であり、１
３は位置ループゲイン乗算器出力とテストパターン発生
器出力の切り替えスイッチであり、１４は応答遅れ時間
を計測するタイマーである。
【００１０】図８は従来のオートチューニング機構の備
わったモータドライブ装置の第３例の構成図である。
わったモータドライブ装置の第３例の構成図である。
【００１１】以上のように構成されたモータドライブ装
置についてその動作を以下に説明する。
置についてその動作を以下に説明する。
【００１２】図６に示す第１の例では、まず、切り替え
スイッチ１１をテストパターン発生器１０側にし、つぎ
に、ステップ状のトルク指令をテストパターン発生器１
０より出力する。
スイッチ１１をテストパターン発生器１０側にし、つぎ
に、ステップ状のトルク指令をテストパターン発生器１
０より出力する。
【００１３】さらに、ゲイン調整器１２ではモータの加
速時間を測定することによりイナーシャを推定し最適な
速度ループゲインを設定する。
速時間を測定することによりイナーシャを推定し最適な
速度ループゲインを設定する。
【００１４】図７に示す第２の例では、まず、切り替え
スイッチ１３をテストパターン発生器１０側にし、つぎ
に、ステップ状の速度指令をテストパターン発生器１０
より出力する。
スイッチ１３をテストパターン発生器１０側にし、つぎ
に、ステップ状の速度指令をテストパターン発生器１０
より出力する。
【００１５】さらに、ゲイン調整器１２ではモータの応
答遅れ時間を測定することによりイナーシャを推定し最
適な速度ループゲインを設定する。
答遅れ時間を測定することによりイナーシャを推定し最
適な速度ループゲインを設定する。
【００１６】図８に示す第３の例では、まず切り替えス
イッチ１３をテストパターン発生器１０側にし、つぎ
に、速度指令をテストパターン発生器１０より出力す
る。
イッチ１３をテストパターン発生器１０側にし、つぎ
に、速度指令をテストパターン発生器１０より出力す
る。
【００１７】さらに、ゲイン調整器１２ではトルク指令
と検出速度を観測することによりイナーシャを推定し最
適な速度ループゲインを設定する。
と検出速度を観測することによりイナーシャを推定し最
適な速度ループゲインを設定する。
【００１８】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の構成において、第１、第２の例では、モータを機械
に取り付けてイナーシャを推定するため、機械系に衝撃
が加わることを考慮してトルク指令の大きさを定める必
要があり、さらに、トルク指令では、モータの回転状態
がわからず、位置管理ができないため、機械系に取り付
けてのゲイン調整には制限がある。また、第３の例で
は、速度指令パターンには制限がないが、トルク指令と
検出速度よりイナーシャを推定するため、トルク指令を
電流指令に変換して電流をモータに流す場合に発生する
トルクと実際のトルク指令値との誤差により推定値に大
きく影響を与えるという問題点を有していた。
来の構成において、第１、第２の例では、モータを機械
に取り付けてイナーシャを推定するため、機械系に衝撃
が加わることを考慮してトルク指令の大きさを定める必
要があり、さらに、トルク指令では、モータの回転状態
がわからず、位置管理ができないため、機械系に取り付
けてのゲイン調整には制限がある。また、第３の例で
は、速度指令パターンには制限がないが、トルク指令と
検出速度よりイナーシャを推定するため、トルク指令を
電流指令に変換して電流をモータに流す場合に発生する
トルクと実際のトルク指令値との誤差により推定値に大
きく影響を与えるという問題点を有していた。
【００１９】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記問題点を
解決するため、モータの回転速度を変えるパターンを発
生するテストパターン発生手段と、モータの回転速度を
検出する速度検出手段からの出力との差に応じてモータ
の制御ループのループゲインを変えるゲイン可変手段を
備えた。
解決するため、モータの回転速度を変えるパターンを発
生するテストパターン発生手段と、モータの回転速度を
検出する速度検出手段からの出力との差に応じてモータ
の制御ループのループゲインを変えるゲイン可変手段を
備えた。
【００２０】
【作用】本発明は、上記構成によりテストパターン発生
手段の出力と、速度検出手段からの出力とにより、速度
偏差を観測することで負荷イナーシャを推定し、この負
荷イナーシャ値により適したループゲインを設定するこ
とができる。
手段の出力と、速度検出手段からの出力とにより、速度
偏差を観測することで負荷イナーシャを推定し、この負
荷イナーシャ値により適したループゲインを設定するこ
とができる。
【００２１】
【実施例】図１は本発明の一実施例における三相同期式
のモータドライブ装置の構成を示すものである。図１に
おいて、１は位置ループゲイン乗算器、２は速度制御演
算器、３はモータ磁極を検出する磁極検出器、４はトル
ク指令とモータ磁極検出値を乗算し電流指令を算出する
乗算器、５は電流指令をＤ／Ａ変換するＤ／Ａ変換器、
６はモータコイルに電流を供給する電流アンプ、７はモ
ータの回転位置を検出するエンコーダ、８はモータ、９
は速度を検出する速度検出器、１０は速度指令テストパ
ターンを発生するテストパターン発生器、１３は速度指
令選択信号１５によって位置ループゲイン乗算器１の出
力とテストパターン発生器１０の出力の選択を行う切り
替えスイッチ、１６は速度指令と速度検出値の差を積分
し増幅する積分器、１７は速度指令と速度検出値の差と
積分器１６の和を増幅する速度ループゲイン乗算器であ
り、テストゲイン設定信号１８によりスイッチ１９をＯ
Ｎ／ＯＦＦすることでオートチューニング時のテストゲ
インと通常ゲインとの切り替えができる。２０は積分器
遮断信号２１によって積分器１６の出力を遮断するスイ
ッチ、１２はテストパターン発生器１０の出力と速度検
出器９の出力よりゲイン設定を行うゲイン調整器であ
り、２２はテストパターン発生器１０の出力と速度検出
値を読み込むサンプラー、２３は絶対値演算器、２４は
積分器でありパターン出力開始信号２５によってクリア
される。２６はテストパターンに含まれるランプ部の時
間で除算する除算器、２９は理想偏差Ｅｒで除算する除
算器、２７はパターン出力完了信号２８により積分出力
を除算器２６へ出力するスイッチ、３０はテストゲイン
を乗ずる乗算器である。
のモータドライブ装置の構成を示すものである。図１に
おいて、１は位置ループゲイン乗算器、２は速度制御演
算器、３はモータ磁極を検出する磁極検出器、４はトル
ク指令とモータ磁極検出値を乗算し電流指令を算出する
乗算器、５は電流指令をＤ／Ａ変換するＤ／Ａ変換器、
６はモータコイルに電流を供給する電流アンプ、７はモ
ータの回転位置を検出するエンコーダ、８はモータ、９
は速度を検出する速度検出器、１０は速度指令テストパ
ターンを発生するテストパターン発生器、１３は速度指
令選択信号１５によって位置ループゲイン乗算器１の出
力とテストパターン発生器１０の出力の選択を行う切り
替えスイッチ、１６は速度指令と速度検出値の差を積分
し増幅する積分器、１７は速度指令と速度検出値の差と
積分器１６の和を増幅する速度ループゲイン乗算器であ
り、テストゲイン設定信号１８によりスイッチ１９をＯ
Ｎ／ＯＦＦすることでオートチューニング時のテストゲ
インと通常ゲインとの切り替えができる。２０は積分器
遮断信号２１によって積分器１６の出力を遮断するスイ
ッチ、１２はテストパターン発生器１０の出力と速度検
出器９の出力よりゲイン設定を行うゲイン調整器であ
り、２２はテストパターン発生器１０の出力と速度検出
値を読み込むサンプラー、２３は絶対値演算器、２４は
積分器でありパターン出力開始信号２５によってクリア
される。２６はテストパターンに含まれるランプ部の時
間で除算する除算器、２９は理想偏差Ｅｒで除算する除
算器、２７はパターン出力完了信号２８により積分出力
を除算器２６へ出力するスイッチ、３０はテストゲイン
を乗ずる乗算器である。
【００２２】ここで、速度ループゲイン乗算器１７内の
テストゲインＫｖと理想偏差Ｅｒを説明する。
テストゲインＫｖと理想偏差Ｅｒを説明する。
【００２３】積分器１６への出力を遮断するスイッチ２
０をＯＦＦすることによって、速度ループは図２のよう
に簡略化される。この系の伝達関数は（数２）となり、
一次系の特性を持つ。
０をＯＦＦすることによって、速度ループは図２のよう
に簡略化される。この系の伝達関数は（数２）となり、
一次系の特性を持つ。
【００２４】
【数２】
【００２５】ここで、モータイナーシャのみでの速度ル
ープ応答周波数を１００Ｈｚにするゲインをテストゲイ
ンとし次の（数３）を満たすテストゲインＫｖを設定す
る。
ープ応答周波数を１００Ｈｚにするゲインをテストゲイ
ンとし次の（数３）を満たすテストゲインＫｖを設定す
る。
【００２６】
【数３】
【００２７】ここで、速度指令の切り替えスイッチ１３
をテストパターン発生器１０側にし、ランプ部を含む速
度指令を入力すると、図３に示すようにランプ指令部で
は定常状態において一定の速度偏差が発生する。この速
度偏差を求めるため、まずランプ指令に対する応答を
（数４）に示す。
をテストパターン発生器１０側にし、ランプ部を含む速
度指令を入力すると、図３に示すようにランプ指令部で
は定常状態において一定の速度偏差が発生する。この速
度偏差を求めるため、まずランプ指令に対する応答を
（数４）に示す。
【００２８】
【数４】
【００２９】故に速度偏差は（数５）となる。
【００３０】
【数５】
【００３１】〈最終値の定理〉により定常偏差を求める
と（数６）となり、この定常偏差が理想定常偏差Ｅｒと
して設定される。
と（数６）となり、この定常偏差が理想定常偏差Ｅｒと
して設定される。
【００３２】
【数６】
【００３３】以上のように構成された本発明のモータド
ライブ装置について、以下その動作を説明する。
ライブ装置について、以下その動作を説明する。
【００３４】テストパターン発生器１０にオートチュー
ニング要求信号３１が入力されると、まず積分器遮断信
号２１によりスイッチ２０がＯＦＦし、積分器への出力
を遮断し、速度制御系を一次遅れ系とする。次にテスト
ゲイン設定信号１８をＯＮすることにより速度ループゲ
イン乗算器１７に負荷イナーシャなしでの理想応答周波
数を実現するテストゲインが設定され、さらに、速度指
令選択信号１５をＯＮすることによって切り替えスイッ
チ１３をテストパターン発生器１０側にする。またパタ
ーン出力開始信号２５をＯＮすることによって積分器２
４をクリアする。
ニング要求信号３１が入力されると、まず積分器遮断信
号２１によりスイッチ２０がＯＦＦし、積分器への出力
を遮断し、速度制御系を一次遅れ系とする。次にテスト
ゲイン設定信号１８をＯＮすることにより速度ループゲ
イン乗算器１７に負荷イナーシャなしでの理想応答周波
数を実現するテストゲインが設定され、さらに、速度指
令選択信号１５をＯＮすることによって切り替えスイッ
チ１３をテストパターン発生器１０側にする。またパタ
ーン出力開始信号２５をＯＮすることによって積分器２
４をクリアする。
【００３５】テストパターン発生器１０からのテストパ
ターンは図４に示すようなランプ部を持つ速度パターン
とし、オートチューニング終了時はもとの位置にもど
る。
ターンは図４に示すようなランプ部を持つ速度パターン
とし、オートチューニング終了時はもとの位置にもど
る。
【００３６】オートチューニング動作中は、サンプラー
２２によって、１ｍｓｅｃ間隔でテストパターンと速度
検出値が読み込まれ、絶対値演算器２３によりその差の
絶対値が積分器２４に入力される。
２２によって、１ｍｓｅｃ間隔でテストパターンと速度
検出値が読み込まれ、絶対値演算器２３によりその差の
絶対値が積分器２４に入力される。
【００３７】さらに、テストパターン発生器１０からの
パターン出力完了信号２８によりスイッチ２７がＯＮし
積分器２４の出力が除算器２６へ入力される。除算器２
６はテストパターンに含まれるランプ部の時間Ｔｒをｍ
ｓｅｃ単位で記憶しておき、この値で積分器２４の出力
を除算しテストパターン中の速度偏差の平均値を演算す
る。定常状態の占める割合が大きいことより除算器２６
の出力は定常速度偏差となる。この時、モータ以外の負
荷イナーシャＪｌがあると、除算器２６の出力は（数
７）のようになる。
パターン出力完了信号２８によりスイッチ２７がＯＮし
積分器２４の出力が除算器２６へ入力される。除算器２
６はテストパターンに含まれるランプ部の時間Ｔｒをｍ
ｓｅｃ単位で記憶しておき、この値で積分器２４の出力
を除算しテストパターン中の速度偏差の平均値を演算す
る。定常状態の占める割合が大きいことより除算器２６
の出力は定常速度偏差となる。この時、モータ以外の負
荷イナーシャＪｌがあると、除算器２６の出力は（数
７）のようになる。
【００３８】
【数７】
【００３９】さらに、除算器２９で負荷イナーシャがな
い場合の理想偏差Ｅｒで除算するとモータイナーシャに
対する負荷イナーシャの推定倍率（Ｊｍ＋Ｊｌ）／Ｊｍ
が算出され、乗算器３０によりテストゲインＫｖを乗算
し、Ｋｖ・（Ｊｍ＋Ｊｌ）／Ｊｍが算出され、負荷イナ
ーシャに適した速度ループゲインが出力される。この値
を速度ループゲイン乗算器１７の通常ゲインに設定す
る。
い場合の理想偏差Ｅｒで除算するとモータイナーシャに
対する負荷イナーシャの推定倍率（Ｊｍ＋Ｊｌ）／Ｊｍ
が算出され、乗算器３０によりテストゲインＫｖを乗算
し、Ｋｖ・（Ｊｍ＋Ｊｌ）／Ｊｍが算出され、負荷イナ
ーシャに適した速度ループゲインが出力される。この値
を速度ループゲイン乗算器１７の通常ゲインに設定す
る。
【００４０】以上でオートチューニング動作を完了し、
テストゲイン設定信号１８をＯＦＦし、速度ループゲイ
ン乗算器１７を通常のゲインに切り替え、積分遮断信号
２１をＯＦＦしてスイッチ２０をＯＮし、積分器１６に
よる積分動作をいかし、速度指令選択信号１５をＯＦＦ
することによって切り替えスイッチ１３を位置ループゲ
イン乗算器出力側にし通常の制御にもどる。
テストゲイン設定信号１８をＯＦＦし、速度ループゲイ
ン乗算器１７を通常のゲインに切り替え、積分遮断信号
２１をＯＦＦしてスイッチ２０をＯＮし、積分器１６に
よる積分動作をいかし、速度指令選択信号１５をＯＦＦ
することによって切り替えスイッチ１３を位置ループゲ
イン乗算器出力側にし通常の制御にもどる。
【００４１】
【発明の効果】以上のように、本発明のモータドライブ
装置はモータの回転速度を変えるパターンを発生するテ
ストパターン発生手段とモータの回転速度を検出する速
度検出手段からの出力との差に応じてモータの制御ルー
プのループゲインを変えるゲイン可変手段を備えたこと
によりテストパターン発生手段の出力と、速度検出手段
からの出力とにより、速度偏差を観測することで負荷イ
ナーシャを推定し、この負荷イナーシャ値により適した
ループゲインを設定することができオートチューニング
が可能となる。
装置はモータの回転速度を変えるパターンを発生するテ
ストパターン発生手段とモータの回転速度を検出する速
度検出手段からの出力との差に応じてモータの制御ルー
プのループゲインを変えるゲイン可変手段を備えたこと
によりテストパターン発生手段の出力と、速度検出手段
からの出力とにより、速度偏差を観測することで負荷イ
ナーシャを推定し、この負荷イナーシャ値により適した
ループゲインを設定することができオートチューニング
が可能となる。
【図１】本発明の一実施例におけるモータドライブ装置
の構成図
の構成図
【図２】本発明の一実施例におけるモータドライブ装置
のオートチューニング時の速度制御系のブロック図
のオートチューニング時の速度制御系のブロック図
【図３】本発明の一実施例におけるモータドライブ装置
のランプ入力時の定常偏差図
のランプ入力時の定常偏差図
【図４】本発明の一実施例におけるモータドライブ装置
の速度テストパターン図
の速度テストパターン図
【図５】従来のモータドライブ装置の速度制御ブロック
図
図
【図６】従来のモータドライブ装置の第１の例の構成図
【図７】従来のモータドライブ装置の第２の例の構成図
【図８】従来のモータドライブ装置の第３の例の構成図
１ 位置ループゲイン乗算器 ２ 速度制御演算器 ３ 磁極検出器 ４ 乗算器 ５ Ｄ／Ａ変換器 ６ 電流アンプ ７ エンコーダ ８ モータ ９ 速度検出器 １０ テストパターン発生器 １３ 切り替えスイッチ １５ 速度指令選択信号 １６ 積分器 １７ 速度ループゲイン乗算器 １８ テストゲイン設定信号 １９ スイッチ ２０ スイッチ ２１ 積分器遮断信号 ２２ サンプラー ２３ 絶対値演算器 ２４ 積分器 ２５ パターン出力開始信号 ２６ 除算器 ２７ スイッチ ２８ パターン出力完了信号 ２９ 除算器 ３０ 乗算器 ３１ オートチューニング要求信号
Claims (4)
- 【請求項１】モータの制御を行う制御ループを備えたモ
ータドライブ装置であって、前記モータの回転速度を変
えるパターンを発生するテストパターン発生手段と、前
記モータの回転速度を検出する速度検出手段とを有し、
前記テストパターン発生手段からの出力と前記速度検出
手段からの出力との差に応じて制御ループのループゲイ
ンを変えるゲイン可変手段を備えたことを特徴とするモ
ータドライブ装置。 - 【請求項２】テストパターン発生手段からの出力をラン
プ指令部を持つパターンとすることを特徴とする請求項
１記載のモータドライブ装置。 - 【請求項３】負荷イナーシャなしの場合の最適速度ルー
プゲインを設定し、この時のテストパターン発生手段か
らの出力と速度検出手段からの出力との差に応じてゲイ
ン可変手段によりループゲインを変えることを特徴とす
る請求項１記載のモータドライブ装置。 - 【請求項４】テストパターン発生手段からの出力をラン
プ指令部と定速部からなるパターンとし、このパターン
と速度検出手段からの出力値の差を積分し、その積分値
よりイナーシャを推定し、そのイナーシャの推定値に応
じてゲイン可変手段が変えることを特徴とする請求項１
記載のモータドライブ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4218947A JPH0670566A (ja) | 1992-08-18 | 1992-08-18 | モータドライブ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4218947A JPH0670566A (ja) | 1992-08-18 | 1992-08-18 | モータドライブ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0670566A true JPH0670566A (ja) | 1994-03-11 |
Family
ID=16727830
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4218947A Pending JPH0670566A (ja) | 1992-08-18 | 1992-08-18 | モータドライブ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0670566A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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1992
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