JPH0664992A - 単結晶引上装置 - Google Patents

単結晶引上装置

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JPH0664992A
JPH0664992A JP3203040A JP20304091A JPH0664992A JP H0664992 A JPH0664992 A JP H0664992A JP 3203040 A JP3203040 A JP 3203040A JP 20304091 A JP20304091 A JP 20304091A JP H0664992 A JPH0664992 A JP H0664992A
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JP
Japan
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single crystal
pipe
furnace body
crucible
pulling
Prior art date
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Pending
Application number
JP3203040A
Other languages
English (en)
Inventor
Hitoshi Sasaki
斉 佐々木
Mikio Kadoi
幹夫 門井
Hisashi Furuya
久 降屋
Yasushi Shimanuki
康 島貫
Kazuhiro Ikezawa
一浩 池沢
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Materials Silicon Corp
Mitsubishi Materials Corp
Original Assignee
Mitsubishi Materials Silicon Corp
Mitsubishi Materials Corp
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Publication date
Application filed by Mitsubishi Materials Silicon Corp, Mitsubishi Materials Corp filed Critical Mitsubishi Materials Silicon Corp
Priority to JP3203040A priority Critical patent/JPH0664992A/ja
Publication of JPH0664992A publication Critical patent/JPH0664992A/ja
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  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
  • Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 比較的簡単な構造でかつ炉本体内の雰囲気ガ
スの流れの変動を効果的に抑制できると共に、高品質の
無転位単結晶を円滑にかつ確実に得ることができる単結
晶引上装置を提供することを目的とする。 【構成】 単結晶格納部8に設けられた圧力検出器20
によって検出された値に基づいて、制御装置21におい
て可変バルブ13,17,24の開度を制御し、上記単
結晶格納部8の圧力を一定に保持する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、チョクラルスキー法を
用いて、ルツボ内に収納された融液からシリコン等の単
結晶を引上げる単結晶引上装置に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、この種の単結晶引上装置として
は、炉本体の内部にルツボが設けられ、このルツボに黒
鉛サセプタを介して、昇降自在かつ回転自在な下軸が取
付けられ、かつ上記ルツボ及び黒鉛サセプタの周囲に、
ルツボ内に収納された融液の温度を制御するヒータが設
置されると共に、このヒータと上記炉本体との間に保温
筒が配置される一方、炉本体の上部に単結晶格納部が設
置され、また、この単結晶格納部の上方から種結晶を下
端部に把持するワイヤが昇降自在にかつ回転自在に吊り
下げられ、さらに、上記単結晶格納部の上端に、流量計
を有する不活性ガス(アルゴンガス)供給用の導入管が
連結されたものが知られている。そして、この単結晶引
上装置を用いてシリコン単結晶を製造する場合には、単
結晶格納部の上端の導入管から内部にアルゴンガスを供
給し、かつ炉本体の底部から排出することによって、炉
本体内の雰囲気をアルゴンガスに置換すると共に、上記
ヒータによってルツボ内の融液の温度を単結晶引上げに
適した温度に制御した後に、上方よりワイヤの下端に把
持された状態の種結晶を下降させて融液に浸漬させ、さ
らに、ルツボを一方向に回転させる一方、種結晶を逆方
向に回転させながら引上げることにより、シリコン単結
晶を得るようにしている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところで、半導体装置
の高集積化にともない、シリコン単結晶中の酸素濃度を
均一化することが望まれており、このための方法とし
て、石英ルツボ内シリコン融液から垂直上方に引き上げ
られるシリコン単結晶を同心に包囲する整流筒下端と該
シリコン融液の表面との間隔を制御して、該整流筒に流
下される不活性ガスの該間を通る流速を制御する方法が
提案されている(特開平3−122089号公報参
照)。しかしながら、この方法にあっては、上記整流筒
下端とシリコン融液の表面との間隔のみに着目して、こ
れを制御しようとするものであるため、次のような問題
が生じる。
【0004】すなわち、整流筒下端に、引上げ中のシリ
コン単結晶の肩部が接近すると、整流筒下端の開口面積
が減少するため、整流筒内を流下する不活性ガスの流速
に急激な変化が生じ、また流路も乱れる。この結果、ル
ツボ内の融液面に乱れが生じ、かつ温度バランスが変動
するため、単結晶の成長及び品質に悪影響を及ぼすとい
う問題がある。
【0005】本発明は、上記事情に鑑みてなされたもの
で、その目的とするところは、比較的簡単な構造でかつ
炉本体内の雰囲気ガスの流れの変動を効果的に抑制でき
ると共に、高品質の無転位単結晶を円滑にかつ確実に得
ることができる単結晶引上装置を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、炉本体の上部に単結晶格納部が設けら
れ、上記炉本体内にルツボが設けられると共に、上記単
結晶格納部の上部に雰囲気ガスの導入管が連結され、ま
た上記炉本体の上部に分岐管の流出口が形成され、さら
に上記導入管と分岐管とが、上記雰囲気ガスを供給する
供給管に連結される一方、上記導入管と分岐管と供給管
のうち少なくとも一つにバルブが設けられてなり、チョ
クラルスキー法を用いて、上記ルツボ内に収納された融
液から単結晶を引上げる単結晶引上装置において、上記
単結晶格納部に設けられ、かつ上記雰囲気ガスの圧力を
検出する圧力検出器と、この圧力検出器が検出した値に
基づいて上記バルブの開度を制御する制御手段とを備え
たものである。
【0007】
【作用】本発明の単結晶引上装置にあっては、単結晶格
納部に設けられた圧力検出器によって検出された値に基
づいて、制御手段においてバルブの開度を制御し、上記
単結晶格納部の圧力を一定に保持する。
【0008】
【実施例】以下、図1に基づいて本発明の一実施例を説
明する。
【0009】図中符号1は炉本体であり、この炉本体1
の内部にはルツボ2が設けられている。そして、このル
ツボ2には黒鉛サセプタ3を介して、昇降自在かつ回転
自在な下軸4が取付けられ、かつ上記ルツボ2及び黒鉛
サセプタ3の周囲には、ルツボ2内に収納された融液5
の温度を制御するヒータ6が設置されている。また、こ
のヒータ6と上記炉本体1との間には保温筒7が配置さ
れており、炉本体1の上部には単結晶格納部8が設置さ
れている。そして、この単結晶格納部8の上方から種結
晶を下端部に把持するワイヤ9が昇降自在にかつ回転自
在に吊り下げられている。さらに、上記ルツボ2と単結
晶格納部8との間には、筒状の輻射熱遮蔽体10が設け
られている。
【0010】上記単結晶格納部8の下部には、引上中の
シリコン単結晶19を冷却する機能を有する単結晶冷却
筒22が、上記炉本体1の内部に垂下して設けられてい
る。この単結晶冷却筒22と炉本体1の首部との間には
筒状の流路11が形成されている。また、上記単結晶格
納部8の上端には、アルゴンガスを単結晶格納部8内に
供給する導入管12が連結されており、かつ上記流路1
1の上端には、可変バルブ13及び流量計14を備えた
分岐管15が連結されている。そして上記導入管12と
分岐管15とは互いに連結されて流量計16及び可変バ
ルブ17を備えた供給管18に接続されており、この供
給管18はアルゴンガス供給源(図示せず)に連結され
ている。
【0011】また、上記単結晶格納部8の上端内部に
は、この単結晶格納部8内の圧力を検出する圧力検出器
20が設置されており、この圧力検出器20の出力は、
制御装置21に入力されている。そして、この制御装置
21は、上記圧力検出器20の検出値に基づいて、上記
単結晶格納部8内の圧力が一定になるように、上記可変
バルブ13あるいは可変バルブ17の開度を制御するよ
うに構成されている。
【0012】上記のように構成された単結晶引上装置に
おいてシリコン単結晶19を引上げる場合には、まず、
供給管18に備えた可変バルブ17と分岐管15に備え
た可変バルブ13の開度を適宜操作した状態で、上記導
入管12及び分岐管15を介してアルゴンガスを内部に
供給することにより、炉本体1内の雰囲気をアルゴンガ
スに置換すると共に、ヒータ6によってルツボ2内の融
液5の温度を単結晶引上げに適した温度に制御した後
に、上方よりワイヤ9の下端に把持された状態の種結晶
を下降させて融液5に浸漬させる。次いで、従来公知の
方法により、ルツボ2を一方向に回転させる一方、上記
種結晶を逆方向に回転させながら引上げることによりシ
リコン単結晶19を引上げ成長させる。
【0013】このようにして、シリコン単結晶19を引
上げていくに際して、単結晶格納部8内の圧力に変動が
生じようとすると、特に、シリコン単結晶19の上部の
肩部が単結晶冷却筒22の下端に接近することにより、
単結晶格納部8の内部を流下するアルゴンガスの流路抵
抗が増大して、単結晶格納部8内の圧力が大幅に変動し
ようとすると、上記圧力検出器20が単結晶格納部8内
の圧力の変化を検出し、この圧力の変化が制御装置21
に入力されるから、制御装置21は、迅速に単結晶格納
部8内の圧力が一定になるように上記可変バルブ13あ
るいは可変バルブ17の開度を調整する。この結果、炉
本体1内に供給されるアルゴンガスの流れ、特に単結晶
格納部8内から流下するアルゴンガスの流れが急激に変
動することが抑制される。従って、ルツボ2内の融液面
の乱れ及び温度変化は生じることがなく、かつ円滑に融
液5からの反応生成ガスの排気が行われるから、結晶中
の酸素濃度が均一でかつ無転位のシリコン単結晶19を
確実に引上げ成長させることができる。
【0014】なお、上記実施例では、単結晶格納部8内
の圧力を制御する手段として、分岐管15に設けた可変
バルブ13を制御するように説明したが、上記導入管1
2に流量計23と可変バルブ24を設けて単結晶格納部
8の圧力を制御してもよい。これらの場合、炉本体1内
に供給されるアルゴンガスの総量は一定であるので、炉
本体1内の熱バランスが崩れることがなく、かつ反応生
成ガスの排気力も一定に保たれるという効果がある。一
方、炉本体1内に供給されるアルゴンガスの総量が多少
変化しても、上記ルツボ2内の結晶固液界面付近の状態
にあまり影響がない場合には、上記供給管18に設けた
可変バルブ17を制御してもよく、また、上記各管1
2,15,18にそれぞれ設けた可変バルブ24,1
3,17を、各々制御してもよい。さらに、上記制御装
置21において、上記ワイヤ9の引上機構からの信号
(引上中のシリコン単結晶19の位置信号)に基づい
て、単結晶格納部8内の圧力変動が大きくなると予想さ
れるシリコン単結晶引上初期やシリコン単結晶の肩部が
単結晶冷却筒22内に進入する前後にあっては、圧力検
出器20からの検出信号と設定値とを比較する際のゲイ
ンを大きくするようにしてもよい。さらにまた、上記圧
力検出器20の検出値の微分を演算することにより、単
結晶格納部8内の圧力の急激な変化を、一層迅速にかつ
確実にとらえてフィードバック制御の応答性を高めるよ
うにしてもよい。
【0015】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、炉本体
の上部に単結晶格納部が設けられ、上記炉本体内にルツ
ボが設けられると共に、上記単結晶格納部の上部に雰囲
気ガスの導入管が連結され、また上記炉本体の上部に分
岐管の流出口が形成され、さらに上記導入管と分岐管と
が互いに連結されて同一の雰囲気ガス供給源から雰囲気
ガスが供給される一方、上記導入管と分岐管のうち少な
くとも一方にバルブが設けられてなり、チョクラルスキ
ー法を用いて、上記ルツボ内に収納された融液から単結
晶を引上げる単結晶引上装置において、上記単結晶格納
部に設けられ、かつ上記雰囲気ガスの圧力を検出する圧
力検出器と、この圧力検出器が検出した値に基づいて上
記バルブの開度を制御する制御手段とを備えたものであ
るから、単結晶格納部に設けられた圧力検出器によって
検出された値に基づいて、制御手段においてバルブの開
度を制御し、上記単結晶格納部の圧力を一定に保持する
ことにより、比較的簡単な構造でかつ炉本体内の雰囲気
ガスの流れの変動を効果的に抑制できると共に、酸素濃
度の変化が少ない上に結晶欠陥が少ない高品質の無転位
単結晶を円滑にかつ確実に得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示す概略構成図である。
【符号の説明】
1 炉本体 2 ルツボ 5 融液 8 単結晶格納部 12 導入管 13 可変バルブ 15 分岐管 17 可変バルブ 18 供給管 19 シリコン単結晶 20 圧力検出器 21 制御装置(制御手段) 24 可変バルブ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 降屋 久 埼玉県大宮市北袋町1丁目297番地 三菱 マテリアル株式会社中央研究所内 (72)発明者 島貫 康 埼玉県大宮市北袋町1丁目297番地 三菱 マテリアル株式会社中央研究所内 (72)発明者 池沢 一浩 東京都千代田区岩本町3丁目8番16号 日 本シリコン株式会社内

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 炉本体の上部に単結晶格納部が設けら
    れ、上記炉本体内にルツボが設けられると共に、上記単
    結晶格納部の上部に雰囲気ガスの導入管が連結され、ま
    た上記炉本体の上部に分岐管の流出口が形成され、さら
    に上記導入管と分岐管とが、上記雰囲気ガスを供給する
    供給管に連結される一方、上記導入管と分岐管と供給管
    のうち少なくとも一つにバルブが設けられてなり、チョ
    クラルスキー法を用いて、上記ルツボ内に収納された融
    液から単結晶を引上げる単結晶引上装置において、上記
    単結晶格納部に設けられ、かつ上記雰囲気ガスの圧力を
    検出する圧力検出器と、この圧力検出器が検出した値に
    基づいて上記バルブの開度を制御する制御手段とを具備
    したことを特徴とする単結晶引上装置。
JP3203040A 1991-08-13 1991-08-13 単結晶引上装置 Pending JPH0664992A (ja)

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ID=16467351

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05178688A (ja) * 1991-12-27 1993-07-20 Komatsu Denshi Kinzoku Kk 単結晶の引上げ方法及び引上げ装置
KR101279390B1 (ko) * 2011-04-13 2013-07-04 주식회사 엘지실트론 단결정 잉곳 성장장치 및 잉곳 성장장치에서의 가스분사방법

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61117191A (ja) * 1984-11-12 1986-06-04 Toshiba Ceramics Co Ltd シリコン単結晶の製造装置
JPH03159987A (ja) * 1989-11-16 1991-07-09 Shin Etsu Handotai Co Ltd 単結晶の比抵抗コントロール方法

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61117191A (ja) * 1984-11-12 1986-06-04 Toshiba Ceramics Co Ltd シリコン単結晶の製造装置
JPH03159987A (ja) * 1989-11-16 1991-07-09 Shin Etsu Handotai Co Ltd 単結晶の比抵抗コントロール方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05178688A (ja) * 1991-12-27 1993-07-20 Komatsu Denshi Kinzoku Kk 単結晶の引上げ方法及び引上げ装置
KR101279390B1 (ko) * 2011-04-13 2013-07-04 주식회사 엘지실트론 단결정 잉곳 성장장치 및 잉곳 성장장치에서의 가스분사방법

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Legal Events

Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 19980512