JPH0662377U - 電線の導通検査治具 - Google Patents

電線の導通検査治具

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Publication number
JPH0662377U
JPH0662377U JP840993U JP840993U JPH0662377U JP H0662377 U JPH0662377 U JP H0662377U JP 840993 U JP840993 U JP 840993U JP 840993 U JP840993 U JP 840993U JP H0662377 U JPH0662377 U JP H0662377U
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JP
Japan
Prior art keywords
electric wire
probe pin
wire
contact
continuity inspection
Prior art date
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Pending
Application number
JP840993U
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English (en)
Inventor
清貴 広瀬
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Wiring Systems Ltd
Original Assignee
Sumitomo Wiring Systems Ltd
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Publication date
Application filed by Sumitomo Wiring Systems Ltd filed Critical Sumitomo Wiring Systems Ltd
Priority to JP840993U priority Critical patent/JPH0662377U/ja
Publication of JPH0662377U publication Critical patent/JPH0662377U/ja
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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 電線の切り放し端にプローブピンを接触させ
て電線の導通検査をするにおいて、その導通検査がし易
く、かつ、検査信頼性を向上する電線の導通検査治具を
提供する。 【構成】 ブロック部材の治具主体1に、ストレート状
のテスト孔2を貫設し、テスト孔2は、前半部分が電線
挿着部3、後半部分がプローブピン装着部4をなし、そ
の電線挿着部3の周壁に、挿入電線係止用の弾性係止リ
ング5を装着すると共に、プローブピン装着部4に、コ
ンタクトピン7の尖頭7Aを電線挿着部3に突き出すプ
ローブピン6を装着し、電線挿着部3に挿入した電線9
を弾性係止リング5で保持し、その電線9の導体8にコ
ンタクトピン7を接触させて導通検査する構造が特徴で
ある。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は、例えば、端子を接続した一端をコネクタに挿着し、他端を切り放し た電線の導通性を検査するのに用いる電線の導通検査治具に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
端子を接続した一端をコネクタに接続し、他端の絶縁被覆と導体を一括して切 り放した状態の電線の導通性を検査する場合は、被検査電線のコネクタを接続す る検査コネクタとリード線の先端に公知のプローブピンを設けた導通テスターが 用いられ、その検査コネクタを電線側のコネクタに接続し、プローブピンを電線 他端の切り放し端の導体に接触させることによって、電線個々の導通性を検査す る方法が採られている。
【0003】
【考案が解決しようとする課題】
以上の従来の検査手段によると、電線の切り放し端が、絶縁被覆から導体が突 き出している状態の場合は、プローブピンを接触させ易いので的確な導通検査が 能率的にできる。しかし、絶縁被覆電線の切り放し端は、切り放し加工の応力に よって被覆が伸び、導体が被覆の奥に凹む形状を呈するものが多く、このような 導体凹みの場合は、電線を片手で保持して、凹み状態の導体にプローブピンを接 触させる作業が必要になるので、作業が面倒にして能率が悪く、その上、プロー ブピンの接触不備を生じ易く、検査の信頼性を損なう不具合がある。
【0004】 本考案は、以上の従来技術の不具合点を解消する電線の導通検査治具を提供す るものである。
【0005】
【課題を解決するための手段】
以上の技術課題を解決する本考案の電線の導通検査治具は、「ブロック部材の 治具主体に、ストレート状のテスト孔を貫設し、該テスト孔の前半部分を、周壁 に挿入電線係止用の弾性係止リングを装着した電線挿着部になすと共に、該テス ト孔の後半部分を、コンタクトピンの尖頭を該電線挿着部に突き出すプローブピ ンを装着したプローブピン装着部となし、前記テスト孔に挿入係止した電線端の 導体と前記コンタクトピンの尖頭を接触させる構造」が特徴である。そして、そ のテスト孔は、必要に応じて被検査コネクタの引き出し電線数と同数等の群とし て単一の治具主体に設けることがある。
【0006】
【作用】
以上の構成の本考案の電線の導通検査治具は、同一テスト孔に挿着された電線 端とプローブピンのコンタクトピンの尖頭が、同一直線上で対向し、かつ、その テスト孔への挿入電線は、周壁に装着された弾性係止リングで締め付けられて、 挿入姿勢が係止されるので、電線端の導体が絶縁被覆から凹んだ状態の切り放し 端であっても、電線を片手で保持する必要がなく、導通検査がし易く、かつ、的 確な検査ができる。そして、前記態様のコネクタの電線数と同一数のテスト孔を 設けたものは、そのコネクタの電線群を一括した導通検査が可能になる。
【0007】
【実施例】
以下、実施例に基づいて詳しく説明する。まず、本考案の第一実施例を示す図 1を参照して、本考案の電線の導通検査治具は、直方体のブロック部材の治具主 体1に、単数または複数のストレート状のテスト孔2(図示は平行3個)が貫設 され、このテスト孔2は、前半部分が電線挿着部3、後半部分がプローブピン装 着部4をなしている。そして、電線挿着部3の入口近傍の周壁には、ゴム製の弾 性係止リング5が装着され、この電線挿着部3に挿入した電線9に弾性係止リン グ5が弾着して、電線9が入口方向に後退しないように、係止保持されるように なっている。また、プローブピン装着部4は、公知のプローブピン6が下端入口 から挿入着されると共に、そのプローブピン6のコンタクトピン7の尖頭7Aが 、電線挿着部3に若干突き出して装着されている。
【0008】 そして、図1の(C)参照、検査すべき電線9の切り放し端11を電線挿着部 3に挿入して、電線9の導体8とコンタクトピン7を接触させると共に、その姿 勢の電線9を弾性係止リング5によって保持し、プローブピン6をリード線14 を介して連結した導通テスター15の他端のリード線14を、電線9の他端13 に接触させることによって、3個のテスト孔2に挿着した3本の電線9の導通検 査を、順次連続してなすようになっている。以上の実施例のものは前記の作用が あり、電線9を片手で保持する必要がなく、能率的に導通検査ができる。そして 、切り放し端11の導体8が絶縁被覆から凹んでいても、プローブピン6のコン タクトピン7の尖頭7Aと導体8は、電線9の挿入量を正常になしておけば、的 確に接触して正常な導通検査ができる。
【0009】 つぎに、図2を参照して本考案の他の実施例を説明する。この実施例のものは 単一のコネクタ16に端子を挿着して引き出し、かつ、その引き出し端が切り放 し端11をなす電線9群(図示は5本)を、一括して導通検査をなす治具であり 、前記実施例と同一の電線挿着部3とプローブピン装着部4からなるテスト孔2 が、治具主体1に5個並設されている。そして、プローブピン6は、図1の(B )参照、コンタクトピン7が弾性進退できる付勢ばね17を内装したものが用い てある。なお、図中の24は弾性係止リング5の押え板であり、12は治具主体 1から突き出したプローブピン7のカバー部である。
【0010】 そして、以上の治具主体1は、導通テスター15と組合せられて導通検査装置 を構成し、コネクタ16の電線9群の導通検査が一括してできるようになってい る。即ち、図2の(C)参照、治具主体1を定置する検査盤20に、コネクタ1 6と接続可能の検査コネクタ22を進退自在に配設すると共に、この検査コネク タ22と治具主体1のプローブピン6とを、リード線14を介して導通テスター 15と接続して導通検査装置が構成されている。そして、この検査コネクタ22 に対向して被検査側のコネクタ16を固定セットすると共に、電線9群の切り放 し端11を治具主体1のテスト孔2に個別に挿入着し、しかるのち、検査コネク タ22のスライドレバー23を回転させてコネクタ16・22を接続し、電線9 群の導通テストが一括してなされる。この図2実施例のものによると、コンタク トピン7が弾性進退するので、電線9の電線挿着部3への挿入量が若干ばらつい ても、コンパクトピン7と電線9の導体8の接触は良好に維持されるので検査の 信頼性が一段と向上すると共に、単一コネクタの電線群の一括検査ができる。
【0011】
【考案の効果】
以上の説明のとおり、本考案の電線の導通検査治具は、電線の導通検査の作業 性と作業能率を向上すると共に、切り放し端電線の導通検査の信頼性を向上する 効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案第一実施例の導通検査治具を示し、図中
の(A)はその外観斜視図、図中の(B)はそのテスト
孔の縦断面拡大図、図中の(C)はその使用方法の説明
【図2】本考案の他の実施例の導通検査治具を示し、図
中の(A)はその外観斜視図、図中の(B)はそのテス
ト孔の縦断面拡大図、図中の(C)はその使用方法の説
明図
【符号の説明】
1 治具主体 2 テスト孔 3 電線挿着部 4 プローブピン装着部 5 弾性係止リング 6 プローブピン 7 コンタクトピン 7A コンタクトピンの尖頭 8 導体 9 電線 11 切り放し端 13 電線の他端 14 リード線 15 導通テスター 16 コネクタ 22 検査コネクタ

Claims (3)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ブロック部材の治具主体に、ストレート
    状のテスト孔を貫設し、該テスト孔の前半部分を、周壁
    に挿入電線係止用の弾性係止リングを装着した電線挿着
    部になすと共に、該テスト孔の後半部分を、コンタクト
    ピンの尖頭を該電線挿着部に突き出すプローブピンを装
    着したプローブピン装着部となし、前記テスト孔に挿入
    係止した電線端の導体と前記コンタクトピンの尖頭を接
    触させる構造を特徴とする電線の導通検査治具。
  2. 【請求項2】 被検査コネクタの引き出し電線数と同数
    のテスト孔を群として並設した請求項1の電線の導通検
    査治具。
  3. 【請求項3】 コンタクトピンが弾性進退自在構造のプ
    ローブピンを用いた請求項1または請求項2の電線の導
    通検査治具。
JP840993U 1993-02-05 1993-02-05 電線の導通検査治具 Pending JPH0662377U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP840993U JPH0662377U (ja) 1993-02-05 1993-02-05 電線の導通検査治具

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JP840993U JPH0662377U (ja) 1993-02-05 1993-02-05 電線の導通検査治具

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0662377U true JPH0662377U (ja) 1994-09-02

Family

ID=11692359

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JP840993U Pending JPH0662377U (ja) 1993-02-05 1993-02-05 電線の導通検査治具

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JP (1) JPH0662377U (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015228300A (ja) * 2014-05-30 2015-12-17 タツタ電線株式会社 絶縁電線の耐電圧試験

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