JPH065864B2 - Ris用自動白レベル制御 - Google Patents

Ris用自動白レベル制御

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JPH065864B2
JPH065864B2 JP60234395A JP23439585A JPH065864B2 JP H065864 B2 JPH065864 B2 JP H065864B2 JP 60234395 A JP60234395 A JP 60234395A JP 23439585 A JP23439585 A JP 23439585A JP H065864 B2 JPH065864 B2 JP H065864B2
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    • G06K7/10544Methods or arrangements for sensing record carriers, e.g. for reading patterns by electromagnetic radiation, e.g. optical sensing; by corpuscular radiation by scanning of the records by radiation in the optical part of the electromagnetic spectrum
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    • G06K7/10851Circuits for pulse shaping, amplifying, eliminating noise signals, checking the function of the sensing device
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Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の背景〕 本発明は、ラスタ入力スキャナ(RIS)において光電
子倍増管の出力を、或いはラスタ出力スキャナ(RO
S)において走査ビームの光レベルを、一定レベルに維
持する回路であり、特に較正フェーズの間に希望するレ
ベルからの光レベルの偏移量を決定し、その補正値を、
出力を正規化するための動作の実際の読み取り或いは書
き込みフェーズの間に使用する回路に関する。
回転多面体を有する形式のラスタ入力スキャナにおいて
は、フライングスポットを生成するために、光のビーム
は一時に多面体の一つの面を照射する。これは順次原稿
の1本の線を照射し、反射光は、アナログ電圧形態の映
像の1本の線を形成するために光電子倍増管で受けとめ
られる。
多面体システムにおける問題は、線の中央において遅く
なるスポット速度の関数として、光学的パラメータ(効
率のような)の変化による線に沿ったエネルギ分布の関
数として、また、線の両端において直角からずれる原稿
とビームとの間の角度の関数として、光の強度が線を横
切って変化することである。
一つの従来の補正システムは、試験帯体の走査を含む予
備較正手順を使用する。光量は、光電子倍増管(PM
T)で測定され、そのアナログ出力電圧は閾値と比較さ
れる。補正電圧は、この比較から決定されそして記憶さ
れる。その後、システムの通常動作の間に、この補正電
圧は、元の明るさを一定レベルとし、回路の出力を一定
電圧に維持するためにPMT出力に戻って加算される。
しかしながら、このシステムには問題がある。増幅回路
の利得の補正は、システムの帯域幅を変えるので、補正
が正確であるという保証がない。これらの問題は、帯域
幅及び光レベルの変化が色を歪ませるカラーシステムに
おいては一層重要になる。
ラスタ出力スキャナも同様である。強度変調されたフラ
イングスポットは、電子写真(xerographic)ドラム或い
はこれと同様なものを照射し、ドラムにおける光の基本
的強度の変化が色の歪みを引き起こす。
要求されるものは、増幅回路の帯域幅を変えずに正確な
補正を行う、光の変動を補正するためのシステムであ
る。
〔発明の概要〕
本発明は、これらの目的を補正フェーズの間に補正電圧
を発生することにより達成する。この補正電圧は、正確
な補正を行うために帰還回路とともに使用され、またシ
ステムの帯域幅を補正に無関係にするために、光レベル
或いはPMTの増幅度のいずれかを変化するために使用
される。
ラスタ入力スキャナにおいては、較正フェーズの間に、
既知の反射率の、典型的には白色或いは灰色の試験帯体
がスポットにより走査され、PMTの出力は、予め決め
られた閾値と比較される。その差はアナログ電圧であ
り、それによりPMTの出力が補正されなけらばならな
い。情報を記憶する最も一般的な方法は、それをデジタ
ル的に記憶することである。この場合、比較器の出力
は、デジタル形態に変換されてRAMに記憶され、それ
からPMTの1個のダイノードの入力として使用するら
めにアナログに再変換される。
PMTは、典型的には多数のダイノードを有し、各ダイ
ノードは、二次放射原理により信号を増幅する。各段の
利得は、そのノードと前のノードとの間の電圧差の関数
である。それゆえ、PMTの増幅度は、全てのダイノー
ドに印加される全体の電圧或いは1個のダイノーに印加
される単一の電圧のいずれかを変えることにより調整可
能である。単一のダイノードへの印加電圧の代わりに、
全体のPMT印加電圧を変えることによりPMTにおけ
るダイナミック利得の変化を起こさせる試みは、複雑な
ダイノードバイアス構成を必要とする。しかしながら、
僅かな利得の変化のみが必要なときは、1個のダイノー
ドの電圧を変化するだけで全く充分である。唯1個のダ
イノードをバイアスする利点は、PMTの帯域幅がPM
Tの利得の関数として変化しないことである。
1回の測定では補正は正確ではないかもしれない。この
システムは、較正の間に閾値検出器近傍のループを閉じ
ることにより、補正電圧の正確さを保証する。補正され
たPMT出力は、連続的に比較器及び回路の残部に結合
されるので、最終値は、要求されるPMT出力を正確に
生成する値に落ち着く。
光レベルは、走査中連続的に変化するので、多数の補正
がなされなければならない。本明細書に記載された実施
例においては、走査は2000のセグメント或いは部分
は分割され、各部分はそれ自信の8ビットの補正要素を
有する。
較正後、このシステムは、原稿像を走査するために通常
通りに使用され、線の各部分において、前もって計算さ
れた補正電圧がPMTダイノードに印加される。それゆ
え、PMT出力は、走査線の各部分において正確に較正
され、いかなるPMT出力の変化も、完全に入力画像密
度の結果となる。
同様の回路を、ラスタ出力スキャナを較正するために使
用することができる。ここでは光ビームが電子写真ドラ
ムを露光する。PMTは、ドラム上の較正帯体から反射
した光を集めるために使用することができる。ここでま
た、PMT出力は閾値と比較される。その差はデジタル
値に変換されて記憶され、そして再変換されたアナログ
電圧が出力される。しかしながら、今回はPMTダイノ
ードを制御する代わりに、この電圧は原光ビーム強度を
制御するために使用される。これは、例えば、原光源が
発光ダイオードであることにより実現される。従って、
放射された光の量は、電気的に制御可能である。ここで
も同様に、ループは閉じられているので、メモリに記憶
された最終値は、正確な光値(light value)を生成する
適切な値になる。
RIS或いはROSのいずれにしても、この回路の結
果、システムの動作は光の変動を補正する。
本発明と従来技術との基本的な差は、従来技術は、要求
された結果が実際に達成されることを確実にするための
どのような後補正の試験もすることなしに、予め決めら
れた補正カーブに基づいて補正を加えており、要求され
た結果は正規化された実効光学光レベルである。言い換
えれば、ループは閉じていない。実際、プロセス近傍の
閉ループは、補正カーブを予め決める必要なしに、正確
さを非常に改善することができる。もちろん、システム
の構成要素及び機能は経時変化するので、予め決められ
た補正カーブの使用には制限がある。システム構成要素
の変化の例は、光源からの異なった向き角度、再調整さ
れた光学的要素、光ピックアップ装置の異なった性能、
及びレイジング(lasing)ダイオードの発光表面の位置の
ずれである。他の新規な点は、実際の検出器或いはピッ
クアップ装置の利得を、ループの内側からリアルタイム
で変えられることである。すなわち、動作中或いは複写
中に較正帯体を走査することにより、照射レベルを、必
要とされる照射補正のためにリアルタイムで変えること
ができる。
〔図面の詳細な説明〕
第1図は本発明のラスタ入力スキャナのブロック図であ
る。
第2図は本発明のラスタ出力スキャナのブロック図であ
る。
第3図はクロック発生器のブロック図である。
第4図は回路の詳細構成図である。
第5図は増幅器の詳細構成図である。
〔本発明の詳細な説明〕
第1図はラスタ入力スキャナ回路の簡略化したブロック
図である。較正モードにおいては、光源10からのコリ
メーテッドビーム形態とされた光は、多面体11の現在
の面から回転ドラム上に反射される。この較正モードに
おいては、光は、ドラム上或いは原稿の直上のプラテン
に設けられた既知の色の較正帯体112で反射される。
光学的ピックアップシステム113は、反射光をPMT
114に集め、PMT114の出力は「較正位置」にあ
るスイッチ115を介して比較器116に結合される。
比較器116への他方の入力は、基準帯体から受けた光
からPMTが生成すべき電圧117である。ここで基準
電圧117とPMT出力と間の差が生成され、この差は
このシステムにおける誤差量となる。このアナログ電圧
はA/D変換器118で変換され、スイッチ121が較
正位置にあるときメモリ119に記憶される。この値
は、それからD/A変換器120で元に変換され、1個
のダイノードの電圧を制御することによりPMT114
の利得を制御するために使用される。他の方法として、
点線で示されるように、PMT出力を、光源からの原光
量を変えることにより制御することができる。
これは閉ループシステムなので、各走査の間にこのシス
テムにおける各種の値が、PMT114の出力が正確に
基準電圧117と等しくなる点に落ち着くのに時間がか
かる。
較正工程の終了後は、メモリは走査線の各セグメントの
ための1個の値を含む。典型的には2000走査線セグ
メント及び12から16本の線のデータが記憶される。
記憶された線の算術平均を得るために、12から16本
の線のサンプルから各セグメント毎に記憶された値の平
均が取られる。RISが実際の画像の走査を開始すると
き、スイッチ115及び121は「使用」位置とされ
る。この場合、メモリ119はもはや更新されず、その
出力をコンバータ120を介してPMT114に供給
し、その出力は完全に補正されシステムの残部により直
接に使用可能である。
第2図は、ROSバージョンの簡略化した図である。発
光ダイオード131は、多面体142の現在の面を照射
し、多面体142はセレニウムドラム132上の1本の
線を露光するフライングスポットを生成する。較正のた
めに、光学的ピックアップシステム133は、較正帯体
143からの反射光を集め、それをPMT134の入力
に結合する。「較正」モードにおいては、スイッチ13
5は閉じられ、比較器136に、PMT134の出力と
予め決められた基準電圧137との間の差を決定させ
る。この出力はA/D変換器138で変換され、スイッ
チ139が「較正」位置にあるとき、メモリ140に記
憶される。メモリ140の出力は、D/A変換器141
で、LED131からの放射光量を制御するのに使用す
ることができる電圧に変換される。これは閉ループシル
テムなので、回路電圧は、最終的にPMT134電圧が
基準電圧137と等しくなる点に落ち着く。
「使用」モードにおいては、メモリ140は、変換器1
41を介して、ドラム132を照射する光源131に補
正電圧を供給する。光学的ピックアップ133からA/
D変換器138までの回路要素の残部は使用されない。
第1図のメモリ119及び第2図のメモリ140は、現
在の走査線セグメントを識別するためにアドレス入力を
持つていなければならない。このアドレス情報を発生す
るために使用することができる多数の異なった回路があ
る。回路設計者は、その使用に適した異なった形態を決
めることができるが、1つの簡単な例が第3図に示され
る。
電圧制御発振器(VCO)150は、パルスを生成す
る。走査開始(SOS)において、カウンタ151は、
これらのパルスのカウントを開始し、走査終了(EO
S)がそれを停止させるまで継続する。本実施例におい
ては、走査線は2000セグメントに分割される。も
し、カウンタ151の合計カウントが2000を越す
と、カウンタ153はデクリメントされ、もし、200
0より小さければカウンタ153はインクリメントされ
る。最後に、カウンタ153のデジタル出力が、VCO
150の周波数を補正するためにD/A変換器155で
変換される。結果として、走査毎に0から2000まで
カウントする。このカウントはメモリアドレスとして直
接使用することができる。
この回路の概略図が第4図に示される。PMTの出力は
映像入力に結合され、後続の利得段がPMT出力の負荷
になるのを防止する2個の分離段82,75に印加され
る。2個の増幅器58,29は充分な利得を備えている
ので、映像信号を、増幅器43で発生された基準信号と
比較することができる。
基準及び映像信号は、A/D変換器14の2個の入力ピ
ンに印加され、A/D変換器14は、両入力間の差をデ
ジタルで表した8ビット出力を、ラインD0からD7に
出力する。このように、それらは第1図の比較器16及
び変換器18として作用する。
較正の間に、この出力はトライステート装置13に印加
され、トライステート装置13は信号を反転し、それら
を24個の反転メモリ装置16〜27,30〜41に印
加する。この目的は、較正帯体の映像の12本の線用の
2000セグメントのそれぞれに対する8ビットワード
を記憶することであり、各セグメントに対する最終出力
補正値は、12本の線の平均値である。較正フェーズの
間に12本の線の値が記憶される。
本概略図では示されていない回路の詳細は、各メモリ装
置16〜27,30〜41の上部におけるデータ入力ラ
インが、各装置の底部におけるデータ出力ラインと同じ
ラインであるものである。言い換えれば、装置毎のピン
数を減らすために、同じピンがデータの入力及び出力に
使用される。それゆえ、共通入力データラインが、デー
タ出力ラインの全てと一緒に短絡するのを防止するため
に、分離装置1〜12がメモリ装置16〜27,30〜
41と共通データラインとの間に介装される。
アドレスラインドライバ76〜78は、アドレスデータ
をメモリ装置に供給する。較正モードにおいては、変換
器14の瞬時出力はトライステート装置13を介して結
合され、メモリに記憶されるがそれは使用されない。較
正の間に、実際の閉じループは、8ビット信号をD/A
変換器73に結合するとともに増幅器80の出力をPM
Tダイノードに結合するトライステート装置28を含
む。回路速度は充分速いので、全ての値は各走査セグメ
ントの間に落ち着く。各セグメントの終わりで最終デジ
タル値がメモリに記憶される。
使用の間に、トライステート装置28及び13はターン
オフされ、トライステート装置57はターンオフされる
ので、回路出力は、メモリに前もって記憶されたデータ
から得なければならない。メモリ装置の各組(21及び
35,20及び34等)は、12本の線の1つに対し2
000の値を含む。それゆえ、共通にアドレスされた装
置は、全て同じセグメントに対する値を出力する。この
値は、最終補正値を決定するために平均化される。この
平均化は、繰り返し2個の数を加算するために接続さ
れ、2で割るために右に1ビットシフトする加算器44
〜70により行われる。この平均は、トライステート装
置57を介して結合される。
トライステート装置42は、全ての残りのトライステー
ト装置がターンオフしているとき、走査の間の使用のた
めに、公称値(nominal value)をD/A変換器73に供
給するために使用される。もし、制御されたダイノード
における電圧が、最初からその正規の範囲内の値であれ
ば、走査の開始点において、PMTはその補正電圧に一
層急速に応答することがわかる。
増幅器80の出力は+1Vと−1Vとの間で変化し、一
方、負の150Vと負の275Vとの間のPMTダイノ
ード電圧が必要とされる。この目的のためには、任意の
一般的な設計の増幅器を使用することができる。第5図
は一つの例である。補正電圧は、電圧増幅器として構成
された、すなわち出力インピーダンスを下げるエミッタ
フォロワ101で従続された増幅器100からなる演算
増幅器機能により増幅される。この結果はPMTの9番
目のダイノードに印加される。
本発明は、実施例を参照して説明したが、当業者にとっ
て、本発明の精神及び範囲から逸脱することなく種々の
変形がなされ、その要素を均等物で置換できることが理
解できるであろう。更に、多数の変形が、本発明の本質
的な教示から逸脱することなく可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のラスタ入力スキャナのブロック図、第
2図は本発明のラスタ出力スキャナのブロック図、第3
図はクロック発生器のブロック図、第4A図〜第4H
図、第4J図〜第4N図、第4P図〜第4S図は回路の
詳細構成図、第5A図、第5B図は増幅器の詳細構成図
である。 14,118,138:A/D変換器 16〜27,30〜41:反転メモリ装置 73,120,141,155:D/A変換器 110:光源 111,142:多面体 112,143:較正帯体 113,133:光学的ピックアップシステム 114,134:光電子倍増管(PMT) 115,121,135,139:スイッチ 116,136:比較器 117,137:基準電圧 119,140:メモリ 131:発光ダイオード(LED) 132:セレニウムドラム

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】光の量が差信号により制御される可変量の
    光のビームを生成するための手段と、 上記ビームからそれぞれが多数のセグメントに分割され
    た複数の走査線を生成するための光のフライングスポッ
    トを生成するための回転多面体と、 較正の間に走査されるべき既知の反射率の較正帯体と使
    用の間に走査されるべき画像領域とを含み光の量を反射
    するために上記走査線により走査されるべき手段と、 上記走査されるべき手段から反射された上記反射光を電
    気出力に変換する光検出器と、 基準電圧発生器と、 上記基準電圧発生器及び上記光検出器に応答し上記検出
    器出力と上記基準電圧との差信号を較正の間に各走査の
    全てのセグメント毎に計算するための比較器と、 1回の走査の各セグメント毎に各差信号を記憶し、後続
    する走査の対応するセグメントのために上記生成するた
    めの手段へ上記記憶された差信号を出力するための記憶
    手段と、 上記比較器により生成され較正の間に上記記憶手段に記
    憶された上記差信号が使用の間に使用され続けるように
    使用の間に後続の各走査毎に上記差信号が上記記憶手段
    に結合されるのを防止するための切り換え手段と からなるラスタ入力スキャナ。
  2. 【請求項2】光のビームを生成するための手段と、上記
    ビームからそれぞれが多数のセグメントに分割された複
    数の走査線を生成するための光のフライングスポットを
    生成するための回転多面体と、較正の間に走査されるべ
    き既知の反射率の較正帯体と使用の間に走査されるべき
    画像領域とを含み光の量を反射するために上記走査線に
    より走査されるべき手段とを有する形式のラスタ入力ス
    キャナであって、その改良が、 差信号により制御される可変利得を有し上記走査される
    べき手段から反射された光の量を電気出力に変換する光
    検出器と、 基準電圧発生器と、 上記基準電圧発生器及び上記光検出器に応答し上記検出
    器出力と上記基準電圧との差信号を較正の間に各走査の
    全てのセグメントについて計算するための比較器と、 1回の走査の各セグメント毎の各差信号を記憶し、後続
    する走査の対応する各セグメント毎に上記利得を変える
    ために上記光検出器へ上記差信号を出力するための記憶
    手段と、 較正の間に記憶された上記差信号が使用の間に使用され
    続けるように使用の間に後続の各走査毎に上記差信号が
    上記記憶手段に供給されるのを防止するための切り換え
    手段と からなるラスタ入力スキャナ。
  3. 【請求項3】上記検出器が、上記差信号の関数として上
    記利得を変えるためのダイノードからなり上記記憶手段
    からの上記差信号が上記利得を変えるために上記ダイノ
    ードに印加される光電子倍増管である特許請求の範囲第
    2項に記載のスキャナ。
  4. 【請求項4】上記比較器から上記記憶手段により受信さ
    れる上記差信号がアナログ信号であり、上記記憶手段
    が、上記比較器から受信された上記アナログ差信号をデ
    ジタル信号に変換するアナログ・デジタル変換器と、上
    記アナログ・デジタル変換器からの上記デジタル信号を
    記憶するためのデジタルメモリと、上記メモリから出力
    された上記デジタル信号を上記検出器に結合されるべき
    アナログ差信号に変換するためのデジタル・アナログ変
    換器からなる特許請求の範囲第3項に記載のスキャナ。
  5. 【請求項5】上記デジタルメモリが、較正の間複数の走
    査線毎に全ての上記セグメント毎に上記アナログ・デジ
    タル変換器からの上記デジタル信号を蓄積し、各セグメ
    ント毎に平均デジタル値を生成するために上記複数の走
    査線の各セグメント毎に上記記憶されたデジタル信号を
    平均し、上記平均差信号値を上記検出器に出力する特許
    請求の範囲第4項に記載のスキャナ。
  6. 【請求項6】量が差信号により制御される可変量の光を
    含む光のビームを生成するための手段と、 上記ビームからそれぞれが多数のセグメントに分割され
    た複数の走査線を生成するための光のフライングスポッ
    トを生成するための回転多面体と、 較正の間に走査されるべき既知の反射率の較正帯体と使
    用の間に走査されるべき画像領域とを含み光の量を反射
    するために上記走査線により走査されるべき手段と、 上記走査されるべき手段から反射された反射光の量を電
    気出力に変換する光検出器と、 基準電圧発生器と、 上記基準電圧及び上記光検出器に応答し上記検出器出力
    と上記基準電圧との差信号を較正の間に各走査の全ての
    セグメントについて計算するための比較器と、 1回の走査の各セグメント毎に上記比較器により出力さ
    れた各差信号を記憶し、後続する走査の対応するセグメ
    ント毎に上記生成するための手段へ上記記憶手段により
    記憶された上記差信号を出力するための記憶手段と、 較正の間に上記記憶手段に記憶された上記差信号が使用
    の間に使用され続けるように使用の間に後続の各走査毎
    に上記差信号が上記記憶手段に結合されるのを防止する
    ための切り換え手段と からなるラスタ出力スキャナ。
  7. 【請求項7】上記比較器により計算される上記差信号が
    アナログ信号であり、上記記憶手段が、上記比較器から
    受信された上記アナログ差信号をデジタル信号に変換す
    るアナログ・デジタル変換器と、上記アナログ・デジタ
    ル変換器からの上記デジタル信号を記憶するためのデジ
    タルメモリと、上記記憶手段に記憶された上記デジタル
    信号を上記発生するための手段に結合されるべきアナロ
    グ差信号に変換するためのデジタル・アナログ変換器か
    らなる特許請求の範囲第6項に記載のスキャナ。
  8. 【請求項8】上記記憶手段が、較正の間に複数の走査線
    毎に上記アナログ・デジタル変換器からの上記デジタル
    出力を記憶し、上記複数の走査線毎の各セグメント毎の
    平均デジタル出力を生成するために上記デジタル出力を
    平均し、上記平均を出力する特許請求の範囲第7項に記
    載のスキャナ。
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