JPH06505596A - 電荷結合素子(ccd)イメージセンサ - Google Patents

電荷結合素子(ccd)イメージセンサ

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JPH06505596A
JPH06505596A JP4507021A JP50702192A JPH06505596A JP H06505596 A JPH06505596 A JP H06505596A JP 4507021 A JP4507021 A JP 4507021A JP 50702192 A JP50702192 A JP 50702192A JP H06505596 A JPH06505596 A JP H06505596A
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エリック ゴードン スティーブンス
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イーストマン コダック カンパニー
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 電荷結合素子(CCD)イメージセンサ産業上の利用分野 この発明は、電荷結合素子(CCD)イメージセンサに関連し、より詳細には、 インターレースモード又は非インターレースモードで作動可能なCCDイメージ センサに関連する。
発明の詳細な説明 CCDイメージセンサは、一般的に、フォトダイオードのような複数の光検出器 を持つ半導体材料の基板を含む。当該光検出器は、行列に配列されて、個々の垂 直CCDシフトレジスタが光検出器の各列に沿って延びている。水平CCDシフ トレジスタが(これらの垂直CCDシフトレジスタを)横切るように延びて、垂 直CCDシフトレジスタの各端に電気的に接続している。各垂直CCDシフトレ ジスタは、基板内で光検出器の列の間を光検出器の列に平行に延びているチャネ ル地域と、光検出器の行にほぼ平行でチャネル領域を横切って延びる導電ゲート を含む。各光検出器は、イメージセンサのビクセルを形成する。
イメージセンサを作動させると、光検出器は、シーン取り込みの間に感知した画 像から光を受け取り、光を電荷キャリヤに変換する。電荷キャリヤは一時的に光 検出器に保管される。垂直CCDシフトレジスタのゲートに正しくパルスを印加 すると、電荷キャリヤは、光検出器から垂直CCDシフトレジスタのチャネル領 域に移動する。次に、ゲートに正しくパルスを印加すると、電荷キャリヤは、垂 直CCDシフトレジスタのチャネル領域に沿って、水平CCDシフトレジスタに 移動する。水平CCDシフトレジスタは、電荷キャリヤを出力回路に運ぶ。
イメージセンサの様々な使用に対して、垂直CCDシフトレジスタは、インター レースモードか非インターレースモードで作動可能である。インターレースモー ドでは、移動の間、各列で1つおきの光検出器のゲート、つまり例えば奇数番号 の光検出器のゲートのような第1集合のゲートに一回パルスが発生させられて、 電荷キャリヤが奇数番号の光検出器から垂直CCDシフトレジスタのチャネル領 域に移動する。次にこれらの電荷キャリヤは垂直CCDシフトレジスタに沿って 、平行CCDシフトレジスタに移動する。次に、各列で1つおきの残りの光検出 器のゲート、つまり例えば偶数番号の光検出器のゲートのような残りの1集合の ゲートにパルスを印加する。すると、電荷キャリヤが偶数番号の光検出器から垂 直CCDシフトレジスタのチャネル領域に移動する。次にこれらの電荷キャリヤ は垂直CCDシフトレジスタに沿って、平行CCDシフトレジスタに移動する。
インターレースモードはテレビの動作と互換性があるため、テレビカメラにおい て、主に用いられている。
非インターレースモードでは、各列の全部の光検出器のゲートに同時にパルスが 印加される。これによって、各列の全部の光検出器に対する電荷キャリヤが同時 に垂直CCDシフトレジスタのチャネル領域に移動して、次に全ての電荷キャリ ヤか水平CCDシフトレジスタに移動する。このモードでは、感知された画像の 解像度が高く、スチールカメラ等にも使用される。
柔軟性が高く、様々な目的に使用されるCCDイメージセンサのためには、イン ターレースモードと、非インターレースモードとの両方のモードで作動するイメ ージセンサが必要である。現在まで、そのようなイメージセンサを製造する試み で完全に満足出来るものはない。例えば、合衆国特許第4,816,916号( 1,AkLyaIla 1989年3月28日発行) −CCD Area I mage 5ensor 0perableIn Both o「Line−8 equential and Interlace Scannjngs an d a Method ■盾秩@Ope rating the Same−は、両方のモードでの作動が可能なように、 追加の記憶領域び電極を持ったイメージセンサについて説明している。これによ りイメージセンサがより複雑になり、そのために製造コストが高くなる。合衆国 特許第4,805.026号(E、 Oda 19 g 9年2月14日発行)  Method for Driving a CCD Area Image  5ensor in a Non−1nterlace Scanning  and a 5tructure@orthe C CD Area Image 5ensor for Driving in  the Sage Method” 及び米国出願番号第478.857号(D 、 L、 Loseeその他1990年2月12日出願) 5elective Operation in Interlaced and Non−1nte rlaced Modes of Interline T窒≠獅唐■■■ CCD Image Sensing Device”のそれぞれは、インター レースモード又は非インターレースモードにおけるCCDイメージセンサの方法 を説明している。しかし、これらのデバイスは、追加のゲート電極、クロックト ライバ、CCDシフトレジスタのゲートの特別なりロッキング、クロッキングを 実行する特別な回路を必要とする。従って、比較的簡単な構造を持ち、特別なり ロッキング回路がなくてもインターレースモード又は非インターレースモードで 作動可能で、簡単な構造のCCDイメージセンサが望まれている。
発明の概要 ある−面から見ると、この発明は、1列以上の配列に並べられた複数の光検出器 と、光検出器の列に沿って延びているCCDシフトレジスタとを備えたCCDイ メージセンサを指向するものである。シフトレジスタは、各光検出器に対して2 つの電導ゲートを含む。列に沿って1つ置きに並んだ光検出器の1集合に対して は、ゲートのうちの1つが、光検出器とCCDシフトレジスタの間にある移動領 域を横切って延びる。列に沿って1つ置きに並んだ光検出器の残り(他の)1集 合に対しては、他のゲートが移動領域を横切って延びている。このようにして、 最初に各光検出器の1つのゲートにパスルを印加し、それからもう1つのゲート にパルスを印加することによってイメージセンサをインターレースモードで作動 させる。一方で、全てのゲートに同時にパルスを印加することで、イメージセン サを非インターレースモードで作動させる。インターレースモードの動作では、 フレームの半分が最初のパルスで読み取られる。それから第2ゲートにパルスを 発生させ、残り半分のフレームが読み取られる。非インターレースモードでは、 フレーム全体が同時に読み取られる。
更に詳細には、この発明のCCDイメージセンサは、表面を持った半導体材料の 基板を備える。複数の光検出器が基板の表面にあり、列に並べられている。CC Dシフトレジスタは基板内にあり、光検出器の列に沿って延びている。移動領域 は、各光検出器の一部分と、隣接するCCDシフトレジスタの間に延びている。
第1ゲートと第2ゲートのそれぞれの集合が、各光検出器においてCCDシフト レジスタを横切って延びている。列の1つ置きの光検出器の各移動領域は、それ ぞれのゲート集合の第1ゲートの下に延びて、残りの光検出器の各移動領域は、 それぞれのゲート集合の第2ゲートの下に延びている。
この発明のもう一面から見ると、この発明は、電荷結合素子(CCD)イメージ センサに指向されている。CCDイメージセンサは、表面のある半導体材料の基 板と、前記基板内の前記表面に、表面のある複数の光検出器と、第1、第2集合 の導電ゲートと、前記基板内の前記表面に、列に配列された光検出器に沿って延 びるCCDシフトレジスタとを含む。別々の移動領域が、基板内で、前記光検出 器のそれぞれの一部分とCCDシフトレジスタの間に存在する。第1集合の導電 ゲートはCCDシフトレジスタを横切って延びており、各第1ゲートは、別の1 つの光検出器の一部分まで延びている。第2集合の導電ゲートは、CCDシフト レジスタを横切って延びており、各第2ゲートは、別の1つの光検出器の残りの 部分に延びている。列内で1つ置きの光検出器の移動領域は、別の第1ゲートの 1つの下に延びており、列内の他の光検出器の移動領域は、別の第2ゲートの1 つの下に延びている。この発明は、添付の図面と下記の詳細説明によって、より 良く理解出来るであろう。
図面の簡単な説明 図1は、この発明によるCCDイメージセンサの部分平面断面図である。
図2は、1集合のゲートが取り除かれた、図1と同様の平面断面図である。
図3は、両方の集合のゲートが取り除かれた、図1と同様の平面断面図である。
図4は、図1の破線4−4についての断面図である。
図5は、図1の破1i15−5についての断面図である。
図6は、図1の破線6−6についての断面図である。
図7は、図1の破線7−7についての断面図である。
図面は、必ずしも一定の割合の縮尺ではない。
発明の詳細な説明 図1は、この発明による電荷結合素子(CCD)イメージセンサ10の平面断面 図である。イメージセンサ10は、行列の配列に並べられた複数の光検出器12 を備える。光検出器12の各列に沿って、垂直CCDシフトレジスタ14がある 。垂直CCDシフトレジスタ14は、図示されていない水平CCDシフトレジス タに接続されており、水平CCDシフトレジスタは、図示されている出力回路に 接続されている。図4.5.6.7は、それぞれ、図1のCCDイメージセンサ 10の破線4−4.5−5.6−6.7−7についての断面図である。
イメージセンサ10は、向かい合う表面18.20を持った単一結晶シリコンの ような、半導体材料の基板16内に形成されている。基板16は、ドーピング濃 度が約1015不純物/cI3 であるp−タイプの導電度のものであることが 望まい。光検出器12は、合衆国特許第4,527,182号(Y、l5hih araその他1985年7月2発行) Sem1conductor Phot oelectric Converter Making Exeessive  Charges Plow Vertically”に説明されているビンダ イオードであることか望ましい。図4に示されているように、ビンダイオードは 、基板16内で表面18に隣接した、n−タイプの導電型(一般的には、ドーピ ング密度が約1017不純物/cab” )の領域22を含む。導電率の高いp −タイプ導電度(一般的にpタイプ導電型と呼ばれ、ドーピング1度が約101 8不純物7cm3)の領域24n−タイプ領域22の中にあり、基板の表面18 まで延びている。
図3でより明確に示されているが、障壁領域26が光検出器12の回りにある。
図4.6.7が示すように、障壁領域26は、基板16内にあり、表面18まで 延びている。障壁領域26は、導電度が高いp−タイプ導電度(通常p十導電度 と呼ばれ、一般的にはドーピング濃度が約1018不純物/cm” )である。
各CDシフトレジスタ14に隣接している各光検出器12の側面に沿って、障壁 領域26が、光検出器12の約半分の長さに延びている。これによって、障壁領 域26を通る開口28が、光検出器12とCCDシフトレジスタ14の間に出来 る。
この開口は、移動領域30aと30bの役目を果たす。図3がら理解されるよう に、列内で一つ置きの光検出器12(つまり、−行置きの光検出器)の移動領域 30aは、光検出器12の下半分に沿っており、列内の残りの光検出器12(つ まり、残りの行の光検出器)の移動領域30bは、光検出器12の上半分に沿っ ている。
各垂直CCDシフトレジスタ14は、基板16内てn−タイプ導電型(一般的に は、ドーピング濃度が約10 不純物/cs3)のチャネル領域32を含み、列 の光検出器12の間にある表面18に接して又それに沿って延びている。チャネ ル領域32と隣接する光検出器12の列の間には、障壁領域26がある。絶縁材 の層34は、一般的には二酸化シリコンであるが、基板表面18の上にあり、チ ャネル領域32と光検出器12を横切って延びている。各チャネル領域32に沿 って一定の間隔て存在するのは、複数のチャネル移動領域36であり、当該チャ ネル移動領域は、チャネル領域32を横切って延びている。チャネル移動領域3 6は、p−タイプ導電型の不純物で軽くドーピングされているので、当該チャネ ル移動領域は低いn−タイプの導電型(一般的にはn/タイプの導電型と呼ばれ ている)である。チャネル移動領域36は、各光検出器12に2つのチャネル移 動領域36があるように位置している。
別々の第1集合の導電ゲート38(複数)は、絶縁材の層34の上にあり、チャ ネル領域32と光検出器12を横切って延びている。第1ゲート38は、同じ幅 で、各行の光検出器12の下半分を横切って延びる位置にある。第1ゲート38 は、光検出器12が露出するように、各光検出器12の上に、貫通する開口40 を持っている。光検出器12の下の部分が移動領域30bを持っている、一つ置 きの光検出器12の行では、第1ゲート38は移動領域30bを横切って延びて いる。第1ゲート38は又、光検出器12の半分の長さに沿っているチャネル移 動領域36を横切って延びている。当該移動領域36のそれぞれは、各第1ゲー ト38の近位の端と一直線になるように自動的に揃えられる。第1ゲート38の 材料は、金属、ドーピングされた多結晶シリコンなどのようないかなる導電材で も良い。第1ゲート38は、一般的には二酸化シリコンの絶縁材の層42でコー ティングされている。
別々の第2集合の導電ゲート44(複数)は、絶縁材の層34の上にあり、チャ ネル領域32と光検出器12を横切って延びている。各第2ゲートは、光検出器 12の行を横切り、1組の第1ゲート38の間を延びている。こうして、各第2 ゲート44は、移動領域30aか光検出器12の上の部分にある光検出器12の 一つ置きの行において、各行の光検出器12の上半分の部分を横切って延びるた め、移動領域30aを横切って延びる。第2ゲート44は、光検出器12か露出 するように、光検出器12の上に、貫通する開口46を持っている。又第2ゲー ト44は、チャネル移動領域36を横切って延びている。チャネル移動領域36 は、光検出器12の端にあり、各チャネル移動領域36は、各第2ゲート44の 近位の端と一直線になるように自動的に揃えられる。図6が示すように、第2ゲ ート44は、障壁領域26の部分の上で、第1ゲート38と重なっている。障壁 領域26は、各列の光検出器12の間にある。ゲート38と44は、絶縁材の層 34によって、互いから絶縁されている。第2ゲート44の材料も、金属又はド ーピングされた二酸化シリコンのようないがなる導電材でも良い。ゲート38と 44の2つの集合は、2相CCDシフトレジスタを形成する。
シーンを取り込む間のイメージセンサ1oの動作において、光検出器16への入 射光は、電荷キャリヤに変換される。移動の間に、ゲート38と44に電位が印 加される。移動領域30aと30bの上に延びるゲート38と44とに対して、 ゲート38と44に印加される電位は、各移動領域30aと30bに電位の井戸 を作る。この井戸は、光検出器16内の電位レベルより深い。これによって、光 検出器16内の電荷キャリヤが移動領域30aと30bとを横切って、隣接する CCDシフトレジスタ14のチャネル領域32の中に流れ込む。それからゲート 38と44とに交互にパルスを発生させて、電荷キャリヤを、垂直CCDシフト レジスタ14の端にある、水平CCDシフトレジスタまで、チャネル移動領域3 2に沿って移動させる(水平CCDシフトレジスタは図示されていない)。それ から水平シフトレジスタが作動して、出力回路まで電荷キャリヤが運ばれる。
インターレースモードでイメージセンサ1oを作動させるには、最初に電位を第 1集合のゲート38のような1集合のゲートに印加する。第1集合のゲート38 は、列内の1つ置きの光検出器16の移動領域30a上を延びているだけなので 、各列の1つ置きの光検出器16のみからの電荷キャリヤが、各CCDシフトレ ジスタ14のチャネル領域32に移動する。次にこれらの電荷キャリヤは垂直C CDシフトレジスタ14に沿って水平シフトレジスタまで移動する。このように して、半分のフレームか読み取られる。次に電位が第2集合のゲート44に加え られる。第2集合のゲート44は、各列の一つ置きの光検出器16の移動領域3 0bを各行ごとに横切って延びている。一方、第1集合のゲート42は、各移動 領域30bの上で、かつその移動領域30bの間を伸展している。こうして、残 りの一つ置きの光検出器からの電荷キャリヤは、各CCDシフトレジスタ14の チャネル領域32に移動する。次にこれらの電荷キャリヤは垂直CCDシフトレ ジスタ14に沿って水平シフトレジスタまで移動する。このようにして、残り半 分のフレームが読み取られる。このように、第1集合と第2集合のゲート38と 44とに交互にパルスを印加する(クロッキングする)ことによって、各列の1 つ置きの光検出器16の最初の1集合からの電荷キャリヤ、そして次に1つ置き の光検出器16の残りの1集合からの電荷キャリヤが垂直CCDシフトレジスタ 14に移動して、イメージセンサがインターレースモードで作動する。
非インターレースモードでイメージセンサ10を作動させるには、ゲート38と 44の両方に電位を同時に印加するだけで良い。これによって、各列の全部の光 検出器16の移動領域30aと移動領域30bに電位が印加され、全ての移動領 域30aと移動領域30bとの電位の井戸が深くなる。このようにして、各列の 全部の光検出器16からの電荷キャリヤが、各画[CCDシフトレジスタ14の チャネル領域32に移動する。それから、ゲート38と44との2つの集合に、 交互にパルスを発生させる(クロッキングさせる)ことによって、電荷キャリヤ をチャネル領域32に沿って水平CCDシフトレジスタまで移動させる。
このようにして、この発明は、ゲート38と44とにパルスを印加させる方法を 変えるだけで、インターレースモードでも非インターレースモードでも作動する イメージセンサ10を提供する。インターレースモードでは、ゲート38と44 とには交互にパルスを印加し、非インターレースモードでは、全てのゲート38 と44とに同時にパルスを印加する。ゲートにパルスを印加する方法を変えるこ とは、タイミングだけを変える単一の駆動回路で達成出来るので、CCDセンサ lOの動作に必要な回路素子は大幅に単純化出来る。これは又、単に光検出器1 6に対して移動領域30aと移動領域30bの位置を変えるだけで、イメージセ ンサ10の構造内で達成出来る。そうするためには、障壁領域26を形成するた めに使用されるマスクの設計を変えるだけで良く、追加の処理ステップは必要な い。このようにして、この発明のイメージセンサ10は、インターレースモード でも非インターレースモードでも作動可能であり、標準CCDイメージセンサと ほぼ同じコストで製造出来る。
発明の特定の実施態様は、単にこの発明の一般的な原則を示しているたけである ことは理解されるであろう。記載の原則にもとらない様々な改造が可能である。
例えば、イメージセンサはビンダイオード先検出器として説明されているか、広 く知られたいかなるタイプの光検出器でも使用出来る。又、CCDシフトレジス タか埋設チャネルタイプであると説明されているが、2集合のゲートを持ってい るその他のいかなる設計のCCDシフトレジスタでも使用出来る。更に、基板は 、イメージセンサに使用される他の適切な半導体材料のものでも良い。
FIG、i L、6 ニ、5 FIG、2 ■ FIG、3 FIG、4 垣 宝訟捌審11ii失 国際調査報告

Claims (18)

    【特許請求の範囲】
  1. 1.CCDイメージセンサであって、 表面を持った半導体材料の基板と、 前記基板内で前記表面に、列状に配列され複数の光検出器と、前記基板内で前記 表面に、前記光検出器の列に沿ったCCDシフトレジスタと、前記基板内で前記 光検出器の一部とCCDシフトレジスタの間にある、別々の移動領域と、 前記光検出器のそれぞれにおいて、CCDシフトレジスタを横切って延びる第1 導電ゲート群及び第2導電ゲート群の集合と、各集合のゲートの第1ゲートの下 に延びる、列内で1つ置きの光検出器の各移動領域と、各集合のゲートの第2ゲ ートの下に延びる、列内の残りの光検出器の移動領域と、 を有することを特徴とするCCDイメージセンサ。
  2. 2.請求項1記載のCCDイメージセンサであって、前記CCDシフトレジスタ が、光検出器の列から間隔を置いて隣接している基板の表面に沿ったチャネル領 域と、チャネル領域まで延びる移動領域を有し、前記ゲートがチャネル領域を横 切ることを特徴とするCCDイメージセンサ。
  3. 3.請求項2記載のCCDイメージセンサであって、基板は所定のある導電型の ものであり、一方、チャネル領域はそれとは反対の導電型の基板内にある領域で あることを特徴とするCCDイメージセンサ。
  4. 4.請求項2記載のCCDイメージセンサは更に、前記光検出器のそれぞれの回 りに障壁領域を有し、前記障壁領域は開口を持ち、前記開口は、前記光検出器の 一部に沿って、CCDシフトレジスタのチャネル領域に隣接した貫通する開口を 持ち、前記開口内の基板の一部が、光検出器とチャネル領域の間に移動領域を形 成していることを特徴とするCCDイメージセンサ。
  5. 5.請求項4記載のCCDイメージセンサであって、基板は所定の導電型のもの であり、 障壁領域は前記基板と同一の導電型の基板内にある領域であるが、その導電度は 、前記表面のところの基板内の基板より高いことを特徴とするCCDイメージセ ンサ。
  6. 6.請求項4記載のCCDイメージセンサであって、各集合の第1ゲートが、各 光検出器の一部を横切って延び、各集合の第2ゲートが、各光検出器の残りの部 分を横切って延び、列内で1つ置きの光検出器の障壁領域にある開口は、各光検 出器の第1ゲートの下にあり、列内の他の光検出器の障壁領域にある開口は、各 光検出器の第2ゲートの下にあることを特徴とするCCDイメージセンサ。
  7. 7.請求項6記載のCCDイメージセンサであって、各ゲートが、各光検出器の 上に、貫通する開口を持つことを特徴とするCCDイメージセンサ。
  8. 8.請求項7記載のCCDイメージセンサは更に、基板の前記表面上に絶縁材の 層を有し、ゲートが当該絶縁層の上にあることを特徴とするCCDイメージセン サ。
  9. 9.請求項8記載のCCDイメージセンサであって、各光検出器は1つのダイオ ードを備え、当該ダイオードは、基板内で前記表面において、所定の導電型の第 1領域を持ち、前記第1領域内で、前記表面において、反対の導電型の第2領域 を有することを特徴とするCCDイメージセンサ。
  10. 10.請求項8記載のCCDイメージセンサであって、表面を持った半導体材料 の基板と、 前記基板内で前記表面のところに、間隔をあけた行列の配列に並べられた、複数 の光検出器と、 前記基板内に、それぞれが光検出器の別々の列に沿った延びた、複数のCCDシ フトレジスタと、 前記光検出器のそれぞれの一部とそれに隣接するCCDシフトレジスタ間にある 移動領域と、 CCDシフトレジスタと各行の光検出器を横切る、第1と第2電導ゲートの別々 の集合と、 各ゲート集合の第1ゲートの下で延びている、各行で1つ置きの光検出器の移動 領域と、各ゲート集合の第2ゲートの下で延びている、各行の他の光検出器の移 動領域とを有することを特徴とするCCDイメージセンサ。
  11. 11.請求項10記載のCCDイメージセンサであって、各CCDシフトレジス タは、基板の表面に沿って延びて光検出器の列に間隔をあけて隣接しているチャ ネル領域を有し、移動領域がチャネル領域まで延びていることを特徴とするCC Dイメージセンサ。
  12. 12.請求項11記載のCCDイメージセンサであって、基板は所定の導電型で あり、 チャネル領域は、基板内に設けられ、このチャネル領域は前記の表面のところと は反対の導電型の領域であることを特徴とするCCDイメージセンサ。
  13. 13.請求項11記載のCCDイメージセンサは更に、各列の光検出器の回りに 別々の障壁領域を有し、前記障壁領域は、隣接するCCDシフトレジスタのチャ ネル領域に隣接して各光検出器の一部に沿って、貫通する開口を持ち、前記開口 内の基板の部分は、光検出器とチャネル領域の間に移動領域を形成することを特 徴とするCCDイメージセンサ。
  14. 14.請求項14記載のCCDイメージセンサであって、基板は所定の導電型で あり、障壁領域は同じ導電型の基板内にある領域であるが、その導電度は、前記 表面のところの基板内の基板より高いことを特徴とするCCDイメージセンサ。
  15. 15.請求項13記載のCCDイメージセンサであって、各集合の第1ゲートの それぞれは、各行の光検出器の一部を横切って延び、各集合の第2ゲートは、各 行の光検出器の残りの部分を横切って延び、各列内の1つおきの光検出器に沿っ た障壁領域の各開口は、各第1ゲートの下にあり、各列内の残りの光検出器に沿 った障壁領域の各開口は、第2ゲートの下にあることを特徴とするCCDイメー ジセンサ。
  16. 16.請求項15記載のCCDイメージセンサであって、前記ゲートのそれぞれ が、各行の各光検出器の上に、貫通する開口を持つことを特徴とするCCDイメ ージセンサ。
  17. 17.請求項16記載のCCDイメージセンサは更に、前記基板の表面上に絶縁 材の層を有し、ゲートが前記絶縁層上にあることを特徴とするCCDイメージセ ンサ。
  18. 18.請求項17記載のCCDイメージセンサであって、各光検出器は1つのダ イオードを備え、当該ダイオードは、基板内で前記表面において、所定の導電型 の第1領域を持ち、前記第1領域内で、前記表面において、反対の導電型の第2 領域を有することを特徴とするCCDイメージセンサ。
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