JPH0643204A - 電極を通る導体の絶縁試験装置 - Google Patents

電極を通る導体の絶縁試験装置

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JPH0643204A
JPH0643204A JP4086685A JP8668592A JPH0643204A JP H0643204 A JPH0643204 A JP H0643204A JP 4086685 A JP4086685 A JP 4086685A JP 8668592 A JP8668592 A JP 8668592A JP H0643204 A JPH0643204 A JP H0643204A
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test
voltage
insulation
current
electrode
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JP4086685A
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Henry H Clinton
エイチ．クリントン ヘンリー
Theodore P Lane
ピー．レーン セオドレ
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CLINTON INSTR CO
KURINTON INSUTOURUMENTO CO
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CLINTON INSTR CO
KURINTON INSUTOURUMENTO CO
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Publication date
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    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/52—Testing for short-circuits, leakage current or ground faults

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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

(57)【要約】 （修正有） 【目的】 通常のコロナ放電が絶縁の故障として誤って
検出されることを防止しながら低電流の故障アークに対
する感度を増強する、また故障検出手段の検出特性を変
えることなしに故障検出手段を高電圧変圧器からある距
離に配置する。 【構成】 絶縁導体を通す電極１４に高い交流電圧を印
加する型の、絶縁導体１２の絶縁物を試験するための装
置１０であって、所望の強さ及び周波数の高い交流電圧
を電極に印加するための試験部１５を有する。コロナ効
果により及び絶縁物中の欠陥によるアーク電流パルスに
より電極に誘導された電流が、電流感知変圧器３８によ
り感知されて、絶縁状態信号をつくり出す。絶縁状態信
号と高い交流試験電圧の強さに比例する低電圧の試験信
号とが、離れて配置されている制御部６０に接続され
る。負のピーク検出噐１６４は、低電圧を受けて故障検
出回路１０２の入力にバイアス電圧を発生させる。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、主として、ケーブル、
電線または他の長い導体に被覆した絶縁物の故障試験に
関し、更に詳しくは、交流の高い試験電圧を絶縁物と導
体との間に印加して絶縁物中の孔、空隙または他の欠陥
を見出す形式の改良された絶縁試験装置に関するもので
ある。
【０００２】
【従来の技術】電線またはケーブルの様な絶縁された導
体は、通常、使用前に、絶縁物中に存在するかも知れな
い見えない欠陥をチェックするために高電圧の試験に付
される。この試験は、絶縁物が導体へ押し出し成形され
る時にしてもよく、または、その後の操作においてして
もよい。一般的に、導体部分が適当に接地された絶縁導
体が、絶縁物の表面に高電圧を印加する型の電極中に通
される。この型の試験装置は、クリントンに付与された
米国特許第３４１８５７０，３５１０７６３，３５１４
６９６及び４９５２８８０号に開示されており、その様
な試験装置の詳細な説明のためにこれらの特許を参照す
ることができ、そしてそれらの開示は、参考のために本
明細書中に組み入れられている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】絶縁物の外側の電極と
接地された導体との間に印加する高い試験電圧のインラ
イン印加による絶縁電線またはケーブルの交流試験にお
いては、絶縁物中のピンホール、裂け目または他の欠陥
を通る電極から導体への最少の生じ得るアークを検出す
ることが望ましい。更に、電極の素子と絶縁物の表面と
の間の空間に生じる通常のコロナ放電が、検出手段によ
って欠陥状態についての誤った表示をしないようにする
ことが矢張り望ましい。既知の試験装置の欠点は、コロ
ナ放電に対する免疫性（ｉｍｍｕｎｉｔｙ ｔｏ ｃｏ
ｒｏｎａ ｄｉｓｃｈａｒｇｅ）の手段を達成するため
に、その設計が、低い電流アーク感度に妥協することで
ある。既知の試験装置の更に欠点とするところは、用い
られる検出器の感度が、離れて配置されている故障検出
器へ高電圧変圧器を接続するケーブル中のキャパシタン
スによって低下されることである。更に望ましいこと
は、その様な試験装置の制御部または故障検出手段が、
試験部、及び電極を励発するために用いられる高電圧変
圧器と別になっており且つ装置の効率を低下することな
く１００ｍまでの距離だけ離れて配置されることであ
る。従って、本発明の主たる目的は、通常のコロナ放電
が絶縁の故障として誤って検出されることを防止しなが
ら、低電流の故障アークに対する感度を増強することで
ある。本発明の更に目的とするところは、故障検出手段
の検出特性を変えることなしに、故障検出手段を高電圧
変圧器からある距離に配置することである。
【０００４】
【課題を解決するための手段】電極内を通過する絶縁導
体の絶縁を試験するための装置が、本発明によって提供
され、その装置では、高電圧変圧器によってつくられる
高周波交流試験電圧が、絶縁導体の電極内の部分の絶縁
物の表面に近接した電極へ接続されている。高電圧変圧
器及び試験電極と直列に接続された電流感知手段が、試
験電極中に誘導された電流を感知し、試験電極内の絶縁
導体の絶縁状態を示す絶縁状態電圧信号を生じる。高電
圧変圧器は、試験周波数の低い試験電圧信号をつくり出
すための低電圧巻線を有している。試験部から離れて配
置された制御部が、電流感知手段によりつくられた絶縁
状態電圧信号を制御部に接続するために、より２線式電
線により電流感知手段に接続されたいる。絶縁状態電圧
信号の強さに比例する故障状態電圧信号が、電流感知手
段によってつくられる。低い交流試験電圧信号が、矢張
り制御部に接続され、そして、高い試験電圧の強さに比
例するバイアス電圧がつくられ、故障検出回路手段に接
続されている。故障検出回路手段は、バイアス電圧の強
さを超える故障状態電圧信号の強さに応じて故障表示信
号をつくりだし、それによって、試験電極内の絶縁導体
の絶縁物中の故障が検出される。電流感知手段の特性
は、コロナ効果により試験電極中に誘導された電流が、
電流感知手段の周波数特性により接地基準電圧に分路さ
れるようになっている。対照的に、試験電極内の絶縁導
体の絶縁物中の故障または欠陥の存在により生じるアー
ク電流のバイアスのために試験電極中に誘導される電流
は、電流感知手段により感知されて、バイアス電圧を克
服するに十分な絶縁状態電圧信号を発生し、そして、故
障検出回路手段に故障表示信号をつくらせる。本発明の
その他の特徴及び利点は、添付図面に関連してなされる
以下の記載から容易に明らかになるであろう。
【０００５】
【実施例】以下、図面を参照して本発明を更に詳細に検
討すると、図１は、本発明の絶縁試験装置の電気回路の
概略図であり、それは、概括的に符号１０で示されてい
る。絶縁された導体１２が、概括的に符号１４で示され
且つ概括的に符号１５で示される試験部に配置された試
験電極を通過させられる。試験下の実際の絶縁導体１２
の導体部分１６は、接地基準電圧１８に接地されること
ができる。試験電極１４は、種々の形状をとることがで
き、例えば、図示された様な概ね定形的なビードチェー
ン（ｂｅａｄ ｃｈａｉｎ）またはフレアマウス電極
（ｆｌａｒｅｍｏｕｔｈ ｅｌｅｃｔｒｏｄｅ）また
は、当業者に一般的によく知られたその他の形状であり
得る。図１の図示中には、種々の回路素子及び試験装置
の部品が配置され且つ相互に接続されて示されており、
そして、通常は保護囲い（図示せず。）の中に収容され
ている。装置１０の試験部１５は、概括的に符号２０で
示される高電圧変圧器を有しており、そして、１次巻線
２２、高電圧２次巻線２４及び低電圧２次巻線２６を有
している。機能ブロック２８で代表される交流電源が１
次巻線２２の端部３０、３２に接続されており、高電圧
変圧器２０を励起するのに用いられる。高電圧２次巻線
２４の１つの端部３４は導体３６によって電極１４に接
続されて交流高電圧を電極１４へ印加する。交流電源２
８は所望の試験周波数及び所望の大きさで出力励発電圧
を供給して高電圧変圧器に所望の交流高電圧を発生させ
る様に調節自在である。
【０００６】概括的に符号３８で示される電流感知変圧
器は、１次巻線４０及び２次巻線４２を有している。１
次巻線４０の１つの端部４４は、変圧器２０の高電圧２
次巻線２４の低電圧端部４６に接続されている。１次巻
線４０の他端４８は接地基準電圧１８に接続されてい
る。小容量のコンデンサ５０が１次巻線４０と並列に端
子４４及び４８の間に接続されている。電流感知変圧器
３８は、３０ＫＨ２よりも高い周波数で電流及び電圧の
効率的な変成、及び、交流電線２８によってつくられる
代表的な試験周波数である１０ＫＨ２よりも低い周波数
での電流及び電圧の非常に非効率的な変成を可能にする
操作特性をもつフェライトコア構造で典型的に且つ好適
につくられている。電流感知変圧量３８の２次巻線４２
は、それぞれの端部５２、５４が、より２線式電線５６
の端部５３、５５に接続されており、該より２線式電線
は、接続用ケーブルまたは保護外装５８の中に収容され
ている。接続用ケーブル５８は試験部と電極１４の近く
に配置された試験装置の部分とを、電極から或る距離だ
け離れて配置された試験装置の概括的に鎖線ボックス間
に示される制御部へ電気的に接続する。導体５８内の追
加の電線６２は、その１端が、高電圧変圧器２０の低電
圧２次巻線２６の端部６４へ接続されている。
【０００７】制御部６０は、設計及び特性において電流
感知変圧器３８と類似な符号６６で概括的に示される変
圧器を有している。変圧器６６の１次巻線６８は、その
それぞれの端部が、より２線式電線５６のそれぞれの端
部７４、７６に接続されている。変圧器６６は、そのそ
れぞれの端部８０、８２に抵抗８４が並列に接続されて
いる２次巻線７８を有している。抵抗８４の値は、変圧
器６６の特性が３０ＫＨ２よりも高い周波数でより２線
式電線５６の特性インピーダンスと等しくなる様に、変
圧器６６の１次巻線６８に、該より２線式電線５６と等
しいインピーダンスを示させる様に選択される。変圧器
６６の２次巻線７８の端部８０は、ダイオード８８の陽
極８６へ接続されている。ダイオード８８の陰極９０
は、抵抗９４の１つの端部９２、コンデンサ９８の１端
及びＮＰＮトランジスタ１０２のベース端子１００へ接
続されている。抵抗９４の端部１０４、コンデンサ９８
の端部１０６、及びトランジスタ１０２のエミッタ端子
１０８は、接地基準電圧１８に接続されている。トラン
ジスタ１０２のコレクタ端子１１０は、コンデンサ１１
４の１端１１２、ＮＰＮトランジスタ１１８のベース端
子１１６、及び抵抗１２２の１端１２０に接続されてい
る。コンデンサ１１４の対向端１２４は、接地基準電圧
に接続されている。トランジスタ１１８のエミッタ端子
１２６は、ダイオード１３０の陽極１２８に、及びダイ
オード１３０の陰極を通って接地基準電圧に接続されて
いる。トランジズタ１１８のコレクタ端子１３４は、抵
抗１３８の１端１３６に、及び概括的に機能ブロック１
４２で示される故障トリカ回路の入力１４０に接続され
ている。抵抗１２２及び１３８の他端１４４及び１４６
は、それぞれ、概括的に符号１４８で示される正の直流
電圧に接続されている。
【０００８】故障トリガ回路１４２の出力１５０は、概
括的に機能ブロック１５４で示されるプロセス制御リレ
ーの入力１５２に、及び概括的に機能ブロック１５８で
示されるオペレータアラーム装置の入力１５６に接続さ
れている。故障トリガ回路１４２は、その入力１４０に
ある正の電圧パルスに応じて予め定められた期間の出力
電圧パルスを発生し、そしてその出力電圧パルスがプロ
セス制御リレー１５４を操作し及びアラーム１５８を作
動する。接続ケーブル５８内に収容されている電線６２
の１端１６０は、ダイオード１６４の陰極１６２に接続
されている。ダイオード１６４の陽極１６６は、ツエナ
ーダイオード１７０の陽極１６８に、及びコンデンサ１
７４の１端１７２に接続されている。コンデンサ１７４
の他端１７６は、接地基準電圧１８に接続されている。
ツエナーダイオード１７０の陽極１７８は、抵抗１８２
の１端１８０に接続さている。抵抗１８２の他端１８４
は、抵抗１８８の１端１８６、コンデンサ１９２の１端
１９０、及び変圧器６６の２次巻線７８の１端８２に接
続している。コンデンサ１９２及び抵抗１８８の他端１
９４及び１９６は、それぞれ接地基準電圧１８に接続さ
れている。
【０００９】試験装置１０を操作するとき、交流電源２
８が高電圧変圧器２０を付勢して、電極１４と試験中の
絶縁導体１２の導体部分１６との間に高い交流試験電圧
を印加させる。回路は、電極１４から高電圧２次巻線２
４を通り、変圧器３８の１次巻線４０を通って接地基準
電圧１８に接続され、従って、試験中の導体１２の導体
部分１６に接続されるように、構成されていることが判
る。若しも、試験中の導体１２の絶縁に欠陥がなけれ
ば、２次巻線２４中を流れる電流は、想像線中に示され
且つ概括的に符号２００で示される配線キャパシタンス
（Ｗｉｒｉｎｇ ｃａｐａｃｉｔａｎｃｅ）を通る無効
電流の流れ及び矢張り想像線で示されるキャパシタンス
２０２を通る無効電流によるものであり、そして、この
キャパシタンス２０２は、絶縁導体１２の電極１４内の
長さのキャパシタンスを示す。巻線２４中を流れる電流
に、電極１４のビードチェイン素子１７、１７と試験中
のケーブル１２の絶縁の表面との間の空間の電離（ｉｏ
ｎｉｚａｔｉｏｎ）によるランダムな極性、持続時間及
び時間間隔（ｔｉｍｅ ｓｐａｃｉｎｇ ｉｎｔｅｒｖ
ａｌｓ）の短いパルスが重なっている。短い持続時間の
パルスは、連い立上り時間及び低い平均エネルギー量が
特徴的である。
【００１０】変圧器２０の２次巻線２４中を流れる電流
は、コンデンサ５０を通って接地基準電圧１８へ流れる
コロナ起因電流パルスの実質的部分とは別に、変圧器３
８の１次巻線４０中を流れる。巻線４０と離れたコロナ
起因電流パルスの分路の結果として、比較的小さな電圧
が変圧器３８の２次巻線４２に誘導される。更に、一般
に試験目的のために用いられる低周波を減衰するための
変圧器３８の所望の特性のせいで、配線キャパシタンス
２００及び試験中のケーブルのキャパシタンス２０２
に、そして変圧器３８の１次巻線４０中を流れる無効電
流は、変圧器３８の２次巻線４２中に顕著な電圧をつく
らない。１次巻線４０中に誘導される比較的小さなコロ
ナ起因電圧は、変圧器６６及び抵抗８４の作用により特
徴的なインピーダンスを生じる伝送路として機能するよ
り２線式電線５６を通って伝達される。より２線式電線
５６を通って伝達される試験周波数の残りの電圧は、更
に、変圧器６６によって減衰され、そして２次巻線７８
では無視してよい程度になる。
【００１１】試験周波数の低電圧は、高電圧変圧器２０
の低電圧巻線２６から、ダイオード１６４によって構成
される負のピーク整流器へ接続されて、コンデンサ１７
４を充電して、変圧器２０の巻線２４で生じた高圧の試
験電圧と比例する負の直流電圧をつくり出す。コンデン
サ１７４で生じた負の電圧は、更にツエナーダイオード
１７０による電圧降下によって減少され、そして、抵抗
１８２及び１８８の分圧作用により決定される減少した
電圧の１部が、変圧器６６の２次巻線７８の端部８２へ
印加される。分圧器によって決定された電圧の大きさ
は、従って、ダイオード８８の陽極８６へ負のオツセッ
トまたは遅延バイアス電圧として印加され、そして、そ
れは巻線７８に誘導された電圧がこのバイアス値を超え
るまで、ダイオード８８が導通することを防止する。従
って、オフセット電圧は、自動的に調節されて、使用さ
れる種々な試験電圧の何れででも及び電極１４中のコロ
ナの状態ででもダイオード８８が導通することを防止す
る。トランジスタ１０２は、非導通状態にあり、そし
て、トランジスタ１１８は、抵抗１２２によって導通状
態に保たれ、かくして、トランジスタ１１８のコレクタ
１３４を約１ボルトの高さに留まらせる。トランジスタ
１１８のコレクタ１３４が約１ボルトの時には、故障ト
リガ回路１４２を操作するに十分な電圧は存在せず、従
って、如何なる故障の表示もオペータには表示されない
であろう。
【００１２】抵抗９４の値は、トランジスタ１０２のベ
ース１００の電圧をゼロにする様に選択される。コンデ
ンサ９８の値は、トランジスタ１０２のベース１００の
電圧を、試験の間に生じ得る外来の電界によって影響す
ることから防止する様に選択される。電極１４の中にあ
る導体１２の絶縁の故障または欠陥の場合には、電極１
４から絶縁導体１２の導体部分１６へアークが生じるで
あろう。アーク中を流れる電流は、絶縁自体の故障また
は欠陥と電極−空気界面との双方の形態に大いに依存す
るが、何れの場合にも、短い立上り時間とアーク電流に
依存する強さを有する、少くとも１つの電流のパルスが
発生する。
【００１３】電極内の絶縁ケーブルの絶縁不良により生
じるアーク電流パルスは、２次巻線２４及び変流器３８
の２次巻線４０を通って流れる。これらのアーク電流パ
ルスの周波数スペクトルは、一般に、変流器３８及び６
６の効率的な操作範囲内にある。アーク電流パルスは、
より２次線式電線５６へ伝搬され、そして、接続ケーブ
ル５８の長さに関係なく、ひずみなしに、変流器６６の
巻線６８の両端に現れる。一般に、これらのアーク電流
パルスは、コロナパルスよりも大きな強さと長さとを有
しており、そして、一般にコンデンサ５０の作用によっ
て左程影響されない。従って、巻線７８に誘導される電
圧は、ダイオード８８の負のオフセットバイアス電圧及
び電圧降下を超える。そこで、ダイオード８８はトラン
ジスタ１０２のベース１００に電流を導通し、トランジ
スタを導通状態にしてコンデンサ１１４を充電し、及び
トランジスタ１１８のベース端子１１６へ流れる電流を
遮断してトランジスタを非導通状態にさせる。トランジ
スタ１１８のコレクタ端子の電圧は、＋電圧１４８の強
さになり、そして、抵抗１２２及びコンデンサ１４４の
値によって決まるＲＣ時定数によって定まる最小の時間
の間その電圧に留まる。トランジスタ１１８のコレクタ
端子１３４による電圧の上昇が、故障トリガ回路１４２
を起動し、該トリガ回路は、プロセス制御リレー１５４
及びオペレータアラーム１５８を操作するのに十分な時
間間隔の出力１５０を発生する。電極を通る導体の絶縁
の欠陥を試験するための装置が、好適な実施例の形で前
述された。種々な回路素子の値に対して、及び、機能す
る回路の形態に対して、本発明の範囲を逸脱することな
しに、多くの変更及び修正を施こすことができることが
理解されるであろう。従って、本発明は、以上限定的に
ではなしに寧ろ例証的に記述されたものである。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の絶縁試験装置の一実施例を示す電気回
路の概略図である。
【符号の説明】
１０ 絶縁試験装置 １２ 絶縁導体 １４ 試験電極 １５ 試験部所 １６ 導体部分 １８ 接地基準電圧 ２０ 高試験電圧変圧器 ２２ １次巻線 ２４ 高電圧２次巻線 ２６ 低電圧２次巻線 ２８ 交流電源 ３８ 電流感知変圧器 ６０ 制御部 １４２ 故障トリガ回路 １５４ プロセス制御リレー １５８ オペレータアラーム
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成４年５月２５日
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】請求項１０
【補正方法】変更
【補正内容】

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 絶縁導体が連続動作でその中を通され、
    瞬間的にその中に受け入れた絶縁物の部分に高い交流試
    験電圧を印加する様に構成された電極（１４）を用いて
    使用する絶縁導体（１２）の絶縁物を試験するための装
    置であって、 試験部（１５）が、 試験電極を構成する手段（１４）、 高い交流試験電圧を発生するために試験電極に接続され
    た手段（２０）、 該高電圧発生手段（２０）を励発して、所望の強さ及び
    周波数の高い試験電圧を発生させるため、該交流高電圧
    発生手段（２０）に接続された交流電圧信号電源手段
    （２８）、及び、 試験電極に誘導された電流を感知し及び試験電極内の絶
    縁導体の絶縁状態を示す絶縁状態電圧信号をつくり出す
    ために、該高電圧発生手段（２０）および試験電極（１
    ４）と直列に接続された電流感知手段（３８）を有し、 該交流試験高電圧発生手段（２０）は、交流電圧信号電
    源手段（２８）の周波数の低い試験電圧を発生するため
    の第２の手段（２６）を有し、 該試験部（１５）から離れて配置された制御部（６０）
    が、 該交流低試験電圧信号を受けるための、及び該試験高電
    圧の強さに比例するバイアス電圧を発生させるための第
    １の手段（１６４、１７４、１７０、１８２、１８８、
    １９２）、 該電流感知手段によってつくられた絶縁状態電圧信号を
    受け及び該電流感知手段によりつくられた絶縁状態電圧
    信号の強さに比例する故障状態電圧信号を発生するため
    の受信回路手段（６６、８４）を有する第２の回路手
    段、及び、 該バイアス電圧の強さを超える故障状態電圧信号の強さ
    に応じて故障表示信号をつくり出すための故障検出回路
    手段（９４、１０２、１１８）を有することを特徴とす
    る絶縁試験装置（１０）。
  2. 【請求項２】 前記電流感知手段（３８）が、接地基準
    電圧（１８）に接続されており、且つ、電流分路手段
    （５０）を有し、該電流分路手段が、試験電極と電極内
    の絶縁導体（１２）の表面との間のコロナ効果により、
    試験電極（１４）に誘導された電流の実質的部分を該接
    地基準電圧にそらし、それによって、発生した絶縁状態
    電圧信号の強さを、故障検出回路手段（９４、１０２、
    １１８）に故障状態を表示させるのに不十分にし、及
    び、試験電極に誘導された電流が試験電極内の絶縁導体
    の絶縁物の欠陥による少くとも１つの電流アークパルス
    であるときに、故障検出回路手段（９４、１０２、１１
    ８）に故障状態を表示させるに十分な強さの絶縁状態電
    圧信号を発生させることを更に特徴とする請求項１に記
    載の絶縁試験装置（１０）。
  3. 【請求項３】 前記電流感知手段（３８）が、１次巻線
    （４０）及び，２次巻線（４２）を有する第１の変流器
    から成り、 前記制御部の第２回路手段が、１次巻線（６８）及び２
    次巻線（７８）を有する変圧器（６６）を含み、 前記試験部（１５）を制御部（６０）に接続するための
    接続手段（５８）が設けられており、 該接続手段（５８）は、１対の端部（５２、５４）が前
    記変流器（３８）の２次巻線（４２）の両端に接続され
    且つ他の１対の端部（７４、７６）が制御部の変圧器
    （６６）の１次巻線（６８）に接続されたより２線式電
    線（５６）と、１端が前記交流低試験電圧発生手段（２
    ６）に接続され且つ他端（１６０）が制御部の第１回路
    手段（１６４、１７４、１７０、１８２、１８８、１９
    ２）に接続された単線（６２）とから成り、 制御部の変圧器（６６）が、更に、そのインピーダンス
    を該より２線式電線（５６）と該変流器（３８）のイン
    ピーダンスに匹敵する様に調節するための手段（８４）
    とを有していることを特徴とする、請求項１に記載の絶
    縁試験装置（１０）。
  4. 【請求項４】 前記制御部の第１回路手段が、制御部に
    存在する交流低試験電圧に応じて負の直流電圧に充電す
    るための第１のコンデンサ（１７４）に接続された負の
    ピーク整流回路手段（１６４）と、該負のピーク整流回
    路手段（１６４）及び抵抗型分圧回路手段（１８２、１
    ８８）と直列に接続されたツエナーダイオード回路手段
    （１７０）とを有し、前記バイアス電圧が可変の強さを
    有し且つ前記負の直流電圧からツエナーダイオード回路
    手段（１７０）両端の電圧降下値を引いた値、及び、該
    抵抗型分圧回路（１８２、１８８）の比率によって定ま
    ることを特徴とする、請求項１に記載の絶縁試験装置
    （１０）。
  5. 【請求項５】 前記制御部の第２回路手段が、抵抗型分
    圧器の出力に直列に接続された変圧器（６６）の２次巻
    線（７８）と、陽極（８６）が分圧器出力に接続されて
    いない２次巻線（７８）の端（８０）に接続され陰極
    （９０）が故障検出回路手段（１０２、１１８）に接続
    されたダイオード（８８）とを有し、故障検出回路手段
    に、該ダイオードを順バイアスにする故障状態電圧信号
    の強さに応じた故障表示信号を発生させることを更に特
    徴とする、請求項４に記載の絶縁試験装置（１０）。
  6. 【請求項６】 前記故障検出回路手段（１０２、１１
    ８）が、製造及び試験の間絶縁導体の処理に用いられる
    オペレータアラーム（１５８）または制御器（１５４）
    のような外部装置に活性化信号を送るためのスイッチン
    グ回路（１１８）を有することを更に特徴とする、請求
    項５に記載の絶縁試験装置（１０）。
  7. 【請求項７】 所望の強さと試験周波数の試験電圧を発
    生させるための交流高電圧試験信号の電源（２８）と、 絶縁物の試験電極内に受け入れられた部分に交流高電圧
    試験信号を印加するために該交流高電圧信号電源（２
    ０、２８）に接続された試験電極手段（１４）と、 コロナ効果により及び試験中の絶縁導体（１２）の絶縁
    物中の欠陥により電極に誘導された電流を感知するため
    の手段（３８、５０）と、 アーク電流パルスの存在に応じた故障表示信号を発生す
    るために該感知手段（３８）に反応する手段（６６、８
    ８、１０２、１１８）とを有し、且つ、 感知手段が、更に、コロナ起因電流と絶縁物中の欠陥に
    よるアーク電流パルスとを識別するための手段を有する
    ことを特徴とする、絶縁導体の絶縁物を試験するための
    装置（１０）。
  8. 【請求項８】 前記感知手段（３８）が、アーク電流パ
    ルスの存在に対する感度をコロナ起因電流の存在に対す
    る感度よりも実質的に大にするように試験周波数の電流
    に応答性であり、コロナ高周波数電流に非応答性である
    ことを更に特徴とする、請求項７に記載の絶縁導体の絶
    縁物を試験するための装置（１０）。
  9. 【請求項９】 前記故障表示発生信号手段（６０）が、
    試験電極手段（１５）から離れて配置されていることを
    更に特徴とする、請求項８に記載の絶縁導体の絶縁物を
    試験するための装置（１０）。
  10. 【請求項１０】 絶縁導体の絶縁物を試験するための装
    置であって、 所望の強さと試験周波数の試験電圧をつくり出すための
    交流高電圧試験信号の電源（２０、２８）と、 交流高電圧試験信号を絶縁物の試験電極内に受け入れら
    れた部分に印加するために該交流高電圧信号電源（２
    ９、２８）に接続された試験電極手段（１４）と、 コロナ効果により及び絶縁導体（１２）の絶縁物中の欠
    陥により試験電極（１４）に誘導された電流を感知する
    手段であって、更に、コロナ電流と絶縁物中の欠陥によ
    るアーク電流パルスとを識別するための手段（５０）を
    有し、感知された電流の強さを表わし且つそれに比例す
    る電圧信号をつくり出すための手段（４２）を有する電
    流感知手段（３８、５０）と、 故障表示信号をつくり出すため及び交流高電圧試験信号
    の相対強さに従って限界電圧信号をつくり出すための感
    知手段に応答性のある手段であって、その故障表示信号
    発生手段（１０２、１１８）が、該限界電圧信号を超え
    る強さを有する感知された電流の電圧信号に応じて故障
    表示信号をつくり出す応答性手段（６６、８８、１０
    ２、１１８、１６４、１７４、１７０、１８２、１８
    ８）とを有することを特徴とする絶縁試験装置（１
    ０）。
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