JPH06350680A - データ伝送装置の試験装置 - Google Patents

データ伝送装置の試験装置

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JPH06350680A
JPH06350680A JP5137404A JP13740493A JPH06350680A JP H06350680 A JPH06350680 A JP H06350680A JP 5137404 A JP5137404 A JP 5137404A JP 13740493 A JP13740493 A JP 13740493A JP H06350680 A JPH06350680 A JP H06350680A
Authority
JP
Japan
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test
terminal
data signal
signal
unit
Prior art date
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Pending
Application number
JP5137404A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshinobu Katsumata
良信 勝又
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
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  • Digital Transmission Methods That Use Modulated Carrier Waves (AREA)
  • Maintenance And Management Of Digital Transmission (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 データ伝送装置を構成する各端末器の伝送機
能を独立して検査する。 【構成】端末器Aには変調部11,復調部12,制御演
算部13が設けられており、制御演算部13は、変調部
11及び復調部12を介して他の端末器とデータ伝送す
る。端末器Aには複数のテストピン15a乃至15fを
有するコネクタ15が設けられており、各テストピンに
変調部11,復調部12,制御演算部13が夫々接続さ
れている。試験装置16には変調部17,復調部18,
電源部20,コネクタ21が設けられており、それらが
コネクタ21の各テストピン21a乃至21fと夫々接
続されている。コネクタ21がコネクタ15に接続され
た状態では、試験装置16の制御演算部19は、変調部
17若しくは復調部18を介して端末器Aの復調部12
若しくは変調部11の伝送機能を検査する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、変調部及び復調部を有
した端末器間で当該変調部及び復調部を介してデータ伝
送を実行するデータ伝送装置の試験装置に関する。
【0002】
【従来の技術】図4は従来のデータ伝送装置の一例を示
している。この図4において、各端末器A,B…Zはプ
ロセッサ1を有しており、このプロセッサ1は変調部及
び復調部から成るスイッチ装置2を介して伝送端末器3
に接続されている。スイッチ装置2は、プロセッサ1か
ら出力された送信用のデータ信号を変調部により伝送信
号に変調して伝送端末器3に送信すると共に、伝送端末
器3から受信した伝送信号を復調部によりデータ信号に
変換してプロセッサ1に出力する。また、スイッチ装置
2は内部データバス4を通じて各種負荷装置5と接続さ
れたインターフェース装置6と接続されている。
【0003】そして、各端末器A,B…Zの伝送端末器
3は隣接する端末器の伝送端末器3と伝送路7を通じて
接続されており、斯かる構成によりデータ伝送装置が構
成されている。この場合、例えば端末器Aが親局として
設定されている場合には、端末器Aは、他の端末器B…
Zに対して伝送したいデータがあるか否かを1台ずつ順
番に繰り返して確認し、伝送したいデータを有する端末
器がある場合には、そのデータを伝送端末器3を通じて
所定タイミングで受信するポーリング動作を実行するよ
うになっている。
【0004】さて、親局に設定された端末器Aの機能と
して、1回のポーリングに要するデータ送信の期間が、
予め設定されている待ち時間t1 を上回ると、ポーリン
グしている端末器への接続を強制的に中断するように設
定されたものがある。このとき、各端末器として、1つ
のインターフェース装置6からのデータバスが有効とさ
れている時間t2 より長時間にわたって閉塞されている
場合には、データバス4を他の端末器のスイッチ装置2
ひいてはデータ通信網から切離す構成のものがあり、こ
のような場合には、親局に設定された端末器Aは、子局
に設定された端末器の機能が正常であっても、その端末
器との接続を中断してしまう。そこで、待ち時間t2 を
t1 よりも大きく設定することにより、スイッチ装置2
の監視回路が、インターフェース装置の監視回路に障害
が発生しない限り、応答しないようにして、端末器A
は、ポーリング動作を確実に実行することができる。
【0005】ここで、図5は、子局となる端末器の異常
検出動作を示している。この場合、子局となる端末器が
正常な場合には待ち時間t1 の間に応答し、異常がある
場合には待ち時間t1 間に応答はないので、待ち時間t
1 間における応答の有無によって端末器の異常を判断す
ることができる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来構成のデータ伝送装置では、親局となる端末器が伝送
路を通じてポーリングを行った場合にのみ子局となる端
末器の異常を検出できるので、伝送路が確立されておら
ず端末器が孤立している場合、或いは端末器が単体であ
る場合には異常を検出できないという欠点がある。
【0007】本発明は上記事情に鑑みてなされたもの
で、その目的は、端末器の伝送機能を独立して検査する
ことができるデータ伝送装置の試験設定を提供するにあ
る。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、変調部及び復
調部を有した端末器間で当該変調部及び復調部を介して
データ伝送を実行するデータ伝送装置に対応して設けら
れた試験装置であり、前記端末器の変調部及び復調部と
接続可能に設けられ、その接続状態で前記変調部に試験
用データ信号を送信することにより前記変調部から出力
される伝送信号を復調してデータ信号として入力すると
共に前記復調部に試験用データ信号を変調して送信する
ことにより前記復調部から出力されるデータ信号を入力
し、上記試験用データ信号と入力データ信号とが一致し
なかったときは前記復調部若しくは前記変調部は異常で
あると判断する制御演算部を設けたものである。
【0009】この場合、制御演算部を、試験用データ信
号が与えられる試験用信号設定部を有し当該試験用信号
設定部に与えられた試験用データ信号を端末器に送信す
るように構成してもよい。
【0010】また、制御演算部を、試験用信号設定部に
与えられた試験用データ信号を記憶する試験用信号記憶
部を有し当該試験用信号記憶部に記憶された試験用デー
タ信号を端末器に送信するように構成してもよい。
【0011】
【作用】請求項1記載のものの場合、試験装置を端末器
の変調部及び復調部と接続する。そして、変調部を試験
するときは、その接続状態で試験装置から変調部に試験
用データ信号を送信する。すると、変調部は、試験用デ
ータを伝送信号に変調するので、試験装置は、変調され
た伝送信号を復調して受信し、試験用データ信号と入力
データ信号とを比較する。このとき、変調部が異常であ
るときは、試験用データ信号は正しく変調されず、試験
用データ信号と入力データ信号とは一致しないので、試
験装置は変調部の異常を検出することができる。
【0012】また、復調部を試験するときは、試験装置
の端末器への接続状態で復調部に試験用データ信号を変
調して送信する。すると、復調部は、変調信号を復調し
てデータ信号として送信するので、試験装置は、復調さ
れたデータ信号を受信し、試験用データ信号と入力デー
タ信号とを比較する。このとき、復調部が異常であると
きは、変調信号は正しく変調されず、試験用データ信号
と入力データ信号とは一致しないので、試験装置は復調
部の異常を検出することができる。
【0013】請求項2記載のものの場合、試験用信号設
定部に試験用データ信号を入力すると、制御演算部は、
端末器との接続状態で試験用信号設定部からの試験用デ
ータ信号を送信して端末器の伝送機能を試験する。この
場合、試験用データ信号を必要に応じて変更することが
できるので、端末器の伝送機能の仕様変更に対して迅速
に対処することができる。
【0014】請求項3記載のものの場合、試験用信号設
定部に試験用データ信号を入力すると、その試験用デー
タ信号は試験用信号記憶部に記憶される。そして、制御
演算部は、端末器との接続状態で試験用信号記憶部に記
憶された試験用データ信号を送信する。従って、試験用
信号設定部に試験用データ信号を一旦入力した後は、試
験用データ信号を入力する必要はなく操作性が良好とな
る。
【0015】
【実施例】以下、本発明の第1実施例を図1を参照して
説明する。図1は全体の構成を概略的に示している。こ
の図1において、端末器A,B…は、変調部11及び復
調部12を介して互いに接続された制御部演算部13及
び伝送端末器14を備えている。各端末器A,B…の制
御演算部13は、伝送端末器14を通じて隣接する制御
演算部13と接続されており、斯かる構成によりデータ
伝送装置が構成されている。
【0016】ここで、各端末器A,B…にはコネクタ1
5が設けられており、これには複数のテストピン15a
乃至15fを有している。この場合、テストピン15a
は復調部12を通じてテストピン15bと接続され、テ
ストピン15cは変調部11を通じてテストピン15d
と接続されている。テストピン15e,15fは変調部
11及び復調部12の電源端子と接続されている。
【0017】一方、上記端末器A,B…に対応して試験
装置16が設けられている。この試験装置16は、変調
部17及び復調部18と接続された制御演算部19が設
けられていると共に電源部20が設けられている。ま
た、試験装置16にはコネクタ21が設けられており、
これは複数のテストピン21a乃至21fを有してい
る。この場合、テストピン21aは変調部17を介して
制御演算部19と接続され、テストピン21b,21c
は制御演算部19と直接接続され、テストピン21dは
復調部18を介して制御演算部19と接続され、テスト
ピン21e,21fは電源部20と接続されている。
【0018】上記試験装置16のコネクタ21は端末器
A,B…のコネクタ15と接続可能となっており、その
接続状態でコネクタ21の各テストピン21a乃至21
fはコネクタ15の各テストピン15a乃至15fと接
続して導通する。試験装置16の制御演算部19は、後
述するようにコネクタ21がコネクタ15と接続された
状態で端末器A,B…の伝送機能を検査する。
【0019】次に上記構成の作用について説明する。試
験対象となる端末器Aの伝送機能を検査するときは、非
通信状態で試験装置16のコネクタ21を端末器Aのコ
ネクタ15に接続する。すると、試験装置16の制御演
算部19は、試験用データ信号を変調部17に出力する
ので、変調部17は試験用データ信号を伝送信号に変調
してテストピン21aひいては端末器Aのテストピン1
5aに出力する。
【0020】一方、試験対象となる端末器Aにおいて
は、テストピン15aからの伝送信号を復調部12に入
力することによりデータ信号に復調してからテストピン
15bに出力する。これにより、試験装置16は、端末
器Aにおいて復調されたデータ信号をテストピン21b
を通じて入力して制御演算部19に出力する。そして、
制御演算部19は、端末器Aに出力した出力試験用デー
タ信号と端末器Aから入力したデータ信号とが一致する
か否かを比較判定する。このとき、制御演算部19は、
両方のデータ信号が一致したときは、試験対象となる端
末器Aの復調部12は正常であると判断し、両方のデー
タ信号が一致しないときは、端末器Aの復調部12は異
常であると判定する。
【0021】続いて、試験装置16の制御演算部19
は、試験用データ信号をテストピン21cひいては端末
器Aのテストピン15cに出力する。すると、試験対象
となる端末器Aにおいては、テストピン15cからの試
験用データ信号を変調部11により伝送信号に変調して
テストピン15dに出力する。これにより、試験装置1
6は、端末器Aにおいて変調された伝送信号をテストピ
ン21dを通じて復調部18に入力することによりデー
タ信号に復調すると共に、その復調されたデータ信号を
制御演算部19に出力する。そして、制御演算部19
は、端末器Aに出力した試験用データ信号と端末器Aか
ら入力したデータ信号とが一致したか否かを比較判定す
る。このとき、制御演算部19は、両方のデータ信号が
一致したときは、試験対象となる端末器Aの変調部11
は正常であると判断し、両方のデータ信号が一致しない
ときは、変調部11は異常であると判断する。
【0022】上記構成のものによれば、データ伝送装置
を構成する端末器A,B…の非伝送状態、或いは端末器
A,B…の独立した状態で、試験装置16を試験対象と
なる端末器に接続するだけで端末器の伝送機能を検査す
ることができるので、ポーリングにより端末器の伝送機
能を検査する従来例のものと違って、伝送路が確立され
ておらず端末器が孤立している場合、或いは端末器が単
体である場合であっても、端末器を確実に検査すること
ができる。
【0023】図2は本発明の第2実施例における試験装
置16を示しており、第1実施例と同一部分には同一符
号を付して説明を省略する。即ち、試験装置16には試
験用信号設定部22が設けられており、その試験用信号
設定部22を通じて試験用データ信号を制御演算部19
に与えるようになっている。そして、制御演算部19
は、試験用信号設定部22から与えられた試験用データ
信号を試験対象となる端末器Aに出力するように構成さ
れている。
【0024】この第2実施例によれば、試験装置16に
試験用データ信号を外部から与えることができるので、
第1実施例と同一の作用効果を奏しながら、端末器Aの
変調部11及び復調部12の構成の変更に対して迅速に
対処することができる。
【0025】図3は本発明の第3実施例における試験装
置16を示している。即ち、試験装置16は、第2実施
例と同一構成の試験用信号設定部22を有すると共に、
その試験用信号設定部22に入力された試験用データ信
号を記憶する試験用信号記憶部23を有している。そし
て、制御演算部19は、試験用信号記憶部23に記憶さ
れた試験用データ信号を試験対象となる端末器Aに出力
するように構成されている。
【0026】この第3実施例によれば、端末器Aの構成
に応じた試験用データ信号を、試験設定部22を通じて
試験用信号記憶部23に記憶することができるので、第
2実施例と同一の作用効果を奏しながら、試験用信号記
憶部23に試験用データ信号を記憶させた以後におい
て、操作性を簡単化することができる。
【0027】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
のデータ伝送装置によれば以下の効果を奏する。
【0028】請求項1記載のデータ伝送装置の試験装置
によれば、試験装置に、端末器の変調部及び復調部と接
続される制御演算部を設け、この制御演算部により端末
器の変調部及び復調部の伝送機能を検査するようにした
ので、端末器の伝送機能を独立して検査することができ
る。
【0029】また、請求項2記載のデータ伝送装置の試
験装置によれば、試験装置の制御演算部に試験用データ
信号が与えられる試験用信号設定部を設け、この試験用
信号設定部に与えられた試験用データ信号を端末器に送
信するように構成したので、試験データ信号を必要に応
じて変更することができて端末器の伝送機能の仕様変更
に対して迅速に対処することができる。
【0030】また、請求項3記載のデータ伝送装置の試
験装置によれば、試験装置の制御演算部に試験用信号設
定部に与えられた試験用データ信号を記憶する試験用信
号記憶部を設け、この試験用信号記憶部に記憶された試
験用データ信号を端末器に送信するように構成したの
で、試験用信号設定部に試験用データ信号を一旦入力し
た後は、試験用データ信号を入力する必要はなく操作性
が良好となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施例を示す全体の概略図
【図2】本発明の第2実施例を示す試験装置の概略図
【図3】本発明の第3実施例を示す試験装置の概略図
【図4】従来例を示す図1相当図
【図5】伝送タイミングを示すタイミングチャート
【符号の説明】
A,Bは端末器、11は変調部、12は復調部、13は
制御演算部、15はコネクタ、16は試験装置、19は
制御演算部、21はコネクタである。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 変調部及び復調部を有した端末器間で当
    該変調部及び復調部を介してデータ伝送を実行するデー
    タ伝送装置に対応して設けられた試験装置において、 前記端末器の変調部及び復調部と接続可能に設けられ、
    その接続状態で前記変調部に試験用データ信号を送信す
    ることにより前記変調部から出力される伝送信号を復調
    してデータ信号として入力すると共に前記復調部に試験
    用データ信号を変調して送信することにより前記復調部
    から出力されるデータ信号を入力し、上記試験用データ
    信号と入力データ信号とが一致しなかったときは前記復
    調部若しくは前記変調部は異常であると判断する制御演
    算部を備えていることを特徴とするデータ伝送装置の試
    験装置。
  2. 【請求項2】制御演算部は、試験用データ信号が与えら
    れる試験用信号設定部を有し当該試験用信号設定部に与
    えられた試験用データ信号を端末器に送信するように構
    成されていることを特徴とする請求項1記載のデータ伝
    送装置の試験装置。
  3. 【請求項3】制御演算部は、試験用信号設定部に与えら
    れた試験用データ信号を記憶する試験用信号記憶部を有
    し当該試験用信号記憶部に記憶された試験用データ信号
    を端末器に送信するように構成されていることを特徴と
    する請求項2記載のデータ伝送装置の試験装置。
JP5137404A 1993-06-08 1993-06-08 データ伝送装置の試験装置 Pending JPH06350680A (ja)

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JP5137404A JPH06350680A (ja) 1993-06-08 1993-06-08 データ伝送装置の試験装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010046957A1 (ja) * 2008-10-24 2010-04-29 株式会社アドバンテスト 直交振幅復調器、復調方法およびそれらを利用した半導体装置および試験装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010046957A1 (ja) * 2008-10-24 2010-04-29 株式会社アドバンテスト 直交振幅復調器、復調方法およびそれらを利用した半導体装置および試験装置
JPWO2010046957A1 (ja) * 2008-10-24 2012-03-15 株式会社アドバンテスト 直交振幅復調器、復調方法およびそれらを利用した半導体装置および試験装置

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