JPH0634335A - シェアリング干渉方法およびラジアルシェア素子 - Google Patents

シェアリング干渉方法およびラジアルシェア素子

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JPH0634335A
JPH0634335A JP4213418A JP21341892A JPH0634335A JP H0634335 A JPH0634335 A JP H0634335A JP 4213418 A JP4213418 A JP 4213418A JP 21341892 A JP21341892 A JP 21341892A JP H0634335 A JPH0634335 A JP H0634335A
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JP
Japan
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light beam
reflected
ellipsoid
equation
wavefront
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Withdrawn
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JP4213418A
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English (en)
Inventor
Kaneyasu Ookawa
金保 大川
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Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
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Publication date
Application filed by Olympus Optical Co Ltd filed Critical Olympus Optical Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 1状態の干渉測定により三次元の波面形状を
高精度で短時間に測定する。 【構成】 楕円体の焦点F1 に集光させた被検光束3を
楕円体の表面1で反射させた光束4と、楕円体の中心を
通り且つ長軸と直交する振幅分割面2により被検光束3
を反射させた光束5とを干渉させて、被検光束3の波面
形状を測定する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は光学系の結像特性や光学
部品の面形状を測定するためのシェアリング干渉法と、
この干渉法に用いられるラジアルシェア素子に関する。
【0002】
【従来の技術】シェアリング干渉法は光学系から射出す
る光束の波面を直接的に測定するために用いられてい
る。このシェアリング干渉法においては、白色光源を使
用した測定が可能なコモンパス干渉法として、ラテラル
シェアリング干渉法が知られている。しかしこのラテラ
ルシェアリング干渉法は、被検面のシェア方向と平行な
波面形状をシェアの方向により観察するため、1方向だ
けでは波面を正確に把握できず、少なくとも2方向のシ
ェアを行う必要があると共に、シェア方向およびシェア
量を正確に把握する必要があり、測定が面倒となる問題
があった。
【0003】特開昭61−272607号公報はかかる
問題点を解決するために開発された従来技術である。こ
の方法はシェアリングを行う光学素子を回動機構により
直交する2方向に回転させるものであり、これにより簡
便な切り換えができ、しかも三次元の波面形状の高精度
測定を可能としている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら従来の方
法では、アライメントと2方向切換えの簡便さとが改善
されているが、三次元の波面形状を測定するには少なく
とも2状態の干渉測定が必要となるため測定に長時間を
要する問題があった。
【0005】本発明は上記事情を考慮してなされたもの
であり、白色光源が使用でき、しかも1状態の干渉測定
だけで三次元の波面形状を高精度で短時間に測定できる
シェアリング干渉方法およびこの干渉方法に使用するラ
ジアルシェア素子を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段および作用】本発明のシェ
アリング干渉方法は、楕円体の焦点に集光させた被検光
束を当該楕円体の表面で反射させた光束と、前記楕円体
の中心を通り且つその長軸と直交する振幅分割面により
前記被検光束を反射させた光束とを干渉させることを特
徴とする。このシェアリング干渉方法に使用する本発明
のラジアルシェア素子は楕円体の表面の一部分で構成さ
れる反射面と、前記楕円体の中心を通り且つその長軸と
直交するように設けられた振幅分割面とを備えているこ
とを特徴とする。
【0007】図1ないし図4は本発明の基本構成を示
し、これらの図において、1は第1の焦点F1 および第
2の焦点F2 を有する楕円体の表面であり、この表面の
一部分により反射面が構成される。2は楕円体の中心O
を通り且つ、その長軸と直交する振幅分割面、3は被検
光束、4は被検光束3が振幅分割面2を透過し、楕円体
の表面1で反射した後、再び振幅分割面2を透過するこ
とにより得られる光束、5は被検光束3が振幅分割面2
で直接反射して得られる光束、6はこれらの反射光束に
より生じた干渉縞7を観察するための仮想の観察面であ
る。
【0008】図1においては、被検光束3を第1の焦点
1 に集光させた状態を、図2においては第2の焦点F
2 に集光させた状態となっている。図1においては、第
1の焦点F1 に集光した被検光束3の1部が振幅分割面
2を透過した後、楕円体の表面1で反射し、第2の焦点
2 で集光し、再度振幅分割面2でその1部が透過する
ことにより反射光束4が得られる。一方被検光束3の他
の1部は振幅分割面2で直接反射して反射光束5とな
る。ここで被検光束3が理想球面波のとき、反射光束4
および5はいずれも第2の焦点F2 を波源とし、発散角
の異なった球面波となるため、ラジアルシェア干渉が生
じる。従って被検光束3に波面収差が存在する場合に
は、図3に示すように観察面6でその波面収差に応じた
干渉縞7を観察することができる。この干渉縞7を解析
することにより、被検光束3が有する波面収差を知るこ
とができる。
【0009】図2においては振幅分割面2を透過した被
検光束3の一部が第2の焦点F2 で集光した後、楕円体
の表面1で反射し、再度振幅分割面2でその1部が透過
し第1の焦点F1 で集光することにより反射光束4が得
られる。一方被検光束の他の一部は振幅分割面2で直接
反射して反射光束5となる。これにより図4に示すよう
に、観察面6では被検光束3の波面収差に応じた干渉縞
7を観察することができ、この干渉縞7を解析すること
により、被検光束3が有する波面収差を知ることができ
る。
【0010】
【実施例1】図5ないし図7は本発明の実施例1を示
し、図1および図2と同一の要素は同一の符号を付して
対応させてある。図5において、11は楕円形状の表面
11aを内面に有したガラス部材であり、表面11aに
は銀が鏡面状に蒸着されている。この楕円形状の表面1
1aは第1の焦点F1 および第2の焦点F2 を有してい
る。12は数μm程度の厚さのニトロセルロール膜にコ
ーティングを施すことにより、所定の透過率および反射
率特性が備えられたペリクルビームスプリッタである。
このペリクルビームスプリッタ12は楕円形状の表面1
1aの中心Oを通り且つその長軸に直交する平面(振幅
分割面)に一致するようにガラス部材11に固定されて
いる。これらガラス部材11およびペリクルビームスプ
リッタ12により本実施例のラジアルシェア素子が構成
される。
【0011】図6は図5の解析説明図であり、y−z座
標は楕円形状の表面11aの中心を原点とし、短軸方向
をy軸、長軸方向をz軸とする座標系である。従って楕
円形状の表面11aのy−z平面内の断面形状はy2/b2
+z2/a2 =1と、一方、ペリクルビームスプリッタ12
の表面はz=0となる。
【0012】上記構成において、観察面6上にある1点
P(y1,1 )を発した光13がペリクルビームスプリ
ッタ12でその一部が反射され光14となって観察面6
上の一点P’(y1', z1 )に達し、一方、同じ点Pを
発した光13が楕円形状の表面11aで反射され光15
となって観察面6上の一点P”(y1", z1 )に達した
場合、これらのy1', y1"は幾何学的解析により、数1
および数2となる。
【0013】
【数1】
【0014】
【数2】
【0015】一方、表面11aの楕円形状の離心率εは
0<ε<1の条件の下で、数3となる。また、mを数
4、ρを数5、ρ’を数6、ρ”を数7とすると、ρ’
は数8、ρ”は数9となる。
【0016】
【数3】
【0017】
【数4】
【0018】
【数5】
【0019】
【数6】
【0020】
【数7】
【0021】
【数8】
【0022】
【数9】
【0023】今、位置mにおける入射波面W(ρ,θ)
を数10とすると、ペリクルビームスプリッタ12から
直接反射される反射光束5の位置mにおける波面W’
(ρ,θ)は数8および数10から数11のように算出
される。なお反射光束5は光14を含むものであり、数
10,数11において、Kは多項式の次数を示す。
【0024】
【数10】
【0025】
【数11】
【0026】一方、楕円形状の表面11aからの反射光
束4の位置mにおける波面W”(ρ,θ)は数9および
数10から数12となる。この反射光束4には光15が
含まれる。
【0027】
【数12】
【0028】これらの反射光束5および4の光路差OP
Dは数13であり、数13において、m>>ε,ρであ
るところから、数14となる。
【0029】
【数13】
【0030】
【数14】
【0031】以上のことから、光学的検出感度σは数1
5となる。
【0032】
【数15】
【0033】一方、単一収差だけが存在する場合の光学
的検出感度σn,L は数16となる。
【0034】
【数16】
【0035】ここで、n=1の時はチルト、n=2の時
はデフォーカス又は3次のアス、n=3の時は3次のコ
マ、n=4の時は3次の球面収差、n=5の時は5次の
コマ、n=6の時は5次の球面収差に対応した光学的検
出感度となる。図7は横軸に楕円率ε、縦軸にこれらの
光学的感度の絶対値をプロットした感度特性図である。
楕円率ε=0すなわち楕円体でなく球の場合には図7に
示すようにnが偶数の時、光学的感度が全くなく、この
現象は半球を用いた干渉計では、単なるリバーサルシェ
アリングにすぎず、チルトとコマ以外の波面収差は検出
できないことを示唆している。
【0036】次に干渉縞の可視度を1にする条件は以下
のように設定される。ペリクルビームスプリッタ12の
透過率をT、反射率を(1−T)とし(すなわち吸収が
ないものとする。)、楕円形状の表面11aの反射率を
Rとすれば、可視度が1となる条件が数17で与えられ
る。
【0037】
【数17】
【0038】ここで測定における光量を有効に使うため
にはT=0.5、R=1が良好で、この時には数17によ
りρ”/ρ’=−1/√2が最適条件となる。一方、数
8および数9からm>>ρの場合には数18となる。
【0039】
【数18】
【0040】従って数18にρ”/ρ’=−1/√2を
代入すると、ε=(√2−1)2 ≒0.17となり、この
時の光学的感度を図7により求めると最も低い光学的感
度の収差でも0.5あることが判る。以上のことから、測
定の実際にはペリクルビームスプリッタ12の透過率T
および楕円形状の表面11aの反射率Rの設定に応じて
数17および数18、楕円率εを設定することにより最
良の干渉縞を観察することができる。なお、楕円形状の
表面11aの大きさについては被検光束を射出する光学
系のNAおよびWDによって設定する必要があり、例え
ば顕微鏡対物レンズのようにWDが小さなレンズの波面
収差を測定する場合には、かなり小さく設定した方が良
好である。
【0041】以上のような本実施例では、光源として白
色光源が使用でき、しかも状態を変更することなく高精
度に測定でき、短時間での測定が可能となる。
【0042】
【実施例2】図8は本発明の実施例2を示し、実施例1
と同一の要素は同一の符号で対応させてある。この実施
例2においては、ガラスからなる平行平面板16の下面
16aにコーティングを施して、振幅分割面とし、この
下面16aを楕円形状の表面11aの中心を通り、且つ
その長軸と直交するように配置している。このような実
施例2では、振幅分割面がガラス面となっているため高
い面制度を容易に得られると共に低いNAの被検光束の
場合には反射光束4および反射光束5の平行平面板内の
光路長がほぼ等しいため測定精度の劣化が少なくなるメ
リットがある。
【0043】
【実施例3】図9は本発明の実施例3を示し、この実施
例3における実施例2との構成上の相違は振幅分割用の
コーティング膜17aが内部に位置するように平行平面
板17を作成し、そのコーティング膜17aが光学的に
楕円形状の表面11aの中心を通りその長軸に直交した
平面に一致するように平行平面板17を配置した点であ
る。このような構成では、振幅分割面がガラス面となっ
ているため高い面精度が得られると共に、実施例2では
補償できない高NAの被検光束の場合においても、コー
ティング膜17aの上下のガラスの厚さを適度に設定す
ることにより最適な補償ができる効果がある。
【0044】
【実施例4】図10は本発明の実施例4を示し、楕円形
状の表面18aおよび該楕円体の中心を通り、長軸と直
交する平面18bを有する半楕円形状のガラス体18の
みで、ラジアルシェア素子が構成されている。このガラ
ス体18は高精度面が得られ易いBK7を素材とすると
共に、その表面18aにはコーティングが施されていな
い。また平面18bには反射率が7%程度となる反射膜
が施されている。さらに、楕円率εは実施例1と同様に
ε=(√2−1)2≒0.17とし、ρ”/ρ’が−1/√
2に設定されている。
【0045】本実施例における反射光束4と反射光束5
との光密度の比はR=0.04とし、これにより数19と
なる。
【0046】
【数19】
【0047】すなわち、反射光束4と反射光束5とはほ
ぼ同じ光密度を有する光束となり干渉縞の可視度が大と
なる。なお、本実施例によって液浸対物レンズの波面収
差を測定する場合にはその対物レンズと平面18bとの
間を所定の液で満たして測定することになるため、その
ままでは平面18bの反射率が大幅に低下し測定できな
くなるが、この場合にはあらかじめ平面18bを液で満
たした時に反射率が7%程度に設定することにより測定
が可能となる。本実施例の固有の効果は、簡単な構成で
安定した波面測定ができることである。
【0048】
【実施例5】図11は本発明の実施例5を示し、19は
楕円形状の表面19aを有する半楕円ガラス体、20は
片側にコーティング面20aを有する平行平面板であ
る。この平行平面板20はそのコーティング面20aが
半楕円ガラス体19の平面部に密着するように接合され
ており、コーティング面が振幅分割面となっている。こ
の実施例5における固有の効果はガラス内部で発生する
球面収差による測定精度の誤差を軽減できることであ
る。
【0049】
【実施例6】図12は上記各実施例のラジアルシェア素
子21を用いて、波面を測定する時の全体構成を示す。
同図において22は白色光源、23はコンデンサーレン
ズ、24は干渉フィルター、25はピンホール、26は
ピンホール25の投影像を作成するためのレンズ、27
はビームスプリッタ、28は被検レンズ、29は検出光
束を変換するためのレンズ、30はCCDカメラであ
る。
【0050】このような構成において、白色光源22を
発した光束がコンデンサーレンズ23により集光光束と
なり、干渉フィルター24により単色光束となりピンホ
ール25を照明する。この時、干渉フィルター24は数
種類用意して切り換えて使用すると良い。ピンホール2
5を発した光束は球面波となり、この光束がレンズ26
により所定の位置に投影像を作る。すなわちこの所定の
位置を波源とする球面波に変換され、この光束がビーム
スプリッタ27を透過して被検レンズ28に入射する。
この入射光束の波面は完全な球面波となっており、この
完全な球面波が被検レンズ28を透過した後には被検レ
ンズ28が有する波面収差に応じて球面波からずれた波
面の光束3となる。この光束がラジアルシェア素子21
の第2焦点F2 に集光するように配置調整することによ
り、直接に反射した反射光束とラジアルシェアされた反
射光束とが同一波源として得られ、この干渉光束が被検
レンズ28を逆進し、ビームスプリッタ27で反射した
後、レンズ29により縮小光束となってCCDカメラ3
0に入射し、シェアリングにより生ずる全面にわたる位
相差を求めることができ、この波面収差が被検レンズ2
8の波面収差となる。かかる測定において、公知のフリ
ンジスキャニング法を用いることでさらに正確な位相差
を測定することができるので有効である。この場合はラ
ジアルシェア素子をピエゾ素子などで微動させることに
よって可能となる。
【0051】また各波長に対応した波面収差が得られる
ので、これらの波面を合成することにより従来顕微鏡対
物レンズなど精度的に不可能とされていたレンズの白色
MTFを高精度で求めることも可能となる。
【0052】
【発明の効果】以上の通り本発明によれば、被検光束の
波面を高精度で、しかも短時間に測定することができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の基本構成の測定例の側面図。
【図2】本発明の基本構成の別の測定例の側面図。
【図3】図1の干渉縞の平面図。
【図4】図2の干渉縞の平面図。
【図5】本発明の実施例1の断面図。
【図6】実施例1による測定を示す説明図。
【図7】実施例1の感度特性図。
【図8】本発明の実施例2の断面図。
【図9】本発明の実施例3の断面図。
【図10】本発明の実施例4の断面図。
【図11】本発明の実施例5の断面図。
【図12】本発明の実施例6の全体構成図。
【符号の説明】
1 楕円体の表面 2 振幅分割面 3 被検光束 4 反射光束 5 反射光束

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 楕円体の焦点に集光させた被検光束を当
    該楕円体の表面で反射させた光束と、前記楕円体の中心
    を通り且つその長軸と直交する振幅分割面により前記被
    検光束を反射させた光束とを干渉させることを特徴とす
    るシェアリング干渉方法。
  2. 【請求項2】 楕円体の表面の一部分で構成される反射
    面と、前記楕円体の中心を通り且つその長軸と直交する
    ように設けられた振幅分割面とを備えていることを特徴
    とするシェアリング干渉方法に用いるラジアルシェア素
    子。
JP4213418A 1992-07-17 1992-07-17 シェアリング干渉方法およびラジアルシェア素子 Withdrawn JPH0634335A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002250678A (ja) * 2001-02-27 2002-09-06 Olympus Optical Co Ltd 波面測定装置および波面測定方法
JP2014017521A (ja) * 2003-10-31 2014-01-30 Nikon Corp 露光装置及びデバイス製造方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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