JPH06342593A - マルチポート・メモリセル - Google Patents
マルチポート・メモリセルInfo
- Publication number
- JPH06342593A JPH06342593A JP3133341A JP13334191A JPH06342593A JP H06342593 A JPH06342593 A JP H06342593A JP 3133341 A JP3133341 A JP 3133341A JP 13334191 A JP13334191 A JP 13334191A JP H06342593 A JPH06342593 A JP H06342593A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- memory cell
- field effect
- cell
- read
- type field
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C8/00—Arrangements for selecting an address in a digital store
- G11C8/16—Multiple access memory array, e.g. addressing one storage element via at least two independent addressing line groups
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Static Random-Access Memory (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 セル内容を読み出すための2つのポートと、
セルに書き込むための1つのポートとを備えたマルチポ
ート・メモリセルを提供する。 【構成】 2つのビットライン(BLA,BLB)と共
に2つのワードライン(WLA,WLB)を備えたメモ
リが開示されている。ワードライン(WLA,WLB)
のそれぞれは、読み出しおよび書き込みに共通に用いら
れ、2つの異なるデコーダから個別にアドレスされる。
2つの読み出しアドレス信号および書き込みアドレス信
号がマルチプレクサに供給され、マルチプレクサは読み
出し時に読み出しアドレス信号を対応するデコーダにゲ
ートし、書き込み時に書き込みアドレス信号を両方のデ
コーダにゲートする。その結果、セルは2つの入力/出
力装置のいずれかによって読み取られる。メモリセルは
4つのN型FET(T3,T4,T5,T6)と、2つ
のP型FET(T1,T2)によって構成される。
セルに書き込むための1つのポートとを備えたマルチポ
ート・メモリセルを提供する。 【構成】 2つのビットライン(BLA,BLB)と共
に2つのワードライン(WLA,WLB)を備えたメモ
リが開示されている。ワードライン(WLA,WLB)
のそれぞれは、読み出しおよび書き込みに共通に用いら
れ、2つの異なるデコーダから個別にアドレスされる。
2つの読み出しアドレス信号および書き込みアドレス信
号がマルチプレクサに供給され、マルチプレクサは読み
出し時に読み出しアドレス信号を対応するデコーダにゲ
ートし、書き込み時に書き込みアドレス信号を両方のデ
コーダにゲートする。その結果、セルは2つの入力/出
力装置のいずれかによって読み取られる。メモリセルは
4つのN型FET(T3,T4,T5,T6)と、2つ
のP型FET(T1,T2)によって構成される。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、セル内容を読み出すた
めの2つのポートと、セルに書き込むための1つのポー
トとを備えたマルチポート・メモリセルに関するもので
ある。このメモリセルはVLSIメモリに組み込むのに
適している。
めの2つのポートと、セルに書き込むための1つのポー
トとを備えたマルチポート・メモリセルに関するもので
ある。このメモリセルはVLSIメモリに組み込むのに
適している。
【0002】
【従来の技術】“集積回路MOSランダムアクセス・メ
モリ”(「半導体設計」、21−25、1965)にお
いてJ.S.SCHMIDTにより最初に示されたいわ
ゆる6素子セルは、電界効果トランジスタにより作成さ
れたその後のメモリセルの基礎となっている。VLSI
の設計が複雑になるにつれて、一つ以上の装置から読み
出しが可能なセルに対する需要が高まってきている。こ
の機能を可能とするため、種々の回路設計が開発され
た。その例のいくつかを挙げると、米国特許第4768
172号明細書、“マルチエミッタ併合トランジスタ3
ポート・アレーセル”(IBM技術開示公報、第28
巻、11号、1986年4月、ページ5063−506
4)、“高密度マルチポートSRAMセル”(R.CL
EMEN他、IBM技術開示公報、第32巻、104
号、1990年5月、ページ176−187)などであ
る。これらのセル設計では、3ポートセルの場合でも、
いずれも比較的多数のトランジスタを必要とし、また、
セルに対するデータの書き込みおよび読み出しのために
個別のビットラインが設けられている。従ってその実装
コストは高く、また広いチップスペースを必要とする。
モリ”(「半導体設計」、21−25、1965)にお
いてJ.S.SCHMIDTにより最初に示されたいわ
ゆる6素子セルは、電界効果トランジスタにより作成さ
れたその後のメモリセルの基礎となっている。VLSI
の設計が複雑になるにつれて、一つ以上の装置から読み
出しが可能なセルに対する需要が高まってきている。こ
の機能を可能とするため、種々の回路設計が開発され
た。その例のいくつかを挙げると、米国特許第4768
172号明細書、“マルチエミッタ併合トランジスタ3
ポート・アレーセル”(IBM技術開示公報、第28
巻、11号、1986年4月、ページ5063−506
4)、“高密度マルチポートSRAMセル”(R.CL
EMEN他、IBM技術開示公報、第32巻、104
号、1990年5月、ページ176−187)などであ
る。これらのセル設計では、3ポートセルの場合でも、
いずれも比較的多数のトランジスタを必要とし、また、
セルに対するデータの書き込みおよび読み出しのために
個別のビットラインが設けられている。従ってその実装
コストは高く、また広いチップスペースを必要とする。
【0003】これらの問題のいくつかは、“高密度マル
チポートセル設計”(LOEHLEIN他、IBM技術
開示公報、第30巻、7号、1987年11月)に開示
された設計法によって解決できる。この論文には、複数
のポートアドレスが同一のセルを同時にアクセスするか
否かをチェックし、イエスの場合には、一つのアクセス
だけを許可し、他はすべて不許可とするコンパレータを
備えた回路が開示されている。この回路は、上述した従
来の回路と異なり単一のワードラインを用いているが、
コンパレータを構成するための論理回路の追加が必要で
ある。
チポートセル設計”(LOEHLEIN他、IBM技術
開示公報、第30巻、7号、1987年11月)に開示
された設計法によって解決できる。この論文には、複数
のポートアドレスが同一のセルを同時にアクセスするか
否かをチェックし、イエスの場合には、一つのアクセス
だけを許可し、他はすべて不許可とするコンパレータを
備えた回路が開示されている。この回路は、上述した従
来の回路と異なり単一のワードラインを用いているが、
コンパレータを構成するための論理回路の追加が必要で
ある。
【0004】LOEHLEIN他による論文“6素子セ
ルにおけるシングル/デュアルポート・アレー・アプロ
ーチ”(IBM技術開示公報、第31巻(1)、198
8年6月、ページ291)には、2つのワードラインを
用いるセル設計法が示されている。2つのワードライン
の内、1つはセルに書き込むために用いられ、他は読み
出しのために用いられる。両方のワードラインを読み出
しのために独立に、同時に用いることはできない。
ルにおけるシングル/デュアルポート・アレー・アプロ
ーチ”(IBM技術開示公報、第31巻(1)、198
8年6月、ページ291)には、2つのワードラインを
用いるセル設計法が示されている。2つのワードライン
の内、1つはセルに書き込むために用いられ、他は読み
出しのために用いられる。両方のワードラインを読み出
しのために独立に、同時に用いることはできない。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、ワー
ド線を読み出しおよび書き込みに共通に使用し、且つ2
つのポートで読み出し可能なマルチポート・メモリセル
を提供することである。
ド線を読み出しおよび書き込みに共通に使用し、且つ2
つのポートで読み出し可能なマルチポート・メモリセル
を提供することである。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、2つの異なる
ポートを用いて同時に直接読み出すことができ、そして
6つのトランジスタだけで構成できるメモリセルを開示
する。セルは読み出しおよび書き込みのために同一のワ
ードラインを用いる。これは、ワードラインをマルチプ
レクサに接続することによって達成される。セルから読
み出す場合、各読み出しポートは異なるワードラインに
接続される。しかし、書き込みの場合には、書き込みポ
ートは両方のワードラインに接続され、セルの内容が変
更される。セルの内容は、1つのビットラインの電位を
基準電位と比較することによって読み出される。これに
よりVLSI回路の設計は非常に簡素となり、メモリセ
ルが占めるスペースも縮小する。そして、製造コストは
低減し、歩留りは向上する。
ポートを用いて同時に直接読み出すことができ、そして
6つのトランジスタだけで構成できるメモリセルを開示
する。セルは読み出しおよび書き込みのために同一のワ
ードラインを用いる。これは、ワードラインをマルチプ
レクサに接続することによって達成される。セルから読
み出す場合、各読み出しポートは異なるワードラインに
接続される。しかし、書き込みの場合には、書き込みポ
ートは両方のワードラインに接続され、セルの内容が変
更される。セルの内容は、1つのビットラインの電位を
基準電位と比較することによって読み出される。これに
よりVLSI回路の設計は非常に簡素となり、メモリセ
ルが占めるスペースも縮小する。そして、製造コストは
低減し、歩留りは向上する。
【0007】
【実施例】図1に基本メモリセルを示す。このメモリセ
ルは、P型の電界効果トランジスタT1,T2およびN
型の電界効果トランジスタT3,T4により構成された
フリップフロップ15を備えている。フリップフロップ
15の出力は、N型の電界効果トランジスタT5,T6
を通じてビットラインBLA,BLBに接続されてい
る。トランジスタT5,T6のゲートは2つの異なるワ
ードラインWLA,WLBにより形成されている。ビッ
トラインBLAはセンス・アンプ10に接続されてい
る。ビットラインBLBが接続されたセンス・アンプ1
2は、その出力に接続されたインバータを備えている。
ビットラインBLA,BLBの電位は、トランジスタT
7,T8によって基準電圧(Vref)に維持される。
ルは、P型の電界効果トランジスタT1,T2およびN
型の電界効果トランジスタT3,T4により構成された
フリップフロップ15を備えている。フリップフロップ
15の出力は、N型の電界効果トランジスタT5,T6
を通じてビットラインBLA,BLBに接続されてい
る。トランジスタT5,T6のゲートは2つの異なるワ
ードラインWLA,WLBにより形成されている。ビッ
トラインBLAはセンス・アンプ10に接続されてい
る。ビットラインBLBが接続されたセンス・アンプ1
2は、その出力に接続されたインバータを備えている。
ビットラインBLA,BLBの電位は、トランジスタT
7,T8によって基準電圧(Vref)に維持される。
【0008】図2にメモリセルを動作させるために必要
な外部回路を示す。ここで、プロセッサがメモリセルの
内容の読み出しを要求するものとする。データを引き出
すメモリセルのアドレスを含む読み出しアドレス信号が
発生される。図には2つのライン55,56が示され、
それらはマルチプレクサ54に接続されている。各ライ
ンは個別の読み出しアドレス信号AまたはBを同時に伝
送でき、マルチプレクサ54はこれらの信号を独立に、
読み出すべきセルのアドレスをデコードするアドレス・
デコーダ50,52にそれぞれ送る。アドレスされたメ
モリセルのワードラインWLAあるいはWLBはトリガ
され、セルの内容が読み出される。読み出し動作は互い
に独立に行われるので、読み出し要求は、同一のメモリ
セルに対して行うこともでき、また異なるメモリセルに
対して行うこともできる。
な外部回路を示す。ここで、プロセッサがメモリセルの
内容の読み出しを要求するものとする。データを引き出
すメモリセルのアドレスを含む読み出しアドレス信号が
発生される。図には2つのライン55,56が示され、
それらはマルチプレクサ54に接続されている。各ライ
ンは個別の読み出しアドレス信号AまたはBを同時に伝
送でき、マルチプレクサ54はこれらの信号を独立に、
読み出すべきセルのアドレスをデコードするアドレス・
デコーダ50,52にそれぞれ送る。アドレスされたメ
モリセルのワードラインWLAあるいはWLBはトリガ
され、セルの内容が読み出される。読み出し動作は互い
に独立に行われるので、読み出し要求は、同一のメモリ
セルに対して行うこともでき、また異なるメモリセルに
対して行うこともできる。
【0009】次にプロセッサがメモリセルへのデータの
書き込みを要求するものとする。このときプロセッサは
書き込みアドレス信号をライン57に発生し、その信号
はマルチプレクサ54によって受け取られ、そしてデコ
ーダ50,52に送られる。デコーダ50,52は同一
の書き込みアドレス信号をデコードするので、アドレス
された同一のセルのワードラインWLA,WLBはハイ
レベルとなり、その結果、セルの内容は、よく知られた
方法にもとづき、ビットラインBLA,BLB上の電圧
を変えることによって重ね書きされる。
書き込みを要求するものとする。このときプロセッサは
書き込みアドレス信号をライン57に発生し、その信号
はマルチプレクサ54によって受け取られ、そしてデコ
ーダ50,52に送られる。デコーダ50,52は同一
の書き込みアドレス信号をデコードするので、アドレス
された同一のセルのワードラインWLA,WLBはハイ
レベルとなり、その結果、セルの内容は、よく知られた
方法にもとづき、ビットラインBLA,BLB上の電圧
を変えることによって重ね書きされる。
【0010】セルの動作は図3のタイミング図を参照す
ることによって理解できる。最初に読み出し動作につい
て説明する。アレークロック(波形110)のリーディ
ング・エッジはリストア信号(波形120)をトリガ
し、その結果、VrefはP型の電界効果トランジスタ
T7,T8によってビットラインBLA,BLBから絶
縁される。その間、読み出しアドレス信号Aおよび/あ
るいはBは安定しており、デコーディングが開始され
る。デコーダ50,52でアドレスのデコーディングが
完了すると、ワードラインはリストア信号がオフした
後、所定の時間トリガ可能となる(波形130)。説明
のため格納された情報は、トランジスタT5,T1,T
3の共通接続点が0ボルトであり、反対側のトランジス
タT2,T4,T6の共通接続点はVhであるようなも
のとする。その場合、WLAが上昇すると、トランジス
タT5はオンし、ビットラインBLAの電荷を放電する
(波形140)。差信号(Vref−Vbla。ただ
し、VblaはビットラインBLAの電位)はセンス・
アンプ10によって増幅され、セルの内容を表すデータ
出力信号Aが発生される(波形150)。基準電位Vr
efは通常、Vh/2に設定すればよい。
ることによって理解できる。最初に読み出し動作につい
て説明する。アレークロック(波形110)のリーディ
ング・エッジはリストア信号(波形120)をトリガ
し、その結果、VrefはP型の電界効果トランジスタ
T7,T8によってビットラインBLA,BLBから絶
縁される。その間、読み出しアドレス信号Aおよび/あ
るいはBは安定しており、デコーディングが開始され
る。デコーダ50,52でアドレスのデコーディングが
完了すると、ワードラインはリストア信号がオフした
後、所定の時間トリガ可能となる(波形130)。説明
のため格納された情報は、トランジスタT5,T1,T
3の共通接続点が0ボルトであり、反対側のトランジス
タT2,T4,T6の共通接続点はVhであるようなも
のとする。その場合、WLAが上昇すると、トランジス
タT5はオンし、ビットラインBLAの電荷を放電する
(波形140)。差信号(Vref−Vbla。ただ
し、VblaはビットラインBLAの電位)はセンス・
アンプ10によって増幅され、セルの内容を表すデータ
出力信号Aが発生される(波形150)。基準電位Vr
efは通常、Vh/2に設定すればよい。
【0011】同じプロセスが他のポートにおいても起き
る。1つのビットラインを通じたセル内容の読み出し動
作は、他のビットラインを通じた同一セルの内容読み出
し動作に影響しないので、この例では、同一のビットラ
イン上の同一のセルが読み出されているか、他のセルが
読み出されているかは区別されない。ワードラインWL
Bがトリガされ、トランジスタT6がオンすると、ビッ
トラインBLBの電圧は、基準電位(Vh/2)から上
昇し(波形160)、それはセンス・アンプ12によっ
て増幅される。セルの内容を表す正の出力データ信号B
が、センス・アンプ12の反転段を通じて得られる。
る。1つのビットラインを通じたセル内容の読み出し動
作は、他のビットラインを通じた同一セルの内容読み出
し動作に影響しないので、この例では、同一のビットラ
イン上の同一のセルが読み出されているか、他のセルが
読み出されているかは区別されない。ワードラインWL
Bがトリガされ、トランジスタT6がオンすると、ビッ
トラインBLBの電圧は、基準電位(Vh/2)から上
昇し(波形160)、それはセンス・アンプ12によっ
て増幅される。セルの内容を表す正の出力データ信号B
が、センス・アンプ12の反転段を通じて得られる。
【0012】出力が発生されると、直ちにワードライン
をオフさせることができ、新しいリストア信号が発生さ
れ(波形120)、ビットラインBLA,BLBの電位
はもとの基準電位(Vh/2)に戻る(波形140,1
60)。
をオフさせることができ、新しいリストア信号が発生さ
れ(波形120)、ビットラインBLA,BLBの電位
はもとの基準電位(Vh/2)に戻る(波形140,1
60)。
【0013】書き込み動作では、1つのセルの両方のワ
ードラインWLA,WLBが互いに接続される。これ
は、必要な読み出し/書き込み選択信号をマルチプレク
サ54に送ることにより行われる。セルのアドレスを選
択するための先頭のタイミング(波形110,120,
130)は読み出し動作の場合と同じである。書き込み
アドレス信号は書き込みゲートをトリガし(波形23
0)、それによりLBAあるいはBLBのいずれかがグ
ランドレベルとなる(すなわち論理“1”あるいは
“0”)。反対側のビットラインは、Vhに引き上げら
れる(波形210,220)。重ね書きされる場合に
は、セルの状態が変化し、そして書き込みゲートが閉じ
られる。その後、リストアをオフすることによってビッ
トラインは基準電位Vhに戻される。
ードラインWLA,WLBが互いに接続される。これ
は、必要な読み出し/書き込み選択信号をマルチプレク
サ54に送ることにより行われる。セルのアドレスを選
択するための先頭のタイミング(波形110,120,
130)は読み出し動作の場合と同じである。書き込み
アドレス信号は書き込みゲートをトリガし(波形23
0)、それによりLBAあるいはBLBのいずれかがグ
ランドレベルとなる(すなわち論理“1”あるいは
“0”)。反対側のビットラインは、Vhに引き上げら
れる(波形210,220)。重ね書きされる場合に
は、セルの状態が変化し、そして書き込みゲートが閉じ
られる。その後、リストアをオフすることによってビッ
トラインは基準電位Vhに戻される。
【0014】
【発明の効果】本発明によれば、非常に簡単な構成で、
多様な動作が可能なマルチポート・メモリを実現でき
る。
多様な動作が可能なマルチポート・メモリを実現でき
る。
【図1】ワードライン、ビットライン、およびセンス・
アンプを含む基本メモリセルを示す図である。
アンプを含む基本メモリセルを示す図である。
【図2】図1のメモリセルを動作させるために必要な外
部回路を示す図である。
部回路を示す図である。
【図3】図1のメモリセルの動作を示すタイミング図で
ある。
ある。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 オットー・マルチン・バグネル ドイツ連邦共和国 7031 アルトドルフ ブーフェンベーク 36/1
Claims (9)
- 【請求項1】フリップフロップ(15)と、ワードライ
ン(WLA,WLB)と、ビットライン(BLA,BL
B)と、セルのアドレスをデコードするためのワードラ
イン・アドレス・デコーダ(50,52)と、前記セル
の値を読み出すための読み出しポート(55,56)
と、前記セルに値を書き込むための書き込みポート(5
7)とを備えたマルチポート・メモリセルにおいて、 前記ワードライン・アドレス・デコーダ(50,52)
と、前記読み出しポート(55,56)および前記書き
込みポート(57)との間にマルチプレクサ(54)が
接続されていることを特徴とするマルチポート・メモリ
セル。 - 【請求項2】前記マルチプレクサ(54)は、読み出し
/書き込み選択信号によって制御されることを特徴とす
る請求項1記載のマルチポート・メモリセル。 - 【請求項3】基準電位(Vref)が、前記ビットライ
ン(BLA,BLB)に接続されていることを特徴とす
る請求項1または2記載のマルチポート・メモリセル。 - 【請求項4】前記基準電位(Vref)は、第1のP型
電界効果トランジスタ(T7,T8)を通じて前記ビッ
トライン(BLA,BLB)に接続されていることを特
徴とする請求項3記載のマルチポート・メモリセル。 - 【請求項5】センス・アンプ(10,12)が前記ビッ
トライン(BLA,BLB)のそれぞれと、前記基準電
位(Vref)に接続されていることを特徴とする請求
項3記載のマルチポート・メモリセル。 - 【請求項6】前記フリップフロップ(15)は、第1の
N型電界効果トランジスタ(T5,T6)を通じて前記
ビットライン(BLA,BLB)に接続され、 前記第1の電界効果トランジスタ(T5,T6)の各ゲ
ートは前記ワードライン(WLA,WLB)の一つに接
続されていることを特徴とする請求項1記載のマルチポ
ート・メモリセル。 - 【請求項7】前記フリップフロップは、第2および第3
のP型電界効果トランジスタ(T1,T2)と第2およ
び第3のN型トランジスタ(T3,T4)とによりなる
ことを特徴とする請求項1記載のマルチポート・メモリ
セル。 - 【請求項8】前記第2および第3のP型電界効果トラン
ジスタ(T1,T2)のソースまたはドレインは、共に
所定の電位(22)に接続され、 前記第2および第3のN型電界効果トランジスタ(T
3,T4)のソースまたはドレインは、共にグランド
(20)に接続され、 前記第2のP型電界効果トランジスタ(T1)のソース
またはドレインは、前記フリップフロップ(15)の出
力の1つと、前記第2のN型トランジスタ(T3)のソ
ースまたはドレインとに接続され、そして前記第3のP
型トランジスタ(T2)および前記第3のN型電界効果
トランジスタ(T4)のゲートを形成し、 前記第3のP型電界効果トランジスタ(T2)のソース
またはドレインは、前記フリップフロップ(15)の他
の出力と、前記第3のN型トランジスタ(T4)のソー
スまたはドレインとに接続され、前記第2のP型トラン
ジスタ(T1)および前記第2のN型電界効果トランジ
スタ(T3)のゲートを形成していることを特徴とする
請求項7記載のマルチポート・メモリセル。 - 【請求項9】2つの前記ビットライン(BLA,BL
B)と、 2つの前記ワードライン(WLA,WLB)と、 2つの前記センス・アンプ(10,12)とを備え、前
記センスアンプの1つは反転出力を備えていることを特
徴とする請求項1〜9のいずれかに記載のマルチポート
・メモリセル。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE90117025.8 | 1990-09-05 | ||
EP90117025A EP0473819A1 (en) | 1990-09-05 | 1990-09-05 | Multiport memory cell |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06342593A true JPH06342593A (ja) | 1994-12-13 |
Family
ID=8204431
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3133341A Pending JPH06342593A (ja) | 1990-09-05 | 1991-05-10 | マルチポート・メモリセル |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP0473819A1 (ja) |
JP (1) | JPH06342593A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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WO2003030138A1 (fr) * | 2001-09-28 | 2003-04-10 | Sony Corporation | Memoire d'affichage, circuit d'attaque, ecran d'affichage et appareil d'information cellulaire |
KR100431478B1 (ko) * | 1995-07-27 | 2004-08-25 | 텍사스 인스트루먼츠 인코포레이티드 | 고밀도2포트메모리셀 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP3892078B2 (ja) * | 1996-05-08 | 2007-03-14 | 株式会社ルネサステクノロジ | 半導体記憶装置 |
US5815432A (en) * | 1997-07-10 | 1998-09-29 | Hewlett-Packard Company | Single-ended read, dual-ended write SCRAM cell |
US9760438B2 (en) | 2014-06-17 | 2017-09-12 | Arm Limited | Error detection in stored data values |
US9891976B2 (en) | 2015-02-26 | 2018-02-13 | Arm Limited | Error detection circuitry for use with memory |
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