JPH06338564A - ダイシング方法および装置 - Google Patents

ダイシング方法および装置

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JPH06338564A
JPH06338564A JP12691093A JP12691093A JPH06338564A JP H06338564 A JPH06338564 A JP H06338564A JP 12691093 A JP12691093 A JP 12691093A JP 12691093 A JP12691093 A JP 12691093A JP H06338564 A JPH06338564 A JP H06338564A
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JP
Japan
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dicing
plate
blade
shaped object
wafer
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JP12691093A
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English (en)
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Yasuyuki Uchiumi
康行 内海
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 ダイシング対象の板状物の厚さ寸法のばらつ
きに関係なく、正確に切り込み量や切り残し量を制御す
ることが可能なダイシング技術を提供する。 【構成】 キャリア治具2のダイシングテープ3に貼付
された状態でダイシングテーブル1に載置されるウェハ
4のダイシングテープ3を含めた厚さ寸法を、レーザ位
置センサ6が検査光6aを介して実測し、ブレード駆動
機構7を介してブレード5を制御する主制御部8に入力
し、主制御部8は、実測されたウェハ4の厚さ寸法に基
づいてブレード5の下端とウェハ4のダイシング面4a
(上面)との距離Gを算出し、この距離Gに基づいてダ
イシング時のウェハ4に対するブレード5の切り込み量
を正確に制御するダイシング装置である。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はダイシング技術に関し、
特に、半導体ウェハのダイシング等に適用して有効な技
術に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体装置の製造プロセスでは、複数の
半導体素子を半導体ウェハ(以下、単にウェハと記す)
上に設けられた格子状の領域に一括して配列形成し、ウ
ェハプロセス完了後、個々の格子状領域を分割し半導体
ペレットとして個別に切り出して利用する。
【0003】このようなウェハから半導体ペレットへと
分割する方法としては、ウェハの切断部に沿って接触し
つつ直線移動する切断工具によるポイントスクライブ、
回転するダイヤモンドブレードを用いたダイシング法な
どがある。
【0004】ところで、従来のダイヤモンドブレードを
用いたダイシング法では、セットアップとよばれる動作
により、ダイシングテーブル面とブレードを接触させ、
Z軸(ウェハの厚さ方向)の0ポイント(原点)を検出
し、ウェハプロセスから推定される所定のウェハ厚さに
対して、ブレードのテーブル面からの切り残し量を設定
することにより、切り込み深さを決定していた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上記従来技術では、ウ
ェハプロセスを経たウェハの厚さ寸法が所定の値に一定
であることを前提としてダイシングテーブルに対するブ
レードの高さを制御することにより切り込み深さを調整
するため、例えばウェハを粘着テープに固定し、10μm
程度の切り残しを行うような場合には、粘着テープの厚
さバラツキによって、切り残し量が変動してしまうとい
う問題がある。
【0006】また、最近では、半導体ペレットの切断端
の鋭利な角部がパッケージ構造のストレスの一因となる
ことを回避すべく、刀部がV型の断面を有するブレード
を用いて一旦V溝を形成した後、通常のブレードによっ
て切断するという二段階の工程により、半導体ペレット
の切断端での面取りを行うことが知られている。ところ
が、上記従来技術によって当該V溝切断を行ったので
は、ウェハ厚さのバラツキにより溝幅が変動してしま
う、という問題が発生する。
【0007】本発明の目的は、ダイシング対象の板状物
の厚さ寸法のばらつきに関係なく、正確に切り込み量や
切り残し量を制御することが可能なダイシング技術を提
供することにある。
【0008】本発明の他の目的は、板状物の厚さ寸法の
ばらつきに影響されることなく、ダイシング部のV溝切
断における溝幅を正確に設定することが可能なダイシン
グ技術を提供することにある。
【0009】本発明の前記ならびにその他の目的と新規
な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかに
なるであろう。
【0010】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、
下記のとおりである。
【0011】すなわち、本発明は、ブレードを用いてダ
イシングテーブルに載置された板状物をダイシングする
ダイシング方法において、ダイシングに先立って板状物
の厚さ寸法を実測し、厚さ寸法に基づいて板状物に対す
るブレードの切り込み量を制御するものである。
【0012】また、本発明は、請求項1記載のダイシン
グ方法において、板状物を載置する前のダイシングテー
ブルの載置面の高さ、およびダイシングテーブルに載置
された板状物のダイシング面の高さをレーザ位置検出器
によって非接触に検出し、二つの高さの差から板状物の
厚さ寸法を実測するものである。
【0013】また、本発明は、請求項1記載のダイシン
グ方法において、ダイシングテーブルの載置面にブレー
ドを接触させて当該載置面の高さを計測する第1の段階
と、ダイシングテーブルに載置された板状物のダイシン
グ面にブレードを接触させて当該板状物のダイシング面
の高さを計測する第2の段階と、二つの高さの差から板
状物の厚さ寸法を求める第3の段階とによって板状物の
厚さ寸法を実測するものである。
【0014】また、本発明のダイシング装置は、板状物
が載置されるダイシングテーブルと、板状物に対するダ
イシング動作を行うブレードと、このブレードを支持
し、ダイシングテーブルの平面内および当該平面に直交
する高さ方向における位置制御動作を行うブレード制御
機構と、ダイシングテーブル上に載置された板状物の厚
さ寸法を実測する厚さ寸法測定手段とを備え、ダイシン
グに先立って板状物の厚さ寸法を実測し、この厚さ寸法
に基づいて板状物に対するブレードの切り込み量を制御
するようにしたものである。
【0015】また、本発明は、請求項4記載のダイシン
グ装置において、厚さ寸法測定手段を、板状物を載置す
る前のダイシングテーブルの載置面の高さ、およびダイ
シングテーブルに載置された板状物のダイシング面の高
さを非接触に検出するレーザ位置検出器で構成し、二つ
の高さの差から板状物の厚さ寸法を実測するようにした
ものである。
【0016】また、本発明のダイシング装置は、板状物
が載置されるダイシングテーブルと、板状物に対するダ
イシング動作を行うブレードと、このブレードを支持
し、ダイシングテーブルの平面内および当該平面に直交
する高さ方向における位置制御動作を行うブレード制御
機構とを備え、ブレード制御機構は、ダイシングテーブ
ルの載置面にブレードを接触させて当該載置面の高さを
計測する第1の段階と、ダイシングテーブルに載置され
た板状物のダイシング面にブレードを接触させて当該板
状物のダイシング面の高さを計測する第2の段階と、二
つの高さの差から板状物の厚さ寸法を求める第3の段階
とによって板状物の厚さ寸法を実測するようにプログラ
ムされ、ダイシングに先立って板状物の厚さ寸法を実測
し、この厚さ寸法に基づいて板状物に対するブレードの
切り込み量を制御するものである。
【0017】
【作用】上記した本発明のダイシング技術によれば、ダ
イシングに先立って、ダイシングテーブル上の板状物表
面の高さ、すなわち、板状物の厚さ寸法を検出すること
によって、ダイシングブレードの板状物への切り込み量
を制御するので、たとえば粘着テープに被着されたウェ
ハ等の板状物のダイシングに際して、たとえテープの厚
さバラツキや板状物厚さのバラツキがあっても、板状物
への切り込み量は所望の値に一定に制御できる。この結
果、ダイシングでの切り残し量のばらつき等の切り残し
不良、さらにはV溝切断における溝幅の変動を確実に防
止することが可能となる。
【0018】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面を参照しながら
詳細に説明する。
【0019】(実施例1)図1は、本発明の一実施例で
あるダイシング装置の構成の一例を模式的に示す概念図
であり、図2は、その作用の一例を示すフローチャート
である。
【0020】ダイシングテーブル1の上には、リング状
のキャリア治具2に周辺部が支持されたダイシングテー
プ3に裏面が接着されたウェハ4が載置され、図示しな
い真空吸着機構等によって着脱自在に保持される構成と
なっている。特に図示しないが、ダイシングテーブル1
は、ウェハ4の載置面1aを含む水平面内で、所望の向
きおよび角度に回転することが可能になっている。
【0021】ダイシングテーブル1の近傍には、当該ダ
イシングテーブル1の平面内で移動するXYテーブル7
aと、このXYテーブル7aに支持されて上下動するZ
テーブル7bと、このZテーブル7b上に、回転軸7d
を水平にした姿勢で固定されたモータ7cとからなるブ
レード駆動機構7が設けられており、回転軸7dの先端
部には、ブレード5が精密な同心度で、回転面をウェハ
4に対して垂直にして固定されている。
【0022】また、ブレード駆動機構7は、たとえば、
マイクロプロコンピュータなどからなる主制御部8によ
ってその動作が制御されている。
【0023】この場合、ダイシングテーブル1の上方に
は、たとえばレーザビームなどからなる検査光6aをダ
イシングテーブル1の側に放射し、当該検査光6aの反
射光等を検出することによって、ダイシングテーブル1
におけるウェハ4の載置面1aの高さ、さらには、ウェ
ハ4のダイシング面4a(上面)の高さを精密に測定す
ることが可能なレーザ位置センサ6が配置されている。
【0024】また、このレーザ位置センサ6による測定
結果は、ブレード駆動機構7を制御する主制御部8に入
力され、後述のような本実施例のダイシング方法および
装置の制御に用いられる。
【0025】以下、本実施例のダイシング方法および装
置の作用の一例について、図2のフローチャート等を参
照しながら詳細に説明する。
【0026】まず、予め、検査光6aの照射によって、
ダイシングテーブル1の載置面1aと、レーザ位置セン
サ6との距離H1、すなわち当該載置面1aの高さを測
定して主制御部8に入力しておく(ステップ101)。
【0027】さらに、Zテーブル7bの動作によって回
転停止状態のブレード5の下端部をダイシングテーブル
1の載置面1aに静かに降下させて接触させることによ
り、Zテーブル7bによるブレード5の高さ方向におけ
る位置Zの原点を当該載置面1aの高さに一致させるセ
ットアップ動作を行う(ステップ102)。
【0028】その後、ダイシングテーブル1の載置面1
aにダイシングテープ3を介してキャリア治具2に支持
されたウェハ4を所定の姿勢で載置し、真空吸着等の方
法で安定に固定するとともに、ダイシングテーブル1を
微動回転させることにより、ウェハ4上に格子状に配置
された図示しないダイシングラインをブレード5に平行
に位置決めするアライメント動作を行う(ステップ10
3)。
【0029】次に、ダイシングテーブル1に載置された
ウェハ4の上面(ダイシング面4a)にレーザ位置セン
サ6から検査光6aを照射して、レーザ位置センサ6と
ダイシング面4aとの距離H2、すなわちダイシング面
4aの高さを求め、主制御部8に入力する(ステップ1
04)。
【0030】なお、この測定動作は、ウェハ4上の一箇
所に限らず、たとえばダイシングラインに沿った複数箇
所で実行してもよい。
【0031】これにより、主制御部8は、個々のウェハ
4のダイシングテープ3を含めた厚さ寸法が変化した場
合でも、ブレード5の下端部とウェハ4のダイシング面
4aの距離Gを、G=Z−(H1−H2)によって正確
に知ることができる。すなわち、当該距離Gが負の値に
なった時に、ウェハ4のダイシング面4aに対してブレ
ード5の下端部が食い込むことになり、その時の距離G
の絶対値が実際の食い込み量となる。
【0032】そして、主制御部8は、回転するブレード
5の、ダイシング面4aに対する上述の食い込み量(切
り込み量)が所定の値になるように、Zテーブル7bに
よるブレード5の上下動を制御しつつ、ウェハ4上の図
示しないダイシングラインに沿ってブレード5を移動さ
せるダイシング動作を実行する(ステップ105)。
【0033】なお、この動作では、ブレード5に平行な
ダイシングラインを加工した後、ダイシングテーブル1
を90度回転させて、同様にダイシングラインを加工す
ることにより、ウェハ4に格子状に配列された複数の図
示しない半導体ペレットを切り出す。
【0034】一枚のウェハ4のダイシングが完了した
ら、ダイシングテーブル1からの当該ウェハ4の搬出を
行い(ステップ106)、さらに、ダイシングすべきウ
ェハ4があるか否かを判定し(ステップ107)、ある
場合にはステップ103に戻って前述の一連の操作を繰
り返す。
【0035】このように、本実施例のダイシング方法お
よび装置によれば、個々のウェハ4やダイシングテープ
3等の厚さ寸法にばらつきがある場合でも、ブレード5
と、ウェハ4のダイシング面4aの間隔を常に正確に把
握することができるので、ダイシング時のブレード5の
ウェハ4に対する切り込み量を正確に制御でき、ダイシ
ング作業での切り残し不良等を確実に低減できる。
【0036】また、ダイシングラインに沿ったV溝加工
等においては、ウェハ4の厚さのばらつきに影響される
ことなく、溝幅を正確に設定できる。
【0037】(実施例2)図3は、本発明の他の実施例
であるダイシング方法および装置の作用の一例を示すフ
ローチャートである。
【0038】この実施例2の場合には、ダイシング前の
ブレード5のウェハ4に対する接触動作によって、ウェ
ハ4の厚さを実測するように、主制御部8をプログラム
しておくところが、前記実施例1の場合と異なってい
る。
【0039】すなわち、まず、Zテーブル7bの動作に
よって回転停止状態のブレード5の下端部をダイシング
テーブル1の載置面1aに静かに降下させて接触させる
ことにより、Zテーブル7bによるブレード5の高さ方
向における位置Zの原点を当該載置面1aの高さに一致
させるセットアップ動作を行う(ステップ201)(第
1の段階)。
【0040】その後、ダイシングテーブル1の載置面1
aにダイシングテープ3を介してキャリア治具2に支持
されたウェハ4を所定の姿勢で載置し、真空吸着等の方
法で安定に固定するとともに、ダイシングテーブル1を
微動回転させることにより、ウェハ4上に格子状に配置
された図示しないダイシングラインをブレード5に平行
に位置決めするアライメント動作を行う(ステップ20
2)。
【0041】さらに、ブレード5をダイシングテーブル
1上のウェハ4のダイシング面4aにおける、たとえば
ダイシングライン上に静かに降下させ、ウェハ4を損傷
することなく接触させ、その時の高さ方向の位置Zの値
を測定し、前記ステップ201で設定した原点からの移
動量によってダイシングテープ3を含めたウェハ4の厚
さ寸法tを得る(ステップ203)(第2の段階)。
【0042】その後、ブレード5とウェハ4のダイシン
グ面4aとの実際の距離G(=Z−t)に基づいてブレ
ード5の切り込み量を制御しつつ、ダイシング動作を実
行し(ステップ204)、ダイシング完了後、ダイシン
グ済みのウェハ4の搬出を行い(ステップ205)、さ
らにダイシングすべきウェハ4がある場合には(ステッ
プ206)、ステップ202に戻って前述の一連の操作
を繰り返す。
【0043】このように、本実施例のダイシング方法お
よび装置の場合には、ブレード5自体を用いて、ウェハ
4の厚さ寸法の実測を行うので、ブレード5以外に特別
な測定装置を必要とせずに、簡単な装置構成でダイシン
グ時のブレード5のウェハ4に対する切り込み量を正確
に制御することが可能となる。
【0044】以上本発明者によってなされた発明を実施
例に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施例に
限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で
種々変更可能であることはいうまでもない。
【0045】たとえば、ダイシング対象の板状物として
は、上記実施例に例示されたウェハに限らず、精密なダ
イシングが必要とされる一般の板状物に広く適用でき
る。
【0046】
【発明の効果】本願において開示される発明のうち、代
表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、
以下のとおりである。
【0047】本発明のダイシング方法によれば、板状物
厚さのバラツキに関係なく、ブレードの板状物への切り
込み量を所望の値に正確に制御でき、たとえば、ダイシ
ングでの切り残し不良や、V溝加工における溝幅の変動
を防止することが可能となり、ダイシング不良を低減す
ることができるという効果が得られる。
【0048】本発明のダイシング装置によれば、板状物
厚さのバラツキに関係なく、ブレードの板状物への切り
込み量を所望の値に正確に制御でき、たとえば、ダイシ
ングでの切り残し不良や、V溝加工における溝幅の変動
を防止することが可能となり、ダイシング不良を低減す
ることができるという効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例であるダイシング装置の構成
の一例を模式的に示す概念図である。
【図2】その作用の一例を示すフローチャートである。
【図3】本発明の他の実施例であるダイシング方法およ
び装置の作用の一例を示すフローチャートである。
【符号の説明】
1 ダイシングテーブル 1a 載置面 2 キャリア治具 3 ダイシングテープ 4 ウェハ(板状物) 4a ダイシング面 5 ブレード 6 レーザ位置センサ(厚さ寸法測定手段) 6a 検査光 7 ブレード駆動機構(ブレード制御機構) 7a XYテーブル 7b Zテーブル 7c モータ 7d 回転軸 8 主制御部(ブレード制御機構)

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ブレードを用いてダイシングテーブルに
    載置された板状物をダイシングするダイシング方法であ
    って、前記ダイシングに先立って前記板状物の厚さ寸法
    を実測し、前記厚さ寸法に基づいて前記板状物に対する
    前記ブレードの切り込み量を制御することを特徴とする
    ダイシング方法。
  2. 【請求項2】 前記板状物を載置する前の前記ダイシン
    グテーブルの載置面の高さ、および前記ダイシングテー
    ブルに載置された前記板状物のダイシング面の高さをレ
    ーザ位置検出器によって非接触に検出し、前記二つの高
    さの差から前記板状物の厚さ寸法を実測することを特徴
    とする請求項1記載のダイシング方法。
  3. 【請求項3】 前記ダイシングテーブルの載置面に前記
    ブレードを接触させて当該載置面の高さを計測する第1
    の段階と、前記ダイシングテーブルに載置された前記板
    状物のダイシング面に前記ブレードを接触させて当該板
    状物のダイシング面の高さを計測する第2の段階と、二
    つの前記高さの差から前記板状物の厚さ寸法を求める第
    3の段階とによって前記板状物の厚さ寸法を実測するこ
    とを特徴とする請求項1記載のダイシング方法。
  4. 【請求項4】 板状物が載置されるダイシングテーブル
    と、前記板状物に対するダイシング動作を行うブレード
    と、このブレードを支持し、前記ダイシングテーブルの
    平面内および当該平面に直交する高さ方向における位置
    制御動作を行うブレード制御機構と、前記ダイシングテ
    ーブル上に載置された前記板状物の厚さ寸法を実測する
    厚さ寸法測定手段とを備え、前記ダイシングに先立って
    前記板状物の厚さ寸法を実測し、前記厚さ寸法に基づい
    て前記板状物に対する前記ブレードの切り込み量を制御
    することを特徴とするダイシング装置。
  5. 【請求項5】 前記厚さ寸法測定手段は、前記板状物を
    載置する前の前記ダイシングテーブルの載置面の高さ、
    および前記ダイシングテーブルに載置された前記板状物
    のダイシング面の高さを非接触に検出するレーザ位置検
    出器からなり、前記二つの高さの差から前記板状物の厚
    さ寸法を実測することを特徴とする請求項4記載のダイ
    シング装置。
  6. 【請求項6】 板状物が載置されるダイシングテーブル
    と、前記板状物に対するダイシング動作を行うブレード
    と、このブレードを支持し、前記ダイシングテーブルの
    平面内および当該平面に直交する高さ方向における位置
    制御動作を行うブレード制御機構とを備え、前記ブレー
    ド制御機構は、前記ダイシングテーブルの載置面に前記
    ブレードを接触させて当該載置面の高さを計測する第1
    の段階と、前記ダイシングテーブルに載置された前記板
    状物のダイシング面に前記ブレードを接触させて当該板
    状物のダイシング面の高さを計測する第2の段階と、二
    つの前記高さの差から前記板状物の厚さ寸法を求める第
    3の段階とによって前記板状物の厚さ寸法を実測するよ
    うにプログラムされ、前記ダイシングに先立って前記板
    状物の厚さ寸法を実測し、前記厚さ寸法に基づいて前記
    板状物に対する前記ブレードの切り込み量を制御するこ
    とを特徴とするダイシング装置。
JP12691093A 1993-05-28 1993-05-28 ダイシング方法および装置 Pending JPH06338564A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2007109953A (ja) * 2005-10-14 2007-04-26 Tokyo Seimitsu Co Ltd ダイシング装置及び方法
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