JPH06331566A

JPH06331566A - 透明容器の欠陥検査方法とその装置

Info

Publication number: JPH06331566A
Application number: JP14675593A
Authority: JP
Inventors: Akihiko Yokoi; 昭彦横井
Original assignee: Toyo Glass Co Ltd
Current assignee: Toyo Glass Co Ltd
Priority date: 1993-05-27
Filing date: 1993-05-27
Publication date: 1994-12-02
Anticipated expiration: 2011-02-21
Also published as: JPH0816653B2

Abstract

(57)【要約】【目的】外面に凹凸模様が形成されているような透明
容器において、その凹部中又は凸部中に存在する大小い
ずれの欠点であっても、凹凸模様による誤検出なく的確
かつ容易に検出できるようにする。【構成】検査対象の透明容器１の外面の凹凸模様の凸
部を、凹部からの立ち上がり角度が６５度以下になるよ
うに予め成形しておく。投光器７からの拡散光を透明容
器の内側から凹凸模様に向けて透過させて固体撮像素子
カメラ１２で撮像し、その画素をデジタル処理して１画
面中に現れる暗部を検出することにより欠陥の有無を検
査する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、ガラス容器等の透明容
器の欠陥の有無を画像処理技術を利用して検査する方法
とその装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】ガラス製飲食器やガラスびんなどの透明
容器の底部や胴部に生ずる遮光性又は屈折性の欠陥の有
無をイメージセンサを使用して検査する方法及び装置は
従来から各種のものが提供されている。例えば特開平１
−１４１３４１号公報には、びんの底部の欠陥の有無を
検査するため、びん底部に外方から光を斜めに照射し、
びん底部を透過した光をびん口部の外方に設置したイメ
ージセンサで受光し、該イメージセンサの出力を画像処
理する技術が開示されている。しかし、従来の検査方法
及び装置は、この公報のものを含め、透明容器の底部や
胴部に大きな凹凸模様が形成されているような場合のこ
とをそもそも想定しておらず、従って透明容器自体の凹
凸模様と欠陥部分との判別を行うような技術配慮が全く
なされていなかった。

【０００３】一方、製品検査を目的とした画像処理技術
として、日本工業出版株式会社発行『画像ラボ』１９９
０年１１月号第５６〜６３頁には、検査対象の製品をＣ
ＣＤカメラで撮影して１画面につき例えば水平方向５１
２画素、垂直方向４４８画素の分解能で１画素当たり例
えば２５６階調の濃淡値として画像メモリに記憶した
後、その記憶画像を濃淡の膨張と収縮という濃淡モフォ
ロジー手法で画像処理することによって製品の良否検査
を行う方法が開示されている。

【０００４】この方法のアルゴリズムを要約すると、次
の(1) から(5) の手順で構成される。 (1) 画像メモリに記憶された１画面の原画像データにつ
いて、縦横所定画素数の判定画素領域ごとにその中の最
大の階調値（最も明るい階調値）を求め、当該判定画素
領域中の各画素の階調値をその求めた最大階調値に置換
することを、判定画素領域を順次移行させながら全画素
について行う膨張処理。この処理により、周囲より明る
い画素が膨張する一方、暗い画素が収縮する。 (2) その影収縮処理後の画像データについて、上記判定
画素領域中で最も小さい階調値を求め、当該判定画素領
域中の各画素の階調値をその求めた最大階調値に置換す
ることを、判定画素領域を順次移行させながら全画素に
ついて行う収縮処理。この処理では、上記(1) の処理と
は逆に、周囲より暗い画素が膨張する一方、明るい画素
が収縮する。 (3) 上記(2) 処理後の画像データと画像メモリに記憶さ
れた原画像データとの階調差を各画素ごとに算出する差
分処理。 (4) その差分処理後の各画素データを２値化して各画素
ごとに欠点の有無を判定する２値化処理。 (5) その２値化処理で欠点とされた画素数をカウント
し、その画素数が一定値以上のとき欠陥有りとする欠陥
判定処理。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかし、この方法は、
そもそも明るい画像内部に存在する小さい暗い欠点部
分、及び逆に暗い画像内部に存在する小さい明るい欠点
部分を、原画像パターンを崩さずに除去することを意図
して提案されたものであるため、検査対象の透明容器に
大きな凹凸模様が形成されているような場合、その模様
の凹部中又は凸部中に存在する比較的小さい暗い又は明
るい欠点（例えば、光に対する屈折性又は遮光性をもっ
た異物）については検出できるものの、大きな欠点につ
いては凹凸模様との識別が困難であるため検出不可能で
ある。

【０００６】本発明の目的は、外面に凹凸模様が形成さ
れているような透明容器において、その凹部中又は凸部
中に存在する大小いずれの欠点であっても、凹凸模様に
よる誤検出なく的確かつ容易に検出できるようにするこ
とにある。

【０００７】

【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、本発明による透明容器の欠陥検査方法は、検査対象
の透明容器の外面の凹凸模様の凸部を、凹部からの立ち
上がり角度が７０度以下になるように予め成形してお
く。そして、投光器からの拡散光を透明容器の内側から
凹凸模様に向けて透過させて固体撮像素子カメラで撮像
し、その画素をデジタル処理して１画面中に現れる暗部
を検出することにより欠陥の有無を検査する。

【０００８】また、本発明では大きい欠点を検出するた
め、次の手順で画像解析処理を行う。 (1) 固体撮像素子カメラのイメージセンサからの各画素
の階調値を画像メモリに記憶する記憶処理。 (2) 該画像メモリに記憶された１画面の原画像データに
ついて、縦横所定画素数の大判定画素領域Ｍごとにその
中の最大の階調値を求め、当該大判定画素領域Ｍ中の各
画素の階調値をその求めた最大階調値に置換すること
を、大判定画素領域Ｍを順次移行させながら全画素につ
いて行う影収縮処理。 (3) その影収縮処理後の画像データと前記画像メモリに
記憶された原画像データとの階調差を各画素ごとに算出
する差分処理。 (4) その差分処理後の画素データについて、前記大判定
画素領域Ｍの画素数より少ない縦横所定画素数の小判定
画素領域Ｎごとにその中の各画素の階調値を平均化階調
値に置換することを、小判定画素領域Ｎを順次移行させ
ながら全画素について行うスムージング処理。 (5) そのスムージング処理後の各画素データを２値化し
て各画素ごとに欠点の有無を判定する２値化処理。 (6) その２値化処理で欠点とされた画素数をカウント
し、その画素数が一定値以上のとき欠陥有りとする欠陥
判定処理。

【０００９】また、大小両方の欠点を検出するため、次
の手順で画像解析処理を行う。 (1) 前記固体撮像素子カメラのイメージセンサからの各
画素の階調値を画像メモリに記憶する記憶処理。 (2) 該画像メモリに記憶された１画面の原画像データに
ついて、縦横所定画素数の大判定画素領域Ｍごとにその
中の最大の階調値を求め、当該大判定画素領域Ｍ中の各
画素の階調値をその求めた最大階調値に置換すること
を、大判定画素領域Ｍを順次移行させながら全画素につ
いて行う影収縮処理。 (3) その影収縮処理後の画像データについて、大判定画
素領域Ｍ中で最も小さい階調値を求め、当該大判定画素
領域Ｍ中の各画素の階調値をその求めた最大階調値に置
換することを、大判定画素領域Ｍを順次移行させながら
全画素について行う影膨張処理。 (4) その影膨張処理後の画像データと前記画像メモリに
記憶された原画像データとの階調差を各画素ごとに算出
する第１の差分処理。 (5) その差分処理後の各画素データを２値化して各画素
ごとに欠点の有無を判定する第１の２値化処理。 (6) その２値化処理で欠点とされた画素数をカウント
し、その画素数が一定値以上のとき欠陥有りとする第１
の欠陥判定処理。 (7) 前記影収縮処理後の画像データと前記画像メモリに
記憶された原画像データとの階調差を各画素ごとに算出
する第２の差分処理。 (8) その差分処理後の画素データについて、前記大判定
画素領域Ｍの画素数より少ない縦横所定画素数の小判定
画素領域Ｎごとにその中の各画素の階調値を平均化階調
値に置換することを、小判定画素領域Ｎを順次移行させ
ながら全画素について行うスムージング処理。 (9) そのスムージング処理後の各画素データを２値化し
て各画素ごとに欠点の有無を判定する第２の２値化処
理。 (10)その２値化処理で欠点とされた画素数をカウント
し、その画素数が一定値以上のとき欠陥有りとする第２
の欠陥判定処理。

【００１０】前記第１及び第２の２値化処理は、１画面
中の一定の検査範囲についてのみ実施すれば良い。

【００１１】本発明による透明容器の欠陥検査装置は次
の手段により構成される。 (1) 透明容器に拡散光を投光する投光器。 (2) 透明容器を透過した光をイメージセンサで受光する
固体撮像素子カメラ。 (3) 該イメージセンサからの各画素の階調値を記憶する
画像メモリ。 (4) 該画像メモリに記憶された１画面の原画像データに
ついて、縦横所定画素数の大判定画素領域Ｍごとにその
中の最大の階調値を求め、当該大判定画素領域Ｍ中の各
画素の階調値をその求めた最大階調値に置換すること
を、大判定画素領域Ｍを順次移行させながら全画素につ
いて行う影収縮処理手段。 (5) その影収縮処理後の画像データについて、大判定画
素領域Ｍ中で最も小さい階調値を求め、当該大判定画素
領域Ｍ中の各画素の階調値をその求めた最大階調値に置
換することを、大判定画素領域Ｍを順次移行させながら
全画素について行う影膨張処理手段。 (6) その影膨張処理後の画像データと前記画像メモリに
記憶された原画像データとの階調差を各画素ごとに算出
する第１の差分処理手段。 (7) その差分処理後の各画素データを２値化して各画素
ごとに欠点の有無を判定する第１の２値化処理手段。 (8) その２値化処理で欠点とされた画素数をカウント
し、その画素数が一定値以上のとき欠陥有りとする第１
の欠陥判定処理手段。 (9) 前記影収縮処理後の画像データと前記画像メモリに
記憶された原画像データとの階調差を各画素ごとに算出
する第２の差分処理手段。 (10)その差分処理後の画素データについて、前記大判定
画素領域Ｍの画素数より少ない縦横所定画素数の小判定
画素領域Ｎごとにその中の各画素の階調値を平均化階調
値に置換することを、小判定画素領域Ｎを順次移行させ
ながら全画素について行うスムージング処理手段。 (11)そのスムージング処理後の各画素データを２値化し
て各画素ごとに欠点の有無を判定する第２の２値化処理
手段。 (12)その２値化処理で欠点とされた画素数をカウント
し、その画素数が一定値以上のとき欠陥有りとする第２
の欠陥判定処理手段。 (13)前記第１及び第２の欠陥判定処理手段の一方でも欠
陥有りと判定したとき製品を排除するための信号を出力
する排除信号出力手段。

【００１２】

【作用】本発明による方法では、透明容器の外面に形成
されている凹凸模様が固体撮像素子カメラの撮像画像中
に影となって現れるのを極力抑えるために、透明容器の
凹凸模様そのものについて、その凸部の立ち上がり角度
を、屈折・反射に関するスネル・フレネルの計算式から
７０度以下になるように成形しておくとともに、投光器
からの拡散光を透明容器の内側から外側へと透過させ、
透明容器の内面を入光面、凹凸模様がある外面を出光面
とする。

【００１３】また、本発明における画像解析処理手法は
次の如くである。今、影による階調値の大小を濃淡とし
て説明すると、原画像データを影収縮処理した後、影膨
張処理し、その影膨張処理画像データを原画像データと
差分処理すると、模様による淡い影、及び濃淡が濃くし
かも大きい欠点による影は消失するが、濃い小さい欠点
による影、及び比較的淡いが模様による影よりは濃い小
さい欠点による影は残り、その後の２値化処理によって
欠点として検出される。

【００１４】原画像データを影収縮処理した後、その影
収縮処理画像データを原画像データと差分処理すると、
模様による淡い影は中央部が消失して周辺部が残り、こ
れをスムージング処理すると更に薄くなるため、その後
の２値化処理により欠点として誤検出されることはな
い。これに対して、濃淡が濃くしかも大きい欠点による
影は、差分処理により同様に中央部が消失して周辺部が
残り、これをスムージング処理するとやや薄くなるもの
の、まだ十分な濃さをもっているので、２値化処理によ
り欠点として検出される。また、濃くしかも小さい欠点
による影は、差分処理でもほぼそのまま残り、２値化処
理により欠点として検出される。

【００１５】

【実施例】以下、本発明の実施例について詳述する。図
１は、透明ガラス容器１の底部の欠陥の有無を検査する
ために適用された本発明による欠陥検査装置の概要を示
す。この装置では、不透明なテーブル２の所定位置に検
査孔３が設けられ、この検査孔３内に、透明ガラス基板
４、その上に透光孔５を有する位置決めプレート６が重
ねて設置されており、検査対象の透明ガラス容器１はこ
の位置決めプレート６上に立てた状態で置かれる。この
ように透明ガラス容器１が検査位置にセットされたこと
は、図示しないセンサによって検知される。その透明ガ
ラス容器１に真上から拡散性の高い拡散光を照射するた
め、内蔵したハロゲンランプ（図１では省略）からの光
を拡散する光拡散板７aと、リング状の蛍光灯７b と該
蛍光灯の光を拡散させる光拡散板７c とを有する投光器
７がスタンド８に下向きに支持されている。一方、検査
孔３の下側にＬ形の鏡筒９が設置され、該鏡筒９内の直
角に曲がった角部に反射鏡１０、先端部位に二次元イメ
ージセンサ１１を備えたＣＣＤカメラ１２が配置されて
いる。

【００１６】投光器７からの拡散光は、透明ガラス容器
１の内側からその底部１a の内面へ入光して外面へと透
過し、更に透光孔５から透明ガラス基板４をそのまま透
過して検査孔３の下方へと通り抜け、反射鏡１０を直角
に反射してＣＣＤカメラ１２へ入光し、二次元イメージ
センサ１１によって１フレーム当たり水平方向（横）に
Ｘ個（例えば７５０個）、垂直方向（縦）にＹ個（例え
ば５００個）の画素に分解して撮像される。そして、そ
の画像データは、コンピュータによる画像解析処理装置
１３内の画像メモリに各画素当たり例えば２５６階調値
にして記憶され、後述のように実時間で画像解析処理さ
れる。なお、本例では、透明ガラス容器１の製品として
の品質保証上問題となる主として０．５ｍｍ以上の欠陥
を検出することを意図していることから、光学系は１ｍ
ｍ当たり７画素の像倍率に設計されているものとする。

【００１７】次に、本実施例において検査対象とする透
明ガラス容器１の一例について説明すると、図２にその
半断面、図３に底面を示す。このガラス容器１は、その
底部１a の外面に大きな凸部１４を放射状に一体に設
け、凸部１４と凸部１４との間をＶ字形に深く窪んだ狭
い間隙凹部（ないし溝）１５として、全体から見て花弁
形の大きな凹凸模様を形成している。各凸部１４は、底
部外面中央の円形の中央凹部１６から幅員を両側に徐々
に広くしかも高さも徐々に高くしながらいずれの部分も
半円形に盛り上がるように突出している。

【００１８】透明ガラス容器１の底部１a には、このよ
うな大きな凹凸模様が形成されているため、投光器７か
らの光が底部１a を透過する際に特に凹凸の境目におい
て大きく屈折し、その凹凸模様がＣＣＤカメラ１２にそ
のまま影として撮像される。また、凸部１４又は凹部１
５・１６に屈折性又は反射性の欠陥、例えば、いわゆる
落粉やローディングマークや泡や水玉などの透明異物、
又は錆付や汚れやノロなどの不透明異物等があると、こ
れらの欠点も影として撮影されるため、画像解析処理装
置１３による画像解析において凹凸模様による影である
か、欠点による影であるかの判別が困難となる。

【００１９】そこで、本発明者は、透明ガラス容器１の
底部１a の凹凸模様による影がＣＣＤカメラ１２の画像
中に現れないようにできないものか、またそれを完全に
消去できないとしても濃度を薄くできないものかと、試
験・研究を重ねた結果、次の・・のようにすると
極力現れないようにできることを見出した。

【００２０】投光器７からの光は、透明ガラス容器
１の底部１a の外側からその外面へ入光させて内面へと
透過させるよりも、図１に示したように透明ガラス容器
１の内側から底部１a の内面へ入光させて外面へと透過
させた方が良い。これは、凹凸模様は底部１a の外面に
形成され、内面には凹凸がないため、内面を入光面とし
た方が凹凸模様による影が薄くなるからである。

【００２１】投光器７は拡散性の高いしかも斜め方
向にも多くの光を照射できるものが良く、そのために、
投光器７を図４に示すような構造とし、ケース７d に収
容したハロゲンランプ７e からの光を、ケース７d の底
蓋を兼ねる光拡散板７a で拡散するのに加えて、この光
拡散板７a の周囲にリング状の蛍光灯７b を配置して、
該蛍光灯７b からの光もリング状の光拡散板７c で拡散
して透明ガラス容器１の底部１a へ当てるようにした。

【００２２】このような構造の投光器７との比較のため
に図５に示すような投光器７Ｘ及び図６に示すような投
光器７Ｙを作り、実験を行った。図５の投光器７Ｘは、
ハロゲンランプ７e からの光をガラスファイバ７f でケ
ース７d 内の凸レンズ７g に導き、更に光拡散板７a で
拡散させる構造、また図６の投光器７Ｙは図４の投光器
７に対して蛍光灯７b 及び光拡散板７c を除いた構造と
なっている。実験によれば、ＣＣＤカメラ１２による欠
点部分の撮像鮮明度の点では、投光器７Ｘが最も良く、
次に投光器７Ｙ、最後が投光器７の順であったが、透明
ガラス容器１の凹凸模様による影を薄くできて欠点部分
との誤検出を少なくできる点では、逆に、投光器７が最
も良く、次に投光器７Ｙ、最後が投光器７Ｘの順であっ
た。これは、投光器７が拡散面積が最も広く、しかも蛍
光灯７b により斜めからも光を多く照射できるからであ
る。また、このような投光器７によれば、電源電圧を制
御することで光量の調整が容易にでき、しかも拡散の程
度の調節もし易い。

【００２３】凹凸模様による影の程度は、図７に示
すように主に凹部１５・１６から凸部１４にかけての立
ち上がり角度θに依存する。図８はこの立ち上がり角度
θと光の相対透過率との関係を、屈折・反射に関するス
ネル・フレネルの計算式に基づきシュミレーションして
求めたグラフである。但し、投光器７と透明ガラス容器
１との位置関係は図１のとおりである。このグラフから
分かるように、立ち上がり角度θが６０度付近を越えた
ところから相対透過率が急激に低下する。従って、立ち
上がり角度θを７０度以下、好ましくは６０度以下とす
れば、凹凸模様による影が出ないか、出たとしても薄い
ものにすることができる。

【００２４】そこで、透明ガラス容器１の底部１a の凹
凸模様は、間隙凹部１５から凸部１４への立ち上がり角
度も、また中央凹部１６から凸部１４への立ち上がり角
度も６０度以下になるように製造時に成形されている。

【００２５】ところで、必ずこのような立ち上がり角度
になるように凸部１４を成形することは、凹部の広さが
広い場合には比較的容易であるが、この透明ガラス容器
１の間隙凹部１５のように狭い場合には難しく、金型に
よるガラス素材の引きつけや放熱条件の悪さなどの問題
から、本来ならば図９に示すような形状の間隙凹部１５
となるべきところ、その一部に図１０に示すように小さ
な盛り上がり１５a ができてしまい、これが撮像画像中
に明らかな影となって現れる。

【００２６】そこで、本発明者は、この点についても試
験・研究を重ねた結果、金型の形状を工夫することによ
り上記の問題を解決できた。すなわち、図１１に示すよ
うに金型１７において、間隙凹部１５を成形する凸部１
８の先端を円くした場合、小さな盛り上がり１５a がで
きることがあったが、図１２に示すように凸部１８の先
端を尖鋭にするとそれが無くなり、図９に示した目的形
状どおりに成形できた。

【００２７】このように検査対象である透明ガラス容器
１そのものについても、その凹凸模様が影としてＣＣＤ
カメラ１２に撮像されにくいように成形しておくと、画
像解析処理装置１３での凹凸模様と欠点との識別が非常
に容易になり、欠点検出精度が向上する。

【００２８】次に、画像解析処理装置１３による画像解
析及び欠陥検査処理について説明する。図１３はその処
理の概要を示す。画像解析処理装置１３のコンピュータ
は、透明ガラス容器１が検査位置にセットされたことを
センサからの信号により確認すると（ステップＳ１）、
ＣＣＤカメラ１２の撮影画像を取り込んで画像メモリに
記憶し（ステップＳ２）、該画像メモリに記憶されてい
る１フレームの画像データ（以下、これを原画像とい
う）について第１の画像解析処理（以下、これをＴ１処
理という）を行う（ステップＳ３）。このＴ１処理で
は、後述するように小さい欠点を検出し、各画素につい
てそれは欠点の画素か否か２値化する。そして、その欠
点とした画素数をカウントして所定個数以上か否か判断
し（ステップＳ４）、所定以上の場合には欠陥有りと判
定する（ステップＳ５）。

【００２９】次いで、原画像について第２の画像解析処
理（以下、これをＴ２処理という）を行う（ステップＳ
６）。このＴ２処理では、後述するように大きい欠点を
検出し、各画素についてそれは欠点の画素か否か２値化
する。そして、その欠点とした画素数をカウントして所
定個数以上か否か判断し（ステップＳ７）、所定以上の
場合には欠陥有りと判定する（ステップＳ８）。このス
テップＳ８及び上記ステップＳ５のいずれか一方でも、
欠陥有りの場合には当該透明ガラス容器１を排除するた
め排除信号を出力する（ステップＳ９）。

【００３０】図１４は第１の画像解析処理（Ｔ１処理）
のアルゴリズムの具体例を示すフローチャートである。
１フレームの原画像のなかのある一つの画素を注目画素
とすると、これを中心としてその左右上下の各方向にそ
れぞれ例えば３画素ずつ含めた画素領域、従って縦横７
×７＝４９画素の大判定画素領域を仮想し、このなかで
最大の階調値を求めた後（ステップＳ１１）、当該大判
定画素領域内の各画素の階調値をその求めた最大階調値
に置換する（ステップＳ１２）。すなわち、１フレーム
の画面をＸ・Ｙ軸の座標と見ると、例えば注目画素の座
標が（４，４）である場合、（1 ，１）〜（７，７）の
座標の４９個の画素が当該判定対象となり、そのなかの
例えば（３，３）の座標の画素が最大階調値「１６０」
とすると、（1 ，１）〜（７，７）の座標領域の４９個
の画素の階調値を全て「１６０」とする。

【００３１】そして、このようなステップＳ１１及びス
テップＳ１２の操作を、注目画素を順次一つずつずらし
ながら１フレームの全画素について実施する（ステップ
Ｓ１３）。このような操作によって原画像中の暗い部分
が収縮する一方、明るい部分が膨張していく。つまり、
欠点による影が収縮する。なお、１フレームの画面の周
縁部の画素については、判定対象領域が７×７＝４９画
素に満たないので、４９未満の適当な画素数をもって判
定対象領域とするが、１フレームの画面の画素数は上記
のように７５０×５００と多く、その周縁部は、実際に
は後記の如く欠点検出の検査対象範囲外とするので、周
縁部での処理が欠点検出に悪影響を及ぼすことはない。

【００３２】次に、上記のように最大階調値に置換した
後の画像について、上記操作とは逆に、縦横７×７＝４
９画素の大判定画素領域なかで最小の階調値を求めた後
（ステップＳ１４）、当該大判定画素領域内の各画素の
階調値をその求めた最小階調値に置換する（ステップＳ
１５）。そして、このようなステップＳ１４及びステッ
プＳ１５の操作を、注目画素を順次一つずつずらしなが
ら１フレームの全画素について実施する（ステップＳ１
６）。このような操作によって、上記とは逆に暗い部分
が膨張する一方、明るい部分が収縮する。つまり、欠点
による影が膨張する。

【００３３】次いで、上記のような最小階調値置換後の
画像と原画像との階調値を各画素ごとに計算する（ステ
ップＳ１７）。この差分処理により原画像中の小さい暗
い部分が残り、大きい暗い部分が消失する。つまり、小
さい影となって現れる小さい欠点は残るが、大きい影と
なって現れる大きい欠点は消失する。この後、その差分
処理後の画像について特定の検査範囲内のみ画素ごとに
２値化処理し、つまり所定の閾値を基準とした階調値の
大小を各画素ごとに比較し、その大小に従い欠点となる
画素であるか否か判定する（ステップＳ１８）。そし
て、欠点とした画素数をカウントする（ステップＳ１
９）。

【００３４】次に、図１５は第２の画像解析処理（Ｔ２
処理）のアルゴリズムの具体例を示すフローチャートで
ある。このＴ２処理におけるステップＳ２１からステッ
プＳ２３までは、上述したＴ１処理のステップＳ１１か
らステップＳ１３までと同じ操作で、最大階調値に置換
することにより欠点による影を収縮させる。次のステッ
プＳ２４で、最大階調値置換後の画像と原画像との階調
値を画素ごとに求めた後、その差分後の画像について次
のようなスムージング処理を行う。

【００３５】すなわち、差分後の画像について、ある一
つの画素を注目画素とすると、これを中心としてその左
右上下の各方向にそれぞれ例えば１画素ずつ含めた画素
領域、従って縦横３×３＝９画素の小判定画素領域を仮
想し、このなかで中間の階調値を求めた後（ステップＳ
２５）、当該小判定画素領域内の各画素の階調値をその
求めた中間階調値に置換する（ステップＳ２６）。例え
ば注目画素の座標が（４，４）である場合、（３，３）
〜（５，５）の座標の９個の画素が当該判定対象とな
り、そのなかの例えば（３，３）の座標の画素が中間階
調値「２５」とすると、（３，３）〜（５，５）の座標
領域の９個の画素の階調値を全て「２５」とする。

【００３６】そして、このようなステップＳ２５及びス
テップＳ２６の操作を、注目画素を順次一つずつずらし
ながら１フレームの全画素について実施する（ステップ
Ｓ２７）。このような操作によって原画像中の濃い暗い
部分だけ残り、その他は消失する。つまり、濃い大きい
欠点と濃い小さい欠点は残るが、淡い大きい欠点と淡い
小さい欠点は明るい部分に同化されてしまう。この後、
その中間階調値置換後の画像について特定の検査範囲内
のみ画素ごとに２値化処理し、つまり所定の閾値を基準
とした階調値の大小を各画素ごとに比較し、その大小に
従い欠点となる画素であるか否か判定してから（ステッ
プＳ２８）、欠点とした画素数をカウントする（ステッ
プＳ２９）。

【００３７】次に、上述したＴ１処理及びＴ２処理のア
ルゴリズムを実例に基づいて分かり易く図解し、解説す
る。

【００３８】今、透明ガラス容器１の底部の凹凸模様の
凹凸の境目（立ち上がり）を図１６（Ａ）に示すような
直線とし、これによる原画像中の影（以下、模様影とい
う）が、同図（Ｂ）に示すように太さ１ｍｍ程度の淡い
直線として現れるものとすると、Ｔ１処理におけるステ
ップＳ１１からステップＳ１３までの操作によって（Ｔ
２処理におけるステップＳ２１からステップＳ２３まで
の操作も同様）、模様影は同図（Ｃ）に示すように大き
さが収縮するとともに、少し薄くなる。

【００３９】Ｔ１処理における次のステップＳ１４から
ステップ１６までの操作を行うと、模様影は、同図
（Ｄ）に示すように大きさが同図（Ａ）と同一で濃淡の
度合いも同図（Ｃ）とほぼ同じになる。これをステップ
Ｓ１７で原画像と差分処理すると、同図（Ｅ）に示すよ
うに模様影は消失する。従って、模様影はステップＳ１
７でこのように消失してしまっているため、次のステッ
プＳ１８で２値化すれば、当然のことながら欠点として
判定されないことになる。

【００４０】また、同図（Ｃ）のようになった模様影を
Ｔ２処理におけるステップＳ２４で原画像と差分処理す
ると、同図（Ａ）のように現れた模様影の中央部分が同
図（Ｆ）のように消失し、周辺部が残る。次にこれにス
テップＳ２５からステップＳ２７の操作を行うと、残っ
た模様影の周辺部は同図（Ｇ）に示すように薄くなる。
この後、Ｔ２処理ではステップＳ２８で閾値を基準に２
値化するので、薄くなった模様影の周辺部は消失し、欠
点として判定されない。

【００４１】一方、透明ガラス容器１に図１７（Ａ）に
示すような欠点があり、その欠点の縁の一部が同図
（Ｂ）に示すように１ｍｍ以下の小さいしかも十分に濃
い影（以下、濃い小欠点影という）となって現れるもの
とすると、Ｔ１処理におけるステップＳ１１からステッ
プＳ１３までの操作によって（Ｔ２処理におけるステッ
プＳ２１からステップＳ２３までの操作も同様）、濃い
小欠点影は消失し、画像全体としてはやや明化する。

【００４２】Ｔ１処理における次のステップＳ１４から
ステップ１６までの操作を行うと、濃い小欠点影は消失
したままで、画像全体としてはやや暗くなる。これをス
テップＳ１７で原画像と差分処理すると、同図（Ｅ）に
示すように濃い小欠点影が再び現れるため、ステップＳ
１８において欠点として検出される。

【００４３】また、同図（Ｃ）のようになった模様影を
Ｔ２処理におけるステップＳ２４で原画像と差分処理す
ると、同図（Ｆ）に示すように濃い小欠点影が再び現
れ、これにステップＳ２５からステップＳ２７の操作を
行うと、同図（Ｇ）に示すようにやや薄くなるものの依
然として濃い小欠点影として残る。従って、これをステ
ップＳ２８で２値化すれば、欠点として検出される。

【００４４】一方、図１８（Ａ）に示すような欠点の縁
の一部が、同図（Ｂ）に示すように１ｍｍを越える太さ
のしかも十分に濃い影（以下、濃い大欠点影という）と
なって現れるものとすると、Ｔ１処理におけるステップ
Ｓ１１からステップＳ１３までの操作によって（Ｔ２処
理におけるステップＳ２１からステップＳ２３までの操
作も同様）、濃い大欠点影は同図（Ｃ）に示すように濃
さはそのままで収縮する。

【００４５】Ｔ１処理における次のステップＳ１４から
ステップ１６までの操作を行うと、濃い大欠点影は、同
図（Ｄ）に示すように大きさが同図（Ａ）と同一で濃淡
の度合いも同図（Ｃ）とほぼ同じになる。これをステッ
プＳ１７で原画像と差分処理すると、同図（Ｅ）に示す
ように濃い大欠点影は消失する。従って、濃い大欠点影
はステップＳ１７でこのように消失してしまっているた
め、次のステップＳ１８で２値化しても検出は不可能で
ある。

【００４６】ところが、同図（Ｃ）のようになった濃い
大欠点影をＴ２処理におけるステップＳ２４で原画像と
差分処理すると、同図（Ａ）のように現れた濃い大欠点
影の中央部分が同図（Ｆ）のように消失し、周辺部が残
る。次にこれにステップＳ２５からステップＳ２７の操
作を行うと、残った濃い大欠点影の周辺部は同図（Ｇ）
に示すようにやや薄くなるものの、依然として濃い欠点
影として残る。従って、これをステップＳ２８で閾値を
基準に２値化すれば、欠点として検出することができ
る。

【００４７】次に、透明ガラス容器１に図１９（Ａ）に
示すような欠点があり、その欠点の縁の一部が同図
（Ｂ）に示すように模様影よりは濃いが比較的淡いしか
も１ｍｍ以下の小さい影（以下、淡い小欠点影という）
となって現れるものとすると、Ｔ１処理におけるステッ
プＳ１１からステップＳ１３までの操作によって（Ｔ２
処理におけるステップＳ２１からステップＳ２３までの
操作も同様）、淡い小欠点影は消失し、画像全体として
はやや明化する。

【００４８】Ｔ１処理における次のステップＳ１４から
ステップ１６までの操作を行うと、淡い小欠点影は消失
したままで、画像全体としてはやや暗くなる。これをス
テップＳ１７で原画像と差分処理すると、同図（Ｅ）に
示すように淡い小欠点影が模様影よりもやや濃くなって
現れるため、ステップＳ１８において欠点として検出す
ることができる。

【００４９】また、同図（Ｃ）のようになった模様影を
Ｔ２処理におけるステップＳ２４で原画像と差分処理す
ると、同図（Ｆ）に示すように淡い小欠点影が再び現
れ、これにステップＳ２５からステップＳ２７の操作を
行うと、同図（Ｇ）に示すようにやや薄くなった淡い小
欠点影として残る。これをステップＳ２８で２値化する
と、模様影との階調差があるときは検出可能であるが、
その差がほとんどないと欠点として検出できない。

【００５０】以上、Ｔ１処理及びＴ２処理による大小の
欠点検出の可・不可を整理すると、次のようになる。（１）１ｍｍ以下の濃い影の欠点の検出は、Ｔ１処理及
びＴ２処理のいずれでも可。（２）１ｍｍ以下の淡い影の欠点の検出は、Ｔ１処理で
は可、Ｔ２処理では不可（可能な場合もある）。（３）１ｍｍを越える濃い欠点の検出は、Ｔ１処理では
不可であるが、Ｔ２処理では可。（４）１ｍｍを越える淡い欠点の検出は、Ｔ１処理及び
Ｔ２処理のいずれでも不可であるが、このような欠点が
生ずる確率は透明ガラス容器の製造法から考えてごく少
ないため、本実施例では検出対象外としている。

【００５１】図２０から図２３は、模様影、濃い小欠点
影、濃い大欠点影、淡い小欠点影のそれぞれの場合の上
記した処理を、画像の濃淡の階調値及び差分処理による
階調差を記号化して図解例示したものである。

【００５２】図２０の模様影の場合、Ｔ１処理ではステ
ップＳ１７による差分処理後の階調差が全て１０階調未
満であるため、ステップＳ１８の２値化処理での閾値を
例えば余裕をもって２０とすれば、模様影が欠点として
誤検出されることはない。また、Ｔ２処理におけるステ
ップＳ２５からステップＳ２７までのスムージング操作
後では、最大２０階調差に近い場合があるので、ＣＣＤ
カメラ１２の画素の違いによる感度のバラツキ等を考慮
し、ステップＳ２８での２値化処理の閾値を３０程度と
すれば、模様影が欠点として誤検出されることはない。

【００５３】図２１の濃い小欠点影の場合、Ｔ１処理で
はステップＳ１７による差分処理後の欠点部分の階調差
が３０〜８０であるので、ステップＳ１８の２値化処理
での閾値を上記のように２０とすれば、十分に欠点とし
て検出することができる。また、Ｔ２処理におけるステ
ップＳ２５からステップＳ２７までのスムージング操作
後では、欠点部分の階調差が４０〜６０であるので、ス
テップＳ２８での２値化処理の閾値を上記のように３０
程度とすれば、十分に欠点として検出することができ
る。

【００５４】図２２の濃い大欠点影の場合、Ｔ１処理で
はステップＳ１７による差分処理後の欠点部分の階調差
が１０未満であるので、ステップＳ１８の２値化処理で
の閾値を上記のように２０とすると、欠点として検出は
不可能である。これに対して、Ｔ２処理におけるステッ
プＳ２５からステップＳ２７までのスムージング操作後
では、欠点部分の階調差が４０〜７０であるので、ステ
ップＳ２８での２値化処理の閾値を上記のように３０程
度とすれば、十分に欠点として検出することができる。

【００５５】図２３の淡い小欠点影の場合、Ｔ１処理で
はステップＳ１７による差分処理後の欠点部分の階調差
が１５〜２５であるので、ステップＳ１８の２値化処理
での閾値を上記のように２０とすれば、欠点として検出
することができる。しかし、Ｔ２処理におけるステップ
Ｓ２５からステップＳ２７までのスムージング操作後で
は、欠点部分の階調差が１５〜２５であるので、ステッ
プＳ２８での２値化処理の閾値が３０程度であると、欠
点としての検出は不可能である。

【００５６】以上のように本実施例では、透明ガラス容
器１の凹凸模様そのもの、つまりその凹部から凸部への
立ち上がり角度を、ＣＣＤカメラ１２の撮影画像におい
て影が出にくいようにした上で、その影が出たとしても
散乱しないように、投光器７からの光を、透明ガラス容
器１の内側から底部１a の内面へ入光させて外面へと透
過させるとともに、投光器７の構造についても、拡散性
の高いしかも斜め方向からも光を多く照射できるものと
し、そしてＴ１処理で主に小さい欠点を、またＴ２処理
で主に大きい欠点を検出するもので、透明ガラス容器１
の底部に大きな凹凸模様が形成されていても、大小の欠
点を精度良く検出することができるものである。

【００５７】なお、叙述の実施例では、透明ガラス容器
１を検査対象としてその底部１a に投光器７からの光を
透過させ、その透過光による像をＣＣＤカメラ１２で撮
像して欠陥の有無を検査したが、底部以外の部分の欠陥
についても同様にして検査することができる。また、ガ
ラス製以外の他の材質の透明容器にも同様に適用でき
る。

【００５８】また、上述した実施例では、スムージング
処理に当たり、小判定画素領域Ｎごとにその中の中間の
階調値を求めてから、その各画素の階調値を中間階調値
に置換することで平均化する手法を用いたが、他の階調
ヒストグラムを用いる方法（例えば、Ｎ以下のｍ番目の
階調への置換）や計算によりスムージングを行う方法
（例えば、Ｎ個の単純平均階調値に置換、又はＮ個の重
み付け係数により計算した平均階調値に置換）でも同等
の効果が得られる。例えば、単純平均階調値に置換する
場合の効果を図２４から図２７に示す。

【００５９】

【発明の効果】本発明の各請求項ごとの効果を挙げると
次のとおりである。（請求項１）透明容器の凹凸模様そのものについて、そ
の凸部の立ち上がり角度を、屈折・反射に関するスネル
・フレネルの計算式から６５度以下になるように成形し
ておくとともに、投光器からの拡散光を透明容器の内側
から外側へと透過させ、透明容器の内面を入光面、凹凸
模様がある外面を出光面とするので、透明容器の外面に
形成されている凹凸模様が固体撮像素子カメラの撮像画
像中に影となって現れるのを極力抑え、凹凸模様による
誤検出を防止できる。

【００６０】（請求項２及び請求項５）大きな凹凸模様
が形成されているような透明容器において、その凹部中
又は凸部中に存在する大きな欠点であっても簡単な画像
処理手法で高速にしかも的確かつ容易に検出できる。（請求項３及び請求項６）大きい欠点ばかりでなく、小
さい欠点も同様に検出できる。

【００６１】（請求項４）２値化処理を１画面中の一定
の検査範囲についてのみ実施するので、その前段の操作
である影収縮処理、影膨張処理及び差分処理における無
効部分（画面の周辺部）を排除し、欠点検出を支障なく
行える。

【００６２】（請求項７）拡散性の高いしかも斜め方向
にも多くの光を照射できる投光器を使用するので、凹凸
模様による誤検出をより的確に防止できる。

【００６３】（請求項８）固体撮像素子カメラの設置位
置の選択の融通性が高いとともに、それを保護できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の欠陥検査装置の一例の概要構成図であ
る。

【図２】検査対象の一例である透明ガラス容器の左半部
は断面、右半部は外表面を表す図である。

【図３】同透明ガラス容器の底面図である。

【図４】本発明の欠陥検査装置で使用する投光器の構造
を示す図である。

【図５】同上の投光器と比較実験した投光器の構造を示
す図である。

【図６】同様に比較実験した別の投光器の構造を示す図
である。

【図７】同透明ガラス容器の凹凸模様の凹部から凸部の
立ち上がり角度を説明する図である。

【図８】上記立ち上がり角度と相対透過率の関係を示す
グラフである。

【図９】上記凹部の正常形状を示す拡大断面図である。

【図１０】上記凹部の一部に盛り上がりができた異常形
状を示す拡大断面図である。

【図１１】上記凹凸模様を成形する従来の金型の一部の
拡大断面図である。

【図１２】改良された金型の一部の拡大断面図である。

【図１３】画像解析処理装置による画像解析及び欠陥検
査処理の概要を示すフローチャートである。

【図１４】同上における第１の画像解析処理のアルゴリ
ズムの具体例を示すフローチャートである。

【図１５】第２の画像解析処理のアルゴリズムの具体例
を示すフローチャートである。

【図１６】上記第１及び第２の画像解析処理による模様
影の変成過程を図解した模式図である。

【図１７】同じく濃い小欠点影の変成過程を図解した模
式図である。

【図１８】同じく濃い大欠点影の変成過程を図解した模
式図である。

【図１９】同じく淡い小欠点影の変成過程を図解した模
式図である。

【図２０】画像の濃淡の階調値及び差分処理による階調
差を記号化して上記アルゴリズムによる模様影の階調変
化過程を図解例示した解説図である。

【図２１】同様に濃い小欠点影の階調変化過程を図解例
示した解説図である。

【図２２】同様に濃い大欠点影の階調変化過程を図解例
示した解説図である。

【図２３】同様に淡い小欠点影の階調変化過程を図解例
示した解説図である。

【図２４】単純平均階調値への置換によりスムージング
処理を行う場合における模様影の階調変化過程を図解例
示した解説図である。

【図２５】同様に濃い小欠点影の階調変化過程を図解例
示した解説図である。

【図２６】同様に濃い大欠点影の階調変化過程を図解例
示した解説図である。

【図２７】同様に淡い小欠点影の階調変化過程を図解例
示した解説図である。

【符号の説明】

１透明ガラス容器７投光器７a 光拡散板７b 蛍光灯７c 光拡散板７e ハロゲンランプ１１イメージセンサ１２ＣＣＤカメラ１３画像解析処理装置１４凹凸模様の凸部１５凹凸模様の凹部

─────────────────────────────────────────────────────

【手続補正書】

【提出日】平成５年７月１９日

【手続補正１】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】００５９

【補正方法】変更

【補正内容】

【００５９】

【発明の効果】本発明の各請求項ごとの効果を挙げると
次のとおりである。

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】外面に凹凸模様を形成した透明容器に生ず
る欠陥を検査する方法において、前記凹凸模様の凸部
を、前記凹部からの立ち上がり角度が７０度以下になる
ように成形しておき、投光器からの拡散光を透明容器の
内側から凹凸模様に向けて透過させて固体撮像素子カメ
ラで撮像し、その画素をデジタル処理して１画面中に現
れる暗部を検出することにより欠陥の有無を検査するこ
とを特徴とする透明容器の欠陥検査方法。
【請求項２】(1) 前記固体撮像素子カメラのイメージセ
ンサからの各画素の階調値を画像メモリに記憶する記憶
処理と、(2) 該画像メモリに記憶された１画面の原画像
データについて、縦横所定画素数の大判定画素領域Ｍご
とにその中の最大の階調値を求め、当該大判定画素領域
Ｍ中の各画素の階調値をその求めた最大階調値に置換す
ることを、大判定画素領域Ｍを順次移行させながら全画
素について行う影収縮処理と、(3) その影収縮処理後の
画像データと前記画像メモリに記憶された原画像データ
との階調差を各画素ごとに算出する差分処理と、(4) そ
の差分処理後の画素データについて、前記大判定画素領
域Ｍの画素数より少ない縦横所定画素数の小判定画素領
域Ｎごとにその中の各画素の階調値を平均化階調値に置
換することを、小判定画素領域Ｎを順次移行させながら
全画素について行うスムージング処理と、(5) そのスム
ージング処理後の各画素データを２値化して各画素ごと
に欠点の有無を判定する２値化処理と、(6) その２値化
処理で欠点とされた画素数をカウントし、その画素数が
一定値以上のとき欠陥有りとする欠陥判定処理と、から
なることを特徴とする、請求項１に記載の透明容器の欠
陥検査方法。
【請求項３】(1) 前記固体撮像素子カメラのイメージセ
ンサからの各画素の階調値を画像メモリに記憶する記憶
処理と、(2) 該画像メモリに記憶された１画面の原画像
データについて、縦横所定画素数の大判定画素領域Ｍご
とにその中の最大の階調値を求め、当該大判定画素領域
Ｍ中の各画素の階調値をその求めた最大階調値に置換す
ることを、大判定画素領域Ｍを順次移行させながら全画
素について行う影収縮処理と、(3) その影収縮処理後の
画像データについて、大判定画素領域Ｍ中で最も小さい
階調値を求め、当該大判定画素領域Ｍ中の各画素の階調
値をその求めた最大階調値に置換することを、大判定画
素領域Ｍを順次移行させながら全画素について行う影膨
張処理と、(4) その影膨張処理後の画像データと前記画
像メモリに記憶された原画像データとの階調差を各画素
ごとに算出する第１の差分処理と、(5) その差分処理後
の各画素データを２値化して各画素ごとに欠点の有無を
判定する第１の２値化処理と、(6) その２値化処理で欠
点とされた画素数をカウントし、その画素数が一定値以
上のとき欠陥有りとする第１の欠陥判定処理と、(7) 前
記影収縮処理後の画像データと前記画像メモリに記憶さ
れた原画像データとの階調差を各画素ごとに算出する第
２の差分処理と、(8) その差分処理後の画素データにつ
いて、前記大判定画素領域Ｍの画素数より少ない縦横所
定画素数の小判定画素領域Ｎごとにその中の各画素の階
調値を平均化階調値に置換することを、小判定画素領域
Ｎを順次移行させながら全画素について行うスムージン
グ処理と、(9) そのスムージング処理後の各画素データ
を２値化して各画素ごとに欠点の有無を判定する第２の
２値化処理と、(10)その２値化処理で欠点とされた画素
数をカウントし、その画素数が一定値以上のとき欠陥有
りとする第２の欠陥判定処理と、からなることを特徴と
する、請求項１に記載の透明容器の欠陥検査方法。
【請求項４】前記第１及び第２の２値化処理を、１画面
中の一定の検査範囲についてのみ実施することを特徴と
する請求項３に記載の透明容器の欠陥検査方法。
【請求項５】(1) 透明容器に拡散光を投光する投光器
と、(2) 該透明容器を透過した光をイメージセンサで受
光する固体撮像素子カメラと、(3) 該イメージセンサか
らの各画素の階調値を記憶する画像メモリと、(4) 該画
像メモリに記憶された１画面の原画像データについて、
縦横所定画素数の大判定画素領域Ｍごとにその中の最大
の階調値を求め、当該大判定画素領域Ｍ中の各画素の階
調値をその求めた最大階調値に置換することを、大判定
画素領域Ｍを順次移行させながら全画素について行う影
収縮処理手段と、(5) その影収縮処理後の画像データと
前記画像メモリに記憶された原画像データとの階調差を
各画素ごとに算出する差分処理手段と、(6) その差分処
理後の画素データについて、前記大判定画素領域Ｍの画
素数より少ない縦横所定画素数の小判定画素領域Ｎごと
にその中の各画素の階調値を平均化階調値に置換するこ
とを、小判定画素領域Ｎを順次移行させながら全画素に
ついて行うスムージング処理手段と、(7) そのスムージ
ング処理後の各画素データを２値化して各画素ごとに欠
点の有無を判定する２値化処理手段と、(8) その２値化
処理で欠点とされた画素数をカウントし、その画素数が
一定値以上のとき欠陥有りとする欠陥判定処理手段と、
を備えてなることを特徴とする透明容器の欠陥検査装
置。
【請求項６】(1) 透明容器に拡散光を投光する投光器
と、(2) 該透明容器を透過した光をイメージセンサで受
光する固体撮像素子カメラと、(3) 該イメージセンサか
らの各画素の階調値を記憶する画像メモリと、(4) 該画
像メモリに記憶された１画面の原画像データについて、
縦横所定画素数の大判定画素領域Ｍごとにその中の最大
の階調値を求め、当該大判定画素領域Ｍ中の各画素の階
調値をその求めた最大階調値に置換することを、大判定
画素領域Ｍを順次移行させながら全画素について行う影
収縮処理手段と、(5) その影収縮処理後の画像データに
ついて、大判定画素領域Ｍ中で最も小さい階調値を求
め、当該大判定画素領域Ｍ中の各画素の階調値をその求
めた最大階調値に置換することを、大判定画素領域Ｍを
順次移行させながら全画素について行う影膨張処理手段
と、(6) その影膨張処理後の画像データと前記画像メモ
リに記憶された原画像データとの階調差を各画素ごとに
算出する第１の差分処理手段と、(7) その差分処理後の
各画素データを２値化して各画素ごとに欠点の有無を判
定する第１の２値化処理手段と、(8) その２値化処理で
欠点とされた画素数をカウントし、その画素数が一定値
以上のとき欠陥有りとする第１の欠陥判定処理手段と、
(9) 前記影収縮処理後の画像データと前記画像メモリに
記憶された原画像データとの階調差を各画素ごとに算出
する第２の差分処理手段と、(10)その差分処理後の画素
データについて、前記大判定画素領域Ｍの画素数より少
ない縦横所定画素数の小判定画素領域Ｎごとにその中の
各画素の階調値を平均化階調値に置換することを、小判
定画素領域Ｎを順次移行させながら全画素について行う
スムージング処理手段と、(11)そのスムージング処理後
の各画素データを２値化して各画素ごとに欠点の有無を
判定する第２の２値化処理手段と、(12)その２値化処理
で欠点とされた画素数をカウントし、その画素数が一定
値以上のとき欠陥有りとする第２の欠陥判定処理手段
と、(13)前記第１及び第２の欠陥判定処理手段の一方で
も欠陥有りと判定したとき製品を排除するための信号を
出力する排除信号出力手段と、を備えてなることを特徴
とする透明容器の欠陥検査装置。
【請求項７】前記投光器が、ハロゲンランプと、該ハロ
ゲンランプからの光を拡散する光拡散板と、該拡散板の
周囲に配置された蛍光灯と、該蛍光灯からの光を拡散す
る光拡散板とからなる、請求項５又は６に記載の透明容
器の欠陥検査装置。
【請求項８】前記固体撮像素子カメラと、検査位置に設
置された透明容器からの透過光を該固体撮像素子カメラ
へ指向させる反射鏡とを鏡筒内に配置したことを特徴と
する請求項５又は６に記載の透明容器の欠陥検査装置。