JPH0631717Y2 - 荷電粒子ビ−ム描画装置用整形絞り - Google Patents

荷電粒子ビ−ム描画装置用整形絞り

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JPH0631717Y2
JPH0631717Y2 JP4594286U JP4594286U JPH0631717Y2 JP H0631717 Y2 JPH0631717 Y2 JP H0631717Y2 JP 4594286 U JP4594286 U JP 4594286U JP 4594286 U JP4594286 U JP 4594286U JP H0631717 Y2 JPH0631717 Y2 JP H0631717Y2
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安秀 藤谷
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Jeol Ltd
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Description

【考案の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本考案は荷電粒子ビーム描画装置用整形絞りに関する。
[従来技術] 電子ビーム描画装置等の可変面積描画では、例えば第6
図(a)〜(c)に示すように光学系に矩形又は正方形
の通過孔を有する第1の整形絞りA及び第2の整形絞り
Bを配置し、第1の整形絞りAの像を第2の整形絞りB
の上に投影して、この2つの整形絞りの間に配置される
偏向器を適切に制御することにより種々の整形ビームを
形成して試料上に照射することによりパターン描画を行
っている。
ところで、前記の如き整形絞りの孔は、その大きさが微
細なため、通常の機械的な加工手段によって穿孔するこ
とができず、耐熱性金属板にフォトエッチング処理を施
して作成するのが一般的である。このフォトエッチング
処理における加工精度を高めるには、穿孔すべき寸法に
対し、穿孔されるべき金属板の厚さを薄くしなければな
らない。しかし、金属板が薄くなると、その機械的強度
が小さいだけでなく、電子ビームの射突による熱的変形
或いは焼損等の問題がある。又、この様なフォトエッチ
ング処理によって穿孔された孔は輪郭が不鮮明である。
そこで、例えば、モリブデンの薄板4枚夫々の一辺をナ
イフエッジ状に仕上げ、該ナイフエッジ部分で矩形又は
正方形の孔を形成する様に、該モリブデン板を組み合
せ、順次スポット溶接している。しかし、このような手
作業による整形絞りの製作では辺の仕上げ度、辺の真直
度、辺の直角度を高めることは厄介なことであり、歩留
りも悪い。このような欠点を解決するものとして、2本
の細線(例えば金線)を細線取付け台の上に井桁状に組
み合せ、両端から張力を加えながら張り固定して整形絞
りとしているものもある(特開昭59−21020,特
開昭59−141224)。
[考案が解決しようとする問題点] ところで、上述した従来装置では、電子ビーム等の商社
によって例えば矩形を構成する細線にコンタミネーショ
ンが生じた場合には、細線取付け台にスポット溶接等に
よって固定された細線を取り外して新しい細線に交換す
るか、又は、細線取付け台ごと交換しなれけばならず、
新しい細線と交換する場合には直角度、平行度を再度調
整する必要があり作業が繁雑になり、細線取付け台ごと
交換する場合は不経済となる欠点があつた。
本考案は以上の欠点を解決して、電子ビーム等の照射に
よって矩形を構成する細線にコンタミネーションが生じ
た場合でも、細線が配設されたホルダーを90°ずつ回
転させることにより、細線を頻繁に交換することなくビ
ーム描画できる荷電粒子ビーム描画装置用整形絞りを提
供することを目的としている。
[問題点を解決するための手段] 本目的を達成するための本考案は、矩形孔を有する整形
絞りを通過した荷電粒子ビームを試料面上に結像させて
パターンを描画する装置において、荷電粒子ビーム通過
孔を有する基台及びホルダと、該基台とホルダとの間に
配設される矩形孔を有する荷電粒子ビーム遮蔽板と、該
ホルダの荷電粒子ビーム通過孔を十字状に交差するよう
に該ホルダに張架された線状の荷電粒子ビーム遮蔽部材
とを備え、前記荷電粒子ビーム遮蔽部材を前記荷電粒子
ビーム遮蔽板の矩形孔の直交する2辺の交点を中心に直
交させると共に、前記荷電粒子ビーム遮蔽板と相対的に
ホルダを90°ずつ回転できるように構成したことを特
徴としている。
[実施例] 以下本考案の実施例を添附図面に基づき詳述する。
第1図は本考案の一実施例の平面図、第2図はその縦断
面図である。第1図及び第2図において、1は基台、1
aは基台1の中心に穿たれた荷電粒子ビーム通過孔、2
は荷電粒子ビーム遮蔽板としての薄膜絞り、2aは薄膜
絞り2に形成された矩形孔である。3は基台1に固定さ
れるホルダで、該ホルダ3の中心には、第3図に示すよ
うに荷電粒子ビーム通過孔3aが穿たれ、該荷電粒子ビ
ーム通過孔3aと前記荷電粒子ビーム通過孔1aとは偏
心している。又、該荷電粒子ビーム通過孔3aの中心を
横切って十字状の溝3b,3cが刻設されている。4
a,4bは荷電粒子ビーム通過孔3aの中心部で十字状
に交差するようにそれぞれの溝に嵌込まれた細線で、該
細線4a,4bはビス5a,5b,5c,5dによって
張架されている。この細線4a,4bの交点Pと薄膜絞
り2の矩形孔2aの直交する2辺2a,2aの交点
P′とは第4図に示すように一致するように配設され
る。従って、前記矩形孔2aの直交する2辺2a,2
の内側には、細線4a,4bによって、直角な辺が
形成される。6a,6b,6c,6dはホルダ90°ず
つ回転して基台に固定するための基台及びホルダに穿た
れた位置決め穴で、該位置決め孔には図示しない位置決
めピンが適当な嵌め合いで嵌入される。7a,7b,7
c,7dは基台とホルダを固定するための固定ビスであ
る。
このように構成された装置おいて、基台1とホルダ3を
第5図(a)に示す位置関係、つまり第1図に示すよう
に固定して電子ビームを照射を行なう。この電子ビーム
の照射により、細線4a,4bにコンタミネーションが
生じた場合は、固定ビス7a,7b,7c,7dを外し
てホルダ3を90°回転させ、位置決めピンで位置決め
を行って固定する。この状態が第5図(b)に示されて
いる。第5図(b)に示すように、ホルダ3を90°回
転させて固定すると、細線4a,4bのコンタミネーシ
ョンが生じていない部分によって直角な2辺が形成され
る。同様に、ホルダ3を、90°ずつ回転させることに
より、第5図(c),5図(d)に示すように、回転の
度に細線4a,4bのコンタミネーションが生じていな
い部分によって直角な辺が形成されるため、このように
形成された整形絞りを、光学系に複数配置して、これら
の整形絞りの間に配置される偏向器を適切に制御するこ
とにより第6図に示すような種々の整形ビームを形成す
ることができる。
従って、このよに様に構成された装置では、ホルダを順
次90°ずつ回転させて使用することにより、コンタミ
ネーションが生じていない細線部分を複数回使用するこ
とができ、従来の様に1回で交換する場合に比較して、
細線の交換を極端に減少させることができる。又、新し
い細線と交換する場合でも、細線4a,4bは調整ビス
5a,5b,5c,5dによって張架されているため交
換が至極容易で、平行度等の再調整作業の繁雑さも減少
しホルダごと交換する必要もない。
尚、上記実施例は例示であり変形が可能である。上記実
施例では基台とホルダを固定ビスにより固定するように
構成したが、基台を鏡体に固定してホルダを90°ずつ
大気側より回転させる構造としても良い。
[考案の効果] 以上詳述したように本考案によれば、荷電粒子ビーム遮
蔽部材である2本の細線を該矩形孔の2辺の交点を中心
に直交させると共に、該基台またはホルダを90°ずつ
回転できるように構成したためコンタミネーションが生
じていない細線部分を複数回使用することができるた
め、細線の交換を極端に減少させることができる。又、
新しい細線と交換する場合も、細線の交換が従来に比較
して至極容易で、平行度等の再調整作業の繁雑さも減少
し、ホルダごと交換する必要もないため経済的である。
【図面の簡単な説明】 第1図は本考案の一実施例の平面図、第2図はその縦断
面図、第3図はホルダの平面図、第4図は荷電粒子ビー
ム遮蔽板と荷電粒子ビーム遮蔽部材の位置関係を説明す
るための図、第5図(a),(b),(c),(d)は
ホルダを90°ずつ回転させた場合の荷電粒子ビーム遮
蔽板と荷電粒子ビーム遮蔽部材の位置関係を説明するた
めの図、第6図は複数の整形絞りによって可変面積描画
を行なう場合を示す図である。 1:基台、2:薄膜絞り、3:ホルダ、4a,4b:細
線、5a,5b,5c,5d:調整ビス、6a,6b,
6c,6d:位置決め穴、7a,7b,7c,7d:固
定ビス。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】矩形孔を有する整形絞りを通過した荷電粒
    子ビームを試料面上に結像させてパターンを描画する装
    置において、荷電粒子ビーム通加孔を有する基台及びホ
    ルダと、該基台とホルダとの間に配設される矩形孔を有
    する荷電粒子ビーム遮蔽板と、該ホルダの荷電粒子ビー
    ム通加孔を十字状に交差するように前記ホルダに張架さ
    れた線状の荷電粒子ビーム遮蔽部材とを備え、前記荷電
    粒子ビーム遮蔽部材を前記荷電粒子ビーム遮蔽板の矩形
    孔の直交する2辺の交点を中心に直交させると共に、前
    記荷電粒子ビーム遮蔽板とホルダを相対的に90°ずつ
    回転できるように構成したことを特徴とする荷電粒子ビ
    ーム描画装置用整形絞り。
JP4594286U 1986-03-28 1986-03-28 荷電粒子ビ−ム描画装置用整形絞り Expired - Lifetime JPH0631717Y2 (ja)

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JPS62172148U JPS62172148U (ja) 1987-10-31
JPH0631717Y2 true JPH0631717Y2 (ja) 1994-08-22

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