JPH06308233A - 光学的測距装置 - Google Patents

光学的測距装置

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JPH06308233A
JPH06308233A JP5119332A JP11933293A JPH06308233A JP H06308233 A JPH06308233 A JP H06308233A JP 5119332 A JP5119332 A JP 5119332A JP 11933293 A JP11933293 A JP 11933293A JP H06308233 A JPH06308233 A JP H06308233A
Authority
JP
Japan
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light
time
receiving element
pulse
light receiving
Prior art date
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Pending
Application number
JP5119332A
Other languages
English (en)
Inventor
Yasunaga Kayama
泰永 加山
Masashi Miyata
正史 宮田
Hisashi Yoshida
久 吉田
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Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
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Publication date
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Publication of JPH06308233A publication Critical patent/JPH06308233A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 簡単、且つ廉価な構成で、電子回路内での信
号の伝播時間に起因する誤差を除去した光学的測距装置
を提供することである。 【構成】 半導体レーザ装置1はパッケッジ2内に半導
体レーザチップ3と参照用の受光素子4とが内蔵されて
いる。半導体レーザチップ3は測距用の光パルスP1と
参照用の光パルスP2とを同時に互いに反対向きに射出
する。測距用の光パルスは測定対象物13に対して射出
され、反射して測距用の受光素子14に入力し、測距出
力信号55を出力する。参照用の光パルスP2は直接参
照用の受光素子4に入力し、参照出力信号57を出力す
る。カウンタ11は測距出力信号55及び参照出力信号
57に基づき測距時間及び参照時間とをそれぞれ計測す
る。コンピュータ8は測距時間を参照時間により減算し
て測定対象物13までの距離を算出する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は光学的測距装置に関する
ものである。更に詳しくは光パルスを測距対象物に対し
て照射してから、測距対象物からの反射光パルスを受光
するまでの時間を計測することにより測距対象物までの
距離を測定する光学的測距装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、種々の分野で安全性の向上や自動
化を目的として、移動物体に測距装置を搭載して距離情
報を得ることが行われている。例えば、ロボットや自動
車や電車に測距装置を搭載してこれらの移動物体の衝突
を防止したり、又は工場内で使用される搬送車に測距装
置を搭載して搬送車の停止位置を制御することに用いら
れている。このような光学的測距装置としては、測距対
象物に対して光パルスを射出する発光素子と、測距対象
物からの反射光パルスを受光する受光素子と、光パルス
を射出してから反射光パルスを受光するまでの時間を計
測する時計回路と、この時間を光速に基づき距離情報に
換算する換算回路等から構成されているものがある。
【0003】ところが、この種の光学的測距装置の電子
回路内での信号の伝播時間は無視し得る大きさではな
く、この伝播時間に起因する誤差が存在する。更に伝播
時間は電子回路の固体差によるバラツキがあり、周囲の
温度の変化によっても変化し、これによっても誤差が発
生する。
【0004】そこで、従来、このような誤差を除去した
光学的測距装置が提案されていた。この光学的測距装置
は誤差補正のための参照用の固定光路と、発光素子から
射出する光パルスを択一的に測距対象物に、又は前記固
定光路を介して参照用の受光素子にそれぞれ向ける光路
切換装置とを追加設置するものである。この光路切換装
置により光路を切換えて、発光素子からの光パルスを測
距対象物に向けたときの測距用の時間と、固定光路に向
けたときの参照用の時間とを計測し、測距用の時間を参
照用の時間により補正することにより上記誤差を除去す
るものである。そして一般に参照用の固定光路には光フ
ァイバー等の光ガイドやレンズやミラーで構成された光
学系が、光路切換装置にはハーフミラー及びシャッター
等が使用されている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし上述した従来の
光学的測距装置は、参照用の固定光路、光路切換装置を
必要とするために、構成が複雑で装置が大型化し、高価
格なものとなるという問題があった。
【0006】本発明は上記の課題に鑑み、簡単小型、且
つ廉価な構成で、電子回路内での信号の伝播時間に起因
する誤差を除去した光学的測距装置を提供することを目
的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は、光パルスを測
定対象物に対して射出する光源と、前記測定対象物から
反射した前記光パルスを受光し第1の電気信号を出力す
る測距用の受光素子と、前記光パルスの射出から前記測
距用の受光素子による受光までの第1の時間を計測する
第1の計時手段とを具備する光学的測距装置において、
前記光源を半導体レーザチップにより構成すると共に、
該半導体レーザチップの一端より前記光パルスを射出さ
せ、前記半導体レーザチップの他端に対向して配置され
た参照用の受光素子と、前記光パルスの射出から前記参
照用の受光素子による受光までの第2の時間を計測する
第2の計時手段と、前記第1の時間を前記第2の時間に
より補正する補正手段とを有することを特徴とするもの
である。
【0008】
【作用】半導体レーザチップは測距用の光パルスと参照
用の光パルスとが、同時に互いに反対向きに射出され
る。測距用の光パルスは測定対象物に対して射出され、
その測定対象物で反射して測距用の受光素子に入力し、
測距出力信号を出力する。他方参照用の光パルスは直接
参照用の受光素子に入力し、参照出力信号を出力する。
そして、測距出力信号に基づき計測された第1の時間か
ら、参照出力信号に基づき計測された第2の時間を減算
して測定対象物までの距離を算出する。
【0009】
【実施例】本発明の一実施例を図1乃至図3により説明
する。図1において、レーザダイオード等の半導体レー
ザ装置1は、パッケージ2と、これに内蔵されているレ
ーザチップ3及び同じく内蔵されている参照用の受光素
子4とから構成されている。レーザチップ3は測距用の
光パルスP1と参照用の光パルスP2とを同時に且つ互
いに反対方向に放射する。
【0010】半導体レーザ装置1は、図2にその一例を
示すように、ステム5には複数の端子6が設けられ、又
ステム5はガラス窓2aを備えたキャップ状のパッケー
ジ2に覆われ、パッケージ2内にはヒートシンク7に取
り付けられたレーザチップ3及びステム5上に取り付け
られた参照用の受光素子4等が配置されている。
【0011】レーザチップ3の一例として、GaAlA
s半導体レーザの構造を図3に示す。GaAlAs半導
体レーザは誘導放出により増幅を行う活性層3eを、p
形及びn形のクラッド層3p、3nではさみ込み、活性
層3eの先後両端部3a、3cには、それぞれ反射膜3
b、3dが形成された構造を有する。p形クラッド層3
pを+(プラス)、n形クラッド層三nを−(マイナ
ス)にして順方向のバイアスを印加することにより、先
後両端部から光パルスP1、P2がそれぞれ放射され
る。
【0012】レーザチップ3はパッケージ2内におい
て、その先端部3aはガラス窓2aに対向するように配
置され、又受光素子4はレーザチップ3の後端部3cに
対向するように配置されている。したがって、先端部3
aから出力する光パルスP1はガラス窓2aを介して外
部に放射され、又後端部3cから出力する光パルスP2
はパッケージ2内において光学系を介することなく直接
受光素子4に入射する。
【0013】再び図1において、投光レンズ12は光パ
ルスP1を所定の投光角を以て測距対象物13に投射す
るように、又受光レンズ14は測距対象物13の所定の
受光角内で反射した光パルスP1を受光するように配置
されている。そして受光レンズ14の焦点面に受光素子
15が配置されている。
【0014】コンピュータ8は、本装置の制御及び各種
演算を行うと共に、発光許可信号51及び計時切換信号
52をそれぞれ出力する。点灯信号発生部9は、発光許
可信号51を受けると点灯パルス信号53をレーザドラ
イバ10及びカウンタ11に出力し、又基準クロックC
Lをカウンタ11に出力する。レーザドライバ10は点
灯パルス信号53に同期して半導体レーザ装置1にドラ
イブ用パルス信号54を出力する。
【0015】半導体レーザ装置1はドライブ用パルス信
号54に応じて測距用の光パルスP1及び参照用の光パ
ルスP2を同時に放射し、光パルスP1は投光レンズ1
2を介して測距対象物13に投射され、測距対象物13
で反射した後に受光レンズ14を介して受光素子15に
受光される。又光パルスP2は受光素子4に受光され
る。
【0016】アンプ・コンパレータ16は測距用の受光
素子15の測距出力信号55を増幅し、デジタルレベル
の信号に変換し、測距デジタル信号56をカウンタ11
に出力する。アンプ・コンパレータ17は参照用の受光
素子4の参照出力信号57を増幅し、デジタルレベルの
信号に変換し、参照デジタル信号58をカウンタ11に
出力する。
【0017】カウンタ11は計時切換信号52に応じて
測距デジタル信号56と参照デジタル信号58とを択一
的に選択する。測距デジタル信号56を選択する時は点
灯パルス信号53を受信してから測距デジタル信号56
を受信するまでの時間を、同様に、参照デジタル信号5
8を選択する時は点灯パルス信号53を受信してから参
照デジタル信号58を受信するまでの時間を計測する。
そして得られた時間データ信号59をコンピュータ8に
出力する。時間の計測は点灯パルス信号53を受信して
から測距デジタル信号56又は参照デジタル信号58を
受信するまでの時間を、点灯信号発生部9からの基準ク
ロックCLを計測することにより行われる。
【0018】次に測距の動作について説明する。コンピ
ュータ8からの発光許可信号51に応じて発生するドラ
イブ用パルス信号54によって、半導体レーザ装置1は
測距用の光パルスP1及び参照用の光パルスP2を放射
する。測距用の受光素子15は測距対象物13で反射し
た測距用の光パルスP1を受光すると測距出力信号55
を発生し、この測距出力信号55は測距デジタル信号5
6に変換される。参照用の光パルスP2は直接参照用の
受光素子4に入射し、参照用の受光素子4は参照出力信
号57を発生し、この参照出力信号57は参照デジタル
信号58に変換される。
【0019】カウンタ11はコンピュータ8からの計時
切換信号52に応じて、測距デジタル信号56及び参照
デジタル信号58を択一的に選択し、点灯パルス信号5
3を受信してから、測距デジタル信号56を受信するま
での測距時間、及び点灯パルス信号53を受信してか
ら、参照デジタル信号58を受信するまでの参照時間を
計測する。そして測距時間及び参照時間の時間データ信
号59をコンピュータ8に出力する。
【0020】この測距時間は測距対象物13までの距離
情報の他に電子回路の伝播時間に関するノイズを含み、
他方参照時間はレーザチップ3とフォトダイオード4と
の間の固定距離情報の他に上記した電子回路の伝播時間
に関するノイズを含んでいる。コンピュータ8は測距時
間から参照時間を減算して、上記したノイズを相殺した
後、光速に基づいて所望の測距対象物13までの距離を
算出する。
【0021】尚、本実施例においては、測距出力信号5
5用と参照出力信号57用とにそれぞれ別個のアンプ・
コンパレータ16、17を使用しており、精度の高い補
正を行うためには両者の信号の伝播時間等の電気特性を
一致させる必要がある。測距出力信号55用と参照出力
信号57用とに共通のアンプ・コンパレータを設け、計
時切換信号52に応じて測距出力信号55と参照出力信
号57と択一的に入力するセレクタを追加すれば、アン
プ・コンパレータの電気特性に起因する誤差を除去する
ことができる。
【0022】尚、本実施例においては、レーザチップ3
とフォトダイオード4とが同一パッケージ2に内蔵され
ている半導体レーザ装置を使用しているから、測距装置
は部品数が少なく、組立が容易であるし、又市販品を流
用することも可能である。又このような半導体レーザ装
置を使用すると測距用の光路と参照用の光路との切換え
がないので光路切換装置のシャッター等が不要であり、
シャッターによる光路切換に要する時間が節減されるか
ら、高速度で移動する測距対象物の測距を精度良く行う
ことが可能となる。
【0023】
【発明の効果】本発明の測距装置では、半導体レーザチ
ップは測距用の光パルスと参照用の光パルスとが、同時
に互いに反対向きに射出される。測距用の光パルスは測
定対象物に対して射出され、その測定対象物で反射して
測距用の受光素子に入力し、測距出力信号を出力する。
他方参照用の光パルスは直接参照用の受光素子に入力
し、参照出力信号を出力する。そして、測距出力信号に
基づき計測された第1の時間から、参照出力信号に基づ
き計測された第2の時間を減算して測定対象物までの距
離を算出するから、簡単、且つ廉価な構成で、電子回路
内での信号の伝播時間に起因する誤差が除去できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】一実施例の構成図。
【図2】一実施例にかかる半導体レーザ装置の半導体レ
ーザチップ、受光素子及びパッケージを示す斜視図。
【図3】一実施例にかかる半導体レーザ装置の半導体レ
ーザチップの発光方向を示す側面図。
【符号の説明】
1・・・半導体レーザ装置 2・・・パッケージ 3・・・レーザチップ 4・・・受光素子 8・・・コンピュータ 11・・・カウンタ 13・・・測距対象物 15・・・受光素子 P1、P2・・・光パルス

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】光パルスを測定対象物に対して射出する光
    源と、前記測定対象物から反射した前記光パルスを受光
    し第1の電気信号を出力する測距用の受光素子と、前記
    光パルスの射出から前記測距用の受光素子による受光ま
    での第1の時間を計測する第1の計時手段とを具備する
    光学的測距装置において、 前記光源は、前記光パルスを射出する一端と他の光パル
    スを射出する他端とを有する半導体レーザチップにより
    構成されると共に、前記半導体レーザチップの他端に対
    向して配置された参照用の受光素子と、前記光パルスの
    射出から前記参照用の受光素子による受光までの第2の
    時間を計測する第2の計時手段と、前記第1の時間を前
    記第2の時間により補正する補正手段とを有することを
    特徴とする光学的測距装置。
JP5119332A 1993-04-23 1993-04-23 光学的測距装置 Pending JPH06308233A (ja)

Priority Applications (1)

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JP5119332A JPH06308233A (ja) 1993-04-23 1993-04-23 光学的測距装置

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JP5119332A JPH06308233A (ja) 1993-04-23 1993-04-23 光学的測距装置

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JPH06308233A true JPH06308233A (ja) 1994-11-04

Family

ID=14758863

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5119332A Pending JPH06308233A (ja) 1993-04-23 1993-04-23 光学的測距装置

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JP (1) JPH06308233A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009505043A (ja) * 2005-08-08 2009-02-05 ライカ ジオシステムズ アクチェンゲゼルシャフト 光波距離測定装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009505043A (ja) * 2005-08-08 2009-02-05 ライカ ジオシステムズ アクチェンゲゼルシャフト 光波距離測定装置

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