JPH0629757B2 - ホツパ−スケ−ルの検査装置 - Google Patents

ホツパ−スケ−ルの検査装置

Info

Publication number
JPH0629757B2
JPH0629757B2 JP58019484A JP1948483A JPH0629757B2 JP H0629757 B2 JPH0629757 B2 JP H0629757B2 JP 58019484 A JP58019484 A JP 58019484A JP 1948483 A JP1948483 A JP 1948483A JP H0629757 B2 JPH0629757 B2 JP H0629757B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
weight
lifting
pin
inspection device
rod
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP58019484A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS59143923A (ja
Inventor
義則 上堀内
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Individual
Original Assignee
Individual
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Individual filed Critical Individual
Priority to JP58019484A priority Critical patent/JPH0629757B2/ja
Publication of JPS59143923A publication Critical patent/JPS59143923A/ja
Publication of JPH0629757B2 publication Critical patent/JPH0629757B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01GWEIGHING
    • G01G23/00Auxiliary devices for weighing apparatus
    • G01G23/01Testing or calibrating of weighing apparatus

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Weight Measurement For Supplying Or Discharging Of Specified Amounts Of Material (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 本発明はホッパースケールの検査装置に関するものであ
る。
「従来の技術」 従来の動力による検査装置は第4図、第5図に示すよう
に、計量ホッパー3を支持すする2個のロードセル
2′、2′間の枠4′の中心部に設けられた大形分銅1
8′をシリンダー8′で持上げる構成であった。
「発明が解決しようとする課題」 ところで上記従来の検査装置では、2個のロードセル
2′、2′間の横枠4′の中心部において大形分銅1
8′を持上げたため横枠4′が彎曲してひずみ、2個の
ロードセル2′、2′に垂直荷重を掛けることができ
ず、ロードセル2′、2′による計量は困難であり、か
つ分銅18′とシリンダー8′とが接触してトラブルを
起し易く、かつシリンダー8′を大形化する必要があっ
た。
本発明は上記課題を解決し、基準大形分銅による計量値
検査を小形のシリンダーで行うことができ、かつロード
セルによる計量を精度良く行い得る検査装置を提供する
ことを目的とする。
「課題を解決するための手段」 本発明は上記課題を解決するために 計量ホッパー3の上半部に形成した横枠4を、機枠1に
設けた4個のロードセル2上に載置することにより上記
計量ホッパー3を上記機枠1に支持してなる計量装置に
おいて、1対のロードセル2、2間における上記横枠4
に垂下杆5の一端を支持すると共に、同垂下杆5の他端
に昇降杆6の一端を枢支し、かつ同昇降杆6の他端と上
記横枠4とを力点昇降装置11で接続し、同昇降杆6の
重点に分銅持上ピン15を設け、同ピン15の下方の上
記機枠1上に柔軟性物質による分銅載台16を設け、同
台16上に載置した分銅18に設けたハンガー19を上
記ピン15の上部に間隙20を介して配置して検査装置
を構成し、かつ上記検査装置を他の一対のロードセル
2、2間の横枠4にも対称的に設けることにより構成さ
れる。
「作用」 力点昇降装置11を駆動すうと、昇降杆6がその一端を
支点として回動し、それにより上記昇降杆6の重点に設
けられた分銅持上ピン15がハンガー19を介して分銅
載台16上の分銅18を持上げる。このとき、該分銅1
8の基準値をロードセル2によって計量することで検査
を行う。
通常の計量動作は力点昇降装置11を非動作状態とし、
上記ピン15とハンガー19とを無接触状態に保持し、
その状態において計量ホッパー3の内部に材料を投入し
ロードセル2によって計量を行う。
「実施例」 本発明を図面に示す実施例について説明すると、機枠1
に対称位置に配設した4個のロードセル2上に計量ホッ
パー3の横枠4の4隅を支持し、対称位置にある2個の
ロードセル2、2間の上記横枠4に垂下杆5を固定し、
同杆5の下端に昇降杆6の一端部をピン7により枢支し
て同枢支点を支点となす。又同杆6の他端部にエアシリ
ンダー8の下端部をピン9により枢支して力点となし、
同シリンダー8の上端部を上記横枠4にピン10により
枢支して力点昇降装置11を形成し同昇降杆6および同
昇降装置11を上記ホッパー3側に設けるものである。
この昇降杆6の中程には取付ピン孔12を同杆6の方向
に複数個列設し、同孔12の一つ(重点)にピン13に
よって取付けられる垂杆14の下端部に分銅持上ピン1
5を設ける。このピン15の下方には機枠1上に防振ゴ
ム、硬質スポンジ等の柔軟弾性物質による分銅載台16
をボルト17で固定し、同台16上に大形銅18(例え
ば0.5屯、1屯、2屯、3屯分銅)を載置する。この分
銅18の上面には塵埃下降用山形傾斜面18′、18′
が形成され、上部に山形ハンガー19を同分銅18に一
体に設ける。このハンガー19は上記持上ピン15の上
部に間隙20を介して配置されるものである。尚図中2
1で示すものは計量ホッパー3の排出ゲート、22は同
ホッパー3の投入口、23はエアシリンダー8の動作用
柔軟ホース、24は同シリンダー8の操作、25はロー
ドセル2の配線、26はロードセル2のデジタル指示装
置、第3図中27は電源、28は空気源、29はスイッ
チ、30は電磁弁、31は無検査、検査中の表示灯であ
る。
従ってシリンダー8によって昇降杆6をピン7を中心に
下降状態に常時保持して上記持上ピン15とハンガー1
9との間に間隙20を介在させて同ピン15とハンガー
19とを無接触状態に保持し、その状態において計量ホ
ッパー3の内部に材料を投入しロードセル2によって通
常の計量稼動が行われる。
検査スイッチ29を押すと表示灯31が点灯し、同時に
電磁弁30が開き、シリンダー8が動作して昇降杆6を
ピン7に中心に上昇し持上ピン15が上昇する。この上
昇によってハンガー19が持上げられかつ分銅18が載
台16から上昇し、その状態で同分銅18の基準値が指
示計26に指示され、これを読み取る。そして読み取り
値が誤差範囲内にある場合は合格であり、同範囲内にな
い場合はスパン調整を行う。このようにして検査を終了
し、検査スイッチ29を再度押すと電磁弁30の動作で
シリンダー8が動作し、昇降杆6および持上ピン15が
下降して元の状態となり表示灯31が無検査状態を表示
する。指示計26は零値を表示し、その状態で計量稼動
が行われる。
本発明は上述のように構成したので、検査時において大
形分銅18の荷重は2個のロードセル2、2に近接して
2点に掛るため同ロードセル2、2への垂直荷重が損わ
れることがなく、ロードセル2、2による計量を精度良
く行い得るものである。そして分銅18は計量稼動時に
は上記柔軟性物質による載台16上に載せられているた
め同台16に吸着状態に保持され機枠1の振動の影響が
無く振動による位置の変動が無いためハンガー19が持
上ピン15側に接触するおそれがなく常時定位置に保持
されて無接触状態が保持され安全に計量稼動を行い得る
ばかりでなく昇降装置11を小形化し得るし、かつ分銅
18の載置位置(重点位置)を必要により昇降杆6に沿
って変更することが可能である。又検査に際し入力を要
せず短時間(5分)に検査を終了させ得る効果がある。
「発明の効果」 以上のように、本発明の検査装置は、検査時において大
形分銅18の荷重は2個のロードセル2、2に近接して
2点に掛るため同ロードセル2、2への垂直荷重が損わ
れることがなく、ロードセル2、2による計量を精度良
く行い得るものである。そして分銅18は計量稼動時に
は上記柔軟性物質による載台16上に載せられているた
め同台16に吸着状態に保持され機枠1の振動の影響が
無く振動による位置の変動が無いためハンガー19が持
上ピン15側に接触するおそれがなく常時定位置に保持
されて無接触状態が保持され安全に計量稼動を行い得
る。
さらに、本発明の検査装置は、一端を枢支した昇降杆6
の他端に力点昇降装置11を設け、上記一端を支点とし
て上記昇降杆6の重点位置に設けた分銅を上記力点昇降
装置11で持上げる構成であるため、分銅をシリンダー
で直接持上げる従来装置に比べ上記昇降装置11を小形
化し得る。
さらに、上記検査装置を一対のロードセル2、2間にお
ける計量ホッパー3の横枠4に対称的に設けているため
上記検査装置を計量ホッパー3の側面に配置することが
でき装置自体を小形化できると共に、上記検査装置を計
量量ホッパーの排出ゲートに何等干渉することなく配置
できるとの効果を奏するものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のホッパースケールの検査装置を示す正
面図、第2図は昇降杆の左側面図、第3図は第1図の右
側面図、第4図は従来形検査装置の平面図、第5図は第
4図の正面図である。 1……機枠、2……ロードセル、3……計量ホッパー、
4……横枠、5……垂下杆、6……昇降杆、11……力
点昇降装置、15……分銅持上ピン、16……分銅載
台、19……ハンガー、20……間隙。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】計量ホッパー3の上半部に形成した横枠4
    を、機枠1に設けた4個のロードセル2上に載置するこ
    とにより上記計量ホッパー3を上記機枠1に支持してな
    る計量装置において、一対のロードセル2、2間におけ
    る上記横枠4に垂下杆5の一端を支持すると共に、同垂
    下杆5の他端に昇降杆6の一端を枢支し、かつ同昇降杆
    6の他端と上記横枠4とを力点昇降装置11で接続し、
    同昇降杆6の重点に分銅持上ピン15を設け、同ピン1
    5の下方の上記機枠1上に柔軟性物質による分銅載台1
    6を設け、同台16上に載置した分銅18に設けたハン
    ガー19を上記ピン15の上部に間隙20を介して配置
    して検査装置を構成し、かつ上記検査装置を他の一対の
    ロードセル2、2間の横枠4にも対称的に設けてなるホ
    ッパースケールの検査装置。
JP58019484A 1983-02-07 1983-02-07 ホツパ−スケ−ルの検査装置 Expired - Lifetime JPH0629757B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58019484A JPH0629757B2 (ja) 1983-02-07 1983-02-07 ホツパ−スケ−ルの検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58019484A JPH0629757B2 (ja) 1983-02-07 1983-02-07 ホツパ−スケ−ルの検査装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS59143923A JPS59143923A (ja) 1984-08-17
JPH0629757B2 true JPH0629757B2 (ja) 1994-04-20

Family

ID=12000619

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP58019484A Expired - Lifetime JPH0629757B2 (ja) 1983-02-07 1983-02-07 ホツパ−スケ−ルの検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0629757B2 (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
AT413763B (de) * 2003-04-04 2006-05-15 Voest Alpine Ind Anlagen Verfahren und vorrichtung zum kalibrieren einer wiegeeinrichtung, insbesondere eines wiegebunkers
ES2689973A1 (es) * 2017-05-15 2018-11-16 Verificaciones Industriales De Andalucia, S.A. Dispositivo para verificación metrológica de instrumentos de pesaje de funcionamiento automático del tipo totalizador discontinuo y procedimiento de funcionamiento.
JP6437086B1 (ja) * 2017-12-25 2018-12-12 鎌長製衡株式会社 計量装置の荷重校正検査方法

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS559434U (ja) * 1978-07-03 1980-01-22

Also Published As

Publication number Publication date
JPS59143923A (ja) 1984-08-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0629757B2 (ja) ホツパ−スケ−ルの検査装置
JP2022169624A (ja) 検査治具
EP0371172B1 (en) Device for automatically weighing objects in conveyance
JP3946822B2 (ja) 座標測定装置
JP2000340321A (ja) Icソケット用コンタクタ
WO2005100933A1 (en) Lift type weight measuring apparatus
US3924443A (en) Scale tester
ES378505A1 (es) Una disposicion de bascula de pesaje.
JPS628502Y2 (ja)
US4107481A (en) Telephone instruments
US1302884A (en) Scale bearing device.
CN113375921A (zh) 一种笔记本电脑转轴耐久测试机
JP5316964B2 (ja) 半導体試験装置のベースユニット
JPH0333622A (ja) 電子計量装置の較正機構
JPH0134092Y2 (ja)
JPH11108740A (ja) 校正機能を備えたロードセル式秤量装置
JP2671097B2 (ja) 硬度計の荷重制御機構
JPS58196029A (ja) プロ−ブカ−ド切替装置
US1667889A (en) Cylinder scale
JPH03290940A (ja) プロービングマシンのウエハ載置台
JP2974482B2 (ja) プロービング装置のテストヘッドの回動機構
US1196468A (en) Scale.
US6329811B1 (en) Calibration unit for semiconductor integrated circuit tester
JPH01136047A (ja) 繰返し疲労試験装置
JPH05215635A (ja) 振動試験装置