JPH0629418A - 電子部品用パッケージ - Google Patents
電子部品用パッケージInfo
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- JPH0629418A JPH0629418A JP28830492A JP28830492A JPH0629418A JP H0629418 A JPH0629418 A JP H0629418A JP 28830492 A JP28830492 A JP 28830492A JP 28830492 A JP28830492 A JP 28830492A JP H0629418 A JPH0629418 A JP H0629418A
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- Japan
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- eyelet
- electronic component
- cap
- package
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Abstract
(57)【要約】 (修正有)
【目的】切削面積を少なくでき、若しくは切削加工その
ものを不要にでき、加工コストを低減することを目的と
する。 【構成】電子部品を載置する第1の面11aと、該第1
の面の周縁の下方に該第1の面を取り囲んで略平行に延
在する第2の面11bとを有するアイレットを備え、前
記第2の面とキャップ16の鍔部下面とを、加圧を伴う
手段により接合する電子部品用パッケージにおいて、前
記アイレットの第1の面の反対側の面(第3の面)11
cに、凹部11dを形成したことを特徴とする。
ものを不要にでき、加工コストを低減することを目的と
する。 【構成】電子部品を載置する第1の面11aと、該第1
の面の周縁の下方に該第1の面を取り囲んで略平行に延
在する第2の面11bとを有するアイレットを備え、前
記第2の面とキャップ16の鍔部下面とを、加圧を伴う
手段により接合する電子部品用パッケージにおいて、前
記アイレットの第1の面の反対側の面(第3の面)11
cに、凹部11dを形成したことを特徴とする。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、電子部品用パッケー
ジ、詳細には、電子部品を搭載したアイレット(金属ベ
ースとも言う)に、金属性のキャップを被せて組み立て
られるパッケージに係り、特に、キャップ装着時におけ
る機械的応力の低減を意図した電子部品用パッケージに
関する。
ジ、詳細には、電子部品を搭載したアイレット(金属ベ
ースとも言う)に、金属性のキャップを被せて組み立て
られるパッケージに係り、特に、キャップ装着時におけ
る機械的応力の低減を意図した電子部品用パッケージに
関する。
【0002】
【従来の技術】図5は、この種のパッケージの部分断面
外観図である。この図において、1は電子部品2を搭載
したアイレット、3は鍔部3aを有するハット状のキャ
ップ、4はリード(代表して1本を示す)である。アイ
レット1とキャップ3は共に金属性であり、キャップ装
着時(以下、キャップシール時)に、加圧を伴う手段、
例えば電気によるスポット溶接、いわゆる電気抵抗溶接
(Electric resistancewelding )により接合される。
外観図である。この図において、1は電子部品2を搭載
したアイレット、3は鍔部3aを有するハット状のキャ
ップ、4はリード(代表して1本を示す)である。アイ
レット1とキャップ3は共に金属性であり、キャップ装
着時(以下、キャップシール時)に、加圧を伴う手段、
例えば電気によるスポット溶接、いわゆる電気抵抗溶接
(Electric resistancewelding )により接合される。
【0003】図6は、その接合状態図である。アイレッ
ト1とキャップ3の重合部に電極(図中の矢印a〜d参
照)を押し当てながら電流を流すと、接合面には、接触
抵抗と電流に応じた高熱が生じ、溶融部が形成される。
溶融部を支配するパラメータ、すなわち溶接条件(weld
ing condition )は、溶接電流、通電時間及び加圧力で
あるが、特に加圧力は、20kg/mm2 前後の高圧であ
り、アイレット1に搭載した電子部品に与える影響を無
視できない。
ト1とキャップ3の重合部に電極(図中の矢印a〜d参
照)を押し当てながら電流を流すと、接合面には、接触
抵抗と電流に応じた高熱が生じ、溶融部が形成される。
溶融部を支配するパラメータ、すなわち溶接条件(weld
ing condition )は、溶接電流、通電時間及び加圧力で
あるが、特に加圧力は、20kg/mm2 前後の高圧であ
り、アイレット1に搭載した電子部品に与える影響を無
視できない。
【0004】ところで、プレス成型によって作られたア
イレット1は、部分的な鍛造加工を施すため、この加工
時の力によってアイレット1に反り等の変形が生じるこ
とがある。図7は、変形を生じたアイレット1の電気抵
抗溶接時、すなわちキャップシール時における状態図
(但し、キャップは省略)である。電極a、dを定めら
れた加圧力で押し付けると、アイレット1は、電極b、
c側からの反力b’、c’により、あたかも鍛造加工に
伴う変形を修復するように一時的に反対側に変形し、こ
れにより、アイレット1の上面に載置された電子部品2
に、圧縮ストレス(矢印e参照)や伸張ストレス(矢印
f参照)が加えられる。このことは、特に、電子部品2
が半導体圧力センサのようなピエゾ抵抗効果を利用した
素子の場合や、その素子を含む場合に大きな問題とな
る。上記のストレスによって素子の電気的特性が狂って
しまうからである。
イレット1は、部分的な鍛造加工を施すため、この加工
時の力によってアイレット1に反り等の変形が生じるこ
とがある。図7は、変形を生じたアイレット1の電気抵
抗溶接時、すなわちキャップシール時における状態図
(但し、キャップは省略)である。電極a、dを定めら
れた加圧力で押し付けると、アイレット1は、電極b、
c側からの反力b’、c’により、あたかも鍛造加工に
伴う変形を修復するように一時的に反対側に変形し、こ
れにより、アイレット1の上面に載置された電子部品2
に、圧縮ストレス(矢印e参照)や伸張ストレス(矢印
f参照)が加えられる。このことは、特に、電子部品2
が半導体圧力センサのようなピエゾ抵抗効果を利用した
素子の場合や、その素子を含む場合に大きな問題とな
る。上記のストレスによって素子の電気的特性が狂って
しまうからである。
【0005】そこで、従来は、機械加工によってアイレ
ット1の下面を切削(図7の破線L 1 及びL2 を参照)
し、平坦に仕上げていた。
ット1の下面を切削(図7の破線L 1 及びL2 を参照)
し、平坦に仕上げていた。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、かかる
従来の電子部品用パッケージにあっては、アイレット1
の下面の「全面」を切削加工していたため、広い面積に
わたって十分な平坦度(一般に10μm程度)を出すの
がきわめて困難で、加工コストが高くなるといった問題
点があった。 [目的]そこで、本発明は、切削面積を少なくでき、若
しくは切削加工そのものを不要にでき、加工コストを低
減することを目的とする。
従来の電子部品用パッケージにあっては、アイレット1
の下面の「全面」を切削加工していたため、広い面積に
わたって十分な平坦度(一般に10μm程度)を出すの
がきわめて困難で、加工コストが高くなるといった問題
点があった。 [目的]そこで、本発明は、切削面積を少なくでき、若
しくは切削加工そのものを不要にでき、加工コストを低
減することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載の発明
は、電子部品を載置する第1の面と、該第1の面の周縁
の下方に該第1の面を取り囲んで略平行に延在する第2
の面とを有するアイレットを備え、前記第2の面とキャ
ップの鍔部下面とを、加圧を伴う手段により接合する電
子部品用パッケージにおいて、前記アイレットの第1の
面の反対側の面(第3の面)に、凹部を形成したことを
特徴とする。
は、電子部品を載置する第1の面と、該第1の面の周縁
の下方に該第1の面を取り囲んで略平行に延在する第2
の面とを有するアイレットを備え、前記第2の面とキャ
ップの鍔部下面とを、加圧を伴う手段により接合する電
子部品用パッケージにおいて、前記アイレットの第1の
面の反対側の面(第3の面)に、凹部を形成したことを
特徴とする。
【0008】請求項2に記載の発明は、電子部品を載置
する第1の面と、該第1の面の周縁の下方に該第1の面
を取り囲んで略平行に延在する第2の面とを有するアイ
レットを備え、前記第2の面とキャップの鍔部下面と
を、加圧を伴う手段により接合する電子部品用パッケー
ジにおいて、前記アイレットの第1の面の反対側の面
(第3の面)に凹部を形成し、該凹部の内壁面と前記ア
イレットの胴部の外周面とを面方向で略一致させたこと
を特徴とする。
する第1の面と、該第1の面の周縁の下方に該第1の面
を取り囲んで略平行に延在する第2の面とを有するアイ
レットを備え、前記第2の面とキャップの鍔部下面と
を、加圧を伴う手段により接合する電子部品用パッケー
ジにおいて、前記アイレットの第1の面の反対側の面
(第3の面)に凹部を形成し、該凹部の内壁面と前記ア
イレットの胴部の外周面とを面方向で略一致させたこと
を特徴とする。
【0009】請求項3に記載の発明は、電子部品を載置
する第1の面と、該第1の面の周縁の下方に該第1の面
を取り囲んで略平行に延在する第2の面とを有するアイ
レットを備え、前記第2の面とキャップの鍔部下面と
を、加圧を伴う手段により接合する電子部品用パッケー
ジにおいて、前記アイレットの第1の面の反対側の面
(第3の面)に凹部を形成し、該凹部の内壁面に続く底
面を一段深く掘り下げたことを特徴とする。
する第1の面と、該第1の面の周縁の下方に該第1の面
を取り囲んで略平行に延在する第2の面とを有するアイ
レットを備え、前記第2の面とキャップの鍔部下面と
を、加圧を伴う手段により接合する電子部品用パッケー
ジにおいて、前記アイレットの第1の面の反対側の面
(第3の面)に凹部を形成し、該凹部の内壁面に続く底
面を一段深く掘り下げたことを特徴とする。
【0010】請求項4に記載の発明は、電子部品を載置
する第1の面と、該第1の面の周縁の下方に該第1の面
を取り囲んで略平行に延在する第2の面とを有するアイ
レットを備え、前記第2の面とキャップの鍔部下面と
を、加圧を伴う手段により接合する電子部品用パッケー
ジにおいて、前記アイレットの第2の面の反対側の面
(第4の面)に、アイレットの周方向に沿って突起を形
成したことを特徴とする。
する第1の面と、該第1の面の周縁の下方に該第1の面
を取り囲んで略平行に延在する第2の面とを有するアイ
レットを備え、前記第2の面とキャップの鍔部下面と
を、加圧を伴う手段により接合する電子部品用パッケー
ジにおいて、前記アイレットの第2の面の反対側の面
(第4の面)に、アイレットの周方向に沿って突起を形
成したことを特徴とする。
【0011】
【作用】請求項1〜3の発明では、アイレット下面の凹
部を除く面が切削加工の対象となるため、アイレット下
面の全面を切削加工する従来例に比べて切削面積が少な
くなる。従って、平坦度を容易に出しやすくなり、加工
コストを低減できる。また、凹部の形成によってアイレ
ット周縁部の剛性が低下し、その剛性が低下した部分で
キャップシール時の機械的応力が吸収されるため、その
吸収作用が完全であれば、切削加工そのものを不要にす
ることができる。
部を除く面が切削加工の対象となるため、アイレット下
面の全面を切削加工する従来例に比べて切削面積が少な
くなる。従って、平坦度を容易に出しやすくなり、加工
コストを低減できる。また、凹部の形成によってアイレ
ット周縁部の剛性が低下し、その剛性が低下した部分で
キャップシール時の機械的応力が吸収されるため、その
吸収作用が完全であれば、切削加工そのものを不要にす
ることができる。
【0012】請求項2、3の発明では、凹部の内壁面と
アイレット胴部の外周面との間の剛性が低下し、その剛
性が低下した部分でキャップシール時の機械的応力が効
果的に吸収される。請求項4の発明では、キャップシー
ル時の機械的応力が突起の変形(つぶれ)によって効果
的に吸収され、切削加工そのものを不要にすることがで
きる。
アイレット胴部の外周面との間の剛性が低下し、その剛
性が低下した部分でキャップシール時の機械的応力が効
果的に吸収される。請求項4の発明では、キャップシー
ル時の機械的応力が突起の変形(つぶれ)によって効果
的に吸収され、切削加工そのものを不要にすることがで
きる。
【0013】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。第1実施例 図1は本発明に係る電子部品用パッケージの第1実施例
(請求項1に記載の発明の一実施例)を示す図である。
する。第1実施例 図1は本発明に係る電子部品用パッケージの第1実施例
(請求項1に記載の発明の一実施例)を示す図である。
【0014】図1において、10はパッケージであり、
パッケージ10は、アイレット(金属ベース)11の上
面(以下、第1の面)11aに、例えば半導体圧力セン
サ等の電子部品12を載置し、アイレット11の貫通穴
にガラス13によってアイレット11と絶縁されたリー
ド(代表して1本を図示)14を挿入し、このリード1
4と電子部品12との間をワイヤ15で接続した後、金
属性のキャップ16を被せ、加圧を伴う手段、例えば電
気抵抗溶接によってキャップ16とアイレット11の間
を接合して組み立てられる。
パッケージ10は、アイレット(金属ベース)11の上
面(以下、第1の面)11aに、例えば半導体圧力セン
サ等の電子部品12を載置し、アイレット11の貫通穴
にガラス13によってアイレット11と絶縁されたリー
ド(代表して1本を図示)14を挿入し、このリード1
4と電子部品12との間をワイヤ15で接続した後、金
属性のキャップ16を被せ、加圧を伴う手段、例えば電
気抵抗溶接によってキャップ16とアイレット11の間
を接合して組み立てられる。
【0015】溶接箇所は、キャップ16の鍔部下面16
aと、アイレット11の周縁部上面(以下、第2の面)
11bの間であり、シリーズ溶接によって接合される。
ここで、第2の面11bは、第1の面11aの周囲を取
り囲む面であり、且つ、第1の面11aに略平行する面
である。また、アイレット11の第1の面11aの反対
側の面(以下、第3の面)11cには、所定の深さD
(例えばDは切削深度を越える値)の凹部11dが形成
されている。この凹部11dは望ましくはキャップ16
の開口面積と同等かまたは少ない開口面積をもってお
り、且つ、その開口形状はキャップ16の開口形状とほ
ぼ相似している。なお、図1では凹部11dの底面を直
線的に表現しているが、必ずしも平らである必要はな
く、多少の凹凸があっても構わない。
aと、アイレット11の周縁部上面(以下、第2の面)
11bの間であり、シリーズ溶接によって接合される。
ここで、第2の面11bは、第1の面11aの周囲を取
り囲む面であり、且つ、第1の面11aに略平行する面
である。また、アイレット11の第1の面11aの反対
側の面(以下、第3の面)11cには、所定の深さD
(例えばDは切削深度を越える値)の凹部11dが形成
されている。この凹部11dは望ましくはキャップ16
の開口面積と同等かまたは少ない開口面積をもってお
り、且つ、その開口形状はキャップ16の開口形状とほ
ぼ相似している。なお、図1では凹部11dの底面を直
線的に表現しているが、必ずしも平らである必要はな
く、多少の凹凸があっても構わない。
【0016】このような構造のパッケージ10におい
て、プレス成型後のアイレット11は、熱的強さ及び機
械的強さを高めるために鍛造加工されるが、この加工に
よって反り等の永久的変形を生じることがある。かかる
変形は、前述したように、キャップシール時の機械的応
力による電子部品12へのストレス要因となるので好ま
しくない。本実施例の対策1 従来と同様に、仮想線L3 で示すようにアイレット11
の下面を切削加工して平坦化する。本実施例では、アイ
レット11の下面に凹部11dを形成したので、切削面
積が少なくて済み、十分な平坦度を容易に出すことがで
きる。これは、アイレット11の下面のうち、凹部11
dの開口面を除く面だけが、切削加工の対象面となるか
らである。本実施例の対策2 特に対策はとらない。変形したままのアイレット11を
用いてキャップシールを行う。すなわち、凹部11dが
形成されたアイレット11には、その凹部11dの隅と
第2の面11bの内縁部との間に薄肉部分(図1の
「ハ」参照)が形成されるため、この部分の剛性が低下
する。従って、キャップシール時の機械的応力がその剛
性低下部分すなわち薄肉部分「ハ」で吸収されるから、
かかる吸収作用が十分であれば、切削加工をしなくても
電子部品12へのストレスを回避できる。
て、プレス成型後のアイレット11は、熱的強さ及び機
械的強さを高めるために鍛造加工されるが、この加工に
よって反り等の永久的変形を生じることがある。かかる
変形は、前述したように、キャップシール時の機械的応
力による電子部品12へのストレス要因となるので好ま
しくない。本実施例の対策1 従来と同様に、仮想線L3 で示すようにアイレット11
の下面を切削加工して平坦化する。本実施例では、アイ
レット11の下面に凹部11dを形成したので、切削面
積が少なくて済み、十分な平坦度を容易に出すことがで
きる。これは、アイレット11の下面のうち、凹部11
dの開口面を除く面だけが、切削加工の対象面となるか
らである。本実施例の対策2 特に対策はとらない。変形したままのアイレット11を
用いてキャップシールを行う。すなわち、凹部11dが
形成されたアイレット11には、その凹部11dの隅と
第2の面11bの内縁部との間に薄肉部分(図1の
「ハ」参照)が形成されるため、この部分の剛性が低下
する。従って、キャップシール時の機械的応力がその剛
性低下部分すなわち薄肉部分「ハ」で吸収されるから、
かかる吸収作用が十分であれば、切削加工をしなくても
電子部品12へのストレスを回避できる。
【0017】第2実施例 図2は本発明に係る電子部品用パッケージの第2実施例
(請求項2に記載の発明の一実施例)を示す図である。
図2(a)において、20はパッケージであり、パッケ
ージ20は、アイレット(金属ベース)21の上面(以
下、第1の面)21aに、例えば半導体圧力センサ等の
電子部品22を載置し、アイレット21の貫通穴にガラ
ス23によってアイレット21と絶縁されたリード24
を挿入し、このリード24と電子部品22との間をワイ
ヤ(図示略)で接続した後、金属性のキャップ(例えば
図1の符号16参照)を被せ、加圧を伴う手段、例えば
電気抵抗溶接によってキャップとアイレット21の間を
接合して組み立てられる。
(請求項2に記載の発明の一実施例)を示す図である。
図2(a)において、20はパッケージであり、パッケ
ージ20は、アイレット(金属ベース)21の上面(以
下、第1の面)21aに、例えば半導体圧力センサ等の
電子部品22を載置し、アイレット21の貫通穴にガラ
ス23によってアイレット21と絶縁されたリード24
を挿入し、このリード24と電子部品22との間をワイ
ヤ(図示略)で接続した後、金属性のキャップ(例えば
図1の符号16参照)を被せ、加圧を伴う手段、例えば
電気抵抗溶接によってキャップとアイレット21の間を
接合して組み立てられる。
【0018】溶接箇所は、第1実施例と同様に、キャッ
プの鍔部下面(図1の符号16a参照)と、アイレット
21の周縁部上面(以下、第2の面)21bの間であ
り、シリーズ溶接によって接合される。ここで、アイレ
ット21の下面、すなわち第1の面21aの反対側の面
(以下、第3の面21c)には、凹部21dが形成され
ている。本第2実施例のポイントは、この凹部21dの
内壁面21eと、アイレット21(の胴部)の外周面2
1fとを面方向で略一致させたことにある。
プの鍔部下面(図1の符号16a参照)と、アイレット
21の周縁部上面(以下、第2の面)21bの間であ
り、シリーズ溶接によって接合される。ここで、アイレ
ット21の下面、すなわち第1の面21aの反対側の面
(以下、第3の面21c)には、凹部21dが形成され
ている。本第2実施例のポイントは、この凹部21dの
内壁面21eと、アイレット21(の胴部)の外周面2
1fとを面方向で略一致させたことにある。
【0019】すなわち、このように構成すると、凹部2
1dのコーナー部分、言い替えれば、凹部21dの内壁
面21eとアイレット21の外周面21fとに挟まれた
部分の肉厚が薄くなり、当該部分の剛性を周囲よりも低
くすることができるから、キャップシール時の応力変形
をこの低剛性部分で積極的かつ効果的に吸収でき、切削
加工を行うことなく、電子部品12へのストレスを回避
できる。
1dのコーナー部分、言い替えれば、凹部21dの内壁
面21eとアイレット21の外周面21fとに挟まれた
部分の肉厚が薄くなり、当該部分の剛性を周囲よりも低
くすることができるから、キャップシール時の応力変形
をこの低剛性部分で積極的かつ効果的に吸収でき、切削
加工を行うことなく、電子部品12へのストレスを回避
できる。
【0020】なお、凹部21dの内壁面21eは、例え
ば、図2(b)に示すように傾斜していてもよいし、あ
るいは、図2(c)に示すようにコーナーにRを付けて
もよい。第3実施例 図3は本発明に係る電子部品用パッケージの第3実施例
(請求項3に記載の発明の一実施例)を示す図である。
ば、図2(b)に示すように傾斜していてもよいし、あ
るいは、図2(c)に示すようにコーナーにRを付けて
もよい。第3実施例 図3は本発明に係る電子部品用パッケージの第3実施例
(請求項3に記載の発明の一実施例)を示す図である。
【0021】図3において、30はパッケージであり、
パッケージ30は、アイレット(金属ベース)31の上
面(以下、第1の面)31aに、例えば半導体圧力セン
サ等の電子部品32を載置し、アイレット31の貫通穴
にガラス33によってアイレット31と絶縁されたリー
ド34を挿入し、このリード34と電子部品32との間
をワイヤ(図示略)で接続した後、金属性のキャップ
(例えば図1の符号16参照)を被せ、加圧を伴う手
段、例えば電気抵抗溶接によってキャップとアイレット
31の間を接合して組み立てられる。
パッケージ30は、アイレット(金属ベース)31の上
面(以下、第1の面)31aに、例えば半導体圧力セン
サ等の電子部品32を載置し、アイレット31の貫通穴
にガラス33によってアイレット31と絶縁されたリー
ド34を挿入し、このリード34と電子部品32との間
をワイヤ(図示略)で接続した後、金属性のキャップ
(例えば図1の符号16参照)を被せ、加圧を伴う手
段、例えば電気抵抗溶接によってキャップとアイレット
31の間を接合して組み立てられる。
【0022】溶接箇所は、第1及び第2実施例と同様
に、キャップの鍔部下面(図1の符号16a参照)と、
アイレット31の周縁部上面(以下、第2の面)31b
の間であり、シリーズ溶接によって接合される。ここ
で、アイレット31の下面、すなわち第1の面31aの
反対側の面(以下、第3の面31c)には、凹部31d
が形成されている。本第3実施例のポイントは、この凹
部31dの内壁面31eに続く底面31fを溝状に一段
深く掘り下げたことにある。
に、キャップの鍔部下面(図1の符号16a参照)と、
アイレット31の周縁部上面(以下、第2の面)31b
の間であり、シリーズ溶接によって接合される。ここ
で、アイレット31の下面、すなわち第1の面31aの
反対側の面(以下、第3の面31c)には、凹部31d
が形成されている。本第3実施例のポイントは、この凹
部31dの内壁面31eに続く底面31fを溝状に一段
深く掘り下げたことにある。
【0023】このような構成によっても、凹部31dの
コーナー部分、言い替えれば、凹部31dの掘り下げた
底面31fとアイレット31の外周面31gとに挟まれ
た部分の肉厚が薄くなり、当該部分の剛性を周囲よりも
低くすることができるから、上記第2実施例と同様に、
キャップシール時の応力変形をこの低剛性部分で積極的
かつ効果的に吸収でき、切削加工を行うことなく、電子
部品32へのストレスを回避できる。
コーナー部分、言い替えれば、凹部31dの掘り下げた
底面31fとアイレット31の外周面31gとに挟まれ
た部分の肉厚が薄くなり、当該部分の剛性を周囲よりも
低くすることができるから、上記第2実施例と同様に、
キャップシール時の応力変形をこの低剛性部分で積極的
かつ効果的に吸収でき、切削加工を行うことなく、電子
部品32へのストレスを回避できる。
【0024】第4実施例 図4は本発明に係る電子部品用パッケージの第4実施例
(請求項4に記載の発明の一実施例)を示す図である。
図4において、40はパッケージであり、パッケージ4
0は、アイレット(金属ベース)41の上面(以下、第
1の面)41aに、例えば半導体圧力センサ等の電子部
品42を載置し、アイレット41の貫通穴にガラス43
によってアイレット41と絶縁されたリード44を挿入
し、このリード44と電子部品42との間をワイヤ(図
示略)で接続した後、金属性のキャップ(例えば図1の
符号16参照)を被せ、加圧を伴う手段、例えば電気抵
抗溶接によってキャップとアイレット41の間を接合し
て組み立てられる。
(請求項4に記載の発明の一実施例)を示す図である。
図4において、40はパッケージであり、パッケージ4
0は、アイレット(金属ベース)41の上面(以下、第
1の面)41aに、例えば半導体圧力センサ等の電子部
品42を載置し、アイレット41の貫通穴にガラス43
によってアイレット41と絶縁されたリード44を挿入
し、このリード44と電子部品42との間をワイヤ(図
示略)で接続した後、金属性のキャップ(例えば図1の
符号16参照)を被せ、加圧を伴う手段、例えば電気抵
抗溶接によってキャップとアイレット41の間を接合し
て組み立てられる。
【0025】溶接箇所は、第1、第2及び第3実施例と
同様に、キャップの鍔部下面(図1の符号16a参照)
と、アイレット41の周縁部上面(以下、第2の面)4
1bの間であり、シリーズ溶接によって接合される。こ
こで、アイレット41の第2の面41bの裏面(以下、
第4の面41c)には、微小突起(突起)41dが形成
されており、この微小突起41dは、アイレット41の
周方向に沿って連続している。
同様に、キャップの鍔部下面(図1の符号16a参照)
と、アイレット41の周縁部上面(以下、第2の面)4
1bの間であり、シリーズ溶接によって接合される。こ
こで、アイレット41の第2の面41bの裏面(以下、
第4の面41c)には、微小突起(突起)41dが形成
されており、この微小突起41dは、アイレット41の
周方向に沿って連続している。
【0026】このような構成によれば、アイレット41
の第2の面41bに略垂直方向に作用するキャップシー
ル時の加圧力Fを、微小突起41dの変形(つぶれ)に
よって積極的に吸収することができ、切削加工を行うこ
となく、電子部品42へのストレスを回避できる。な
お、実施例では、微小突起41dをアイレット41の周
方向に沿って連続させているが、例えば、アイレット4
1とキャップとの間の気密溶接に支障がなければ、切れ
込みがあっても構わない。すなわち、アイレット41の
周方向に沿って「突起」の大部分が連続していればよ
い。
の第2の面41bに略垂直方向に作用するキャップシー
ル時の加圧力Fを、微小突起41dの変形(つぶれ)に
よって積極的に吸収することができ、切削加工を行うこ
となく、電子部品42へのストレスを回避できる。な
お、実施例では、微小突起41dをアイレット41の周
方向に沿って連続させているが、例えば、アイレット4
1とキャップとの間の気密溶接に支障がなければ、切れ
込みがあっても構わない。すなわち、アイレット41の
周方向に沿って「突起」の大部分が連続していればよ
い。
【0027】また、微小突起41dをアイレット41の
周方向に沿って多重に形成すると、電極の接触抵抗を低
減して溶接効率を向上できるので好ましい。
周方向に沿って多重に形成すると、電極の接触抵抗を低
減して溶接効率を向上できるので好ましい。
【0028】
【発明の効果】本発明によれば、切削面積を少なくして
十分な平坦度を容易に出すことができ、加工コストを低
減できる。あるいは、部分的に剛性の低い部分を作って
キャップシール時の機械的応力を積極的に吸収でき、切
削加工そのものを不要にできる。
十分な平坦度を容易に出すことができ、加工コストを低
減できる。あるいは、部分的に剛性の低い部分を作って
キャップシール時の機械的応力を積極的に吸収でき、切
削加工そのものを不要にできる。
【図1】第1実施例の断面図である。
【図2】第2実施例の断面図である。
【図3】第3実施例の断面図である。
【図4】第4実施例の断面図である。
【図5】従来例の部分断面外観図である。
【図6】従来例の接合状態図である。
【図7】変形を生じたアイレットの電気抵抗溶接時にお
ける状態図である。
ける状態図である。
11:アイレット 11a:第1の面 11b:第2の面 11c:第3の面 11d:凹部 12:電子部品 16:キャップ 16a:鍔部下面 21:アイレット 21a:第1の面 21b:第2の面 21c:第3の面 21d:凹部 21e:内壁面 21f:外周面 22:電子部品 31:アイレット 31a:第1の面 31b:第2の面 31c:第3の面 31d:凹部 31e:内壁面 31f:底面 32:電子部品 41:アイレット 41a:第1の面 41b:第2の面 41c:第4の面 41d:微小突起(突起) 42:電子部品
Claims (4)
- 【請求項1】電子部品(12)を載置する第1の面(1
1a)と、 該第1の面(11a)の周縁の下方に該第1の面(11
a)を取り囲んで略平行に延在する第2の面(11b)
とを有するアイレット(11)を備え、 前記第2の面(11b)とキャップ(16)の鍔部下面
(16a)とを、加圧を伴う手段により接合する電子部
品用パッケージにおいて、 前記アイレット(11)の第1の面(11a)の反対側
の面(第3の面11c)に、凹部(11d)を形成した
ことを特徴とする電子部品用パッケージ。 - 【請求項2】電子部品(22)を載置する第1の面(2
1a)と、 該第1の面(21a)の周縁の下方に該第1の面(21
a)を取り囲んで略平行に延在する第2の面(21b)
とを有するアイレット(21)を備え、 前記第2の面(21b)とキャップの鍔部下面とを、加
圧を伴う手段により接合する電子部品用パッケージにお
いて、 前記アイレット(21)の第1の面(21a)の反対側
の面(第3の面21c)に凹部(21d)を形成し、 該凹部(21d)の内壁面(21e)と前記アイレット
(21)の胴部の外周面(21f)とを面方向で略一致
させたことを特徴とする電子部品用パッケージ。 - 【請求項3】電子部品(32)を載置する第1の面(3
1a)と、 該第1の面(31a)の周縁の下方に該第1の面(31
a)を取り囲んで略平行に延在する第2の面(31b)
とを有するアイレット(31)を備え、 前記第2の面(31b)とキャップの鍔部下面とを、加
圧を伴う手段により接合する電子部品用パッケージにお
いて、 前記アイレット(31)の第1の面(31a)の反対側
の面(第3の面31c)に凹部(31d)を形成し、 該凹部(31d)の内壁面(31e)に続く底面(31
f)を一段深く掘り下げたことを特徴とする電子部品用
パッケージ。 - 【請求項4】電子部品(42)を載置する第1の面(4
1a)と、 該第1の面(41a)の周縁の下方に該第1の面(41
a)を取り囲んで略平行に延在する第2の面(41b)
とを有するアイレット(41)を備え、 前記第2の面(41b)とキャップの鍔部下面とを、加
圧を伴う手段により接合する電子部品用パッケージにお
いて、 前記アイレット(41)の第2の面(41b)の反対側
の面(第4の面41c)に、 アイレット(41)の周方向に沿って突起(41d)を
形成したことを特徴とする電子部品用パッケージ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28830492A JPH0629418A (ja) | 1992-05-14 | 1992-10-27 | 電子部品用パッケージ |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12179692 | 1992-05-14 | ||
JP4-121796 | 1992-05-14 | ||
JP28830492A JPH0629418A (ja) | 1992-05-14 | 1992-10-27 | 電子部品用パッケージ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0629418A true JPH0629418A (ja) | 1994-02-04 |
Family
ID=26459072
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP28830492A Pending JPH0629418A (ja) | 1992-05-14 | 1992-10-27 | 電子部品用パッケージ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0629418A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100370878B1 (ko) * | 1999-04-16 | 2003-02-05 | 가부시키가이샤 아드반테스트 | 프로브 카드 및 이의 제조 방법 |
EP1513182A2 (en) | 2003-09-02 | 2005-03-09 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Phosphor, method of manufacturing it and plasma display panel containing this phosphor |
-
1992
- 1992-10-27 JP JP28830492A patent/JPH0629418A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100370878B1 (ko) * | 1999-04-16 | 2003-02-05 | 가부시키가이샤 아드반테스트 | 프로브 카드 및 이의 제조 방법 |
EP1513182A2 (en) | 2003-09-02 | 2005-03-09 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Phosphor, method of manufacturing it and plasma display panel containing this phosphor |
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