JPH0628758U - プリント基板検査装置における被検査基板の撓み矯正機構 - Google Patents

プリント基板検査装置における被検査基板の撓み矯正機構

Info

Publication number
JPH0628758U
JPH0628758U JP6706692U JP6706692U JPH0628758U JP H0628758 U JPH0628758 U JP H0628758U JP 6706692 U JP6706692 U JP 6706692U JP 6706692 U JP6706692 U JP 6706692U JP H0628758 U JPH0628758 U JP H0628758U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
inspected
substrate
printed circuit
circuit board
fixed
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP6706692U
Other languages
English (en)
Inventor
秀雄 日置
充 甘利
Original Assignee
日置電機株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 日置電機株式会社 filed Critical 日置電機株式会社
Priority to JP6706692U priority Critical patent/JPH0628758U/ja
Publication of JPH0628758U publication Critical patent/JPH0628758U/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 フィクスチュアーを具備しないプリント基板
検査装置によりプリント基板を検査しようとする際に発
生する被検査基板の撓みを効果的に矯正する。 【構成】 プリント基板を搬送して被検査基板Pとして
定置させる搬送部11と、定置させた被検査基板Pを検
査するコンタクトプローブCと、前記搬送部11との間
で被検査基板Pを固定保持する可動支持部14とを少な
くとも備えた装置本体と、定置された被検査基板Pの下
方にて装置本体の側に固定して水平配置される鉄板材1
5と、この鉄板材15上に磁着させて被検査基板Pの制
御された押上げを自在に配置される複数個の昇降制御手
段16とで構成され、可動支持部14に保持させて搬送
部11に定置させた被検査基板Pに対しては、昇降制御
手段16により押上げ制御することでその撓みの矯正を
可能とした。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
この考案はプリント基板検査装置における被検査基板の撓み矯正機構に係り、 さらに詳しくは、フィクスチュアーを具備しないプリント基板検査装置を用いて プリント基板を検査しようとする際に発生する被検査基板の撓みを効果的に矯正 することができるプリント基板検査装置における被検査基板の撓み矯正機構に関 する。
【0002】
【従来の技術】
プリント基板検査装置のなかにはフィクスチュアーを具備しないものもあり、 このようなフィクスチュアーレスタイプの装置を用いてプリント基板検査を行う 場合には、定置させた被検査基板に撓みが生ずるとコンタクトプローブを検査対 象部位に正確に接触させることができなくなり、結果的にプリント基板の検査を 正しく行うことができなくなる不具合があった。そして、このような撓みが発生 する傾向は検査対象であるプリント基板の表面積が大きくなればなるほど顕著な ものとなってきていた。
【0003】 このため、この種のプリント基板検査装置においては、定置させた被検査基板 に発生する撓みを矯正することができる機構が組み込まれている例が多い。
【0004】 図3と図4とは、定置させた被検査基板に発生する撓みを矯正するために従来 から採用されている機構の一例を示す説明図であり、そのうち、図3は定置させ た被検査基板Pに撓みが発生している状態を、図4はその矯正時における状態を それぞれ示すものであり、装置本体の搬送レール1上に定置された被検査基板P に対しては、その下方に配設されている撓み矯正機構2が作動して撓みを矯正す ることができるようになっている。なお、搬送レール1上に定置された被検査基 板Pは、図示を省略した可動支持部により挟持固定されるようになっている。
【0005】 この場合における撓み矯正機構2は、エアシリンダ部5aによりピストンロッ ド部5bの昇降が制御されて装置本体の側に固定配置されている昇降制御部3と 、この昇降制御部3に支持されて被検査基板Pを押し上げることができる撓み矯 正部7とで構成されている。
【0006】 このうち、昇降制御部3は、装置本体に固定されている支持板4に固設された エアシリンダ部5aによりピストンロッド部5bを昇降させる昇降部5と、同じ 支持板4に配設されて撓み矯正部7の水平性を確保するための複数本のガイド用 ロッド部6とで構成されている。
【0007】 また、撓み矯正部7は、昇降制御部3におけるピストンロッド部5bを介する ことで昇降支持されながらガイド用ロッド部6により案内される鉄板材8と、こ の鉄板材8の適宜の位置にマグネット部9aを介して磁着させて配置される支杆 材9とで構成されている。
【0008】 従来からあるこのような撓み矯正機構2によれば、図3の状態にある定置させ た被検査基板Pに対しては、図4に示すようにガイド用ロッド部6に案内させな がらピストンロッド部5bを上昇させることで、鉄板材8と共に支杆材9も上昇 し、上昇した支杆材9が被検査基板PをコンタクトプローブCに接触する位置に まで押し上げ、その撓みを矯正することができるようになっている。
【0009】
【考案が解決しようとする課題】
ところで、従来からある上記撓み矯正機構2を用いても被検査基板Pの撓みを 矯正することはできる。
【0010】 しかし、撓みを矯正するための機構の全体が大がかりなものとなるためコスト 高を招くほか、鉄板材8自体を昇降させる構造が採用されているため、被検査基 板Pと間の位置精度が出しずらくなる不具合があった。
【0011】 また、昇降制御部3を構成しているエアシリンダ部5aは、単体構造であるた めその押圧力も比較的大きなものが必要になることから、支杆材9の位置が正確 にセットされていない場合には被検査基板Pを損傷させる不都合もあった。
【0012】
【課題を解決するための手段】
この考案は従来技術にみられた上記課題に鑑みてなされたものであり、その構 成上の特徴は、プリント基板を搬送して被検査基板として定置させる搬送部と、 定置させた被検査基板を検査するコンタクトプローブと、前記搬送部との間で被 検査基板を固定保持する可動支持部とを少なくとも備えた装置本体と、定置され た被検査基板の下方にて装置本体の側に固定して水平配置される鉄板材と、この 鉄板材上に磁着させて被検査基板の制御された押上げを自在に配置される複数個 の昇降制御手段とで構成され、可動支持部に保持させて搬送部に定置させた被検 査基板に対しては、昇降制御手段により押上げ制御することでその撓みの矯正を 可能としたことにある。
【0013】
【作用】
このため、可動支持部により固定保持されながら自重のため撓んで搬送部に定 置されている被検査基板は、鉄板材上に磁着させることで好ましい適宜の位置に 自由に配置することができる昇降制御手段により押上げ制御することができるの で、撓みを矯正した被検査基板に対しコンタクトプローブを確実に押し当てなが ら正確に検査することができる。
【0014】
【実施例】
以下、図面に基づいてこの考案の実施例を説明する。
【0015】 図1と図2とは、この考案の一実施例を示す説明図であり、そのうち、図1は 定置させた被検査基板Pに撓みが発生している非検査時における状態を、図2は 撓みを矯正した検査時における状態をそれぞれ示すものである。
【0016】 これらの図によれば、装置本体は、プリント基板を搬送して被検査基板Pとし て定置させる搬送部11と、定置させた被検査基板Pを検査するコンタクトプロ ーブCと、前記搬送部11との間で被検査基板Pを固定保持する可動支持部14 とを少なくとも備えて形成されている。
【0017】 このうち、搬送部11は、平行な所定間隔のもとで隔置して装置本体に水平に 配設されている一対の搬送用レール12と、これらの搬送用レール12,12の それぞれに配置されているチェーンやベルトなどからなる無端搬送手段13,1 3とで形成されている。
【0018】 また、コンタクトプローブCは、適宜の必要本数だけ用意されるものであり、 図示しない自動制御された、もしくは自動制御されていない適宜の昇降手段によ り定置された被検査基板Pへの同時接触が可能となって配設されている。
【0019】 さらに、可動支持部14は、搬送部11における無端搬送手段13上の位置に て被検査基板Pを固定保持するためのものであり、昇降自在に形成された支腕部 14aと、この支腕部14aの先端側に設けられている固定部14bとで形成さ れており、この固定部14bを被検査基板Pに押し当てることで搬送部11との 間で被検査基板Pを固定保持できるようになっている。
【0020】 一方、このようにして形成されている装置本体には、定置された被検査基板P の下方にて固定された鉄板材15が水平配置されており、この鉄板材15上には 、被検査基板Pの制御された押上げを自在とした複数個の昇降制御手段16が磁 着配置されており、これらの昇降制御手段16により可動支持部14に保持させ て搬送部11の側に定置させた被検査基板Pを押上げ制御することでその撓みの 矯正が可能に形成されている。
【0021】 このうち、昇降制御手段16は、基底部に配置されたマグネット部17と、こ のマグネット部17上に立設されたエアシリンダ部18と、このエアシリンダ部 18にその進退を自在にして組み込まれているピストンロッド部19とで形成さ れており、このピストンロッド19の先端部には、その頂端部に当接部21を進 退自在に螺着させた螺杆材20が付設されている。なお、螺杆材20の頂端部に 螺合配置される当接部21は、ロック用ナット材22と、このロック用ナット材 22に固着させて被検査基板Pに圧接されるキャップ部23とで形成するのが好 ましい。
【0022】 この場合、昇降制御手段16を構成しているエアシリンダ部18のそれぞれは 、個々の動作を個別的に選択して行わせる必要がない場合には一個の電磁弁によ りエアーチューブ24をエアシリンダ部18の数だけ分岐させた集中制御方式に より一括して制御することができる。
【0023】 また、個々のエアシリンダ部18の動作を個別的に選択して行わせる必要があ る場合には、個々のエアシリンダ部18に対応させて電磁弁を個別に配置した独 立制御方式により各個分離して制御するようにしてもよい。
【0024】 この考案は上述したようにして構成されているので、搬送部11における無反 搬送手段13上に載置されて装置本体に定置された被検査基板Pは、可動支持部 14における固定部14aを当接させることで無反搬送手段13との間に固定保 持させることができる。
【0025】 このようにして装置本体の側に固定保持された被検査基板Pに対しては、鉄板 材15上に磁着させることで好ましい適宜の位置に配置されている昇降制御手段 16を作動させることでそのピストンロッド部19を上昇させ、当接部21を自 重のため撓んだ状態にある被検査基板Pに当接させてこれを押上げ制御すること ができる。
【0026】 したがって、搬送用レール12,12間で自重により撓んだ状態にある被検査 基板Pは、可動支持部14の固定部14aに固定されながらピストンロッド部1 9に突き上げられてその撓みが矯正されることから、被検査基板Pに対しコンタ クトプローブCを確実に押し当てて必要な検査を正確に行うことができる。
【0027】 しかも、昇降制御手段16は、鉄板材15上に複数個配置されるので、個々が 備えなければならない押圧力を相対的に弱く抑えることができ、したがって被検 査基板Pへの損傷を極力回避させることができる。
【0028】 また、昇降制御手段16を集中制御方式とするか独立制御方式とするかの選択 もプリント基板検査装置の機種切替やプリント基板Pの種類に応じて適宜行うこ とができるので、作業の段取りを柔軟かつ的確につけることができる。
【0029】
【考案の効果】
以上述べたようにこの考案によれば、可動支持部により固定保持されながら自 重のため撓んで搬送部に定置されている被検査基板は、鉄板材上に磁着させるこ とで好ましい適宜の位置に自由に配置することができる昇降制御手段により押上 げ制御することができるので、撓みを矯正した被検査基板に対しプローブピンを 確実に押し当てながら正確に検査することができる。
【0030】 しかも、定置させた被検査基板の撓みを矯正するための昇降制御手段は鉄板材 上に個別に磁着させることで配置することができるので、撓み矯正のための全体 構造を単純化することができるほか、機種切替え等の環境変化にも柔軟に対処す ることができる。
【0031】 また、昇降制御手段が載置される鉄板材は、装置本体の側に固定して正確に水 平配置することができるので、被検査基板との間の位置精度の設定も比較的容易 に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この考案の一実施例を非検査時の状態のもとで
示す説明図。
【図2】この考案の一実施例を検査時の状態のもとで示
す説明図。
【図3】従来例を非検査時の状態のもとで示す説明図。
【図4】従来例を検査時の状態のもとで示す説明図。
【符号の説明】
11 搬送部 12 搬送用レール 13 無端搬送手段 14 可動支持部 14a 支腕部 14b 固定部 15 鉄板材 16 昇降制御手段 17 マグネット材 18 エアシリンダー部 19 ピストンロッド部 20 螺杆材 21 当接部 22 ロック用ナット材 23 キャップ部 24 エアーチューブ

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 プリント基板を搬送して被検査基板とし
    て定置させる搬送部と、定置させた被検査基板を検査す
    るコンタクトプローブと、前記搬送部との間で被検査基
    板を固定保持する可動支持部とを少なくとも備えた装置
    本体と、定置された被検査基板の下方にて装置本体の側
    に固定して水平配置される鉄板材と、この鉄板材上に磁
    着させて被検査基板の制御された押上げを自在に配置さ
    れる複数個の昇降制御手段とで構成され、可動支持部に
    保持させて搬送部に定置させた被検査基板に対しては、
    昇降制御手段により押上げ制御することでその撓みの矯
    正を可能としたことを特徴とするプリント基板検査装置
    における被検査基板の撓み矯正機構。
JP6706692U 1992-09-01 1992-09-01 プリント基板検査装置における被検査基板の撓み矯正機構 Pending JPH0628758U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6706692U JPH0628758U (ja) 1992-09-01 1992-09-01 プリント基板検査装置における被検査基板の撓み矯正機構

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6706692U JPH0628758U (ja) 1992-09-01 1992-09-01 プリント基板検査装置における被検査基板の撓み矯正機構

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0628758U true JPH0628758U (ja) 1994-04-15

Family

ID=13334107

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP6706692U Pending JPH0628758U (ja) 1992-09-01 1992-09-01 プリント基板検査装置における被検査基板の撓み矯正機構

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0628758U (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08261944A (ja) * 1995-03-20 1996-10-11 Sony Corp 網形状物保持装置
JP2002296327A (ja) * 2001-03-30 2002-10-09 Nec Corp 回路基板の検査用治具、検査方法、および製造方法
JP2014127478A (ja) * 2012-12-25 2014-07-07 Hioki Ee Corp 基板支持装置および基板検査装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08261944A (ja) * 1995-03-20 1996-10-11 Sony Corp 網形状物保持装置
JP2002296327A (ja) * 2001-03-30 2002-10-09 Nec Corp 回路基板の検査用治具、検査方法、および製造方法
JP2014127478A (ja) * 2012-12-25 2014-07-07 Hioki Ee Corp 基板支持装置および基板検査装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2008063020A (ja) 基板搬送装置およびそれを用いた基板検査システム
KR101424017B1 (ko) 기판 검사 장치
CN110211889B (zh) 检查系统
KR100664777B1 (ko) 부품실장장치 및 부품실장방법
US8674712B2 (en) Apparatus for driving placing table
JPH0628758U (ja) プリント基板検査装置における被検査基板の撓み矯正機構
JP2006190816A (ja) 検査装置および検査方法
JP2008230731A (ja) ワーク検査装置のワーク位置決め方法、ワーク搬送パレット、環境試験装置および環境試験システム
KR20140115967A (ko) 판형상 피반송물의 수도 방법, 수도 장치 및 패턴 형성 장치
KR102514951B1 (ko) 불량 기판 자동 마킹 시스템
US11141970B2 (en) Screen printing device
JP2007139516A (ja) 点灯検査装置
KR100354103B1 (ko) 액정디스플레이패널 검사장치의 패널수평반송장치
CN110018412B (zh) 搬运机构可调的基板检查装置
JPH06230061A (ja) 回路基板検査機の基板矯正方法
JP3335187B2 (ja) 被検査プリント基板の搬送機構
KR100209240B1 (ko) 평면브라운관의 마스크 용접 장치 및 방법
US11940482B2 (en) Inspection device
JP2006188313A (ja) 基板搬送装置及び基板検査装置
KR20050084137A (ko) 누름부재 및 전자부품 핸들링 장치
JPH08292228A (ja) Icデバイスの試験装置
JPH08307099A (ja) 基板位置決め用治具機構
JPH0627252A (ja) 被処理体の位置合わせ装置
JPH05113466A (ja) Icデバイスの試験測定装置
JPH09171048A (ja) プリント基板検査装置