JPH0628288B2 - Linear semiconductor integrated circuit - Google Patents

Linear semiconductor integrated circuit

Info

Publication number
JPH0628288B2
JPH0628288B2 JP63173011A JP17301188A JPH0628288B2 JP H0628288 B2 JPH0628288 B2 JP H0628288B2 JP 63173011 A JP63173011 A JP 63173011A JP 17301188 A JP17301188 A JP 17301188A JP H0628288 B2 JPH0628288 B2 JP H0628288B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
mat
semiconductor
mixing
block
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP63173011A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH0223637A (en
Inventor
和男 冨塚
栄 菅山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sanyo Electric Co Ltd
Original Assignee
Sanyo Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sanyo Electric Co Ltd filed Critical Sanyo Electric Co Ltd
Priority to JP63173011A priority Critical patent/JPH0628288B2/en
Publication of JPH0223637A publication Critical patent/JPH0223637A/en
Publication of JPH0628288B2 publication Critical patent/JPH0628288B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Description

【発明の詳細な説明】 (イ)産業上の利用分野 本発明は、半導体集積回路に関し、特にカスタムICの
要求に答えられる様に、機種展開の容易なパターン・レ
イアウトに関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (a) Field of Industrial Application The present invention relates to a semiconductor integrated circuit, and more particularly to a pattern layout that can be easily developed in a model so as to meet the demand of a custom IC.

(ロ)従来の技術 近年、半導体集積回路には増々多機能・高集積・多様化
してきており、第5図に示すFM/AMチューナ回路も
1チップ化の方向へ進んでいる。
(B) Conventional Technology In recent years, semiconductor integrated circuits have become more multifunctional, highly integrated, and diversified, and the FM / AM tuner circuit shown in FIG. 5 is also being integrated into one chip.

同図において、(1)はFM放送を選局しその受信周波数
信号と局部発振回路(2)の発振周波数信号とを混合回路
(3)で混合することにより中間周波数に周波数変換する
FMフロントエンド回路、(4)は中間周波数信号(IF
信号)増幅・振幅制限し且つこれを検波しオーディオ信
号(AF信号)を得るFM・IF増幅回路、(5)は例え
ば特公昭62−21461号に記載されているが如き機
能を有するノイズキャンセル回路、(6)はステレオ放送
の場合にLチャンネル、Rチャンネル信号に復調するマ
ルチプレクス回路、(7)はAM放送を選局しオーディオ
信号を出力するAMチューナ回路である。(8)はアンテ
ナ、(9)はRF増幅回路、(10)は出力端子である。
In the figure, (1) is a circuit for selecting an FM broadcast and mixing the received frequency signal with the oscillation frequency signal of the local oscillation circuit (2).
An FM front end circuit that converts the frequency to an intermediate frequency by mixing in (3), and (4) is an intermediate frequency signal (IF
FM / IF amplifier circuit which obtains an audio signal (AF signal) by amplifying / amplifying signal) and detecting it, and (5) is a noise canceling circuit having a function as described in Japanese Patent Publication No. 62-21461. , (6) is a multiplex circuit for demodulating into L channel and R channel signals in the case of stereo broadcasting, and (7) is an AM tuner circuit for selecting AM broadcasting and outputting an audio signal. (8) is an antenna, (9) is an RF amplifier circuit, and (10) is an output terminal.

一般に、特開昭59−84542号公報(H01L 21/
76)の如く、上記FM/AMチューナ回路の様に複数個
の回路ブロックを同一の半導体基板上に形成する半導体
集積回路技術は、第6図の構成となっている。
Generally, JP-A-59-84542 (H01L 21 /
As shown in 76), the semiconductor integrated circuit technology for forming a plurality of circuit blocks on the same semiconductor substrate like the FM / AM tuner circuit has the configuration shown in FIG.

第6図は、半導体チップ(101)の概略平面図であり、a
乃至fは回路ブロックを示す。これらの回路ブロック
は、夫々取り扱う周波数および信号レベルが異り、機能
も夫々異る。
FIG. 6 is a schematic plan view of the semiconductor chip (101).
Reference characters f to f denote circuit blocks. These circuit blocks have different frequencies and signal levels to be handled, and also have different functions.

この回路ブロックは、第7図の如くP-型の半導体基板
(102)上のN型の領域(103)に形成され、各回路ブロック
は、その周辺に隣接する高濃度のP+型の領域(104)によ
って区画されている。ここでブロックbとブロックcで
示してある。
This circuit block is a P - type semiconductor substrate as shown in FIG.
The circuit block is formed in the N-type region (103) on the (102), and each circuit block is partitioned by the high-concentration P + -type region (104) adjacent to the periphery thereof. Here, the blocks b and c are shown.

この区画用のP+型の領域(104)は、その一端をP-の半
導体基板(102)に接するとともに、他端は半導体表面の
酸化膜(105)を通してグランドライン(106)にオーミック
接続される。
One end of the P + type region (104) for partitioning is in contact with the P semiconductor substrate (102) and the other end is ohmic-connected to the ground line (106) through the oxide film (105) on the semiconductor surface. It

グランドライン(106)は、各ブロックから集積回路の中
央部にまとめて、左端にあるグランドボンディングパッ
ドGNDに延在されている。
The ground line (106) extends from each block in the central portion of the integrated circuit to the ground bonding pad GND at the left end.

次に各ブロック回路の電源ライン(Vcc)は、第6図に示
すように、集積回路の外周部にまとめ、夫々個別に電源
ボンディングパッドに接続される。
Next, the power supply line (V cc ) of each block circuit is gathered on the outer peripheral portion of the integrated circuit and individually connected to the power supply bonding pad, as shown in FIG.

一方、回路ブロックa乃至fは、機能が異るため、ブロ
ック内に存在する素子数が異り、ブロック・サイズが夫
々異ってしまう。
On the other hand, since the circuit blocks a to f have different functions, the number of elements existing in the block is different and the block sizes are different.

(ハ)発明が解決しようとする課題 前述の如く、回路ブロックa乃至fのサイズが異なるの
で、この回路ブロック全てを効率良く、半導体チップ(1
01)内に収めるためには、各回路ブロックの大きさが相
互的に働いてしまい、同一チップ内への集積を難しくし
ている問題があった。その為、第5図のFM/AMチュ
ーナ回路等は設計期間が極めて長くなる欠点があった。
(C) Problems to be Solved by the Invention As described above, since the circuit blocks a to f have different sizes, all of these circuit blocks can be efficiently used in the semiconductor chip (1
In order to fit in 01), there is a problem that the size of each circuit block interacts with each other, making integration on the same chip difficult. Therefore, the FM / AM tuner circuit shown in FIG. 5 has a drawback that the design period becomes extremely long.

また回路ブロックaを削除し、例えば特性を改良した別
の回路ブロックa′を入れたり、第5図の回路ブロック
構成に、更に別の機能を有する回路ブロックgを追加し
ようとした場合、各ブロックの大きさが異なるので全て
のパターンを作り直す必要があった。
If the circuit block a is deleted and another circuit block a'having improved characteristics is inserted, or a circuit block g having another function is added to the circuit block configuration of FIG. It was necessary to recreate all the patterns because the size of was different.

従って近年、製品の寿命が非常に短かくなって来ている
中で、ユーザの希望する独自回路を、あるチップ内に組
み込もうとすると、ユーザは短納期を希望するにもかか
わらず、回路パターンを作り直すために非常に長い納期
を必要としなければならない欠点を有していた。
Therefore, in recent years, when the life of the product has become extremely short, if the user wants to incorporate a unique circuit desired by a user into a certain chip, the user desires a short delivery time, but the circuit is short. It had the drawback of requiring a very long delivery time to recreate the pattern.

(ニ)課題を解決するための手段 本発明は、斯る課題に鑑みてなされ、区画ライン(17)で
半導体チップ(11)上面を実質的に同一のサイズの多数の
マットに分割し、複数の機能の異なる電子回路ブロック
を1つ以上の整数個のマット内に収納することにより、
従来の課題を解決すると共に、AMチューナ回路(7)の
局部発振回路(24)をダミーアイランド(33)で囲むことに
よりパターン設計が容易な半導体集積回路を提供するも
のである。
(D) Means for Solving the Problems The present invention has been made in view of the above problems, and divides the upper surface of the semiconductor chip (11) into a large number of mats of substantially the same size by the dividing line ( 17 ), By storing electronic circuit blocks with different functions in one or more integer mats,
It is intended to provide a semiconductor integrated circuit which solves the conventional problem and which can easily design a pattern by surrounding a local oscillation circuit (24) of an AM tuner circuit (7) with a dummy island (33).

(ホ)作 用 本発明に依れば、区画ライン(17)で半導体チップ(11)上
面を実質的に同一サイズの多数のマットに分割し、複数
の機能の異なる電子回路ブロックを整数個のマット内に
収容することにより、電子回路ブロック毎の設計を行え
且つ電子回路ブロックを一定の素子数で分割しマット毎
の設計が行える様になる。従って電子回路ブロック毎に
分割して並行設計が可能であり、設計期間の大幅短縮を
図れる。また回路変更も電子回路ブロック毎に且つマッ
ト毎に行えるので、IC全体の設計変更は不要となる。
(E) Operation According to the present invention, the upper surface of the semiconductor chip (11) is divided into a large number of mats having substantially the same size by the division line ( 17 ), and an electronic circuit block having a plurality of different functions is divided into an integer number. By accommodating in the mat, it is possible to design for each electronic circuit block and divide the electronic circuit block by a fixed number of elements to design for each mat. Therefore, it is possible to divide each electronic circuit block for parallel design, and it is possible to significantly reduce the design period. Further, the circuit can be changed for each electronic circuit block and for each mat, so that it is not necessary to change the design of the entire IC.

そして、AMチューナ回路(7)の局部発振回路(24)をダ
ミーアイランド(33)で囲んで干渉を防止することによ
り、局部発振回路(33)をマット(18)の任意の位置にレイ
アウトできるので、マット(18)による設計の容易さを損
わない。
The local oscillator circuit (24) of the AM tuner circuit (7) is surrounded by a dummy island (33) to prevent interference, so that the local oscillator circuit (33) can be laid out at any position on the mat (18). , The mat (18) does not impair the ease of design.

(ヘ)実施例 以下、本発明を図面を参照しながら詳細に説明する。(F) Example Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

左記にパターン設計を容易ならしめるマットについて第
2図を用いて説明する。同図において、半導体チップ(1
1)の中央にこれを略一直線で横切る分割領域(12)を形成
し、半導体チップ(11)の素子形成領域を実質的に上下同
一サイズの2つの領域に区画する。分割領域(12)は後述
するようにグランドライン(13)や電源ライン(14)を延在
させる為の必要不可避領域であり且つ回路素子を形成し
ない領域であって、分割領域(12)を形成することによ
り、区画した前記2つの領域を夫々第1と第2の領域(1
5)(16)とする。そして、分割領域(12)とは直交する方向
にグランドライン(13)と電源ライン(14)とを一組として
隣接させて延在させた区画ライン(17)を設け、該区画ラ
イン(17)を複数本並設することにより半導体チップ(11)
の表面を実質的に同一サイズの多数個のマット(18)に分
割する。マット(18)の大きさは任意の一定数の素子がレ
イアウトできる占有面積に設定し、その横幅は経験的に
NPNトランジスタ5〜6個を1列に並べられるような
横幅に設定する。
A mat which facilitates pattern design will be described with reference to FIG. 2 on the left. In the figure, the semiconductor chip (1
A divided region (12) is formed in the center of (1) so as to cross it in a substantially straight line, and the element forming region of the semiconductor chip (11) is divided into two regions of substantially the same size vertically. The divided region (12) is a necessary unavoidable region for extending the ground line (13) and the power supply line (14) as described later, and is a region in which no circuit element is formed, and the divided region (12) is formed. By doing so, the divided two areas are respectively divided into a first area and a second area ( 1
5 ) ( 16 ) The ground line in a direction perpendicular to the divided area (12) (13) and the power supply line (14) and were adjacent compartments lines extend (17) provided as a pair, the compartment lines (17) A semiconductor chip (11)
The surface of the mat is divided into a number of mats (18) of substantially the same size. The size of the mat (18) is set to an occupied area in which an arbitrary number of elements can be laid out, and the width thereof is empirically set so that 5 to 6 NPN transistors can be arranged in one row.

マット(18)の両側は区画ライン(17)を構成するグランド
ライン(13)と電源ライン(14)とをペアで延在させるの
で、それらを規則的に配列、例えば櫛歯状に相対向する
様に延在させることにより、マット(18)の1辺にはグラ
ンドライン(13)が、他辺には電源ライン(14)が夫々接す
るように延在させ、マット(18)に形成した回路素子に動
作電源を供給する。
On both sides of the mat (18), the ground line (13) and the power supply line (14) forming the division line ( 17 ) are extended in pairs, so that they are regularly arranged, for example, facing each other in a comb shape. Circuit formed on the mat (18) by extending so that the ground line (13) contacts one side of the mat (18) and the power supply line (14) contacts the other side of the mat (18). Supply operating power to the device.

区画ライン(17)を延在したグランドライン(13)と電源ラ
イン(14)は、各回路ブロック毎やそれらが共通インピー
ダンスを持つことを許可するか否かによりまとめられ、
分割領域(12)上を延在させて各々が対応するグランド電
極パッド(19)や電源電極パッド(20)に個別に接続され
る。結果、分割領域(12)上はグランドライン(13)と電源
ライン(14)が複数本延在し、且つ1本1本は配線インピ
ーダンスを低減する為比較的幅広に形成されるので、分
割領域(12)も当然比較的大占有面積を必要とする。
The ground line (13) and the power supply line (14) extending the division line ( 17 ) are grouped according to each circuit block and whether or not they have a common impedance,
The divided regions (12) are extended to be individually connected to the corresponding ground electrode pad (19) and power electrode pad (20). As a result, a plurality of ground lines (13) and power supply lines (14) extend over the divided area (12), and each one is formed relatively wide to reduce the wiring impedance. (12) naturally requires a relatively large occupied area.

区画ライン(17)を延在させるグランドライン(13)と電源
ライン(14)、分割領域(12)上を延在させるグランドライ
ン(13)と電源ライン(14)、及び各マット(18)内における
回路素子間の接続配線は、櫛歯状レイアウトを利用する
ことで基本的に第1層目配線層によって行う。第2層目
以降は区画ライン(17)や分割領域(12)を横断してマット
(18)間の信号伝達用配線やシールド電極(21)を形成する
のに主として用いる。
Ground line (13) and power supply line (14) that extend the partition line ( 17 ), ground line (13) and power supply line (14) that extend over the divided area (12), and in each mat (18) The connection wiring between the circuit elements in is basically performed by the first wiring layer by using a comb-shaped layout. From the second layer onwards, the mats are cut across the division line ( 17 ) and the divided area (12).
Mainly used to form signal transmission wiring between (18) and the shield electrode (21).

尚、分割領域(12)は時として各区画ライン(17)と平行に
も延在させる。これは、パッケージのピンと配列の要求
に対する電源電極パッド(20)とグランド電極パッド(19)
の位置的制約や、マット(18)または回路機能ブロックに
おいて特に離間したい関係がある場合に各マット(18)の
間に設ける。第2図においては、マットDとEの間が前
者の理由、マットMとNの間が後者の理由である。そし
て、前記平行に延在させた分割領域(12a)の終端付近に
設けた電源電極パッド(20)とグランド電極パッド(19)か
ら夫々電源ライン(14)とグランドライン(13)を引き廻
し、続いて前記半導体チップ(11)の中央を横切る分割領
域(12)の上を引き廻して各マット(18)内の回路素子に接
続する。
Incidentally, the divided area (12) sometimes extends in parallel with each division line ( 17 ). This is the power electrode pad (20) and ground electrode pad (19) for the package pin and array requirements.
It is provided between the mats (18) when there is a positional restriction or when there is a relationship in which the mats (18) or the circuit functional blocks are desired to be separated from each other. In FIG. 2, the area between the mats D and E is the former reason, and the area between the mats M and N is the latter reason. Then, the power supply line (14) and the ground line (13) are respectively drawn from the power supply electrode pad (20) and the ground electrode pad (19) provided near the ends of the divided regions (12a) extending in parallel, Then, the semiconductor chip (11) is routed over the divided region (12) which crosses the center of the semiconductor chip (11) and connected to the circuit elements in each mat (18).

この様に素子形成領域を多数個のマット(18)に分割した
半導体チップ(11)に機能別回路ブロックを納める場合、
各回路ブロックは以下の通りに収納する。
When the function-specific circuit block is stored in the semiconductor chip (11) in which the element formation region is divided into a number of mats (18) in this way,
Each circuit block is stored as follows.

先ずマット(18)が任意の一定の素子数を収納できるサイ
ズに設計されているので、前記回路ブロックを前記一定
の素子数に区分する。例えばマット(18)の大きさが10
0素子収納用で、前記回路ブロックが270素子程度な
らば、3個のマット(18)を用意して各々100素子を目
安に区分する。むろん、占有面積の大きなコンデンサ等
は考慮に入れる。そして、上記区分に従って各マット(1
8)毎に回路素子を収納し、マット(18)に収納したNPN
・PNPトランジスタ、ダイオード、抵抗、コンデンサ
等の回路素子間の接続配線を第1層目配線層で終了して
おく。これを繰り返して全てのマット(18)のパターン設
計を終えた後、前記3個のマット(18)を隣接して配置
し、第2層目以降の配線によって各マット(18)間の電気
的接続を行うことにより、機能別回路ブロックを構成す
る。そして、全ての回路ブロックをマット(18)に収納し
た後、全てのマット(18)を組み合せ、第2層目以降の配
線層により各回路ブロック間の電気的接続を行うことに
より全体のICを設計する。
First, since the mat 18 is designed to have a size capable of accommodating an arbitrary fixed number of elements, the circuit block is divided into the fixed number of elements. For example, the size of the mat (18) is 10
If 0 elements are to be stored and the circuit block has about 270 elements, three mats (18) are prepared and 100 elements each are divided. Of course, take into consideration capacitors that occupy a large area. Then, according to the above classification, each mat (1
8) Each circuit element is stored, and the NPN stored in the mat (18)
The connection wiring between circuit elements such as PNP transistors, diodes, resistors, capacitors, etc. is completed in the first wiring layer. After repeating the pattern design of all the mats (18) by repeating this, the three mats (18) are arranged adjacent to each other, and the electrical connection between the mats (18) is made by the wiring of the second and subsequent layers. By making the connections, functional circuit blocks are constructed. Then, after storing all the circuit blocks in the mat (18), all the mats (18) are combined, and electrical connection between the circuit blocks is made by the wiring layers of the second and subsequent layers to complete the whole IC. design.

斯る構成によれば、機能の異る複数の回路ブロックを夫
々整数個のマット(18)に収納することにより、各回路ブ
ロック毎の設計を行え且つ回路ブロックを一定の素子に
分割してマット(18)毎の設計が行えるようになる。その
為、回路ブロックまたはマット(18)毎の並行設計が可能
となり、設計期間の大幅な短縮が図れる。また、回路変
更も回路ブロック毎に且つマット(18)毎に行えるので、
IC全体の設計変更は不要であり、変更部分以外は前機
種の信頼性を保ったまま流用することができる。
According to such a configuration, by storing a plurality of circuit blocks having different functions in an integer number of mats (18), it is possible to design each circuit block and divide the circuit blocks into certain elements to create a mat. (18) Each design can be done. Therefore, parallel design for each circuit block or mat (18) is possible, and the design period can be greatly shortened. Also, the circuit can be changed for each circuit block and for each mat (18),
It is not necessary to change the design of the entire IC, and it is possible to use it while maintaining the reliability of the previous model except for the changed portion.

次にAMチューナ回路(7)を説明する。第3図におい
て、(22)はアンテナ同調したRF信号を高周波増幅する
RF増幅回路、(23)は前記RF信号と局部発振回路(24)
が発振する周期数信号とを混合することによりIF中間
周波数(450KHz)に周波数変換する混合回路、(25)
は前記IF信号を増幅するIF増幅回路、(26)は電波の
強弱に応じて利得を調整する自動利得制御回路、(27)は
前記IF信号を検波してオーディオ信号に復調する検波
回路である。これら主体となる回路の他にも、電子式同
調回路を構成する為のステーションディテクター(S
D)回路やSメータ回路、雑音を防止する笛音防止回路
(Tweet REG)等の付随回路が組み込まれる。RF増
幅回路(22)は省略され得る。
Next, the AM tuner circuit (7) will be described. In FIG. 3, (22) is an RF amplifier circuit for high-frequency amplification of the RF signal tuned by the antenna, (23) is the RF signal and the local oscillation circuit (24).
Mixing circuit for frequency conversion to IF intermediate frequency (450KHz) by mixing with the frequency signal that oscillates, (25)
Is an IF amplifier circuit that amplifies the IF signal, (26) is an automatic gain control circuit that adjusts the gain according to the strength of the radio wave, and (27) is a detection circuit that detects the IF signal and demodulates it into an audio signal. . In addition to these main circuits, station detectors (S
D) circuit, S meter circuit, and associated circuits such as whistle noise prevention circuit (Tweet REG) for preventing noise are incorporated. The RF amplifier circuit (22) can be omitted.

上記AMチューナ回路(7)は全部で約350個の回路素
子を有するので、4個のマット(18)、即ちマットA〜マ
ットDを用意し、前記手順に準じて全ての回路素子をマ
ット(18)に収納する。尚、マットE〜IにFM・IF増
幅回路(4)がマットK〜MにFMフロントエンド回路(1)
が、マットN〜Pにノイズキャンセル回路(5)が、マッ
トQ〜Tにマルチプレクス回路(6)が、マットIにその
他(オプション)の回路が夫々収納される。
Since the AM tuner circuit (7) has about 350 circuit elements in total, four mats (18), that is, mats A to D, are prepared, and all circuit elements are matted (mats) in accordance with the above procedure. Store in 18). An FM / IF amplifier circuit (4) is provided on the mats E to I and an FM front end circuit (1) is provided on the mats K to M.
However, the noise cancel circuit (5) is stored in the mats N to P, the multiplex circuit (6) is stored in the mats Q to T, and the other (optional) circuit is stored in the mat I.

第1図はマットA〜マットDにAMチューナ回路(7)を
収納したパターンを示す。同図において、マットAにI
F増幅回路(25)と混合回路(23)が、マットBに局部発振
回路(24)と前記笛音防止回路(28)が、マットCにRF・
AGC回路(29)とSメータ回路(30)及びSD回路(31)
が、マットDにRF・AGC回路(29)とIF・AGC回
路(32)及び検波回路(27)が夫々収納されており、区画ラ
イン(17)上の電源ライン(14)とグランドライン(13)は、
各回路の相互関係に鑑み共通インピーダンスを許容する
か否によって分割・統合され夫々個別に延在して電源電
極パッド(20)とグランド電極バッド(19)に接続されてい
る。特に局部発振回路(24)と混合回路(23)は、夫々専用
のグランドライン(13a)を設けてグランド電極パッド(1
9)に接続する。
FIG. 1 shows a pattern in which the AM tuner circuit (7) is housed in the mats A to D. In the figure, I is attached to the mat A
The F amplifier circuit (25) and the mixing circuit (23), the local oscillation circuit (24) and the whistle sound prevention circuit (28) on the mat B, and the RF signal on the mat C.
AGC circuit (29), S meter circuit (30) and SD circuit (31)
However, in the mat D, the RF / AGC circuit (29), the IF / AGC circuit (32) and the detection circuit (27) are housed, respectively, and the power line (14) and the ground line (13) on the partition line ( 17 ) are stored. ) Is
In view of the mutual relation of each circuit, the circuit is divided / integrated depending on whether common impedance is allowed or not, and individually extended to be connected to the power electrode pad (20) and the ground electrode pad (19). In particular, the local oscillation circuit (24) and the mixing circuit (23) are provided with their own dedicated ground lines (13a) and ground electrode pads (1
Connect to 9).

そして、最も高周波信号を扱うと共に入力段を構成し、
入力信号(RF信号)のレベルに応じて飽和動作になり
易い混合回路(23)と、発振動作という不安定な動作を正
確に行う必要がある局部発振回路(24)を夫々ダミーアイ
ランド(33)で完全に囲むことにより、夫々リーク電流の
流出入による回路干渉を防止する。
And handle the highest frequency signal and configure the input stage,
A dummy circuit (23) is provided for each of the mixing circuit (23) which is likely to be saturated depending on the level of the input signal (RF signal) and the local oscillation circuit (24) which is required to accurately perform an unstable operation called an oscillation operation. By completely enclosing them with, the circuit interference due to the inflow and outflow of leak current is prevented.

第4図は混合回路(23)部分の断面構造を示し、(41)はP
型半導体基板、(42)はN型エピタキシャル層、(43)はN
+型埋込層、(44)はエピタキシャル層(42)表面から基板
(41)にまで達するP+型分離領域、(45)は分離領域(44)
によって囲まれたエピタキシャル層(42)で形成する素子
形成用のアイランド、(33)は回路素子を形成しないダミ
ーアイランド、(46)(47)はP及びN型の不純物拡散領
域、(47)はエピタキシャル層(42)を覆う酸化膜、(48)は
第1層目配線層による素子間接続配線、(13)(14)は同じ
く第1層目配線によるグランドラインと電源ライン、(4
9)は層間絶縁膜、(50)は区画ライン(17)を横断する第2
層目配線層による接続配線である。ダミーアイランド(3
3)は区画ライン(17)の占有面積を利用して形成し、何の
電位も印加しないフローティングとするか又はN+型拡
散領域(47a)を介し区画ライン(17)を形成する電源ライ
ン(14)により電源電位Vccが与えられる。また、区間ラ
イン(17)を形成するグランドライン(13b)をその下の分
離領域(44)表面にオーミックコンタクトさせることによ
り、リーク電流を吸出す吸出し電極とする。
Fig. 4 shows the cross-sectional structure of the mixing circuit (23), where (41) is P
Type semiconductor substrate, (42) N type epitaxial layer, (43) N type
+ Type buried layer, (44) is from the surface of the epitaxial layer (42) to the substrate
P + type separation region reaching (41), (45) separation region (44)
Islands for element formation formed by the epitaxial layer (42) surrounded by (33) is a dummy island not forming a circuit element, (46) and (47) are P and N type impurity diffusion regions, and (47) is An oxide film covering the epitaxial layer (42), (48) inter-element connection wiring by the first wiring layer, (13) and (14) similarly ground lines and power lines by the first wiring layer, (4)
9) is the interlayer insulating film, and (50) is the second crossing the partition line ( 17 ).
It is the connection wiring by the second wiring layer. Dummy Island (3
3) is formed by using the occupied area of the partition line ( 17 ) and is set to a floating state where no potential is applied, or a power supply line ( 17 ) which forms the partition line ( 17 ) through the N + type diffusion region (47a). The power supply potential Vcc is given by 14). Further, the ground line (13b) forming the section line ( 17 ) is brought into ohmic contact with the surface of the underlying isolation region (44) to form a drain electrode for draining a leak current.

斯る構成によれば、ダミーアイランド(33)のN型高低高
層による抵抗成分が介在するので、ダミーアイランド(3
3)両側の領域の結合を粗にできる。また、ダミーアイラ
ンド(33)と分離領域(44)とのPN接合による電位障壁が
前記抵抗成分を増大せしめる。その為、ダミーアイラン
ド(33)はリーク電流の通過を素子し、混合回路(23)と他
回路とのリーク電流による相互干渉を抑制する。また、
ダミーアイランド(33)側部に吸出し電極を設けることも
有効である。従って、混合回路(23)と極部発振回路(24)
は基本的にマット(18)の任意の位置に配置することがで
きる。
According to such a configuration, since the resistance component due to the N-type high-low high-layer of the dummy island (33) is present, the dummy island (3
3) Coupling of the regions on both sides can be roughened. Further, the potential barrier due to the PN junction between the dummy island (33) and the isolation region (44) increases the resistance component. Therefore, the dummy island (33) serves as an element for passing leakage current, and suppresses mutual interference between the mixing circuit (23) and other circuits due to the leakage current. Also,
It is also effective to provide a suction electrode on the side of the dummy island (33). Therefore, the mixing circuit (23) and the pole oscillation circuit (24)
Can basically be placed at any position on the mat (18).

混合回路(23)は入力段を構成するので、半導体チップ(1
1)の外周部に位置した方が入力電極パッドからの配線を
短くでき、干渉を防止できる。
Since the mixing circuit (23) constitutes the input stage, the semiconductor chip (1
The wiring from the input electrode pad can be shortened and the interference can be prevented if it is located on the outer periphery of 1).

ところで、検波回路(27)は高利得で増幅した後の大振幅
レベルの信号を扱うので、リーク電流を流出して混合回
路(23)や局部発振回路(24)との相互干渉を生じて発振等
の誤動作を生じ易い。そこで、混合回路(23)又は局部発
振回路(24)と検波回路(27)をAMチューナ(7)収納領域
の対角線上の隅部へ夫々配置することにより、両者を最
大限に離間して相互干渉を最小に抑えることができる。
また、検波回路(27)が出力段になることから、前記AM
チューナ回路(7)収納領域の隅部へ配置することは信号
線の流れに応じて各回路を配置できるので、マット(18)
間の接続配線が容易となる利点もある。
By the way, since the detection circuit (27) handles a signal of a large amplitude level after being amplified with a high gain, it leaks a leak current to cause mutual interference with the mixing circuit (23) and the local oscillation circuit (24) and oscillate. It is easy to cause malfunctions such as Therefore, by arranging the mixing circuit (23) or the local oscillation circuit (24) and the detection circuit (27) at the corners on the diagonal line of the AM tuner (7) storage area, respectively, the two are maximally separated from each other. Interference can be minimized.
Further, since the detection circuit (27) is the output stage, the AM
If the tuner circuit (7) is placed in the corner of the storage area, each circuit can be placed according to the flow of the signal line, so the mat (18)
There is also an advantage that connection wiring between them becomes easy.

さらに、隅部へ配置した検波回路(27)横の区画ライン(1
7)を構成するグランドライン(13a)を吸出し電極とすれ
ば、検波回路(27)からのリーク電流を直ちに吸出すこと
ができるので、一層の干渉防止になる。
In addition, the division line ( 1
If the ground line (13a) forming the element ( 7 ) is used as a suction electrode, the leak current from the detection circuit (27) can be immediately sucked, which further prevents interference.

(ト)発明の効果 以上説明した如く、本発明はマット(18)を基本とし該マ
ット(18)整数個の領域に各回路ブロックを収納するの
で、各マット(18)毎にパターン設計が行え、設計の終了
したマット(18)を組み合わせることでIC全体のレイア
ウトが任意に実現できる利点を有する。また、マット(1
8)毎の並行設計ができる利点もある。その為、IC全体
の設計期間を短縮できると共に、回路機能の異る機種を
設計する際は変更部分のマット(18)だけを設計すれば良
く、残りのマット(18)は前機種の信頼性を保ったまま流
用できるので、機種展開に要する設計期間も大幅に短縮
できる利点を有する。
(G) Effect of the Invention As described above, according to the present invention, since each circuit block is housed in the mat (18) based on the integer number of areas of the mat (18), pattern design can be performed for each mat (18). By combining the mats (18) whose design has been completed, there is an advantage that the layout of the entire IC can be arbitrarily realized. Also, the mat (1
8) There is also an advantage that parallel design can be performed for each. Therefore, the design period of the entire IC can be shortened, and when designing models with different circuit functions, only the changed mat (18) needs to be designed, and the remaining mat (18) has the reliability of the previous model. Since it can be reused while maintaining the above, there is an advantage that the design period required for model development can be greatly shortened.

そして、AMチューナ回路(7)の混合回路(23)と局部発
振回路(24)をダミーアイランド(33)で囲むことにより信
号干渉を防止できるので、基本的にマット(18)の任意の
位置に納めることができ、その為AMチューナ回路(7)
をマット(18)に集積化する際何ら設計自由度を損うこと
が無い利点を有する。
Since the signal interference can be prevented by surrounding the mixing circuit (23) of the AM tuner circuit (7) and the local oscillation circuit (24) with a dummy island (33), basically, it can be placed at any position of the mat (18). AM tuner circuit (7)
This has the advantage that the degree of freedom in design is not impaired at the time of integrating the components with the mat (18).

また、2つの回路を対角線上の隅部へ離間することによ
り、吸出し電極でリーク電流を吸出すことにより、一層
回路動作の安定化が図れる利点をも有する。さらに、ダ
ミーアイランド(33)は区画ライン(17)の占有面積を利用
するので、占有面積を効率利用できる利点をも有する。
In addition, the two circuits are separated from each other on the diagonal corners, and the leak current is sucked by the suction electrode, so that the circuit operation can be further stabilized. Further, since the dummy island (33) uses the occupied area of the division line ( 17 ), it has an advantage that the occupied area can be efficiently used.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本発明によるAMチューナ回路のパターンを示
す平面図、第2図は本発明を説明する為の平面図、第3
図はAMチューナ回路を示す回路図、第4図は本発明を
説明する為の断面図、第5図はFM/AMチューナ回路
を説明する為の回路図、第6図及び第7図は夫々従来例
を説明する為の平面図及び回路図である。 (13)はグランドライン、(14)は電源ライン、(17)は区画
ライン、(18)はマット、(23)は混合回路、(24)は極部発
振回路、(27)は検波回路、(33)はダミーアイランドであ
る。
FIG. 1 is a plan view showing a pattern of an AM tuner circuit according to the present invention, FIG. 2 is a plan view for explaining the present invention, and FIG.
FIG. 4 is a circuit diagram showing an AM tuner circuit, FIG. 4 is a sectional view for explaining the present invention, FIG. 5 is a circuit diagram for explaining an FM / AM tuner circuit, and FIGS. 6 and 7 are respectively It is a top view and a circuit diagram for explaining a conventional example. (13) is a ground line, (14) is a power line, ( 17 ) is a partition line, (18) is a matte, (23) is a mixed circuit, (24) is a pole oscillator circuit, (27) is a detection circuit, (33) is a dummy island.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H04B 1/08 E 7240−5K 7210−4M H01L 27/06 101 B ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (51) Int.Cl. 5 Identification code Internal reference number FI Technical display location H04B 1/08 E 7240-5K 7210-4M H01L 27/06 101 B

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】半導体チップの半導体層に位置付けられ、
実質的に同じサイズの形状が複数個で成る前記半導体層
内に形成される半導体素子の配置領域(マット)と、 回路の大きさが実質的に異なる機能別に分けられた複数
の電子回路ブロックより成るリニア電子回路の半導体素
子が前記配置領域(マット)内に形成されるリニア半導
体集積回路であって、 前記機能別に分けられた電子回路ブロックは、受信周波
数信号と局部発振回路が出力する局部発振周波数信号と
を混合回路で混合することにより中間周波数に周波数変
換し、前記中間周波数を検波回路を復調することにより
オーディオ信号を出力するAMチューナー回路ブロック
を有し、 前記電子回路ブロックの全ての半導体素子は、前記配置
領域(マット)を単位としてこの電子回路ブロックの総
半導体素子数を分割して得られる複数個の配置領域(マ
ット)に、実質的に形成され 前記AMチューナー回路ブロックの局部発振回路と混合
回路の少なくとも一方は、前記半導体チップの一構成で
ある半導体基板と接続される分離領域で囲まれたダミー
アイランドにより完全に囲まれたことを特徴とするリニ
ア半導体集積回路。
1. Positioned on a semiconductor layer of a semiconductor chip,
A semiconductor element arrangement region (mat) formed in the semiconductor layer, which has a plurality of shapes of substantially the same size, and a plurality of electronic circuit blocks whose functions are substantially different in circuit size. In the linear semiconductor integrated circuit, the semiconductor element of the linear electronic circuit is formed in the arrangement area (mat), and the electronic circuit block divided by the function is a local oscillation output by a reception frequency signal and a local oscillation circuit. An AM tuner circuit block for outputting an audio signal by converting the frequency signal into an intermediate frequency by mixing the frequency signal with a mixing circuit, and demodulating the intermediate frequency into a detection circuit; and all semiconductors of the electronic circuit block. A plurality of elements are obtained by dividing the total number of semiconductor elements in this electronic circuit block using the arrangement area (mat) as a unit. At least one of the local oscillation circuit and the mixing circuit of the AM tuner circuit block, which is substantially formed in the placement area (mat), is surrounded by a separation area connected to the semiconductor substrate which is one configuration of the semiconductor chip. A linear semiconductor integrated circuit characterized by being completely surrounded by islands.
【請求項2】前記AMチューナー回路ブロックの半導体
素子を収容する複数の配置領域(マット)全領域におい
て、前記局部発振回路または混合回路はこの全領域の隅
部に設けられ、この隅部に対して対角線方向の隅部に前
記検波回路が設けられる請求項第1項記載のリニア半導
体集積回路。
2. The local oscillating circuit or the mixing circuit is provided in a corner portion of a plurality of arrangement areas (mats) for accommodating semiconductor elements of the AM tuner circuit block, and the local oscillation circuit or the mixing circuit is provided in a corner portion of the entire area. The linear semiconductor integrated circuit according to claim 1, wherein the detection circuit is provided at a corner portion in a diagonal direction.
JP63173011A 1988-07-12 1988-07-12 Linear semiconductor integrated circuit Expired - Lifetime JPH0628288B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63173011A JPH0628288B2 (en) 1988-07-12 1988-07-12 Linear semiconductor integrated circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63173011A JPH0628288B2 (en) 1988-07-12 1988-07-12 Linear semiconductor integrated circuit

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0223637A JPH0223637A (en) 1990-01-25
JPH0628288B2 true JPH0628288B2 (en) 1994-04-13

Family

ID=15952543

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63173011A Expired - Lifetime JPH0628288B2 (en) 1988-07-12 1988-07-12 Linear semiconductor integrated circuit

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0628288B2 (en)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10054566A1 (en) * 2000-11-03 2002-05-16 Infineon Technologies Ag Semiconductor substrate has functional circuit structures and dummy structures formed in insulation trough enclosed by peripheral diffusion zone provided with peripheral contact diffusion zone

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57138351U (en) * 1981-02-23 1982-08-30
JPS61292341A (en) * 1985-06-20 1986-12-23 Toshiba Corp Semiconductor integrated circuit
JPS6212147A (en) * 1985-07-10 1987-01-21 Hitachi Ltd Master slice type semiconductor device
JPS62293660A (en) * 1986-06-13 1987-12-21 Hitachi Ltd Semiconductor integrated circuit device

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0223637A (en) 1990-01-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR920005802B1 (en) Semiconductor intergrated circuit
US7095999B2 (en) Signal processing semiconductor integrated circuit device
EP0354512B1 (en) Semiconductor integrated circuit
JPH0628288B2 (en) Linear semiconductor integrated circuit
JP2004179255A (en) Semiconductor integrated circuit
JPH023952A (en) Semiconductor integrated circuit
JP2675338B2 (en) Semiconductor integrated circuit
JPH0652771B2 (en) Linear semiconductor integrated circuit
JPH0628289B2 (en) Semiconductor integrated circuit
JPH0666414B2 (en) Semiconductor integrated circuit
JPH0628286B2 (en) Linear semiconductor integrated circuit
JPH0648708B2 (en) Semiconductor integrated circuit
JPH0691226B2 (en) Semiconductor integrated circuit
JPH0474866B2 (en)
EP0347853B1 (en) Semiconductor integrated circuit
JPH0316163A (en) Semiconductor integrated circuit
JPH0666415B2 (en) Semiconductor integrated circuit for FM / AM tuner
JPH0223660A (en) Semiconductor integrated circuit
JPH0628287B2 (en) Linear semiconductor integrated circuit
JPH0719843B2 (en) Semiconductor integrated circuit
JPH0639454Y2 (en) Semiconductor integrated circuit
KR930004982B1 (en) Semiconductor integrated circuit
JPH0750779B2 (en) Semiconductor integrated circuit
JPH0671065B2 (en) Semiconductor integrated circuit
JPH0671064B2 (en) Semiconductor integrated circuit

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090413

Year of fee payment: 15

EXPY Cancellation because of completion of term
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090413

Year of fee payment: 15