JPH06281533A - 光コネクタ端面角度測定方法 - Google Patents
光コネクタ端面角度測定方法Info
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- JPH06281533A JPH06281533A JP9523793A JP9523793A JPH06281533A JP H06281533 A JPH06281533 A JP H06281533A JP 9523793 A JP9523793 A JP 9523793A JP 9523793 A JP9523793 A JP 9523793A JP H06281533 A JPH06281533 A JP H06281533A
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- optical connector
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- angle
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- laser
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- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 高精度な光コネクタ端面角度測定方法を提供
する。 【構成】 レーザ光を光コネクタ端面で反射させ、該反
射光を光コネクタ端面より所定の距離離れた場所で位置
に換算し、ついで光コネクタを光コネクタ端面のレーザ
光焦点中心で 180°回転して同様に位置を測定し、上記
２つの位置より角度に換算する光コネクタ端面角度測定
方法において、固定した２本のガイドピンに対して多心
光コネクタを反転して装着することにより、多心光コネ
クタを光コネクタ端面のレーザ光焦点中心で 180°回転
し、かつ光コネクタ又はレーザ光の少くとも一方を走査
することにより、光コネクタ端面の任意の場所の角度を
測定することを特徴とする光コネクタ端面角度測定方
法。
する。 【構成】 レーザ光を光コネクタ端面で反射させ、該反
射光を光コネクタ端面より所定の距離離れた場所で位置
に換算し、ついで光コネクタを光コネクタ端面のレーザ
光焦点中心で 180°回転して同様に位置を測定し、上記
２つの位置より角度に換算する光コネクタ端面角度測定
方法において、固定した２本のガイドピンに対して多心
光コネクタを反転して装着することにより、多心光コネ
クタを光コネクタ端面のレーザ光焦点中心で 180°回転
し、かつ光コネクタ又はレーザ光の少くとも一方を走査
することにより、光コネクタ端面の任意の場所の角度を
測定することを特徴とする光コネクタ端面角度測定方
法。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は光コネクタ端面角度測定
方法に関するものである。
方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】近年光ファイバ網の拡大に伴い、光コネ
クタの低接続損失の重要性が高まっている。光コネクタ
の低接続損失を実現するためには、光ファイバの軸ず
れ、間隙、角度ずれを少なくする必要があるが、光コネ
クタ端面角度に極端な角度差があると、結合時に間隙や
角度ずれを生じるため± 0.2°程度の精度で光コネクタ
端面角度を製造する必要がある。
クタの低接続損失の重要性が高まっている。光コネクタ
の低接続損失を実現するためには、光ファイバの軸ず
れ、間隙、角度ずれを少なくする必要があるが、光コネ
クタ端面角度に極端な角度差があると、結合時に間隙や
角度ずれを生じるため± 0.2°程度の精度で光コネクタ
端面角度を製造する必要がある。
【０００３】このため、単心光コネクタにおいては、製
造時に端面角度を測定しているが、従来は、例えば特公
昭58-31858号公報に示されるように、光ファイバからの
出射光を用いた方法や、電通学会論文誌 '84／２ Vol.J
67-B No.21「光ファイバコネクタ端面検査方法の検討」
のような干渉縞による方法等が提案されている。
造時に端面角度を測定しているが、従来は、例えば特公
昭58-31858号公報に示されるように、光ファイバからの
出射光を用いた方法や、電通学会論文誌 '84／２ Vol.J
67-B No.21「光ファイバコネクタ端面検査方法の検討」
のような干渉縞による方法等が提案されている。
【０００４】又一般的にＳＣ型のＰＣコネクタにおいて
は、ガラス面にコネクタを突当てることによる干渉縞
（ニュートンリング）で球面対称度として角度ずれを評
価しており、多心コネクタにおいては、ガイドピンに対
する端面角度を投影機を用いて測定している。
は、ガラス面にコネクタを突当てることによる干渉縞
（ニュートンリング）で球面対称度として角度ずれを評
価しており、多心コネクタにおいては、ガイドピンに対
する端面角度を投影機を用いて測定している。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】特公昭58-31858号公報
で開示された端面角度測定方法は、光コネクタ内部での
光ファイバ角度ずれと、端面の角度ずれ（フェルールの
光ファイバ穴の角度ずれと光コネクタ端面の角度ずれ）
とを含むため、あらかじめフェルールの光ファイバ穴角
度を測定し、研磨角度を求めていたが、光ファイバ穴と
光ファイバ外径とにクリアランスがあるため、研磨によ
る光コネクタ端面角度は正確に測定できなかった。
で開示された端面角度測定方法は、光コネクタ内部での
光ファイバ角度ずれと、端面の角度ずれ（フェルールの
光ファイバ穴の角度ずれと光コネクタ端面の角度ずれ）
とを含むため、あらかじめフェルールの光ファイバ穴角
度を測定し、研磨角度を求めていたが、光ファイバ穴と
光ファイバ外径とにクリアランスがあるため、研磨によ
る光コネクタ端面角度は正確に測定できなかった。
【０００６】電通学会論文誌の「光ファイバコネクタ端
面検査方法の検討」の方法では、光学系及び治工具の精
度によって測定精度が決まってしまうことや、端面が複
合材料の場合や、サブミクロンオーダの凹凸がある場合
に測定が困難となる等の問題がある。
面検査方法の検討」の方法では、光学系及び治工具の精
度によって測定精度が決まってしまうことや、端面が複
合材料の場合や、サブミクロンオーダの凹凸がある場合
に測定が困難となる等の問題がある。
【０００７】又ニュートンリング法では光ファイバ端面
を突当てるため傷がつく可能性があることと、複合材料
の場合やサブミクロンオーダの凹凸がある場合に測定が
困難となる。一方、多心光コネクタにおける投影機によ
る角度測定は、ガイドピンが円筒でエッジのフォーカス
位置によるずれを生じるため、0.05°程度の精度であっ
た。又光コネクタのエッジでの測定になるため、光コネ
クタ端面での面ダレの影響等により、光ファイバ面近傍
での角度とは必ずしも一致していない。
を突当てるため傷がつく可能性があることと、複合材料
の場合やサブミクロンオーダの凹凸がある場合に測定が
困難となる。一方、多心光コネクタにおける投影機によ
る角度測定は、ガイドピンが円筒でエッジのフォーカス
位置によるずれを生じるため、0.05°程度の精度であっ
た。又光コネクタのエッジでの測定になるため、光コネ
クタ端面での面ダレの影響等により、光ファイバ面近傍
での角度とは必ずしも一致していない。
【０００８】近年の光コネクタへの低接続損失化の重要
性から高精度な光コネクタ端面角度測定方法の開発の要
請が強く、本発明は上記要請に鑑みてなされたものであ
り、高精度な光コネクタ端面角度測定方法を提供するこ
とを目的とする。
性から高精度な光コネクタ端面角度測定方法の開発の要
請が強く、本発明は上記要請に鑑みてなされたものであ
り、高精度な光コネクタ端面角度測定方法を提供するこ
とを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上述の目的を達成する本
発明の光コネクタ端面角度測定方法の特徴は、レーザ光
を光コネクタ端面で反射させ、該反射光を光コネクタ端
面より所定の距離離れた場所で位置に換算し、ついで光
コネクタを光コネクタ端面のレーザ光焦点中心で 180°
回転して同様に位置を測定し、上記２つの位置より角度
に換算する光コネクタ端面角度測定方法において、固定
した２本のガイドピンに対して多心光コネクタを反転し
て装着することにより、多心光コネクタを光コネクタ端
面のレーザ光焦点中心で 180°回転し、かつ光コネクタ
又はレーザ光の少くとも一方を走査することにより、光
コネクタ端面の任意の場所の角度を測定することにあ
る。
発明の光コネクタ端面角度測定方法の特徴は、レーザ光
を光コネクタ端面で反射させ、該反射光を光コネクタ端
面より所定の距離離れた場所で位置に換算し、ついで光
コネクタを光コネクタ端面のレーザ光焦点中心で 180°
回転して同様に位置を測定し、上記２つの位置より角度
に換算する光コネクタ端面角度測定方法において、固定
した２本のガイドピンに対して多心光コネクタを反転し
て装着することにより、多心光コネクタを光コネクタ端
面のレーザ光焦点中心で 180°回転し、かつ光コネクタ
又はレーザ光の少くとも一方を走査することにより、光
コネクタ端面の任意の場所の角度を測定することにあ
る。
【００１０】
【実施例】図１は光コネクタ端面が90°の場合の本発明
光コネクタ端面角度測定方法の具体例の測定系の説明図
である。図面に示すように、レーザ源２よりＨｅ−Ｎｅ
レーザ等のレーザ光４を光コネクタ１の端面に当て、そ
の反射光５を光コネクタ１端面より距離Ｌ離れた場所の
２次元光電変換素子３を用いて上記反射光５を画像処理
及び数値処置し、位置に変換する。次に上記光コネクタ
１を光コネクタ端面のレーザ光焦点中心に 180°反転
し、前記同様にレーザ光４を光コネクタ１の端面に当
て、その反射光5'を上記２次元光電変換素子３を用いて
前記同様の処理を行って位置に変換する。この２つの位
置の差ｄと光コネクタ１端面から２次元光電変換素子３
までの距離Ｌより、θ（断面角度）＝1/2tan-1（d/2L）
より端面角度θを求めることができる。
光コネクタ端面角度測定方法の具体例の測定系の説明図
である。図面に示すように、レーザ源２よりＨｅ−Ｎｅ
レーザ等のレーザ光４を光コネクタ１の端面に当て、そ
の反射光５を光コネクタ１端面より距離Ｌ離れた場所の
２次元光電変換素子３を用いて上記反射光５を画像処理
及び数値処置し、位置に変換する。次に上記光コネクタ
１を光コネクタ端面のレーザ光焦点中心に 180°反転
し、前記同様にレーザ光４を光コネクタ１の端面に当
て、その反射光5'を上記２次元光電変換素子３を用いて
前記同様の処理を行って位置に変換する。この２つの位
置の差ｄと光コネクタ１端面から２次元光電変換素子３
までの距離Ｌより、θ（断面角度）＝1/2tan-1（d/2L）
より端面角度θを求めることができる。
【００１１】図２は光コネクタ端面が90°でない場合の
本発明端面角度測定方法の具体例の測定系の説明図であ
る。この具体例は光コネクタ端面が約８°傾いている場
合等の測定に有効である。前記同様に、レーザ源２より
のレーザ光４を光コネクタ１の端面に当て、その反射光
５を光コネクタ１端面から距離Ｌ離れた場所に設置した
第１の２次元光電変換素子3aを用いて処理し、位置に変
換する。次に上記光コネクタ１を光コネクタ端面のレー
ザ光焦点中心に 180°反転し、前記同様にレーザ光４を
光コネクタ１の端面に当て、その反射光5'を上記第１の
２次元光電変換素子3aと位置ｄ離れた位置にある第２の
２次元光電変換素子3bを用いて前記同様の処理を行って
位置に変換する。上記２つの位置の差ｄと光コネクタ１
端面から２次元光電変換素子3a，3bまでの距離Ｌから端
面角度θを求めるのは前記同様である。この具体例は、
光コネクタ１の軸と光レーザ軸とがなす角φが、数度角
度ずれがあった場合でも測定可能なため治具の設計が容
易となる。
本発明端面角度測定方法の具体例の測定系の説明図であ
る。この具体例は光コネクタ端面が約８°傾いている場
合等の測定に有効である。前記同様に、レーザ源２より
のレーザ光４を光コネクタ１の端面に当て、その反射光
５を光コネクタ１端面から距離Ｌ離れた場所に設置した
第１の２次元光電変換素子3aを用いて処理し、位置に変
換する。次に上記光コネクタ１を光コネクタ端面のレー
ザ光焦点中心に 180°反転し、前記同様にレーザ光４を
光コネクタ１の端面に当て、その反射光5'を上記第１の
２次元光電変換素子3aと位置ｄ離れた位置にある第２の
２次元光電変換素子3bを用いて前記同様の処理を行って
位置に変換する。上記２つの位置の差ｄと光コネクタ１
端面から２次元光電変換素子3a，3bまでの距離Ｌから端
面角度θを求めるのは前記同様である。この具体例は、
光コネクタ１の軸と光レーザ軸とがなす角φが、数度角
度ずれがあった場合でも測定可能なため治具の設計が容
易となる。
【００１２】図３は多心光コネクタを 180°反転させる
治具の説明図で、図３（イ）は斜視図、図３（ロ）は反
転前の側面図、図３（ハ）は 180°反転後の側面図であ
る。図面に示すように、治具体体11の一端に固定した２
本のステンレス等の高精度ガイドピン14に、光コネクタ
１のガイドピン穴を挿入すると共に、上記光コネクタ１
の後端部に、スプリング12を介して、光コネクタ１のガ
イドピン穴より太く、先端を面取りした押圧ピン13を押
圧して位置決めして、前記の測定を行う。ついで、上記
光コネクタ１を取外し、 180°反転して再び取付け、測
定を行う。
治具の説明図で、図３（イ）は斜視図、図３（ロ）は反
転前の側面図、図３（ハ）は 180°反転後の側面図であ
る。図面に示すように、治具体体11の一端に固定した２
本のステンレス等の高精度ガイドピン14に、光コネクタ
１のガイドピン穴を挿入すると共に、上記光コネクタ１
の後端部に、スプリング12を介して、光コネクタ１のガ
イドピン穴より太く、先端を面取りした押圧ピン13を押
圧して位置決めして、前記の測定を行う。ついで、上記
光コネクタ１を取外し、 180°反転して再び取付け、測
定を行う。
【００１３】図４及び図５は本発明の光コネクタ端面角
度測定方法において、レーザ光を走査して光コネクタ端
面の任意の場所の角度を測定する方法の具体例の説明図
で、図４は光コネクタ端面が90°の場合の測定系図、図
５は光コネクタ端面が90°でない場合の測定系図であ
る。なお、図面において、図１及び図２と同一符号は同
一部位をあらわしている。
度測定方法において、レーザ光を走査して光コネクタ端
面の任意の場所の角度を測定する方法の具体例の説明図
で、図４は光コネクタ端面が90°の場合の測定系図、図
５は光コネクタ端面が90°でない場合の測定系図であ
る。なお、図面において、図１及び図２と同一符号は同
一部位をあらわしている。
【００１４】レーザ光の走査方法としては、ｘ方向、ｙ
方向を走査できるように、レーザ光源２と光コネクタ１
端面の間にガルバノミラー、ポリゴンミラー、音響偏向
器等6a，6bを１つ又は２つ以上組合せて配置し、光コネ
クタ１端面を走査する。
方向を走査できるように、レーザ光源２と光コネクタ１
端面の間にガルバノミラー、ポリゴンミラー、音響偏向
器等6a，6bを１つ又は２つ以上組合せて配置し、光コネ
クタ１端面を走査する。
【００１５】図６及び図７は本発明の光コネクタ端面角
度測定方法において、光コネクタ１を走査して光コネク
タ端面の任意の場所の角度を測定する方法の具体例の説
明図で、図６は光コネクタ端面が90°の場合の測定系
図、図７は光コネクタ端面が90°でない場合の測定系図
である。なお、図面において、図１及び図２と同一符号
は同一部位をあらわしている。光コネクタの走査方法と
しては、光コネクタの固定治具を、又は光コネクタを直
接Ｘ，Ｙステージ等に固定し、移動させる。この場合、
測定方法は、光コネクタの 180°回転とともに測定位置
が変わるため、光源ミラー等の光軸方向変換器、光コネ
クタ、Ｘ，Ｙステージ、２次元光電変換素子のいずれか
を、回転中心に対し点対称位置に合うように補正する。
度測定方法において、光コネクタ１を走査して光コネク
タ端面の任意の場所の角度を測定する方法の具体例の説
明図で、図６は光コネクタ端面が90°の場合の測定系
図、図７は光コネクタ端面が90°でない場合の測定系図
である。なお、図面において、図１及び図２と同一符号
は同一部位をあらわしている。光コネクタの走査方法と
しては、光コネクタの固定治具を、又は光コネクタを直
接Ｘ，Ｙステージ等に固定し、移動させる。この場合、
測定方法は、光コネクタの 180°回転とともに測定位置
が変わるため、光源ミラー等の光軸方向変換器、光コネ
クタ、Ｘ，Ｙステージ、２次元光電変換素子のいずれか
を、回転中心に対し点対称位置に合うように補正する。
【００１６】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の光コネク
タ端面角度測定方法によれば、光学系や治工具の精度の
影響を殆んど受けずに、光コネクタ端面角度が測定で
き、複合材料やサブミクロンオーダの凹凸がある場合に
おいても角度測定が可能となる。又多心光コネクタにお
いては、ガイドピン基準での角度測定が高精度に、そし
て安価に実施できる。特に、低反射特性を主眼に開発さ
れている端面角度が斜め（約８°）の光コネクタでは、
その斜め角度の計測技術精度が直接製品の良否に作用す
るので、本発明の測定方法を活用することにより、特性
のすぐれた光コネクタを実現させることができる。この
ように、本発明の光コネクタ端面角度測定方法により、
精度よく計測した光コネクタは、現地でのランダム結合
においても安定した特性を実現できる。
タ端面角度測定方法によれば、光学系や治工具の精度の
影響を殆んど受けずに、光コネクタ端面角度が測定で
き、複合材料やサブミクロンオーダの凹凸がある場合に
おいても角度測定が可能となる。又多心光コネクタにお
いては、ガイドピン基準での角度測定が高精度に、そし
て安価に実施できる。特に、低反射特性を主眼に開発さ
れている端面角度が斜め（約８°）の光コネクタでは、
その斜め角度の計測技術精度が直接製品の良否に作用す
るので、本発明の測定方法を活用することにより、特性
のすぐれた光コネクタを実現させることができる。この
ように、本発明の光コネクタ端面角度測定方法により、
精度よく計測した光コネクタは、現地でのランダム結合
においても安定した特性を実現できる。
【図１】光コネクタ端面が90°の場合の本発明光コネク
タ端面角度測定方法の具体例の測定系の説明図である。
タ端面角度測定方法の具体例の測定系の説明図である。
【図２】光コネクタ端面が90°でない場合の本発明光コ
ネクタ端面角度測定方法の具体例の測定系の説明図であ
る。
ネクタ端面角度測定方法の具体例の測定系の説明図であ
る。
【図３】多心光コネクタを 180°反転させる治具の説明
図で、図３（イ）は斜視図、図３（ロ）は反転前の側面
図、図３（ハ）は 180°反転後の側面図である。
図で、図３（イ）は斜視図、図３（ロ）は反転前の側面
図、図３（ハ）は 180°反転後の側面図である。
【図４】図１の測定方法において、レーザ光を走査して
測定する方法の具体例の説明図である。
測定する方法の具体例の説明図である。
【図５】図２の測定方法において、レーザ光を走査して
測定する方法の具体例の説明図である。
測定する方法の具体例の説明図である。
【図６】図１の測定方法において、光コネクタを走査し
て測定する方法の具体例の説明図である。
て測定する方法の具体例の説明図である。
【図７】図２の測定方法において、光コネクタを走査し
て測定する方法の具体例の説明図である。
て測定する方法の具体例の説明図である。
１ 光コネクタ ２ レーザ源 ３ ２次元光電変換素子 ４ レーザ光 ５，5' 反射光
フロントページの続き (72)発明者 柿井 俊昭 神奈川県横浜市栄区田谷町１番地 住友電 気工業株式会社横浜製作所内 (72)発明者 長沢 真二 東京都千代田区内幸町一丁目１番６号 日 本電信電話株式会社内
Claims (1)
- 【請求項１】 レーザ光を光コネクタ端面で反射させ、
該反射光を光コネクタ端面より所定の距離離れた場所で
位置に換算し、ついで光コネクタを光コネクタ端面のレ
ーザ光焦点中心で 180°回転して同様に位置を測定し、
上記２つの位置より角度に換算する光コネクタ端面角度
測定方法において、固定した２本のガイドピンに対して
多心光コネクタを反転して装着することにより、多心光
コネクタを光コネクタ端面のレーザ光焦点中心で 180°
回転し、かつ光コネクタ又はレーザ光の少くとも一方を
走査することにより、光コネクタ端面の任意の場所の角
度を測定することを特徴とする光コネクタ端面角度測定
方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9523793A JPH06281533A (ja) | 1993-03-29 | 1993-03-29 | 光コネクタ端面角度測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9523793A JPH06281533A (ja) | 1993-03-29 | 1993-03-29 | 光コネクタ端面角度測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06281533A true JPH06281533A (ja) | 1994-10-07 |
Family
ID=14132159
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9523793A Pending JPH06281533A (ja) | 1993-03-29 | 1993-03-29 | 光コネクタ端面角度測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06281533A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2018163072A (ja) * | 2017-03-27 | 2018-10-18 | アンリツ株式会社 | 光コネクタ端面検査装置とその合焦画像データ取得方法 |
-
1993
- 1993-03-29 JP JP9523793A patent/JPH06281533A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2018163072A (ja) * | 2017-03-27 | 2018-10-18 | アンリツ株式会社 | 光コネクタ端面検査装置とその合焦画像データ取得方法 |
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