JPH0627768B2 - 酸化亜鉛避雷器の自動試験装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 発明の目的 （産業上の利用分野） この発明は酸化亜鉛避雷器の一連の検査項目を、連続し
て試験するための酸化亜鉛避雷器の自動試験装置に係わ
り、さらに詳しくは、各構成要素の配置構造に関する。

（従来の技術） 従来、避雷器の特性要素としての酸化亜鉛（ＺｎＯ）を
用いた酸化亜鉛避雷器が使用されている。そして、この
避雷器の製造検査のための試験として、絶縁抵抗試験、
放電耐量試験、バリスタ電圧試験などが行われている。
各試験内容の概略を以下に説明する。

（１） 絶縁抵抗試験： 酸化亜鉛避雷器に１０００Ｖ
の電圧を印加して、絶縁抵抗計により絶縁抵抗値を測定
する。このとき、測定値が２０００ＭΩ以上ならば合
格、２０００ＭΩ以下ならば不合格と判定する。

（２） 放電耐量試験： 酸化亜鉛避雷器に所定の雷イ
ンパルス大電流、例えば、電流値６ＫＡ、波形４×１０
μｓ（波頭４μｓ，波尾１０μｓ）を通電する。このと
き、波形に乱れがなければ合格、乱れがあれば不合格と
判定する。

（３） バリスタ電圧試験（動作開始電圧試験）： 酸
化亜鉛避雷器に商用周波数電圧を印加し、避雷器に流れ
る抵抗分電流波高値が１ｍＡになるときの電圧を測定す
る。このとき、測定値が６．７ＫＶ〜８．０ＫＶの範囲
ならば合格、前記範囲外ならば不合格と判定する。ただ
し、上記の範囲内にあっても、電圧指示が不安定なもの
は不合格と判定する。

このように、酸化亜鉛避雷器の完成後、上述した試験を
それぞれ別々に実施し、試験結果に基づいて避雷器の製
品としての合否を人為的に判定していた。

（発明が解決しようとする問題点） ところが、前述した従来の試験方法では、一連の試験操
作のたびに避雷器をセットする準備で手間取るばかりで
なく、前記各試験では高電圧及び大電流の使用による感
電事故等を防止するために、各試験ごとに別々のスペー
スを設けなければならなかった。特に、放電耐量試験で
は、雷インパルスの通電の際に、その余波が空気中を伝
播する虞もあるので、安全確保のために試験装置と試験
作業者との間に所定の間隔を取らなければならなかっ
た。そのため、余分なスペースを必要とするばかりでな
く、試験作業者は避雷器をセットするたびに安全な位置
に退避しなければならず面倒であった。又、各試験装置
の間で、避雷器を移動するにも労力と時間を要してい
た。

この発明の目的は、避雷器に関する一連の試験操作を所
定のスペースで安全に、かつ、能率的に行うことのでき
る、酸化亜鉛避雷器の自動試験装置における各構成要素
の配置構造を提供することにある。

発明の構成 （問題点を解決するための手段） この発明は駆動機構Ｄにより周回運動を行うようにした
順回搬送機構Ｃと、 前記巡回搬送機構Ｃに装着され、避雷器Ｊの上下両端電
極１５Ａ，１５ＢＢをそれぞれ着脱可能に把持する複数
組の把持機構Ｈと、 前記把持機構Ｈの周回運動軌跡と対応する位置において
支持手段により支持され、かつ避雷器Ｊの上下両端電極
１５Ａ，１５Ｂと一時的に導通可能に設けられた複数組
の上部及び下部の固定電極２８Ａ，２８Ｂと、 前記各組の固定電極２８Ａ，２８Ｂのうち三組の固定電
極２８Ａ，２８Ｂに対し、周回運動方向に順次接続した
第１絶縁抵抗試験装置Ｒ１、放電耐量試験装置ＴＩ及び
第２絶縁抵抗試験装置Ｒ２と、 更に、別組の固定電極２８Ａ，２８Ｂに接続したバリス
タ電圧試験装置ＢＶと、 避雷器Ｊを把持機構Ｈに装着するための搬入部Ｃ１と、 前記把持機構Ｈに装着された避雷器Ｊを除去するための
搬出部Ｃ２，Ｃ３と、 前記駆動機構Ｄ、各試験装置Ｒ１，ＴＩ，Ｒ２，ＢＶの
作動及び試験結果の判定をそれぞれ集中して自動制御す
るための中央処理装置３２と、 前記中央処理装置３２に付属して、予め試験方法、基準
値等のプログラムあるいはデータを記憶するための読み
出し専用メモリー３８と、 同中央処理装置３２に付属して、試験結果を記憶する読
み出し書き込み両用メモリー３９と、 により構成した酸化亜鉛避雷器の自動試験装置におい
て、 遮蔽壁Ｗ内に前記順回搬送機構Ｃ、把持機構Ｈ、上部及
び下部の固定電極２８Ａ，２８Ｂ、第１絶縁抵抗試験装
置Ｒ１、放電耐量試験装置ＴＩ、第２絶縁抵抗試験装置
Ｒ２、及びバリスタ電圧試験装置ＢＶを収容するととも
に、前記搬入部Ｃ１、搬出部Ｃ２，Ｃ３を遮蔽壁Ｗの開
放部Ｗａに配置し、前記放電耐量試験装置ＴＩを順回搬
送機構Ｃに対して搬入部Ｃ１、搬出部Ｃ２，Ｃ３との反
対側に配置し、更に、前記中央処理装置３２、読み出し
専用メモリー３８、及び読み出し書き込み両用メモリー
３９を遮蔽壁Ｗの外側に配置するという構成を採用して
いる。

（作用） この発明は前記構成を採用したことにより、次のように
作用する。

まず、避雷器の上下両端電極をそれぞれ把持機構に把持
し、駆動機構により順回搬送機構を動作させると、把持
機構は避雷器を把持した状態で所定の周回運動を行う。

このとき、前記把持機構に把持された避雷器の上下両端
電極は、周回運動軌跡と対応する所定の位置に複数組設
置された上下一対の固定電極と一時的に導通可能な状態
となる。

ところで、この導通可能な状態の際には、各固定電極に
接続さた各試験装置が作動され、それぞれ避雷器ごとに
第１絶縁抵抗試験、放電耐量試験、第２絶縁抵抗試験の
順に試験が行われるとともに、適宜な箇所でバリスタ電
圧試験が行われる。作業者は遮蔽壁によって、各試験装
置による感電事故が防止されるとともに、特に危険を伴
う放電耐量試験の試験装置は、順回搬送機構をはさんん
で試験作業者から最も離間した反射側に配置されている
ので、放電耐量試験時における作業者の安全が確保され
る。又、各試験結果は、中央処理装置により、予め記憶
された基準値と対比され、避雷器の良否が判定される。
更に、試験の終了した避雷器は搬出部より除去される。

（実施例） 以下、この発明を具体化した一実施例を第１〜１４図に
従って説明する。

第１〜３図の符号は試験装置機構部を示し、この機構部
１は概略的に見て次のように構成されている。すなわ
ち、同試験装置機構部１は基台２と、同基台２の上部に
装着された駆動機構Ｄと、同駆動機構Ｄ上部に装着され
た順回搬送機構Ｃと、前記順回搬送機構Ｃに装着された
複数組の把持機構Ｈと、同順回搬送機構Ｃの外側方にお
いて、前記基台２の上面に立設され、かつ、支持手段と
して上下一対の電極支持アーム３Ａ，３Ｂを水平に片持
ち保持した３組のフレーム４Ａ〜４Ｃと、前記フレーム
４Ａに装着された第１プレ充電装置Ｆ１の電圧印加部ｆ
１と、第２プレ充電装置Ｆ２の電圧印加部ｆ２と、第１
絶縁抵抗試験装置Ｒ１の抵抗検出部ｒ１、又は、フレー
ム４Ｂに装着された放電耐量試験装置ＴＩの通電部ｔ
ｉ、及び、フレーム４Ｃに装着された第２絶縁抵抗試験
装置Ｒ２の抵抗検出部ｒ２と、バリスタ電圧試験装置Ｂ
Ｖの電圧印加部ｂｖ、更に製品の搬入部Ｃ１、不良品搬
出部Ｃ２、及び良品搬出部Ｃ３とにより構成されてい
る。

次いで、所定の一試験スペースを区画形成する遮蔽壁Ｗ
内における、前記試験装置機構部１を中心とした自動試
験装置の各構成要素の配置構造について、第１図に従っ
て説明する。

試験装置機構１を構成する前記搬入部Ｃ１、不良品及び
良品の搬出部Ｃ２，Ｃ３は、遮蔽壁Ｗの開放部Ｗａから
同壁Ｗ外側へ露出され、搬入部Ｃ１担当の試験作業者Ｍ
１と、搬出部Ｃ２，Ｃ３担当の試験作業者Ｍ２が試験作
業にあたる。放電耐量試験装置ＴＩの通電部ｔｉは、前
記試験装置機構部１に対して搬入部Ｃ１及び搬出部Ｃ
２，Ｃ３の反対側に設けられ、第１及び第２のプレ充電
装置の電圧印加部ｆ１，ｆ２と第１絶縁抵抗試験装置Ｒ
１の抵抗検出部ｒ１は、試験装置機構部１に対して通電
部ｔｉの右側部に、更に第２絶縁抵抗試験装置Ｒ２の抵
抗検出部ｒ２とバリスタ電圧試験装置ＢＶの電圧印加部
ｂｖは、試験装置機構部１に対して通電部ｔｉの左側部
にそれぞれ設けられている。

前記放電耐量試験装置通電部ｔｉに接続された放電耐量
試験装置ＴＩは試験装置機構部１の後方に設置されてい
る。ＦＡは前記放電耐量試験装置ＴＩの近傍に位置し
て、同装置ＴＩの放熱を補助するためのファンである。

前記遮蔽壁Ｗの左側壁と試験装置機構部１との間には、
電圧印加部ｆ１、電圧印加部ｆ２、抵抗検出部ｒ１にそ
れぞれ接続される第１プレ充電装置Ｆ１、第２プレ充電
装置Ｆ２、及び第１絶縁抵抗試験装置Ｒ１が設置されて
いる。

更に、遮蔽壁Ｗの右側壁と試験装置機構部１との間に
は、前記抵抗検出部ｒ２、電圧印加部ｂｖにそれぞれ接
続される第２絶縁抵抗試験装置Ｒ２、バリスタ電圧試験
装置ＢＶが設置されている。

ＡＣは前記試験作業者Ｍ１，Ｍ２と同側に設置され、こ
の試験装置の動作を集中して自動制御するための自動制
御部である。又、遮蔽壁Ｗには、同壁Ｗ内の保守点検用
のドアＷｂが設けられている。

なお、前述した装置Ｆ１，Ｆ２，Ｒ１，ＴＩ，Ｒ２，Ｂ
Ｖ、及び、自動制御部ＡＣはそれぞれシールドケースＳ
Ｃに収容されている。

次に、前述した各装置について、順次詳述する。

まず、最初に順回搬送機構Ｃ及び駆動機構Ｄを第２，３
図について述べると、５は前記基台２に立設固定された
支持フレームであって、その上部にはブレーキ機構を内
蔵する駆動モーター６を備えた駆動機構Ｄが装着され、
同駆動機構Ｄには、前記モーター６を、所定時間（例え
ば、７．５秒）の停止と、所定時間（例えば、２．５
秒）の駆動とを交互に間欠的に制御するための割出中確
認マイクロスイッチ７が接続されている。

更に、前記駆動機構Ｄの上部には、同機構Ｄによって回
転される順回搬送機構Ｃが設置されている。

同機構Ｃについて述べると、８は円形状の回転基板、９
は第４，５図に示すように、前記基板８の外縁部に対し
等間隔にボルトで締着された複数（この実施例では１６
組）の支持部材、１０は各支持部材９の上部に載置固定
された円形状の蓋板であって、これらの部材により順回
搬送機構Ｃが構成され、第２図において蓋板１０の中心
Ｏを中心としてＰ矢印方向へ回転可能である。

次に、前記順回搬送機構Ｃの各支持部材９にそれぞれ装
着された把持機構Ｈについて、第４，５図を中心に説明
する。

１１Ａ，１１Ｂは前記各支持部材９の上下両端部にそれ
ぞれボルトにより締付固定された絶縁材よりなる上部及
び下部の支持アームであって、支持部材９とで側面がほ
ぼ形状の支持枠１２Ａ〜１２Ｐを構成し、各支持枠１
２Ａ〜１２Ｐは全体として第２図に示すように平面放射
状に配設されている。

この実施例では、第２図に示す前記各支持枠１２Ａ〜１
２Ｐの停止位置を、それぞれ第１ステーションＳＴ１〜
第１６ステーションＳＴ１６としている。

１３Ａは前記各上部支持アーム１１Ａの先端に形成した
孔１１ａに上下方向に挿通された円柱状の上部把持電極
であって、その上端は上部支持アーム１１Ａの先端に固
定したドーナッツ形状のリング部材１４Ａに嵌合され、
ねじで止着されている。前記上部把持電極１３Ａの下面
には、避雷器Ｊの上端電極１５Ａを嵌入するための係止
孔１３ａが形成されている。１６は上部把持電極１３Ａ
の下端背面（第５図右側）に止着されたほぼ半円筒状の
係止板であって、避雷器Ｊの装着時にその上端部を当接
して上端電極１５Ａを係止孔１３ａに係合し易くしてい
る。

１３Ｂは同じく下部支持アーム１１Ｂの先端部に形成し
た孔１１ｂに上下方向に摺動可能に挿通された棒状の下
部把持電極であって、その上端には短円柱状の受部材１
７が取着されい、同受部材１７上面には、避雷器Ｊの下
端電極１５Ｂを係止する係止孔１７ａが形成されてい
る。１８は前記下部把持電極１３Ｂの上半部に巻着さ
れ、受部材１７の下面と下部支持アーム１１Ｂの上面と
の間に介装されたスプリングであって、下部把持電極１
３Ｂを上方に付勢している。１４Ｂ，１４Ｃはそれぞれ
下部把持電極１３Ｂの下端部に嵌合され、ねじで締付さ
れたリング部材であって、それぞれ所定の間隙Ｇをもっ
て離隔され、上部のリング部材１４Ｂは、常に前記下部
支持アーム１１Ｂの面に当接され、下部把持電極１３Ｂ
の上限位置を規制している。以上が把持機構Ｈの構成説
明である。

１９は第５図に示すように、下部把持電極１３Ｂの近傍
で下部支持アーム１１Ｂの先端上面に、ボルト２０によ
り締着されたＴ字形状の導電性金属よりなる避雷器Ｊの
搬出用案内ピンであって、下部把持電極１３Ｂが下動し
たとき、避雷器Ｊの下部を前方へ押圧して避雷器Ｊが前
方へ転倒されるようにしている。２１は前記案内ピン１
９と下部把持電極１３Ｂを電気的に接続するリード線で
ある。

２３Ａ〜２３Ｄは第２，３図に示すように１６個のステ
ーションＳＴ１〜１６のうち、第１，２，１５，１６の
４つのステーションと対応するように、Ｌ字形状の保持
アーム２１Ａ〜２４Ｄを介してそれぞれ上向きに固定さ
れた第１〜４エアシリンダであって、それらのピストン
ロッド２３ａの上端部には、第６図に示すように、ドー
ナッツ形状の係合板２３が固着されている。そして、前
記把持機構Ｈの下部把持電極１３Ｂに止着したリング部
材１４Ｂ，１４Ｃが各ステーションＳＴ１，ＳＴ２，Ｓ
Ｔ１５，ＳＴ１６に移動停止されると、その間隙Ｇに前
記係合板２２が緩く進入されるようになっている。

前記エアシリンダ２３Ａ〜２３Ｄには、それぞれ係合板
２２の昇降動作を制御するための電磁弁（図示略）が接
続されており、更に、前記係合板２２の上下二位置に対
応して、前記係合板２２の昇降動作の上端位置及び下端
位置を確認するための、確認リミットスイッチ（図示
略）が接続されている。

前記第１，２エアシリンダ２３Ａ，２３Ｂの電磁弁に
は、それぞれフットスイッチＦＳ１，ＦＳ２が接続さ
れ、これらにより一対の搬入部Ｃ１，Ｃ１を構成してい
る。又、前記第３，４エアシリンダ２３Ｃ，２３Ｄ、搬
出用の案内ピン１９及び第３図に示す支持脚２５により
支持された不良品用及び良品用の搬出シュート２６Ａ，
２６Ｂとにより、それぞれ不良品及び良品の搬出部Ｃ
２，Ｃ３を構成している。前記第３，４エアシリンダ２
３Ｃ，２３Ｄの電磁弁は後述する動作制御部２７からの
信号により制御されるようになっている。

ここで、搬入部Ｃ１，Ｃ１におけるエアシリンダ２３
Ａ，２３Ｂのピストンロッド２３ａの移動量は、搬出部
Ｃ２，Ｃ３におけるエアシリンダ２３Ｃ，２３Ｄのそれ
よりも小さく設定されている。つまり、搬入部Ｃ１，Ｃ
１では、上部及び下部の把持電極１３Ａ，１３Ｂの間に
避雷器Ｊを装着できる程度に、下部把持電極１３Ｂが下
がるように設定されている。これにより、搬入部Ｃ１，
Ｃ１では、避雷器Ｊと案内ピン１９が干渉しないように
なっている。

次に、第１プレ充電装置Ｆ１の電圧印加部ｆ１の構成を
第７，８図について説明すると、２８Ａ，２８Ｂはそれ
ぞれ上部電極支持アーム３Ａ及び下部電極支持アーム３
Ｂの先端部に対し、互いに対向するようにボルトにより
締着された弾性導板よりなる断面形状の上部及び下部
の固定電極であって、上部固定電極２８Ａの下面には上
部把持電極１３Ａの上端面が、下部固定電極２８Ｂの上
面には下部把持電極１３Ｂの下端面がそれぞれ摺接可能
となる。このため、上部及び下部の把持電極１３Ａ，１
３Ｂに避雷器Ｊがされた状態で、各把持電極１３Ａ，１
３Ｂがそれぞれ上下各固定電極２８Ａ，２８Ｂに摺接さ
れることにより、避雷器Ｊの上下両端電極１５Ａ，１５
Ｂが、各把持電極１３Ａ，１３Ｂを通じて、各固定電極
２８Ａ，２８Ｂとそれぞれ導通可能となる。２９，２９
はそれぞれ前記上下両固定電極２８Ａ，２８Ｂに接続さ
れたリード線であって、それらの他端は第１プレ充電装
置Ｆ１に接続されている。

なお、第２プレ充電装置Ｆ２の電圧印加部ｆ２、第１絶
縁抵抗試験装置Ｒ１の抵抗検出部ｒ１、第２絶縁抵抗試
験装置Ｒ２の抵抗検出部ｒ２、及びバリスタ電圧試験装
置ＢＶの電圧印加部ｂｖは、それぞれ前記第１プレ充電
装置Ｆ１の電圧印加部ｆ１と同様の構成を採用している
ので、それらの構成の説明は省略する。

ＬＳ１はフレーム４Ａの側部に取着された避雷器Ｊの有
無確認用の第１リミットスイッチであって、その回動支
軸３０には、細い接触子３１が水平に片持支持され、そ
の先端は把持機構Ｈに把持された避雷器Ｊと接触可能で
ある。そして、避雷器Ｊと接触時には、回動支軸３０を
中心に水平回動され、避雷器Ｊの存在を確認するように
なっている。

なお、前記第１リミットスイッチＬＳ１と同じ目的、同
様に構成された第２リミットスイッチＬＳ２は、第２図
に示すように放電耐量試験用の通電部ｔｉのフレーム４
Ｂに第３リミットスイッチＬＳ３はバリスタ電圧試験用
の電圧印加部ｂｖのフレーム４Ｃそれぞれ設けられてい
る。これらのリミットスイッチＬＳ１〜ＬＳ３は後述す
る中央処理装置ＣＰＵ３２に接続されている（第１４図
参照）。

次に、放電耐量試験装置ＴＩの通電部ｔｉの構成を第
９，１０図について説明すると、３３，３３は上部及び
下部の電極支持アーム３Ａ，３Ｂの先端部に取着された
上部及び下部の電極取付部材であって、取付板３３ａ
と、同板３３ａに設けられた穴に垂直に嵌合された筒体
３３ｂとで構成されている。３４，３４は基端を上下両
固定電極２８Ａ，２８Ｂに溶着し、前記筒体３３ｂ，３
３ｂに摺動可能に挿通された上部及び下部の取付棒であ
る。上下両固定電極２８Ａ，２８Ｂはボルト３５により
上下両電極取付部材３３，３３に取着さている。３６は
前記ボルト３５に巻装され、上部固定電極２８Ａと上部
の電極取付部材３３との対向面、及び、下部固定電極２
８Ｂを下部の電極取付部材３３との対向面に介装された
スプリングであって、上下両固定電極２８Ａ，２８Ｂを
互いに近接する方向へ付勢している。３７，３７は上部
固定電極２８Ａ、及び、下部固定電極２８Ｂの側面に締
着された端子板であって、同板にはリード線２９，２９
が接続され、放電耐量試験装置ＴＩに接続されている。
ここで、上下各固定電極２８Ａ，２８Ｂが各把持電極１
３Ａ，１３Ｂを通じて、避雷器Ｊの上下両端電極１５
Ａ，１５Ｂと導通可能であるのは、前述した第１プレ充
電装置Ｆ１の電圧印加部ｆ１等のそれと同じである。

次に、前記試験装置機構部１及び各装置Ｆ１，Ｆ２，Ｒ
１，ＴＩ，Ｒ２，ＢＶの自動制御部ＡＣを第１４図に従
って説明する。

３２は中央処理装置ＣＰＵであって、これには読み出し
専用メモリーＲＯＭ３８及び読み出し書き込み両用メモ
リーＲＡＭ３９が接続され、更にディスプレイ４０及び
プリンター４１が接続されている。又、前記ＣＰＵ３２
には、各装置Ｆ１，Ｆ２，Ｒ１，ＴＩ，Ｒ２，ＢＶがそ
れぞれ接続されている。前記ＲＯＭ３８にはＣＰＵ３２
を制御するプログラムが書込まれており、又、ＲＡＭ３
９は各試験装置Ｒ１，ＴＩ，Ｒ２，ＢＶで行った試験結
果を取り込んだり、必要に応じて同結果をＣＰＵ３２へ
出力するようになっている。

２７は前記ＣＰＵ３２に接続された動作制御部であっ
て、この動作制御部２７には割出中確認マイクロスイッ
チ７を付属し駆動機構Ｄ、不良品の搬出部Ｃ２、及び、
良品の検出部Ｃ３がそれぞれ接続され、各機構の動作を
自動制御するようにしている。

次に、前記のように構成した酸化亜鉛避雷器の自動試験
装置の作用について説明する。

まず、自動試験装置の電源をＯＮにし、駆動機構Ｄを動
作させた状態において、割出中確認マイクロスイッチ７
が割出を開始しＯＮ状態となると、駆動機構Ｄの駆動モ
ーター６が起動されて、回転基板８の回転により回搬送
機構Ｃが周回運動を開始する。駆動モーター６が始動し
て所定時間（２．５秒）後、割出中確認マイクロスイッ
チ７が割出を終了しＯＦＦ状態になると同時に、駆動モ
ーター６がその内蔵するブレーキ機構により停止され、
順回搬送機構Ｃの周回運動は所定時間（７．５秒）停止
状態となる。このように、順回搬送機構Ｃは、前記駆動
モータ６の間欠動作（２．５秒間の作動、７．５秒間の
停止）により、間欠的な周回運動を行う。

次に、避雷器Ｊの各種試験を行うには、順回搬送機構Ｃ
が停止され、第１図に示す支持枠１２Ａが第１ステーシ
ョンＳＴ１に停止した状態において、フットスイッチＦ
Ｓ１を操作する。すると、図示しない電磁弁が作動し
て、第１エアシリンダ２３Ａのピストンロッド２３ａが
下降され、把持機構Ｈを構成する下部把持電極１３Ｂ下
端のリング部材１４Ｂ，１４Ｃ間の間隙Ｇに進入してい
る係合板２２により、前記リング部材１４Ｃが下動され
て前記下部把持電極１３Ｂがスプリング１８のばね力に
抗して下方へ移動される。

前記ピストンロッド２３ａの下降動作は、その最下位置
で図示しない下端確認リミットスイッチの作動により自
動的に停止される。

ここで、被試験物である避雷器Ｊの下端電極１５Ｂを係
止孔１７ａに嵌合して垂直に支持するとともに、フット
スイッチＦＳ１の操作を解除すると、図示しない電磁弁
が作動して、第１エアシリンダ２３Ａのピストンロッド
２３ａが上昇され、スプリング１８の付勢力とともに前
記下部把持電極１３Ｂは上昇する。このとき、前記避雷
器Ｊの上端電極１５Ａを上部把持電極１３Ａの係止孔１
３ａに嵌入し、避雷器Ｊを把持機構Ｈに装着する。な
お、係合板２２の最上位置で図示しない上端確認リミッ
トスイッチを作動するため、シリンダ２３Ａが停止され
る。

支持枠１２Ａは、所定時間（７．５秒）が経過すると停
止状態を終了し、所定時間（２．５秒）で第１図に示し
た中心Ｏを中心に右回り（矢印Ｐ方向）へ所定角度（２
２．５度）の角度で間欠回動（以後同様）し、次に、第
２エアシリンダ２３Ｂと対応する第２ステーションＳＴ
２まで移動して停止する。

第２ステーションＳＴ２においても、支持枠１２Ａに対
しフットスイッチＦＳ２により、第１ステーションＳＴ
１で述べた操作と同様の操作で避雷器Ｊを把持させるこ
ともでき、例えば、同ステーショＳＴ１で、避雷器Ｊの
把持を忘れたときなどに使用される。

支持枠１２Ａは７．５秒が経過すると２．５秒で第３ス
テーションＳＴ３へ移動し、さらに第３ステーションＳ
Ｔ３で、７．５秒間停止した後、２．５秒間で第４ステ
ーションＳＴ４へ移動する。

移動途中、支持枠１２Ａに把持された避雷器Ｊは、第４
ステーションＳＴ４の直前で第１リミットスイッチＬＳ
１の接触子３１と接触し、同リミットスイッチＬＳ１が
作動される。すると、同リミットスイッチＬＳ１からＣ
ＰＵ３２へ製品確認信号が伝送され、ＣＰＵ３２はＲＯ
Ｍ３８に予め入力された第１プレ充電試験動作プログラ
ム、第２プレ充電試験動作プログラム及び第１絶縁抵抗
試験動作プログラムを順次読み出しする。

支持枠１２Ａが第４ステーションＳＴ４に停止すると、
第７，８図に示すように、上部固定電極２８Ａの下面に
上部把持電極１３Ａの上端部が、下部固定電極２８Ｂの
上面に下部把持電極１３Ｂの下端部がそれぞれ当接す
る。このとき、駆動機構の割出中確認マイクロスイッチ
７より駆動停止信号が動作制御部２７を通じてＣＰＵ３
２へ伝送されると、ＣＰＵ３２は第１プレ充電装置Ｆ１
に対し、第１プレ充電装置動作プログラムに基づいて動
作信号を伝送し、第１プレ充電装置Ｆ１を作動させる。
そして、把持機構Ｈに把持された避雷器Ｊの上下両端電
極１５Ａ，１５Ｂには、第１プレ充電装置の電圧印加部
ｆ１の上下両固定電極２８Ａ，２８Ｂから各把持電極１
３Ａ，１３Ｂを通じて電圧が印加され、第１絶縁抵抗試
験を行うための予備充電が行われる。

支持枠１２Ａは７．５秒間停止した後、２．５秒間で第
５ステーションＳＴ５へ移動して停止すると、前記第４
ステーションＳＴ４と同様に、割出中確認マイクロスイ
ッチ７からＣＰＵ３２へ駆動停止信号が伝送される。こ
のとき、ＣＰＵ３２は既にＲＯＭ３８より読み出された
第２プレ充電装置動作プログラムに基づいて、第２プレ
充電装置Ｆ２へ動作信号を伝送し、避雷器Ｊに電圧が印
加され、再び予備充電が行われる。

支持枠１２Ａは、第５ステーションＳＴ５に７．５秒間
停止した後、２．５秒間で第６ステーションＳＴ６へ移
動する。

支持枠１２Ａが第６ステーションＳＴ６に停止すると、
割出中確認マイクロスイッチ７からＣＰＵ３２へ駆動停
止信号が伝送される。このとき、ＣＰＵ３２は既にＲＯ
Ｍ３８より読み出された第１絶縁抵抗試験動作プログラ
ムに基づいて、第１絶縁抵抗試験装置Ｒ１へ動作信号を
伝送し、第１絶縁抵抗試験装置Ｒ１を作動させ、避雷器
Ｊの上下両端電極１５Ａ，１５Ｂには、上下両固定電極
２８Ａ，２８Ｂから各把持電極１３Ａ，１３Ｂを通じて
避雷器Ｊに１０００Ｖの電圧が印加され、避雷器Ｊの絶
縁抵抗値が測定される。このときの測定値信号はＣＰＵ
３２へ伝送される。

ＣＰＵ３２は、前記測定値信号が２０００ＭΩ以上なら
ば合格と判定し、良品判定信号をＲＡＭ３９に記憶させ
る。又、２０００ＭΩ以下ならば不合格と判定し、後
に、この支持枠１２Ａに把持された避雷器Ｊを第１５ス
テーションＳＴ１５において、不良品搬出部Ｃ２により
除去するための不良品判定信号をＲＡＭ３９に記憶させ
る。

支持枠１２Ａが第６ステーションＳＴ６に７．５秒間停
止した後、２．５秒間で第７ステーションＳＴ７へ移動
し、ここで７．５秒間停止した後、２．５秒間で第８ス
テーションＳＴ８へ移動する。

支持枠１２Ａの避雷器Ｊは、第８ステーションＳＴ８の
直前で、第２リミットスイッチＬＳ２の接触子３１と接
触し、同リミットスイッチＬＳ２が作動されて、ＣＰＵ
３２へ製品確認信号が伝送されると、ＣＰＵ３２はＲＯ
Ｍ３８に予め入力された放電耐量試験動作プログラム、
及び第２絶縁抵抗試験動作プログラムを読み出しする。

支持枠１２が第８ステーションＳＴ８に停止すると、第
９，１０図に示すように、上部把持電極１３Ａの上端部
が上部こ固定電極２８Ａの下面に、下部把持電極１３Ｂ
の下端部が下部固定電極２８Ｂの上面にそれぞれ当接す
る。前記上下両固定電極２８Ａ，２８Ｂには、それぞれ
スプリング３６が設けられているので、上下両把持電極
１３Ａ，１３Ｂの端部との接触が確実に行われるととも
に、接触時の衝撃が緩和される。

このとき、駆動機構Ｄの割出中確認マイクロスイッチ７
より駆動停止信号が動作制御部２７を通じてＣＰＵ３２
に伝送されると、ＣＰＵ３２は前記読み出しされた放電
耐量試験動作プログラムに基づいて、放電耐量試験装置
ＴＩに対して動作信号を伝送し、放電耐量試験装置ＴＩ
を作動せる。そして、前記第８ステーションＳＴ８にあ
る避雷器Ｊの上下両端電極１５Ａ，１５Ｂには上下両固
定電極２８Ａ，２８Ｂから各把持電極１３Ａ，１３Ｂを
通じて６ＫＡ，４×１０μｓ波形の雷インパルスが印加
され、そのときの波形が検出される。このときの検出波
形を示す測定信号はＣＰＵ３２へ伝送される。

ＣＵＰ３２は、前記測定値信号の波形に乱れがなければ
合格と判定し、同良品判定信号をＲＡＭ３９に記憶させ
る。又、波形に乱れが有れば不合格と判定し、後にこの
支持枠１２Ａに支持された避雷器Ｊを第１５ステーショ
ンＳＴ１５で除去する不良品判定信号をＲＡＭ３９に記
憶させる。

支持枠１２Ａは第８ステーションＳＴ８に７．５秒間停
止した後、２．５秒間で第９ステーションＳＴ９へ移動
する。以後、同様の過程を経て、第９ステーションＳＴ
９から、第１０ステーションＳＴ１０及び第１１ステー
ションＳＴ１１をそれぞれ間欠移動して、第１２ステー
ションＳＴ１２へ移動する。

支持枠１２Ａが第１２ステーショＳＴ１２に停止する
と、駆動機構Ｄの割出中確認マイクロスイッチ７より駆
動停止信号が動作制御部２７を通じてＣＰＵ３２に伝送
される。このとき、既に読み出された第２絶縁抵抗試験
動作プログラムに基づいて、ＣＰＵ３２は第２絶縁抵抗
試験装置Ｒ２に対して動作信号を伝送し同試験装置Ｒ２
を動作させる。そして、避雷器Ｊの上下両端電極１５
Ａ，１５Ｂには上下両固定電極２８Ａ，２８Ｂから各把
持電極１３Ａ，１３Ｂを通じて１０００Ｖの電圧が印加
され、避雷器Ｊの絶縁抵抗値が測定される。このときの
測定値信号はＣＰＵ３２は伝送される。

ＣＰＵ３２は、前記測定値信号が２０００ＭΩ以上なら
ば合格と判定し、良品判定信号をＲＡＭ３９に記憶させ
る。又、２０００ＭΩ以下ならば不合格と判定し、後に
この支持枠１２Ａに支持された避雷器Ｊを第１５ステー
ションＳＴ１５で除去する不良品判定信号をＲＡＭ３９
に記憶させる。

支持枠１２Ａは第１２ステーションＳＴ１２に７．５秒
間停止した後、２．５秒間で第１３ステーションＳＴ１
３へ移動し、更に、同様の過程を経て第１４ステーショ
ンＳＴ１４へ移動する。

支持枠１２Ａの避雷器Ｊは、第１４ステーションＳＴ１
４の直前で、第３リミットスイッチＬＳ３の接触子３１
と接触し、同リミットスイッチＬＳ３が作動するとＣＰ
Ｕ３２へ製品確認信号が伝送され、ＣＰＵ３２はＲＯＭ
３８に予め入力されたバリスタ電圧試験動作プログラム
を読み出しする。

支持枠１２Ａが第１４ステーションＳＴ１４で停止する
と、割出中確認マイクロスイッチ７よりＣＰＵ３２へ駆
動停止信号が伝送され、ＣＰＵ３２はバリスタ電圧試験
動作プログラムに基づいてバリスタ電圧試験装置ＢＶへ
動作信号を伝送し、同試験装置ＢＶを作動させる。そし
て、避雷器Ｊの上下両端電極１５Ａ，１５Ｂには前記上
下両固定電極２８Ａ，２８Ｂから各把持電極１３Ａ，１
３Ｂを通じて避雷器Ｊに電圧が印加され、避雷器Ｊに１
ｍＡの電波が流れるときの電圧が測定される。このとき
の測定値信号はＣＰＵ３２へ伝送される。

ＣＰＵ３２は、前記測定値信号が６．７Ｋ〜８．０ＫＶ
の範囲内であれば、合格と判定し良品判定信号をＲＡＭ
３９に記憶させる。又、前記測定値信号が６．７ＫＶ〜
８．０ＫＶの範囲外ならば不合格と判定し、第１５ステ
ーションで除去される不良品判定信号をＲＡＭ３９に記
憶させる。

なお、測定値信号が前記範囲内とあっても、電圧指示が
不安定なものは、不合格と判定し同様に不良品判定信号
をＲＡＭ３９に記憶させる。

支持枠１２Ａは第１４ステーションＳＴ１４に７．５秒
間停止した後、２．５秒間で第１５ステーションＳＴ１
５へ移動して、支持枠１２Ａが停止すると、割出中確認
マイクロスイッチ７の駆動停止信号が動作制御部２７を
通じてＣＰＵ３２に伝送される。このとき、ＣＰＵ３２
はＲＡＭ３９に既に記憶された同支持枠１２Ａの避雷器
Ｊに関する複数の良品判定信号又は不良品判定信号を読
み出す。

そして、前記判定信号の中に、一つでも不良品判定信号
が有ると、ＣＰＵ３２から、動作制御部２７を介して不
良品搬出部Ｃ２の第３エアシリンダ２３Ｃに対して不良
品信号を伝送する。そして、前記第３エアシリンダ２３
Ｃの図示しない電磁弁が作動され、ピストンロッド２３
ａが下動される。

このとき、第１１図に示すように、既に第１５ステーシ
ョンＳＴ１５に停止し、下部把持電極１３Ｂ下端のリン
グ部材１４Ｂ，１４Ｃ間の間隙Ｇに、緩く進入された係
合板２２は、ピストンロッド２３ａの下降により、第１
２図に示すように、前記リング部材１４Ｃを下方に押動
して、前記下部把持電極１３Ｂを避雷器Ｊとともにスプ
リング１８の弾力に抗して下動させる。同時に、既に行
われた各試験の際、避雷器Ｊの内部に印加された高圧の
電荷は、リング部材１４Ｂ、下部把持電極１３Ｂ、更に
係合板２２を経て接地側へ流れ除去される。

又、前記避雷器Ｊの下降時には、案内ピン１９の上端に
同避雷器Ｊの下部外周テーパー面が当接される。このと
き、避雷器Ｊに印加された高圧の電荷のうち、避雷器Ｊ
の沿面に残留している電荷は、案内ピン１９からリード
線２１、リング部材１４Ｂ、下部把持電極１３Ｂ、リン
グ部材１４Ｃあるいは係合板２２、ピストンロッド２３
ａ等を経て接地側へ流され除去される。

そして、更に、ピストンロッド２３ａが下降すると、案
内ピン１９の上端により避雷器Ｊの下部外周背面が押圧
されて、避雷器Ｊは前方へ押圧され第１３図に示すよう
に、案内ピン１９前方へ転倒される。この避雷器Ｊは、
その後不良品用搬出シュート２６Ａに沿って所定の場所
へ搬出される。

ところで、前記ＣＰＵ３２により演算された各判定信号
が、全て良品判定信号であるときは、ＣＰＵ３２は同信
号をＲＡＭ３９に記憶させる。

支持枠１２Ａは第１５ステーションＳＴ１５に７．５秒
間停止した後、２．秒間で第１６ステーションＳＴ１６
へ移動し、ここで、支持枠１２Ａが停止すると、割出中
確認マイクロスイッチ７の駆動停止信号がＣＰＵ３２に
伝送される。このとき、ＣＰＵ３２は、ＲＡＭ３９に記
憶された良品信号を読み出して、動作制御部２７から良
品搬出部Ｃ３の第４エアシリンダ２３Ｄへ動作信号を伝
送し、同シリンダ２３Ｄを動作させ、第１５ステーショ
ンＳＴ１５における不良品搬出Ｃ２と同様の作用で、全
試験行程に合格した避雷器Ｊが、良品用搬出シュート２
６Ｂを経て所定の場所へ搬出させる。

その後、支持枠１２Ａは第１６ステーションＳＴ１６に
７．５秒間停止した後、２．５秒間で第１ステーション
ＳＴ１へ移動され、再び次の避雷器Ｊの試験に備えられ
る。なお、他の支持枠１２Ｂ〜１２Ｐに把持された避雷
器Ｊの性能試験についても、前述の行程と同様の経過で
行われる。

以上詳述したように、支持枠１２Ａ〜１２Ｐに把持され
た避雷器Ｊの一連の製品試験は、全て連続的に、かつ、
自動的に行われ、不良製品として排除すべき避雷器と合
格製品として梱包すべき避雷器とは自動的に選別され
る。

なお、ＲＡＭ３９の記憶された各避雷器の試験項目ごと
の測定値信号は、適時ディスプレイ４０に表示され、プ
リンター４１により印字される。

ところで、前述したような避雷器の試験作業には、第１
図に示すように、通常少なくとも搬入部Ｃ１へ避雷器を
装着する作業者Ｍ１と、不良品及び良品の搬出部Ｃ２，
Ｃ３の搬出シュート２６Ａ，２６Ｂより所定の搬出され
る避雷器を、整理する作業者Ｍ２との２名が従事する。
そして、前記自動試験装置の動作時には、順回搬送機構
Ｃが停止状態となると、一連の各装置Ｆ１，Ｆ２，Ｒ
１，ＴＩ，Ｒ２，ＢＶの電圧印加部ｆ１，ｆ２，ｂｖ、
抵抗検出部ｒ１，ｒ２及び通電部ｔｉに支持枠１２Ａ〜
１２Ｐの一部が対応し、各支持枠１２Ａ〜１２Ｐの上下
両把持電極１３Ａ，１３Ｂと上下両固定電極２８Ａ，２
８Ｂとが接触してそれぞれの試験が同時に行われる。こ
の試験時には高電圧が使用され、感電事故などの危険も
伴うが、作業者Ｍ１，Ｍ２は、遮蔽壁Ｗによって前記各
固定電極２８Ａ，２８Ｂの高電圧部から離隔され、接触
感電が未然に防止される。

又、雷インパルスの大電流通電試験で、接触感電の他
に、空気中を伝播する雷インパルスの通電余波により、
特に危険を伴う放電耐量試験の装置ＴＩ及びその通電部
ｔｉは、作業者Ｍ１，Ｍ２に対して順回搬送機構Ｃを挟
んだ反射側に設置されているので、作業者Ｍ１，Ｍ２は
放電対量試験装置ＴＩと常に所定の間隔をもって離隔さ
れ、かつ、遮蔽壁Ｗで防護されるので、作業者Ｍ１，Ｍ
２の安全が確保される。

一方、各装置Ｆ１，Ｆ２，Ｒ１，ＴＩ，Ｒ２，ＢＶ、及
び、自動制御部ＡＣは、シールドケースＳＣによって空
中を伝播する前記雷インパルス大電流通電時の余波が接
地側に除去され、前記各装置Ｆ１，Ｆ２，Ｒ１，ＴＩ，
Ｒ２，ＢＶ、及び自動制御部ＡＣに使用されているトラ
ンジスタ等の半導体は、大電流通電の余波の影響を受け
ることなく、正常に動作される。

又、この発明の実施例は、次のように具体化することも
できる。

（１） 避雷器Ｊの上下両端電極を上下両支持アーム１
１Ａ，１１Ｂの孔１１ａ，１１ｂに直接挿入して、上部
及び下部の固定電極２８Ａ，２８Ｂと導通可能に把持す
ること。

この場合上部支持アーム１１Ａを上下方向の回動可能に
取着する等の着脱を行うことができる構成を採るものと
する。

（２） 順回搬送機構Ｃの周回運動を連続的、かつ、低
速にするとともに、上部及び下部の固定電極２８Ａ，２
８Ｂの上面及び下面を長くして、避雷器Ｊの上下両端電
極１５Ａ，１５Ｂと導通可能にすること。

（３） 不良品搬出部Ｃ２を前記抵抗検出部ｒ１、通電
部ｔｉ、抵抗検出部ｒ２及び電圧印加部ｂｖの直後にそ
れぞれ設け、不良品を除去するようにすること。

発明の効果 以上詳述したように、この発明は高電圧や大電流の危険
を伴う酸化亜鉛避雷器の製品試験に関して、試験作業者
の安全が確保されるとともに、広いスペースを必要とせ
ず、一連の試験作業を一箇所に集中して連続的に行える
ので、単位時間あたりの試験処理数を増加させて試験の
能率を向上することができる。

【図面の簡単な説明】 第１図はこの発明の実施例の模式図を示す平面図、第２
図はこの発明の実施例の試験装置機構部を示す平面図、
第３図は同じく試験装置機構部を示す側断面図、第４図
は同じく試験装置機構部の把持機構を示す平面図、第５
図は第４図の中央部縦断面図、第６図は同じく試験装置
機構部のエアシリンダの拡大図、第７図はプレ充電装置
の電圧印加部を示す側面図、第８図は第７図のＸ−Ｘ線
断面図、第９図は雷インパルスの通電部を示す側面図、
第１０図は第９図のＹ−Ｙ線断面図、第１１，１２，１
３図は避雷器の把持解除動作を説明する側断面図、第１
４図は試験装置の自動制御の構成を示すブロック図であ
る。 １……試験装置機構部、３Ａ（３Ｂ）……上部（下部）
電極支持アーム、６……駆動モーター、７……割出中確
認マイクロスイッチ、１２Ａ〜１２Ｐ……支持枠、１３
Ａ（１３Ｂ）……上部（下部）把持電極、１４Ａ〜１４
Ｃ……リング部材、１５Ａ（１５Ｂ）……上端（下端）
電極、１８……スプリング、１９……案内ピン、２３Ａ
〜２３Ｄ……第１〜第４エアシリンダ、２７……動作制
御部、２８Ａ（２８Ｂ）……上部（下部）固定電極、３
２……ＣＰＵ、３８……ＲＯＭ、３９……ＲＡＭ、４０
……ディスプレイ、４１……プリンター、Ｄ……駆動機
構、Ｃ……順回搬送機構、Ｈ……把持機構、Ｊ……避雷
器、Ｆ１（Ｆ２）……第１（第２）プレ充電装置、Ｒ１
（Ｒ２）……第１（第２）絶縁抵抗試験装置、ＴＩ……
放電耐量試験装置、ＢＶ……バリスタ電圧試験装置、ｆ
１（ｆ２）……第１（第２）プレ充電装置電圧印加部、
ｒ１（ｒ２）……第１（第２）絶縁抵抗試験装置抵抗検
出部、ｔｉ……放電耐量試験装置通電部、ｂｖ……バリ
スタ電圧試験装置電圧印加部、ＡＣ……自動制御部、Ｓ
……電圧試験装置電圧印加部、ＡＣ……自動制御部、Ｓ
Ｃ……シールドケース、Ｃ１……搬入部、Ｃ２……不良
品搬出部、Ｃ３……良品搬出部、Ｇ……間隙、Ｍ１，Ｍ
２……試験作業者、Ｗ……遮蔽壁、ＳＴ１〜ＳＴ１６…
…（第１〜第１６）ステーション、ＦＳ１，ＦＳ２……
フットスイッチ。

Claims (10)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】駆動機構（Ｄ）により周回運動を行うよう
   にした順回搬送機構（Ｃ）と、 前記順回搬送機構（Ｃ）に装着され、避雷器（Ｊ）の上
   下両端電極（１５Ａ，１５ＢＢ）をそれぞれ着脱可能に
   把持する複数組の把持機構（Ｈ）と、 前記把持機構（Ｈ）の周回運動軌跡と対応する位置にお
   いて支持手段により支持され、かつ避雷器（Ｊ）の上下
   両端電極（１５Ａ，１５Ｂ）と一時的に導通可能に設け
   られた複数組の上部及び下部の固定電極（２８Ａ，２８
   Ｂ）と、 前記各組の固定電極（２８Ａ，２８Ｂ）のうち三組の固
   定電極（２８Ａ，２８Ｂ）に対し、周回運動方向に順次
   接続した第１絶縁抵抗試験装置（Ｒ１）、放電耐量試験
   装置（ＴＩ）及び第２絶縁抵抗試験装置（Ｒ２）と、 更に、別組の固定電極（２８Ａ，２８Ｂ）に接続したバ
   リスタ電圧試験装置（ＢＶ）と、 避雷器（Ｊ）を把持機構（Ｈ）に装着するための搬入部
   （Ｃ１）と、 前記把持機構（Ｈ）に装着された避雷器（Ｊ）を除去す
   るための搬出部（Ｃ２，Ｃ３）と、 前記駆動機構（Ｄ）、各試験装置（Ｒ１，ＴＩ，Ｒ２，
   ＢＶ）の作動及び試験結果の判定をそれぞれ集中して自
   動制御するための中央処理装置（３２）と、 前記中央処理装置（３２）に付属して、予め試験方法、
   基準値等のプログラムあるいはデータを記憶するための
   読み出し専用メモリー（３８）と、 同中央処理装置（３２）に付属して、試験結果を記憶す
   る読み出し書き込み両用メモリー（３９）と、 により構成した酸化亜鉛避雷器の自動試験装置におい
   て、 遮蔽壁（Ｗ）内に前記順回搬送機構（Ｃ）、把持機構
   （Ｈ）、上部及び下部の固定電極（２８Ａ，２８Ｂ）、
   第１絶縁抵抗試験装置（Ｒ１）、放電耐量試験装置（Ｔ
   Ｉ）、第２絶縁抵抗試験装置（Ｒ２）、及びバリスタ電
   圧試験装置（ＢＶ）を収容するとともに、前記搬入部
   （Ｃ１）、搬出部（Ｃ２，Ｃ３）を遮蔽壁（Ｗ）の開放
   部（Ｗａ）に配置し、前記放電耐量試験装置（ＴＩ）を
   順回搬送機構（Ｃ）に対して搬入部（Ｃ１）、搬出部
   （Ｃ２，Ｃ３）との反対側に配置し、更に、前記中央処
   理装置（３２）、読み出し専用メモリー（３８）、及び
   読み出し書き込み両用メモリー（３９）を遮蔽壁（Ｗ）
   の外側に配置したことを特徴とする酸化亜鉛避雷器の自
   動試験装置。
2. 【請求項２】搬出部は不良品搬出部（Ｃ２）と良品搬出
   部（Ｃ３）とに分割形成されている特許請求の範囲第１
   項に記載の酸化亜鉛避雷器の自動試験装置。
3. 【請求項３】把持機構（Ｈ）は支持部材（９）と同支持
   部材（９）の上下両端に水平に片持支持された上部及び
   下部の支持アーム（１１Ａ，１１Ｂ）とにより、側面
   型形状に形成された絶縁性を有する支持枠（１２Ａ〜１
   ２Ｐ）と、前記上部支持アーム（１１Ａ）の先端部に設
   けられ、かつ、下面に避雷器（Ｊ）の上端電極（１５
   Ａ）を係合するための係止孔（１３ａ）を有すると共に
   上端を前記上部固定電極（２８Ａ）と摺接可能に設けた
   上部把持電極（１３Ａ）と、前記下部支持アーム（１１
   Ｂ）の先端に上下方向の往復動可能に支持され、かつ、
   上端を避雷器（Ｊ）の下端電極（１５Ｂ）に係合可能に
   設けると共に下端を前記下部固定電極（２８Ｂ）と摺接
   可能に設けた下部把持電極（１３Ｂ）と、同下部把持電
   極（１３Ｂ）を上方把持位置へ付勢するためのスプリン
   グ（１８）とによりなる特許請求の範囲第１項に記載の
   酸化亜鉛避雷器の自動試験装置。
4. 【請求項４】把持機構（Ｈ）の下部支持アーム（１１
   Ｂ）には下部把持電極（１３Ｂ）の近傍に位置するよう
   に避雷器（Ｊ）の下降動作を利用して同避雷器（Ｊ）を
   前方へ転倒させる搬出部（Ｃ２，Ｃ３）の構成部材とし
   ての案内ピン（１９）が設けられている特許請求の範囲
   第３項に記載の酸化亜鉛避雷器の自動試験装置。
5. 【請求項５】搬入部（Ｃ１）は下部把持電極（１３Ｂ）
   をスプリング（１８）の弾力に抗して下動させるための
   エアシリンダ（２３Ａ，２３Ｂ）と、同エアシリンダ
   （２３Ａ，２３Ｂ）の昇降動作を行うためのフットスイ
   ッチ（ＦＳ１，ＦＳ２）と、前記エアシリンダ（２３
   Ａ，２３Ｂ）のピストンロッド（２３ａ）に係着され、
   かつ、前記下部把持電極（１３Ｂ）に止着したリング部
   材（１４Ｂ，１４Ｃ）の間隙（Ｇ）に進入される係合板
   （２２）とにより構成されている特許請求の範囲第１項
   に記載の酸化亜鉛避雷器の自動試験装置。
6. 【請求項６】不良品及び良品の搬出部（Ｃ２，Ｃ３）は
   下部把持電極（１３Ｂ）をスプリング（１８）の弾力に
   抗して下動させるためのエアシリンダ（２３Ｃ，２３
   Ｄ）と、避雷器（Ｊ）を所定の位置に搬出するための不
   良品用及び良品用の搬出シュート（２６Ａ，２６Ｂ）
   と、前記エアシリンダ（２３Ｃ，２３Ｄ）のピストンロ
   ッド（２３ａ）に係着され、かつ、前記下部把持電極
   （１３Ｂ）に止着したリング部材（１４Ｂ，１４Ｃ）の
   間隙（Ｇ）に進入される係合板（２２）とよりなる特許
   請求の範囲第１項又は第２項に記載の酸化亜鉛避雷器の
   自動試験装置。
7. 【請求項７】順回搬送機構（Ｃ）を構成する基板（８）
   の外周部には複数個の把持機構（Ｈ）が放射状に、か
   つ、等間隔に取着された特許請求の範囲第１項に記載の
   酸化亜鉛避雷器の自動試験装置。
8. 【請求項８】第１絶縁抵抗試験装置（Ｒ１）、放電耐量
   試験装置（ＴＩ）、第２絶縁抵抗試験装置（Ｒ２）及び
   バリスタ電圧試験装置（ＢＶ）はそれぞれシールドケー
   ス（ＳＣ）に収容されている特許請求の範囲第１項に記
   載の酸化亜鉛避雷器の自動試験装置。
9. 【請求項９】中央処理装置ＣＰＵ（３２）、読み出し専
   用メモリーＲＯＭ（３８）及び読み出し書き込み両用メ
   モリーＲＡＭ（３９）は、それぞれシールドケース（Ｓ
   Ｃ）に収容されている特許請求の範囲第１項に記載の酸
   化亜鉛避雷器の自動試験装置。
10. 【請求項１０】中央処理装置ＣＰＵ（３２）は試験結果
    を表示、記録するためのディスプレイ（４０）及びプリ
    ンター（４１）を備えた特許請求の範囲第１項に記載の
    酸化亜鉛避雷器の自動試験装置。