JPH06274822A - Thin-film magnetic head and its production - Google Patents

Thin-film magnetic head and its production

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JPH06274822A
JPH06274822A JP6581993A JP6581993A JPH06274822A JP H06274822 A JPH06274822 A JP H06274822A JP 6581993 A JP6581993 A JP 6581993A JP 6581993 A JP6581993 A JP 6581993A JP H06274822 A JPH06274822 A JP H06274822A
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JP
Japan
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film
magnetic core
etching
incident angle
ion beam
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Withdrawn
Application number
JP6581993A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Tomoki Yamamoto
知己 山本
Naoto Matono
直人 的野
Hitoshi Noguchi
仁志 野口
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Sanyo Electric Co Ltd
Original Assignee
Sanyo Electric Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To provide the process for production of the thin-film magnetic head capable of etching and forming an upper magnetic core with good accuracy. CONSTITUTION:A metallic film 61 having the characteristic that the etching rate is high when the incident angle of an ion beam on the normal direction at the time of ion beam etching is small and that the etching rate is low when the incident angle of the beam is large is formed on the surface of a soft magnetic film 21 which constitutes the upper magnetic core 2. The metallic film 61 and the soft magnetic film 121 are then etched with the ion beam at the small incident angle of the beam with the normal direction with a resist 8 as a mask. The region covering the front gap part of the soft magnetic film 22 formed by the etching is thereafter etched with the ion beam at the large incident angle of the beam with the normal direction, by which the front part of the upper magnetic core 2 is finished to a prescribed thickness.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、ハードディスク装置や
ビデオテープレコーダ等の各種磁気記録再生装置に使用
する薄膜磁気ヘッド及びその製造方法に関するものであ
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a thin film magnetic head used in various magnetic recording / reproducing devices such as hard disk devices and video tape recorders, and a method of manufacturing the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、コンピュータ等の情報処理機器に
おけるダウンサイジングの進展に伴って、その端末装置
で使用されるハードディスク装置においては、より一層
の小形大容量化が望まれている。そこで、信号記録再生
用の磁気ヘッドとして、従来の磁気コアと巻線からなる
バルクタイプのヘッドよりも高密度な記録が可能な薄膜
磁気ヘッドが注目されている。
2. Description of the Related Art In recent years, with the progress of downsizing in information processing equipment such as computers, there has been a demand for further miniaturization and large capacity of hard disk devices used in the terminal devices. Therefore, as a magnetic head for signal recording / reproduction, a thin film magnetic head capable of recording at a higher density than a conventional bulk type head composed of a magnetic core and windings has been attracting attention.

【0003】図5は従来の薄膜磁気ヘッドの製造途中の
構造を示している。基板(7)上に形成された下部磁性コ
ア(1)の表面には、ギャップスペーサ(3)を介して軟磁
性膜(21)が形成されると共に、コイル導体層(5)が絶縁
層(4)中に埋設されて形成されている。
FIG. 5 shows a structure of a conventional thin film magnetic head in the process of being manufactured. On the surface of the lower magnetic core (1) formed on the substrate (7), a soft magnetic film (21) is formed via a gap spacer (3) and the coil conductor layer (5) is an insulating layer (5). 4) It is embedded and formed in the inside.

【0004】図5の工程では、軟磁性膜(21)の表面にレ
ジスト(8)が形成されており、該レジスト(8)をマスク
として軟磁性膜(21)にイオンビームエッチングが施され
る。これによって、下部磁性コア(1)と共に磁気回路を
構成すべき上部磁性コアが形成されることになる。
In the process of FIG. 5, a resist (8) is formed on the surface of the soft magnetic film (21), and the soft magnetic film (21) is subjected to ion beam etching using the resist (8) as a mask. . As a result, an upper magnetic core that should form a magnetic circuit is formed together with the lower magnetic core (1).

【0005】図4は、上記イオンビームエッチングによ
る上部磁性コア形成工程を、図5のA−A線に沿う断面
上にて示したものである。図4(a)に示す如く、下部磁
性コア(1)上にギャップスペーサ(3)を介して軟磁性膜
(21)を形成した後、同図(b)の如く、軟磁性膜(21)の表
面に所定パターンのレジスト(8)を形成する。
FIG. 4 shows a step of forming the upper magnetic core by the above ion beam etching on a cross section taken along the line AA of FIG. As shown in FIG. 4 (a), the soft magnetic film is formed on the lower magnetic core (1) via the gap spacer (3).
After forming (21), a resist (8) having a predetermined pattern is formed on the surface of the soft magnetic film (21) as shown in FIG.

【0006】そして、レジスト(8)をマスクとして軟磁
性膜(21)にイオンビームエッチングを施し、図4(c)の
如く所定の輪郭形状を有する軟磁性膜(23)に成形する。
Then, the soft magnetic film (21) is subjected to ion beam etching using the resist (8) as a mask to form a soft magnetic film (23) having a predetermined contour as shown in FIG. 4 (c).

【0007】更にエッチング成形された軟磁性膜(23)の
内、フロントギャップ部を覆う領域にのみイオンビーム
エッチングを施することによって、所謂絞り込み加工を
行なう。これによって図4(d)の如く上部磁性コア(20)
のフロント部が所定厚さに仕上げられ、ヘッド磁界の急
峻化が図られる。
Further, so-called narrowing is performed by performing ion beam etching only on the region of the soft magnetic film (23) formed by etching, which covers the front gap portion. As a result, the upper magnetic core (20) as shown in FIG.
The front portion of is finished to a predetermined thickness, and the head magnetic field is made steep.

【0008】ところで、特に磁気ディスク装置に装備す
べき薄膜磁気ヘッドにおいては、高精度狭トラック化を
図るために、下部磁性コア及び上部磁性コアの形状精度
を出来るだけ上げる必要がある。そこで従来は、図4
(b)の如くマスクとなるレジスト(8)の両側壁(81)(81)
を精度の高い垂直面(ウォールアングル90°)に形成し
て、イオンビームエッチングを施すことが行なわれてい
る。
By the way, particularly in a thin film magnetic head to be installed in a magnetic disk device, it is necessary to increase the shape accuracy of the lower magnetic core and the upper magnetic core as much as possible in order to achieve a highly precise narrow track. Therefore, conventionally, as shown in FIG.
Both side walls (81) (81) of the resist (8) serving as a mask as shown in (b)
Is formed on a highly accurate vertical surface (wall angle 90 °), and ion beam etching is performed.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】ところが、従来の薄膜
磁気ヘッド製造方法においては、レジスト(8)を形成す
る際、図5に示す如く下層の軟磁性膜(21)の段差に起因
して、フロントギャップ側の膜厚Haがコイル導体層上
方の膜厚Hbよりも大きくなり、これが原因で所謂再付
着の問題が生じていた。即ち、レジストによって覆われ
ていない領域の軟磁性膜がエッチングされる際、その一
部が、レジストによって覆われた領域の軟磁性膜に再付
着し、図4(c)の如く最終的に軟磁性膜(23)の表面が両
側部(23a)(23a)にて盛り上がるのである。再付着を回
避するには、レジストの両側壁を斜面に形成することが
有効であるが、これによって上部磁性コアのエッチング
成形精度が低下する。
However, in the conventional method of manufacturing a thin film magnetic head, when the resist (8) is formed, due to the step difference of the lower soft magnetic film (21) as shown in FIG. The film thickness Ha on the front gap side is larger than the film thickness Hb above the coil conductor layer, which causes a problem of so-called redeposition. That is, when the soft magnetic film in the area not covered by the resist is etched, a part of it is redeposited on the soft magnetic film in the area covered by the resist, and finally the soft magnetic film is softened as shown in FIG. 4 (c). The surface of the magnetic film (23) rises at both sides (23a) (23a). In order to avoid reattachment, it is effective to form both side walls of the resist on slopes, but this lowers the etching molding accuracy of the upper magnetic core.

【0010】本発明の目的は、上部磁性コアを精度良く
エッチング成形することが出来る薄膜磁気ヘッドの構造
及びその製造方法を提供することである。
An object of the present invention is to provide a structure of a thin film magnetic head capable of accurately etching and molding an upper magnetic core, and a manufacturing method thereof.

【0011】[0011]

【課題を解決する為の手段】本発明に係る薄膜磁気ヘッ
ドにおいては、上部磁性コア(2)の上面に、フロントギ
ャップ部を覆う領域を除いて金属膜(6)が積層されてい
る。該金属膜(6)は、イオンビームエッチング時の法線
方向に対するビーム入射角が小さいときにはエッチング
レートが大きく、且つビーム入射角が大きいときにはエ
ッチングレートが小さくなる特性の金属から形成され
る。
In the thin film magnetic head according to the present invention, the metal film (6) is laminated on the upper surface of the upper magnetic core (2) except for the region covering the front gap portion. The metal film (6) is formed of a metal having a characteristic that the etching rate is large when the beam incident angle with respect to the normal direction during ion beam etching is small, and the etching rate is small when the beam incident angle is large.

【0012】又、本発明に係る薄膜磁気ヘッドの製造方
法は、上部磁性コア(2)となる軟磁性膜(21)の表面に、
イオンビームエッチング時の法線方向に対するビーム入
射角が小さいときにはエッチングレートが大きく、且つ
ビーム入射角が大きいときにはエッチングレートが小さ
くなる特性の金属膜(61)を形成する工程と、金属膜(61)
の表面に、上部磁性コア(2)の形状に応じたパターンの
レジスト(8)を形成する工程と、レジスト(8)をマスク
として、金属膜(61)及び軟磁性膜(21)に、法線方向に対
して小さなビーム入射角でイオンビームエッチングを施
す工程と、エッチングによって成形された軟磁性膜(22)
の内、フロントギャップ部を覆う領域に、法線方向に対
して大きなビーム入射角でイオンビームエッチングを施
し、上部磁性コア(2)のフロント部を所定厚さに仕上げ
る工程とを有している。
Further, in the method of manufacturing a thin film magnetic head according to the present invention, the surface of the soft magnetic film (21) which becomes the upper magnetic core (2),
A step of forming a metal film (61) having a characteristic that the etching rate is large when the beam incident angle with respect to the normal direction during ion beam etching is small, and the etching rate is small when the beam incident angle is large; and the metal film (61)
A step of forming a resist (8) having a pattern corresponding to the shape of the upper magnetic core (2) on the surface of the metal, and using the resist (8) as a mask, the metal film (61) and the soft magnetic film (21) are formed by a method. Ion beam etching process with a small beam incidence angle to the line direction and soft magnetic film formed by etching (22)
Of the above, a step of performing ion beam etching on a region covering the front gap part at a large beam incident angle with respect to the normal direction to finish the front part of the upper magnetic core (2) to a predetermined thickness. .

【0013】[0013]

【作用】上記薄膜磁気ヘッドの製造方法において、レジ
スト(8)をマスクとして金属膜(61)及び軟磁性膜(21)に
イオンビームエッチングを施す際、ビーム入射角をエッ
チング面の法線方向に対して小さく設定すると、エッチ
ングレートが大きくなって、軟磁性膜の再付着が可及的
に抑制される。
In the above method of manufacturing a thin film magnetic head, when the metal film (61) and the soft magnetic film (21) are subjected to ion beam etching using the resist (8) as a mask, the beam incident angle is set in the direction normal to the etching surface. On the other hand, if it is set small, the etching rate becomes large, and the reattachment of the soft magnetic film is suppressed as much as possible.

【0014】但し、この工程においても軟磁性膜上に軽
微な再付着が生じ、軟磁性膜(22)の表面は両側部にて僅
かに盛り上がるが、これらの盛り上がり部の間の凹部に
は金属膜(61)が残存して、軟磁性膜(22)の表面は金属膜
(61)によって平坦化されることになる。
However, even in this step, slight re-adhesion occurs on the soft magnetic film, and the surface of the soft magnetic film (22) slightly bulges on both sides. The film (61) remains and the surface of the soft magnetic film (22) is a metal film.
It will be flattened by (61).

【0015】その後、エッチングによって成形された軟
磁性膜(22)の内、フロントギャップ部を覆う領域にエッ
チングを施す際、ビーム入射角を大きく設定すると、エ
ッチングレートが小さくなって、軟磁性膜(22)について
のエッチングレートと略同一となる。このとき、軟磁性
膜(22)の表面は金属膜(61)によって平坦化されているか
ら、その平坦性が維持されたまま、軟磁性膜(22)及び金
属膜(61)のエッチングが進み、最終的に金属膜(61)が除
去されて均一厚さの上部磁性コア(2)が得られる。
After that, when the region of the soft magnetic film (22) formed by etching is covered with the front gap portion, if the beam incident angle is set to be large, the etching rate becomes small, and the soft magnetic film ( It is almost the same as the etching rate for 22). At this time, since the surface of the soft magnetic film (22) is flattened by the metal film (61), the soft magnetic film (22) and the metal film (61) are etched while the flatness is maintained. Finally, the metal film (61) is removed to obtain the upper magnetic core (2) having a uniform thickness.

【0016】上記製造方法によって作製された薄膜磁気
ヘッドにおいては、上部磁性コア(2)の表面の内、フロ
ントギャップ部を覆う領域の金属膜(61)は除去される
が、前記領域を除く上部磁性コア(2)表面には、金属膜
(6)が残存することとなり、上記本発明に係る薄膜磁気
ヘッドが得られる。
In the thin film magnetic head manufactured by the above-mentioned manufacturing method, the metal film (61) in the region of the surface of the upper magnetic core (2) covering the front gap is removed, but the upper part except the above region is removed. Metal film on the surface of the magnetic core (2)
(6) is left, and the thin film magnetic head according to the present invention is obtained.

【0017】[0017]

【発明の効果】本発明に係る薄膜磁気ヘッド及びその製
造方法によれば、レジストの両側壁を垂直面に形成した
場合にも、エッチングの際に従来の再付着による問題は
発生せず、精度の高い上部磁性コアが得られる。
According to the thin-film magnetic head and the method of manufacturing the same according to the present invention, even when both side walls of the resist are formed on vertical surfaces, there is no problem due to redeposition in the past during etching, and accuracy is improved. An upper magnetic core having a high height can be obtained.

【0018】[0018]

【実施例】図1及び図2は本発明に係る薄膜磁気ヘッド
の構造を示している。基板(7)上には、磁気回路を構成
すべき下部磁性コア(1)及び上部磁性コア(2)がギャッ
プスペーサ(3)を介して積層され、両コア間には、絶縁
層(4)がコイル導体層(5)中に埋設されて配置されてい
る。下部磁性コア(1)及び上部磁性コア(2)はNi−F
e等の軟磁性材から形成される。
1 and 2 show the structure of a thin film magnetic head according to the present invention. A lower magnetic core (1) and an upper magnetic core (2) which should form a magnetic circuit are laminated on a substrate (7) via a gap spacer (3), and an insulating layer (4) is provided between both cores. Are embedded and arranged in the coil conductor layer (5). The lower magnetic core (1) and the upper magnetic core (2) are Ni-F
It is formed from a soft magnetic material such as e.

【0019】上部磁性コア(2)の表面にはフロントギャ
ップ部を覆う領域を除いて金属膜(6)が積層されてい
る。該金属膜(6)は、イオンビームエッチング時の法線
方向に対するビーム入射角が小さいときにはエッチング
レートが大きく、且つビーム入射角が大きいときにはエ
ッチングレートが小さくるなる特性の金属、例えばA
u、Cu、Ag等から形成され、その膜厚は1〜3μm
である。又、上部磁性コア(2)及び金属膜(6)上には保
護膜(図示省略)が形成される。
A metal film (6) is laminated on the surface of the upper magnetic core (2) except for the region covering the front gap. The metal film (6) is a metal having a characteristic that the etching rate is large when the beam incident angle with respect to the normal direction during ion beam etching is small, and the etching rate is small when the beam incident angle is large, for example, A.
It is made of u, Cu, Ag, etc., and its film thickness is 1-3 μm.
Is. A protective film (not shown) is formed on the upper magnetic core 2 and the metal film 6.

【0020】図6は、各種磁性金属についてのイオンビ
ーム入射角とエッチングレートの関係を示しており、イ
オンビーム入射角が大きくなるにつれてエッチングレー
トが大きく低下する特性の金属類(Au、Cu)と、イオ
ンビーム入射角の変化に対してエッチングレートの変化
が比較的に小さい特性の金属類(Ni−Fe、Fe−A
l−Si)に大別される。20°以下の小さなビーム入
射角では、前者の金属類は後者の金属類よりもエッチン
グレートが十分に大きいが、40°〜60°の大なるビ
ーム入射角では、両者のエッチングレートが接近し、大
差はなくなる。
FIG. 6 shows the relationship between the ion beam incident angle and the etching rate for various magnetic metals. Metals (Au, Cu) having the characteristic that the etching rate greatly decreases as the ion beam incident angle increases. , Metals (Ni-Fe, Fe-A) having characteristics that the change in etching rate is relatively small with respect to the change in ion beam incident angle.
1-Si). At a small beam incident angle of 20 ° or less, the former metals have a sufficiently higher etching rate than the latter metals, but at a large beam incident angle of 40 ° to 60 °, the etching rates of both approaches close to each other. The big difference disappears.

【0021】本発明に係る薄膜磁気ヘッドの製造方法は
上記特性を利用することによって、上部磁性コアのエッ
チング成形精度を飛躍的に向上させたものである。図3
(a)〜(e)は、図1のA−A線に沿う断面において、イ
オンビームエッチングによる上部磁性コア形成工程を示
したものである。
The method of manufacturing the thin-film magnetic head according to the present invention makes use of the above-mentioned characteristics to dramatically improve the etching molding accuracy of the upper magnetic core. Figure 3
(a)-(e) shows the upper magnetic core formation process by ion beam etching in the cross section along the AA line in FIG.

【0022】図3(a)に示す如く、基板(7)上には、下
部磁性コア(1)、ギャップスペーサ(3)、軟磁性膜(21)
が順次積層されている。軟磁性膜(21)は例えばNi−F
e製であって、スパッタリングによって厚さ1〜5μm
に形成されている。
As shown in FIG. 3 (a), the lower magnetic core (1), the gap spacer (3), and the soft magnetic film (21) are provided on the substrate (7).
Are sequentially stacked. The soft magnetic film (21) is made of, for example, Ni-F.
made by e, thickness 1-5μm by sputtering
Is formed in.

【0023】次に図3(b)の如く軟磁性膜(21)の表面を
覆って、例えばAu製の金属膜(61)をスパッタリング、
或いは蒸着法によって1〜3μmの厚さに形成する。
Next, as shown in FIG. 3 (b), a metal film (61) made of, for example, Au is sputtered to cover the surface of the soft magnetic film (21),
Alternatively, it is formed to a thickness of 1 to 3 μm by a vapor deposition method.

【0024】その後、図3(c)の如く金属膜(61)の表面
に、上部磁性コアの形状に応じた所定パターンのレジス
ト(8)を形成する。ここで、レジスト(8)の両側壁(81)
(81)はウォールアングル90°の精度の高い形状に成形
される。そして、該レジスト(8)をマスクとして軟磁性
膜(21)にイオンビームエッチングを施し、同図(d)の如
く所定の輪郭形状を有する軟磁性膜(22)に成形する。
Thereafter, as shown in FIG. 3C, a resist 8 having a predetermined pattern corresponding to the shape of the upper magnetic core is formed on the surface of the metal film 61. Here, both side walls (81) of the resist (8)
(81) is molded into a highly accurate shape with a wall angle of 90 °. Then, the soft magnetic film (21) is subjected to ion beam etching using the resist (8) as a mask to form a soft magnetic film (22) having a predetermined contour shape as shown in FIG.

【0025】この際、ビーム入射角は0〜20°に設定
し、金属膜(61)に対するエッチングレートを大きくする
ことよって、軟磁性膜(22)の再付着を出来るだけ抑制す
る。
At this time, the beam incident angle is set to 0 to 20 ° and the etching rate for the metal film (61) is increased to suppress reattachment of the soft magnetic film (22) as much as possible.

【0026】但し、これによっても図3(d)の如く軟磁
性膜(22)上に軽微な再付着が生じ、軟磁性膜(22)の表面
は両側部(22a)(22a)にて僅かに盛り上がるが、これら
の盛り上がり部の間の凹部には金属膜(61)が残存して、
軟磁性膜(22)の表面は金属膜(61)によって平坦化される
ことになる。
However, this also causes a slight re-adhesion on the soft magnetic film (22) as shown in FIG. 3 (d), and the surface of the soft magnetic film (22) is slightly left on both sides (22a) (22a). However, the metal film (61) remains in the concave portion between these raised portions,
The surface of the soft magnetic film (22) is flattened by the metal film (61).

【0027】その後、エッチング成形された軟磁性膜(2
2)の内、フロントギャップ部を覆う領域にのみイオンビ
ームエッチングを施し、図3(e)の如く上部磁性コア
(2)の絞り込み加工を行なう。これによってヘッド磁界
の急峻化が図られる。
After that, the soft magnetic film (2
Of 2), ion beam etching is applied only to the area that covers the front gap, and the upper magnetic core is removed as shown in Fig. 3 (e).
Perform the narrowing processing in (2). This makes the head magnetic field steeper.

【0028】この際、ビーム入射角は40°〜60°に
設定される。これによって、図6の如く金属膜(61)のエ
ッチングレートと軟磁性膜(22)のエッチングレートが略
同一の値となる。このとき、エッチング面である軟磁性
膜(22)の表面は金属膜(61)によって平坦化されているか
ら、その平坦性が維持されたまま、軟磁性膜(22)及び金
属膜(61)のエッチングが進み、最終的に図3(e)の如く
金属膜(61)が除去されて均一厚さの上部磁性コア(2)が
得られるのである。
At this time, the beam incident angle is set to 40 ° to 60 °. As a result, the etching rate of the metal film (61) and the etching rate of the soft magnetic film (22) become substantially the same as shown in FIG. At this time, since the surface of the soft magnetic film (22), which is the etching surface, is flattened by the metal film (61), the soft magnetic film (22) and the metal film (61) are maintained with the flatness maintained. The etching proceeds, and finally the metal film 61 is removed as shown in FIG. 3E to obtain the upper magnetic core 2 having a uniform thickness.

【0029】続いて保護層の形成、記録媒体との摺接面
の加工等、周知の工程を経ることによって、図1及び図
2の薄膜磁気ヘッドが完成する。
Successively, well-known steps such as formation of a protective layer and processing of a sliding contact surface with a recording medium are completed to complete the thin film magnetic head shown in FIGS.

【0030】上記製造方法によれば、図2に示す如く上
部磁性コア(2)の厚さが均一で且つウォールアングルが
90°の薄膜磁気ヘッドを得ることが出来、これによっ
て高精度狭トラック化が可能となる。
According to the above manufacturing method, as shown in FIG. 2, it is possible to obtain a thin film magnetic head in which the thickness of the upper magnetic core (2) is uniform and the wall angle is 90 °. Is possible.

【0031】上記実施例の説明は、本発明を説明するた
めのものであって、特許請求の範囲に記載の発明を限定
し、或は範囲を減縮する様に解すべきではない。又、本
発明の各部構成は上記実施例に限らず、特許請求の範囲
に記載の技術的範囲内で種々の変形が可能であることは
勿論である。
The above description of the embodiments is for explaining the present invention, and should not be construed as limiting the invention described in the claims or limiting the scope. The configuration of each part of the present invention is not limited to the above-mentioned embodiment, and it goes without saying that various modifications can be made within the technical scope described in the claims.

【0032】例えば本発明は、上述の如き誘導型ヘッド
チップのみからなる単体の薄膜磁気ヘッドのみならず、
磁気抵抗効果型ヘッドチップとの組合せからなる復合型
の薄膜磁気ヘッドに実施することも可能である。
For example, the present invention is not limited to a single thin-film magnetic head consisting of only the inductive head chip as described above,
It is also possible to implement the present invention in a composite type thin film magnetic head which is a combination with a magnetoresistive head chip.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明に係る薄膜磁気ヘッドの断面図である。FIG. 1 is a sectional view of a thin film magnetic head according to the present invention.

【図2】図1A−A線に沿う断面図である。FIG. 2 is a sectional view taken along the line AA of FIG.

【図3】上部磁性コアのエッチング成形工程を示す図で
ある。
FIG. 3 is a diagram showing an etching molding process of an upper magnetic core.

【図4】従来の上部磁性コア成形工程を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing a conventional upper magnetic core molding process.

【図5】従来の薄膜磁気ヘッドの製造途中の構造を示す
断面図である。
FIG. 5 is a cross-sectional view showing the structure of a conventional thin film magnetic head during manufacture.

【図6】各種金属についてのイオンビーム入射角とエッ
チングレートの関係を示すグラフである。
FIG. 6 is a graph showing the relationship between the ion beam incident angle and the etching rate for various metals.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

(1) 下部磁性コア (2) 上部磁性コア (3) ギャップスペーサ (4) 絶縁層 (5) コイル導体層 (6) 金属膜 (7) 基板 (1) Lower magnetic core (2) Upper magnetic core (3) Gap spacer (4) Insulating layer (5) Coil conductor layer (6) Metal film (7) Substrate

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 磁気回路を構成すべき下部磁性コア(1)
及び上部磁性コア(2)の間にギャップスペーサ(3)が介
在して、記録媒体に対向するフロントギャップ部を形成
している薄膜磁気ヘッドにおいて、上部磁性コア(2)の
上面にはフロントギャップ部を覆う領域を除いて金属膜
(6)が積層され、該金属膜(6)は、イオンビームエッチ
ング時の法線方向に対するビーム入射角が小さいときに
はエッチングレートが大きく、且つビーム入射角が大き
いときにはエッチングレートが小さくるなる特性の金属
から形成されていることを特徴とする薄膜磁気ヘッド。
1. A lower magnetic core (1) for constituting a magnetic circuit.
In a thin film magnetic head in which a gap spacer (3) is interposed between the upper magnetic core (2) and the upper magnetic core (2) to form a front gap portion facing the recording medium, a front gap is formed on the upper surface of the upper magnetic core (2). Metal film except the area that covers the part
(6) is laminated, and the metal film (6) has a characteristic that the etching rate is large when the beam incident angle with respect to the normal direction during ion beam etching is small, and the etching rate is small when the beam incident angle is large. A thin-film magnetic head characterized by being formed of metal.
【請求項2】 磁気回路を構成すべき下部磁性コア(1)
及び上部磁性コア(2)の間にギャップスペーサ(3)が介
在して、記録媒体に対向するフロントギャップ部を形成
している薄膜磁気ヘッドの製造方法において、 上部磁性コア(2)となる軟磁性膜(21)の表面に、イオン
ビームエッチング時の法線方向に対するビーム入射角が
小さいときにはエッチングレートが大きく、且つビーム
入射角が大きいときにはエッチングレートが小さくなる
特性の金属膜(61)を形成する工程と、 金属膜(61)の表面に、上部磁性コア(2)の形状に応じた
パターンのレジスト(8)を形成する工程と、 レジスト(8)をマスクとして、金属膜(61)及び軟磁性膜
(21)に、法線方向に対して小さなビーム入射角でイオン
ビームエッチングを施す工程と、 エッチングによって成形された軟磁性膜(22)の内、フロ
ントギャップ部を覆う領域に、法線方向に対して大きな
ビーム入射角でイオンビームエッチングを施し、上部磁
性コア(2)のフロント部を所定厚さに仕上げる工程とを
有することを特徴とする薄膜磁気ヘッドの製造方法。
2. A lower magnetic core (1) which constitutes a magnetic circuit.
In the method of manufacturing a thin film magnetic head in which a gap spacer (3) is interposed between the upper magnetic core (2) and the front magnetic core (2) to form a front gap portion facing the recording medium, a soft magnetic film forming the upper magnetic core (2) is formed. On the surface of the magnetic film (21), a metal film (61) having a characteristic that the etching rate is large when the beam incident angle with respect to the normal direction during ion beam etching is small and the etching rate is small when the beam incident angle is large is formed. And a step of forming a resist (8) having a pattern corresponding to the shape of the upper magnetic core (2) on the surface of the metal film (61), and using the resist (8) as a mask, Soft magnetic film
Ion beam etching is performed on (21) at a small beam incident angle with respect to the normal direction, and in the soft magnetic film (22) formed by etching, a region covering the front gap is covered in the normal direction. And a step of subjecting the front part of the upper magnetic core (2) to a predetermined thickness by ion beam etching with a large beam incident angle.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7554764B2 (en) 2006-04-07 2009-06-30 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. Lift-off method for forming write pole of a magnetic write head and write pole formed thereby

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