JPH06268864A - ラスタ画像からのラスタ画素データを強める方法および装置 - Google Patents
ラスタ画像からのラスタ画素データを強める方法および装置Info
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- JPH06268864A JPH06268864A JP4356431A JP35643192A JPH06268864A JP H06268864 A JPH06268864 A JP H06268864A JP 4356431 A JP4356431 A JP 4356431A JP 35643192 A JP35643192 A JP 35643192A JP H06268864 A JPH06268864 A JP H06268864A
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T5/00—Image enhancement or restoration
- G06T5/20—Image enhancement or restoration using local operators
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- Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 ラスタ画像装置内で通常生ずる形態学的異形
を修正することにより、表現される画像の外観を改善す
るためにラスタ画像からのラスタ画素データを強める方
法を得ることである。 【構成】 ラスタ画像からのラスタ画素データの一部へ
ウィンドウを適用して所定の区域を有する前記ラスタ画
素データのブロックの境界を定めることにより始まる。
次に、ウィンドウ内のラスタデータのパターンを、形態
学的異形を表す複数の所定のパターンと比較する。ウィ
ンドウ内のラスタ画素データのブロックと複数の所定の
パターンの１つまたは複数との間に十分な一致が存在す
るかどうかを比較から判定する。一致の場合に、ラスタ
データのブロックを修正して、それらの形態学的異形の
無いラスタ画素データの強められたブロックを提供す
る。最後に、ウィンドウをラスタ画素データの異なるブ
ロックへ適用し、全てのラスタデータに望ましくない形
態学的異形過程が無くなるまで過程を繰り返す。
を修正することにより、表現される画像の外観を改善す
るためにラスタ画像からのラスタ画素データを強める方
法を得ることである。 【構成】 ラスタ画像からのラスタ画素データの一部へ
ウィンドウを適用して所定の区域を有する前記ラスタ画
素データのブロックの境界を定めることにより始まる。
次に、ウィンドウ内のラスタデータのパターンを、形態
学的異形を表す複数の所定のパターンと比較する。ウィ
ンドウ内のラスタ画素データのブロックと複数の所定の
パターンの１つまたは複数との間に十分な一致が存在す
るかどうかを比較から判定する。一致の場合に、ラスタ
データのブロックを修正して、それらの形態学的異形の
無いラスタ画素データの強められたブロックを提供す
る。最後に、ウィンドウをラスタ画素データの異なるブ
ロックへ適用し、全てのラスタデータに望ましくない形
態学的異形過程が無くなるまで過程を繰り返す。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はレーザ走査電子写真のよ
うなラスタ印刷技術を用いて印刷される画像の画質を高
くする方法に関するものである。この方法は、インク・
ジェット印刷、感熱印刷、ドット・マトリックス印刷お
よびＣＲＴ表示のような他のラスタ画像形成技術とマト
リックス画像形成技術の少なくとも一方へも応用でき
る。
うなラスタ印刷技術を用いて印刷される画像の画質を高
くする方法に関するものである。この方法は、インク・
ジェット印刷、感熱印刷、ドット・マトリックス印刷お
よびＣＲＴ表示のような他のラスタ画像形成技術とマト
リックス画像形成技術の少なくとも一方へも応用でき
る。
【０００２】
【従来の技術】ラスタ・アドレッシング技術とマトリッ
クス・アドレッシング技術との少なくとも一方を採用す
る画像形成技術は、電子敵印刷装置および電子的表示装
置において広く用いられる。それらの技術は、二次元の
アドレス可能なアレイ内に置かれた小さい画像点、すな
わち、画像素子（画素）から二次元画像を形成する。そ
れらの画素の寸法と空間内の配置頻度は、ラスタ画像形
成装置およびマトリックス画像形成装置により発生でき
る画像の質を決定する重要な変数である。図１は従来の
ラスタ画像形成装置により発生された英数字キャラクタ
を示す。ラスタ画像形成装置はドットの連続する線を走
査することにより表面上に出力を生ずる。レーザ・ゼロ
グラフィー、インクジェット、静電、感熱、磁気記録、
ドット・マトリックス、イオン付着、レーザ・フィルム
およびレーザ・エロージョンは全てラスタ画像形成装置
である。
クス・アドレッシング技術との少なくとも一方を採用す
る画像形成技術は、電子敵印刷装置および電子的表示装
置において広く用いられる。それらの技術は、二次元の
アドレス可能なアレイ内に置かれた小さい画像点、すな
わち、画像素子（画素）から二次元画像を形成する。そ
れらの画素の寸法と空間内の配置頻度は、ラスタ画像形
成装置およびマトリックス画像形成装置により発生でき
る画像の質を決定する重要な変数である。図１は従来の
ラスタ画像形成装置により発生された英数字キャラクタ
を示す。ラスタ画像形成装置はドットの連続する線を走
査することにより表面上に出力を生ずる。レーザ・ゼロ
グラフィー、インクジェット、静電、感熱、磁気記録、
ドット・マトリックス、イオン付着、レーザ・フィルム
およびレーザ・エロージョンは全てラスタ画像形成装置
である。
【０００３】プリントされた画像中の画素は、理想的な
プリントされた画像のシミュレーション、または相似形
が供給されるようなやり方で配置される。この相似形が
画像の理想的なすなわち「完全な」表現をシミュレート
する程度は、画像形成装置における、空間的アドレス可
能度と、画素の大きさと、画素のダイナミック密度範囲
（灰色調のレベル）と、配置の一貫性と、ラスタ化アル
ゴリズムと、画像形成過程の一貫性とを含めて、画像形
成装置内のいくつかの要因に依存する。それらの各変数
が最適化されずに、プリントされた画像または表示され
た画像の全体の質を妥協することがある。
プリントされた画像のシミュレーション、または相似形
が供給されるようなやり方で配置される。この相似形が
画像の理想的なすなわち「完全な」表現をシミュレート
する程度は、画像形成装置における、空間的アドレス可
能度と、画素の大きさと、画素のダイナミック密度範囲
（灰色調のレベル）と、配置の一貫性と、ラスタ化アル
ゴリズムと、画像形成過程の一貫性とを含めて、画像形
成装置内のいくつかの要因に依存する。それらの各変数
が最適化されずに、プリントされた画像または表示され
た画像の全体の質を妥協することがある。
【０００４】現在使用されているほとんどのラスタ画像
プリント装置は、高コントラストの画素のアレイを構成
することにより、理想的な画像を近似する簡単な表現技
術を採用している。そのよなアレイにより発生された英
数字キャラクタの例が図１に示されている。黒い部分が
画像を形成している画素である。重なり合っている小さ
い円が、画素を置くことができるアドレス可能な場所を
示す。
プリント装置は、高コントラストの画素のアレイを構成
することにより、理想的な画像を近似する簡単な表現技
術を採用している。そのよなアレイにより発生された英
数字キャラクタの例が図１に示されている。黒い部分が
画像を形成している画素である。重なり合っている小さ
い円が、画素を置くことができるアドレス可能な場所を
示す。
【０００５】ラスタおよびマトリックスをベースとする
現在の画像形成装置は理想的な画像の妥当なシミュレー
ションを生ずるが、それらの装置は各種の望ましくない
異形を生ずることがある。それらの異形にはギザギザ、
ラスタ・ピッチ誤差、量子化誤差および灰色がかった半
階調などの画像が含まれる。それらの用語の全ては、二
次元マトリックス・アレイの空間アドレス可能度におけ
る制限を条件として画像の最適表現を近似することによ
り画像が形成される、という事実によってひき起こされ
る諸欠陥に関連するものである。画素がアレイ中に配置
される精度がアドレス可能度と呼ばれる。典型的な現世
代のレーザ・プリンタのアドレス可能度は３００ドット
／インチである。これは、３００ドット／インチレーザ
・プリンタにおいて画素を位置させることができる最小
増分距離が約１／３００インチであることを意味する。
現在の画像形成装置は理想的な画像の妥当なシミュレー
ションを生ずるが、それらの装置は各種の望ましくない
異形を生ずることがある。それらの異形にはギザギザ、
ラスタ・ピッチ誤差、量子化誤差および灰色がかった半
階調などの画像が含まれる。それらの用語の全ては、二
次元マトリックス・アレイの空間アドレス可能度におけ
る制限を条件として画像の最適表現を近似することによ
り画像が形成される、という事実によってひき起こされ
る諸欠陥に関連するものである。画素がアレイ中に配置
される精度がアドレス可能度と呼ばれる。典型的な現世
代のレーザ・プリンタのアドレス可能度は３００ドット
／インチである。これは、３００ドット／インチレーザ
・プリンタにおいて画素を位置させることができる最小
増分距離が約１／３００インチであることを意味する。
【０００６】上記異形のあるものは、いくつかの画素の
空間的配置の周期的に生ずる誤りから生ずる。それらの
画素配置誤差の結果として、画像中に構造化されたパタ
ーンが生ずる結果となる。そのパターンは人の眼でしば
しば気付き、全くいやなものである。そのような異形の
例が、図１の文字Ａの縁部のような、直線の縁部のギザ
ギザした外観である。それは二次元マトリックス・アレ
イの主軸に対してある角度を成して表現される。
空間的配置の周期的に生ずる誤りから生ずる。それらの
画素配置誤差の結果として、画像中に構造化されたパタ
ーンが生ずる結果となる。そのパターンは人の眼でしば
しば気付き、全くいやなものである。そのような異形の
例が、図１の文字Ａの縁部のような、直線の縁部のギザ
ギザした外観である。それは二次元マトリックス・アレ
イの主軸に対してある角度を成して表現される。
【０００７】文書すなわち表示を見る時は、観察者は多
数の画像特徴より成る画像を見る。画像中の種々の特徴
を観察者が検出できる程度は種々の要因に依存する。そ
れらの要因の１つは対象とする特徴の大きさである。変
化する寸法の特徴は観察者が検出できる度合いは、観察
者のビジュアル装置空間周波数応答に依存する。図１６
は、プリントされた文書を見ている典型的な観察者の空
間周波数応答を示す。この図は、光密度の変化（すなわ
ち、密度変調）の空間周波数の関数として、ページを横
切って周期的に起きる密度変調を観察者が検出できる程
度を示す。高い空間周波数は、非常に小さい画素と、画
素の間のスペースとの少なくとも一方に対応する。低い
空間周波数は、大きな画素と、画素の間のスペースとの
少なくとも一方に対応する。空間的に変調された密度パ
ターンに対するピーク・ビジュアル応答が、約０．５〜
２サイクル／mmの空間周波数で起きることがわかるであ
ろう。
数の画像特徴より成る画像を見る。画像中の種々の特徴
を観察者が検出できる程度は種々の要因に依存する。そ
れらの要因の１つは対象とする特徴の大きさである。変
化する寸法の特徴は観察者が検出できる度合いは、観察
者のビジュアル装置空間周波数応答に依存する。図１６
は、プリントされた文書を見ている典型的な観察者の空
間周波数応答を示す。この図は、光密度の変化（すなわ
ち、密度変調）の空間周波数の関数として、ページを横
切って周期的に起きる密度変調を観察者が検出できる程
度を示す。高い空間周波数は、非常に小さい画素と、画
素の間のスペースとの少なくとも一方に対応する。低い
空間周波数は、大きな画素と、画素の間のスペースとの
少なくとも一方に対応する。空間的に変調された密度パ
ターンに対するピーク・ビジュアル応答が、約０．５〜
２サイクル／mmの空間周波数で起きることがわかるであ
ろう。
【０００８】望ましくない異形の１つの種類は「ギザギ
ザ」と呼ばれる。図２は、マトリックス画像形成装置で
発生された文字「Ａ」の拡大図である。この図はギザギ
ザになった縁部、すなわち、ギザギザを示す。利用可能
なマトリックス場所中に画素を置くことに関連する量子
化誤差は、画像化される線に沿う周期的に変化する画素
配置誤差により発生させられることがわかるであろう。
各配置誤差の大きさと、周期的に生ずる誤差の空間周波
数とに応じて、そのようなラスタ異形を裸眼で見えるこ
ともあれば、見えないこともある。
ザ」と呼ばれる。図２は、マトリックス画像形成装置で
発生された文字「Ａ」の拡大図である。この図はギザギ
ザになった縁部、すなわち、ギザギザを示す。利用可能
なマトリックス場所中に画素を置くことに関連する量子
化誤差は、画像化される線に沿う周期的に変化する画素
配置誤差により発生させられることがわかるであろう。
各配置誤差の大きさと、周期的に生ずる誤差の空間周波
数とに応じて、そのようなラスタ異形を裸眼で見えるこ
ともあれば、見えないこともある。
【０００９】図２に示されているギザギザを人の眼で見
ることができる程度は、ギザギザの大きさおよび頻度
と、観察者の空間周波数応答に対するそれらの関係とに
依存する。それらのラスタ異形の検出可能性（したがっ
て気にさわる度合い）は、ギザギザの振幅および頻度に
より決定され、図３に示されているように人の眼のビジ
ュアル空間周波数応答に対してマップされる。画像のギ
ザギザになっている縁部の粗雑さの大きさと、空間周波
数との組み合わせが、図３に示されているように、検出
可能性しきい値以下になったとすると、正常な観察条件
の下では検出されない。しかし、周期的に生ずるギザギ
ザの振幅と空間周波数が検出可能性しきい値より上に低
下したとすると、ギザギザはほとんどの観察者により気
付かれる。
ることができる程度は、ギザギザの大きさおよび頻度
と、観察者の空間周波数応答に対するそれらの関係とに
依存する。それらのラスタ異形の検出可能性（したがっ
て気にさわる度合い）は、ギザギザの振幅および頻度に
より決定され、図３に示されているように人の眼のビジ
ュアル空間周波数応答に対してマップされる。画像のギ
ザギザになっている縁部の粗雑さの大きさと、空間周波
数との組み合わせが、図３に示されているように、検出
可能性しきい値以下になったとすると、正常な観察条件
の下では検出されない。しかし、周期的に生ずるギザギ
ザの振幅と空間周波数が検出可能性しきい値より上に低
下したとすると、ギザギザはほとんどの観察者により気
付かれる。
【００１０】このことは、検出可能性しきい値のすぐ上
にあるギザギザが、いやなものであることを必ずしも意
味するものではない。ギザギザがいやであるということ
は主観的なものであり、見る人によってかなり異なる。
しかし、一般に、与えられたギザギザの画素が検出可能
性しきい値よりはるかに大きくなると、そのようなギザ
ギザの異形はほとんどの観察者にとってますます気付か
れるようになり、かつますます不愉快なものになる。
にあるギザギザが、いやなものであることを必ずしも意
味するものではない。ギザギザがいやであるということ
は主観的なものであり、見る人によってかなり異なる。
しかし、一般に、与えられたギザギザの画素が検出可能
性しきい値よりはるかに大きくなると、そのようなギザ
ギザの異形はほとんどの観察者にとってますます気付か
れるようになり、かつますます不愉快なものになる。
【００１１】ラスタ画像形成装置およびマトリックス画
像形成装置におけるギザギザの不愉快さと、その他の異
形を減少するために各種の技術が開発されている。従来
技術の多くのアンチ・エイリアシング技術がＣＲＴ表示
のために開発されている。それらの技術は、遷移ステッ
プまたは屈曲点における画素をぼかす、すなわち滑らか
にすることにより、水平軸または垂直軸から離れて向け
られている線のギザギザの外観を減少する。このぼかし
が図４にグラフ状に示されている。そのような意図的な
ぼかしは、ＣＲＴ電子ビームがギザギザの画像遷移に接
近するにつれて、その電子ビームの強さを徐々に変化す
ることにより行われる。アンチ・エイリアスされたＣＲ
Ｔ表示おいては、それらの画像の縁部を横切る急激な強
さ遷移が存在する。
像形成装置におけるギザギザの不愉快さと、その他の異
形を減少するために各種の技術が開発されている。従来
技術の多くのアンチ・エイリアシング技術がＣＲＴ表示
のために開発されている。それらの技術は、遷移ステッ
プまたは屈曲点における画素をぼかす、すなわち滑らか
にすることにより、水平軸または垂直軸から離れて向け
られている線のギザギザの外観を減少する。このぼかし
が図４にグラフ状に示されている。そのような意図的な
ぼかしは、ＣＲＴ電子ビームがギザギザの画像遷移に接
近するにつれて、その電子ビームの強さを徐々に変化す
ることにより行われる。アンチ・エイリアスされたＣＲ
Ｔ表示おいては、それらの画像の縁部を横切る急激な強
さ遷移が存在する。
【００１２】レーザ・プリンタを含む、とくに電子写真
プリンタにおける、ギザギザのような、縁部の不ぞろい
を滑らかにするために、各種の技術が開発されている。
米国特許第４，６２５，２２２号には、レーザ・プリン
タにおいて、縁部がギザギザになっている部分の画像と
背景部の間の密度遷移を滑らかにするために、黒画素と
白画素の代わりに灰色調画素を用いる技術が開示されて
いる。この技術は、コンピュータが発生した画像の高レ
ベル表現のラスタ化中に、それらの灰色画素で置き換え
る。この置換は、プリンタのラスタ画像プロセッサにお
ける画像のビット・マップされた表現の形成の部分とし
て行われる。画像形成プロセス中のこの点における灰色
画素の置換には、黒または白以外の値を用いて画素のデ
ジタル表現を可能にするために、多平面ビット・マップ
を用いることを必要とする。画素当たり３つ以上の出力
密度値を表現するものとすれば、画素当たり２ビット以
上を必要とする。多平面ビット・マップを用いると、ラ
スタ画像プロセッサ（ＲＩＰ）で必要とするＲＡＭの数
が増大する。そうするとそれに応じてＲＩＰのコストが
上昇する。更に、前記米国特許の技術は、灰色画素の画
像形成を可能にするためにレーザ・ビームの強さを変調
する。このために付加ハードウェアを必要とし、そのた
めに装置のコストが大幅に上昇する。
プリンタにおける、ギザギザのような、縁部の不ぞろい
を滑らかにするために、各種の技術が開発されている。
米国特許第４，６２５，２２２号には、レーザ・プリン
タにおいて、縁部がギザギザになっている部分の画像と
背景部の間の密度遷移を滑らかにするために、黒画素と
白画素の代わりに灰色調画素を用いる技術が開示されて
いる。この技術は、コンピュータが発生した画像の高レ
ベル表現のラスタ化中に、それらの灰色画素で置き換え
る。この置換は、プリンタのラスタ画像プロセッサにお
ける画像のビット・マップされた表現の形成の部分とし
て行われる。画像形成プロセス中のこの点における灰色
画素の置換には、黒または白以外の値を用いて画素のデ
ジタル表現を可能にするために、多平面ビット・マップ
を用いることを必要とする。画素当たり３つ以上の出力
密度値を表現するものとすれば、画素当たり２ビット以
上を必要とする。多平面ビット・マップを用いると、ラ
スタ画像プロセッサ（ＲＩＰ）で必要とするＲＡＭの数
が増大する。そうするとそれに応じてＲＩＰのコストが
上昇する。更に、前記米国特許の技術は、灰色画素の画
像形成を可能にするためにレーザ・ビームの強さを変調
する。このために付加ハードウェアを必要とし、そのた
めに装置のコストが大幅に上昇する。
【００１３】米国特許第４，４３７，１２２号（以下、
ゼロックス特許と記す）と第４，８４７，６４１号（以
下、ヒューレット・パッカード特許と記す）には別の技
術が開示されている。それらの技術は、レーザ・プリン
タで発生されるラスタ画像の質を向上することを目的と
している。それらの技術はラスタ画像の縁部特徴を強め
る。ゼロックス特許およびヒューレット・パッカード特
許におけるパターン一致法は、修正すべき個々の画素を
識別するために、画素ごとを基準として実行される。識
別されたそれらの画素の修正も画素ごとを基準にして行
われる。ゼロックス特許とヒューレット・パッカード特
許に開示されている技術は、対象とする画素を検査し、
その画素と付近の画素を二次元対称アレイ（対象とする
画素がアレイの中心に位置させられる）内のテンプレー
トと比較し、それから、比較テンプレートの１つに対し
てパターンの一致が見出されたとすると、対象とする画
素に対して修正を加える。
ゼロックス特許と記す）と第４，８４７，６４１号（以
下、ヒューレット・パッカード特許と記す）には別の技
術が開示されている。それらの技術は、レーザ・プリン
タで発生されるラスタ画像の質を向上することを目的と
している。それらの技術はラスタ画像の縁部特徴を強め
る。ゼロックス特許およびヒューレット・パッカード特
許におけるパターン一致法は、修正すべき個々の画素を
識別するために、画素ごとを基準として実行される。識
別されたそれらの画素の修正も画素ごとを基準にして行
われる。ゼロックス特許とヒューレット・パッカード特
許に開示されている技術は、対象とする画素を検査し、
その画素と付近の画素を二次元対称アレイ（対象とする
画素がアレイの中心に位置させられる）内のテンプレー
トと比較し、それから、比較テンプレートの１つに対し
てパターンの一致が見出されたとすると、対象とする画
素に対して修正を加える。
【００１４】全プリント（約３００ｄｐｉの、８．５×
１１インチのプリントでは８４０万個の画素）中の各画
素を多数の（ヒューレット・パッカード特許の技術では
１００以上）一致するテンプレートと比較する。行うこ
とができる修正の種類は、副画素を用いて画像縁部修正
を行えるようにするために、識別された画素をより小さ
い副画素へ分割すること（ゼロックス特許）、または、
パルス幅変調あるいは高速走査方向における位置調整に
より画素のサイズを変調すること（ヒューレット・パッ
カード特許）と含む。
１１インチのプリントでは８４０万個の画素）中の各画
素を多数の（ヒューレット・パッカード特許の技術では
１００以上）一致するテンプレートと比較する。行うこ
とができる修正の種類は、副画素を用いて画像縁部修正
を行えるようにするために、識別された画素をより小さ
い副画素へ分割すること（ゼロックス特許）、または、
パルス幅変調あるいは高速走査方向における位置調整に
より画素のサイズを変調すること（ヒューレット・パッ
カード特許）と含む。
【００１５】それらの技術は、画像のビット・マップさ
れた表現が発生された後の画像に対して働きかける。そ
れらの技術は、前記米国特許第４，６２５，２２２号に
開示されている技術の多平面ビット画像に伴う付加メモ
リと余分なコストを必要としない。そのために、ゼロッ
クス特許とヒューレット・パッカード特許の技術は上記
米国特許の方法を改良する。
れた表現が発生された後の画像に対して働きかける。そ
れらの技術は、前記米国特許第４，６２５，２２２号に
開示されている技術の多平面ビット画像に伴う付加メモ
リと余分なコストを必要としない。そのために、ゼロッ
クス特許とヒューレット・パッカード特許の技術は上記
米国特許の方法を改良する。
【００１６】ＣＲＴで採用される技術のような他の従来
のアンチ・エイリアシング技術は、画素の輝度をアナロ
グのように連続したトーンで変調できるＣＲＴ表示画像
形成装置のような、連続トーン画像形成装置に特有のも
のである。電子写真は連続トーン・プリントを容易に行
うことはできない。上記従来の技術はラスタ異形問題の
「画素指向」の面をとる。それらの技術は実験的に得ら
れた画素修正を基にして個々の画素を「修正」して、画
像の外観を改善するための基礎を提供する。それらの技
術は、ラスタ異形の知覚、すなわち、画像の縁部の形態
学に関連する基盤の問題を直接取り扱うものではない。
のアンチ・エイリアシング技術は、画素の輝度をアナロ
グのように連続したトーンで変調できるＣＲＴ表示画像
形成装置のような、連続トーン画像形成装置に特有のも
のである。電子写真は連続トーン・プリントを容易に行
うことはできない。上記従来の技術はラスタ異形問題の
「画素指向」の面をとる。それらの技術は実験的に得ら
れた画素修正を基にして個々の画素を「修正」して、画
像の外観を改善するための基礎を提供する。それらの技
術は、ラスタ異形の知覚、すなわち、画像の縁部の形態
学に関連する基盤の問題を直接取り扱うものではない。
【００１７】画像縁部の形態学は、画素の縁部の空間的
に変調された形特徴に関連するものである。ギザギザに
対する知覚応答は、画素の縁部の形態学的特徴に対する
応答である。人は、空間的な誤り、すなわち、寸法の誤
差または空間的に周期的な変動、を知覚した画像に対す
る精神物理学的応答を行う。上記従来技術に反して、本
発明は、たとえば、ゼロックス特許およびヒューレット
・パッカード特許において採用されている「中心画素補
正」よりも一層効率的なやり方で、それらの異形を画像
の形態学的特徴を基にして解消する方法を提供するもの
である。
に変調された形特徴に関連するものである。ギザギザに
対する知覚応答は、画素の縁部の形態学的特徴に対する
応答である。人は、空間的な誤り、すなわち、寸法の誤
差または空間的に周期的な変動、を知覚した画像に対す
る精神物理学的応答を行う。上記従来技術に反して、本
発明は、たとえば、ゼロックス特許およびヒューレット
・パッカード特許において採用されている「中心画素補
正」よりも一層効率的なやり方で、それらの異形を画像
の形態学的特徴を基にして解消する方法を提供するもの
である。
【００１８】半階調画像の別の種類の不快な異形は粗い
粒子である。高コントラストのラスタ画像形成装置およ
びマトリックス画像形成装置により発生された画像は、
良好な連続階調絵画的画像を表現できない。半階調プリ
ント技術を採用することにより、連続階調画像をシミュ
レートするための技術がグラフィック・アートにおいて
開発されている。光学的スクリーニング技術およびデジ
タル走査技術を利用する半階調発生技術は周知であるか
ら、ここでは詳しくは説明しない。
粒子である。高コントラストのラスタ画像形成装置およ
びマトリックス画像形成装置により発生された画像は、
良好な連続階調絵画的画像を表現できない。半階調プリ
ント技術を採用することにより、連続階調画像をシミュ
レートするための技術がグラフィック・アートにおいて
開発されている。光学的スクリーニング技術およびデジ
タル走査技術を利用する半階調発生技術は周知であるか
ら、ここでは詳しくは説明しない。
【００１９】半階調発生技術は、高コントラスト画像形
成法を用いて連続階調絵画的光景をシミュレートするこ
とを意図する画像の表現を生ずる。光景の暗さの変化
は、画像発生に用いられるインキ（またはトナー）の局
部的な区域カバー範囲を変えることによりシミュレート
される。画像のインキ区域カバー範囲を局部的に変調す
ることにより、光密度変調のシミュレーションを行うこ
とができる。半階調発生技術は、半階調ドットのアレイ
を利用し、ドットの寸法（および対応するカバー範囲区
域）を局部的に変調することにより、連続階調密度変調
をシミュレートする。ラスタ画像形成装置およびマトリ
ックス画像形成装置においては、それらの半階調ドット
は画像の集合または副アレイから典型的に構成される。
これが図１７にグラフで示されている。
成法を用いて連続階調絵画的光景をシミュレートするこ
とを意図する画像の表現を生ずる。光景の暗さの変化
は、画像発生に用いられるインキ（またはトナー）の局
部的な区域カバー範囲を変えることによりシミュレート
される。画像のインキ区域カバー範囲を局部的に変調す
ることにより、光密度変調のシミュレーションを行うこ
とができる。半階調発生技術は、半階調ドットのアレイ
を利用し、ドットの寸法（および対応するカバー範囲区
域）を局部的に変調することにより、連続階調密度変調
をシミュレートする。ラスタ画像形成装置およびマトリ
ックス画像形成装置においては、それらの半階調ドット
は画像の集合または副アレイから典型的に構成される。
これが図１７にグラフで示されている。
【００２０】半階調画像形成装置における半階調ドット
は、一様な間隔をおいて半階調ドットの二次元アレイで
典型的に配列される。理想的には、半階調アレイは、半
階調画像での粗い粒子の知覚を最少にするために、高い
周波数のドット・パターンを有する非常に狭い間隔の小
さいドットで構成される。半階調の空間配置周波数は半
階調スクリーン周波数と呼ばれる。グラフィックアート
における経験により、１５０ドット／インチより高いス
クリーン周波数が非常に小さい検出可能な粒子粗さを生
じ、１０〜８５ドット／インチのスクリーン周波数が非
常に目立つ、不快な粒子粗さを生ずることが判明してい
る。
は、一様な間隔をおいて半階調ドットの二次元アレイで
典型的に配列される。理想的には、半階調アレイは、半
階調画像での粗い粒子の知覚を最少にするために、高い
周波数のドット・パターンを有する非常に狭い間隔の小
さいドットで構成される。半階調の空間配置周波数は半
階調スクリーン周波数と呼ばれる。グラフィックアート
における経験により、１５０ドット／インチより高いス
クリーン周波数が非常に小さい検出可能な粒子粗さを生
じ、１０〜８５ドット／インチのスクリーン周波数が非
常に目立つ、不快な粒子粗さを生ずることが判明してい
る。
【００２１】ラスタ・プリント装置およびマトリックス
・プリント装置においては、半階調ドットは画素のアレ
イを用いて構成される。半階調ドットを構成するために
多数の画素を要するから、半階調スクリーン周波数はプ
リンタ・アドレス可能性周波数よりも低い空間周波数で
当然生ずる。たとえば、３００ｄｐｉレーザ・プリンタ
から２５密度階調（白プラス「灰色」の２５レベル）が
望ましいとすると、５×５画素の半階調セルを必要と
し、その結果としてスクリーン周波数は３００／５すな
わち６０ドット／インチとなる。そのような装置により
発生された半階調画像の粒子粗さは非常に目立つ。
・プリント装置においては、半階調ドットは画素のアレ
イを用いて構成される。半階調ドットを構成するために
多数の画素を要するから、半階調スクリーン周波数はプ
リンタ・アドレス可能性周波数よりも低い空間周波数で
当然生ずる。たとえば、３００ｄｐｉレーザ・プリンタ
から２５密度階調（白プラス「灰色」の２５レベル）が
望ましいとすると、５×５画素の半階調セルを必要と
し、その結果としてスクリーン周波数は３００／５すな
わち６０ドット／インチとなる。そのような装置により
発生された半階調画像の粒子粗さは非常に目立つ。
【００２２】高コントラストのラスタ式またはマトリッ
クス式の画像形成装置からの半階調画像の発生には、ス
クリーンの粒子粗さと、灰色レベルの数との２つの画像
出力変数の二律背反を必要とする。希望する灰色調の数
が増すと、半階調セルにおいてより多くの画像形成画素
を必要とするから、結果として発生された半階調画像は
より粗くなる。半階調画像における粗さの知覚は、観察
者に対する空間周波数応答により決定される。ギザギザ
およびその他の空間的に変調された異形の場合のよう
に、約０．３〜３サイクル／mmの空間周波数において、
半階調構造に対する最高の感度が生ずる。これは８〜７
５ドット／インチの半階調スクリーン周波数に対応す
る。
クス式の画像形成装置からの半階調画像の発生には、ス
クリーンの粒子粗さと、灰色レベルの数との２つの画像
出力変数の二律背反を必要とする。希望する灰色調の数
が増すと、半階調セルにおいてより多くの画像形成画素
を必要とするから、結果として発生された半階調画像は
より粗くなる。半階調画像における粗さの知覚は、観察
者に対する空間周波数応答により決定される。ギザギザ
およびその他の空間的に変調された異形の場合のよう
に、約０．３〜３サイクル／mmの空間周波数において、
半階調構造に対する最高の感度が生ずる。これは８〜７
５ドット／インチの半階調スクリーン周波数に対応す
る。
【００２３】ラスタ式またはマトリックス式のプリント
装置によりプリントされた絵画的画像は、ホストコンピ
ュータまたは入力走査器から、画像のスクリーンされた
半階調表現として典型的にダウンロードされる。それら
の画像は、非常に簡単な半階調化アルゴリズムを用いて
半階調化され、プリントされた画像中に非常に目ざわり
な粗い粒子を生ずる半階調周波数でスクリーンされる。
装置によりプリントされた絵画的画像は、ホストコンピ
ュータまたは入力走査器から、画像のスクリーンされた
半階調表現として典型的にダウンロードされる。それら
の画像は、非常に簡単な半階調化アルゴリズムを用いて
半階調化され、プリントされた画像中に非常に目ざわり
な粗い粒子を生ずる半階調周波数でスクリーンされる。
【００２４】
【発明が解決しようとする課題】プリントされた文字を
よりきれいにすることができる方法を提供することが本
発明の課題である。
よりきれいにすることができる方法を提供することが本
発明の課題である。
【００２５】
【課題を解決するための手段】本発明は、ラスタ画像装
置内で通常生ずる形態学的異形を修正することにより、
表現される画像の外観を改善するためにラスタ画像から
のラスタ画素データを強める方法を提供するものであ
る。図１９の流れ図に示されているように、この方法
は、ラスタ画像からのラスタ画素データの一部へウィン
ドウを適用して所定の区域を有する前記ラスタ画素デー
タのブロックの境界を定めることにより始まる。次に、
ウィンドウ内のラスタデータのパターンを、形態学的異
形を表す複数の所定のパターンと比較する。ウィンドウ
内のラスタ画素データのブロックと複数の所定のパター
ンの１つまたは複数との間に十分な一致が存在するかど
うかを比較から判定する。一致の場合に、ラスタ・デー
タのブロックを修正して、それらの形態学的異形の無い
ラスタ画素データの強められたブロックを提供する。最
後に、ウィンドウをラスタ画素データの異なるブロック
へ適用し、全てのラスタ・データに望ましくない形態学
的異形過程が無くなるまで過程を繰り返す。本発明の方
法は、レーザ・プリンタのような電子写真プリンタへ最
も良く応用されるが、ＬＥＤ画像形成装置のようなその
他の電子写真装置において採用でき、更にインクジェッ
トおよびサーマルプリンタのような非電子写真装置へも
応用できる。
置内で通常生ずる形態学的異形を修正することにより、
表現される画像の外観を改善するためにラスタ画像から
のラスタ画素データを強める方法を提供するものであ
る。図１９の流れ図に示されているように、この方法
は、ラスタ画像からのラスタ画素データの一部へウィン
ドウを適用して所定の区域を有する前記ラスタ画素デー
タのブロックの境界を定めることにより始まる。次に、
ウィンドウ内のラスタデータのパターンを、形態学的異
形を表す複数の所定のパターンと比較する。ウィンドウ
内のラスタ画素データのブロックと複数の所定のパター
ンの１つまたは複数との間に十分な一致が存在するかど
うかを比較から判定する。一致の場合に、ラスタ・デー
タのブロックを修正して、それらの形態学的異形の無い
ラスタ画素データの強められたブロックを提供する。最
後に、ウィンドウをラスタ画素データの異なるブロック
へ適用し、全てのラスタ・データに望ましくない形態学
的異形過程が無くなるまで過程を繰り返す。本発明の方
法は、レーザ・プリンタのような電子写真プリンタへ最
も良く応用されるが、ＬＥＤ画像形成装置のようなその
他の電子写真装置において採用でき、更にインクジェッ
トおよびサーマルプリンタのような非電子写真装置へも
応用できる。
【００２６】
【実施例】図５を参照すると、本発明のラスタ画素デー
タを強める方法は、画像データをＲＩＰ１０へ送りビデ
オ修正装置１６を通し、プリントのためのプリント装置
１２への修正およびビット・マップされたデータの転送
過程とを含む。ＲＩＰ１０とプリント装置１２の間を通
るデータのフォーマットがビデオと呼ばれる。レーザ・
プリンタにおいては、ビデオ信号は、レーザビームを変
調するＲＩＰ１０からの一時的変調電気信号である。一
時的に変調されたレーザビームは、ビームがラスタのよ
うに動いている光導電体を横切ってビームが走査するに
つれて、空間的に変調された露光パターンを生ずる。
タを強める方法は、画像データをＲＩＰ１０へ送りビデ
オ修正装置１６を通し、プリントのためのプリント装置
１２への修正およびビット・マップされたデータの転送
過程とを含む。ＲＩＰ１０とプリント装置１２の間を通
るデータのフォーマットがビデオと呼ばれる。レーザ・
プリンタにおいては、ビデオ信号は、レーザビームを変
調するＲＩＰ１０からの一時的変調電気信号である。一
時的に変調されたレーザビームは、ビームがラスタのよ
うに動いている光導電体を横切ってビームが走査するに
つれて、空間的に変調された露光パターンを生ずる。
【００２７】次に図６を参照すると、本発明のビデオ修
正装置はバンド・バッファ２０と、パターン比較器２２
と、探索変換器２３と、ビデオ変調器２４と、出力ゲー
ト２５とで構成される。バンド・バッファ２０は１度に
複数の走査線のバンド、たとえば、画像のビット・マッ
プされた表現から７つを捕らえてバッファする。それは
周知のようにビット・マップＲＡＭ内に典型的に含まれ
る。このバンドは初めにビット・マップされた画像の上
の７本の走査線で構成される。バンドはパターンと比較
器２２により質問される。バンドの質問が終わった後
で、バンド・バッファをビット・マップされている画像
の１本の走査線だけ下へ動かすことにより、新しいバン
ドが記憶される。したがって、バンドはページのビット
・マップを走査線の順序に下方へスクロールされて、ビ
ット・マップされた画像の別の走査線を下方へスクロー
ルされるたびに、新しい７線バッファされた画像セグメ
ントを形成する。これが図７にグラフで示されている。
正装置はバンド・バッファ２０と、パターン比較器２２
と、探索変換器２３と、ビデオ変調器２４と、出力ゲー
ト２５とで構成される。バンド・バッファ２０は１度に
複数の走査線のバンド、たとえば、画像のビット・マッ
プされた表現から７つを捕らえてバッファする。それは
周知のようにビット・マップＲＡＭ内に典型的に含まれ
る。このバンドは初めにビット・マップされた画像の上
の７本の走査線で構成される。バンドはパターンと比較
器２２により質問される。バンドの質問が終わった後
で、バンド・バッファをビット・マップされている画像
の１本の走査線だけ下へ動かすことにより、新しいバン
ドが記憶される。したがって、バンドはページのビット
・マップを走査線の順序に下方へスクロールされて、ビ
ット・マップされた画像の別の走査線を下方へスクロー
ルされるたびに、新しい７線バッファされた画像セグメ
ントを形成する。これが図７にグラフで示されている。
【００２８】次に、各新しいバンドのビット・マップさ
れた画像を調べて、形態学的異形の作用を無くすか、減
少させるために、修正を求められているかどうかを判定
する。図８に示すように、ビット・マップされた画像の
バンド・バッファされた部分３０に関してパターン比較
機能を行う。図８に示されているＴ形ウィンドウのよう
な、各種の形をとることができる比較ウィンドウ３２
が、バンド・バッファされた画像３０の上に置かれ、バ
ンドを横切って左から右へ引かれる。図８に示されてい
るウィンドウ３２は約３００ｄｐｉの画像中のギザギザ
を識別するために良く動作する。他の画像のため、他の
密度に対して、または他の種類の異形を分離するため
に、ウィンドウの別の形もより良く適することがある。
ウィンドウ３２がバンドを横切って引かれるにつれて、
ウィンドウ３２内に含まれているビット・マップされた
画像部分が、望ましくない画像パターンの所定のテンプ
レートと比較される。それら所定のテンプレートは、目
立つ、目ざわりなラスタ異形に対応する画像のある形態
学的特徴を定めるパターンである。ラスタ画像におい
て、目立つか、目ざわりであるかの少なくとも一方であ
る異形は、特定の空間的特性と形態学的特性を有する。
それらの特徴が目立つ程度と目ざわりな程度の少なくと
も一方は、周期的な異形の空間振幅と空間周波数により
とくに決定され、かつそれらの空間的に生ずる異形がど
のようにして観察者の知覚感度にどのようにしてマップ
するかにより決定される。縁部のギザギザに対する知覚
感度が図３に示されている。目立つギザギザの区域が、
検出可能性しきい値カーブの左上に示され、そのような
目立つギザギザがないことが右下に示されている。
れた画像を調べて、形態学的異形の作用を無くすか、減
少させるために、修正を求められているかどうかを判定
する。図８に示すように、ビット・マップされた画像の
バンド・バッファされた部分３０に関してパターン比較
機能を行う。図８に示されているＴ形ウィンドウのよう
な、各種の形をとることができる比較ウィンドウ３２
が、バンド・バッファされた画像３０の上に置かれ、バ
ンドを横切って左から右へ引かれる。図８に示されてい
るウィンドウ３２は約３００ｄｐｉの画像中のギザギザ
を識別するために良く動作する。他の画像のため、他の
密度に対して、または他の種類の異形を分離するため
に、ウィンドウの別の形もより良く適することがある。
ウィンドウ３２がバンドを横切って引かれるにつれて、
ウィンドウ３２内に含まれているビット・マップされた
画像部分が、望ましくない画像パターンの所定のテンプ
レートと比較される。それら所定のテンプレートは、目
立つ、目ざわりなラスタ異形に対応する画像のある形態
学的特徴を定めるパターンである。ラスタ画像におい
て、目立つか、目ざわりであるかの少なくとも一方であ
る異形は、特定の空間的特性と形態学的特性を有する。
それらの特徴が目立つ程度と目ざわりな程度の少なくと
も一方は、周期的な異形の空間振幅と空間周波数により
とくに決定され、かつそれらの空間的に生ずる異形がど
のようにして観察者の知覚感度にどのようにしてマップ
するかにより決定される。縁部のギザギザに対する知覚
感度が図３に示されている。目立つギザギザの区域が、
検出可能性しきい値カーブの左上に示され、そのような
目立つギザギザがないことが右下に示されている。
【００２９】画像内のラスタ異形の知覚に影響を及ぼす
変数は、画像のコントラスト密度と、画像の縁部の角度
の向きとを含む。本発明の画像増強技術は、典型的な観
察者のラスタ異形に対する空間周波数応答および知覚感
度応答を考慮に入れて、ギザギザまたは粒子の荒れのよ
うな、空間的に定められる特定の形態学的異形を補償す
ることに向けられている。プリント画像形態学に対する
観察者の特定の知覚応答特定をアドレッシングすること
により、本発明は従来技術を大きく改良するものであ
る。
変数は、画像のコントラスト密度と、画像の縁部の角度
の向きとを含む。本発明の画像増強技術は、典型的な観
察者のラスタ異形に対する空間周波数応答および知覚感
度応答を考慮に入れて、ギザギザまたは粒子の荒れのよ
うな、空間的に定められる特定の形態学的異形を補償す
ることに向けられている。プリント画像形態学に対する
観察者の特定の知覚応答特定をアドレッシングすること
により、本発明は従来技術を大きく改良するものであ
る。
【００３０】パターン比較は、図８に示されている、パ
ターン一致ウィンドウ３２が、目ざわりな形態学的異形
を適切に検出および修正されるようにするために、十分
な寸法および適切な形であることを求められる。知覚感
度の研究を基にして、長さが約６００〜１０００ミクロ
ンである特徴を検査するために十分に大きいパターン一
致ウィンドウを求めることが決定されている。
ターン一致ウィンドウ３２が、目ざわりな形態学的異形
を適切に検出および修正されるようにするために、十分
な寸法および適切な形であることを求められる。知覚感
度の研究を基にして、長さが約６００〜１０００ミクロ
ンである特徴を検査するために十分に大きいパターン一
致ウィンドウを求めることが決定されている。
【００３１】図９に示されているウィンドウ４０に対す
る画素の総数と対応する画素サイズは、プリンタの公称
アドレス可能度に応じて変化する。示されている幅は６
００〜１０００ミクロンである。ウィンドウ４０が、水
平方向に１サイクル／mmに対応する特徴を識別すること
を意図するのであれば、それの幅は少なくとも１mm（１
０００ミクロン）でなければならない。たとえば、３０
０ｄｐｉプリンタは、１／３００インチまたは８５ミク
ロンのアドレス可能度を有している。したがって、その
プリンタに対しては、約１２画素幅（画素当たり１００
０ミクロン割る８５ミクロン）のウィンドウが図９に示
すように用いられる。これにより、約１サイクル／mm
（０．００１ミクロン）と、画像ビット・マップにより
提供される最高空間周波数（３００ｄｐｉに対して約８
サイクル／mm）の間の画像空間周波数を含むビット・マ
ップ画像を見ることを可能にする。同じ原理が垂直次元
に対して適用される。ウィンドウ４０は、右におけるそ
れの最も高い部分において、高さは７画素である。その
高さは約６００ミクロンである。図示の垂直の下端部は
６００〜１０００ミクロンの範囲である。しかし、水平
方向と垂直方向のそれらの範囲は好適な範囲の単なる例
示であって本発明の動作を成功させるためには重要では
ない。
る画素の総数と対応する画素サイズは、プリンタの公称
アドレス可能度に応じて変化する。示されている幅は６
００〜１０００ミクロンである。ウィンドウ４０が、水
平方向に１サイクル／mmに対応する特徴を識別すること
を意図するのであれば、それの幅は少なくとも１mm（１
０００ミクロン）でなければならない。たとえば、３０
０ｄｐｉプリンタは、１／３００インチまたは８５ミク
ロンのアドレス可能度を有している。したがって、その
プリンタに対しては、約１２画素幅（画素当たり１００
０ミクロン割る８５ミクロン）のウィンドウが図９に示
すように用いられる。これにより、約１サイクル／mm
（０．００１ミクロン）と、画像ビット・マップにより
提供される最高空間周波数（３００ｄｐｉに対して約８
サイクル／mm）の間の画像空間周波数を含むビット・マ
ップ画像を見ることを可能にする。同じ原理が垂直次元
に対して適用される。ウィンドウ４０は、右におけるそ
れの最も高い部分において、高さは７画素である。その
高さは約６００ミクロンである。図示の垂直の下端部は
６００〜１０００ミクロンの範囲である。しかし、水平
方向と垂直方向のそれらの範囲は好適な範囲の単なる例
示であって本発明の動作を成功させるためには重要では
ない。
【００３２】図９のウィンドウは、プリントされた画像
内で目立つか、目ざわりであるかの少なくとも一方であ
るラスタ異形（この例ではギザギザした画像縁部）を、
画像部分の実際のプリント前にビット・マップ・ウィン
ドウの検査によって識別するために、パターン一致ウィ
ンドウがどのようにして利用するかを示すために利用さ
れる。図９における比較ウィンドウは出力画像の空間次
元に対応する。その出力画像に対して、３００ｄｐｉの
ラスタ画像中の周期構造が目立つであろう。このウィン
ドウに対する次元寸法と対応する画素寸法は、プリンタ
の公証アドレス可能性に応じて変わることに注目された
い。
内で目立つか、目ざわりであるかの少なくとも一方であ
るラスタ異形（この例ではギザギザした画像縁部）を、
画像部分の実際のプリント前にビット・マップ・ウィン
ドウの検査によって識別するために、パターン一致ウィ
ンドウがどのようにして利用するかを示すために利用さ
れる。図９における比較ウィンドウは出力画像の空間次
元に対応する。その出力画像に対して、３００ｄｐｉの
ラスタ画像中の周期構造が目立つであろう。このウィン
ドウに対する次元寸法と対応する画素寸法は、プリンタ
の公証アドレス可能性に応じて変わることに注目された
い。
【００３３】図１０は、ギザギザのような縁部異形が最
も目立つような空間周波数がほぼ１サイクル／mmである
ことを示す。約３００ｄｐｉのプリントされた画像で典
型的に目立つ周波数範囲は０．５〜３サイクル／mmであ
る。これは、水平軸または垂直軸から約２〜１５度の間
に向けられている線縁部に対応する。本発明の方法と装
置はそれらの種類の異形を分離することをとくに目的と
するものである。
も目立つような空間周波数がほぼ１サイクル／mmである
ことを示す。約３００ｄｐｉのプリントされた画像で典
型的に目立つ周波数範囲は０．５〜３サイクル／mmであ
る。これは、水平軸または垂直軸から約２〜１５度の間
に向けられている線縁部に対応する。本発明の方法と装
置はそれらの種類の異形を分離することをとくに目的と
するものである。
【００３４】図１１は、画像部分の実際のプリント前に
ビット・マップ・ウィンドウ部分の検査により、プリン
トされた画像で目立つことと、目ざわりなことの少なく
とも一方である形態学的ラスタ異形（この例ではぎざぎ
ざになっている画像縁部）を識別するために用いられる
パターン一致ウィンドウ４０を示す。図１１における比
較ウィンドウ４０は、３００ｄｐｉのラスタ画像内の周
期的構造が目立つような出力画像の空間次元に対応す
る。分離すべき異形の種類に応じてウィンドウの最適な
寸法と形は変わる。大きい長方形ウィンドウが広範囲の
異形の検出性能を最大にする。検出を簡単にし、パター
ン一致ハードウェアを最少にするためには、特定の種類
の異形に合わせて製作したより小さいウィンドウが好ま
しい。図９に示されているパターン・ウィンドウはレー
ザ・プリンタ画像のギザギザ検出に良く機能することが
判明している。半階調の粗い粒子の画像の検出には長方
形のウィンドウが好適である。
ビット・マップ・ウィンドウ部分の検査により、プリン
トされた画像で目立つことと、目ざわりなことの少なく
とも一方である形態学的ラスタ異形（この例ではぎざぎ
ざになっている画像縁部）を識別するために用いられる
パターン一致ウィンドウ４０を示す。図１１における比
較ウィンドウ４０は、３００ｄｐｉのラスタ画像内の周
期的構造が目立つような出力画像の空間次元に対応す
る。分離すべき異形の種類に応じてウィンドウの最適な
寸法と形は変わる。大きい長方形ウィンドウが広範囲の
異形の検出性能を最大にする。検出を簡単にし、パター
ン一致ハードウェアを最少にするためには、特定の種類
の異形に合わせて製作したより小さいウィンドウが好ま
しい。図９に示されているパターン・ウィンドウはレー
ザ・プリンタ画像のギザギザ検出に良く機能することが
判明している。半階調の粗い粒子の画像の検出には長方
形のウィンドウが好適である。
【００３５】以下の説明は、プリントされた画像中のギ
ザギザを無くすことをとくに目的とする本発明の実施例
に関するものである。採用される一般的な技術は、粒子
が粗い半階構造、画像形成プロセス拡張機能異形、およ
びその他の画像形成異形のような望ましくない形態学的
特徴の検出および修正へも適用できる。次に、水平上方
約１２度で向けられている線縁部のビット・マップされ
た部分が示されている図１１を参照する。ビット・マッ
プされた画像の量子化制限のために、図示のように画像
縁部が右から左へ階段状になる。希望の縁部の最良の近
似として、水平方向の５個の画素ごとに垂直方向に１個
の画素が立ち上がる。ビット・マップが３００ｄｐｉの
画像に対するものであるならば、この階段状縁部のため
に、約２．５サイクル／mmで周期的に１／３００インチ
の立ち上がりが生ずるギザギザの出力が得られる結果と
なる。この結果として、出力プリント中に目立つギザギ
ザが生ずることになる。好適なプリントされた画像は、
線分の希望の角度の向きに対応する、連続して比例的に
隔てられるやり方で向けられる表現される画像を有する
ことになる。この修正が図１２Ａに示されている。修正
を直接行うか、それをシミュレートする修正スキームが
可能である。レーザ・プリンタの場合には、レーザビー
ムは画像がプリントされているページを横切って走査す
るように構成され、図１２Ａに示されている修正を直接
行うことはできない。図１２Ｂと１２Ｃに示すように、
密度変調または大きさ変調される画素を置換することに
よりそれをシミュレートせねばならない。「プロセス」
または垂直方向の画素配置を容易に変調できる、ＬＥＤ
アレイ・プリンタのような他の画像形成プロセスは、図
１２Ａに示すように「近水平」線に対する画素の配置を
調整できる。これとは逆に、レーザ・プリンタは、垂直
に近く向けられている画像縁部のための画素配置修正を
呼び出すことができ、一方、ＬＥＤプリンタのような固
定されたアレイ画像形成装置は、画像の大きさ変調また
は密度変調を用いて、垂直縁部修正をシミュレートせね
ばならない。
ザギザを無くすことをとくに目的とする本発明の実施例
に関するものである。採用される一般的な技術は、粒子
が粗い半階構造、画像形成プロセス拡張機能異形、およ
びその他の画像形成異形のような望ましくない形態学的
特徴の検出および修正へも適用できる。次に、水平上方
約１２度で向けられている線縁部のビット・マップされ
た部分が示されている図１１を参照する。ビット・マッ
プされた画像の量子化制限のために、図示のように画像
縁部が右から左へ階段状になる。希望の縁部の最良の近
似として、水平方向の５個の画素ごとに垂直方向に１個
の画素が立ち上がる。ビット・マップが３００ｄｐｉの
画像に対するものであるならば、この階段状縁部のため
に、約２．５サイクル／mmで周期的に１／３００インチ
の立ち上がりが生ずるギザギザの出力が得られる結果と
なる。この結果として、出力プリント中に目立つギザギ
ザが生ずることになる。好適なプリントされた画像は、
線分の希望の角度の向きに対応する、連続して比例的に
隔てられるやり方で向けられる表現される画像を有する
ことになる。この修正が図１２Ａに示されている。修正
を直接行うか、それをシミュレートする修正スキームが
可能である。レーザ・プリンタの場合には、レーザビー
ムは画像がプリントされているページを横切って走査す
るように構成され、図１２Ａに示されている修正を直接
行うことはできない。図１２Ｂと１２Ｃに示すように、
密度変調または大きさ変調される画素を置換することに
よりそれをシミュレートせねばならない。「プロセス」
または垂直方向の画素配置を容易に変調できる、ＬＥＤ
アレイ・プリンタのような他の画像形成プロセスは、図
１２Ａに示すように「近水平」線に対する画素の配置を
調整できる。これとは逆に、レーザ・プリンタは、垂直
に近く向けられている画像縁部のための画素配置修正を
呼び出すことができ、一方、ＬＥＤプリンタのような固
定されたアレイ画像形成装置は、画像の大きさ変調また
は密度変調を用いて、垂直縁部修正をシミュレートせね
ばならない。
【００３６】図６に示されている本発明のパターン比較
器２２は、ギザギザまたは粗い粒子のような望ましくな
い形態学的異形を生じさせる画像形態学的特徴を識別
し、そのような異形を無くすための修正値を識別する。
異形を無くすために画素の修正が求められる対象である
遷移領域を記述する修正値が割り当てられる。図１２Ａ
には線縁部が１２度へ向けるビット・マップされた表現
が示されている。この縁部の理想的な表現が、画素Ａか
ら始まって画素Ｂで終わるように、画素を比例的に垂直
方向へ移動させる。図１２Ａに示されている「垂直配
置」修正はレーザ・プリンタにより直接発生できない
が、図１２Ｂと図１２Ｃに示すように、画素Ａと画素Ｂ
の間の１組の隣接する画素の光密度、または画素のサイ
ズを変調することにより、それをシミュレートできる。
図６の比較器２２により割り当てられる修正値は、これ
が使用すべきである画像縁部修正の型である。次に修正
値と本発明の方法について説明する。
器２２は、ギザギザまたは粗い粒子のような望ましくな
い形態学的異形を生じさせる画像形態学的特徴を識別
し、そのような異形を無くすための修正値を識別する。
異形を無くすために画素の修正が求められる対象である
遷移領域を記述する修正値が割り当てられる。図１２Ａ
には線縁部が１２度へ向けるビット・マップされた表現
が示されている。この縁部の理想的な表現が、画素Ａか
ら始まって画素Ｂで終わるように、画素を比例的に垂直
方向へ移動させる。図１２Ａに示されている「垂直配
置」修正はレーザ・プリンタにより直接発生できない
が、図１２Ｂと図１２Ｃに示すように、画素Ａと画素Ｂ
の間の１組の隣接する画素の光密度、または画素のサイ
ズを変調することにより、それをシミュレートできる。
図６の比較器２２により割り当てられる修正値は、これ
が使用すべきである画像縁部修正の型である。次に修正
値と本発明の方法について説明する。
【００３７】修正値 図６を参照して、パターン比較器２２においてパターン
一致が起きると、異形を無くすために求められる特定の
画像修正を示す修正値が割り当てられる。好適な実施例
においては、この修正値は８ビットが１バイトである。
この修正値は、パターン一致が検出されたこと、および
求められている画像修正の特定の特徴を示す。それらの
ビットは次のとおりである。 ビット＃７−検出された画素がほぼ水平またはほぼ垂直
に向けられているかどうかを示す。 ビット＃６−検出された画素が正または負の勾配を有す
るかどうかを示す。 ビット＃２〜５−求められている修正の空間サイズを示
す（これは出力画像中の異形の空間周波数に対応す
る）。 ビット１、０−今は用いない。
一致が起きると、異形を無くすために求められる特定の
画像修正を示す修正値が割り当てられる。好適な実施例
においては、この修正値は８ビットが１バイトである。
この修正値は、パターン一致が検出されたこと、および
求められている画像修正の特定の特徴を示す。それらの
ビットは次のとおりである。 ビット＃７−検出された画素がほぼ水平またはほぼ垂直
に向けられているかどうかを示す。 ビット＃６−検出された画素が正または負の勾配を有す
るかどうかを示す。 ビット＃２〜５−求められている修正の空間サイズを示
す（これは出力画像中の異形の空間周波数に対応す
る）。 ビット１、０−今は用いない。
【００３８】パターン比較器２２から出された割り当て
られた修正値は、異形をなくすためにビデオ信号に対し
て求められる修正の完全な定義へマップする。修正値は
ビデオ変調器２４へ送られ、そこで適切な修正技術が呼
び出される。
られた修正値は、異形をなくすためにビデオ信号に対し
て求められる修正の完全な定義へマップする。修正値は
ビデオ変調器２４へ送られ、そこで適切な修正技術が呼
び出される。
【００３９】本発明の好適な実施例においては、２つの
画像修正方法が得られる。１つの方法は現在のラスタ走
査線のみに修正を呼び出すことである。この例において
は、水平へ向けられている（すなわち、高速走査軸に沿
う）画素に対する全修正が、以後のビデオ流のための１
つの単一修正ランプとして呼び出される。この方法は走
査線指向修正法と呼ばれる。２本以上の走査線を含んで
いる画素に対する修正が走査線ごとに行われる。このこ
とは、現在の走査線中で呼び出すべき修正部分だけが決
定されることを意味する。対象とする画素に寄与する以
後の各走査線がパターン一致ウィンドウ内に現れるか
ら、それらの各走査線に対してそのプロセスが反復され
る。
画像修正方法が得られる。１つの方法は現在のラスタ走
査線のみに修正を呼び出すことである。この例において
は、水平へ向けられている（すなわち、高速走査軸に沿
う）画素に対する全修正が、以後のビデオ流のための１
つの単一修正ランプとして呼び出される。この方法は走
査線指向修正法と呼ばれる。２本以上の走査線を含んで
いる画素に対する修正が走査線ごとに行われる。このこ
とは、現在の走査線中で呼び出すべき修正部分だけが決
定されることを意味する。対象とする画素に寄与する以
後の各走査線がパターン一致ウィンドウ内に現れるか
ら、それらの各走査線に対してそのプロセスが反復され
る。
【００４０】第２の別の方法においては、水平に向けら
れた画素と垂直に向けられた画素に対して求められる修
正の全体的な定義が、修正すべき各異形に対して１回だ
け起きる。実際の修正は走査線を基準として起きる。と
いうのは、これが、レーザ・プリンタのようなラスタ出
力装置の順次ラスタ走査性質により課される物理的制約
だからである。この第２の方法においては、水平または
垂直に向けられた縁部に対する全修正定義が、実際の修
正が行われる比較器２４へ送られる。
れた画素と垂直に向けられた画素に対して求められる修
正の全体的な定義が、修正すべき各異形に対して１回だ
け起きる。実際の修正は走査線を基準として起きる。と
いうのは、これが、レーザ・プリンタのようなラスタ出
力装置の順次ラスタ走査性質により課される物理的制約
だからである。この第２の方法においては、水平または
垂直に向けられた縁部に対する全修正定義が、実際の修
正が行われる比較器２４へ送られる。
【００４１】ビデオ変調器２４は探索変換器２３とビデ
オ変調器２４を含む。探索変換器２３は、パターン比較
器２２により出された修正値をビデオ信号の特定の修正
へ変換する。これは、（１）続いて直列化されて、対応
する修正されないビデオ・ストリングのために置換され
る高周波ビデオの修正されるストリングにでき、または
（２）画素配置変調（ビデオ・ドラッグ）と、実行長さ
変調と、正または負の密度変調と、ビデオ・チョッピン
グ・デューティ・サイクルとを指定する変調器のための
制御変数、のいずれかにできる。
オ変調器２４を含む。探索変換器２３は、パターン比較
器２２により出された修正値をビデオ信号の特定の修正
へ変換する。これは、（１）続いて直列化されて、対応
する修正されないビデオ・ストリングのために置換され
る高周波ビデオの修正されるストリングにでき、または
（２）画素配置変調（ビデオ・ドラッグ）と、実行長さ
変調と、正または負の密度変調と、ビデオ・チョッピン
グ・デューティ・サイクルとを指定する変調器のための
制御変数、のいずれかにできる。
【００４２】それら４つの制御変数により、ビデオ・セ
グメント変更の決定に４つの自由度が許される。それら
のビデオ・セグメント変更は、プリントされた画像中の
形態学的異形の出現を無くすのに非常に効果的である。
それらの変数は、灰色調シミュレーティングおよび半階
調ドットのような画素の粗い粒子の画像を減少する、と
いうような別の型の画像強調のためにも有用である。
グメント変更の決定に４つの自由度が許される。それら
のビデオ・セグメント変更は、プリントされた画像中の
形態学的異形の出現を無くすのに非常に効果的である。
それらの変数は、灰色調シミュレーティングおよび半階
調ドットのような画素の粗い粒子の画像を減少する、と
いうような別の型の画像強調のためにも有用である。
【００４３】ビデオ変調器２４は、レーザ・プリンタの
ための正常なビデオ画素クロックよりもはるかに高い周
波数でビデオ信号を変調できる。３００ｄｐｉプリンタ
用の正常なビデオ画素クロック周波数の８〜１６倍のビ
デオ周波数は効果的に作用することが見出されている。
ビデオ変調器２４は、画像の強調される部分に対して正
常なビデオ信号を打ち消すビデオ信号列を出力する。ビ
デオ変調器２４は、探索変換器２３により決定される適
切な修正されるビデオを出すことにより訂正を呼び出
す。それらの修正は、変更された画素配置と、画素サイ
ズと、または画素光密度とから結果として生じた画像の
元のビット・マップされた表現に対する変更を含む。
ための正常なビデオ画素クロックよりもはるかに高い周
波数でビデオ信号を変調できる。３００ｄｐｉプリンタ
用の正常なビデオ画素クロック周波数の８〜１６倍のビ
デオ周波数は効果的に作用することが見出されている。
ビデオ変調器２４は、画像の強調される部分に対して正
常なビデオ信号を打ち消すビデオ信号列を出力する。ビ
デオ変調器２４は、探索変換器２３により決定される適
切な修正されるビデオを出すことにより訂正を呼び出
す。それらの修正は、変更された画素配置と、画素サイ
ズと、または画素光密度とから結果として生じた画像の
元のビット・マップされた表現に対する変更を含む。
【００４４】周知のように、走査レーザ・ビームにより
プリンタの光導電体の局部的な露光を変更することによ
り、電子写真プリンタで画素光密度を変更できる。光導
電体に光を照射することにより、その光導電体が露光レ
ベルの関数として比例して放電することになる。光導電
体のこの特徴的な応答は光誘起放電カーブ（ＰＩＤＣ）
と呼ばれ、図１３にグラフで示されている。
プリンタの光導電体の局部的な露光を変更することによ
り、電子写真プリンタで画素光密度を変更できる。光導
電体に光を照射することにより、その光導電体が露光レ
ベルの関数として比例して放電することになる。光導電
体のこの特徴的な応答は光誘起放電カーブ（ＰＩＤＣ）
と呼ばれ、図１３にグラフで示されている。
【００４５】光導電体の露光は、ＯＰＣにおける各局所
化された位置におけるレーザ・ビームの強さと露光時間
の関数である。すなわち、 Ｅ＝Ｉ×ｔ ここに、Ｅ＝露光 Ｉ＝レーザ・ビームの強さ ｔ＝露光時間 である。
化された位置におけるレーザ・ビームの強さと露光時間
の関数である。すなわち、 Ｅ＝Ｉ×ｔ ここに、Ｅ＝露光 Ｉ＝レーザ・ビームの強さ ｔ＝露光時間 である。
【００４６】光導電体の露光値を局部的に変調すること
により、光導電体上で現像されるトナーの量を修正し、
したがってプリントされた画素の結果としての局所化さ
れた出力密度を修正する。電子写真装置のこの特性応答
はダイナミックレンジと呼ばれる。しかし、この応答
は、連続調画像を発生するために使用するためには十分
には安定でないのが普通である。しかし、プリントされ
た画像におけるギザギザ、粗い粒子およびその他の形態
学的異形に関連する粗い遷移を滑らかにする際の自由度
を更に高くする。
により、光導電体上で現像されるトナーの量を修正し、
したがってプリントされた画素の結果としての局所化さ
れた出力密度を修正する。電子写真装置のこの特性応答
はダイナミックレンジと呼ばれる。しかし、この応答
は、連続調画像を発生するために使用するためには十分
には安定でないのが普通である。しかし、プリントされ
た画像におけるギザギザ、粗い粒子およびその他の形態
学的異形に関連する粗い遷移を滑らかにする際の自由度
を更に高くする。
【００４７】次に、各種の画素変調技術が示されている
図１４を参照する。格子５１の中心にビデオ画素５０が
示されている。その画素を修正する１つの方法はそれを
単に動かすことにある。これは位置変調と呼ばれ、格子
５３内の画素５２で示されている。別の技術は、格子５
５内の画素５４で示されているように、直径変調と呼ば
れる。更に別の変調技術は、格子５７内の画素５６によ
り示すように、ストローク長さ変調と呼ばれる。最後
に、格子５９内の画素５８で示すように、密度変調を採
用できる。
図１４を参照する。格子５１の中心にビデオ画素５０が
示されている。その画素を修正する１つの方法はそれを
単に動かすことにある。これは位置変調と呼ばれ、格子
５３内の画素５２で示されている。別の技術は、格子５
５内の画素５４で示されているように、直径変調と呼ば
れる。更に別の変調技術は、格子５７内の画素５６によ
り示すように、ストローク長さ変調と呼ばれる。最後
に、格子５９内の画素５８で示すように、密度変調を採
用できる。
【００４８】次に、上記の画素の形を変調するために用
いられるビデオ信号が示されている図１５を参照する。
ビデオ画素のための標準的なビデオ信号６０が第１のグ
ラフ６１に示されている。位置調整を行う信号６２がグ
ラフ６３に示されている。小さくされた画素寸法を生ず
る信号６４がグラフ６５に示されている。強められたス
トローク長さを有する画素を生ずる信号６６がグラフ６
７に示されている。密度がより低い画素を生ずるチョッ
ピングされたビデオ信号６８がグラフ６９に示されてい
る。上記のように、露光値は、光導電体の表面上の特定
の場所におけるレーザ・ビームの強さと露光時間の積で
ある。図１４の格子５９内の画素５８により示されてい
る本発明の実施例は、光導電体により検出される露光時
間を変調するために、図１５のグラフ６９で示されてい
るように、ビデオ信号の高周波チョッピングを用いるこ
とにより、その露光値の可変性を利用する。これによ
り、ギザギザのような画像遷移領域の外観を滑らかにす
るために、可変出力密度の画素または画像部分の呼び出
しが可能にされる。
いられるビデオ信号が示されている図１５を参照する。
ビデオ画素のための標準的なビデオ信号６０が第１のグ
ラフ６１に示されている。位置調整を行う信号６２がグ
ラフ６３に示されている。小さくされた画素寸法を生ず
る信号６４がグラフ６５に示されている。強められたス
トローク長さを有する画素を生ずる信号６６がグラフ６
７に示されている。密度がより低い画素を生ずるチョッ
ピングされたビデオ信号６８がグラフ６９に示されてい
る。上記のように、露光値は、光導電体の表面上の特定
の場所におけるレーザ・ビームの強さと露光時間の積で
ある。図１４の格子５９内の画素５８により示されてい
る本発明の実施例は、光導電体により検出される露光時
間を変調するために、図１５のグラフ６９で示されてい
るように、ビデオ信号の高周波チョッピングを用いるこ
とにより、その露光値の可変性を利用する。これによ
り、ギザギザのような画像遷移領域の外観を滑らかにす
るために、可変出力密度の画素または画像部分の呼び出
しが可能にされる。
【００４９】半階調粒子粗さの訂正 ラスタ画像中のギザギザを訂正するための上記装置は、
粒子が粗い半階調画像のような、その他の目ざわりな形
態学的特性を訂正するために、同様のやり方で利用でき
る。この実施のための装置の構成部品は、ギザギザの訂
正のために図６に示すものとほとんど同じである。対象
とする半階調スクリーン周波数の範囲を取り扱えるよう
にするために、パターン比較器２２の比較ウィンドウの
大きさを変えることが好ましい。対象とする最低周波数
スクリーン（すなわち、最大のドット）を捕らえるため
に、ウィンドウは十分に大きくなければならない。更
に、後で説明するように、半階調画素を取り扱うため
に、比較ウィンドウの形をたとえば長方形へ変えること
が好ましい。また、半階調ドットの平滑化を最適にする
ために、訂正識別子と特定のビデオ訂正アルゴリズムを
修正できる。ページの広い区域の上に発生されたとする
と粒子が粗い画像パターンを生ずる結果となることがあ
る、粒子をより細かくするために半階調ドットをどのよ
うにして変更するかの例が図１８に示されている。
粒子が粗い半階調画像のような、その他の目ざわりな形
態学的特性を訂正するために、同様のやり方で利用でき
る。この実施のための装置の構成部品は、ギザギザの訂
正のために図６に示すものとほとんど同じである。対象
とする半階調スクリーン周波数の範囲を取り扱えるよう
にするために、パターン比較器２２の比較ウィンドウの
大きさを変えることが好ましい。対象とする最低周波数
スクリーン（すなわち、最大のドット）を捕らえるため
に、ウィンドウは十分に大きくなければならない。更
に、後で説明するように、半階調画素を取り扱うため
に、比較ウィンドウの形をたとえば長方形へ変えること
が好ましい。また、半階調ドットの平滑化を最適にする
ために、訂正識別子と特定のビデオ訂正アルゴリズムを
修正できる。ページの広い区域の上に発生されたとする
と粒子が粗い画像パターンを生ずる結果となることがあ
る、粒子をより細かくするために半階調ドットをどのよ
うにして変更するかの例が図１８に示されている。
【００５０】まず、通常の方法で発生された半階調ドッ
トが示されている図１８Ａを参照する。この半階調ドッ
トは画素のきつく結合された集まりにより発生される。
図１８Ａに示されている半階調ドットは、画素場所の５
×５アレイで構成される。これは３００／５すなわち６
０ｄｐｉで隔てられている半階調セルを生ずる。この半
階調セルによりシミュレートされる光密度は、適切な数
の画素場所に黒画素を充たすことにより通常シミュレー
トされる。セル中の黒画素の数が多くなると、積分され
る光密度が高くなる。図１８Ａに示されている５×５の
半階調セルアレイが３００ｄｐｉのプリンタでプリント
されるならば、結果としての画像は、６０サイクル／イ
ンチ（６０半階調ドット／インチに対応する）に生ずる
目立つ、目ざわりな半階調構造を有する。６０サイクル
／インチの周波数における画像構造に対するビジュアル
応答が、図１６に示すように、非常に高いから、その目
ざわりな構造は非常に目立つ。
トが示されている図１８Ａを参照する。この半階調ドッ
トは画素のきつく結合された集まりにより発生される。
図１８Ａに示されている半階調ドットは、画素場所の５
×５アレイで構成される。これは３００／５すなわち６
０ｄｐｉで隔てられている半階調セルを生ずる。この半
階調セルによりシミュレートされる光密度は、適切な数
の画素場所に黒画素を充たすことにより通常シミュレー
トされる。セル中の黒画素の数が多くなると、積分され
る光密度が高くなる。図１８Ａに示されている５×５の
半階調セルアレイが３００ｄｐｉのプリンタでプリント
されるならば、結果としての画像は、６０サイクル／イ
ンチ（６０半階調ドット／インチに対応する）に生ずる
目立つ、目ざわりな半階調構造を有する。６０サイクル
／インチの周波数における画像構造に対するビジュアル
応答が、図１６に示すように、非常に高いから、その目
ざわりな構造は非常に目立つ。
【００５１】本発明は、半階調画像の空間周波数内容の
変更と、目ざわりな空間周波数の復調との少なくとも一
方を行うことにより、半階調画像の目ざわりな粗い粒子
の検出と減少に使用できる。図１８Ｂと図１８Ｃは、図
１８Ａの写真濃度内容を変更することなしに、図１８Ａ
に示されている半階調セルの粗い粒子を減少する訂正の
２つの例を示す。図１８Ｂは、図１８Ａにおいて一緒に
集められて、半階調セルにわたって分散させられている
画素を示す。このようにして画素を分散させることによ
り図１８Ａにより代表的に示されている半階調パターン
の６０サイクル／インチの構成部品を復調するように機
能する。これは、半階調セルの積分された写真濃度を変
えることなしに行われ、それにより、正しい視距離で見
た時に画像内容を保持する。
変更と、目ざわりな空間周波数の復調との少なくとも一
方を行うことにより、半階調画像の目ざわりな粗い粒子
の検出と減少に使用できる。図１８Ｂと図１８Ｃは、図
１８Ａの写真濃度内容を変更することなしに、図１８Ａ
に示されている半階調セルの粗い粒子を減少する訂正の
２つの例を示す。図１８Ｂは、図１８Ａにおいて一緒に
集められて、半階調セルにわたって分散させられている
画素を示す。このようにして画素を分散させることによ
り図１８Ａにより代表的に示されている半階調パターン
の６０サイクル／インチの構成部品を復調するように機
能する。これは、半階調セルの積分された写真濃度を変
えることなしに行われ、それにより、正しい視距離で見
た時に画像内容を保持する。
【００５２】図１８Ｃは、図１８Ａの半階調パターンに
関連する粗い粒子を減少するための別の訂正を示す。図
１８Ｃにおいて、図１８Ａの黒画素の集まりが、より多
くの灰色画素で置換されている。図１８Ｃにおける灰色
画素の数と光密度は、写真濃度内容を保持するために、
図１８Ａに示すように同じ集分された光密度を生ずるた
めに選択せねばならない。しかし、それらの灰色画素を
置換することにより、図１８Ａに示す配置の６０サイク
ル／インチの粗い粒子信号が減少させられ（復調さ
れ）、より見やすい半階調パターンを生ずる。図１８Ｃ
の半階調画素は、レーザ・プリンタにおいて、レーザ・
ビームの一時的変調を呼び出し、光により誘起された放
電カーブの中間点で光導電体を露光させることにより、
発生できる。
関連する粗い粒子を減少するための別の訂正を示す。図
１８Ｃにおいて、図１８Ａの黒画素の集まりが、より多
くの灰色画素で置換されている。図１８Ｃにおける灰色
画素の数と光密度は、写真濃度内容を保持するために、
図１８Ａに示すように同じ集分された光密度を生ずるた
めに選択せねばならない。しかし、それらの灰色画素を
置換することにより、図１８Ａに示す配置の６０サイク
ル／インチの粗い粒子信号が減少させられ（復調さ
れ）、より見やすい半階調パターンを生ずる。図１８Ｃ
の半階調画素は、レーザ・プリンタにおいて、レーザ・
ビームの一時的変調を呼び出し、光により誘起された放
電カーブの中間点で光導電体を露光させることにより、
発生できる。
【００５３】図１８に示されている半階調セルの訂正は
それのみに限定されるものでは決してない。当業者であ
ればわかるであろうが、空間周波数内容の変更と、目ざ
わりな半階調周波数の復調との少なくとも一方を行うた
めに、他の多くの特定の訂正を使用できる。半階調画像
の目ざわりな粗い粒子を減少するために用いられる本発
明の重要な面は、ギザギザおよびその他の形態学的異形
を無くすために先に述べたものと同じである。それら
は、最高観察者感度という条件で起きる目ざわりな異形
の検出と、それらの異形の空間周波数特性を変更するた
めの適切な訂正の識別と、ビデオ流を修正することによ
る訂正の呼び出しとに関連するものである。
それのみに限定されるものでは決してない。当業者であ
ればわかるであろうが、空間周波数内容の変更と、目ざ
わりな半階調周波数の復調との少なくとも一方を行うた
めに、他の多くの特定の訂正を使用できる。半階調画像
の目ざわりな粗い粒子を減少するために用いられる本発
明の重要な面は、ギザギザおよびその他の形態学的異形
を無くすために先に述べたものと同じである。それら
は、最高観察者感度という条件で起きる目ざわりな異形
の検出と、それらの異形の空間周波数特性を変更するた
めの適切な訂正の識別と、ビデオ流を修正することによ
る訂正の呼び出しとに関連するものである。
【図１】キャラクタの従来技術による表現を示す。
【図２】図１に示されているキャラクタの一部の拡大の
従来技術による表現を示す。
従来技術による表現を示す。
【図３】画像の粗雑さが見る人に気がつかれるようにな
るしきい値を示すグラフである。
るしきい値を示すグラフである。
【図４】別名をつけられた線を逆別名をつけられた線と
比較する様子を示す。
比較する様子を示す。
【図５】本発明の方法で用いられる装置の重要な部品の
ブロック図である。
ブロック図である。
【図６】本発明の修正装置を示すブロック図である。
【図７】垂直スクロール・バンドを示す。
【図８】スクロール・バンドとウィンドウの間の関係を
示す。
示す。
【図９】好適な実施例のウィンドウの寸法と画素配置を
示す。
示す。
【図１０】対角線の縁部の粗雑さの検出可能性と空間周
波数の関係を示すグラフである。
波数の関係を示すグラフである。
【図１１】ウィンドウ内の典型的な形態学的パターンを
示す。
示す。
【図１２】図１１に示されているウィンドウからの画素
の好適な整列および好適な整列をシミュレートする方法
を示す。
の好適な整列および好適な整列をシミュレートする方法
を示す。
【図１３】光導電体の光によりひき起こされた放電を示
すカーブである。
すカーブである。
【図１４】各種の画素変調を示す。
【図１５】図１４の画素変調のために用いられる信号を
示す。
示す。
【図１６】正常な視距離におけるビジュアル応答と周波
数の関係を示すグラフである。
数の関係を示すグラフである。
【図１７】画像形成画素から構成された２つの半階調ド
ットを示す。
ットを示す。
【図１８】半階調ドットを守勢するための種々の方法を
示す。
示す。
【図１９】本発明の方法の流れ図である。
１０ ラスタ画像プロセッサ １２ 印刷装置 １６ ビデオ修正装置 ２０ バンドバッファ ２２ パターン比較器 ２３ 探索変換器 ２４ ビデオ変調器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 // Ｇ０９Ｇ 5/00 ５２０ Ｊ 8121−5Ｇ (72)発明者 リチャード・アイ・ラブ アメリカ合衆国 92056 カリフォルニア 州・オーシャンサイド・キャディ コー ト・2308 (72)発明者 アール・ダニエル・プットマン アメリカ合衆国 94303 カリフォルニア 州・パロ アルト・デ ソト ドライブ・ 754
Claims (8)
- 【請求項１】 ラスタ画像からのラスタ画素データの一
部へウィンドウを適用して所定の区域を有する前記ラス
タ画素データのブロックの境界を定める過程と、 前記ウィンドウ内の前記ラスタデータのパターンを、形
態学的異形を表す複数の所定のパターンと比較する過程
と、 前記ウィンドウ内の前記ラスタ画素データのブロックと
前記複数の所定のパターンの１つまたは複数との間に十
分に一致が存在するかどうかを前記比較から判定する過
程と、 一致の場合に、前記ラスタ画素データの少なくとも一部
を修正して、外観が改善されたラスタ画素データの強め
られたブロックを提供する過程と、 前記ウィンドウをラスタ画素データの異なるブロックへ
適用して前記各過程を繰り返す過程と、 を備える、ラスタ画像装置内で通常生ずる形態学的異形
を修正することにより表現される画像の外観を改善する
ためにラスタ画像からのラスタ画素データを強める方
法。 - 【請求項２】 ラスタ画像からのラスタ画素データの一
部へウィンドウを適用して所定の区域を有する前記ラス
タ画素データのブロックの境界を定める過程と、 前記ウィンドウ内の前記ラスタデータのパターンを、形
態学的異形を表す複数の所定のパターンと比較する過程
と、 前記ウィンドウ内の前記ラスタ画素データのブロックと
前記複数の所定のパターンの１つまたは複数との間に十
分な一致が存在するかどうかを前記比較から判定する過
程と、 一致の場合に、前記ラスタ画素データの少なくとも一部
を修正して、外観が改善されたラスタ画素データの強め
られたブロックを提供する過程と、 前記ラスタ画像の画素マップを横切って前記ウィンドウ
を動かして前記各過程を繰り返す過程と、 を備える、ラスタ画像装置内で通常生ずる形態学的異形
を修正することにより表現される画像の外観を改善する
ためにラスタ画像からのラスタ画素データを強める方
法。 - 【請求項３】 ラスタ画像からのラスタ画素データの一
部へウィンドウを適用して所定の区域を有する前記ラス
タ画素データのブロックの境界を定める過程と、 前記ウィンドウ内の前記ラスタデータのパターンを、形
態学的異形を表す複数の所定のパターンと比較する過程
と、 前記ウィンドウ内の前記ラスタ画素データのブロックと
前記複数の所定のパターンの１つまたは複数との間に十
分な一致が存在するかどうかを前記比較から判定する過
程と、 一致の場合に、前記ラスタ画素データの少なくとも一部
を修正して、外観が改善されたラスタ画素データの強め
られたブロックを提供する過程と、 前記ウィンドウをラスタ線を順次たどってページ内を下
方へ動かして前記各過程を繰り返す過程と、 を備える、ラスタ画像装置内で通常生ずる形態学的異形
を修正することにより表現される画像の外観を改善する
ためにラスタ画像からのラスタ画素データを強める方
法。 - 【請求項４】 ラスタ画像からのラスタ画素データの一
部へウィンドウを適用して、ラスタ走査線の所定のバン
ド内にある所定の区域を有する前記ラスタ画素データの
ブロックの境界を定める過程と、 前記ウィンドウ内の前記ラスタデータのパターンを、形
態学的異形を表す複数の所定のパターンと比較する過程
と、 前記ウィンドウ内の前記ラスタ画素データのブロックと
前記複数の所定のパターンの１つまたは複数との間に十
分な一致が存在するかどうかを前記比較から判定する過
程と、 一致の場合に、前記ラスタ画素データの少なくとも一部
を修正して、外観が改善されたラスタ画素データの強め
られたブロックを提供する過程と、 前記ウィンドウをラスタ線を順次たどってページ内を下
方へ動かして前記各過程を繰り返す過程と、 を備える、ラスタ画像装置内で通常生ずる形態学的異形
を修正することにより表現される画像の外観を改善する
ためにラスタ画像からのラスタ画素データを強める方
法。 - 【請求項５】 ラスタ画像からのラスタ画素データの一
部へウィンドウを適用して所定の区域を有する前記ラス
タ画素データのブロックの境界を定める手段と、 前記ウィンドウ内の前記ラスタデータのパターンを、形
態学的異形を表す複数の所定のパターンと比較する手段
と、 前記ウィンドウ内の前記ラスタ画素データのブロックと
前記複数の所定のパターンの１つまたは複数との間に十
分な一致が存在するかどうかを前記比較から判定する手
段と、 一致の場合に、前記ラスタ画素データの少なくとも一部
を修正して、外観が改善されたラスタ画素データの強め
られたブロックを提供する手段と、 前記ウィンドウをラスタ画素データの異なるブロックへ
適用して前記各過程を繰り返す手段と、 を備える、ラスタ画像装置内で通常生ずる形態学的異形
を修正することにより表現される画像の外観を改善する
ためにラスタ画像からのラスタ画素データを強める装
置。 - 【請求項６】 ラスタ画像からのラスタ画素データの一
部へウィンドウを適用して所定の区域を有する前記ラス
タ画素データのブロックの境界を定める手段と、 前記ウィンドウ内の前記ラスタデータのパターンを、形
態学的異形を表す複数の所定のパターンと比較する手段
と、 前記ウィンドウ内の前記ラスタ画素データのブロックと
前記複数の所定のパターンの１つまたは複数との間に十
分な一致が存在するかどうかを前記比較から判定する手
段と、 一致の場合に、前記ラスタ画素データの少なくとも一部
を修正して、外観が改善されたラスタ画素データの強め
られたブロックを提供する手段と、 前記ラスタ画像の画素マップを横切って前記ウィンドウ
を動かして前記過程を繰り返す手段と、 を備える、ラスタ画像装置内で通常生ずる形態学的異形
を修正することにより表現される画像の外観を改善する
ためにラスタ画像からのラスタ画素データを強める装
置。 - 【請求項７】 ラスタ画像からのラスタ画素データの一
部へウィンドウを適用して所定の区域を有する前記ラス
タ画素データのブロックの境界を定める手段と、 前記ウィンドウ内の前記ラスタデータのパターンを、形
態学的異形を表す複数の所定のパターンと比較する手段
と、 前記ウィンドウ内の前記ラスタ画素データのブロックと
前記複数の所定パターンの１つまたは複数との間に十分
な一致が存在するかどうかを前記比較から判定する手段
と、 一致の場合に、前記ラスタ画素データの少なくとも一部
を修正して、外観が改善されたラスタ画素データの強め
られたブロックを提供する手段と、 前記ウィンドウをラスタ線を順次たどってページ内を下
方へ動かして前記過程を繰り返す手段と、 を備える、ラスタ画像装置内で通常生ずる形態学的異形
を修正することにより表現される画像の外観を改善する
ためにラスタ画像からのラスタ画素データを強める装
置。 - 【請求項８】 ラスタ画像からのラスタ画素データの一
部へウィンドウを適用して、ラスタ走査線の所定のバン
ド内にある所定の区域を有する前記ラスタ画素データの
ブロックの境界を定める手段と、 前記ウィンドウ内の前記ラスタデータのパターンを、形
態学的異形を表す複数の所定のパターンと比較する手段
と、 前記ウィンドウ内の前記ラスタ画素データのブロックと
前記複数の所定のパターンの１つまたは複数との間に十
分な一致が存在するかどうかを前記比較から判定する手
段と、 一致の場合に、前記ラスタ画素データの少なくとも一部
を修正して、外観が改善されたラスタ画素データの強め
られたブロックを提供する手段と、 前記ウィンドウをラスタ線を順次たどってページ内を下
方へ動かして前記各過程を繰り返す手段と、 を備える、ラスタ画像装置内で通常生ずる形態学的異形
を修正することにより表現される画像の外観を改善する
ためにラスタ画像からのラスタ画素データを強める装
置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US07/813,203 US5249242A (en) | 1991-12-23 | 1991-12-23 | Method for enhancing raster pixel data |
| US813203 | 1991-12-23 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06268864A true JPH06268864A (ja) | 1994-09-22 |
Family
ID=25211757
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4356431A Pending JPH06268864A (ja) | 1991-12-23 | 1992-12-22 | ラスタ画像からのラスタ画素データを強める方法および装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5249242A (ja) |
| JP (1) | JPH06268864A (ja) |
Families Citing this family (35)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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-
1991
- 1991-12-23 US US07/813,203 patent/US5249242A/en not_active Expired - Lifetime
-
1992
- 1992-12-22 JP JP4356431A patent/JPH06268864A/ja active Pending
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5249242A (en) | 1993-09-28 |
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| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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